JPS604612B2 - 差動増幅器 - Google Patents
差動増幅器Info
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- JPS604612B2 JPS604612B2 JP50119765A JP11976575A JPS604612B2 JP S604612 B2 JPS604612 B2 JP S604612B2 JP 50119765 A JP50119765 A JP 50119765A JP 11976575 A JP11976575 A JP 11976575A JP S604612 B2 JPS604612 B2 JP S604612B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/34—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
- H03F3/343—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
- H03F3/347—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only in integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本願発明は差動増幅器、特に回路素子数が少なく、かつ
優れたCMRR(同相モード信号除去比)を有し動作安
全性の高い差動増幅器に関する。
優れたCMRR(同相モード信号除去比)を有し動作安
全性の高い差動増幅器に関する。
従来より、特にモノリシツク半導体集積回路に組込むに
際し、抵抗素子数が少なく集積化に適した差敷増幅器と
して第10図に示した如き回路が公知である。
際し、抵抗素子数が少なく集積化に適した差敷増幅器と
して第10図に示した如き回路が公知である。
かかる差動増幅器の詳細は196g王2月19日発行の
lEEE1ntemationaI Solid−St
aにCircui$ConfemceP16〜17に説
明されているが、同図に示されている様に差敷対トラン
ジスタQ,,Q2の負荷としてダイオードD,、PNP
型トランジスタQ3からなる電流源回路が採用されてい
る。かかる型式の電流源回路の動作を、第11図に示し
た様なトランジスタQのベースとェミッタとの間にダイ
オードDを接続した回路において説明すると、ダイオー
ドDのPN接合とトランジスタQのベース・ェミツタ接
合は全く同一の順方向バイアス電圧V86が印加され、
さらにこのダイオードとトランジスタが同時不純物拡散
により製造されているならば、それらのPN接合のV−
1特性は互いに等しくなり、それらは全く同一の電流密
度の電流を流す。従って、トランジスタQのェミッタ電
流10と、ダイオードQのダイオード電流loは、トラ
ンジスタQのベース・ェミッタ接合面積をAo、ダイオ
ードDのPN接合面積をAoとすれば下式の様になる。
lo・IQ AD−A。
lEEE1ntemationaI Solid−St
aにCircui$ConfemceP16〜17に説
明されているが、同図に示されている様に差敷対トラン
ジスタQ,,Q2の負荷としてダイオードD,、PNP
型トランジスタQ3からなる電流源回路が採用されてい
る。かかる型式の電流源回路の動作を、第11図に示し
た様なトランジスタQのベースとェミッタとの間にダイ
オードDを接続した回路において説明すると、ダイオー
ドDのPN接合とトランジスタQのベース・ェミツタ接
合は全く同一の順方向バイアス電圧V86が印加され、
さらにこのダイオードとトランジスタが同時不純物拡散
により製造されているならば、それらのPN接合のV−
1特性は互いに等しくなり、それらは全く同一の電流密
度の電流を流す。従って、トランジスタQのェミッタ電
流10と、ダイオードQのダイオード電流loは、トラ
ンジスタQのベース・ェミッタ接合面積をAo、ダイオ
ードDのPN接合面積をAoとすれば下式の様になる。
lo・IQ AD−A。
故に、かかる型式であって、ダイオードとトランジスタ
の接合面積が互いに等しい電流源回路が第10図に示し
た様に差動対トランジスタQ,,Q2の負荷として使用
された場合、差動信号電流i,が同図の矢印の方向に差
動対トランジスタQ,,Q2に流れると、上記電流源回
路のダイオードD,のPN接合はこの差動信号電流i,
によりバイアスされ順方向電圧VB耳を発生する。
の接合面積が互いに等しい電流源回路が第10図に示し
た様に差動対トランジスタQ,,Q2の負荷として使用
された場合、差動信号電流i,が同図の矢印の方向に差
動対トランジスタQ,,Q2に流れると、上記電流源回
路のダイオードD,のPN接合はこの差動信号電流i,
によりバイアスされ順方向電圧VB耳を発生する。
この順方向電圧VB8によりPNPトランジスタQ3の
ベース・エミツタ間がバイアスされ、ダイオードとトラ
ンジスタの接合面積は互に等しいため、上記差敷信号電
流T,と等しし・電流値を持った信号電流T2が上記ト
ランジスタQ3に同図の矢印の方向に流れる。従って、
トランジスタQ2とトランジスタQ3のコレクタが相互
に接続された差動出力回路接続点Pに射・ては2(=T
,十i2)の差動出力信号電流が得られ、通常の差敷増
幅器の差敷出力信号の2倍が得られ高利得を得ることが
出来る。またこの差動増幅器の差動対トランジスタQ,
,Q2のバイアス電流は、抵抗R、ダイオードD2、ト
ランジスタQ4から構成された定電流源回路により、一
定の電流値に設定されているため、差動対トランジスタ
Q,,Q2のそれぞれのベース(■ピン、■ピン)に印
加されるいかなる共通モード信号によっても、上記バイ
アス電流は変動することはなく、優れたCMRR(同相
モード信号除去比)を得ることが出来る。
ベース・エミツタ間がバイアスされ、ダイオードとトラ
ンジスタの接合面積は互に等しいため、上記差敷信号電
流T,と等しし・電流値を持った信号電流T2が上記ト
ランジスタQ3に同図の矢印の方向に流れる。従って、
トランジスタQ2とトランジスタQ3のコレクタが相互
に接続された差動出力回路接続点Pに射・ては2(=T
,十i2)の差動出力信号電流が得られ、通常の差敷増
幅器の差敷出力信号の2倍が得られ高利得を得ることが
出来る。またこの差動増幅器の差動対トランジスタQ,
,Q2のバイアス電流は、抵抗R、ダイオードD2、ト
ランジスタQ4から構成された定電流源回路により、一
定の電流値に設定されているため、差動対トランジスタ
Q,,Q2のそれぞれのベース(■ピン、■ピン)に印
加されるいかなる共通モード信号によっても、上記バイ
アス電流は変動することはなく、優れたCMRR(同相
モード信号除去比)を得ることが出来る。
また上記差敷増幅器の差動出力回路接続点Pにはトラン
ジスタQ5,Q6からなる次段電流増幅回路が接続され
、差敷出力信号をさらに電流増幅した信号電流を出力端
子(■ピン)に供給するように構成されている。しかし
ながら、この様に次段電流増幅回路が接続された従来よ
り公知の差動増幅器は、回路を構成するための回路素子
数が、トランジスタが6個、ダイオードが2個、抵抗が
1個、合計9となり、回路素子数が多く、高価な差動増
幅器となるという欠点を有する。
ジスタQ5,Q6からなる次段電流増幅回路が接続され
、差敷出力信号をさらに電流増幅した信号電流を出力端
子(■ピン)に供給するように構成されている。しかし
ながら、この様に次段電流増幅回路が接続された従来よ
り公知の差動増幅器は、回路を構成するための回路素子
数が、トランジスタが6個、ダイオードが2個、抵抗が
1個、合計9となり、回路素子数が多く、高価な差動増
幅器となるという欠点を有する。
本願発明は上記の欠点を解決するためになされたもので
、その目的とするところは、回路素子数が少なく安価で
、かつ優れたCM凪R(同相モ−ド信号除去比)を有し
動作安定性の高い差動増幅器を提供せんとするにある。
、その目的とするところは、回路素子数が少なく安価で
、かつ優れたCM凪R(同相モ−ド信号除去比)を有し
動作安定性の高い差動増幅器を提供せんとするにある。
上記目的を達成するための本願発明の基本的構成は、特
許請求の範囲の欄に記載された各要件を具備することを
特徴とするものであるが、以下本願発明の各実施例を図
面に沿って詳細に説明する。第1図は本発明の第1の実
施例によりモノリシック半導体集積回路に構成された蓋
動増幅器の回路図を示している。
許請求の範囲の欄に記載された各要件を具備することを
特徴とするものであるが、以下本願発明の各実施例を図
面に沿って詳細に説明する。第1図は本発明の第1の実
施例によりモノリシック半導体集積回路に構成された蓋
動増幅器の回路図を示している。
同図において丸で囲まれた番号は集積回路のピン番号(
外部リード端子)を示し、破線内のトランジスタ、ダイ
オード、抵抗の回路素子は全て周知の集積回路製造方法
により一枚のシリコン半導体チップ内に形成されている
。また、かかる実施例による差動増幅器は、ベース電極
とェミッタ電極とコレクタ電極とを有してなる一組の差
動対トランジスタQ,,Q2、第1供給電源端子(■ピ
ン、ほぼ一定の正電圧Vccが供給される)、第2供給
電源端子(■ピン:大地電位へ接地される)、共通抵抗
R、第IPN接合ダイオードD,とPNP型の第1トラ
ンジスタQ3とからなる第1電流源CS,、第がN接合
ダイオードD2とNPN型の第2トランジスタQ4とか
らなる第2電流源CS2、および上記第1トランジスタ
Qのコレクタと第2トランジスタQ4のコレクタとに接
続され上記一組の差動対トランジスタQ,,Q2のそれ
ぞれのベース電極に印加された二信号間の差動出力信号
電流を発生するための出力手段(■ピン:出力端子)を
具備している。また、上記一組の差動対トランジスタQ
,,Q2のそれぞれのェミッタ電極は共通に接続される
とともに上記共通抵抗Rの一端に接続され、上記第がN
接合ダイオードD2は上記共通抵抗Rの池端と上記第2
供給電源端子(■ピン)との間に接続され、上記第2ト
ランジスタQ4のベースとエミツタはそれぞれ上記共通
抵抗Rの池端と上記第2供繋溝電源端子(■ピン)とに
接続され、上記第IPN接合ダイオードD,は第1供給
電源端子(■ピン)と、上記−方の差動対トランジスタ
Q2のコレクタとの間に接続され、上記第1トランジス
タQ3のベースとェミッタとはそれぞれ上記−方の差動
対トランジスタQ2のコレクタと第1供給電源端子(■
ピン)と接続されている。さらに、本発明は上記の如き
回路接続上の特徴に加え、この回路を構成する回路素子
の物理的サイズにおいて下記の如き特徴を有している。
外部リード端子)を示し、破線内のトランジスタ、ダイ
オード、抵抗の回路素子は全て周知の集積回路製造方法
により一枚のシリコン半導体チップ内に形成されている
。また、かかる実施例による差動増幅器は、ベース電極
とェミッタ電極とコレクタ電極とを有してなる一組の差
動対トランジスタQ,,Q2、第1供給電源端子(■ピ
ン、ほぼ一定の正電圧Vccが供給される)、第2供給
電源端子(■ピン:大地電位へ接地される)、共通抵抗
R、第IPN接合ダイオードD,とPNP型の第1トラ
ンジスタQ3とからなる第1電流源CS,、第がN接合
ダイオードD2とNPN型の第2トランジスタQ4とか
らなる第2電流源CS2、および上記第1トランジスタ
Qのコレクタと第2トランジスタQ4のコレクタとに接
続され上記一組の差動対トランジスタQ,,Q2のそれ
ぞれのベース電極に印加された二信号間の差動出力信号
電流を発生するための出力手段(■ピン:出力端子)を
具備している。また、上記一組の差動対トランジスタQ
,,Q2のそれぞれのェミッタ電極は共通に接続される
とともに上記共通抵抗Rの一端に接続され、上記第がN
接合ダイオードD2は上記共通抵抗Rの池端と上記第2
供給電源端子(■ピン)との間に接続され、上記第2ト
ランジスタQ4のベースとエミツタはそれぞれ上記共通
抵抗Rの池端と上記第2供繋溝電源端子(■ピン)とに
接続され、上記第IPN接合ダイオードD,は第1供給
電源端子(■ピン)と、上記−方の差動対トランジスタ
Q2のコレクタとの間に接続され、上記第1トランジス
タQ3のベースとェミッタとはそれぞれ上記−方の差動
対トランジスタQ2のコレクタと第1供給電源端子(■
ピン)と接続されている。さらに、本発明は上記の如き
回路接続上の特徴に加え、この回路を構成する回路素子
の物理的サイズにおいて下記の如き特徴を有している。
すなわち、上記第IPN接合ダイオードD,の動作上の
実効PN接合面積は上記第1トランジスタQ3の作動上
の実効PN接合面積と実質的に等しく設定され、上記第
がN接合ダイオードD2の動作上の実効PN接合面積は
上記第2トランジスタQ4の2倍に実質的に等しく設定
されている。これらをさらに詳細に説明するため、第1
図に示した本発明の一実施例による差動増幅器をモノリ
シック半導体集積回路に構成した時の、構造図面が第3
図に示されている。同図に示されている様に、トランジ
スタQ,,Q2,Q,Q4、ダイオードD,,D2、抵
抗Rの回路素子は全て一個のシリコン半導体チップ11
に形成され、これらの回路素子は互いにp+アィソレー
ション領域12によりPNアィソレーション方式で電気
的に互いに分離されている。同図において、細い実線は
モノリシック半導体集積回路の各回路素子を構成する各
PN接合のシリコン半導体チップ11表面での形状を示
し、太い実線はシリコン半導体チップ1 1表面に形成
された二酸化シリコン等よりなる半導体表面保護膜に窓
開けされたコンタクト部を示し、破線は半導体表面保護
膜上に形成されたアルミニウム薄膜配線電極を示し、こ
の破線で包囲された数字は半導体集積回路のピン番号を
示している。まず配線〆,はNPN型トランジスタQ,
のベース・コンタクト部Bo,とオーミック接触してお
り、■ピンとこのトランジスタQ,のベースとの間の電
気的接続を構成している。配線〆2 はNPN型トラン
ジスタQ2のベース・コンタクト部Bo2とオーミツク
接触しており、■ピンとこのトランジスタQ2のベース
との間の電気的接続を構成している。配線〆3 はラテ
ラル構造のトランジスタであるPNP型トランジスタQ
3のコレク夕・コンタクト部Co3とオーミック接触す
るとともに、NPN型トランジスタQのコレク夕・コン
タクト部Co4にオーミック接触しており、■ピンとト
ランジスタQのコレクタとの間およびトランジスタQ4
のコレクタとの間の電気的接続を構成している。配線仏
はNPN型トランジスタQ,のコレクタ・コンタクト部
Co.にオーミック接触し、またダイオードとして動作
するラテラルPNP型トランジスタD,のェミッタ・コ
ンタクト部Eo,にオーミック接触し、さらにラテラル
PNP型トランジスタQのェミッタ・コンタクト部EQ
3にオーミック接触しており、■ピンとトランジスタQ
,のコレクタとの間およびラテラルPNP型トランジス
タD,のェミッタとの間さらにはラテラルPNP型トラ
ンジスタQ3のェミッタとの間の電気的接続を構成して
いる。配線そ5はダイオードとして動作するNPN型ト
ランジスタD2のェミツタ・コンタクト部ED2 にオ
ーミック接触するとともに、NPN型トランジスタQ4
のヱミッタ・コンタクト部E。4にもオーミック接触し
ており、■ピンとトランジスタD2のエミツタとの間お
よびトランジスタQ4のェミッタとの間の電気的接続を
構成している。
実効PN接合面積は上記第1トランジスタQ3の作動上
の実効PN接合面積と実質的に等しく設定され、上記第
がN接合ダイオードD2の動作上の実効PN接合面積は
上記第2トランジスタQ4の2倍に実質的に等しく設定
されている。これらをさらに詳細に説明するため、第1
図に示した本発明の一実施例による差動増幅器をモノリ
シック半導体集積回路に構成した時の、構造図面が第3
図に示されている。同図に示されている様に、トランジ
スタQ,,Q2,Q,Q4、ダイオードD,,D2、抵
抗Rの回路素子は全て一個のシリコン半導体チップ11
に形成され、これらの回路素子は互いにp+アィソレー
ション領域12によりPNアィソレーション方式で電気
的に互いに分離されている。同図において、細い実線は
モノリシック半導体集積回路の各回路素子を構成する各
PN接合のシリコン半導体チップ11表面での形状を示
し、太い実線はシリコン半導体チップ1 1表面に形成
された二酸化シリコン等よりなる半導体表面保護膜に窓
開けされたコンタクト部を示し、破線は半導体表面保護
膜上に形成されたアルミニウム薄膜配線電極を示し、こ
の破線で包囲された数字は半導体集積回路のピン番号を
示している。まず配線〆,はNPN型トランジスタQ,
のベース・コンタクト部Bo,とオーミック接触してお
り、■ピンとこのトランジスタQ,のベースとの間の電
気的接続を構成している。配線〆2 はNPN型トラン
ジスタQ2のベース・コンタクト部Bo2とオーミツク
接触しており、■ピンとこのトランジスタQ2のベース
との間の電気的接続を構成している。配線〆3 はラテ
ラル構造のトランジスタであるPNP型トランジスタQ
3のコレク夕・コンタクト部Co3とオーミック接触す
るとともに、NPN型トランジスタQのコレク夕・コン
タクト部Co4にオーミック接触しており、■ピンとト
ランジスタQのコレクタとの間およびトランジスタQ4
のコレクタとの間の電気的接続を構成している。配線仏
はNPN型トランジスタQ,のコレクタ・コンタクト部
Co.にオーミック接触し、またダイオードとして動作
するラテラルPNP型トランジスタD,のェミッタ・コ
ンタクト部Eo,にオーミック接触し、さらにラテラル
PNP型トランジスタQのェミッタ・コンタクト部EQ
3にオーミック接触しており、■ピンとトランジスタQ
,のコレクタとの間およびラテラルPNP型トランジス
タD,のェミッタとの間さらにはラテラルPNP型トラ
ンジスタQ3のェミッタとの間の電気的接続を構成して
いる。配線そ5はダイオードとして動作するNPN型ト
ランジスタD2のェミツタ・コンタクト部ED2 にオ
ーミック接触するとともに、NPN型トランジスタQ4
のヱミッタ・コンタクト部E。4にもオーミック接触し
ており、■ピンとトランジスタD2のエミツタとの間お
よびトランジスタQ4のェミッタとの間の電気的接続を
構成している。
配線〆6 はNPN型トランジスタQ,のェミツタ・コ
ンタクト部Eo,、NPN型トランジスタQ2のェミッ
夕・コンタクト部E。2、および抵抗Rの一端のコンタ
クト部○,にそれぞれオーミツク接触しており、トラン
ジスタQ,のエミツタとトランジスタQ2のェミッタと
の間および抵抗Rの一端との間の電気的接続を構成して
いる。
ンタクト部Eo,、NPN型トランジスタQ2のェミッ
夕・コンタクト部E。2、および抵抗Rの一端のコンタ
クト部○,にそれぞれオーミツク接触しており、トラン
ジスタQ,のエミツタとトランジスタQ2のェミッタと
の間および抵抗Rの一端との間の電気的接続を構成して
いる。
配線そ? はまずNPN型トランジスタD2のベース・
コンタクト部B。2とコレクタ・コンタクト部C。
コンタクト部B。2とコレクタ・コンタクト部C。
2とにそれぞれオーミツク接触しているため、このトラ
ンジスタD2のベース・コレクタ間を短絡せしめ、第2
ダイオード手段として動作させる。
ンジスタD2のベース・コレクタ間を短絡せしめ、第2
ダイオード手段として動作させる。
また「 この配線〆7 はNPN型トランジスタQ4の
ベース・コンタクト部B。4と抵抗Rの他端のコンタク
ト部02にもそれぞれオーミツク接触している。
ベース・コンタクト部B。4と抵抗Rの他端のコンタク
ト部02にもそれぞれオーミツク接触している。
したがって、この配線そ? はトランジスタD2のベー
スとコレクタとの間、トランジスタQ4のベースとの間
、および抵抗Rの他端との間の電気的接続を構成する。
さらに配線夕8はまずラテラルPNPトランジスタD,
のベース・コンタクト部Bo,とコレクタ・コンタクト
部CO.とにそれぞれオーミック接触しているため、こ
のトランジスタD,のベース・コレクタ間を短絡せして
、第1ダイオード手段として動作させる。また、この配
線〆8 はNPNトランジスタQ2のコレクタ・コンタ
クト部Co2 およびラテラルPNPトランジスタQ3
のベース・コンタクト部B。3にもそれぞれオーミック
接触している。
スとコレクタとの間、トランジスタQ4のベースとの間
、および抵抗Rの他端との間の電気的接続を構成する。
さらに配線夕8はまずラテラルPNPトランジスタD,
のベース・コンタクト部Bo,とコレクタ・コンタクト
部CO.とにそれぞれオーミック接触しているため、こ
のトランジスタD,のベース・コレクタ間を短絡せして
、第1ダイオード手段として動作させる。また、この配
線〆8 はNPNトランジスタQ2のコレクタ・コンタ
クト部Co2 およびラテラルPNPトランジスタQ3
のベース・コンタクト部B。3にもそれぞれオーミック
接触している。
したがって、この配線そ8はトランジスタD.のベース
とコレクタとの間、トランジスタQのベースとの間、お
よびトランジスタQ2のコレクタとの間の電気的接続を
構成している。また、第3図に示されている様に第1電
流源CS,の第1のダイオード手段として構成されたラ
テラル構造のPNPトランジスタD,の物理的面積は、
第1電流源CS,の第1トランジスタとして構成された
ラテラル構造のPNPトランジスタQの物理的面積と同
一にされており、特にそのラテラルPNPトランジスタ
のェミッタ・ベース接合面積は互いに等しくされており
、第2電流源CS2の第2ダイオード手段として構成さ
れたNPNトランジスタD2の物理的面積は、第2電流
源CS2の第2トランジスタQの物理的面積の2倍に設
定されており、特にトランジスタD2のェミツタ・ベー
ス接合面積はトランジスタQ、ェミッタ・べ−ス接合面
積の2倍となっている。
とコレクタとの間、トランジスタQのベースとの間、お
よびトランジスタQ2のコレクタとの間の電気的接続を
構成している。また、第3図に示されている様に第1電
流源CS,の第1のダイオード手段として構成されたラ
テラル構造のPNPトランジスタD,の物理的面積は、
第1電流源CS,の第1トランジスタとして構成された
ラテラル構造のPNPトランジスタQの物理的面積と同
一にされており、特にそのラテラルPNPトランジスタ
のェミッタ・ベース接合面積は互いに等しくされており
、第2電流源CS2の第2ダイオード手段として構成さ
れたNPNトランジスタD2の物理的面積は、第2電流
源CS2の第2トランジスタQの物理的面積の2倍に設
定されており、特にトランジスタD2のェミツタ・ベー
ス接合面積はトランジスタQ、ェミッタ・べ−ス接合面
積の2倍となっている。
一方、第4図は第3図に示した本発明の一実施例による
モノリシツク半導体集積回路をAA′間、BB′間でバ
ーチカル型NPNトランジスタQとラテラル型PNPト
ランジスタQ3をそれぞれ切断した断面図であり、バー
チカル型NPNトランジスタQ4はN+型埋込み領域1
3、N型コレクタ領域14、P型ベース領域15、N+
型ェミッタ領域16から構成され、ェミッタ領域、ベー
ス領域、コレクタ領域にはそれぞれアルミニウム薄膜配
線電極15,17,18がオーミツク接触しており、ラ
テラル型PNPトランジスタQはN十型埋込み領域17
、N型ベース領域18、P型ヱミッタ領域19、P型コ
レクタ領域20、N十高濃度ベース領域21から構成さ
れ、ェミッタ領域、コレクタ領域、高濃度ベースには2
1それぞれアルミニウム薄膜配線電極14,13,18
がオーミツク接触している。
モノリシツク半導体集積回路をAA′間、BB′間でバ
ーチカル型NPNトランジスタQとラテラル型PNPト
ランジスタQ3をそれぞれ切断した断面図であり、バー
チカル型NPNトランジスタQ4はN+型埋込み領域1
3、N型コレクタ領域14、P型ベース領域15、N+
型ェミッタ領域16から構成され、ェミッタ領域、ベー
ス領域、コレクタ領域にはそれぞれアルミニウム薄膜配
線電極15,17,18がオーミツク接触しており、ラ
テラル型PNPトランジスタQはN十型埋込み領域17
、N型ベース領域18、P型ヱミッタ領域19、P型コ
レクタ領域20、N十高濃度ベース領域21から構成さ
れ、ェミッタ領域、コレクタ領域、高濃度ベースには2
1それぞれアルミニウム薄膜配線電極14,13,18
がオーミツク接触している。
かかる本願発明の一実施例によれば、下記の理由により
初期の目的を達成することが出来る。
初期の目的を達成することが出来る。
差動入力端子(■ピン、■ピン)に等しい振幅値予を有
した2つの同相モード信号がそれるれ印加されたとする
と、共通抵抗Rには下式で示される信号電流iが流れる
。i=V/(R+re+ro2) ただしRは共通抵抗Rの抵抗値、reはトランジスタQ
,,Q2のェミッタ分布勤抵抗の抵抗値、r。
した2つの同相モード信号がそれるれ印加されたとする
と、共通抵抗Rには下式で示される信号電流iが流れる
。i=V/(R+re+ro2) ただしRは共通抵抗Rの抵抗値、reはトランジスタQ
,,Q2のェミッタ分布勤抵抗の抵抗値、r。
2 はダイオードD2の分布動抵抗の抵抗値である。
この信号電流iが共通抵抗Rに流れると、差動対トラン
ジスタQ,,Q2のそれぞれのベース・エミッタ間電圧
−電流特性がほぼ実質的に等しいので、この差動対トラ
ンジスタQ,,Q2にそれぞれ上記信号電流iの半分の
値の信号電流i/2が流れる。
ジスタQ,,Q2のそれぞれのベース・エミッタ間電圧
−電流特性がほぼ実質的に等しいので、この差動対トラ
ンジスタQ,,Q2にそれぞれ上記信号電流iの半分の
値の信号電流i/2が流れる。
この信号電流i/2はさらに第1ダイオード手段として
動作するPNPトランジスタD,に流れ、そのベース・
ェミッタ接合をバイアスし、バイアス電圧を発生する。
このバイアス電圧により第1電流源CS,の第1トラン
ジスタQ3のベース・ェミッタ接合をバイアスするが、
トランジスタD,とトランジスタQ3のェミツタ・ベー
ス接合面積が互いに等しくなっているため、第1トラン
ジスタQ3のコレクタより■ピンにi/2の信号電流が
流出する。一方共通抵抗Rに流れる信号電流iは第2ダ
イオード手段として動作するNPNトランジスタD2に
流れ、そのベース・ェミッタ接合をバィアスし、バイア
ス電圧を発生する。
動作するPNPトランジスタD,に流れ、そのベース・
ェミッタ接合をバイアスし、バイアス電圧を発生する。
このバイアス電圧により第1電流源CS,の第1トラン
ジスタQ3のベース・ェミッタ接合をバイアスするが、
トランジスタD,とトランジスタQ3のェミツタ・ベー
ス接合面積が互いに等しくなっているため、第1トラン
ジスタQ3のコレクタより■ピンにi/2の信号電流が
流出する。一方共通抵抗Rに流れる信号電流iは第2ダ
イオード手段として動作するNPNトランジスタD2に
流れ、そのベース・ェミッタ接合をバィアスし、バイア
ス電圧を発生する。
このバイアス電圧により第2電流源CS2の第2トラン
ジスタQのベース・ェミツタ接合をバイアスするが、ト
ランジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積は、トラン
ジスタD2のェミツタ・ベース接合面積の半分に設定さ
れているため、信号電流iの半分の信号電流i/2が■
ピンより第2トランジスタQ4のコレク外こ流入する。
従って、第1トランジスタQ3よりの信号電流i/2と
第2トランジスタQよりの信号電流i/2は大きさが互
いに等しく、位相が互いに逆相となっているため、互い
に相殺し、差動入力端子に印加されるいかなる同相モー
ド信号によっても、出力端子(■ピン)には、この同相
モード信号に影響された信号電流が発生することはなく
、優れたCMRR(同相モード信号除去比)を得ること
が出来た。
ジスタQのベース・ェミツタ接合をバイアスするが、ト
ランジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積は、トラン
ジスタD2のェミツタ・ベース接合面積の半分に設定さ
れているため、信号電流iの半分の信号電流i/2が■
ピンより第2トランジスタQ4のコレク外こ流入する。
従って、第1トランジスタQ3よりの信号電流i/2と
第2トランジスタQよりの信号電流i/2は大きさが互
いに等しく、位相が互いに逆相となっているため、互い
に相殺し、差動入力端子に印加されるいかなる同相モー
ド信号によっても、出力端子(■ピン)には、この同相
モード信号に影響された信号電流が発生することはなく
、優れたCMRR(同相モード信号除去比)を得ること
が出来た。
また、本発明のかかる実施例において、優れたCM旧R
を得るために、多くの回路素子を必要とする定電流源回
路が使用されていないため、回路を構成するための回路
素子数が、トランジスタが4個、ダイオードが2個、抵
抗が1個、合計7個となり、従来より2個回路素子を削
減することが出来た。
を得るために、多くの回路素子を必要とする定電流源回
路が使用されていないため、回路を構成するための回路
素子数が、トランジスタが4個、ダイオードが2個、抵
抗が1個、合計7個となり、従来より2個回路素子を削
減することが出来た。
一方、本願発明はかかる一実施例に限定されるものでは
なく、種々変形した実施態様を採用することが出来る。
なく、種々変形した実施態様を採用することが出来る。
第2図は本願発明の第2の実施例による差動増幅器の回
路図を示し、第1図に示した実施例と異なる点は、第1
電流源CS,であり、2つのコレクタCP,,CP2を
有したマルチコレクタ・ラテラルPNPトランジスタQ
3から構成されている。このマルチコレクタ・ラテラル
PNPトランジスタの一つのコレクタCP2 はそのベ
ースと短絡されるとともに、差動対トランジスタの一方
のトランジスタQ2のコレクタに接続されているため、
第1供給電源端子(■ピン)とトランジスタQ2のコレ
クタとの間に第1ダイオード手段を接続した回路と等価
となる。また、このマルチコレクタ・ラテラルPNPト
ランジスタの一つのコレクタCp・,CF2のベース・
コレクタ接合面積は互いに等されており、第1図の実施
例と同様にトランジスタD2のェミッタ・ベース接合面
積はトランジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積の2
倍となっている。この第2図に示した本発明の実施例に
よる差動増幅器をモノリシツク半導体集積回路に構成し
た時の、構造図面が第5図に示されている。同図に示さ
れている様に、第1電流源CS.のダイオード手段D,
と第1トランジスタにより構成されている。このマルチ
コレクタ・ラテラルPNPトランジスタはN型ベース領
域B′Pの中心部に配置されたP型ェミッタ領域に設け
られたェミツタ・コンタクト部EPと、このP型ェミッ
タ領域の周辺に配置された2つのP型コレクタ領域にそ
れぞれ設けられたコレクタ・コンタクト部CP,,CP
2と、外周に配置されたN+型高濃度ベース領域に設け
られたベース・コンタクト部BPとを有している。また
上記2つのP型コレクタ領域とN型ベース領域との間に
形成された2つのベース・コレクタ薮合面積は互いに等
しくされている。ェミッタ・コンタクト部EPは配線1
4とオーミック接触し、一方のコレクタ・コンタクト部
CP,は配線13とオーミック接触し、他方のコレクタ
・コンタクト部CP2とベース・コンタクト部BPはと
もに配線13とオーミツク接触し、さらにトランジスタ
Q2のコレクタ・コンタクト部Co2に接続されている
。かかる実施例においては、第1ダイオード手段D,と
して動作するところのェミッタ・コンタクト部EP、コ
レクタ・コンタクト部CP2ベース・コンタクト部BP
に流れる電流と実質的に等しい電流が第1トランジスタ
Q3として動作するところのェミッタ・コンタクト部E
Pとコレクタ・コンタクト部CP,に流れるため、第1
図と第3図とに示した本発明の第1の実施例と同様に初
期の目的を達成することが出来る。
路図を示し、第1図に示した実施例と異なる点は、第1
電流源CS,であり、2つのコレクタCP,,CP2を
有したマルチコレクタ・ラテラルPNPトランジスタQ
3から構成されている。このマルチコレクタ・ラテラル
PNPトランジスタの一つのコレクタCP2 はそのベ
ースと短絡されるとともに、差動対トランジスタの一方
のトランジスタQ2のコレクタに接続されているため、
第1供給電源端子(■ピン)とトランジスタQ2のコレ
クタとの間に第1ダイオード手段を接続した回路と等価
となる。また、このマルチコレクタ・ラテラルPNPト
ランジスタの一つのコレクタCp・,CF2のベース・
コレクタ接合面積は互いに等されており、第1図の実施
例と同様にトランジスタD2のェミッタ・ベース接合面
積はトランジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積の2
倍となっている。この第2図に示した本発明の実施例に
よる差動増幅器をモノリシツク半導体集積回路に構成し
た時の、構造図面が第5図に示されている。同図に示さ
れている様に、第1電流源CS.のダイオード手段D,
と第1トランジスタにより構成されている。このマルチ
コレクタ・ラテラルPNPトランジスタはN型ベース領
域B′Pの中心部に配置されたP型ェミッタ領域に設け
られたェミツタ・コンタクト部EPと、このP型ェミッ
タ領域の周辺に配置された2つのP型コレクタ領域にそ
れぞれ設けられたコレクタ・コンタクト部CP,,CP
2と、外周に配置されたN+型高濃度ベース領域に設け
られたベース・コンタクト部BPとを有している。また
上記2つのP型コレクタ領域とN型ベース領域との間に
形成された2つのベース・コレクタ薮合面積は互いに等
しくされている。ェミッタ・コンタクト部EPは配線1
4とオーミック接触し、一方のコレクタ・コンタクト部
CP,は配線13とオーミック接触し、他方のコレクタ
・コンタクト部CP2とベース・コンタクト部BPはと
もに配線13とオーミツク接触し、さらにトランジスタ
Q2のコレクタ・コンタクト部Co2に接続されている
。かかる実施例においては、第1ダイオード手段D,と
して動作するところのェミッタ・コンタクト部EP、コ
レクタ・コンタクト部CP2ベース・コンタクト部BP
に流れる電流と実質的に等しい電流が第1トランジスタ
Q3として動作するところのェミッタ・コンタクト部E
Pとコレクタ・コンタクト部CP,に流れるため、第1
図と第3図とに示した本発明の第1の実施例と同様に初
期の目的を達成することが出来る。
第6図と第7図とは、それぞれ本発明の第3と第4の実
施例による差動増幅回路の回路図で、第1と第2の実施
例の変形の実施例となっており第2電流源CS2の第2
ダイオードの構成が異なっている。
施例による差動増幅回路の回路図で、第1と第2の実施
例の変形の実施例となっており第2電流源CS2の第2
ダイオードの構成が異なっている。
すなわち、第2ダイオードは第2トランジスタQ4のベ
ース・ェミッタ接合面積と実質的に等しいPN接合面積
それぞれを有した2個のダイオードD2,,D22の並
列接続から構成されている。第8図は本発明の第5の実
施例による差動増幅回路の回路図であり、負電源(−V
EE)を使用しているため、差動対トランジスタQ,,
Q2はラテラル・PNPトランジスタで、第1電流源C
S,の第1ダイオードD,と第1トランジスタQ3はN
PNトランジスタで、第2電流源CS2はマルチコレク
タ・ラテラルPNPトランジスタで構成されている。ま
た、このトランジスタD,のエミツタ・ベース接合面積
はトランジスタQ3のェミッタ・ベース接合面積と等し
くなっている。一方、このマルチコレクタ・ラテラルP
NPトランジスタQの第1コレクタC,と第2コレクタ
C2とを有し、第2コレクタC2のベース・コレクタ接
合面積は第1コレクタC,のベース・コレクタ接合面積
の2倍となっており、第2コレクタC2がPNPトラン
ジスタQのベースに短絡されているため、等価的にトラ
ンジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積の2倍のPN
接合面積を有した第2ダイオードD2がトランジスタQ
4のェミッタ・ベース間に日頃方向に接続された回路に
なり、上述の各実施例と同様に初初期の目的を達成する
ことが出釆る。第9図は本発明による差動増幅器をモノ
リシック半導体集積回路に達成された音響用高出力電力
増幅回路の初段増幅器として利用した実施例を示してお
り、■ピンに印加された入力信号を増幅し、増幅トラン
ジスタQ,o〜Q,4等からなる出力プッシュプル出力
電力増幅回路の初段増幅器として利用した実施例を示し
ており、■ピンに印加された入力信号を増幅し、増幅ト
ランジスタQ,o〜Q,4等からなる出力プッシュプル
出力段にその出力信号を供給する。かかる音響用高出力
電力増幅回路の初段増幅器として利用された差動増幅器
は、下記に説明する如く電源電圧Vccに車畳したリッ
プル成分に対し実質的に不感応であり、動作安定性が極
めて高いという利用を有する。
ース・ェミッタ接合面積と実質的に等しいPN接合面積
それぞれを有した2個のダイオードD2,,D22の並
列接続から構成されている。第8図は本発明の第5の実
施例による差動増幅回路の回路図であり、負電源(−V
EE)を使用しているため、差動対トランジスタQ,,
Q2はラテラル・PNPトランジスタで、第1電流源C
S,の第1ダイオードD,と第1トランジスタQ3はN
PNトランジスタで、第2電流源CS2はマルチコレク
タ・ラテラルPNPトランジスタで構成されている。ま
た、このトランジスタD,のエミツタ・ベース接合面積
はトランジスタQ3のェミッタ・ベース接合面積と等し
くなっている。一方、このマルチコレクタ・ラテラルP
NPトランジスタQの第1コレクタC,と第2コレクタ
C2とを有し、第2コレクタC2のベース・コレクタ接
合面積は第1コレクタC,のベース・コレクタ接合面積
の2倍となっており、第2コレクタC2がPNPトラン
ジスタQのベースに短絡されているため、等価的にトラ
ンジスタQ4のェミッタ・ベース接合面積の2倍のPN
接合面積を有した第2ダイオードD2がトランジスタQ
4のェミッタ・ベース間に日頃方向に接続された回路に
なり、上述の各実施例と同様に初初期の目的を達成する
ことが出釆る。第9図は本発明による差動増幅器をモノ
リシック半導体集積回路に達成された音響用高出力電力
増幅回路の初段増幅器として利用した実施例を示してお
り、■ピンに印加された入力信号を増幅し、増幅トラン
ジスタQ,o〜Q,4等からなる出力プッシュプル出力
電力増幅回路の初段増幅器として利用した実施例を示し
ており、■ピンに印加された入力信号を増幅し、増幅ト
ランジスタQ,o〜Q,4等からなる出力プッシュプル
出力段にその出力信号を供給する。かかる音響用高出力
電力増幅回路の初段増幅器として利用された差動増幅器
は、下記に説明する如く電源電圧Vccに車畳したリッ
プル成分に対し実質的に不感応であり、動作安定性が極
めて高いという利用を有する。
すなわち、■ピンに供給された電源電圧Vccのリップ
ル成分はまず抵抗R,o,、コンデンサC,o,により
構成された第1のリップルフィルタによって減衰される
。
ル成分はまず抵抗R,o,、コンデンサC,o,により
構成された第1のリップルフィルタによって減衰される
。
この第1のリップルフィルタによって減衰されたりップ
ル成分は、抵抗R,。2、コンデンサC,。
ル成分は、抵抗R,。2、コンデンサC,。
3によって構成された第2のリップルフィル外とよって
さらに減衰される。
さらに減衰される。
一方、トランジスタQ.のベースには初段増幅器の入力
インピーダンスを高めるための入力抵抗R,。
インピーダンスを高めるための入力抵抗R,。
4が接続されるとともに入力結合コンデンサC,。
2を介して入力端子INPUTに接続されている。
さらにこの入力端子に一般にイコラィザアンブ等の前置
増幅器の出力回路に接続され、この前層増幅器の出力回
路は有限の出力低邸を有する。従って、トランジスタQ
,のベースに伝達された電源リップル成分はさらにこの
入力抵抗R腿と入力結合コンデンサC,。2とによって
減衰される。
増幅器の出力回路に接続され、この前層増幅器の出力回
路は有限の出力低邸を有する。従って、トランジスタQ
,のベースに伝達された電源リップル成分はさらにこの
入力抵抗R腿と入力結合コンデンサC,。2とによって
減衰される。
従って差動対トランジスタQ,,Q2のェミッタに接続
された共通抵抗R2とダイオードD2との直列径路に流
れるところの電源リップル成分に影響されたりップル電
流は、上記第1のリップルフィルタ、上記第2のリップ
ルフィルタおよび入力抵抗R,o4と入力結合コンデン
サCMによって低減されるため、ダイオードD2の動作
実効PN接合面積とトランジスタQの動作実効PN接合
面積の比が2:1からずれたり、ダイオードD,の動作
実効PN接合面積とトランジスタQ3の動作実効PN接
合面積の比が1:1からずれたとしても、増幅トランジ
スタQ,oのベースに伝達されるリツプル成分を低減す
ることができる。従って、■ピンに供給された電源電圧
Vccのリップル成分が比較的小さい場合は、コンデン
サC,。
された共通抵抗R2とダイオードD2との直列径路に流
れるところの電源リップル成分に影響されたりップル電
流は、上記第1のリップルフィルタ、上記第2のリップ
ルフィルタおよび入力抵抗R,o4と入力結合コンデン
サCMによって低減されるため、ダイオードD2の動作
実効PN接合面積とトランジスタQの動作実効PN接合
面積の比が2:1からずれたり、ダイオードD,の動作
実効PN接合面積とトランジスタQ3の動作実効PN接
合面積の比が1:1からずれたとしても、増幅トランジ
スタQ,oのベースに伝達されるリツプル成分を低減す
ることができる。従って、■ピンに供給された電源電圧
Vccのリップル成分が比較的小さい場合は、コンデン
サC,。
,を省略することができる。以上本願発明の各種実施例
を説明したが、本発明の差動対トランジスタQ,,Q2
はバィポーラ型トランジスタ以外にし、MOS型電界効
果トランジスタ、接合型電界効果トランジスタ等の入力
電極と接地電極と出力電極とを持った増幅素子を用いる
ことが出来る。
を説明したが、本発明の差動対トランジスタQ,,Q2
はバィポーラ型トランジスタ以外にし、MOS型電界効
果トランジスタ、接合型電界効果トランジスタ等の入力
電極と接地電極と出力電極とを持った増幅素子を用いる
ことが出来る。
第1図、第2図はそれぞれ本発明の第1および第2の実
施例による差動増幅器の回路図、第3図は第1図の本発
明の差動増幅器をモノリシック半導体集積回路に構成し
た時の構造図面、第4図は第3図の一部断面図、第5図
は第2図の本発明の差動増幅器をモノリシック半導体集
積回路に構成した時の構造図面、第6図、第7図、第8
図はそれぞれ本発明の第3、第4および第5の実施例に
よる蓋動増幅器の回路図、第9図は本発明による差動増
幅器を音響用高出力電力増幅回路の初段増幅器として利
用した実施例を示し、第10図は従来より公知の差敷増
幅器、第11図は従来より公知の電流源回路を示す。 Q,,Q2・・・差動対トランジスタ、CS.・・・第
1電流源、Dr・第1ダイオード、Q…第1トランジス
タ、CS2・・・第2電流源、D2・・・第2ダイオー
ド、Q4・・・第2トランジスタ、R・・・共通抵抗。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図 第11図
施例による差動増幅器の回路図、第3図は第1図の本発
明の差動増幅器をモノリシック半導体集積回路に構成し
た時の構造図面、第4図は第3図の一部断面図、第5図
は第2図の本発明の差動増幅器をモノリシック半導体集
積回路に構成した時の構造図面、第6図、第7図、第8
図はそれぞれ本発明の第3、第4および第5の実施例に
よる蓋動増幅器の回路図、第9図は本発明による差動増
幅器を音響用高出力電力増幅回路の初段増幅器として利
用した実施例を示し、第10図は従来より公知の差敷増
幅器、第11図は従来より公知の電流源回路を示す。 Q,,Q2・・・差動対トランジスタ、CS.・・・第
1電流源、Dr・第1ダイオード、Q…第1トランジス
タ、CS2・・・第2電流源、D2・・・第2ダイオー
ド、Q4・・・第2トランジスタ、R・・・共通抵抗。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図 第11図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力電極と接地電極と出力電極とを有し該接地電極
が互いに差動的に接続された第1増幅素子Q_1および
第2増幅素子Q_2、第1供給電源端子、第2供給電源
端子、第1ダイオード手段D_1と第1導電型の第1ト
ランジスタQ_3とからなる第1電流源手段CS_1、
第2ダイオード手段D_2と第2導電型の第2トランジ
スタQ_4とからなる第2電流源手段CS_2および共
通インピーダンス手段R_2その一端が上記第1供給電
源端子に接続された第1バイアス抵抗R_1_0_2、
その一端とその他端とが上記バイアス抵抗R_1_0_
2の他端と上記第2供給電源端子とにそれぞれ接続され
た第2バイアス抵抗R_1_0_3、その一端が上記第
1増幅素子Q_1の上記入力端子に接続されその他端が
上記第1バイアス抵抗R_1_0_2と上記第2バイア
ス抵抗R_1_0_3との共通接続点に接続された入力
抵抗R_1_0_4、上記第1バイアス抵抗R_1_0
_2および上記第2バイアス抵抗R_1_0_3の上記
共通接続点と上記第2供給電源端子との間に接続された
電源リツプル除去用第1コンデンサC_1_0_3、入
力端子INPUTと上記第1増幅素子Q_1の上記入力
電極および上記入力抵抗R_1_0_4の上記一端との
間に接続された入力結合コンデンサC_1_0_2を具
備してなり、上記第1ダイオード手段D_1が上記第2
増幅素子Q_2の上記出力端子と上記第1供給電源端子
との間に接続され、上記第1トランジスタQ_3のベー
スとエミツタとがそれぞれ第2増幅素子Q_2の上記出
力端子と上記第1供給電源端子に接続され、上記第1増
幅素子Q_1および上記第2増幅素子Q_2の上記接地
電極と上記第2供給電源端子との間に上記共通インピー
ダンス手段R_2と上記第2ダイオード手段D_2とが
直列接続され、上記第2ダイオード手段D_2の一端お
よび上記第2トランジスタQ_4のエミツタが共通に接
続され、上記第1トランジスタQ_3のコレクタと上記
第2トランジスタQ_4のコレクタとが出力点に接続さ
れ、上記第1増幅素子Q_1と上記第2増幅素子Q_2
の電気的特性が互いに実質的に等しく設定され、上記第
1ダイオード手段D_1の動作実効PN接合面積が上記
第1トランジスタQ_3の動作実行PN接合面積と実質
的に等しく設定され、上記第2ダイオード手段D_2の
動作実効PN接合面積が上記第2トランジスタQ_4の
動作実効PN接合面積の2倍に実質的に等しく設定され
、上記第1供給電源端子における電源リツプル成分を上
記第1バイアス抵抗R_1_0_2と上記電源リツプル
除去用第1コンデンサC_1_0_3とで減衰せしめ、
この減衰された電源リツプル成分をさらに上記入力抵抗
R_1_0_4と上記入力結合コンデンサC_1_0_
2とによって減衰せしめ、この減衰成分が上記第1増幅
素子Q_1の上記入力電極−上記接地電極を介して上記
共通インピーダンスR_2と上記第2ダイオード手段D
_2の直列系路に伝達され、上記第1電流源手段CS_
1もしくは上記第2電流源手段CS_2を介して上記出
力端子に伝達される電源リツプル成分の影響を低減する
ことを特徴とする差動増幅器。 2 上記第1バイアス抵抗R_1_0_2の上記一端と
上記第1供給電源端子との間に第3バイアス抵抗R_1
_0_1接続されるとともに上記第1バイアス抵抗R_
1_0_2および上記第3バイアス抵抗R_1_0_1
の共通接続点と上記第2供給電源端子との間に電源リツ
プル除去用第2コンデンサC_1_0_1が接続されて
なることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の差動
増幅器。 3 上記第2ダイオード手段D_2はそのコレクタとそ
のベースが上記共通インピーダンス手段R_2に接続さ
れそのエミツタが上記第2供給電源端子に接続された第
2導電型のトランジスタにより構成されたことを特徴と
する特許請求の範囲第2項記載の差動増幅器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP50119765A JPS604612B2 (ja) | 1975-10-06 | 1975-10-06 | 差動増幅器 |
US05/691,100 US4051443A (en) | 1975-10-06 | 1976-05-28 | Differential amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP50119765A JPS604612B2 (ja) | 1975-10-06 | 1975-10-06 | 差動増幅器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5244142A JPS5244142A (en) | 1977-04-06 |
JPS604612B2 true JPS604612B2 (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=14769619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50119765A Expired JPS604612B2 (ja) | 1975-10-06 | 1975-10-06 | 差動増幅器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4051443A (ja) |
JP (1) | JPS604612B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55112015A (en) * | 1979-02-20 | 1980-08-29 | Nec Corp | Voltage follower circuit |
JPS56106196U (ja) * | 1980-01-17 | 1981-08-18 | ||
US4665547A (en) * | 1984-11-02 | 1987-05-12 | At&T Company | Limiting amplifier for common mode feedback in telephone line feed circuits |
JPH01154252U (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-24 | ||
JP4569022B2 (ja) * | 2001-03-26 | 2010-10-27 | パナソニック株式会社 | 差動増幅装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5036053A (ja) * | 1973-08-02 | 1975-04-04 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3840819A (en) * | 1972-12-29 | 1974-10-08 | Rca Corp | Signal combining circuit |
-
1975
- 1975-10-06 JP JP50119765A patent/JPS604612B2/ja not_active Expired
-
1976
- 1976-05-28 US US05/691,100 patent/US4051443A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5036053A (ja) * | 1973-08-02 | 1975-04-04 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4051443A (en) | 1977-09-27 |
JPS5244142A (en) | 1977-04-06 |
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