JPS6113169A - ポジトロンｃｔ装置 - Google Patents
ポジトロンｃｔ装置Info
- Publication number
- JPS6113169A JPS6113169A JP13471484A JP13471484A JPS6113169A JP S6113169 A JPS6113169 A JP S6113169A JP 13471484 A JP13471484 A JP 13471484A JP 13471484 A JP13471484 A JP 13471484A JP S6113169 A JPS6113169 A JP S6113169A
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- JP
- Japan
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- coincidence
- accidental
- true
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、ポジトロンＣＴ装置に関し１．特に、γ線
の数え落しを精度良く補正できるポジトロンＣＴ装置に
関する。
の数え落しを精度良く補正できるポジトロンＣＴ装置に
関する。
（ロ）従来技術
ポジトロンＣＴ装置は、患者体内に投与する放射性医薬
品としてポジトロン（陽電子）放出性核種を用いるエミ
ツションＣＴ装置である。ポジトロンが消滅するとき２
木のγ線が１８０°方向に同時放出されるので、これら
を２個の検出器で同時検出すれば、その２個の検出器を
結ぶ直線上にポジトロンが存在していることになる。こ
のような、その上に放射性物質が存在する直線に関する
情報を多数収集して、これらの情報なＸ＠ＣＴ装置（コ
ンピュータ断層撮影装置）で用いたと同様な画像再構成
技法を用いてデータ処理すれば、放射性物質の濃度分布
画像が得られる。
品としてポジトロン（陽電子）放出性核種を用いるエミ
ツションＣＴ装置である。ポジトロンが消滅するとき２
木のγ線が１８０°方向に同時放出されるので、これら
を２個の検出器で同時検出すれば、その２個の検出器を
結ぶ直線上にポジトロンが存在していることになる。こ
のような、その上に放射性物質が存在する直線に関する
情報を多数収集して、これらの情報なＸ＠ＣＴ装置（コ
ンピュータ断層撮影装置）で用いたと同様な画像再構成
技法を用いてデータ処理すれば、放射性物質の濃度分布
画像が得られる。
ところで、このポジトロンＣＴ装置では、極く短時間の
時間間隔で２つの事象が生じた場合などにγ線を数え落
すなど、／＼−ドウエア上の制約から数え落しが避けら
れない。
時間間隔で２つの事象が生じた場合などにγ線を数え落
すなど、／＼−ドウエア上の制約から数え落しが避けら
れない。
そこで、この数え落しを補正することが必要であるが、
最も単純には、あらかじめ被検体とは別個に一定のファ
ントムを用意し、これを測定して実際にどれ位の割合で
数え落しが生じるかを実測し、その割合に基づき被検体
をその後に測定したときの測定値を補正することが考え
られる。すなわち、真の同時計数のみが有用なデータで
あるから、一定のファントムについて真の同時計数率を
実測し、第２図のＢで示すような放射性物質の濃度に関
する真の同時計数率のデータを得る。数え落しのない゛
理想状態では濃度に対する真の同時計数率は第２図のＡ
のようになることが知れられているので、このＡの線と
Ｂの線との差より、計数率の実測値に対する数え落しの
割合の対応表を作っておく。そして被検体の測定時に６
得られる真の計数率の測定値を、この対応表を用いて補
正するのである。なお、ここで、真の同時計数というの
は、１つのポジトロンが消滅するときに生じる２本のγ
線を同時計数することであり、偶発的な同時計数に対す
る言葉として用いている。偶発的な同時計数とは、１つ
のポジトロンが消滅するときに同時に生じるものでない
、関係ない別個の２本のγ線が偶然同時に入射すること
によって、同時計数が起ることを指す。
最も単純には、あらかじめ被検体とは別個に一定のファ
ントムを用意し、これを測定して実際にどれ位の割合で
数え落しが生じるかを実測し、その割合に基づき被検体
をその後に測定したときの測定値を補正することが考え
られる。すなわち、真の同時計数のみが有用なデータで
あるから、一定のファントムについて真の同時計数率を
実測し、第２図のＢで示すような放射性物質の濃度に関
する真の同時計数率のデータを得る。数え落しのない゛
理想状態では濃度に対する真の同時計数率は第２図のＡ
のようになることが知れられているので、このＡの線と
Ｂの線との差より、計数率の実測値に対する数え落しの
割合の対応表を作っておく。そして被検体の測定時に６
得られる真の計数率の測定値を、この対応表を用いて補
正するのである。なお、ここで、真の同時計数というの
は、１つのポジトロンが消滅するときに生じる２本のγ
線を同時計数することであり、偶発的な同時計数に対す
る言葉として用いている。偶発的な同時計数とは、１つ
のポジトロンが消滅するときに同時に生じるものでない
、関係ない別個の２本のγ線が偶然同時に入射すること
によって、同時計数が起ることを指す。
しかし、実際に行なってみると、被検体やファントムの
大きさ、形状、およびコリメータの形状などによって数
え落しの割合が異なってしまう。
大きさ、形状、およびコリメータの形状などによって数
え落しの割合が異なってしまう。
そのため、ファントム径と被検体径とが異なる場合には
正しく補正できず、またコリメータを交換したときも正
しい補正ができない。
正しく補正できず、またコリメータを交換したときも正
しい補正ができない。
（ハ）目的
この発明は、被検体径やコリメータが変わっても正確に
数え落しの補正ができるポジトロンＣＴ装置を提供する
ことを目的とする。
数え落しの補正ができるポジトロンＣＴ装置を提供する
ことを目的とする。
（ニ）構成
この発明によるポジトロンＣＴ装置では、リング型に配
列された多数の検出器と、これらの検出器の各々の間で
の真の同時計数データを収集する手段と、これらの検出
器の各々の間での偶発的な同時計数データを収集する手
段とが備えられ、あらかじめファントムを測定すること
によって偶発的な同時計数データおよび偶発的な同時計
数データの各々に対応する数え落し補正係数を得ておき
、被検体測定時に真の同時計数データと偶発的な同時計
数データとを得、その偶発的な同時計数データに対応す
る補正係数を上記の補正係数から求め、この補正係数を
上記の真の同時計数データに適用して数え落し補正を行
ない、この補正後の真の同時計数データを用いて画像再
構成するようにしている。
列された多数の検出器と、これらの検出器の各々の間で
の真の同時計数データを収集する手段と、これらの検出
器の各々の間での偶発的な同時計数データを収集する手
段とが備えられ、あらかじめファントムを測定すること
によって偶発的な同時計数データおよび偶発的な同時計
数データの各々に対応する数え落し補正係数を得ておき
、被検体測定時に真の同時計数データと偶発的な同時計
数データとを得、その偶発的な同時計数データに対応す
る補正係数を上記の補正係数から求め、この補正係数を
上記の真の同時計数データに適用して数え落し補正を行
ない、この補正後の真の同時計数データを用いて画像再
構成するようにしている。
（ホ）実施例
この発明は、本発明者によってなされた多くの実験の結
果、偶発的な同時計数率に関する数え落し割合は被検体
やコリメータなどによらず一定の値となることを発見し
たことに端緒を持っている。このことから、偶発的な同
時計数率に関する数え落し割合が被検体やコリメータな
どによらず一定の値となるのは、その値がそのポジトロ
ンＣＴ装置が固有に持っている数え落し特性に依存して
いるからであると考えられる。そこで、偶発的な同時計
数率に関する数え落し補正係数が得られれば、その補正
係数は、偶発的な同時計数のデータを補正するものとし
てどのような被検体やコリメータの場合でも適用できる
ばかりでなく、真の・同時計数のデータの数え落し補正
用としてもどのような被検体やコリメータの場合でも使
用できることになる。そのため、あらかじめ偶発的な同
時計数率について数え落し補正係数°を求めておき、被
検体の測定により真の同時計数のデータを得た場合、単
に、そのときの偶発的な同時計数のデータがどのような
ものであるかを調べてこれに対応する補正係数を探し出
してこの補正係数を真の同時係数のデータに適用するだ
けで、どのような被検体やコリメータの場合であっても
精度の高い数え落し補正が行なえる。
果、偶発的な同時計数率に関する数え落し割合は被検体
やコリメータなどによらず一定の値となることを発見し
たことに端緒を持っている。このことから、偶発的な同
時計数率に関する数え落し割合が被検体やコリメータな
どによらず一定の値となるのは、その値がそのポジトロ
ンＣＴ装置が固有に持っている数え落し特性に依存して
いるからであると考えられる。そこで、偶発的な同時計
数率に関する数え落し補正係数が得られれば、その補正
係数は、偶発的な同時計数のデータを補正するものとし
てどのような被検体やコリメータの場合でも適用できる
ばかりでなく、真の・同時計数のデータの数え落し補正
用としてもどのような被検体やコリメータの場合でも使
用できることになる。そのため、あらかじめ偶発的な同
時計数率について数え落し補正係数°を求めておき、被
検体の測定により真の同時計数のデータを得た場合、単
に、そのときの偶発的な同時計数のデータがどのような
ものであるかを調べてこれに対応する補正係数を探し出
してこの補正係数を真の同時係数のデータに適用するだ
けで、どのような被検体やコリメータの場合であっても
精度の高い数え落し補正が行なえる。
第１図において、多数の検出器１１．．１２、・・・が
リング型峠配列され、ｉのなかにファントムや被検体が
置かれるようになっており、多数の検出器１１．１２、
・・・の各々の間での真の同時計数と偶発的な同時計数
とが検出されるようになっている。たとえば、検出器１
１と検出器Ｉｎとに同時にγ線が入射したとすると、検
出器１１．ｉｎの各出力はパルス整形回路２１．２ｎを
経てＡＮＤ回路３に送られる。このＡＮＤ回路３の出力
は、ともかく検出器１１．１ｎで同時入射が生じたこと
（これをオンタイムの同時計数という）を示しており、
このなかには真の同時計数と偶発的な同時計数とが含ま
れる。真の同時計数の場合には。
リング型峠配列され、ｉのなかにファントムや被検体が
置かれるようになっており、多数の検出器１１．１２、
・・・の各々の間での真の同時計数と偶発的な同時計数
とが検出されるようになっている。たとえば、検出器１
１と検出器Ｉｎとに同時にγ線が入射したとすると、検
出器１１．ｉｎの各出力はパルス整形回路２１．２ｎを
経てＡＮＤ回路３に送られる。このＡＮＤ回路３の出力
は、ともかく検出器１１．１ｎで同時入射が生じたこと
（これをオンタイムの同時計数という）を示しており、
このなかには真の同時計数と偶発的な同時計数とが含ま
れる。真の同時計数の場合には。
一方を遅延回路で遅延させてＡＮＤＮ０回路送れば、こ
のＡＮＤＮ０回路らは出力が生じないが、偶発的な場合
には遅らせたとしても他のパルスとの同時性が生じ、Ａ
ＮＤＮ０回路ら出力が生じる。ＡＮＤＮ０回路出力はオ
フタイムの同時計数と言うことができ、このオフタイム
の同時計数は偶発的な同時計数に対応している。オンタ
イムの同時計数からオフタイムの同時計数を差し引けば
真の同時計数が求められることになる。こうして多数の
検出器１１．１２、・・・の各々を結ぶ多数の直線の各
々について、真の同時計数に関するデータがデータ収集
装置６で測定され、ＣＰＵ７で画像再構成のためのアル
ゴリズム処理がなされる。
のＡＮＤＮ０回路らは出力が生じないが、偶発的な場合
には遅らせたとしても他のパルスとの同時性が生じ、Ａ
ＮＤＮ０回路ら出力が生じる。ＡＮＤＮ０回路出力はオ
フタイムの同時計数と言うことができ、このオフタイム
の同時計数は偶発的な同時計数に対応している。オンタ
イムの同時計数からオフタイムの同時計数を差し引けば
真の同時計数が求められることになる。こうして多数の
検出器１１．１２、・・・の各々を結ぶ多数の直線の各
々について、真の同時計数に関するデータがデータ収集
装置６で測定され、ＣＰＵ７で画像再構成のためのアル
ゴリズム処理がなされる。
そこで、まず、ファントムに関して偶発的な同時計数率
を測定する。この場合ファントム径は任意でよい。する
と、第２図のＤで示すようなデータが得られる。このデ
ータには数え落しが含まれているため、数え落しのない
理想状態のデータを示すＣとは差が生じる。この差が数
え落しに対応するため、この差により偶発的な同時計数
率の実測値に関する数え落しの割合を求め、これを補正
係数とし、この補正係数を偶発的な同時計数率の実測値
の各々につき求める。あるいは、この補正係数の変化に
最も良く近似するような曲線を計算して求めてもよい。
を測定する。この場合ファントム径は任意でよい。する
と、第２図のＤで示すようなデータが得られる。このデ
ータには数え落しが含まれているため、数え落しのない
理想状態のデータを示すＣとは差が生じる。この差が数
え落しに対応するため、この差により偶発的な同時計数
率の実測値に関する数え落しの割合を求め、これを補正
係数とし、この補正係数を偶発的な同時計数率の実測値
の各々につき求める。あるいは、この補正係数の変化に
最も良く近似するような曲線を計算して求めてもよい。
つぎに、被検体の測定を行なう。このとき、真の同時計
数率とともに偶発的な同時計数率をも求める。すなわち
、第１図のＡＮＤＮ０回路ら得られるオフタイムの出力
を計数し、その計数値を記憶する。そして、このオフタ
イムの計数率に対応する上記の補正係数を求め、この補
正係数を真の同時計数率の実測値に掛ける。こうして真
の同時計数率の実測値の正確な数え落し補正が行なわれ
ることになる。
数率とともに偶発的な同時計数率をも求める。すなわち
、第１図のＡＮＤＮ０回路ら得られるオフタイムの出力
を計数し、その計数値を記憶する。そして、このオフタ
イムの計数率に対応する上記の補正係数を求め、この補
正係数を真の同時計数率の実測値に掛ける。こうして真
の同時計数率の実測値の正確な数え落し補正が行なわれ
ることになる。
こうした数え落し補正を受けた真の同時計数率のデータ
をＣＰＵ７で画像再構成のためのアルゴリズムで処理す
ることにより、被検体内部の放射性物質の濃度分布画像
が再構成できる。
をＣＰＵ７で画像再構成のためのアルゴリズムで処理す
ることにより、被検体内部の放射性物質の濃度分布画像
が再構成できる。
実際に実験してみると、上記のようにして数え落しの補
正を行なうと、補正前に３０Ｋｃｐｓにおいて５％程度
あった数え落しが１ｏＯＫｃｐｓまで１％程度とするこ
とができた。また、この数え落し補正の精度は、ファン
トム径やコリメータ形状にほとんど影響されないことも
実験的に確認できた。
正を行なうと、補正前に３０Ｋｃｐｓにおいて５％程度
あった数え落しが１ｏＯＫｃｐｓまで１％程度とするこ
とができた。また、この数え落し補正の精度は、ファン
トム径やコリメータ形状にほとんど影響されないことも
実験的に確認できた。
なお、あらかじめ求めた補正係数を用いての数え落し補
正は、被検体測定時に真の同時計数についてのデータを
収集するとともにオフタイムの同時計数データを収集し
、このオフタイムのデータに対応する補正係数を求めて
おいて、この補正係数で画像再°構成時に真の同時計数
データを補正するという具体的な手順をとって行なって
もよいし、他の手順で行なうようにしてもよい。また、
具体的な回路構成についても種々に考え得るものである
。
正は、被検体測定時に真の同時計数についてのデータを
収集するとともにオフタイムの同時計数データを収集し
、このオフタイムのデータに対応する補正係数を求めて
おいて、この補正係数で画像再°構成時に真の同時計数
データを補正するという具体的な手順をとって行なって
もよいし、他の手順で行なうようにしてもよい。また、
具体的な回路構成についても種々に考え得るものである
。
（へ）効果
この発明によれば、被検体径やコリメータの種類が変わ
っても精度の高い数え落し補正ができ、しかも特別なハ
ードウェアも必要としない。
っても精度の高い数え落し補正ができ、しかも特別なハ
ードウェアも必要としない。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図は放
射性物質の濃度に対する計数率の関係を示すグラフであ
る。 １１．１２、ｌｎ・・・検出器
射性物質の濃度に対する計数率の関係を示すグラフであ
る。 １１．１２、ｌｎ・・・検出器
Claims (1)
- （１）リング型に配列された多数の検出器と、これらの
検出器の各々の間での真の同時計数データを収集する手
段と、これらの検出器の各々の間での偶発的な同時計数
データを収集する手段と、あらかじめファントムを測定
することによって偶発的な同時計数データおよび偶発的
な同時計数データの各々に対応する数え落し補正係数を
得ておく手段と、被検体を測定することによって真の同
時計数データと偶発的な同時計数データとを得、その偶
発的な同時計数データに対応する補正係数を上記の補正
係数から求め、この補正係数を上記の真の同時計数デー
タに適用して数え落し補正を行なう手段と、この補正後
の真の同時計数データを用いて画像再構成する手段とを
有してなるポジトロンＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13471484A JPS6113169A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | ポジトロンｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13471484A JPS6113169A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | ポジトロンｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113169A true JPS6113169A (ja) | 1986-01-21 |
| JPH0572553B2 JPH0572553B2 (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=15134876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13471484A Granted JPS6113169A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | ポジトロンｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6113169A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02196977A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-08-03 | Teremateiiku Kokusai Kenkyusho:Kk | 音源座標測定装置 |
| JPH02227691A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Shimadzu Corp | ポジトロンｃｔ装置 |
| WO2009090754A1 (ja) | 2008-01-18 | 2009-07-23 | Nittobo Acoustic Engineering Co., Ltd. | 音源識別測定装置、システム及び方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19638667C2 (de) | 1996-09-20 | 2001-05-17 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Mischfarbiges Licht abstrahlendes Halbleiterbauelement mit Lumineszenzkonversionselement |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP13471484A patent/JPS6113169A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02196977A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-08-03 | Teremateiiku Kokusai Kenkyusho:Kk | 音源座標測定装置 |
| JPH02227691A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Shimadzu Corp | ポジトロンｃｔ装置 |
| WO2009090754A1 (ja) | 2008-01-18 | 2009-07-23 | Nittobo Acoustic Engineering Co., Ltd. | 音源識別測定装置、システム及び方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0572553B2 (ja) | 1993-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |