JPS6116506Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6116506Y2 JPS6116506Y2 JP16186380U JP16186380U JPS6116506Y2 JP S6116506 Y2 JPS6116506 Y2 JP S6116506Y2 JP 16186380 U JP16186380 U JP 16186380U JP 16186380 U JP16186380 U JP 16186380U JP S6116506 Y2 JPS6116506 Y2 JP S6116506Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- container
- detector
- valve
- pump
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は量産品(例えば冷蔵庫、クーラ等)の
被試験物を高精度かつ高速的にリークテストする
リークテスト装置の改良に関する。
被試験物を高精度かつ高速的にリークテストする
リークテスト装置の改良に関する。
従来、この種の装置として幾つか存在する。そ
の1つは、第1図に示すように容器1の内部にト
レーサガスを加圧封入した被試験物2を入れ、こ
の被試験物2のリークによつて容器1内に蓄積さ
れるトレーサガスの濃度をプローブ3を介して検
知器4により検知しリーク量を測定するものであ
る。
の1つは、第1図に示すように容器1の内部にト
レーサガスを加圧封入した被試験物2を入れ、こ
の被試験物2のリークによつて容器1内に蓄積さ
れるトレーサガスの濃度をプローブ3を介して検
知器4により検知しリーク量を測定するものであ
る。
また、別手段として、第2図のように容器1内
のトレーサガスをシリンジ5によつてサンプルに
した後、このサンプルしたガスの濃度を検知器
(図示せず)により検知しリーク量を測定するも
のである。6はフアンなどの撹拌器である。撹拌
器6を設けた理由は容器1内のトレーサガスの濃
度を一定にしないと被試験物2の洩れ個所により
装置の検出感度が異なるためである。
のトレーサガスをシリンジ5によつてサンプルに
した後、このサンプルしたガスの濃度を検知器
(図示せず)により検知しリーク量を測定するも
のである。6はフアンなどの撹拌器である。撹拌
器6を設けた理由は容器1内のトレーサガスの濃
度を一定にしないと被試験物2の洩れ個所により
装置の検出感度が異なるためである。
ところで、以上のような装置において被試験物
2のリーク量L(atm c.c./sec)は、容器1の
容積をV(c.c.)、蓄積時間をT(sec)、蓄積時間
T後のトレーサガス濃度をQとすると、L=
VQ/Tにより求められる。ここで、装置として
は常に微小のリーク量Lを高感度に測定すること
が要望されている。しかし、容器1の容積は被試
験物2によつて予め定められ、またガス濃度Qの
判別が検知器4によつて限定されるので、上式に
より蓄積時間Tを長くする必要がある。蓄積時間
Tを長くすると、逆に量産品のリークテストには
そぐわない。そこで、量産品1台当りの実質的な
時間T短縮するために、多数の容器1、…を用意
し個々のリークガスを同時に夫々の容器内に蓄積
させ、被試験物2のリークテストを行なつてい
る。
2のリーク量L(atm c.c./sec)は、容器1の
容積をV(c.c.)、蓄積時間をT(sec)、蓄積時間
T後のトレーサガス濃度をQとすると、L=
VQ/Tにより求められる。ここで、装置として
は常に微小のリーク量Lを高感度に測定すること
が要望されている。しかし、容器1の容積は被試
験物2によつて予め定められ、またガス濃度Qの
判別が検知器4によつて限定されるので、上式に
より蓄積時間Tを長くする必要がある。蓄積時間
Tを長くすると、逆に量産品のリークテストには
そぐわない。そこで、量産品1台当りの実質的な
時間T短縮するために、多数の容器1、…を用意
し個々のリークガスを同時に夫々の容器内に蓄積
させ、被試験物2のリークテストを行なつてい
る。
以上のようにすれば、確かに複数の被試験物2
の全検査時間に対する1台当りの蓄積時間は相対
的に短縮できるが、個々のリークガスの濃度Qの
測定に多くの時間を要し高速にリークテストでき
ない問題がある。
の全検査時間に対する1台当りの蓄積時間は相対
的に短縮できるが、個々のリークガスの濃度Qの
測定に多くの時間を要し高速にリークテストでき
ない問題がある。
さらに、従来のもう1つの手段として、第3図
のように大気圧容器1に吸気配管7、ポンプ8お
よび排気配管9の順序で順次接続し、これらの設
備により大気圧容器1内のガスをサンプリングし
た後、検知器4でリーク量を測定するものがあ
る。しかし、ポンプ8を稼動して容器1内のガス
を検知器4に供給する場合、大気圧程度ではガス
が配管7,9内を移動するに多くの時間を要し、
高速リークテストできない不都合がある。例えば
大気圧下での平均自由行程は10-4cm〜10-5cmと非
常に小さい。従つて、容器1内のガス蓄積時間経
過後、ポンプ8を稼動し検知器4にトレーサガス
が到達するまでに無駄時間τが存在する。今、ポ
ンプ8の排気流量Q、配管7,9の内径をR、配
管7,9の合計長さをLとすると、 τ〓(πLR2)/Q で示される。例えばR=0.3cm、Q=600c.c./min
(=10c.c./sec)、L=200cmとすれは、ガスをサン
プリングするのに6secの時間が無駄となる。従つ
て、第3図に示す装置であつてもサンプリングに
多くの時間を要し、量産品のリークテスト装置と
しては不向きなものである。そうかといつて、上
記設備を多数設けて個々に検知器でリーク量を検
知したのでは、コスト的に非常に高くなる。
のように大気圧容器1に吸気配管7、ポンプ8お
よび排気配管9の順序で順次接続し、これらの設
備により大気圧容器1内のガスをサンプリングし
た後、検知器4でリーク量を測定するものがあ
る。しかし、ポンプ8を稼動して容器1内のガス
を検知器4に供給する場合、大気圧程度ではガス
が配管7,9内を移動するに多くの時間を要し、
高速リークテストできない不都合がある。例えば
大気圧下での平均自由行程は10-4cm〜10-5cmと非
常に小さい。従つて、容器1内のガス蓄積時間経
過後、ポンプ8を稼動し検知器4にトレーサガス
が到達するまでに無駄時間τが存在する。今、ポ
ンプ8の排気流量Q、配管7,9の内径をR、配
管7,9の合計長さをLとすると、 τ〓(πLR2)/Q で示される。例えばR=0.3cm、Q=600c.c./min
(=10c.c./sec)、L=200cmとすれは、ガスをサン
プリングするのに6secの時間が無駄となる。従つ
て、第3図に示す装置であつてもサンプリングに
多くの時間を要し、量産品のリークテスト装置と
しては不向きなものである。そうかといつて、上
記設備を多数設けて個々に検知器でリーク量を検
知したのでは、コスト的に非常に高くなる。
本考案は上記事情にかんがみてなされたもので
あつて、コストの低減化を図り、かつ容器内のト
レーサガスの濃度を均一にしてリークテストを高
速度に行なうリークテスト装置を提供するもので
ある。
あつて、コストの低減化を図り、かつ容器内のト
レーサガスの濃度を均一にしてリークテストを高
速度に行なうリークテスト装置を提供するもので
ある。
以下、本考案の一実施例について第4図を参照
して説明する。同図において、11は内部を大気
圧の状態とした容器であつて、この容器11内部
にトレーサガスを加圧封入した被試験物12が収
納される。この容器11は大気圧で使用するので
被試験物12から洩れでるトレーサガスが容器1
1外へ漏洩するのを防止するには、例えばポリエ
チレンシートの如きもので容器11を囲えばよ
い。この容器11は吸気側配管13、ポンプ14
および排気側配管15を介して例えば電磁3方弁
16の一つの弁口に接続されている。他の2つの
弁口のうちその1つは循環用配管17によつて容
器11と接される。さらに、電磁3方弁16の残
り弁口は配管18、弁体19および配管20を介
して検知器21に接続されている。なお、配管1
3,15,17,18,20は大気圧近傍または
大気圧以上で使用するので、特に剛性を有する金
属パイプである必要はなく、例えばナイロンチユ
ーブの如きものでもよい。また、ポンプ14は例
えばダイヤフラム式など比較的圧力損失があつて
も流量の減少がなく油等を不要とするものを使用
する。電磁3方弁16は、トレーサガスの蓄積
時、配管17と15とを連通させることにより、
容器11、配管17、電磁3方弁16、配管1
5、ポンプ14および配管13よりなる閉ループ
によつてトレーサガスが循環するようにし、特に
撹拌器なしにガスの均一化を図る。また、電磁3
方弁16は、容器11からガスをサンプリングす
る時、配管15と18とを接続し、検知器21へ
トレーサガスを送る構成にしている。弁体19は
一本以上(図示状態では一本)の配管18を選択
する選択弁の機能を持つている。検知器21は大
気圧で動作しトレーサガスを高感度で検知し、か
つレスポンスの速いものを使用する。
して説明する。同図において、11は内部を大気
圧の状態とした容器であつて、この容器11内部
にトレーサガスを加圧封入した被試験物12が収
納される。この容器11は大気圧で使用するので
被試験物12から洩れでるトレーサガスが容器1
1外へ漏洩するのを防止するには、例えばポリエ
チレンシートの如きもので容器11を囲えばよ
い。この容器11は吸気側配管13、ポンプ14
および排気側配管15を介して例えば電磁3方弁
16の一つの弁口に接続されている。他の2つの
弁口のうちその1つは循環用配管17によつて容
器11と接される。さらに、電磁3方弁16の残
り弁口は配管18、弁体19および配管20を介
して検知器21に接続されている。なお、配管1
3,15,17,18,20は大気圧近傍または
大気圧以上で使用するので、特に剛性を有する金
属パイプである必要はなく、例えばナイロンチユ
ーブの如きものでもよい。また、ポンプ14は例
えばダイヤフラム式など比較的圧力損失があつて
も流量の減少がなく油等を不要とするものを使用
する。電磁3方弁16は、トレーサガスの蓄積
時、配管17と15とを連通させることにより、
容器11、配管17、電磁3方弁16、配管1
5、ポンプ14および配管13よりなる閉ループ
によつてトレーサガスが循環するようにし、特に
撹拌器なしにガスの均一化を図る。また、電磁3
方弁16は、容器11からガスをサンプリングす
る時、配管15と18とを接続し、検知器21へ
トレーサガスを送る構成にしている。弁体19は
一本以上(図示状態では一本)の配管18を選択
する選択弁の機能を持つている。検知器21は大
気圧で動作しトレーサガスを高感度で検知し、か
つレスポンスの速いものを使用する。
なお、本装置にあつては、11〜20からなる
ガス供給系10とは別に、同供給系10と同様の
構成を有するガス供給系10′を備え、この供給
系10′端部を前記検知器21に接続する。そし
て、これらのガス供給系10,10′は、時間を
異ならせて検知器21へガスを供給する構成とし
ている。
ガス供給系10とは別に、同供給系10と同様の
構成を有するガス供給系10′を備え、この供給
系10′端部を前記検知器21に接続する。そし
て、これらのガス供給系10,10′は、時間を
異ならせて検知器21へガスを供給する構成とし
ている。
次に、以上のように構成するリークテスト装置
の作用を説明する。なお、前記両系10,10′
は同一動作を行なうので、以下、説明の便宜上、
一方のガス供給系10について説明する。先ず、
被試験物12から洩れでるトレーサガスを容器1
1に蓄積する場合、電磁3方弁16によつて配管
15と17とを連通する。そうすると、容器11
内のトレーサガスはポンプ14の吸引により、配
管13,15および電磁3方弁16を経て配管1
7に入り、この配管17から再び容器11へ戻
る。つまり、トレーサガスは系10が閉ループと
なつているので特に減少することなくポンプ14
の流れによつて自然と容器11内に循環供給され
ガスの均一化が図れる。
の作用を説明する。なお、前記両系10,10′
は同一動作を行なうので、以下、説明の便宜上、
一方のガス供給系10について説明する。先ず、
被試験物12から洩れでるトレーサガスを容器1
1に蓄積する場合、電磁3方弁16によつて配管
15と17とを連通する。そうすると、容器11
内のトレーサガスはポンプ14の吸引により、配
管13,15および電磁3方弁16を経て配管1
7に入り、この配管17から再び容器11へ戻
る。つまり、トレーサガスは系10が閉ループと
なつているので特に減少することなくポンプ14
の流れによつて自然と容器11内に循環供給され
ガスの均一化が図れる。
このようにしてトレーサガスの蓄積時間が終了
すると、電磁3方弁16が切換えられ配管15と
18とが連通する。このとき、同時に弁休19も
配管18を選択するので、容器11、配管13、
ポンプ14、配管15、電磁3方弁16、配管1
8、弁休19および配管20からなる経路が形成
され、容器11内のトレーサガスはポンプ14に
より上記経路を通つて流れ検知器21に供給され
る。ここで、検知器21はトレーサガスの濃度を
検知し被試験物12のリーク量を測定する。
すると、電磁3方弁16が切換えられ配管15と
18とが連通する。このとき、同時に弁休19も
配管18を選択するので、容器11、配管13、
ポンプ14、配管15、電磁3方弁16、配管1
8、弁休19および配管20からなる経路が形成
され、容器11内のトレーサガスはポンプ14に
より上記経路を通つて流れ検知器21に供給され
る。ここで、検知器21はトレーサガスの濃度を
検知し被試験物12のリーク量を測定する。
一方、ガス供給系10′にあつては、ガス供給
系10と時間を異ならせて蓄積を開始し、ガス供
給系10のリークテストの完了後、電磁3方弁1
6′および弁体19′を弁開制御により容器11′
内のトレーサガスを検知器21に送り込み、リー
クテストを行なうものである。
系10と時間を異ならせて蓄積を開始し、ガス供
給系10のリークテストの完了後、電磁3方弁1
6′および弁体19′を弁開制御により容器11′
内のトレーサガスを検知器21に送り込み、リー
クテストを行なうものである。
従つて、以上のような構成によれば、トレーサ
ガスを蓄積するとき、容器11と夫々別位置に取
着せる配管13,17等とによりガスが循環せら
れるので、容器11内のガスはポンプ14により
撹拌され、このため撹拌器を用いることなくトレ
ーサガスの濃度を均一にでき、被試験物12のリ
ーク個所によりリーク量が異なることなく高精度
にリークテストできる。また、蓄積時間の終了
後、容器11内のトレーサガスをサンプリングす
る場合でも、トレーサガスが電磁3方弁16まで
きているため、トレーサガスの移動距離は配管1
8、弁体19および配管20だけであり、これら
の配管18,20等は11,11′の大きさ、数
によらず短くできるので、大気圧でもリークテス
トを速やかに行なうことができる。配管18,2
0を短くできる理由は他の配管13,15,17
等を長くすればよいためである。
ガスを蓄積するとき、容器11と夫々別位置に取
着せる配管13,17等とによりガスが循環せら
れるので、容器11内のガスはポンプ14により
撹拌され、このため撹拌器を用いることなくトレ
ーサガスの濃度を均一にでき、被試験物12のリ
ーク個所によりリーク量が異なることなく高精度
にリークテストできる。また、蓄積時間の終了
後、容器11内のトレーサガスをサンプリングす
る場合でも、トレーサガスが電磁3方弁16まで
きているため、トレーサガスの移動距離は配管1
8、弁体19および配管20だけであり、これら
の配管18,20等は11,11′の大きさ、数
によらず短くできるので、大気圧でもリークテス
トを速やかに行なうことができる。配管18,2
0を短くできる理由は他の配管13,15,17
等を長くすればよいためである。
また、複数の系は時間を異ならせてリークテス
トが可能であり、それほど多数の容器を必要とせ
ずに高速度にリークテストすることができ、かつ
検知器を多数個用意する必要がないので、構成簡
単にして安価に実現できる。
トが可能であり、それほど多数の容器を必要とせ
ずに高速度にリークテストすることができ、かつ
検知器を多数個用意する必要がないので、構成簡
単にして安価に実現できる。
なお、本考案は上記実施例に限定されるもので
はない。例えばガス供給系は2系統以上でよい。
この場合、トレーサガスの畜積は個々に独立して
行なうようにし、リークテストだけ時間を異なら
せて実施してもよい。また、電磁3方弁16およ
び弁体19は第5図のように電磁5方弁16aお
よび19a等で構成し、容器11内にトレーサガ
スを畜積している時、電磁5方弁16aのE2,
2を通して窒素ガス等(トレーサガスその他検知
器21を誤動させるものを含まないガス)を配管
18に流して同配管18の洗浄を行なうことも可
能である。配管13,15,17はリークテスト
の終了後容器11から被試験物12を取り出して
窒素ガス等を流すと、ポンプ14により洗浄(ト
レーサガスを取り除くこと)ができるが、配管1
8は洗浄できず前回のトレーサガスが残つてしま
う。トレーサガスが配管等に残ると、次回のリー
クテストに影響を及ぼすので、電磁5方弁16
a,19aを用いれば除去できる。その他、本考
案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施で
きる。
はない。例えばガス供給系は2系統以上でよい。
この場合、トレーサガスの畜積は個々に独立して
行なうようにし、リークテストだけ時間を異なら
せて実施してもよい。また、電磁3方弁16およ
び弁体19は第5図のように電磁5方弁16aお
よび19a等で構成し、容器11内にトレーサガ
スを畜積している時、電磁5方弁16aのE2,
2を通して窒素ガス等(トレーサガスその他検知
器21を誤動させるものを含まないガス)を配管
18に流して同配管18の洗浄を行なうことも可
能である。配管13,15,17はリークテスト
の終了後容器11から被試験物12を取り出して
窒素ガス等を流すと、ポンプ14により洗浄(ト
レーサガスを取り除くこと)ができるが、配管1
8は洗浄できず前回のトレーサガスが残つてしま
う。トレーサガスが配管等に残ると、次回のリー
クテストに影響を及ぼすので、電磁5方弁16
a,19aを用いれば除去できる。その他、本考
案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施で
きる。
以上詳述したように本考案によれば、ガスの蓄
積時にガスを循環させるので撹拌器なしでガス濃
度の均一化が図れるとともに、その循環経路の一
部からガスを検知器に供給することによりガス伝
送路を短くして速やかにリークテストを行なうこ
とができる。しかも、内部に被試験物を収納した
容器を複数設け、これらにそれぞれガス供給系統
を接続し、その供給口を1つの検出器に連結して
構成し、これらのガス供給系統のガスを時間をず
らして検知するようにすれば、量産品のリークテ
ストの場合短時間で試験可能となり、効率的、か
つ安価に実現できるリークテスト装置をも提供で
きる。
積時にガスを循環させるので撹拌器なしでガス濃
度の均一化が図れるとともに、その循環経路の一
部からガスを検知器に供給することによりガス伝
送路を短くして速やかにリークテストを行なうこ
とができる。しかも、内部に被試験物を収納した
容器を複数設け、これらにそれぞれガス供給系統
を接続し、その供給口を1つの検出器に連結して
構成し、これらのガス供給系統のガスを時間をず
らして検知するようにすれば、量産品のリークテ
ストの場合短時間で試験可能となり、効率的、か
つ安価に実現できるリークテスト装置をも提供で
きる。
第1図ないし第3図はそれぞれ従来装置の概略
構成図、第4図は本考案に係るリークテスト装置
の一実施例を示す構成図、第5図は本装置の他の
例を示す図である。 11,11′……容器、12,12′……被試験
物、13,13′……吸気側配管、14,14′…
…ポンプ、15,15′……排気側配管、16,
16′……電磁3方弁(切替弁)、17,17′…
…循環用配管、20……供給側配管、21……検
知器。
構成図、第4図は本考案に係るリークテスト装置
の一実施例を示す構成図、第5図は本装置の他の
例を示す図である。 11,11′……容器、12,12′……被試験
物、13,13′……吸気側配管、14,14′…
…ポンプ、15,15′……排気側配管、16,
16′……電磁3方弁(切替弁)、17,17′…
…循環用配管、20……供給側配管、21……検
知器。
Claims (1)
- ガスを加圧封入した被試験物を容器に収納し、
被試験物から洩れ出るガスを容器内に蓄積し被試
験物のリーク量を検知するリークテスト装置にお
いて、前記容器内のガスを吸気側配管を介して吸
気するポンプと、このポンプの排気側に接続され
た少なくとも3つ以上の弁口を持つ切替弁と、こ
の切替弁の他の弁口から前記容器へ配設せるガス
循環用配管と、前記切替弁の残りの1つの弁口を
用いて検知器にガスを供給する供給用配管とから
成るガス供給系を複数備え、これらガス供給系を
1つの検出器に接続して構成したことを特徴とす
るリークテスト装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16186380U JPS6116506Y2 (ja) | 1980-11-12 | 1980-11-12 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16186380U JPS6116506Y2 (ja) | 1980-11-12 | 1980-11-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5784455U JPS5784455U (ja) | 1982-05-25 |
JPS6116506Y2 true JPS6116506Y2 (ja) | 1986-05-21 |
Family
ID=29520751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16186380U Expired JPS6116506Y2 (ja) | 1980-11-12 | 1980-11-12 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6116506Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013515252A (ja) * | 2009-12-21 | 2013-05-02 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 漏れを測定する方法および装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009157092A1 (ja) * | 2008-06-23 | 2009-12-30 | 株式会社 九州山光社 | 水蒸気移動制御装置を取り付けるための箱体を検査対象とした気密検査方法及び気密検査装置 |
JP2021173666A (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-01 | 株式会社デンソー | 漏れ検査装置及び漏れ検査方法 |
-
1980
- 1980-11-12 JP JP16186380U patent/JPS6116506Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013515252A (ja) * | 2009-12-21 | 2013-05-02 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 漏れを測定する方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5784455U (ja) | 1982-05-25 |
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