JPS61160989A - 半導体レ−ザアレイ装置とその製造方法 - Google Patents
半導体レ−ザアレイ装置とその製造方法Info
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- JPS61160989A JPS61160989A JP60001658A JP165885A JPS61160989A JP S61160989 A JPS61160989 A JP S61160989A JP 60001658 A JP60001658 A JP 60001658A JP 165885 A JP165885 A JP 165885A JP S61160989 A JPS61160989 A JP S61160989A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/127—Lasers; Multiple laser arrays
-
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
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-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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-
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- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
- H01S5/227—Buried mesa structure ; Striped active layer
- H01S5/2275—Buried mesa structure ; Striped active layer mesa created by etching
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- Semiconductor Lasers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体レーザアレイ装置に関する。
(従来技術とその問題点)
記録可能な光デイスクシステムの開発が盛んである。先
部には軽量小型で消費電力が少ない半導体レープが用い
られる。とくに、互いに独立に駆動可能な二つの発tI
領域が同一基板上に近接して設けられた半導体レーザア
レイが、今後この先ディスクシステムの先部の主流とな
るものとじて注目されている。この半導体レーザアレイ
は、二つの発振領域を独立に駆動して、一方の発振領域
からの出力を情報の記録に、他方の発振領域からの出力
を再生に用いることができ、記録しながら直前に記録し
た信号を再生して記録状態を検知したり、先ディスクの
欠陥を検知しながら欠陥のない領域を選んで記録するな
どのことができる。この結果1発Wl領域が嵐−で記録
と再生とを側割におこなう半導体レーザに比較して、素
早゛く確実な記録が行なえ、記録の信頼度に優れ、記録
時間の短かい先ディスクシステムができるからである。
部には軽量小型で消費電力が少ない半導体レープが用い
られる。とくに、互いに独立に駆動可能な二つの発tI
領域が同一基板上に近接して設けられた半導体レーザア
レイが、今後この先ディスクシステムの先部の主流とな
るものとじて注目されている。この半導体レーザアレイ
は、二つの発振領域を独立に駆動して、一方の発振領域
からの出力を情報の記録に、他方の発振領域からの出力
を再生に用いることができ、記録しながら直前に記録し
た信号を再生して記録状態を検知したり、先ディスクの
欠陥を検知しながら欠陥のない領域を選んで記録するな
どのことができる。この結果1発Wl領域が嵐−で記録
と再生とを側割におこなう半導体レーザに比較して、素
早゛く確実な記録が行なえ、記録の信頼度に優れ、記録
時間の短かい先ディスクシステムができるからである。
この半導体レーザアレイは次の様に駆動される。記録用
の発振領域は、パルス駆動基れる。20mW1度の高出
力が放出され、光ディスクに情報を刻む。これに対して
、再生用の発振11@は。
の発振領域は、パルス駆動基れる。20mW1度の高出
力が放出され、光ディスクに情報を刻む。これに対して
、再生用の発振11@は。
一定出力駆動され、その出力は2〜3mWと低い。
再生用レーザ光は、先ディスクに照射され1反射光の光
量の変化を検知することによって、光ディスクに刻まれ
た記録を再生する。このため再生用のレーザ出力が安定
していることかきわめて重要である。ところが、再生用
し−ザ出力は、雰囲気温度の変化や記録用発振領域の駆
動電流の変化による温度変化を受けて変動する。このた
め、再生用の発振領域からのレーザ出力を検知して、温
度変化の影響を駆動電流を変化させることによって補償
する必要がある。
量の変化を検知することによって、光ディスクに刻まれ
た記録を再生する。このため再生用のレーザ出力が安定
していることかきわめて重要である。ところが、再生用
し−ザ出力は、雰囲気温度の変化や記録用発振領域の駆
動電流の変化による温度変化を受けて変動する。このた
め、再生用の発振領域からのレーザ出力を検知して、温
度変化の影響を駆動電流を変化させることによって補償
する必要がある。
ところが、従来の半導体レーザアレイは、再生用の発振
領域からのモニタ出力を検知することが困難であった。
領域からのモニタ出力を検知することが困難であった。
従来の半導体レーザアレイは、共振器面の反射率が記録
用の発振領域と再生用の発振領域とで同じであった。出
力側の共振器面と反対側の面に異なる厚さの誘電体薄膜
を形成して、共振器面の反射率を出力側の面と反対側の
面とで違えた半導体レーザアレイにおいても同様であっ
た。このため、動作時の再生用の発振領域からのレーザ
出力と記録用の発振領域からのレープ出力の比は、出力
側の面でも反対側の面でも同じで1対10程度であった
。さらに、二つの発振領域は近接して設けられている。
用の発振領域と再生用の発振領域とで同じであった。出
力側の共振器面と反対側の面に異なる厚さの誘電体薄膜
を形成して、共振器面の反射率を出力側の面と反対側の
面とで違えた半導体レーザアレイにおいても同様であっ
た。このため、動作時の再生用の発振領域からのレーザ
出力と記録用の発振領域からのレープ出力の比は、出力
側の面でも反対側の面でも同じで1対10程度であった
。さらに、二つの発振領域は近接して設けられている。
レーザ光を先ディスクに集光するためのレンズなどの光
学系が一組で済むためで。
学系が一組で済むためで。
その間隔はレンズの口径の制約などから、10゜pm以
内である。そして、レープ光の放射角は10度以上と広
い。これらのことから、従来の半導体レーザアレイでは
、再生用の発振領域からのレーザ出力を検知するには、
二つの発振領域からのレーザ出力を、出力側かあるいは
反対側の共振器面から採りてレンズで拡大結像し、さら
にピンホールなどによって記録用発振領域からの出力と
分層しなければならなかった。このため、光学系が複雑
になり、その組立It!に多大の労力がかかるという欠
点があった。
内である。そして、レープ光の放射角は10度以上と広
い。これらのことから、従来の半導体レーザアレイでは
、再生用の発振領域からのレーザ出力を検知するには、
二つの発振領域からのレーザ出力を、出力側かあるいは
反対側の共振器面から採りてレンズで拡大結像し、さら
にピンホールなどによって記録用発振領域からの出力と
分層しなければならなかった。このため、光学系が複雑
になり、その組立It!に多大の労力がかかるという欠
点があった。
(発明の目的)
本発明の目的は、一対の共振器面のうち出力側とは反対
側の共振器面の一方の発ti領域に高反射率膜を選択的
に形成して、この共振器面からのレーザ出力を低減させ
、この共振器面からはもう一方の発振領域からのレーザ
出力だけが出力されるようにしたことによって上記問題
を解決した半導体レーザアレイ装置を提供し、さらにそ
の製造方法を提供することにある。
側の共振器面の一方の発ti領域に高反射率膜を選択的
に形成して、この共振器面からのレーザ出力を低減させ
、この共振器面からはもう一方の発振領域からのレーザ
出力だけが出力されるようにしたことによって上記問題
を解決した半導体レーザアレイ装置を提供し、さらにそ
の製造方法を提供することにある。
(発明の構成)
本発明の半導体レープアレイは、互いに独立に駆動可能
な二つの発振領域を同一の半導体基板上に1100P以
内の間隔で設けた半導体レーザアレイであって、一対の
共1器面のう多の一方の共振器面からレーザ出力を出力
し、他方の共振器面上の第一の発振領域には、第一の誘
電体薄膜。
な二つの発振領域を同一の半導体基板上に1100P以
内の間隔で設けた半導体レーザアレイであって、一対の
共1器面のう多の一方の共振器面からレーザ出力を出力
し、他方の共振器面上の第一の発振領域には、第一の誘
電体薄膜。
500オンゲストO−ム以上の厚さの金属薄膜および第
二の誘電体薄膜が順次積層されてなる高反射率膜が形成
され、第二の発振領域からは第二の発振領域の出力を@
御するためのモニタ先が取り出せることを特徴とする。
二の誘電体薄膜が順次積層されてなる高反射率膜が形成
され、第二の発振領域からは第二の発振領域の出力を@
御するためのモニタ先が取り出せることを特徴とする。
−また。相対向する一対の共振器面を備え、互いに独立
に駆動可能な二つの発振領域を同一の半導体基板上に1
10OH以内の間隔で設けた半導体レーザ7レイを形成
する工程と、前記共振器面に、まず冨−の誘電体薄膜を
スパッタ法あるいはケミカル・ベーパー・デイジショシ
法にて形成し。
に駆動可能な二つの発振領域を同一の半導体基板上に1
10OH以内の間隔で設けた半導体レーザ7レイを形成
する工程と、前記共振器面に、まず冨−の誘電体薄膜を
スパッタ法あるいはケミカル・ベーパー・デイジショシ
法にて形成し。
次に一方の発振領域に真空蒸着法にて500オンゲスト
ローム以上の厚さの金属薄膜を形成し、さらにスパッタ
法あるいはケミカル・ペーパー・デゴジション法にて第
二の誘電体薄膜を前記金属薄膜及び第一の誘電体薄膜上
に形成することを特徴とする。
ローム以上の厚さの金属薄膜を形成し、さらにスパッタ
法あるいはケミカル・ペーパー・デゴジション法にて第
二の誘電体薄膜を前記金属薄膜及び第一の誘電体薄膜上
に形成することを特徴とする。
(実施例)
藁1圀は本発明の一実施例の模式的上面図である。半導
体レーザアレイ本体1は、n型GaAS基板上にエピタ
キシャル成長したA I GaAs多層薄膜とpおよび
n側電極とで構成され、二つのストライブ状の発振領域
2.3を含んでいる。
体レーザアレイ本体1は、n型GaAS基板上にエピタ
キシャル成長したA I GaAs多層薄膜とpおよび
n側電極とで構成され、二つのストライブ状の発振領域
2.3を含んでいる。
開領域はは20mW以上の高出力にも十分耐える導波路
構造のものであり、またそれぞれが効果的な電流狭窄構
造を持ちp11!l電極が溝10で分離されているごと
により互いに独立に駆動される。両発振i域は間隔が1
0OPn以内と近接して設けられているため、−短の光
学系で開領域からのし−ザ光を光デイスク上に集光する
ことができる。
構造のものであり、またそれぞれが効果的な電流狭窄構
造を持ちp11!l電極が溝10で分離されているごと
により互いに独立に駆動される。両発振i域は間隔が1
0OPn以内と近接して設けられているため、−短の光
学系で開領域からのし−ザ光を光デイスク上に集光する
ことができる。
一対の共振器面4.5の内出射側の共振器面4上には、
劣化防止のための保11j[iとして厚さ約2s5oX
のS i Oz薄瞑9が形成されている。
劣化防止のための保11j[iとして厚さ約2s5oX
のS i Oz薄瞑9が形成されている。
一方裏側の共振器面5上には、厚さ約2850AのSi
○2薄瞑6が全面に、厚さ約50OAのAU薄1[1i
!7が記録用半導体レーザの発光領域を覆って形成され
ており、さらに厚さ約2850Aの5i02薄11j1
8が全面に形成されている。
○2薄瞑6が全面に、厚さ約50OAのAU薄1[1i
!7が記録用半導体レーザの発光領域を覆って形成され
ており、さらに厚さ約2850Aの5i02薄11j1
8が全面に形成されている。
発振波長8300Aのレーザ光の厚さ500人のAu1
ll*に対する透過率は1%以下と小さい。
ll*に対する透過率は1%以下と小さい。
このため記録用半導体レープの前面から出力が20mW
のときでも裏面で観測されるレープ光は微弱である。こ
れに対して、再生用半導体レープの裏面からの出力は、
前面からの出力と同じで2〜3mWある。半導体レープ
アレイの裏面に対向させてフォトディテクタを設置し再
生用と記録用の。
のときでも裏面で観測されるレープ光は微弱である。こ
れに対して、再生用半導体レープの裏面からの出力は、
前面からの出力と同じで2〜3mWある。半導体レープ
アレイの裏面に対向させてフォトディテクタを設置し再
生用と記録用の。
半導体レーザの裏面からの出力の比を測定したところ1
0デシベル以上の大きな値が得られ、記録用発振領域か
らのレープ出力の彰Vをほとんど受けず再生用発振領域
からのレーザ出力を検知できた。
0デシベル以上の大きな値が得られ、記録用発振領域か
らのレープ出力の彰Vをほとんど受けず再生用発振領域
からのレーザ出力を検知できた。
従って9本発明の半導体レーザアレイにおいては、裏側
の共振器面に対向させてフォトディテクタを設置するな
どの簡便な方法で、再生用レーザ出力を一定に保つため
のモニタ光を取り出すことができる。従来の半導体レー
プアレイに不可欠であったモニタ先分離集光用のレンズ
やピンホールなどの光学部品が不用となり、これらの組
立の労力を省くことができるようになった。
の共振器面に対向させてフォトディテクタを設置するな
どの簡便な方法で、再生用レーザ出力を一定に保つため
のモニタ光を取り出すことができる。従来の半導体レー
プアレイに不可欠であったモニタ先分離集光用のレンズ
やピンホールなどの光学部品が不用となり、これらの組
立の労力を省くことができるようになった。
Au薄膜は厚いほど透過率が小さく、記録用発振領域か
らのレーザ光の影響を少なくできる。
らのレーザ光の影響を少なくできる。
実施例の半導体レープアレイは、裏側の共振器面全面に
スパッタ法でSiO2薄瞑を形成した後、再生用半導体
レーザ9発光領域を遮蔽物で覆い、Au薄膜を蒸着法で
形成し、ざらに−献物を取り払って全面にS i 02
を形成した。記録用と再生用の半導体レーザの間隔は1
100pあるので、所定の領域に孔のあいた薄板などを
あてがうことにより、容易に共振器面の再生用発振領域
だけを覆うことができる。また真空蒸着法では、蒸着法
に対向して設置された試料面にのみ薄膜が形成されるの
に対して、スパッタ法は影の部分にも回り込んで薄膜が
形成される性質がある。筆−の5i02薄瞑は共振器面
だけでなく電極にも共振器面近傍を覆うように形成され
、これに対してAu1l瞑は共振器面にだけ形成される
。このためAu15M1が電極金属と接触して短絡をお
こすなどの問題がない。さらに第二のS i 02薄膜
はAu薄膜を包み込んで形成されることから1本発明の
半導体レーザアレイをヒートシンクやパッケイジなどに
半田金属などでマウントしてもA u ’J @か半田
金属と反応して欠損することがない。
スパッタ法でSiO2薄瞑を形成した後、再生用半導体
レーザ9発光領域を遮蔽物で覆い、Au薄膜を蒸着法で
形成し、ざらに−献物を取り払って全面にS i 02
を形成した。記録用と再生用の半導体レーザの間隔は1
100pあるので、所定の領域に孔のあいた薄板などを
あてがうことにより、容易に共振器面の再生用発振領域
だけを覆うことができる。また真空蒸着法では、蒸着法
に対向して設置された試料面にのみ薄膜が形成されるの
に対して、スパッタ法は影の部分にも回り込んで薄膜が
形成される性質がある。筆−の5i02薄瞑は共振器面
だけでなく電極にも共振器面近傍を覆うように形成され
、これに対してAu1l瞑は共振器面にだけ形成される
。このためAu15M1が電極金属と接触して短絡をお
こすなどの問題がない。さらに第二のS i 02薄膜
はAu薄膜を包み込んで形成されることから1本発明の
半導体レーザアレイをヒートシンクやパッケイジなどに
半田金属などでマウントしてもA u ’J @か半田
金属と反応して欠損することがない。
上述した実施例では5i02薄1116の厚さが発ta
長λ(8300A)の約λ/2n(nは5i02の屈折
率)であったが、これをλ/4nすなわち約1425A
とすると、レープ2の前面の反射率が約8%になり、出
力の効率が高まり同時にその最大出力を約2倍に高める
ことができる。
長λ(8300A)の約λ/2n(nは5i02の屈折
率)であったが、これをλ/4nすなわち約1425A
とすると、レープ2の前面の反射率が約8%になり、出
力の効率が高まり同時にその最大出力を約2倍に高める
ことができる。
これはレープ2の駆動電流の低減・信頼性の向上をもた
らす。
らす。
上述した実施例では透明な誘電体薄膜にS+02を用い
たが、 A 1203 、6 i3 N4 ナト(j)
薄馴を用いても同様の効果を得ることができる。
たが、 A 1203 、6 i3 N4 ナト(j)
薄馴を用いても同様の効果を得ることができる。
また、A1.Or、Ti、Ptなどを金属薄IIOに用
いても同様の効果を得ることができる。
いても同様の効果を得ることができる。
本発明の効果は他の発振波長のAlGaAsレープアレ
イに対しても同様である。また、AlGa1nPやI
nGaAsPなどの他の半導体材料より成る半導体レー
ザアレイ装置に対しても同様の効果を得ることができる
。さらに、レーザアレイを構成するレーザの素子構造に
も依らず、連続した活性層を有する埋め込み型でない構
造の半導体レープの場合にも同様の効果を得ることがで
きるのはもちろんである。
イに対しても同様である。また、AlGa1nPやI
nGaAsPなどの他の半導体材料より成る半導体レー
ザアレイ装置に対しても同様の効果を得ることができる
。さらに、レーザアレイを構成するレーザの素子構造に
も依らず、連続した活性層を有する埋め込み型でない構
造の半導体レープの場合にも同様の効果を得ることがで
きるのはもちろんである。
(発明の効果)
以上説明したように8本発明の半導体し−ザアレイ装置
は、一対の共振器面のうち出力側とは反対側の共振器面
の記録用発振Ili域に高反射重職を選択的に形成して
、この共振器面かうのレーザ出力を低減させ、この共振
器面からは再生用発振領域からのレーザ出力だけが出力
されるようにしたことによって、出力用発振領域の出力
と再生用発振領域の出力とか混合しても再生用発振領域
の出力の方が圧倒的に大きくなるので、裏側の共振器面
に対向させてフォトディテクタを設置するなどの簡便な
方法で、再生用の発振W4域のレーザ出力を一定に保つ
ためのモニタ光を検知できる。これにより従来の半導体
レーザアレイに不可欠であったモニタ光集光用のレンズ
やピンホールなどの光学部品が不用となり、これらを組
立るための労力を省けた。この結果、光デイスク式シス
テムの大幅なコストダラシ・省スペースが可能となった
。
は、一対の共振器面のうち出力側とは反対側の共振器面
の記録用発振Ili域に高反射重職を選択的に形成して
、この共振器面かうのレーザ出力を低減させ、この共振
器面からは再生用発振領域からのレーザ出力だけが出力
されるようにしたことによって、出力用発振領域の出力
と再生用発振領域の出力とか混合しても再生用発振領域
の出力の方が圧倒的に大きくなるので、裏側の共振器面
に対向させてフォトディテクタを設置するなどの簡便な
方法で、再生用の発振W4域のレーザ出力を一定に保つ
ためのモニタ光を検知できる。これにより従来の半導体
レーザアレイに不可欠であったモニタ光集光用のレンズ
やピンホールなどの光学部品が不用となり、これらを組
立るための労力を省けた。この結果、光デイスク式シス
テムの大幅なコストダラシ・省スペースが可能となった
。
第1rAは本発明の一実施例の模式的上面図である。同
図において、1・−−AIGaAsレーザアレイ本体、
2・・・記録用発振領域、3・・・再生用発l1iI域
、4・・・出射側共wR器面、5・・・裏側共振器面、
6.8.9・・・5i02薄瞑。 7・・・Au!1瞑、10・・・p側電極分離溝である
。 弐襲人弁理士内原 冒(、′
図において、1・−−AIGaAsレーザアレイ本体、
2・・・記録用発振領域、3・・・再生用発l1iI域
、4・・・出射側共wR器面、5・・・裏側共振器面、
6.8.9・・・5i02薄瞑。 7・・・Au!1瞑、10・・・p側電極分離溝である
。 弐襲人弁理士内原 冒(、′
Claims (2)
- (1)互いに独立に駆動可能な二つの発振領域を同一の
半導体基板上に100μm以内の間隔で設けた半導体レ
ーザアレイであって、一対の共振器面のうちの一方の共
振器面からレーザ出力を出力し、他方の共振器面上の第
一の発振領域には、第一の誘電体薄膜、500オングス
トローム以上の厚さの金属薄膜および第二の誘電体薄膜
が順次積層されてなる高反射率膜が形成され、第二の発
振領域からは第二の発振領域の出力を制御するためのモ
ニタ光が取り出せることを特徴とする半導体レーザアレ
イ装置。 - (2)相対向する一対の共振器面を備え、互いに独立に
駆動可能な二つの発振領域を同一の半導体基板上に10
0μm以内の間隔で設けた半導体レーザアレイを形成す
る工程と、前記共振器面に、まず第一の誘電体薄膜をス
パッタ法あるいはケミカル・ベーパー・デポジション法
にて形成し、次に一方の発振領域に真空蒸着法にて50
0オングストローム以上の厚さの金属薄膜を形成し、さ
らにスパッタ法あるいはケミカル・ベーパー・デポジシ
ョン法にて第二の誘電体薄膜を前記金属薄膜及び第一の
誘電体薄膜上に形成することを特徴とする半導体レーザ
アレイの製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60001658A JPS61160989A (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 | 半導体レ−ザアレイ装置とその製造方法 |
DE8686300098T DE3677997D1 (de) | 1985-01-09 | 1986-01-08 | Halbleiterlaservielfachanordnung. |
EP86300098A EP0187716B1 (en) | 1985-01-09 | 1986-01-08 | Semiconductor laser array device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60001658A JPS61160989A (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 | 半導体レ−ザアレイ装置とその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61160989A true JPS61160989A (ja) | 1986-07-21 |
Family
ID=11507615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60001658A Pending JPS61160989A (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 | 半導体レ−ザアレイ装置とその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0187716B1 (ja) |
JP (1) | JPS61160989A (ja) |
DE (1) | DE3677997D1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0194335B1 (en) * | 1985-03-14 | 1991-01-02 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Improved semiconductor laser devices |
EP0547043B1 (en) * | 1986-07-25 | 1995-09-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
US4860276A (en) * | 1986-09-18 | 1989-08-22 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Micro optical head with an optically switched laser diode |
JPS63306689A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-12-14 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 横結合レーザーダイオードアレー |
JP2001077457A (ja) * | 1999-09-08 | 2001-03-23 | Sony Corp | 半導体レーザおよびその製造方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1407351A (en) * | 1973-02-06 | 1975-09-24 | Standard Telephones Cables Ltd | Injection lasers |
US4092659A (en) * | 1977-04-28 | 1978-05-30 | Rca Corporation | Multi-layer reflector for electroluminescent device |
US4425650A (en) * | 1980-04-15 | 1984-01-10 | Nippon Electric Co., Ltd. | Buried heterostructure laser diode |
US4563368A (en) * | 1983-02-14 | 1986-01-07 | Xerox Corporation | Passivation for surfaces and interfaces of semiconductor laser facets or the like |
US4656638A (en) * | 1983-02-14 | 1987-04-07 | Xerox Corporation | Passivation for surfaces and interfaces of semiconductor laser facets or the like |
-
1985
- 1985-01-09 JP JP60001658A patent/JPS61160989A/ja active Pending
-
1986
- 1986-01-08 EP EP86300098A patent/EP0187716B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-01-08 DE DE8686300098T patent/DE3677997D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0187716A2 (en) | 1986-07-16 |
EP0187716B1 (en) | 1991-03-13 |
EP0187716A3 (en) | 1988-06-01 |
DE3677997D1 (de) | 1991-04-18 |
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