JPS6064403A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents
厚膜型正特性半導体素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS6064403A JPS6064403A JP17344883A JP17344883A JPS6064403A JP S6064403 A JPS6064403 A JP S6064403A JP 17344883 A JP17344883 A JP 17344883A JP 17344883 A JP17344883 A JP 17344883A JP S6064403 A JPS6064403 A JP S6064403A
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- JP
- Japan
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- thick film
- semiconductor element
- temperature coefficient
- positive temperature
- glass frit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
B a T x Os系半導体からなる素子は所定温度
以上で急激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びス
イッチング後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自
己温度制御機能を有し、外部の制御回路を必要としない
ため広く利用されている。
以上で急激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びス
イッチング後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自
己温度制御機能を有し、外部の制御回路を必要としない
ため広く利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はB a T i O3
系半導体粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、
実用可能な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ること
は困難であるとされていた。
系半導体粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、
実用可能な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ること
は困難であるとされていた。
従来、B a T 103系半導体を膜状に加工する方
法としては、次のようなものが知られている。
法としては、次のようなものが知られている。
■ ディスク形に成形した後、焼成したものをAQ片に
研磨する。
研磨する。
■ 真空蒸着法により基板上に薄膜を形成する。
■ E a T iO3系半導体粉末に導電性の添加剤
とガラスフリットを加えてベースト状とし、基板」〕に
スクリーン印刷した後、焼成する。
とガラスフリットを加えてベースト状とし、基板」〕に
スクリーン印刷した後、焼成する。
しかし、前記■の方法ではB a T i O3系半導
体の結晶粒子径が大きくもろいため、膜状に寸で研磨す
ることは甚だ困難である。また、前記■の方法では操作
が面倒であり、発熱体に適した大電力を得ることがむつ
かしい。さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり
易く制御が困難であり、発熱体には適さず、またあらか
じめガラスフリットを調合、焼成しておかなければなら
ず、面倒であると共にガラスフリットの材質によっては
BaTiO3系半導体の持つスイッチング特性及び自己
発熱特性を劣化させる。そして、ガラスフリットを加え
ることによF) B a T t O3系半導体とガラ
スフリットの耐熱性、熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く
、熱伝導が妨げられる。さらに、導電性の添加剤とガラ
スフリットを均一に混合することは困難であり、特性に
ばらつきを生じる原因の一つとなっている。
体の結晶粒子径が大きくもろいため、膜状に寸で研磨す
ることは甚だ困難である。また、前記■の方法では操作
が面倒であり、発熱体に適した大電力を得ることがむつ
かしい。さらに、前記■の方法では面積抵抗が高くなり
易く制御が困難であり、発熱体には適さず、またあらか
じめガラスフリットを調合、焼成しておかなければなら
ず、面倒であると共にガラスフリットの材質によっては
BaTiO3系半導体の持つスイッチング特性及び自己
発熱特性を劣化させる。そして、ガラスフリットを加え
ることによF) B a T t O3系半導体とガラ
スフリットの耐熱性、熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く
、熱伝導が妨げられる。さらに、導電性の添加剤とガラ
スフリットを均一に混合することは困難であり、特性に
ばらつきを生じる原因の一つとなっている。
発明の目的
そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さをブW決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状に
することにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性
を持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法
を提供することを目的としている。
繁雑さをブW決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状に
することにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性
を持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法
を提供することを目的としている。
発明の構成
本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、B a
T iO3系半導体粉末にSm6Si3.SmSiま
たはSmSi2のうち少なく吉も1種類を全重量に対し
て1〜60重量%加えてペースト状にした混合物を基板
上に塗布して厚膜状とした後焼成することにより厚膜型
正特性半導体素子をイ(Jようとするものである。
T iO3系半導体粉末にSm6Si3.SmSiま
たはSmSi2のうち少なく吉も1種類を全重量に対し
て1〜60重量%加えてペースト状にした混合物を基板
上に塗布して厚膜状とした後焼成することにより厚膜型
正特性半導体素子をイ(Jようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、B a T s Oa系粉末
同志を物理的に接続するのにガラスフリットが必要であ
った。
BaTiO3系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、B a T s Oa系粉末
同志を物理的に接続するのにガラスフリットが必要であ
った。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとしてSm5si3゜SmS
i またばSmSi2を用いたところに慣徴を有してい
る。このSm5St3.SmSi、SmSi2は常温で
は導体であり、1000〜11oo℃以−1−の温度に
なると一部分が分解してオシ子表面に3102が析出す
るが1粒子内部は元のままで表向のSiO2膜により分
解が阻止される。従って、BaTi○3系半導体粉末と
Sm5Si3.Sm5i−!f、たはSmSi2粉末を
混合して焼成すると、Sm 、S i3. SmS i
またはSmSi2の表面に析出するS t O2がガラ
スフリットと同じ役割をし、粒子内部が導電性添加剤の
役割をするため、Sm5Si3.SmSiまたはSmS
i2を添加するだけでガラス7リツトを必要としない厚
膜型正特性半導体素子が得られる。
の両方の役割をはだすものとしてSm5si3゜SmS
i またばSmSi2を用いたところに慣徴を有してい
る。このSm5St3.SmSi、SmSi2は常温で
は導体であり、1000〜11oo℃以−1−の温度に
なると一部分が分解してオシ子表面に3102が析出す
るが1粒子内部は元のままで表向のSiO2膜により分
解が阻止される。従って、BaTi○3系半導体粉末と
Sm5Si3.Sm5i−!f、たはSmSi2粉末を
混合して焼成すると、Sm 、S i3. SmS i
またはSmSi2の表面に析出するS t O2がガラ
スフリットと同じ役割をし、粒子内部が導電性添加剤の
役割をするため、Sm5Si3.SmSiまたはSmS
i2を添加するだけでガラス7リツトを必要としない厚
膜型正特性半導体素子が得られる。
また、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
ガラススリットに較べ熱伝導性が良くなシ、熱衝撃性も
向上する。
ガラススリットに較べ熱伝導性が良くなシ、熱衝撃性も
向上する。
実施例の説明
以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
明する。
実施例1
E a T IO3に1.0モルチのLa2O3を加え
1300℃で焼成した後、粉砕してB a T i O
3系半導体を得る。前記B a T i O3系半導体
粉末に全重量に対して6.0重用チの3rnSi粉末を
加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加えて
ペースト状混合物1を作る。
1300℃で焼成した後、粉砕してB a T i O
3系半導体を得る。前記B a T i O3系半導体
粉末に全重量に対して6.0重用チの3rnSi粉末を
加え均一に混合し、さらにα−テルピネオールを加えて
ペースト状混合物1を作る。
一方、Al2O3などからなる基板2上にあらかじめ一
対のAqなとの導電性物質からなる電極3゜4を設けて
おき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残る
ように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などに
より塗布し、室温から10℃/mLnの昇温速度で13
50℃まで昇温し、1時間保持した後、炉内放冷する。
対のAqなとの導電性物質からなる電極3゜4を設けて
おき、前記電極3,4上にその電極3゜4の一部が残る
ように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などに
より塗布し、室温から10℃/mLnの昇温速度で13
50℃まで昇温し、1時間保持した後、炉内放冷する。
このようにして厚膜型正特性半導体素子を得た。
実施例2
実施例1と同様にしてB a T 103に3.0モル
チのLa2O3を加え1260℃で焼成した後、−粉砕
してBaTiO3 系半導体粉末に全重量に対して20.0重@チのSmS
i2粉末を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオー
ルを加えてベース!・状混合物1にする1、ついで、実
施例1と同様に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,
4を設けておき、前記電極3゜4の一部が残るように前
記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などより塗布し
、室温から10℃/駆の昇温速度で1300℃まで昇温
し、30分間保持した後、炉内放冷する。このようにし
て)11IIψ型半導体素子を得た。
チのLa2O3を加え1260℃で焼成した後、−粉砕
してBaTiO3 系半導体粉末に全重量に対して20.0重@チのSmS
i2粉末を加え均一に混合し、さらにα−テルピネオー
ルを加えてベース!・状混合物1にする1、ついで、実
施例1と同様に前記基板2上にあらかじめ前記電極3,
4を設けておき、前記電極3゜4の一部が残るように前
記ペースト状混合物1をスクリーン印刷などより塗布し
、室温から10℃/駆の昇温速度で1300℃まで昇温
し、30分間保持した後、炉内放冷する。このようにし
て)11IIψ型半導体素子を得た。
こうして得だ厚膜型半導体素子の室温での面積抵抗は実
施例1の場合3.7にΩ/cdlであシ、実施例2の場
合1.4KQlcdtであシ、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施例
1により得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
施例1の場合3.7にΩ/cdlであシ、実施例2の場
合1.4KQlcdtであシ、各々の温度と抵抗値の関
係は第2図に示した通りであった。第2図でAは実施例
1により得られた素子の特性、Bは実施例2の場合の特
性である。
発明の効果
以上のように本発明の製造方法によれば、Sm 5S
i3. SmS iまたはSmSi2 粉末が従来の導
電性添加剤とガラスフリットの両方の役割をはだし、電
気的接続、物理的接続に十分な効果があり、ガラスフリ
ットなしで厚膜状正特性半導体素子が得られることとな
る。
i3. SmS iまたはSmSi2 粉末が従来の導
電性添加剤とガラスフリットの両方の役割をはだし、電
気的接続、物理的接続に十分な効果があり、ガラスフリ
ットなしで厚膜状正特性半導体素子が得られることとな
る。
また、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のSm6Si3゜SmSi、
SmS’2を用いることにより、熱伝導が良くなり熱衝
撃性も向上する。さらに、スクリーン印刷などにより製
造できることから作業が容易で量産が可能である。
て熱伝導のよい導電性金属のSm6Si3゜SmSi、
SmS’2を用いることにより、熱伝導が良くなり熱衝
撃性も向上する。さらに、スクリーン印刷などにより製
造できることから作業が容易で量産が可能である。
なお、本発明においてB a T i O3系半導体粉
末としてはBa T iOsに各種の添加剤を加えて半
導体化したものであればなんでもよい。また、Sm6S
i3゜SmSi、SmSi2粉末の添加用:を全重量に
対して1〜60重量%と規定したのは、1重量−未満で
は面積抵抗が大きくなシすぎ発熱体に不適当であり、B
a T i O3粉末同志の物理的固定もできなく、
一方6ON量チを越えると面積抵抗が小さくなりすぎ、
自己制御特性(PTC特性)が小さくなり発熱体に不適
当になるためである。
末としてはBa T iOsに各種の添加剤を加えて半
導体化したものであればなんでもよい。また、Sm6S
i3゜SmSi、SmSi2粉末の添加用:を全重量に
対して1〜60重量%と規定したのは、1重量−未満で
は面積抵抗が大きくなシすぎ発熱体に不適当であり、B
a T i O3粉末同志の物理的固定もできなく、
一方6ON量チを越えると面積抵抗が小さくなりすぎ、
自己制御特性(PTC特性)が小さくなり発熱体に不適
当になるためである。
また、実施例では導電性金属として1種類添加した場合
のみ示したが、複数種類の全添加量が規定量内であれば
同様の効果があることを確認した。
のみ示したが、複数種類の全添加量が規定量内であれば
同様の効果があることを確認した。
さらに、B a T 10s系半導体粉末とSm6Si
3゜SmS i 、SmS t2粉末をペースト状にす
るのに有機溶剤(実施例ではa−テルピネオ;ル)を用
いたが、ペースト状にできるものであればなんでもよい
。
3゜SmS i 、SmS t2粉末をペースト状にす
るのに有機溶剤(実施例ではa−テルピネオ;ル)を用
いたが、ペースト状にできるものであればなんでもよい
。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである。
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きいものである。
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・−・・・ペースト状混合物、2・・・・・・基板
、3,4・・・・・・電極。
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・−・・・ペースト状混合物、2・・・・・・基板
、3,4・・・・・・電極。
Claims (1)
- B a T i O3系半導体粉末に5rrh ss
is 、5rnS zまたはSmSi2のうち少なくと
も1種類を全重量に対して1〜60重量%加え、ペース
ト状にした混合物を基板上に塗布して厚膜状とした後、
焼成してなることを特徴とする厚膜型正特性半導体素子
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17344883A JPS6064403A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17344883A JPS6064403A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6064403A true JPS6064403A (ja) | 1985-04-13 |
Family
ID=15960659
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17344883A Pending JPS6064403A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6064403A (ja) |
-
1983
- 1983-09-19 JP JP17344883A patent/JPS6064403A/ja active Pending
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