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JPS60262036A - 光学一軸結晶体の光学欠陥検出装置 - Google Patents

光学一軸結晶体の光学欠陥検出装置

Info

Publication number
JPS60262036A
JPS60262036A JP11847584A JP11847584A JPS60262036A JP S60262036 A JPS60262036 A JP S60262036A JP 11847584 A JP11847584 A JP 11847584A JP 11847584 A JP11847584 A JP 11847584A JP S60262036 A JPS60262036 A JP S60262036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
refractive index
specimen
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11847584A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiko Miyazawa
宮澤 俊彦
Kiyokazu Hagiwara
萩原 清和
Hiromichi Mitsuda
満田 宏通
Masahiro Nagasawa
長沢 雅浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11847584A priority Critical patent/JPS60262036A/ja
Publication of JPS60262036A publication Critical patent/JPS60262036A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は表面が凹凸をなした光学−軸結凸体の光学欠陥
を検出する装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、光学−軸結凸体を材料とするプリズムや位相差板
などの製造にあっては、時間や経費の無駄を削減するた
めに、光学−軸結凸体に内在する光学欠陥、いわゆる髭
、異物、脈理等を素材あるいは加工工程の初期段階で厳
しく検査できることが強く要望されてきた。
本発明者らは、前述の目的に沿って光学−軸結凸体の光
学欠陥を検出する装置の開発検討を進込ており、水晶原
石め脈理検査装置を特許出願している。以下この装置に
ついて、図面を参照しながら説明する。第1図は従来考
えられた装置の正面図であり゛、1はテーブル、2は被
験体である水晶原石、3は屈折率が被験体とほぼ等しい
液体(以後マツチング液という)、4は被験体およびマ
ツチング液を収容するだめのガラス製容器、6はレンズ
、6は前記レンズの焦点に位置するところに設けられた
点光源、7は撮像管、8は撮像管の受光部、9は透過光
像を前記撮像管に導き入れるためにテーブル面に設けら
れた貫通孔、10は前記撮像管と電気的に接続されたテ
レビジョン受像機、11.!、−よび12は暗箱である
以上の構成において、点光源6から放出された白色光は
レンズ5で平行光束となり、こめ光線をマツチング液3
を介して水晶原石2上に照射すると、撮像管7の受光部
8では光線の通路に存在するマツチング液3、水晶原石
そおよびガラス製容器4を含めた透過光像が捉えられ、
像の明暗に対応した電気信号に光電変換されてテレビジ
ョン受隊機10に映し出される。水晶原石内の光学欠陥
については、テレビジョン受像機10のスクリーン上で
の局部的な明暗とその形状から識別されていた。なお、
暗箱11および12は外部からの迷光を遮断するだめの
ものである。iこで被検体をマツチング液中に浸漬する
のは竺験体表面の凹凸面で起こる光の不規則な散乱を防
止し透光性の向上と透過光量を均一に保とうとするもの
であり、−そのだめには被験体とマツチング液の屈折率
が完全に一致していることが望まれる。
ところで被験体の屈折率は照射する光の波長によって変
化する、また被験体が光学−軸結函体の場合は照射光の
波長が一定であっても、通常、常光線屈折率と異常光線
屈折率の二つの異な−た屈折率を示す。したがって、光
源に白色光を用いて光学−軸結函体である水晶原石を扱
う前述の従来装置では水晶原石とマツチング液の屈折率
を一致させることができず、この状態では表面の粗い被
験体には適用が困難であるので、欠陥観察はもつばら表
面の粗さが30μm以下のものに限られていた。
発明の目的 本発明の目的は、照射光の波長に伴なう被験体の屈折率
の変動を除去すると共に光束を被験体の特定方向から入
射して光学的等方体と同様の特性を得、被験体とマツチ
ング液の屈折率を一致させることによって欠陥観察で障
害となる被験体表面での光の散乱を極度に排除した光学
−軸結函体の光学欠陥検出装置を提供することにある。
発明の構成 1 本発明の光学−軸結函体の光学欠陥検出装置は、被験体
の一側より光を照射し、透過光あるいは透過光像から被
験体中の光学欠陥を検知する装置にあって、単色平行束
光源と、同光源に受光窓を対向配置させた受光手段と、
同受光手段と光源との間に、被験体である光学−軸結函
体と、同被験体の前記光源の波長における常光線屈折率
と同等の屈折率を有する液体と、同液体および被験体を
収容する透光性容器とを備えており、また欠陥観察に先
立って、被験体を同被験体の光学軸が照射光束に対して
平行になるように配置している。このため、被験体の屈
折率は常光線屈折率のみとなり、マツチング液の屈折率
を被験体のそれに一致させることによって欠陥観察で障
害となる被験体表面での光の散乱を極度に排除せしめる
ことができる8実施例の説明 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
第2図は本発明の一実施例における光学欠陥検出装置の
正面図を示すものである。図面にお〆て21は単色平行
束光源、22は被検体である光学−軸結函体、23は屈
折率が前記光源の波長における被験体の常光線屈折率と
同等のマツチング液、24は被験体とマツチング液を収
容するための透光性容器、26は同容器を載置するだめ
のテーブル、26は受光手段である撮像管、27は前記
撮像管の受光窓、28は前記撮像管と電気的に接続され
たテレビジョン受像機、29は透過光像を受光手段に導
くためにテーブル面に設けられた貫通孔、30は暗箱で
ある。
以上の構成によると、単色平行束光源21から放出され
た光はマツチング液23を介して被験体22に照射され
、マツチング液23i被験体22および透光性容器24
の一部を含む透過光像が撮像管26で捉えられ、像の明
暗に対応した電気信号に光電変換されてテレビジョン受
像機28に映し出される。被験体22内の光学欠陥につ
いては、テレビジョン受像機28のスクリーン上での局
部的な明暗とその形状から識別される。
第3図は光学−軸結具体内を伝播する光の屈“折率を示
すだめの原理図である。光学−軸結函体は異常光線主屈
折率と常光線屈折率をもち、その大小関係によシ正ある
いは負の結晶体に区別されるが、いずれであっても構わ
ないので、ここでは便宜的に正の一軸結晶体の屈折率楕
円体で表わした。
図面において31は光学軸でもあるZ軸、32はX軸、
33はY軸、34は前記の各々の軸が直交する原点、3
6は屈折率楕円体面、36および37は模範的に選んだ
結晶内を伝播する二つの光の波面法線で、前者はZ軸と
波面法線が平行な場合、後者はZ軸と波面法線が平行で
ない場合を示しており、38および39は前記原点を含
み、それぞれ前記の波面法線に垂直な切断面である。
以上のように示される図を用いて光学−軸結凸体内を伝
播する光の屈折率について説明する。まず、結晶内を伝
播する光はその波面法線と2軸31を含む面(以後主断
面という)に対して平行−に振動する直線偏光と垂直に
振動する直線偏光とに分解して考えることができるが、
このときの両者の屈折率は波面法線に垂直な切断面上の
原点34から屈折率楕円体面36までの長さで表わされ
る。
例えば、波面法線37をもつ光の場合、主断面に垂直な
方向に振動する直線偏光の屈折率は、切断面39上にお
ける原点34から主断面に直交する方向の長さで与えら
れるが、X軸32方向とY軸33方向の屈折率が等しく
屈折率楕円体は回転楕円体であるから、2軸31と波面
法線37との傾きによらず一定で常光線屈折率と呼ばれ
る値となる。一方、主断面に平行な方向で振動する直線
偏光の屈折率は、切断面39と主断面が交わる稜線上の
原点34からの長さで与えられるが、2軸31と波面法
線37との傾きによって値が変化し、いわゆる異常光線
屈折率と呼ばれる値を示す。前述の異常光線主屈折率に
ついては2軸31方向での原点34からの長さに相当す
る屈折率である。
次に本発明で規定している波面法線36をもつ光の場合
には、切断面38が円形となるため、常光線屈折率と異
常光線屈折率は等しい値となる。
すなわち、単色光が被験体の光学軸に沿って伝播する場
合に限って光学−軸結具体を光学的等方体と同様にみな
すことができる。
以上のように本実施例によれば、単色平行束光を被験体
の光学軸方向から照射すると、被験体は常光線屈折率を
もつ光学等方体とみなせるからマツチング液の屈折率を
常光線屈折率に一致させることによって被験体表面で起
こる光の不規則な散乱を防止し、従来考えられた装置で
不可能であった表面の粗い被験体の欠陥観察を実現して
いる。
次K、以上の構成にもとづいて作製した水晶片の光学欠
陥検出装置と、これによって得られた結果について述べ
る。
単色平行束光源としては、15V、150Wのハロゲン
ランプから放出される白色光を中心波長が590nm、
半価幅が5nm’の干渉膜フィルターで単色化し、0.
3mm径のピンホールを通過させた後、凸レンズで平行
光束にして用いた。マツチング液は、屈折率の異なる2
種類のシリコン油ヲ28℃の液温下で調合し、屈折率を
水晶の28℃における常光線屈折率である1、5442
に一致させた。透光性容器としては光学欠陥のない磨き
ガラス板を接着剤で固定して作製した容器を用いた。
受光手段には1 ooo’rv本以上の高解像度の1イ
ンチ撮像管を内蔵したテレビジョンカメラヲレンズを取
りはずして用い、モニター用のテレビジョン受像機には
700TV本以上の解像度のものを用いた。
前述の部品および機器で構成した光学欠陥検出装置を用
いて、幅60mmX長さ150mmX厚さ約15mm(
7)形状で−II−240〜1000の研摩砥粒で両生
平面を研摩した種結晶を含まないZ板水晶片についてZ
軸方向から脈理検査を行なった。
その結果、従来考えられた装置に比べて、より粗い表面
の水晶片の脈理が観察でき、表面の粗さが50μm以下
の状態において脈理を明瞭に識別することができた。
なお、これまで述べた観点から光源としてはナトリウム
灯のような単色光が望ましいが、前述の(光源であって
も水晶の屈折率の変動が±0pO015と小さいために
欠陥観察に支障を生じなかった。
また光源の光束の平行性に関して、発散光であっても受
光窓へ入射する光束の傾きが3°以内にあれば欠陥観察
に%に支障をきださないことがわかった。観察時の温度
は28℃にこだわらないが、被験体、マツチング液とも
屈折率が温度によって影響を受けるので温度管理をする
必要がある。
発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明の光学−軸結黒
体の光学欠陥検出装置は、被験体の一側より光を照射し
、透過光あるいは透過光像から被験体中の光学欠陥を検
知する装置にあって、単色平行束光源と、同光源に受光
窓を対向配置させた受光手段と、同受光手段と光源との
間に、被験体である光学−軸結黒体と、同被験体の前記
光源の波長における常光線屈折率と同等の屈折率を有す
る液体と、同液体および被験体を収容する透光性容器と
を備えておシ、これによって照射光の波長に伴なう被験
体の屈折率の変動を除去している。
−1だ、被験体の光学軸を照射光束に対して′平行とな
るように被験体を配置したことによって常光線屈折率を
もつ光学等方体とみなすことができるから、被験体とマ
ツチング液の屈折率を一致させることによって欠陥観察
で障害となる被験体表面での光の散乱を極度に排除し、
従来できなかった表面の凹凸の激しい被験体に対しても
欠陥観察かできるという優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来考えられた水晶原石の脈理検査装置の正面
図、第2図は本発明の一実施例における光学−軸結黒体
の光学欠陥検出装置の正面図、第3図は本発明の一実施
例における光学−軸結晶体内を光学軸に平行して゛伝播
する光の屈折率を示す原理図である。 21・・・・・・単色平行束光源、22・・・・・・被
験体、23・・・・・・マツチング液、24・・・・・
・透光性容器、26・・・・・・テーブル、26・・・
・・・受光手段、27・・・・・・受光窓、28・・・
・・・テレビジョン受像機、29・・・・・・貫通孔、
30・・・・・・暗箱、31・・・・・・Z軸、32・
・・・・・X軸、33・・・・・・Y軸、34・・・・
・・原点、35・・・・・・屈折率楕円体面、36.3
7・・・・・・波面法線、38.39・・・・・・切 
l断面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名5第
1図 第2図 I

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被験体の一側から光を照射し、透過光あるいは透
    過光像かも被験体中の光学欠陥を検知する装置であって
    、単色平行束光源と、同光源に受光窓を対向配置させた
    受光手段と、同受光手段と光源との間に、被験体である
    光学−軸結凸体と、同被験体の前記光源の波長における
    常光線屈折率と同等の屈折率を有する液体と、同液体お
    よび被験体を収容する透光性容器とを備えてなる光学−
    軸結凸体の光学欠陥検出装置。
  2. (2)被験体を同被験体の光学軸が照射光束に対して平
    行となるように配置した特許請求の範囲第1項記載の光
    学−軸結凸体の光学欠陥検出装置。
JP11847584A 1984-06-08 1984-06-08 光学一軸結晶体の光学欠陥検出装置 Pending JPS60262036A (ja)

Priority Applications (1)

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JP11847584A JPS60262036A (ja) 1984-06-08 1984-06-08 光学一軸結晶体の光学欠陥検出装置

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Publications (1)

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JPS60262036A true JPS60262036A (ja) 1985-12-25

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ID=14737590

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JP11847584A Pending JPS60262036A (ja) 1984-06-08 1984-06-08 光学一軸結晶体の光学欠陥検出装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007023444A2 (en) * 2005-08-22 2007-03-01 Galatea Ltd. A method for evaluation of a gemstone
US7800741B2 (en) 2005-08-22 2010-09-21 Galatea Ltd. Method for evaluation of a gemstone
KR101039686B1 (ko) 2002-05-13 2011-06-08 쇼오트 아게 연속적으로 제조되어 이동하는 대상투명판의 결점들을검출하기 위한 방법과 장치

Cited By (6)

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WO2007023444A3 (en) * 2005-08-22 2007-06-07 Galatea Ltd A method for evaluation of a gemstone
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