JPS60239024A - 基板の位置決め装置 - Google Patents
基板の位置決め装置Info
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- JPS60239024A JPS60239024A JP59094061A JP9406184A JPS60239024A JP S60239024 A JPS60239024 A JP S60239024A JP 59094061 A JP59094061 A JP 59094061A JP 9406184 A JP9406184 A JP 9406184A JP S60239024 A JPS60239024 A JP S60239024A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70733—Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
- G03F7/7075—Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は半導体ウェハやガラスマスク等の基板(1)
の位置決め装置に関し、特に位置決め精度が要求される
露光装置に好適な位置決め装置に関する。
露光装置に好適な位置決め装置に関する。
(発明の背景)
近年、IC+LSI等の半導体装置を製造する露光装置
として、縮小投影型露光装置が生産現場に多数使わする
ようになってきた。この装置はレチクルと呼ばれる原版
に描かれた回路パターンの像を投影レンズで縮小して半
導体ウェハ(以丁単にウェハとする)上に露光するもの
である。回路パターンの投影像の大きさは高々20cm
角程度であり、ウェハの直径は100m〜150■程度
であるため、この装置ではウェハを2次元移動するステ
ージに載置して、ウェハを投影像に対して歩進(ステッ
ピング)させてから露光することを繰り返す、所請ステ
ップアンドリピート法によりウェハ全面への回路パター
ンの転写を行なう。
として、縮小投影型露光装置が生産現場に多数使わする
ようになってきた。この装置はレチクルと呼ばれる原版
に描かれた回路パターンの像を投影レンズで縮小して半
導体ウェハ(以丁単にウェハとする)上に露光するもの
である。回路パターンの投影像の大きさは高々20cm
角程度であり、ウェハの直径は100m〜150■程度
であるため、この装置ではウェハを2次元移動するステ
ージに載置して、ウェハを投影像に対して歩進(ステッ
ピング)させてから露光することを繰り返す、所請ステ
ップアンドリピート法によりウェハ全面への回路パター
ンの転写を行なう。
通常1つの半導体装置を製造するために、1枚のウェハ
について、先に転写さ′i″Lだ回路パターンとは異な
る回路パターンの投影像が重ね合せて露光される。この
ため、重ね合せ露光する前につ工(9) ハの投影像に対する2次元的な位置合せと回転ずれの補
正とを行なう必要がある。この種の露光装置にはウェハ
上に設けられたアライメントマークを光電的な顕微鏡で
検出し、ウェノ・と投影像との位置合せ(回転も含む)
を行なう、所謂精密なアライメント装置が組み込壕れて
いる。このアライメント装置は精度が高い代りに、アラ
イメントマークを検出する領域が極めて狭い。これは単
純に狭いという訳ではなく、マークを含む広い領域をサ
ーチしてそのマークを検出することもできるから、その
分サーチ時間が必要となる、という意味で狭いのである
。すなわち、ウエノ・上に形成された複数の回路パター
ン(以下チップと呼ぶ)の設計上の配列方向やピッチ等
に応じてステージを位置決めした後、その位置でアライ
メント装置の顕微鏡の視野内(検出領域内)にマークが
位置すわば、ただちにマークの位置ずれが検出でき、最
も短時間で回転を含めた精密な位置合せ動作が完了する
。このように、ウェハの精密な位置合せを満足に行なう
ために、ウェハはステージに載置され(3) る前に、直線的な切欠き(以下フラットと呼ぶ)を使っ
て粗く位置決めされる。この粗い位置決めは事前゛整合
(プリアライメント)装置と呼ばわ、例えば特開昭58
−18713号公報に開示されている。このプリアライ
メント装置は、ウエノ・の2次元的な粗い位置合せも去
ることながら、搬送されてきたウェハのフラットの位f
11、ステージの2次元的な移動方向に対して常に一定
に揃える動作(所謂オリエンテーションフラット)を主
としている。そして、オリエンテーションフラットが達
成されると、ウェハはプリアライメント装置から、その
フラットの位置(2次元的な方向)が変化しないように
ステージ丑で搬送される。ところが、この搬送のために
、ウェハは少なくとも2回の受け渡し7動作を経ること
になる。1つはプリアライメント装置から搬送手段への
受け渡しであり、もう1つは搬送手段からステージへの
受け渡しである。このような受け渡し動作は少なからず
ウェハの位置ずわを招き、ステージに載置された段階で
は、ブリアラメント装置で達成された位置決め(4) 精度が保存されず、悪化したものになってしまうという
欠点があった。また精密な位置合せの際、ウェハの回転
ずれを補正するだめに、ウエノ・は真空吸着用のホルダ
ー(チャック)を介してステージ上に載置され、このホ
ルダーがステージに対して回転可能に設けられている。
について、先に転写さ′i″Lだ回路パターンとは異な
る回路パターンの投影像が重ね合せて露光される。この
ため、重ね合せ露光する前につ工(9) ハの投影像に対する2次元的な位置合せと回転ずれの補
正とを行なう必要がある。この種の露光装置にはウェハ
上に設けられたアライメントマークを光電的な顕微鏡で
検出し、ウェノ・と投影像との位置合せ(回転も含む)
を行なう、所謂精密なアライメント装置が組み込壕れて
いる。このアライメント装置は精度が高い代りに、アラ
イメントマークを検出する領域が極めて狭い。これは単
純に狭いという訳ではなく、マークを含む広い領域をサ
ーチしてそのマークを検出することもできるから、その
分サーチ時間が必要となる、という意味で狭いのである
。すなわち、ウエノ・上に形成された複数の回路パター
ン(以下チップと呼ぶ)の設計上の配列方向やピッチ等
に応じてステージを位置決めした後、その位置でアライ
メント装置の顕微鏡の視野内(検出領域内)にマークが
位置すわば、ただちにマークの位置ずれが検出でき、最
も短時間で回転を含めた精密な位置合せ動作が完了する
。このように、ウェハの精密な位置合せを満足に行なう
ために、ウェハはステージに載置され(3) る前に、直線的な切欠き(以下フラットと呼ぶ)を使っ
て粗く位置決めされる。この粗い位置決めは事前゛整合
(プリアライメント)装置と呼ばわ、例えば特開昭58
−18713号公報に開示されている。このプリアライ
メント装置は、ウエノ・の2次元的な粗い位置合せも去
ることながら、搬送されてきたウェハのフラットの位f
11、ステージの2次元的な移動方向に対して常に一定
に揃える動作(所謂オリエンテーションフラット)を主
としている。そして、オリエンテーションフラットが達
成されると、ウェハはプリアライメント装置から、その
フラットの位置(2次元的な方向)が変化しないように
ステージ丑で搬送される。ところが、この搬送のために
、ウェハは少なくとも2回の受け渡し7動作を経ること
になる。1つはプリアライメント装置から搬送手段への
受け渡しであり、もう1つは搬送手段からステージへの
受け渡しである。このような受け渡し動作は少なからず
ウェハの位置ずわを招き、ステージに載置された段階で
は、ブリアラメント装置で達成された位置決め(4) 精度が保存されず、悪化したものになってしまうという
欠点があった。また精密な位置合せの際、ウェハの回転
ずれを補正するだめに、ウエノ・は真空吸着用のホルダ
ー(チャック)を介してステージ上に載置され、このホ
ルダーがステージに対して回転可能に設けられている。
このため、先行するウェー・の露光処理が終了して、次
のウニ・・を受け取る場合、先行するウェノ・の回転ず
れを補正するため、ホルダーはステージの移動座標系に
対しである角度だけ回転した状態にある。一般にウェハ
の回転検出はウェハ上のマークをアライメント装置の顕
微鏡で鋭察しながら行なうので、ウエノ・の載置されて
いない状態ではホルダーを精密に回転させることができ
ない。以上のような理由から、プリアライメント装置か
らウエノ・を受け取り精密な位置合せに至るまでの動作
が繁雑になるといった欠点があった。
のウニ・・を受け取る場合、先行するウェノ・の回転ず
れを補正するため、ホルダーはステージの移動座標系に
対しである角度だけ回転した状態にある。一般にウェハ
の回転検出はウェハ上のマークをアライメント装置の顕
微鏡で鋭察しながら行なうので、ウエノ・の載置されて
いない状態ではホルダーを精密に回転させることができ
ない。以上のような理由から、プリアライメント装置か
らウエノ・を受け取り精密な位置合せに至るまでの動作
が繁雑になるといった欠点があった。
(発明の目的)
本発明はこれらの欠点を解決し、ウエノ1等の基板を簡
単な構造で正確に位置決めする装置を得る(5) ことを目的とする。
単な構造で正確に位置決めする装置を得る(5) ことを目的とする。
(発明の概要)
本発明は基板(ウェハ)を載置するホルダーと、ホルダ
ーを回転可能に保持するベース(ステージ)と、基板の
端面と当接して基板をホルダー上の所定位置に位置決め
するだめの基準部材(ローラ等)と、位置決めの後、基
板の回転誤差を補正するために、ホルダーを回転させる
手段(モータ25)とを備え、そのホルダーは載置部(
吸着向)から基板の周辺の少なくとも一部がはみ出すよ
うな形状とし、基準部材は位置決めの際、基板のはみ出
しだ端面に当接する第1位置と、ホルダーの回転の際、
基板の端面と接触しない第2位置との間で移動可能な如
くベースに設けることを技術的要点としている。
ーを回転可能に保持するベース(ステージ)と、基板の
端面と当接して基板をホルダー上の所定位置に位置決め
するだめの基準部材(ローラ等)と、位置決めの後、基
板の回転誤差を補正するために、ホルダーを回転させる
手段(モータ25)とを備え、そのホルダーは載置部(
吸着向)から基板の周辺の少なくとも一部がはみ出すよ
うな形状とし、基準部材は位置決めの際、基板のはみ出
しだ端面に当接する第1位置と、ホルダーの回転の際、
基板の端面と接触しない第2位置との間で移動可能な如
くベースに設けることを技術的要点としている。
(実施例)
第1図は本発明の実施例に好適な縮小投影型露光装置の
ウェハ搬送系の概略的な構成を示す図である。第1図は
ウェハWが受け渡し位置でステージ1上のホルダー2に
載置された状態を示す。供(G) 給出のウェハカセット3にはこれから露光しようとする
ウェハ(レジストが塗布)W′が複数枚収納されている
。ウェハw/ (f、搬送用のベルl−4,4’によっ
てプリアライメント装置のターンテーブル5に運ばれる
。このプリアライメント装置は特開昭58−1・871
3号公報に開示されているので、ここでは簡単に説明す
る。
ウェハ搬送系の概略的な構成を示す図である。第1図は
ウェハWが受け渡し位置でステージ1上のホルダー2に
載置された状態を示す。供(G) 給出のウェハカセット3にはこれから露光しようとする
ウェハ(レジストが塗布)W′が複数枚収納されている
。ウェハw/ (f、搬送用のベルl−4,4’によっ
てプリアライメント装置のターンテーブル5に運ばれる
。このプリアライメント装置は特開昭58−1・871
3号公報に開示されているので、ここでは簡単に説明す
る。
ウェハW′はその中心がターンテーブル5の回転中心と
一致するようにセンタリングされた後、ターンテーブル
5に真空吸着される。不図示ではあるが、ターンテーブ
ル5上に吸着されだウェハW″はモータによって回転さ
れ、ウェハW″の周辺のフラット金光電的に検出して、
フラットが2つのローラ6a16bと対向するような位
置で停止される。
一致するようにセンタリングされた後、ターンテーブル
5に真空吸着される。不図示ではあるが、ターンテーブ
ル5上に吸着されだウェハW″はモータによって回転さ
れ、ウェハW″の周辺のフラット金光電的に検出して、
フラットが2つのローラ6a16bと対向するような位
置で停止される。
その後ターンテーブル5の吸着を解除して、押圧部材7
でウェハW″の端面を押圧すると、ウェハW″のフラッ
トはローラ6a、6bと当接し、他の一つのローラ6C
がウェハW″の円周端に当接し、ウェハW″を位置決め
する。さて、プリアライメントされたウニ・・W” M
y力方向平行に伸び(7) たガイド8a、8bに沿って同時に移動するスライダー
アーム9a、9bに受け渡さt、ステージ1のホルダー
2の真上1で搬送される。ホルダー2上に受け渡された
ウェハWは受け渡し動作によって悪化したプリアライメ
ント精匿ヲ確保するため、本発明の実施例による位置決
め装置で再プリアライメントされる。そして露光動作の
ために、ステージ1は投影レンズ】0によるレチクルの
投影像11に対して2次元的Vこステツピングし、ウェ
ハWへの繰り返し露光を行なう。露光の終了したウェハ
Wは再び第1図の位置でスライダーアーム9a、9bに
よりターンテーブル5に受け渡された後、ベルト12a
、12b4Cよってウェハカセット13に搬入される。
でウェハW″の端面を押圧すると、ウェハW″のフラッ
トはローラ6a、6bと当接し、他の一つのローラ6C
がウェハW″の円周端に当接し、ウェハW″を位置決め
する。さて、プリアライメントされたウニ・・W” M
y力方向平行に伸び(7) たガイド8a、8bに沿って同時に移動するスライダー
アーム9a、9bに受け渡さt、ステージ1のホルダー
2の真上1で搬送される。ホルダー2上に受け渡された
ウェハWは受け渡し動作によって悪化したプリアライメ
ント精匿ヲ確保するため、本発明の実施例による位置決
め装置で再プリアライメントされる。そして露光動作の
ために、ステージ1は投影レンズ】0によるレチクルの
投影像11に対して2次元的Vこステツピングし、ウェ
ハWへの繰り返し露光を行なう。露光の終了したウェハ
Wは再び第1図の位置でスライダーアーム9a、9bに
よりターンテーブル5に受け渡された後、ベルト12a
、12b4Cよってウェハカセット13に搬入される。
次に、本発明の実施例による位置決め装置を第2図、第
3図に基づいて説明する。第2図は第1図のステージ1
上に設けた位置決め装置の平面図であり、第3図はその
部分断面図である。ウェハWを載置する円形のホルダー
2の表面(載置面)には−例として螺旋状の吸着溝20
が中央部分か(8) ら外周に向けて設けられている。この吸着溝は螺旋に限
らず、同心円状のものでもよい。この溝20の内で載置
面2aの外周に近い位置には3つの吸気孔20a、20
b、20cがほぼ等角度間隔に設けられ、この吸気孔2
0a、20b、20cから真空排気することによって、
ウェハWを載置面に従った均一な平面に矯正する。まだ
溝20の内で載置面2aの中心に近い位置には3つの噴
出孔21 a、21 b、21 cがほぼ等角度間隔に
設けられ、この噴出孔21a、21b、21cから気体
(空気、チッ素等)を噴出することによって、真空吸着
を解除した直後のウェハWのはく離を良くするとともに
、位置決めのときに載置面2aとの間に生じる不要な摩
擦を低減する。さて、ホルダー2の周辺でウェハWのフ
ラットFと、そこから約90° 離れた円周端の一部と
が位置する部分には、それらフラン)Fと円周端とが載
置面2aからはみ出すようなコの字形の切欠き20b、
2eが形成されている。このホルダー2はステージ1に
回転軸2dの回りに回転可能に設けられている。
3図に基づいて説明する。第2図は第1図のステージ1
上に設けた位置決め装置の平面図であり、第3図はその
部分断面図である。ウェハWを載置する円形のホルダー
2の表面(載置面)には−例として螺旋状の吸着溝20
が中央部分か(8) ら外周に向けて設けられている。この吸着溝は螺旋に限
らず、同心円状のものでもよい。この溝20の内で載置
面2aの外周に近い位置には3つの吸気孔20a、20
b、20cがほぼ等角度間隔に設けられ、この吸気孔2
0a、20b、20cから真空排気することによって、
ウェハWを載置面に従った均一な平面に矯正する。まだ
溝20の内で載置面2aの中心に近い位置には3つの噴
出孔21 a、21 b、21 cがほぼ等角度間隔に
設けられ、この噴出孔21a、21b、21cから気体
(空気、チッ素等)を噴出することによって、真空吸着
を解除した直後のウェハWのはく離を良くするとともに
、位置決めのときに載置面2aとの間に生じる不要な摩
擦を低減する。さて、ホルダー2の周辺でウェハWのフ
ラットFと、そこから約90° 離れた円周端の一部と
が位置する部分には、それらフラン)Fと円周端とが載
置面2aからはみ出すようなコの字形の切欠き20b、
2eが形成されている。このホルダー2はステージ1に
回転軸2dの回りに回転可能に設けられている。
回転軸2dはホルダー2の載置面2aの中心とは一致せ
ず、偏心した位置に設けられている。さらに、ホルダー
2の載置面2aの中心に対して回転軸2dの反対側には
ホルダー2と固定されたアーム部22と、このアーム部
22の先端部に、直交座標系xy(ステージ1の移動座
標)xy平而面で回転自在に設けられたナツト23と、
このナツト23と螺合する送りネジ24と、ステージ1
に固定されて、この送りネジ24を回転するモータ25
とが設けられ、ホルダー2の回転を行なう。
ず、偏心した位置に設けられている。さらに、ホルダー
2の載置面2aの中心に対して回転軸2dの反対側には
ホルダー2と固定されたアーム部22と、このアーム部
22の先端部に、直交座標系xy(ステージ1の移動座
標)xy平而面で回転自在に設けられたナツト23と、
このナツト23と螺合する送りネジ24と、ステージ1
に固定されて、この送りネジ24を回転するモータ25
とが設けられ、ホルダー2の回転を行なう。
さて、ホルダー2の周辺の切欠き2b、2cの夫夫には
載置面2aの中心からほぼ放射方向にホルダー2に対し
て移動可能な基準部材30.40が設けられている。基
準部材30は第2図ではy方向に精度よく進退するよう
に、リニアボールレース30a(第3図参照)等を介し
てステージ1に設けられている。この基準部材30には
、ウェハWのフラン)F、又は円周端に当接する円柱状
の3つのローラ31 a s 31 b s 31 c
がX方向に所定の間隔で並ぶように、固定板32に回転
自在に軸支されている。固定板32はスライド部33に
固定され、スライド部33は、ボールレース30aの他
にy方向の直進性を保つローラ34a、34b、34c
、34dを介してステージ1にガイドされている。また
スライド部33の先端(ホルダー2に対向する側)には
ストッパー35がステージ1に固定されている。このス
トッパー35によって、再位置決め時の基準部材30の
繰り出し位置を規制している。この繰り出し位置で、3
つのローラ31 a131 b、31 cのうち、両脇
のローラ31aと31cは、そのウェハWとの谷当接位
置を結ぶ線分がX軸と平行(一致)になるように配置さ
れ、ウェハWのフラノ)Fに共に当接する。このとき、
中央のローラ31bはフラットFと当接せず、所定の間
隔だけフラットFから離れるような位置に設けられる。
載置面2aの中心からほぼ放射方向にホルダー2に対し
て移動可能な基準部材30.40が設けられている。基
準部材30は第2図ではy方向に精度よく進退するよう
に、リニアボールレース30a(第3図参照)等を介し
てステージ1に設けられている。この基準部材30には
、ウェハWのフラン)F、又は円周端に当接する円柱状
の3つのローラ31 a s 31 b s 31 c
がX方向に所定の間隔で並ぶように、固定板32に回転
自在に軸支されている。固定板32はスライド部33に
固定され、スライド部33は、ボールレース30aの他
にy方向の直進性を保つローラ34a、34b、34c
、34dを介してステージ1にガイドされている。また
スライド部33の先端(ホルダー2に対向する側)には
ストッパー35がステージ1に固定されている。このス
トッパー35によって、再位置決め時の基準部材30の
繰り出し位置を規制している。この繰り出し位置で、3
つのローラ31 a131 b、31 cのうち、両脇
のローラ31aと31cは、そのウェハWとの谷当接位
置を結ぶ線分がX軸と平行(一致)になるように配置さ
れ、ウェハWのフラノ)Fに共に当接する。このとき、
中央のローラ31bはフラットFと当接せず、所定の間
隔だけフラットFから離れるような位置に設けられる。
こtは基準部材30と40によってフラットFをX軸と
平行に合せるオリエンテーション、(0°の再位置決め
)と、フラン)Fをy軸と平行に合せるオリエンテーシ
ョン(90°の再位置決め)とを兼用して行なうためで
ある。さて、基準部材40についても、3つの同一形状
のローラ41 a、41 b、41cが、ローラ31a
、31b、31cの配置と同様に固定板42にy方向に
並ぶ如く回転自在に軸支され、スライド部43と一体に
X方向に進退する。
平行に合せるオリエンテーション、(0°の再位置決め
)と、フラン)Fをy軸と平行に合せるオリエンテーシ
ョン(90°の再位置決め)とを兼用して行なうためで
ある。さて、基準部材40についても、3つの同一形状
のローラ41 a、41 b、41cが、ローラ31a
、31b、31cの配置と同様に固定板42にy方向に
並ぶ如く回転自在に軸支され、スライド部43と一体に
X方向に進退する。
ここで各基準部材の3つのローラ31a、31b。
31c及び41a、41b、41cの配置関係について
述べる。0°の再位置決めのときは、ウェハWのフラッ
トFにローラ31aと31cが当接し、フラットFから
約90°離れた円周端がローラ41bと当接し、他のロ
ーラ31b141a。
述べる。0°の再位置決めのときは、ウェハWのフラッ
トFにローラ31aと31cが当接し、フラットFから
約90°離れた円周端がローラ41bと当接し、他のロ
ーラ31b141a。
41 cはウェハWの端面とは接触しない。一方、90
°の再位置決めのと@は、フラットFにローラ41aと
41cが当接し、円周端がローラ31bに当接し、他の
ローラ411)、31a、31cはウェハWの端面とは
接触しない。このように各ローラを配置することによっ
て、オリエンテーションフラットの方向をθ°と90°
とに兼用することができる。ところで基準部材30.4
0は第3図に示すようにエアシリンダ50によって夫々
独立に、あるいはリンク機構を介して連動して移動する
。また、つz/’Wがローラ31.a、31c。
°の再位置決めのと@は、フラットFにローラ41aと
41cが当接し、円周端がローラ31bに当接し、他の
ローラ411)、31a、31cはウェハWの端面とは
接触しない。このように各ローラを配置することによっ
て、オリエンテーションフラットの方向をθ°と90°
とに兼用することができる。ところで基準部材30.4
0は第3図に示すようにエアシリンダ50によって夫々
独立に、あるいはリンク機構を介して連動して移動する
。また、つz/’Wがローラ31.a、31c。
41bの一対、又1do−ラ41 a、41 c、31
bの一対のいずれにも当接するようにウェハWを押圧す
るように、エアシリンダ45と抑圧部材46がステージ
IK固設されている。このためホルダー2の周辺の一部
には押圧部材46が入いるように、さらに切欠き2eが
形成されている。
bの一対のいずれにも当接するようにウェハWを押圧す
るように、エアシリンダ45と抑圧部材46がステージ
IK固設されている。このためホルダー2の周辺の一部
には押圧部材46が入いるように、さらに切欠き2eが
形成されている。
さて、このような構成において、ステージ1上での再位
置決めをするには、第1図のようにウェハWをホルダー
2の上に載置した後、エアシリンダ50によって2つの
基準部材30.40を繰り出してから、噴出孔21a、
21b、21cがら空気やチッ素等の気体を噴出し、ウ
ェ・・Wの裏面と載置面2aとの間に静圧エアベアリン
グを形成する。これによってウェハWのフリクションは
極めて小さくなる。次にエアシリンダ45を作動させて
押圧部材46でウェー”Wの円周端を基準部材30.4
0の方向に押圧する。この抑圧動作が続く間、噴出孔2
1a、21b、2 ’1 cからの気体(13) 流出を中止し、代りに吸気孔20a、20b、20cか
ら真空引きを行なう。この真空引きが完了すると、押圧
部材46のウェハWの端面との当接を解除するとともに
、エアシリンダ50の動作を中止して、基準部材30.
40をホルダー2から退避させ、ローラ31a、34c
、41b、(又はローラ31b、41a、41c)のウ
ェハwとの当接を解除する。この基準部材30.40の
退避量はウェハW(ホルダー2)の最大回転量に応じて
、それらローラがウェハWと接触しないように定められ
ている。この童はウェハWのサイズ(直径)によっても
異なるが、高々1〜2wm程度である。
置決めをするには、第1図のようにウェハWをホルダー
2の上に載置した後、エアシリンダ50によって2つの
基準部材30.40を繰り出してから、噴出孔21a、
21b、21cがら空気やチッ素等の気体を噴出し、ウ
ェ・・Wの裏面と載置面2aとの間に静圧エアベアリン
グを形成する。これによってウェハWのフリクションは
極めて小さくなる。次にエアシリンダ45を作動させて
押圧部材46でウェー”Wの円周端を基準部材30.4
0の方向に押圧する。この抑圧動作が続く間、噴出孔2
1a、21b、2 ’1 cからの気体(13) 流出を中止し、代りに吸気孔20a、20b、20cか
ら真空引きを行なう。この真空引きが完了すると、押圧
部材46のウェハWの端面との当接を解除するとともに
、エアシリンダ50の動作を中止して、基準部材30.
40をホルダー2から退避させ、ローラ31a、34c
、41b、(又はローラ31b、41a、41c)のウ
ェハwとの当接を解除する。この基準部材30.40の
退避量はウェハW(ホルダー2)の最大回転量に応じて
、それらローラがウェハWと接触しないように定められ
ている。この童はウェハWのサイズ(直径)によっても
異なるが、高々1〜2wm程度である。
こうして再位置決めされたウェハWはステージ1によっ
て、例えば投影レンズ10の直下まで運ばれ、アライメ
ント装置(顕微鏡)によってウェハW上のマークを観察
して、投影像11に対する2次元的な位置が規定される
と共に、回転ずれの補正もなされる。この回転ずれの補
正は、第2図に示したモータ25によって行なわれる。
て、例えば投影レンズ10の直下まで運ばれ、アライメ
ント装置(顕微鏡)によってウェハW上のマークを観察
して、投影像11に対する2次元的な位置が規定される
と共に、回転ずれの補正もなされる。この回転ずれの補
正は、第2図に示したモータ25によって行なわれる。
次に本発明の第2の実施例を第4図に基づいて(]4)
説明する。第4図はホルダー2上のウェハWを基準部材
30.40と押圧部材46によって0°の再位置決めを
完了した時点の様子を示す平面図であり、第2図と同一
の作用を有する部材には同一の符号を付しである。この
第2の実施例では、基準部材30けステージ1に回転自
在に軸支された支点60を有するアーム61を介して、
エアシリンダ50aによりy方向に直線運動する。アー
ム61は、エアシリンダ50aの力点から支点60まで
の長さに対して、支点60からスライダー33の作用点
までの長さを、例えば約半分程度に短くして、エアシリ
ンダ50aのピストンの力を基準部材30のy方向の付
勢力に関して1以上に増力する。また基準部材40につ
いても同様に、エアシリンダ50bによって支点62を
中心に回動するアーム63を介してX方向に直線運動す
る。
30.40と押圧部材46によって0°の再位置決めを
完了した時点の様子を示す平面図であり、第2図と同一
の作用を有する部材には同一の符号を付しである。この
第2の実施例では、基準部材30けステージ1に回転自
在に軸支された支点60を有するアーム61を介して、
エアシリンダ50aによりy方向に直線運動する。アー
ム61は、エアシリンダ50aの力点から支点60まで
の長さに対して、支点60からスライダー33の作用点
までの長さを、例えば約半分程度に短くして、エアシリ
ンダ50aのピストンの力を基準部材30のy方向の付
勢力に関して1以上に増力する。また基準部材40につ
いても同様に、エアシリンダ50bによって支点62を
中心に回動するアーム63を介してX方向に直線運動す
る。
第4図は0°の再位置決めの様子を示すので、基準部材
30の2つのローラ31a、31cがウェハWのフラッ
トFと当接し、基準部材40の1つのローラ41bがウ
ェハWの円周端と当接している。さて、上記エアシリン
ダ50aと50bは共通のパイプ70を介して、エアの
供給をオン・オフする電磁弁72に配管される。この電
磁弁72にはさらに押圧部材46のエアシリンダ45が
らのパイプ71も配管され、3つのエアシリンダ45.
50a、50bは共通のエア供給源に接続される。
30の2つのローラ31a、31cがウェハWのフラッ
トFと当接し、基準部材40の1つのローラ41bがウ
ェハWの円周端と当接している。さて、上記エアシリン
ダ50aと50bは共通のパイプ70を介して、エアの
供給をオン・オフする電磁弁72に配管される。この電
磁弁72にはさらに押圧部材46のエアシリンダ45が
らのパイプ71も配管され、3つのエアシリンダ45.
50a、50bは共通のエア供給源に接続される。
以上のような構成で、ウェハWが00にプリアライメン
トされてホルダー2に載置さノすると、電磁弁72が開
き、3つのエアシリンダ45.50a、50bに同一の
圧力のエアが供給される。このエアの供給の前は、各エ
アシリンダのピストンはコイルバネによって付勢され、
押圧部材46やローラ31a、31c141b等はウェ
ハWを再位置決めすべき位置からそれぞハ退避している
。第4図では抑圧部材46の退避位置、基準部材30(
ローラ31a、31b、3]c)の退避位置、及び基準
部材4 ’O(0−ラ4]、a、41b、41c)の退
避位置をともにdとして示した。電磁弁72からのエア
供給によって、基準部材3o、4oは退避位置dから第
3図に示したようなストッパー35によって決まる位置
(繰り出し位置)まで移動する。この移動の間、押圧部
材46もウェハWの中心に向けて移動する。こうして基
準部材30.40が繰り出し位置で係止され、押圧部材
46がウェハWの円周端を押圧していくと、基準部材3
0.40は夫々アーム61.63によって増力(倍力)
されてストッパー35に押圧されているので、ウニ/’
Wが3つのローラ31a、3Jc141bに当接した後
、抑圧部材46の押圧力に負けて退避位置dの方へ移動
してしまうことはない。
トされてホルダー2に載置さノすると、電磁弁72が開
き、3つのエアシリンダ45.50a、50bに同一の
圧力のエアが供給される。このエアの供給の前は、各エ
アシリンダのピストンはコイルバネによって付勢され、
押圧部材46やローラ31a、31c141b等はウェ
ハWを再位置決めすべき位置からそれぞハ退避している
。第4図では抑圧部材46の退避位置、基準部材30(
ローラ31a、31b、3]c)の退避位置、及び基準
部材4 ’O(0−ラ4]、a、41b、41c)の退
避位置をともにdとして示した。電磁弁72からのエア
供給によって、基準部材3o、4oは退避位置dから第
3図に示したようなストッパー35によって決まる位置
(繰り出し位置)まで移動する。この移動の間、押圧部
材46もウェハWの中心に向けて移動する。こうして基
準部材30.40が繰り出し位置で係止され、押圧部材
46がウェハWの円周端を押圧していくと、基準部材3
0.40は夫々アーム61.63によって増力(倍力)
されてストッパー35に押圧されているので、ウニ/’
Wが3つのローラ31a、3Jc141bに当接した後
、抑圧部材46の押圧力に負けて退避位置dの方へ移動
してしまうことはない。
以上のようにして、θ° の再位置決めが完了し、引き
続きホルダー2の真空吸着が開始され、吸着が完rした
時点で電磁弁72を閉じる。これによって、各エアシリ
ンダ45.50a150b内のピストンを付勢するコイ
ルバネの働きで、抑圧部材46、基準部材30.40は
それぞれ退避位置dまで戻る。
続きホルダー2の真空吸着が開始され、吸着が完rした
時点で電磁弁72を閉じる。これによって、各エアシリ
ンダ45.50a150b内のピストンを付勢するコイ
ルバネの働きで、抑圧部材46、基準部材30.40は
それぞれ退避位置dまで戻る。
不実施例によれば、抑圧部材46、基準部材30.40
の運動を1つの電磁弁72で制御でき、(17) 配管の簡略化、エア供給源の簡素化が期待できる。
の運動を1つの電磁弁72で制御でき、(17) 配管の簡略化、エア供給源の簡素化が期待できる。
以上、本発明の第1と第2の実施例では、ooの再位置
決めと900の再位置決めとを兼用するウェハプリアラ
イメント装置について説明しだが、従来の装置のように
00 の再位置決めのみを行な’)&めK、3つ(7)
CI−ラ31 a、31 c、41bだけ・金持・った
装置に本発明を適用しても同様の効果が得られる。この
場合、フラットに当接する2つのローラ3′1a、31
cのみを退避させるだけでもよい。また基準部材30,
40.押圧部材46の駆動はバキュームによってもよい
。その場合1dシIJン150.50a、50b、45
1C真空を供給することによって退避位置に保持し、位
置決めの際、真空の供給を停止することによってバネ力
で所定の位置まで繰り出すように構成される。
決めと900の再位置決めとを兼用するウェハプリアラ
イメント装置について説明しだが、従来の装置のように
00 の再位置決めのみを行な’)&めK、3つ(7)
CI−ラ31 a、31 c、41bだけ・金持・った
装置に本発明を適用しても同様の効果が得られる。この
場合、フラットに当接する2つのローラ3′1a、31
cのみを退避させるだけでもよい。また基準部材30,
40.押圧部材46の駆動はバキュームによってもよい
。その場合1dシIJン150.50a、50b、45
1C真空を供給することによって退避位置に保持し、位
置決めの際、真空の供給を停止することによってバネ力
で所定の位置まで繰り出すように構成される。
このようにすると、ゴミの発生が少なく、ウェハの端面
を当接(抑圧)するカをバネ力によって弱く調整できる
利点がある。
を当接(抑圧)するカをバネ力によって弱く調整できる
利点がある。
(発明の効果)
以上本発明によれば、位置決めのための基準部/ 1
Q) 材をベースに移動可能に設けたので、ホルダーの回転位
置とは無関係に、その回転の基準となるベース(座標系
xy)に対して常に一定の位置でウェハを位置決めでき
、露光装置等においてはウェハ(基板)の回転補正に時
間がかからず、スループットが向上するという効果が得
られる。さらに、基準部材をホルダー上に設けなかった
ことで、基準部材のメンテナンスが容易になるというオ
U点もある。例えばフォトレジスト付のウェハを多数回
位置決めするとき、そのフォトレジストの微粉が基1?
!部材に付着して、位置決め精度を低下させることがあ
る。従来のように基準部材をホルダー上に固定したもの
だと、基準部材のホルダーの載置面に近い部分に付着し
たレジストは除云しにくいが、本発明によれはこのよう
なことがなく極めて容易に基準部材の清掃作業ができる
。
Q) 材をベースに移動可能に設けたので、ホルダーの回転位
置とは無関係に、その回転の基準となるベース(座標系
xy)に対して常に一定の位置でウェハを位置決めでき
、露光装置等においてはウェハ(基板)の回転補正に時
間がかからず、スループットが向上するという効果が得
られる。さらに、基準部材をホルダー上に設けなかった
ことで、基準部材のメンテナンスが容易になるというオ
U点もある。例えばフォトレジスト付のウェハを多数回
位置決めするとき、そのフォトレジストの微粉が基1?
!部材に付着して、位置決め精度を低下させることがあ
る。従来のように基準部材をホルダー上に固定したもの
だと、基準部材のホルダーの載置面に近い部分に付着し
たレジストは除云しにくいが、本発明によれはこのよう
なことがなく極めて容易に基準部材の清掃作業ができる
。
第1図は本発明の実施例に好適な露光装置rr用のウェ
ハ搬送、及びウェハ事前位置決め装置の概略的な構成を
示す平面図、第2図は本発明の第】の実施例による位置
決め装置の構成を示す平面図、第3図は第2図の部分断
面図、第4図は第2の実施例による位置決め装置の構成
を模式的に示す平面図である。 5、〔主要部分の符号の説明] 1・・・・ステージ(ベース)、 2・・・・・ホルダ
ー、2a・・・・・載置面、 25・・・・・モータ、
30.40・・・・・・基準部材、 31a、31 b、 31c、 41 a、 41 b
、 41 c −o−ラ、45.50.50a150b
−==−xアシリンダ、46・・・・・・押圧部材、 出願人 日本光学工業株式会社 代理人 渡 辺 隆 男
ハ搬送、及びウェハ事前位置決め装置の概略的な構成を
示す平面図、第2図は本発明の第】の実施例による位置
決め装置の構成を示す平面図、第3図は第2図の部分断
面図、第4図は第2の実施例による位置決め装置の構成
を模式的に示す平面図である。 5、〔主要部分の符号の説明] 1・・・・ステージ(ベース)、 2・・・・・ホルダ
ー、2a・・・・・載置面、 25・・・・・モータ、
30.40・・・・・・基準部材、 31a、31 b、 31c、 41 a、 41 b
、 41 c −o−ラ、45.50.50a150b
−==−xアシリンダ、46・・・・・・押圧部材、 出願人 日本光学工業株式会社 代理人 渡 辺 隆 男
Claims (1)
- 基板を載置するホルダーと、該ホルダーを回転可能に保
持するベースと、前記基板の端面と当接して該基板を前
記ホルダー上の所定位置に位置決めするための基準部材
と、該位置決めの後前記基板の回転誤差を補正するため
に、前記ホルダーを回転させる手段とを備え、前記ホル
ダーはその載置部から前記基板の周辺の少なくとも一部
がはみ出すような形状とし、前゛記基準部材は前記位置
決めの際前記基板のはみ出した端面に当接する第1位置
と、前記ホルダーの回転の際、前期端面と接触しない第
2位置との間で移動可能な如く前記ペースに設けられて
いることを特徴とする基板の位置決め装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094061A JPS60239024A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 基板の位置決め装置 |
US06/729,968 US4655584A (en) | 1984-05-11 | 1985-05-03 | Substrate positioning apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094061A JPS60239024A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 基板の位置決め装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60239024A true JPS60239024A (ja) | 1985-11-27 |
Family
ID=14100011
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59094061A Pending JPS60239024A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 基板の位置決め装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60239024A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7547181B2 (en) | 2004-11-15 | 2009-06-16 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate position correcting method and apparatus using either substrate radius or center of rotation correction adjustment sum |
WO2019163191A1 (ja) * | 2018-02-26 | 2019-08-29 | 株式会社Screenホールディングス | センタリング装置、センタリング方法、基板処理装置、および基板処理方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50132874A (ja) * | 1974-04-05 | 1975-10-21 | ||
JPS53122369A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Hitachi Ltd | Automatic alignment unit for wafer |
-
1984
- 1984-05-11 JP JP59094061A patent/JPS60239024A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50132874A (ja) * | 1974-04-05 | 1975-10-21 | ||
JPS53122369A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Hitachi Ltd | Automatic alignment unit for wafer |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7547181B2 (en) | 2004-11-15 | 2009-06-16 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate position correcting method and apparatus using either substrate radius or center of rotation correction adjustment sum |
WO2019163191A1 (ja) * | 2018-02-26 | 2019-08-29 | 株式会社Screenホールディングス | センタリング装置、センタリング方法、基板処理装置、および基板処理方法 |
JP2019149423A (ja) * | 2018-02-26 | 2019-09-05 | 株式会社Screenホールディングス | センタリング装置、センタリング方法、基板処理装置、および基板処理方法 |
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