JPS6082821A - 時間分解発光スペクトル測定方法 - Google Patents
時間分解発光スペクトル測定方法Info
- Publication number
- JPS6082821A JPS6082821A JP58191722A JP19172283A JPS6082821A JP S6082821 A JPS6082821 A JP S6082821A JP 58191722 A JP58191722 A JP 58191722A JP 19172283 A JP19172283 A JP 19172283A JP S6082821 A JPS6082821 A JP S6082821A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- emitting
- wavelength
- transient
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title abstract description 7
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims description 6
- 238000001748 luminescence spectrum Methods 0.000 claims description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 21
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 6
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101100368700 Caenorhabditis elegans tac-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000695 excitation spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2889—Rapid scan spectrometers; Time resolved spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はパルス励起した試料からの発光を計測して時間
分解発光スペクトルを測定する方法に関する。ここに時
間分解発光スペクトルとは、Ｘ軸に時間ｔ、Ｙ軸に波長
λ、Ｚ軸に螢光強度をとってあられした発光スペクトル
の時間軸を含む３次元曲線によって表わされるが、２次
元的に表現する場合は、Ｘ軸に垂直な平面で切った場合
のその切断面における発光スペクトルをいう、つ甘り、
時間分解発光スペクトルはあ、る時間における波長対螢
光強度の特性曲線をいうのである。
分解発光スペクトルを測定する方法に関する。ここに時
間分解発光スペクトルとは、Ｘ軸に時間ｔ、Ｙ軸に波長
λ、Ｚ軸に螢光強度をとってあられした発光スペクトル
の時間軸を含む３次元曲線によって表わされるが、２次
元的に表現する場合は、Ｘ軸に垂直な平面で切った場合
のその切断面における発光スペクトルをいう、つ甘り、
時間分解発光スペクトルはあ、る時間における波長対螢
光強度の特性曲線をいうのである。
〈従来技術〉
従来の時間分解発光スペクトル測定法は原理的には一種
のサンプリング法による測定法であり、第１図に示す装
置によって行なわれている。この装置は時間−電圧変換
器（以下、ＴＡＣという。）■を用いた時間相関光子計
数法によるものであり、感度・精度の点で最も優れた測
定法である。２は試料、３は試料２をパルス励起するだ
めのパルス光源、４は分光器、５は試料２からの発光の
うち分光器４で選択された波長のみ検出する検出器とし
て例えばフォトマル、６はパルス光＃、３の発光を検出
するフォトマル、７，８はパルス整形回路、９はシング
ルチャンネル波高分析器、ｌＯはマルチチャンネルスケ
−２−５１１は分光器４０波長を駆動するだめのステッ
ピングモータ駆動部、１２はクロックパルス発生器であ
る。
のサンプリング法による測定法であり、第１図に示す装
置によって行なわれている。この装置は時間−電圧変換
器（以下、ＴＡＣという。）■を用いた時間相関光子計
数法によるものであり、感度・精度の点で最も優れた測
定法である。２は試料、３は試料２をパルス励起するだ
めのパルス光源、４は分光器、５は試料２からの発光の
うち分光器４で選択された波長のみ検出する検出器とし
て例えばフォトマル、６はパルス光＃、３の発光を検出
するフォトマル、７，８はパルス整形回路、９はシング
ルチャンネル波高分析器、ｌＯはマルチチャンネルスケ
−２−５１１は分光器４０波長を駆動するだめのステッ
ピングモータ駆動部、１２はクロックパルス発生器であ
る。
前記ＴＡＣ１は、パルス光源３０発光を検出するフ第１
・マル６の検出信号をスタートパルスとし、試料２から
の発光を検出するフォトマル５の検出信号をストップパ
ルスとしている。従って、ＴＡＣの出力にはスタートパ
ルス（以下、基準時という。）からストップパルスまで
の時間に比例した電圧があられれ、シングルチャンネル
波高分析器（以下、ＳＣＡという。）９に加えられる。
・マル６の検出信号をスタートパルスとし、試料２から
の発光を検出するフォトマル５の検出信号をストップパ
ルスとしている。従って、ＴＡＣの出力にはスタートパ
ルス（以下、基準時という。）からストップパルスまで
の時間に比例した電圧があられれ、シングルチャンネル
波高分析器（以下、ＳＣＡという。）９に加えられる。
５ＣＡ９は別々に波高弁別レベルを設定できる２台の波
高弁別器を備えているリニアロジック変換器であシ、入
力リニアパルスの波高が上限と下限の二つのレベルの間
にある場合だけロジック出力パルスを発生する。
高弁別器を備えているリニアロジック変換器であシ、入
力リニアパルスの波高が上限と下限の二つのレベルの間
にある場合だけロジック出力パルスを発生する。
つ捷り、ＳＣＡの上限と下限の電圧波高値設定を適当に
調整することによｆｉ、ＴＡＣのある時間領域（時間ウ
ィンドウ）に表われる信号をＳＣＡのロジック出力パル
スとして取出すことができる。従って、時間領域を固定
した状態で分光器４０波長を駆動し、任意の波長毎上記
測定を行ない、ＳＣＡ出力をマルチチャンネルスケーラ
−１０の各波長に対応するチャンネルに入力すれば、５
ＣＡ９で固定された電圧ウィンドウに対応した螢光過渡
波形のある時間領域における時間分解発光スペクトルを
得ることができる。そして、次に５ＣＡ９で設定される
ＴＡＣの時間ウィンドウを前の時間ウィンドウから適当
量変更し、再び、分光器走査をすれば、異なった時間領
域における時間分解発光スペクトルを得る。この操作を
時間ウィンドウを各種変更して行ない必要スペクトル数
だけ同様の？Ｊｌ定を繰シ返す。
調整することによｆｉ、ＴＡＣのある時間領域（時間ウ
ィンドウ）に表われる信号をＳＣＡのロジック出力パル
スとして取出すことができる。従って、時間領域を固定
した状態で分光器４０波長を駆動し、任意の波長毎上記
測定を行ない、ＳＣＡ出力をマルチチャンネルスケーラ
−１０の各波長に対応するチャンネルに入力すれば、５
ＣＡ９で固定された電圧ウィンドウに対応した螢光過渡
波形のある時間領域における時間分解発光スペクトルを
得ることができる。そして、次に５ＣＡ９で設定される
ＴＡＣの時間ウィンドウを前の時間ウィンドウから適当
量変更し、再び、分光器走査をすれば、異なった時間領
域における時間分解発光スペクトルを得る。この操作を
時間ウィンドウを各種変更して行ない必要スペクトル数
だけ同様の？Ｊｌ定を繰シ返す。
ところで、上記従来方法においては次のような欠点が指
摘される。
摘される。
■ １回の分光器の走査によっては基準時から一定時間
ｔｉだけ遅れた所に、時間幅Δり時間ウィンドウの発光
スペクトルしか得られず、その時間ウィンドウ以外の情
報は’Ｉ’ＡＣ１で測定されているにも拘らず、ＳＣＡ
の出力とされずデータとしては捨てられる。このため、
必要量の時間分解発光スペクトルを得るには時間ウィン
ドウの位置を種々変え分光器を何回も走査して測定を繰
返さねばならず、非常に長時間を要する。
ｔｉだけ遅れた所に、時間幅Δり時間ウィンドウの発光
スペクトルしか得られず、その時間ウィンドウ以外の情
報は’Ｉ’ＡＣ１で測定されているにも拘らず、ＳＣＡ
の出力とされずデータとしては捨てられる。このため、
必要量の時間分解発光スペクトルを得るには時間ウィン
ドウの位置を種々変え分光器を何回も走査して測定を繰
返さねばならず、非常に長時間を要する。
■ 適正な時間分解発光スペクトルを得るには最初の時
間ウィンドウと最後の時間ウィンドウで決定される時間
ウィンドウによって設定される時間領域、時間ウィンド
ウの幅の選定、及び各時間ウィンドウ間の間隔の選定、
時間ウィンドウ数を適正に行なわねばならないが、これ
は試行錯誤的に何回も測定を繰返さないとわからず、そ
のための時間、労力が多大となる。
間ウィンドウと最後の時間ウィンドウで決定される時間
ウィンドウによって設定される時間領域、時間ウィンド
ウの幅の選定、及び各時間ウィンドウ間の間隔の選定、
時間ウィンドウ数を適正に行なわねばならないが、これ
は試行錯誤的に何回も測定を繰返さないとわからず、そ
のための時間、労力が多大となる。
〈発明の目的〉
本発明は、従来方法の上記欠点を悉く解消し、−回の分
光器波長走査で測定を終了して必要かつ適正な時間分解
発光スペクトルを得ることのできる新規方法を提供する
ものである。
光器波長走査で測定を終了して必要かつ適正な時間分解
発光スペクトルを得ることのできる新規方法を提供する
ものである。
〈発明の構成〉
而して、本発明に係る時間分解発光スペクトル測定方法
は、パルス励起された試料からの発光過渡波形を時間相
関光子計数法により測定するに際し・試料と試料の発光
検出器の間に分光器を設置し、問題とする発光スペクト
ル領域で任意の波長毎に発光過渡波形を測定し、その発
光過渡波形を各波長毎に順次コンピュータの外部メモリ
に記憶させ、各波長での過渡波形を全て測定終了した後
、上記の諸元光過渡波形データに基づきコンピュータの
データ処理によって時間分解発光スペクトルを作成する
ようにしたことを要旨としている。
は、パルス励起された試料からの発光過渡波形を時間相
関光子計数法により測定するに際し・試料と試料の発光
検出器の間に分光器を設置し、問題とする発光スペクト
ル領域で任意の波長毎に発光過渡波形を測定し、その発
光過渡波形を各波長毎に順次コンピュータの外部メモリ
に記憶させ、各波長での過渡波形を全て測定終了した後
、上記の諸元光過渡波形データに基づきコンピュータの
データ処理によって時間分解発光スペクトルを作成する
ようにしたことを要旨としている。
〈実施例〉
第２図は本発明方法を実施する装置の一例を示し、第１
図の従来装置と同一部品、要素には同一番号を付す。図
中、１３はＴＡＣインターフェイス、１４ハコンピユー
タ、１５は外部メモＩＪ、１６ｉｊ：：’７ヒユータの
データ処理の結果、を表示する装置の一例としてのＣＲ
Ｔである。
図の従来装置と同一部品、要素には同一番号を付す。図
中、１３はＴＡＣインターフェイス、１４ハコンピユー
タ、１５は外部メモＩＪ、１６ｉｊ：：’７ヒユータの
データ処理の結果、を表示する装置の一例としてのＣＲ
Ｔである。
ＴＡＣｌは第１図に示した従来装置と同じく、フォトマ
ル６の検出信号をスタートノ（プレスとし、フォトマル
５の検出信号をストップパルスとして、その間の時間に
比例した電圧を発生する。しかし、第１図の従来装置と
異なシ、試料からの発光に基づいて発生するＴＡＣｌの
時間−電圧変換値は全て捨てられることなく、アドレス
信号として、対応するアドレスに１を加えることによっ
て得られるアドレスの発生頻度分布（ヒストグラム）を
設定された波長で測定終了後コンピュータの外部メモリ
１５に記憶される。従って、励起パルス数またけ測定時
間で測定のブレセット条件を定めれば、外部メモリ１５
には分光器４によって選択された一つの波長λ１におけ
る螢光過渡波形が記憶されることとなる。ここに螢光過
渡波形とは、冒頭で述べたｙ軸に垂直な平面で切った場
合の切断面上の特性曲線に相当し、横軸を時間、縦軸を
螢光強度としてあられしたいわゆるヒストグラムとイヘ
されるものである。
ル６の検出信号をスタートノ（プレスとし、フォトマル
５の検出信号をストップパルスとして、その間の時間に
比例した電圧を発生する。しかし、第１図の従来装置と
異なシ、試料からの発光に基づいて発生するＴＡＣｌの
時間−電圧変換値は全て捨てられることなく、アドレス
信号として、対応するアドレスに１を加えることによっ
て得られるアドレスの発生頻度分布（ヒストグラム）を
設定された波長で測定終了後コンピュータの外部メモリ
１５に記憶される。従って、励起パルス数またけ測定時
間で測定のブレセット条件を定めれば、外部メモリ１５
には分光器４によって選択された一つの波長λ１におけ
る螢光過渡波形が記憶されることとなる。ここに螢光過
渡波形とは、冒頭で述べたｙ軸に垂直な平面で切った場
合の切断面上の特性曲線に相当し、横軸を時間、縦軸を
螢光強度としてあられしたいわゆるヒストグラムとイヘ
されるものである。
上記の如くして一つの波長λ１における螢光過渡波形を
得れば、次にステッピングモータ１１を駆動して分光器
４０波長を走査し、異なった波長λ２において再び同様
な測定を行ない螢光過渡波形を得る。そして、これを任
意の波長λ□〜λユにおいて行なう。而して、問題とす
る全波長について測定終了すれば・外部メモリ１５には
第３図に示す如き各波長λ１〜八における螢光過渡波形
が記憶されていることになる。従って、コンピュータ１
４によって、外部メモリ１５中の全螢光過渡波形からｔ
ｌの時点におけるΔを間の螢光強度■□＋Ｉｌ□、■ｏ
・・・を読出せば、基準時からｔ工時間における時間分
解発光スペクトルを得ることができるのである。同様に
ｔ２の時点における螢光強度Ｉ２１ ＋ Ｉ２２ ＋
Ｉ２３・・・を読出せば、基準時からｔ２時間における
時間分解発光スペクトルを得ることができる。この場合
、コンピュータ１４の入力条件として、最初の時間ウィ
ンドウのチャンネル（時間）、時間ウィンドウ幅Δｔ、
時間ウィンドウ間の間隔、時間ウィンドウの数を指定す
れば、所望時間ｔ１〜ｔｎの所望時間幅における時間分
解発光スペクトルを作成することができる。
得れば、次にステッピングモータ１１を駆動して分光器
４０波長を走査し、異なった波長λ２において再び同様
な測定を行ない螢光過渡波形を得る。そして、これを任
意の波長λ□〜λユにおいて行なう。而して、問題とす
る全波長について測定終了すれば・外部メモリ１５には
第３図に示す如き各波長λ１〜八における螢光過渡波形
が記憶されていることになる。従って、コンピュータ１
４によって、外部メモリ１５中の全螢光過渡波形からｔ
ｌの時点におけるΔを間の螢光強度■□＋Ｉｌ□、■ｏ
・・・を読出せば、基準時からｔ工時間における時間分
解発光スペクトルを得ることができるのである。同様に
ｔ２の時点における螢光強度Ｉ２１ ＋ Ｉ２２ ＋
Ｉ２３・・・を読出せば、基準時からｔ２時間における
時間分解発光スペクトルを得ることができる。この場合
、コンピュータ１４の入力条件として、最初の時間ウィ
ンドウのチャンネル（時間）、時間ウィンドウ幅Δｔ、
時間ウィンドウ間の間隔、時間ウィンドウの数を指定す
れば、所望時間ｔ１〜ｔｎの所望時間幅における時間分
解発光スペクトルを作成することができる。
尚、図示はしないが、分光器をパルス励起側にもおいて
同様の測定を行なえば、時間分解励起スペクトルを得る
ことができ、励起波長依存性のある系について興味深い
情報を得ることができる。
同様の測定を行なえば、時間分解励起スペクトルを得る
ことができ、励起波長依存性のある系について興味深い
情報を得ることができる。
〈発明の効果〉
本発明に係る時間分解発光スペクトル測定方法は以上の
如くして実施されるものであるから次のような効果があ
る。
如くして実施されるものであるから次のような効果があ
る。
■ 従来方法ではシングルチャンネル波高分析器で固定
された時間領域の情報しか測定せず、他の領域の情報は
捨てていたが、本発明方法では、全てのＩＮ報を捨てる
ことなくコンピュータの外部メモリに記憶するので、測
定に無駄がなくなる。
された時間領域の情報しか測定せず、他の領域の情報は
捨てていたが、本発明方法では、全てのＩＮ報を捨てる
ことなくコンピュータの外部メモリに記憶するので、測
定に無駄がなくなる。
■ 従来方法は、１回の測定で前述した３次元スペクト
ルにおけるＸ軸に垂直な平面上のスペクトル１個を得る
ものであるから、分光器走査を何回も繰返して同様な操
作を行なわねばならないのに対し、本発明方法は各波長
毎に螢光過渡波形を得るので、ただ１回分光器を走査す
るだけで、時間分解発光スペクトルを作成するのに必要
な情報を得ることができる。このため、測定効率が極め
て良く、測定時間が大幅に短縮できる。
ルにおけるＸ軸に垂直な平面上のスペクトル１個を得る
ものであるから、分光器走査を何回も繰返して同様な操
作を行なわねばならないのに対し、本発明方法は各波長
毎に螢光過渡波形を得るので、ただ１回分光器を走査す
るだけで、時間分解発光スペクトルを作成するのに必要
な情報を得ることができる。このため、測定効率が極め
て良く、測定時間が大幅に短縮できる。
■ 分光器の波長を走査して得た問題とする全ての波長
での螢光過渡波形はコンピュータの外部メモリに記憶さ
れているので、以後は発光過渡波形の測定を全く行なわ
すともコンピュータのデータ処理操作により最初の時間
ウィンドウのチャンネル、時間ウィンドウの幅、時間ウ
ィンドウ間の間隔及び時間ウィンドウの個数を指定する
だけで時間分解発光スペクトルを作成することができる
。従って、従来方法に比べて適正な時間分解発光スペク
トルを作成するのに要する労力、時間が大幅に軽減され
る。
での螢光過渡波形はコンピュータの外部メモリに記憶さ
れているので、以後は発光過渡波形の測定を全く行なわ
すともコンピュータのデータ処理操作により最初の時間
ウィンドウのチャンネル、時間ウィンドウの幅、時間ウ
ィンドウ間の間隔及び時間ウィンドウの個数を指定する
だけで時間分解発光スペクトルを作成することができる
。従って、従来方法に比べて適正な時間分解発光スペク
トルを作成するのに要する労力、時間が大幅に軽減され
る。
第１図は従来方法を実施する装置を示す図、第２図は本
発明方法を実施する装置の一例を示す図、第３図は各波
長毎の螢光過渡特性を示す図である。 ２・・・試料、３・・・パルス光源、４・・・分光器、
５・・・試料の発光検出器、１４・・・コンピュータ、
１５・・・外部メモリ。 第１図 第２図 第３図 自発手続補正書 許庁長官 殿 ７ｊ１件の表示 昭和５８年 特 許 願第１９１７２２３発明の名称
時間分解発光スペクトル測定方法補正をする者 事件との関係 特許出願人 代 理 人 補正の内容 （１）明細書第２頁第１行 第２頁第７行、第４頁第４
行、第７頁第９行、第７頁第１０行、第７頁第１２行、
第７頁第１５行、第７頁第１８行、第８頁第２行。 第８頁第４行、第８頁第５行、第８頁第８行、第９頁第
１３行、第９頁第１９行及び第１０頁第１２行にそれぞ
れ「螢光」とあるのを［発光Ｊと補正します。 （２）同第３頁第四行の「時間」を［Ｓ（１”Ａにより
時間」と補正します。 （３）同第７貞第７行の「ブレセント」を「終了」と補
正します。 （７１）第３図を別紙の通シ補正します。 第３図
発明方法を実施する装置の一例を示す図、第３図は各波
長毎の螢光過渡特性を示す図である。 ２・・・試料、３・・・パルス光源、４・・・分光器、
５・・・試料の発光検出器、１４・・・コンピュータ、
１５・・・外部メモリ。 第１図 第２図 第３図 自発手続補正書 許庁長官 殿 ７ｊ１件の表示 昭和５８年 特 許 願第１９１７２２３発明の名称
時間分解発光スペクトル測定方法補正をする者 事件との関係 特許出願人 代 理 人 補正の内容 （１）明細書第２頁第１行 第２頁第７行、第４頁第４
行、第７頁第９行、第７頁第１０行、第７頁第１２行、
第７頁第１５行、第７頁第１８行、第８頁第２行。 第８頁第４行、第８頁第５行、第８頁第８行、第９頁第
１３行、第９頁第１９行及び第１０頁第１２行にそれぞ
れ「螢光」とあるのを［発光Ｊと補正します。 （２）同第３頁第四行の「時間」を［Ｓ（１”Ａにより
時間」と補正します。 （３）同第７貞第７行の「ブレセント」を「終了」と補
正します。 （７１）第３図を別紙の通シ補正します。 第３図
Claims (1)
- パルス励起された試料からの発光過渡波形を時間相関光
子計数法により測定するに際し、試料と試料の発光検出
器との間に分光器を設置し、問題とする発光スペクトル
領域で任意の波長毎に発光過渡波形を測定し、その発光
過渡波形を各波長毎に順次コンピュータの外部メモリに
記憶させ、各波長での過渡波形を全て測定終了した後、
上記の諸発光過渡波形データに基づきコンピュータのデ
ータ処理によって時間分解発光スペクトルを作成するよ
うにしたことを特徴とする時間分解発光スペクトル測定
方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191722A JPS6082821A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | 時間分解発光スペクトル測定方法 |
| US06/657,963 US4632550A (en) | 1983-10-13 | 1984-10-05 | Measuring method for a time resolved emission spectrum or a time resolved excitation spectrum |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191722A JPS6082821A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | 時間分解発光スペクトル測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6082821A true JPS6082821A (ja) | 1985-05-11 |
Family
ID=16279389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58191722A Pending JPS6082821A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | 時間分解発光スペクトル測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4632550A (ja) |
| JP (1) | JPS6082821A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010190652A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 蛍光検出方法、蛍光検出装置及びプログラム |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD254998A1 (de) * | 1985-07-26 | 1988-03-16 | Zeiss Jena Veb Carl | Anordnung zur bildlichen darstellung und analyse von fluoreszenzsignalen |
| US5206699A (en) * | 1988-05-06 | 1993-04-27 | Gersan Establishment | Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones |
| US5257085A (en) * | 1991-04-24 | 1993-10-26 | Kaman Aerospace Corporation | Spectrally dispersive imaging lidar system |
| DE4339784C2 (de) * | 1993-11-18 | 2002-09-05 | Wolfgang Becker | Verfahren und Vorrichtung zur zeitkorrelierten Einzelphotonenzählung mit hoher Registrierrate |
| US5565982A (en) * | 1994-05-31 | 1996-10-15 | Recon Exploration | Apparatus and method for time resolved spectroscopy |
| DE4420572C2 (de) * | 1994-06-03 | 1999-02-04 | Hartmut Dr Rer Nat Lucht | Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von fluoreszierenden Stoffen |
| DE19753348A1 (de) * | 1997-12-03 | 1999-06-10 | Spectro Analytical Instr Gmbh | Vorrichtung zur Erfassung und Quantifizierung von Element-Konzentrationsverteilungen in Feststoffen |
| US6055451A (en) * | 1997-12-12 | 2000-04-25 | Spectrx, Inc. | Apparatus and method for determining tissue characteristics |
| CA2343401C (en) | 1998-09-11 | 2009-01-27 | Spectrx, Inc. | Multi-modal optical tissue diagnostic system |
| DE19920158A1 (de) * | 1999-04-29 | 2000-11-02 | Univ Schiller Jena | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung von Fluorophoren an Objekten, insbesondere am lebenden Augenhintergrund |
| US7332700B2 (en) * | 2004-04-26 | 2008-02-19 | Bruce Masato Ishimoto | Photomultiplier tube with dynode modulation for photon-counting |
| CN100510660C (zh) * | 2006-10-18 | 2009-07-08 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 利用相关光子进行光辐射定标的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5346788A (en) * | 1976-10-09 | 1978-04-26 | Ritsuo Hasumi | Real time comparison spectrometer |
| JPS5845524A (ja) * | 1981-09-14 | 1983-03-16 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | 単一光子計数法による時間分解分光方法および装置 |
-
1983
- 1983-10-13 JP JP58191722A patent/JPS6082821A/ja active Pending
-
1984
- 1984-10-05 US US06/657,963 patent/US4632550A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5346788A (en) * | 1976-10-09 | 1978-04-26 | Ritsuo Hasumi | Real time comparison spectrometer |
| JPS5845524A (ja) * | 1981-09-14 | 1983-03-16 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | 単一光子計数法による時間分解分光方法および装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010190652A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 蛍光検出方法、蛍光検出装置及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4632550A (en) | 1986-12-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7015484B2 (en) | Multi-dimensional fluorescence apparatus and method for rapid and highly sensitive quantitative analysis of mixtures | |
| JP4397692B2 (ja) | 時間相関のある多光子計数計測のシステムおよび方法 | |
| JPS6082821A (ja) | 時間分解発光スペクトル測定方法 | |
| US20020158211A1 (en) | Multi-dimensional fluorescence apparatus and method for rapid and highly sensitive quantitative analysis of mixtures | |
| EP3403069B1 (en) | Emission lifetime measuring method and apparatus for measuring a mean lifetime of electronically excited states | |
| EP1746411A1 (en) | Solid state multi frequency fluorometric measurements system and method | |
| JP6015735B2 (ja) | 微小粒子測定装置 | |
| EP2362207A1 (de) | Messsystem und Messverfahren insbesondere zur Blutzuckerbestimmung | |
| EP3550288A1 (en) | Fluorescence lifespan measuring device for obtaining two or more fluorescence lifespan components by calculating, through virtual fluorescence distribution model, least square error from signals collected by analog average delay method, and measuring method therefor | |
| Talbot et al. | Correction approach for delta function convolution model fitting of fluorescence decay data in the case of a monoexponential reference fluorophore | |
| US20060289785A1 (en) | Method for both time and frequency domain protein measurements | |
| JP2023554583A (ja) | 光検出システムの特徴付け及び符号化のための方法及びシステム | |
| JP6393685B2 (ja) | 顕微鏡、及び顕微鏡による試料検査方法 | |
| US20040223152A1 (en) | Microscope for performing multiple frequency fluorometric measurements | |
| JPH0572039A (ja) | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 | |
| DE19750810A1 (de) | Verfahren zur Kalibrierung abstimmbarer, insbesondere schmalbandiger Laser | |
| US20060017921A1 (en) | Method for performing spacially coordinated high speed fluorometric measurements | |
| JPS61213974A (ja) | 光散乱画像解析装置 | |
| EP0420611B1 (en) | A device for analyzing a transient waveform | |
| Valeur | Pulse and phase fluorometries: an objective comparison | |
| JPH05256765A (ja) | 顕微分光光度計 | |
| Snyder et al. | Biologic fluorescence decay characteristics: determination by Laguerre expansion technique | |
| JP2017021045A (ja) | 情報処理装置 | |
| DE2535398A1 (de) | Spektralfluoreszenzmesser | |
| EP1980841A1 (en) | Method and Apparatus for Detection and Analysis of Biological Materials through Laser Induced Fluorescence |