JPS61177524A

JPS61177524A - 間欠動作回路

Info

Publication number: JPS61177524A
Application number: JP60019062A
Authority: JP
Inventors: Masayoshi Taniguchi; 政義谷口
Original assignee: Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1985-02-01
Filing date: 1985-02-01
Publication date: 1986-08-09

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野この発明は、間欠動作回路、特にＣ−ＭＯＳ−ＬＳＩに
適用して有効な間欠動作回路に関する。

（ロ）発明の概要この発明は、間欠動作回路において、クロック信号源と
して基本クロック信号用の発振器と、基本クロック信号
よりも周波数の低いクロック信号を発生する発振器を設
け、機能動作時は基本クロック信号を、非動作時は他方
のクロック信号を用いることにより、回路全体の消費電
力を軽減するようにしたものである。

（ハ）従来の技術例えば小型の電子温度針等の回路を構成するのにＣ−Ｍ
ＯＳ−ＬＳ　Ｉが使用される。この種の電子温度計は、
連続動作させると電力消費が大となるし、また温度は短
時間で急変するものでないところから、間欠的に測定を
行えるように、すなわち測定動作と非動作が繰返される
ようになっている。電力消費を軽減するためにはＣ−Ｍ
ＯＳ−ＬＳＩの基本クロック信号源となる発振器を停止
させることが考えられるが、発振器を完全に停止させる
と、再動作を行わせる場合に、外部から信号を入力して
発振器をスタートさせる必要がある。

これではＣ−ＭＯ３−ＬＳ　Ｉを周期的に動作させると
なると、外部で周期に見合った信号を作成する必要が生
じる。そのため、従来は、非動作（非測定）時も発振器
を発振させて時間測定を行い、その他の回路を停止状態
として、電力消費を抑えるようにしている。

（ニ）発明が解決しようとする問題点一般によく知られるように、Ｃ−ＭＯＳ　−Ｌ　ＳＩは
論理レベルが不変の場合には消費電流はリーク電流のみ
であり、このリーク電流はごく微小値であるため、はと
んど無視できる程度である。

しかしながら、論理レベルがハイ−ローまたはロー−ハ
イと遷移する時、ゲートを構成するＰ−ＭＯ３，Ｎ−Ｍ
Ｏ３が同時にＯＮする場合が生じて、電源からグランド
に電流が流れる。このため、遷移の回数が増大すれば、
それにほぼ比例して、消費電流が増大する。そのため、
論理レベルがハイからロー、あるいはローからハイに遷
移する度合が大なるほど、消費電流が大となる。

従って、上記従来の間欠動作回路のように、比較的高い
周波数の基本クロック信号を発生する発振器を動作させ
ていると、非動作期間にもかなりの電流が消費されるこ
とになる。これでは回路の消費電流を軽減するという効
果を達成し得ないという問題がある。

この発明は、上記に鑑み、非動作時には基本クロック信
号発振器の発振を止めて、消費電流を小さくなし得る間
欠動作回路を提供することを目的としている。

（ホ）問題点を解決するための手段この発明の間欠動作回路は、基本クロック信号を発生す
る第１の発振器（１）、前記クロック信号よりも低い周
波数のクロック信号を発生する第２の発振器（２）の２
個の発振器を設け、さらに前記基本クロック信号により
駆動される動作を実行する第１回路（６）と、前記第２
の発振器よりのクロック信号を受けて計時する第２回路
（７）と、前記第１回路の機能動作終了と前記第２回路
の計時終了に応答して、前記第１と第２の発振器の一方
を駆動し、他方を停止させて、機能動作と非機能動作を
切替える動作モード切替手段（８，９，１０）とを備え
ている。

（へ）作用この間欠動作回路では、動作モード切替手段の出力によ
り第１の発振器が駆動されると、基本クロック信号が第
１回路に出力され、第１回路は機能動作を実行する。そ
して、その機能動作が終了すると、動作モード切替手段
は第１の発振器から駆動を第２の発振器に切替え、第１
の発振器の動作を停止させる。

第２の発振器からのクロック信号は、第２回路に入力さ
れ、第２回路は第２の発振器からのクロック信号を計数
し、所定の時間が経過すると、そのタイムアツプ信号で
再び動作モード切替手段は第１の発振器を駆動する。

以上のようにして、基本クロック信号による第１回路の
機能動作と、基本クロック信号よりも周波数の低いクロ
ック信号での計時による非動作時間が、順次繰返される
ことになる。

（ト）実施例以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。

第１図は、この発明の一実施例を示す電子温度針の間欠
動作回路のブロック図である。同図において１は基本ク
ロック信号発振器であり、比較的高い周波数のクロック
信号、例えばＩＭＨｚのクロック信号が発振される。ま
た２は上記基本クロック信号よりも低い周波数のクロッ
ク信号、例えば３２ＫＨｚ程度のクロック信号を発振す
る発振器である。

基本クロック信号発振器１は、水晶発振器ｘ１、アンド
ゲートＧ１、発振用の抵抗Ｒ１及びコンデンサＣ１ｌ、
Ｃ１２とより構成されている。なお、この発振器の内部
構成自体は、すでによく知られた回路である。

クロック信号発振器２の内部構成も、水晶発振器の発振
周波数が相違する以外は、回路構成において基本クロッ
ク信号発振器１と同様である。

基本クロック信号発振器１の出力とクロック信号発振器
２の出力はナントゲート３、インバータ４、さらにデユ
ーティ比を５０：５０とするための分周器５を介して、
温度測定回路（機能動作回路）６とタイマ回路７に入力
されている。

温度測定回路６は、サーミスタ等の感温素子を含み、ク
ロック信号を受けて周知の温度測定機能を実行するもの
であり、所定の温度測定処理が終了すると、測定終了信
号（セット信号）を出力するようになっている。

タイマ回路７は、同様にクロック信号を入力に受けて時
間計時を行い、一定の時間の計時が終了すると、タイム
アツプ信号（リセット信号）を出力するようになってい
る。

温度測定回路６からの測定終了信号は、ラッチ回路８の
セット入力端子に加えられ、またタイマ回路７のタイム
アツプ信号は、ラッチ回路のリセット入力端子に加えら
れている。またラッチ回路８のＱ出力はインバータ９．
１０を介して、それぞれ基本クロック信号発振器１と温
度測定回路６に入力され、また直接、クロック信号発振
器２とタイマ回路７に加えられるように構成されている
。

すなわち、ランチ回路８のＱ出力によって基本クロック
信号発振器１、機能動作回路６の駆動と、クロック信号
発振器２とタイマ回路７の駆動とを選択するようになっ
ている。

なお、上記実施例回路の主要部はＣ−ＭＯＳトランジス
タのＬＳＩで構成されている。

次に、上記実施例回路の動作について説明する。

今、ラッチ回路８がセット状態にあり、ランチ出力Ｑが
ハイレベルにある状態を想定すると、このハイレベルに
よりクロック信号発振器２とタイマ回路７が選択駆動さ
れ、一方、ラッチ回路８のＱ出力はインバータ９．１０
で反転されて、ローレベルで基本クロック信号発振器１
と温度測定回路６に入力されるので、これらの回路は動
作が停止されている。この状態下では、クロック信号発
振器２よりの低い周波数の信号がナントゲート３、さら
にインバータ４で反転され、分周器５を経てタイマ回路
７に加えられ、タイマ回路７はこのゆっくりとした周波
数のクロック信号を計数する。

この間、温度測定回路６は、動作を停止していることに
なる。

やがてタイマ回路７が所定時間を計時し、タイムアツプ
すると、そのタイムアンプ信号がランチ回路８のリセッ
ト信号として入力される（第２図ｔ１参照）。このリセ
ット信号により、ラッチ回路８はリセットされ、ランチ
出力はローレベルとなる。そのため、このローレベルに
より、それまで駆動されていたクロック信号発振器２と
タイマ回路７の動作が停止する一方、インバータ９．１
０を介してハイ信号が基本クロック信号発振器１と温度
測定回路６に入力され、これらの回路が動作を開始する
。そのため基本クロック信号発振器１からは周波数の高
い基本クロック信号が出力され、やはりナントゲート３
、インバータ４、分周器５を経て温度測定回路６に入力
される。温度測定回路６では、この基本クロック信号に
より所定の機能動作を実行し、測定を継続する。

やがて、所定の機能すなわち測定動作が終了すると、こ
の温度測定回路６から終了信号が出力され、この終了信
号がラッチ回路８のセット信号として加えられ、ラッチ
回路８がセットされる（第２図ｔ２参照）。そのためラ
ッチ回路８のＱ出力がハイとなり、このハイ出力により
、再びクロック信号発振器２とタイマ回路７が駆動され
、基本クロック信号発振器１と温度測定回路６の動作が
停止される。すなわち非動作状態となる。それ以後、ク
ロック信号発振器２よりの周波数の低いクロック信号が
タイマ回路７に入力され、タイマ回路７は、このクロッ
ク信号を一定時間計数する。

やがてタイマ回路７がタイムアツプすると、このタイム
アツプ信号でランチ回路８が再びリセットされる（第２
図ｔ３参照）。

以上のようにして、実施例回路は動作と非動作が間欠的
に繰返されることになる。

、゛、の実施例回路において、非動作時は時間計時をタ
イマ回路７で、非常にゆっくりとした周波数の信号を計
数することによりなすものであるから、Ｃ−ＭＯ３回路
の０Ｎ−ＯＦＦされる度合が周波数の高い基本クロック
信号を計数するよりも少なくなり、その分消費電流も小
となる。

なお、上記実施例は電子温度計について説明したが、こ
の発明は、もちろん電子温度計に限られるものではなく
、温度測定回路６に代えて、他の機能動作回路６を用い
る種々の小型電子機器に通用できること、いうまでもな
い。

（チ）発明の効果この発明の間欠動作回路によれば、動作時と非動作時の
基本クロック信号とクロック信号を、周波数の異なる発
振器を２個設けて切替えるようにしているので、非動作
時の消費電流が著しく低減され、電池駆動等、消費電流
を極力抑えたい小型の電子機器に利用して、電池寿命を
長くすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例を示す間欠動作回路のブ
ロック図、第２図は、同間欠勤作回路の動作を説明する
ためのタイムチャートである。に基本クロック信号発振器、２：クロック信号発振器、６：温度測定回路、７：タイ
マ回路、　　　　　８：ラッチ回路、９・１０ニインバ
ータ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）クロック信号により動作が進行され、所定の機能
動作と機能動作停止が間欠的に繰返される間欠動作回路
において、基本クロック信号を発生する第１の発振器と、前記基本
クロック信号よりも低い周波数のクロック信号を発生す
る第２の発振器と、前記基本クロック信号により駆動さ
れ、機能動作を実行する第１回路と、前記第２の発振器
よりのクロック信号を受けて計時する第２回路と、前記
第１回路の機能動作終了と前記第２回路の計時終了に応
答して、前記第１と第２の発振器の一方を駆動し、他方
を停止させて機能動作を切替える動作モード切替手段と
からなる間欠動作回路。