JPS6053839A - 電解質測定装置 - Google Patents
電解質測定装置Info
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- JPS6053839A JPS6053839A JP16055383A JP16055383A JPS6053839A JP S6053839 A JPS6053839 A JP S6053839A JP 16055383 A JP16055383 A JP 16055383A JP 16055383 A JP16055383 A JP 16055383A JP S6053839 A JPS6053839 A JP S6053839A
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- 239000012086 standard solution Substances 0.000 claims abstract description 42
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 12
- 239000012085 test solution Substances 0.000 claims description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract description 16
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- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、例えば血清中に含まれる所定のイオンの濃度
をイオン選択電極を用いて測定する電解質測定装置に関
するものである。
をイオン選択電極を用いて測定する電解質測定装置に関
するものである。
（従来技術）
電解質測定装置ｆにおいては、濃度既知の仮数の標準液
を用いて予しめ検１１線を作成し、その検量線に基いて
被検液の濃度を測定するが、イオン選択電極の出力は温
度の変化等によって変動するため、必要に応じて検ｍ線
を校正する必要がある。
を用いて予しめ検１１線を作成し、その検量線に基いて
被検液の濃度を測定するが、イオン選択電極の出力は温
度の変化等によって変動するため、必要に応じて検ｍ線
を校正する必要がある。
この検量線の校正には、１つの標準液を用い、その出力
によって予しめ作成した検量線を平行にシフトする場合
と、複数の標準液を用いて新たに検量線を作成する場合
とがある。通常、前者は一連の検液の測定中において行
なわれ、後者は一連の検液の測定開始に先立って行なわ
れる。
によって予しめ作成した検量線を平行にシフトする場合
と、複数の標準液を用いて新たに検量線を作成する場合
とがある。通常、前者は一連の検液の測定中において行
なわれ、後者は一連の検液の測定開始に先立って行なわ
れる。
そこで、１つの標準液を内蔵し、これをイオン選択電極
および参照電極を具える測定部に選択的に供給するよう
にした電解質測定装置が従来提案されている。この電解
質測定装置では、他の標準液ヲマニュアルで測定ＦＡＳ
に注入して、その標準液と内蔵する標準液とから検量線
を作成し、このようにして作成した検量線を内蔵する標
準液によって校正する。
および参照電極を具える測定部に選択的に供給するよう
にした電解質測定装置が従来提案されている。この電解
質測定装置では、他の標準液ヲマニュアルで測定ＦＡＳ
に注入して、その標準液と内蔵する標準液とから検量線
を作成し、このようにして作成した検量線を内蔵する標
準液によって校正する。
しかし、この従来の電解質Ａ１ｕ定装置においては、検
量線を作成するにあたって、他の標準液をマニュアルで
測定部に注入する必要があるため、その操作が而、演で
あると兵に、注入する他の標準液と内蔵する標準液とに
温度差があると検量線の傾きが変わり、正確な測定がで
きない欠点がある。
量線を作成するにあたって、他の標準液をマニュアルで
測定部に注入する必要があるため、その操作が而、演で
あると兵に、注入する他の標準液と内蔵する標準液とに
温度差があると検量線の傾きが変わり、正確な測定がで
きない欠点がある。
（発明の目的）
本発明の目的は、」；述した欠点を除去し、常に正確な
検量線が得られ、したかつて被検液の所望のイオン濃度
を常に高精度で測定できるよう適切に構成したｍ解質測
定装置を−・提供しようとするものである。
検量線が得られ、したかつて被検液の所望のイオン濃度
を常に高精度で測定できるよう適切に構成したｍ解質測
定装置を−・提供しようとするものである。
（発明の概斐）
本発明の電解ＪｉＩ測定装置は、恒温制御されるケース
内に、被検液のイオン濃度を測定するための電極を具え
る測定部と、検ｌメ線を校正するに必要な複数の標準液
をそオ］、ぞれ測定部に選択的に供給し得るように一時
的に貯蔵する複数の標準液セルとを設けたことをｌドＰ
徴とするものである。
内に、被検液のイオン濃度を測定するための電極を具え
る測定部と、検ｌメ線を校正するに必要な複数の標準液
をそオ］、ぞれ測定部に選択的に供給し得るように一時
的に貯蔵する複数の標準液セルとを設けたことをｌドＰ
徴とするものである。
（実 施 例 ）
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の電解質測定装置の一例の構成を示すも
のである。被検液はサンプルノズル１によって注入口２
に注入し、ローリングポンプ３の作動によりフローセル
４を経て廃液タンク５に排出する。フローセル４には、
８種のイオン濃度を測定するための３本のイオン選択電
極（ｊ ａ 、 ６ ｂ。
のである。被検液はサンプルノズル１によって注入口２
に注入し、ローリングポンプ３の作動によりフローセル
４を経て廃液タンク５に排出する。フローセル４には、
８種のイオン濃度を測定するための３本のイオン選択電
極（ｊ ａ 、 ６ ｂ。
６Ｃを設けると共に、これらイオン選択電極６ａｅ６ｂ
、６ｃの各イオン感応部が露出する通路に連通して参照
電極７を具える電解液溜め８を設け、この電解液溜め８
に電解液タンク９に収容した電解液１ｏをローリングポ
ンプ１１の作動ニよす供給する。このようにして、被検
液の測定時においては、被検液と電解液とを液絡させて
イオン選択電極６ａ１６ｂ、６Ｃの出力から測定回路１
２において３種のイオン濃度を測定する。
、６ｃの各イオン感応部が露出する通路に連通して参照
電極７を具える電解液溜め８を設け、この電解液溜め８
に電解液タンク９に収容した電解液１ｏをローリングポ
ンプ１１の作動ニよす供給する。このようにして、被検
液の測定時においては、被検液と電解液とを液絡させて
イオン選択電極６ａ１６ｂ、６Ｃの出力から測定回路１
２において３種のイオン濃度を測定する。
一方、第１の標準液タンク１３に収容されり第１の標準
液１４は、第１のイ票準液セル１５に一時的に貯蔵し、
このセル１５に貯えられた第１の標準液をローリングポ
ンプ１６の作動により注入口２に選択的に注入し得るよ
う構成する。同様に、第２の標準液タンク１７に収容さ
れた第２の標準液１８は、第２の標準液セル１９に一時
的に貯蔵し、このセル］９に貯えられた第２の標準液を
ローリングポンプ２０の作動により注入口２に選択的に
注入し得るよう構成する。
液１４は、第１のイ票準液セル１５に一時的に貯蔵し、
このセル１５に貯えられた第１の標準液をローリングポ
ンプ１６の作動により注入口２に選択的に注入し得るよ
う構成する。同様に、第２の標準液タンク１７に収容さ
れた第２の標準液１８は、第２の標準液セル１９に一時
的に貯蔵し、このセル］９に貯えられた第２の標準液を
ローリングポンプ２０の作動により注入口２に選択的に
注入し得るよう構成する。
本例では、廃液タンク５、電解液タンク９、第１の標準
液タンク１ａおよび第２の標準液タンク１７を除く構成
要禦を共通のケース２】内に配置し、このケース２１内
を恒温制御する。このため、ケース２１に連結してケー
ス２１内に温風を供給するためのヒータを具えるファン
２２を設けると共に、ケース２１内には温度センサ２８
を設け、この温度センサ２８の出力が予しめ定めたＨｆ
定の値となるように制御回路２４によりファン２８の駆
動を制御する。
液タンク１ａおよび第２の標準液タンク１７を除く構成
要禦を共通のケース２】内に配置し、このケース２１内
を恒温制御する。このため、ケース２１に連結してケー
ス２１内に温風を供給するためのヒータを具えるファン
２２を設けると共に、ケース２１内には温度センサ２８
を設け、この温度センサ２８の出力が予しめ定めたＨｆ
定の値となるように制御回路２４によりファン２８の駆
動を制御する。
このようにして、イ（例では必要に応じて第１の標準液
セル１５および／または第２の標準液セル］９に一時的
に貯蔵された第１の標準液１４および／または第２の標
準液１８を注入口２を経てフローセル４に供給して検量
線を校正する。
セル１５および／または第２の標準液セル］９に一時的
に貯蔵された第１の標準液１４および／または第２の標
準液１８を注入口２を経てフローセル４に供給して検量
線を校正する。
第２図、第３図および第４図は、第１図に示した本発明
による電解質測定装置と、従来の電解質測定装置とによ
って測定した血清中のＮａイオン、ＫイオンおよびＣｔ
イオン濃度の環境温度変化による変動を、それぞれ高値
、中値および低値の３種の血清について比較して示すも
のである。第２図〜第４図から明らかなように、いずれ
の場合においても、実線で示す第１図に示した電解質測
定装置による測定値の方が、破線で示す従来のｍ解質測
定装置による測定値よりも、環境温度変化による変動が
遥かに小さいっ なお、上述した例では２種の標準液を用いるようにした
が、３種以上の標準液を同様にして用いることもできる
。また、測定回路１２やローリングポンプ３．１１．１
６．２０等はケース２１の外部に配置してもよい。
による電解質測定装置と、従来の電解質測定装置とによ
って測定した血清中のＮａイオン、ＫイオンおよびＣｔ
イオン濃度の環境温度変化による変動を、それぞれ高値
、中値および低値の３種の血清について比較して示すも
のである。第２図〜第４図から明らかなように、いずれ
の場合においても、実線で示す第１図に示した電解質測
定装置による測定値の方が、破線で示す従来のｍ解質測
定装置による測定値よりも、環境温度変化による変動が
遥かに小さいっ なお、上述した例では２種の標準液を用いるようにした
が、３種以上の標準液を同様にして用いることもできる
。また、測定回路１２やローリングポンプ３．１１．１
６．２０等はケース２１の外部に配置してもよい。
（発明の効果）
以上述べたように、本発明によれば、被検液のイオン濃
度を測定するための？ｌｆ極を具える測定Ｆ′ｔｌＳと
、検量線を校［１′：、するに必賛な複数の標準液をそ
れぞれ測定部に選１１り的に供給し？（）るように一時
的に貯蔵する俵数の椋嘔液セルとを、共通のケース内に
配Ｉｔ Ｔ、て、このケース内を恒温制御するようにし
たから、環境温度変化に殆んど影祷されることなく、常
にＩ′Ｅ第なイリ７拒線を得ることができ、１９ｒ望の
イオンｍ度を常に高ｆ１す度で／１１１Ｊ定することが
できる。
度を測定するための？ｌｆ極を具える測定Ｆ′ｔｌＳと
、検量線を校［１′：、するに必賛な複数の標準液をそ
れぞれ測定部に選１１り的に供給し？（）るように一時
的に貯蔵する俵数の椋嘔液セルとを、共通のケース内に
配Ｉｔ Ｔ、て、このケース内を恒温制御するようにし
たから、環境温度変化に殆んど影祷されることなく、常
にＩ′Ｅ第なイリ７拒線を得ることができ、１９ｒ望の
イオンｍ度を常に高ｆ１す度で／１１１Ｊ定することが
できる。
第１図は本発明の商Ｍ質測定装置ｇの一例の構成を示す
線図、 第２図、第８図および第４１図は本発明の詳細な説明す
るための線図である。 １川サンプルノズル ２・・注入口 ８、１１．１６．２［］・・・ローリングポンプ嗟・・
・フローセル ５・・・・廃液タンク＋ ７１ ６ａ、 ６ｂ、 ６Ｃ・・・イオン選択電極７・・・参
照電極 ８・・・電解液溜め９・・・電解液タンク １
０・・・電解液１２・・・測定回路 １３・・・第１の
標準液タンク１４・・・第１の標準液 ］５・・・第１
の標準液セル１７・・・第２の標準液タンク１８・・・
第２の標準液１９・・・第２の標準液セル ２１・・・
ケース２２・・・ファン ２８・・・温度センサ２４・
・・制御回路 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社代理人弁理士
杉 村 暁 秀 ・ 同 弁理士 杉 利 興 作 （８） 第３図 第４図 ：３２２５ｆ６３度（’Ｃン ３２ ２５ ／６ 濃度（ｌゴノ
線図、 第２図、第８図および第４１図は本発明の詳細な説明す
るための線図である。 １川サンプルノズル ２・・注入口 ８、１１．１６．２［］・・・ローリングポンプ嗟・・
・フローセル ５・・・・廃液タンク＋ ７１ ６ａ、 ６ｂ、 ６Ｃ・・・イオン選択電極７・・・参
照電極 ８・・・電解液溜め９・・・電解液タンク １
０・・・電解液１２・・・測定回路 １３・・・第１の
標準液タンク１４・・・第１の標準液 ］５・・・第１
の標準液セル１７・・・第２の標準液タンク１８・・・
第２の標準液１９・・・第２の標準液セル ２１・・・
ケース２２・・・ファン ２８・・・温度センサ２４・
・・制御回路 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社代理人弁理士
杉 村 暁 秀 ・ 同 弁理士 杉 利 興 作 （８） 第３図 第４図 ：３２２５ｆ６３度（’Ｃン ３２ ２５ ／６ 濃度（ｌゴノ
Claims (1)
- 】、 被検液のイオン＃ＩＯを測定するための電極を具
える測定部と、検量線の枚重時に前記測定部に選択的に
供給される複数の標準液をそれぞれ一時的に貯蔵する複
数の標準液セルとを共通のケース内に設口、このケース
内を恒温制御するにう構成したことを特徴とする電解質
測定装置ｆ０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16055383A JPS6053839A (ja) | 1983-09-02 | 1983-09-02 | 電解質測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16055383A JPS6053839A (ja) | 1983-09-02 | 1983-09-02 | 電解質測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6053839A true JPS6053839A (ja) | 1985-03-27 |
| JPH0522865B2 JPH0522865B2 (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=15717476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16055383A Granted JPS6053839A (ja) | 1983-09-02 | 1983-09-02 | 電解質測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6053839A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6453772A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Hakko Sangyo Kk | Manufacture of glass-lined shell and tube heat exchanger |
| JPH0250674U (ja) * | 1988-10-03 | 1990-04-09 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58122455A (ja) * | 1982-01-14 | 1983-07-21 | Toshiba Corp | イオン濃度分析装置 |
| JPS58160553A (ja) * | 1982-03-18 | 1983-09-24 | Koichi Tomura | 内燃機関の点火方法 |
| JPS59128562U (ja) * | 1983-02-18 | 1984-08-29 | 株式会社富士電機総合研究所 | 化学分析装置の予熱装置 |
-
1983
- 1983-09-02 JP JP16055383A patent/JPS6053839A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58122455A (ja) * | 1982-01-14 | 1983-07-21 | Toshiba Corp | イオン濃度分析装置 |
| JPS58160553A (ja) * | 1982-03-18 | 1983-09-24 | Koichi Tomura | 内燃機関の点火方法 |
| JPS59128562U (ja) * | 1983-02-18 | 1984-08-29 | 株式会社富士電機総合研究所 | 化学分析装置の予熱装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6453772A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Hakko Sangyo Kk | Manufacture of glass-lined shell and tube heat exchanger |
| JPH0250674U (ja) * | 1988-10-03 | 1990-04-09 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0522865B2 (ja) | 1993-03-30 |
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