JPS61148781A - Spring pin - Google Patents
Spring pinInfo
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- JPS61148781A JPS61148781A JP27231184A JP27231184A JPS61148781A JP S61148781 A JPS61148781 A JP S61148781A JP 27231184 A JP27231184 A JP 27231184A JP 27231184 A JP27231184 A JP 27231184A JP S61148781 A JPS61148781 A JP S61148781A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技ｖＩＩ介野〕
本発明は、電気的コンタクトをとるためのバネビンに関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Techniques of the Invention vII Ueno] The present invention relates to a spring bin for making electrical contact.
〔発明の技術的背景とその問題点〕 □第５図
に従来の゛バネピンを示す。このバネビンは先端１１ａ
が二叉状に分岐したコンタクトプロ゛−７１・１と、コ
ンタクトプローブ１１がスライド可能に挿入された一端
が封鎖された中空状の収納１！ １ ’２ ′と讐収納
管１２内に取り付けられて前記コンタクトプローブ１１
１０基端面を押圧するばね “１３と、前記収納管１
２の封鎖端に取り付けられたボール１４とを有してる。[Technical background of the invention and its problems] □ Fig. 5 shows a conventional spring pin. This spring pin has a tip 11a
The contact probe 71.1 is bifurcated into a forked shape, and the hollow storage 1 is sealed at one end into which the contact probe 11 is slidably inserted! 1 '2' and the contact probe 11 installed in the housing tube 12.
10; a spring 13 that presses the base end surface; and the storage tube 1.
ball 14 attached to the closed end of 2.
前記コンタクトプロ−１１１と収納管１２はいずれも円
形断面に形成されており、コンタクトプローブ１１の基
端部１１ｂは大きな径となって、収納管１２の一部をか
しめて形成されたストッパ１５に当接してスライドが規
制され、収納管１２から外れないようになっている。収
納管１２は例えば銅箔がエツチングされてパターン形成
されたプローブボード（図示せず）に電気的に接続され
ている。Both the contact probe 111 and the housing tube 12 are formed with a circular cross section, and the proximal end 11b of the contact probe 11 has a large diameter and is attached to a stopper 15 formed by caulking a part of the housing tube 12. The abutment restricts the slide and prevents it from coming off the storage tube 12. The housing tube 12 is electrically connected to a probe board (not shown), which is patterned with etched copper foil, for example.
このように形成されたプローブは第６図に示すように、
例えば半導体装置１６のリード１７等の被測定部にコン
タクドブローブ１１の先端１１ａが接触して被測定部の
電気的測定を行なうものであり、前記ばね１３はコンタ
クドブ０−ブ１１の接触を弾性的に行なうようにコンタ
クトプローブを押圧している。The probe formed in this way is shown in FIG.
For example, the tip 11a of the contact probe 11 contacts a part to be measured, such as a lead 17 of a semiconductor device 16, to perform an electrical measurement of the part to be measured. The contact probe is pressed as if it were a target.
しかしながら、このプローブはコンタクトプローブ１１
と収納管１２とが共に円形断面であり、コンタクトプロ
ーブ１１が収納管１２内で回転するため、測定を行なう
先端部１１ａの方向性が定まらないという問題がある。However, this probe has contact probe 11
Since the contact probe 11 and the storage tube 12 both have a circular cross section and the contact probe 11 rotates within the storage tube 12, there is a problem that the directionality of the tip portion 11a to be measured is not determined.
すなわち、第７図（Ａ）のように、二股に分岐したコン
タクトプローブ１１の先端部１１ａ、１１ａがリード１
７の軸方向にある場合には測定が可能であるが、スライ
ド等の動きに追随してコンタクトプローブ１１が回転し
、同図（Ｂ）のようにコンタクトプローブの先端１１ａ
、１１ａがリード１７の軸方向と直交方向に位置した場
合にはリード１７と接触することなく測定が不可能とな
る。この場合において、コンタクドブローブの先端部１
１ａ、１１ａの寸法を小さくすれば測定が可能となるが
、半導体装置の被測定部は接触面積が一般に小さく、先
端部の寸法の縮小化は強度の劣化を招き、また加工も難
しくなる。In other words, as shown in FIG.
7, measurement is possible, but the contact probe 11 rotates following the movement of the slide, etc., and the tip 11a of the contact probe 11a as shown in FIG.
, 11a are located in a direction perpendicular to the axial direction of the lead 17, they do not come into contact with the lead 17 and measurement is impossible. In this case, the tip of the contact probe 1
Measurement becomes possible by reducing the dimensions of 1a and 11a, but the contact area of the part to be measured of a semiconductor device is generally small, and reducing the dimensions of the tip leads to deterioration in strength and also becomes difficult to process.
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、コンタク
トプローブが回転することなく、常に一方向に先端部が
位置して被接触部に接触するバネピンを提供することを
目的とする。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a spring pin whose tip end is always positioned in one direction and comes into contact with a contacted portion without the contact probe rotating.
上記目的を達成するため、本発明によるバネピンはコン
タクドブローブとコンタクドブ０−ブがスライド可能に
挿入されるコンタクトプローブ収納管との断面を相互に
回転しないような形状としたことを特徴とする。In order to achieve the above object, the spring pin according to the present invention is characterized in that the cross sections of the contact probe and the contact probe housing tube into which the contact probe is slidably inserted are shaped so that they do not rotate relative to each other.
以下、本発明の一実施例によるバネピンを第１図および
第２図を参照して具体的に説明する。Hereinafter, a spring pin according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to FIGS. 1 and 2.
コンタクトプローブ１は先端部１ａ、ｌａが二股に分岐
しており、基部側が収納管２の開放端部から挿入されて
収納管２内でスライドするようになっている。このスラ
イドは収納管２の中間部に切り込まれて形成された爪状
のストッパ３にコンタクトプローブ１の大径基端部１ｂ
が当接することで停止され、これにより、コンタクトプ
ローブ１１の抜は止めがなされている。一方、収納管２
の封鎖端部にはボール４が設けられ、このボール４とコ
ンタクトプローブ１１０間にはばね５が゛ 設けられ
ている。このばね５は所定の弾発力でコンタクトプロー
ブ１１を押圧しており、これによりコンタクトプローブ
１１が被測定部と弾性的に接触するようになっている。The contact probe 1 has tip portions 1a and la that are bifurcated, and the base side is inserted from the open end of the storage tube 2 and slid therein. This slide connects the large diameter proximal end 1b of the contact probe 1 to a claw-shaped stopper 3 formed by cutting into the middle part of the storage tube 2.
The contact probe 11 is stopped by contact with the contact probe 11, thereby preventing the contact probe 11 from being removed. On the other hand, storage pipe 2
A ball 4 is provided at the closed end of the contact probe 110, and a spring 5 is provided between the ball 4 and the contact probe 110. This spring 5 presses the contact probe 11 with a predetermined elastic force, so that the contact probe 11 comes into elastic contact with the part to be measured.
このようなバネピンにおいて、収納管２内に収納された
コンタクドブ０−ブ１の基部の一部に軸方向の凹条６が
形成されると共に、収納管２にも同形状の軸方向の凸条
７が形成されている。そして、収納管２の突条７がコン
タクドブ０−ブ１の凹条６内に嵌入しており、この突条
７と凹条６に沿ってコンタクトプローブ１が収納管２内
で回転することなくスライドするようになっている。In such a spring pin, an axial groove 6 is formed on a part of the base of the contact dowel 0-b 1 housed in the housing tube 2, and an axial convex line of the same shape is also formed on the housing tube 2. 7 is formed. The protrusion 7 of the storage tube 2 is fitted into the groove 6 of the contact dove 0-1, and the contact probe 1 is prevented from rotating within the storage tube 2 along the protrusion 7 and the groove 6. It is designed to slide.
従って、コンタクトプローブ１と収納管２とが相互に回
転しない断面形状となっており、被測定部に接触するコ
ンタクトプローブ１の先端部１ａ。Therefore, the contact probe 1 and the storage tube 2 have cross-sectional shapes that do not rotate with respect to each other, and the tip portion 1a of the contact probe 1 contacts the part to be measured.
１ａは常に一方向に位置しているから、接触不良をおこ
すことがなくなる。Since 1a is always positioned in one direction, poor contact will not occur.
かかる断面形状はコンタクトプローブに凹条を、収納管
に凸条を形成してもよい。又、コンタクトプローブと収
納管を共に四角形、六角形等の多角形断面にしてもよく
、その伯、相互に回転しない断面であれば特に形状は問
わない。Such a cross-sectional shape may include a concave line on the contact probe and a convex line on the storage tube. Further, both the contact probe and the storage tube may have a polygonal cross section such as a square or hexagon, and the shape is not particularly limited as long as the cross section does not rotate relative to each other.
なお、本発明によるバネピンは様々な分野で使用可能で
ある。例えば第３図に示すようにテスターのテストヘッ
ドとボードとのコンタクトをとるために使用される。ま
た第４図に示すようにボードと直接製品とのコンタクト
をとるためにも使用される。Note that the spring pin according to the present invention can be used in various fields. For example, as shown in FIG. 3, it is used to make contact between the test head of the tester and the board. It is also used to make direct contact between the board and the product as shown in FIG.
以上の通り、本発明によれば電気的測定を行なうコンタ
クドブロープとコンタクトプローブをスライド可能に取
り付ける収納管とが相互に回転しない形状となっている
から、被測定部に接触するコンタクトプローブの先端部
が常に一方向に位置しており、被測定部と良好に接触し
、測定を確実に行なうことができる。As described above, according to the present invention, the contact probe that performs electrical measurements and the storage tube to which the contact probe is slidably attached are shaped so that they do not rotate with respect to each other, so that the tip of the contact probe that comes into contact with the part to be measured is The part is always positioned in one direction, making good contact with the part to be measured and ensuring reliable measurement.
第１図は本発明の一実施例によるバネビンの斜視図、第
２図は同バネピンのＩ［−１１４１１断面図、第３図、
第４図は同バネピンの使用状態を示す図、第５図は従来
のバネピンの斜視図、第６図、第７ＩＩｌ（Ａ）、（Ｂ
）は同バネピンによる測定状態を示す図である。
１・・・コンタクドブ０−プ、１ａ・・・先端部、２・
・・収納管、５・・・ばね、６・・・凹条、７・・・凸
条。
出願人代理人 猪 股 消
躬１図FIG. 1 is a perspective view of a spring pin according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the spring pin at I[-11411, and FIG.
Fig. 4 is a diagram showing how the spring pin is used, Fig. 5 is a perspective view of a conventional spring pin, Figs.
) is a diagram showing a measurement state using the same spring pin. 1... Contact dove 0-p, 1a... Tip, 2...
... Storage pipe, 5... Spring, 6... Concave strip, 7... Convex strip. Applicant's agent Inomata Erasing Figure 1
Claims (1)
、 このコンタクトプローブの基部がスライド可能に挿入さ
れたコンタクトプローブ収納管と、このコンタクトプロ
ーブ収納管内に取り付けられ前記コンタクトプローブを
押圧してその先端部を前記被接触部に弾性的に接触させ
るばねとを備えたバネピンにおいて、 前記コンタクトプローブおよびコンタクトプローブ収納
管に嵌合部を設け、これらコンタクトプローブおよびコ
ンタクトプローブ収納管が相互に回転しないように形成
されていることを特徴とするバネピン。 ２、特許請求の範囲第１項記載のバネピンにおいて、 前記嵌合部は、凹条と凹条に嵌合する凸条であることを
特徴とするバネピン。 ３、特許請求の範囲第１項のバネピンにおいて、前記コ
ンタクトプローブおよび前記コンタクトプローブ収納管
が多角形状であることを特徴とするバネピン。[Scope of Claims] 1. A contact probe whose tip comes into contact with a contacted portion; a contact probe storage tube into which the base of the contact probe is slidably inserted; and the contact probe installed in the contact probe storage tube. A spring pin is provided with a spring that presses a spring to elastically contact the tip of the contact probe with the contacted portion, and a fitting portion is provided in the contact probe and the contact probe storage tube, and the contact probe and the contact probe storage tube are connected to each other. A spring pin characterized by being formed so as not to rotate relative to each other. 2. The spring pin according to claim 1, wherein the fitting portion is a groove and a protrusion that fits into the groove. 3. The spring pin according to claim 1, wherein the contact probe and the contact probe storage tube have a polygonal shape.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27231184A JPS61148781A (en) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | Spring pin |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27231184A JPS61148781A (en) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | Spring pin |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61148781A true JPS61148781A (en) | 1986-07-07 |
Family
ID=17512110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27231184A Pending JPS61148781A (en) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | Spring pin |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61148781A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06203926A (en) * | 1992-12-25 | 1994-07-22 | Yamaichi Electron Co Ltd | Ic socket |
| JP2009266470A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Yokowo Co Ltd | Contact |
-
1984
- 1984-12-24 JP JP27231184A patent/JPS61148781A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06203926A (en) * | 1992-12-25 | 1994-07-22 | Yamaichi Electron Co Ltd | Ic socket |
| JPH0677467B2 (en) * | 1992-12-25 | 1994-09-28 | 山一電機株式会社 | IC socket |
| JP2009266470A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Yokowo Co Ltd | Contact |
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