JPS60178685A - 単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置 - Google Patents
単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置Info
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- JPS60178685A JPS60178685A JP59034265A JP3426584A JPS60178685A JP S60178685 A JPS60178685 A JP S60178685A JP 59034265 A JP59034265 A JP 59034265A JP 3426584 A JP3426584 A JP 3426584A JP S60178685 A JPS60178685 A JP S60178685A
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- JP
- Japan
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- diffraction grating
- diffraction gratings
- diffraction
- oscillation
- inp
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は、ガラスファイバを用いた光通信方式において
光源として使用される発光素子で高速変調時にも単−縦
モードで発振しうる分布帰還形又は分布反射形半導体レ
ーザ素子に関するものである。
光源として使用される発光素子で高速変調時にも単−縦
モードで発振しうる分布帰還形又は分布反射形半導体レ
ーザ素子に関するものである。
(従来の技術分野)
光通信用光源として用いられる半導体レーザには、発振
波長と発振モードが高速の変調時にも安定であることが
要求される。このような要求をみたす半導体レーザとし
ては、その内部に半導体結晶層の膜厚が周期的に変化す
る周期構造が形成されており、この周期構造に光の反射
機能をもたせレーザ発振を得るいわゆる分布帰還形半導
体レーザおよび分布反射形半導体レーザとが知られてい
た。
波長と発振モードが高速の変調時にも安定であることが
要求される。このような要求をみたす半導体レーザとし
ては、その内部に半導体結晶層の膜厚が周期的に変化す
る周期構造が形成されており、この周期構造に光の反射
機能をもたせレーザ発振を得るいわゆる分布帰還形半導
体レーザおよび分布反射形半導体レーザとが知られてい
た。
このうち分布帰還形(以後DFBと称する)レーザは活
性層又は活性層と接して形成される光ガイド層に光の発
振する方向に沿って前記の周期構造をつくりつけるもの
である。
性層又は活性層と接して形成される光ガイド層に光の発
振する方向に沿って前記の周期構造をつくりつけるもの
である。
この形のレーザの製作技術は近年大きく進展し、室温で
連続動作する素子が得られているが、単一軸モードで発
振する素子の得られる歩留りは100チではない。これ
はコーゲルニック氏等の解析でも明らかなように(Jo
urnal of Applied Physics+
43炸、5月刊、 2327負−2335頁、 197
2年)、DFBレーザは本質的にしきい値利得の等しい
発振モードを2本ずつ有するためである。しかし、現実
の素子構造では、素子端面での回折格子の位相や導波路
に沿った回折格子、結晶組成、結晶厚み等の不均一の影
響により、上記の対称なスペクトル構造が変化して非対
称となっているため、単一1T11モ一ド発振が可能上
なっている。このような技術については、ストライファ
ー氏の論文(IEEEJournal of Quan
tum EJectronjcs r QE −118
,4月号、154貞−161頁、 1975年)や多田
氏の論文(′祇子通信学会、光・量子エレク) rコニ
クス研究会管料、資料番号OQE 77−88 (19
78−01) K詳細に述べられている。
連続動作する素子が得られているが、単一軸モードで発
振する素子の得られる歩留りは100チではない。これ
はコーゲルニック氏等の解析でも明らかなように(Jo
urnal of Applied Physics+
43炸、5月刊、 2327負−2335頁、 197
2年)、DFBレーザは本質的にしきい値利得の等しい
発振モードを2本ずつ有するためである。しかし、現実
の素子構造では、素子端面での回折格子の位相や導波路
に沿った回折格子、結晶組成、結晶厚み等の不均一の影
響により、上記の対称なスペクトル構造が変化して非対
称となっているため、単一1T11モ一ド発振が可能上
なっている。このような技術については、ストライファ
ー氏の論文(IEEEJournal of Quan
tum EJectronjcs r QE −118
,4月号、154貞−161頁、 1975年)や多田
氏の論文(′祇子通信学会、光・量子エレク) rコニ
クス研究会管料、資料番号OQE 77−88 (19
78−01) K詳細に述べられている。
従って単一軸モードで発振するDFBレーザを得るため
には、そのスペクトルを非対称にするような構造を積極
的にと9入れる必要があり、そのだめの提案が数多くな
されてきた。
には、そのスペクトルを非対称にするような構造を積極
的にと9入れる必要があり、そのだめの提案が数多くな
されてきた。
その内Q一つとして多田氏等により提案されたものに、
DFBレーザの導波路構造に沿って設置される回折格子
の空間的位相に素子の左右で差をもたせる形の素子があ
る。電子通信学会、光・量子エレクトロニクス研究会資
料・資料番号OQE 77−84の107頁に述べられ
ている如く、この構造のDFBレーザは第1図に示す如
き回折格子構造を有し、特に両側の回折格子の位相差θ
がπの値をとるときスペクトルの非対称性が最も強くな
り容易に単−dll+モード発振を得ることができる。
DFBレーザの導波路構造に沿って設置される回折格子
の空間的位相に素子の左右で差をもたせる形の素子があ
る。電子通信学会、光・量子エレクトロニクス研究会資
料・資料番号OQE 77−84の107頁に述べられ
ている如く、この構造のDFBレーザは第1図に示す如
き回折格子構造を有し、特に両側の回折格子の位相差θ
がπの値をとるときスペクトルの非対称性が最も強くな
り容易に単−dll+モード発振を得ることができる。
このようにDFBレーザは有用な素子ではあるが、一方
製作のためのプロセスを考えると大きな困難が存在する
。従来DFBレーザやDBRレーザの製作のための回折
格子は、ガスレーザ光の2光束干渉を利用して形成され
てきた。この方法は大きな面積の半導体基板上に均一な
回折格子を形成するには極めてすぐれているが、第1図
に示すような構造の回折格子を形成することは不’aJ
能に近い。
製作のためのプロセスを考えると大きな困難が存在する
。従来DFBレーザやDBRレーザの製作のための回折
格子は、ガスレーザ光の2光束干渉を利用して形成され
てきた。この方法は大きな面積の半導体基板上に均一な
回折格子を形成するには極めてすぐれているが、第1図
に示すような構造の回折格子を形成することは不’aJ
能に近い。
現在実用”I能な技術の内、周期2000〜5ooo
Aという微細な回折格子に第1図のような空間的位相差
を制御性良く与え得るTIIJ能性を有するのは電子ビ
ーム露光法である。しかし、この方法では回折格子の露
光面積2周ノυノの安定性等に難点があり、すぐれた特
性の素子を安定に11)男性良く製作するKは不適当で
ある。
Aという微細な回折格子に第1図のような空間的位相差
を制御性良く与え得るTIIJ能性を有するのは電子ビ
ーム露光法である。しかし、この方法では回折格子の露
光面積2周ノυノの安定性等に難点があり、すぐれた特
性の素子を安定に11)男性良く製作するKは不適当で
ある。
(発明の目的及び特徴)
本発明は、以上に述べた空間的位相差を内蔵する回折格
子を有するI) F Bレーザの製作」二の困難さを克
服するためになされた単一・軸モード半導体レーザ装置
を提供することを目的とし、その特徴は空間的位相差を
与えるに、2つの回折格子形成導波路の中間に設置され
た回折格子をもたない位相側?1111用導波路への1
5.流注入を利用する仁とにある。
子を有するI) F Bレーザの製作」二の困難さを克
服するためになされた単一・軸モード半導体レーザ装置
を提供することを目的とし、その特徴は空間的位相差を
与えるに、2つの回折格子形成導波路の中間に設置され
た回折格子をもたない位相側?1111用導波路への1
5.流注入を利用する仁とにある。
(発明の4i+1成及び作用)
jソ士本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の原理を示す断面図であって、lはn形
InP基板、2はn形InGaAsP光ガイド層、3は
p形InGaAsP活性層、4はp形InPクラッド層
、5はp形InGaAsP電極層、6はn形オーミック
電極、7,8.9はp形オーミックW、極である。
InP基板、2はn形InGaAsP光ガイド層、3は
p形InGaAsP活性層、4はp形InPクラッド層
、5はp形InGaAsP電極層、6はn形オーミック
電極、7,8.9はp形オーミックW、極である。
又10と11はInP基板基板衣面に形成された回折格
子である。本素子の構成を実現するには、まずn形In
P表面に2つの回折格子の間の距離に相当するり鴨のS
j 02や513N4等の薄膜ストライブを選択的に何
本か形成する。この上にフォトレジスト膜を1形成し、
その上から全面にガスレーザ光の2光束干渉を利用した
回折格子パターンを露光する。レジストを現像後、残っ
たレンストパターンをエツチングマスクとして適当な手
段によりInPのみをエツチングし、しかる後レジスト
と誘電体薄膜を取り去る。こうした工程により、ストラ
イブ状に回折格子形成部分のある1nP基板】が得られ
る。この上に液相成長、気相成長、MOCVD法。
子である。本素子の構成を実現するには、まずn形In
P表面に2つの回折格子の間の距離に相当するり鴨のS
j 02や513N4等の薄膜ストライブを選択的に何
本か形成する。この上にフォトレジスト膜を1形成し、
その上から全面にガスレーザ光の2光束干渉を利用した
回折格子パターンを露光する。レジストを現像後、残っ
たレンストパターンをエツチングマスクとして適当な手
段によりInPのみをエツチングし、しかる後レジスト
と誘電体薄膜を取り去る。こうした工程により、ストラ
イブ状に回折格子形成部分のある1nP基板】が得られ
る。この上に液相成長、気相成長、MOCVD法。
MBE法などの適当な結晶成長の手段柁より結晶層2〜
5を積層し、さらに蒸着などの手段により電極を形成す
る。
5を積層し、さらに蒸着などの手段により電極を形成す
る。
こうして得られたベテロ構造素子の電極7と9から2つ
の回折格子形成部分のpn接合に対して同じ1S、流密
度となるように正方向筒、流を流し、その値を徐々に増
大させていった場合について考察する。電極7の下の部
分と電極9の下の部分の構成は、分布帰還形レーザとし
て動作するように回折格子の周期と結晶層の厚みとを選
んであるものとする。すなわち、Aを回折格子の周期、
λを発振波長、n+を回折格子の次数、nを結晶J※1
〜4で構成される光導波路の実効屈折率とすれば、A
= (mλ/2n)なる関係が必要である。注入された
電流が、電極7と9の下に構成されている分布帰還形【
/−ザの発振しきい値を越えれば、2つの領域A(7の
下の領域)とB(9の下の領域)でレーザ発振が生じる
。このときレーザ光は導波路に沿って伝ばんするので、
Aの領域で発振した光は13の領域へ、Bの領域で発振
した光はAの領域へ達し相互作用が生じる。このとき領
域A及びBで発振した光は、各々の領域にとどまってい
る限り空間的に同位相であるが、導波路のない領域C(
8の下の領域)を通過するとき、この領域の実効屈折率
は領域A及びBでの値と異なるため実効屈折率の差と領
域Cの長さに応じた位相の変化を生じる。従って、第2
図の構成で領域AとBの構造を同一にし領域AとBに同
時に同一の電流を注入するようにすれば、多田氏の提案
する素子の左右で回折格子の空間的位相に差をもった分
布帰還形7−ザが実現できる。しかし、このままでは位
相の差θは先にも述べた如く領域Cの長さと領域A、B
とCの間の実効屈折率の差で決められてしまい、θ−π
という理想的な条件を実現することは偶然を待つ以外に
ない。さらに領域Cに電流を注入しないいわゆる非励起
の状態では、領域AとBとで発振した光に対して領域C
が可飽和吸収体として作用し光の損失を与えるとともに
、光双安俺などと言った分布帰還形レーザの単一軸モー
ド発振には好ましくない現象を生じる。この難点は電極
8から領域CのpH接合に正方向電流を注入することで
解決される。領域Cの導波路に注入されたキャリヤはそ
の欲に応じてこの部分の光の吸収q゛、1性を変化させ
、領域A、!=13とで発振したレーザ光に対する透明
度を増大させるとともに屈折率をも変化させる。従って
、非励起の場合にくらべて光の損失は減少し、又注入…
゛に応じて前記の位相の差θを調節できる。こうした事
実?利用すれば、領域Cの導波路の厚さ1組成、長さ又
領域AとBとの動作状態等に応じてここに注入するキャ
リヤの川を制御することによりAとBの2つの領域での
回折格子の間にπの大きさの空間的位相差を与えるよう
にすることができることが明白である。
の回折格子形成部分のpn接合に対して同じ1S、流密
度となるように正方向筒、流を流し、その値を徐々に増
大させていった場合について考察する。電極7の下の部
分と電極9の下の部分の構成は、分布帰還形レーザとし
て動作するように回折格子の周期と結晶層の厚みとを選
んであるものとする。すなわち、Aを回折格子の周期、
λを発振波長、n+を回折格子の次数、nを結晶J※1
〜4で構成される光導波路の実効屈折率とすれば、A
= (mλ/2n)なる関係が必要である。注入された
電流が、電極7と9の下に構成されている分布帰還形【
/−ザの発振しきい値を越えれば、2つの領域A(7の
下の領域)とB(9の下の領域)でレーザ発振が生じる
。このときレーザ光は導波路に沿って伝ばんするので、
Aの領域で発振した光は13の領域へ、Bの領域で発振
した光はAの領域へ達し相互作用が生じる。このとき領
域A及びBで発振した光は、各々の領域にとどまってい
る限り空間的に同位相であるが、導波路のない領域C(
8の下の領域)を通過するとき、この領域の実効屈折率
は領域A及びBでの値と異なるため実効屈折率の差と領
域Cの長さに応じた位相の変化を生じる。従って、第2
図の構成で領域AとBの構造を同一にし領域AとBに同
時に同一の電流を注入するようにすれば、多田氏の提案
する素子の左右で回折格子の空間的位相に差をもった分
布帰還形7−ザが実現できる。しかし、このままでは位
相の差θは先にも述べた如く領域Cの長さと領域A、B
とCの間の実効屈折率の差で決められてしまい、θ−π
という理想的な条件を実現することは偶然を待つ以外に
ない。さらに領域Cに電流を注入しないいわゆる非励起
の状態では、領域AとBとで発振した光に対して領域C
が可飽和吸収体として作用し光の損失を与えるとともに
、光双安俺などと言った分布帰還形レーザの単一軸モー
ド発振には好ましくない現象を生じる。この難点は電極
8から領域CのpH接合に正方向電流を注入することで
解決される。領域Cの導波路に注入されたキャリヤはそ
の欲に応じてこの部分の光の吸収q゛、1性を変化させ
、領域A、!=13とで発振したレーザ光に対する透明
度を増大させるとともに屈折率をも変化させる。従って
、非励起の場合にくらべて光の損失は減少し、又注入…
゛に応じて前記の位相の差θを調節できる。こうした事
実?利用すれば、領域Cの導波路の厚さ1組成、長さ又
領域AとBとの動作状態等に応じてここに注入するキャ
リヤの川を制御することによりAとBの2つの領域での
回折格子の間にπの大きさの空間的位相差を与えるよう
にすることができることが明白である。
次に具体的な数値について検討する。今対象としている
レーザ素子から発振する光の空気中での波長をλ8、レ
ーザ素子中での波長をλ1、導波路、の実効Jot折率
をnとすれば、次の関係が成立つ。
レーザ素子から発振する光の空気中での波長をλ8、レ
ーザ素子中での波長をλ1、導波路、の実効Jot折率
をnとすれば、次の関係が成立つ。
λ
λ −−!0+
−n
一方、半導体結晶中でのキャリヤ注入による屈折率変化
係数は次の(3)式で表わされる。
係数は次の(3)式で表わされる。
ここで、Nは注入キャリヤ数、eは電荷素置、n。
は注入キャリヤのない時の屈折率、ωは発振光の周波数
、ε0は真空中の誘電率、Jは電子の有効質量、mζは
正孔の有効質量である。InP/ InGaAsP系拐
料よりなる発振波長1.55μm付近のDFBレーザの
$/l 造を考えて(3)式を用いて81算すれば、I
X 10I8crn−3の注入キャリヤ数の変化で引
き起される屈折率の変化量は0.2%程度である。この
屈折率の変化、&1は(2)式の関係からλ1の値に1
0λ程度の変化を引き起すことがわかる。λ1はおよそ
4800Xであるため、その位相のπ、すなわち光波長
の−の変化H2400XをI X 1018crf3の
キャリヤ注入で得るには、Cの領域の導波路長の必要値
は次式で与えられる。
、ε0は真空中の誘電率、Jは電子の有効質量、mζは
正孔の有効質量である。InP/ InGaAsP系拐
料よりなる発振波長1.55μm付近のDFBレーザの
$/l 造を考えて(3)式を用いて81算すれば、I
X 10I8crn−3の注入キャリヤ数の変化で引
き起される屈折率の変化量は0.2%程度である。この
屈折率の変化、&1は(2)式の関係からλ1の値に1
0λ程度の変化を引き起すことがわかる。λ1はおよそ
4800Xであるため、その位相のπ、すなわち光波長
の−の変化H2400XをI X 1018crf3の
キャリヤ注入で得るには、Cの領域の導波路長の必要値
は次式で与えられる。
−X 4800A = 115.2 pm (a)0
2400Xは1次回折格子の位相の2πに相当するので
、ここでの目的には充分である。なおInk/InGa
AsP系4Jネ;lのキャリヤのライフタイムからみて
、l X 10”z−3の注入キャリヤ密度を得るに要
求される%I流値は10〜100mAの範囲となりこれ
らの値は極めて実用的である。
、ここでの目的には充分である。なおInk/InGa
AsP系4Jネ;lのキャリヤのライフタイムからみて
、l X 10”z−3の注入キャリヤ密度を得るに要
求される%I流値は10〜100mAの範囲となりこれ
らの値は極めて実用的である。
以上の設刷思想のもとに、1.55μn1で発振するI
nP/ InGaAsP埋めこみ型分布帰還レーザの製
作を行った。結晶成長には液相成長法を用い、その詳し
い条(Llと結晶層の構成は論文で既に本X!+2発明
者が明らかにしているとおりである( E]ecLon
icsLetters 、 18巻、27頁−29頁、
[182年)。その活4/1層を通る断面図は、第2図
と全く同様であり、領域Aと13における回折格子形成
部分の長さは200μm 、領域Cの3F坦な導波路層
の長さも200/1m。
nP/ InGaAsP埋めこみ型分布帰還レーザの製
作を行った。結晶成長には液相成長法を用い、その詳し
い条(Llと結晶層の構成は論文で既に本X!+2発明
者が明らかにしているとおりである( E]ecLon
icsLetters 、 18巻、27頁−29頁、
[182年)。その活4/1層を通る断面図は、第2図
と全く同様であり、領域Aと13における回折格子形成
部分の長さは200μm 、領域Cの3F坦な導波路層
の長さも200/1m。
、活性層3の厚さは01μm、光ガイド層2の厚さは1
1.1μm11.活性層3と光ガイド層20幅は15μ
n1とした。同1J1格子は、2次で周期は4805A
、深さむ」、!+5(IAである。
1.1μm11.活性層3と光ガイド層20幅は15μ
n1とした。同1J1格子は、2次で周期は4805A
、深さむ」、!+5(IAである。
ヒートシンク上にマウントしたこの素子の電極7と9の
みに同時に直流で正方向電流を同じ電流密度で流して行
ったところ、両方の和が78mAに達した点でレーザ発
振した。第3図に示すのはその時の光出力−電流特性で
あるが、いわゆるキンクが存在しておりスペクトルを測
定してみると、しきい値から95mA伺近1では単−縦
モードで発振したが、それ以上の電流注入では2本の縦
モードで発振した。
みに同時に直流で正方向電流を同じ電流密度で流して行
ったところ、両方の和が78mAに達した点でレーザ発
振した。第3図に示すのはその時の光出力−電流特性で
あるが、いわゆるキンクが存在しておりスペクトルを測
定してみると、しきい値から95mA伺近1では単−縦
モードで発振したが、それ以上の電流注入では2本の縦
モードで発振した。
次に、電、極8にあらかじめ一定電流を流しておいて第
3図と同じ特性を測定したところ、電極8かもの正方向
注入電流の値に応じて特性の変化をすることが認められ
た。第4図に示すのは電極8からの正方向注入電流が3
7mAのときの特性で、電極7と9からの電流の和でき
捷る発振しきい値は69mAである。光出力−電流特性
はなめらかで、スペクトルを測定してみると、しきい値
から312mAまで単−縦モード発振であった。このと
き光出力としては23mWを得た。
3図と同じ特性を測定したところ、電極8かもの正方向
注入電流の値に応じて特性の変化をすることが認められ
た。第4図に示すのは電極8からの正方向注入電流が3
7mAのときの特性で、電極7と9からの電流の和でき
捷る発振しきい値は69mAである。光出力−電流特性
はなめらかで、スペクトルを測定してみると、しきい値
から312mAまで単−縦モード発振であった。このと
き光出力としては23mWを得た。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば従来の製作技術を
そのまま月4いて91−縦モード発振する歩留りの高い
分布帰還形半導体レーザを得ることができ、大容量光通
イ8方式の実現等に向けてイ〕用である。
そのまま月4いて91−縦モード発振する歩留りの高い
分布帰還形半導体レーザを得ることができ、大容量光通
イ8方式の実現等に向けてイ〕用である。
なお、本発明の構成はGaAs/ GaAAAs等他の
利ネIで、又、InP/ InGaAsP系でも1.5
5 pm以外の1:3μmη、12μm域についても有
用である。
利ネIで、又、InP/ InGaAsP系でも1.5
5 pm以外の1:3μmη、12μm域についても有
用である。
又素子構成上、回折格子はあらかじめエピタキシャル成
長した光ガイド層上に形成することもできる。回41r
格子の次数として2次以夕)にも1次。
長した光ガイド層上に形成することもできる。回41r
格子の次数として2次以夕)にも1次。
3次1tのものが使用できることも明白である。
第1図は従来から4〃案されている装置の回折格rの構
造を示す略図、第2図は本発明による装置iftの柘■
7、を示す縦断面図、第:3図と第4図は第2図の装置
の一実施例の光出力−箱、流偶性図である。 I −n形1nl)基板、 2− n形1nGaAsP
光ガ〔ド層、:う”’p形InGaAsP活性層、4−
p形InPクラッド層、5− p形InGaAsP電
極層、6・・・n形オーミック電極、7.8.9・・・
p形オーミック電極、10、II・・・回折格子。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人 白水常雄 外1名 禾3 図 t L (DCs mA) 第4図 ’E’ t (DC,mA)
造を示す略図、第2図は本発明による装置iftの柘■
7、を示す縦断面図、第:3図と第4図は第2図の装置
の一実施例の光出力−箱、流偶性図である。 I −n形1nl)基板、 2− n形1nGaAsP
光ガ〔ド層、:う”’p形InGaAsP活性層、4−
p形InPクラッド層、5− p形InGaAsP電
極層、6・・・n形オーミック電極、7.8.9・・・
p形オーミック電極、10、II・・・回折格子。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人 白水常雄 外1名 禾3 図 t L (DCs mA) 第4図 ’E’ t (DC,mA)
Claims (1)
- 半導体基板上に形成した少くとも活性層を含む複数の単
結晶薄膜からなる半導体結晶の一部゛分にレーザ光の発
振方向に沿って膜厚が周期的に変化している周期構造が
形成されている分布帰還の機能を有する半導体レーザ装
置において、周期構造を有する2つの領域にはさまれて
周期構造を有しない1つの光導波路領域が存在し、これ
らの3つの91域は各々に対応した互いに独立の1b、
原注入用′tb、極をイjし、該3つの電極から注入す
る電流の値を調節することにより単−輔モード発振を容
易にし又発Jk4 i1’l長を変化させ1(Iるよう
に構成されたことを114.徴とするQi−1伯モ一ド
半導体レーザ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59034265A JPS60178685A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59034265A JPS60178685A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60178685A true JPS60178685A (ja) | 1985-09-12 |
Family
ID=12409337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59034265A Pending JPS60178685A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60178685A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332988A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-12 | Nec Corp | 分布帰還形半導体レ−ザ |
JPH0766501A (ja) * | 1993-08-31 | 1995-03-10 | Nec Corp | 半導体レーザ |
US6330268B1 (en) | 1998-08-27 | 2001-12-11 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
US6574261B2 (en) | 1998-08-27 | 2003-06-03 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
CN1333500C (zh) * | 2005-07-27 | 2007-08-22 | 清华大学 | 一种多段式分布反馈半导体激光器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5844785A (ja) * | 1981-08-27 | 1983-03-15 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 半導体レ−ザ |
JPS5878488A (ja) * | 1981-11-05 | 1983-05-12 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 分布帰還形半導体レーザの駆動方法 |
-
1984
- 1984-02-27 JP JP59034265A patent/JPS60178685A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5844785A (ja) * | 1981-08-27 | 1983-03-15 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 半導体レ−ザ |
JPS5878488A (ja) * | 1981-11-05 | 1983-05-12 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 分布帰還形半導体レーザの駆動方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332988A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-12 | Nec Corp | 分布帰還形半導体レ−ザ |
JPH0766501A (ja) * | 1993-08-31 | 1995-03-10 | Nec Corp | 半導体レーザ |
US6330268B1 (en) | 1998-08-27 | 2001-12-11 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
US6574261B2 (en) | 1998-08-27 | 2003-06-03 | Nec Corporation | Distributed feedback semiconductor laser |
CN1333500C (zh) * | 2005-07-27 | 2007-08-22 | 清华大学 | 一种多段式分布反馈半导体激光器 |
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