JPS60162901A - Noncontacting displacement measuring instrument - Google Patents
Noncontacting displacement measuring instrumentInfo
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- JPS60162901A JPS60162901A JP1777884A JP1777884A JPS60162901A JP S60162901 A JPS60162901 A JP S60162901A JP 1777884 A JP1777884 A JP 1777884A JP 1777884 A JP1777884 A JP 1777884A JP S60162901 A JPS60162901 A JP S60162901A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、外光の影響を少なくして測定対象物までの距
離又はその変位を測定する非接触変位測定装置に係り、
特に除算器での温度ドリフトの影響を受けることなく高
い測定精度が得られる非接触変位測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Industrial Application Field The present invention relates to a non-contact displacement measuring device that measures the distance to a measuring object or its displacement while reducing the influence of external light.
In particular, the present invention relates to a non-contact displacement measuring device that can obtain high measurement accuracy without being affected by temperature drift in a divider.
(ロ)従来技術
従来、この種非接触変位測定装置は第1図にブロック図
で示すように、まず、パルス発生器1でパルスを発生し
、半導体レーザ2を所定のパルス幅で駆動し発光させる
。ここで発光した光は送光レンズ3により測定対象物4
の表面上に光スポット5を結像するが、この先スポット
5は受光レンズ6を通して受光素子7上に結像する。(B) Prior Art Conventionally, this type of non-contact displacement measuring device, as shown in the block diagram in Fig. 1, first generates a pulse with a pulse generator 1 and drives a semiconductor laser 2 with a predetermined pulse width to emit light. let The emitted light is transmitted to the measurement target 4 by the light transmitting lens 3.
A light spot 5 is formed on the surface of the light receiving element 7 , and the spot 5 is then imaged onto a light receiving element 7 through a light receiving lens 6 .
次いで、受光素子7からの出力電流をプリアンプ8.9
によって増幅した後、減算回路1o及び加算回路11に
よって所定の電圧を得、この電圧はサンプルホールド回
路12.13に入力される。ここで、パルス発生器1で
発生したパルスと同期したサンプリンタパルス14に従
って、電圧のピーク値がサンプルホールドされる。Next, the output current from the light receiving element 7 is sent to a preamplifier 8.9.
After amplification, a predetermined voltage is obtained by the subtraction circuit 1o and the addition circuit 11, and this voltage is input to the sample and hold circuits 12 and 13. Here, the peak value of the voltage is sampled and held according to the sampler pulse 14 synchronized with the pulse generated by the pulse generator 1.
そして、除算器15により受光素子7」−のスポット光
の変位計に比例した信号が得られる。このようにして、
測定対象物4の変位量を半導体レーザ2の光を媒介とし
て非接触で測定か行われる。Then, the divider 15 obtains a signal proportional to the displacement meter of the spot light of the light receiving element 7''. In this way,
The amount of displacement of the object to be measured 4 is measured in a non-contact manner using the light from the semiconductor laser 2 as a medium.
とこ7)が、前記除算器15には直流レヘルで入力され
るため、除算器15の温度ドリフトが大きくなって測定
精度に及はず影響か人であった。特に、加算回路への入
力が小さい場合にこの温度ドリフトが極めて大きくなる
という問題かあり、そのために高性能の除算器を使用す
ることが考えられるが、測定装置が高価なものになって
しまうという問題があった。However, since the DC level is input to the divider 15, the temperature drift of the divider 15 becomes large and does not affect the measurement accuracy. In particular, there is a problem that this temperature drift becomes extremely large when the input to the adder circuit is small.For this reason, it is possible to use a high-performance divider, but the measurement equipment would be expensive. There was a problem.
(ハ)目的
本発明はこのような問題点をIW決し、除算器の温度ド
リフ1の影響を受りることなく、測定iff度が高くか
つ安価な非接触変位測定装置を提供することを目r白と
する。(c) Purpose The present invention aims to solve these problems and provide an inexpensive non-contact displacement measuring device that is not affected by the temperature drift of the divider, has a high measurement degree, and is inexpensive. r Make it white.
(ニ)構成
そごで、本発明の特徴とする処は、発光素子を駆動する
駆動パルスと、この駆動パルスと同一に設定されたパル
スを有するサンプリングパルス八と、このサンプリング
パルス八よりパルス開始時点か遅れると共にパルス終了
時点が同時か又はそれよりも早く終了するサンプリング
パルスBとをそれぞれ同期して出力するパルス発生器と
、前記駆動パルスを入力してパルス状に光を発生する発
光素子と、前記パルス状の光を測定対象物の表面上に結
像させる送光レンズと、測定対象物の表面上の光像を受
光素子Qこ結像させる受光レンズと、受光素子上に結像
された光像の位置が電気信号として出力される受光素子
と、前記受光素子から出力された電気信号を増幅する増
幅器と、増幅された前記受光素子から出力された電気信
号を減算する減算回路及び加算する加算回路と、前記加
算回路で加算された電気信号を前記サンプリングパルス
Aによりサンプリングするサンプルホールド回路と、前
記減算回路で減算された電気信号を、加算された電気信
号で除算して、前記受光素子」−の光像の変位量を変換
出力する除算器と、この除算器からの出力信号をバイパ
スフィルターを通した)多、前記サンプリングパルスB
でサンプリングするサンプルホールド回路とからなる点
にある。(D) Structure: The features of the present invention include a drive pulse for driving the light emitting element, a sampling pulse 8 having the same pulse as this drive pulse, and a pulse starting from this sampling pulse 8. a pulse generator that synchronously outputs a sampling pulse B whose pulse end time is delayed and ends at the same time or earlier; and a light emitting element that receives the driving pulse and generates light in a pulsed form. , a light transmitting lens that forms an image of the pulsed light on the surface of the object to be measured, a light receiving lens that forms a light image on the surface of the object to be measured on a light receiving element Q, and a light receiving lens that forms an image of the light on the surface of the object to be measured, and a light receiving element that outputs the position of the optical image as an electrical signal, an amplifier that amplifies the electrical signal output from the light receiving element, a subtraction circuit that subtracts the amplified electrical signal output from the light receiving element, and an addition circuit. a sample hold circuit that samples the electrical signal added by the adding circuit using the sampling pulse A; and a sample hold circuit that samples the electrical signal added by the adding circuit using the sampling pulse A, and divides the electrical signal subtracted by the subtracting circuit by the added electrical signal, a divider that converts and outputs the amount of displacement of the optical image of the element, and the output signal from the divider is passed through a bypass filter.
The point is that it consists of a sample and hold circuit that samples at .
(ボ)実施例
第2図は本発明に係る非接触変位測定装置の一実施例を
説明するブロック図である。図に於いて、20はパルス
発生器であり、このパルス発生器20により半導体レー
ザ・発光ダイオード等の発光素子22を駆動するタイミ
ングが決定されると共に、サンプルホールド回路32.
35のサンプリングタイムが決定される。(B) Embodiment FIG. 2 is a block diagram illustrating an embodiment of the non-contact displacement measuring device according to the present invention. In the figure, reference numeral 20 denotes a pulse generator, and this pulse generator 20 determines the timing of driving a light emitting element 22 such as a semiconductor laser or a light emitting diode, and also determines the timing of driving a light emitting element 22 such as a semiconductor laser or a light emitting diode.
35 sampling times are determined.
21は、パルス発生器20のパルスムこ基づいて前記発
光素子22を駆動する駆動回路であり、この駆動回路2
】の出力パルスを入力して発光素子221J、例えばパ
ルス幅1 μs〜100 μs、周期Q、] +ns〜
] ma程度で繰り返されるパルス状の光を発生ずる。21 is a drive circuit that drives the light emitting element 22 based on the pulse pulse of the pulse generator 20;
] is input to the light emitting element 221J, for example, pulse width 1 μs to 100 μs, period Q, +ns to
] Generates pulsed light that repeats at approximately ma.
23は発光素子22の光を集光し、測定り1象物24の
表面上に光スボソ125を結像させる送光レンズである
。Reference numeral 23 denotes a light transmitting lens that condenses the light from the light emitting element 22 and forms a light beam 125 on the surface of the object 24 to be measured.
26は、測定対象物24の表面上の光スポット25を受
光素子27に結像させる受光レンズであり、この受光レ
ンズ26によって結像された光スポット25の光像の位
置が、受光素子27により電気信号に変換される。なお
、ここで受光素子27とは、両端から電気信号が出力さ
れ、その2つの電気信号の差を2つの電気信号の和で除
算すれば光スボソh25の光像の位置の電気信号が得ら
れる位置検出用素子をいう。以下、受光素子27とはこ
のことを指ず。26 is a light receiving lens that images the light spot 25 on the surface of the measurement object 24 on the light receiving element 27, and the position of the light image of the light spot 25 formed by the light receiving lens 26 is determined by the light receiving element 27. converted into an electrical signal. Note that the light-receiving element 27 here outputs an electric signal from both ends, and by dividing the difference between the two electric signals by the sum of the two electric signals, the electric signal at the position of the optical image of the optical subograph h25 can be obtained. Refers to a position detection element. Hereinafter, the term "light receiving element 27" refers to this.
28.29は受光素子27からの電気信号を増幅するプ
リアンプであり、30はプリアンプ28.29の出力の
差を計算する減算回路、31はプリアンプ28.29の
出力の和を計算する加算回路である。28 and 29 are preamplifiers that amplify the electrical signal from the light receiving element 27, 30 is a subtraction circuit that calculates the difference between the outputs of the preamplifiers 28 and 29, and 31 is an addition circuit that calculates the sum of the outputs of the preamplifiers 28 and 29. be.
32は、前記加算1u路31で加算された電気信号をパ
ルスQ’−IE器20からのサンプリングパルス八によ
りサンプリングするサンプルホールド回路であり、この
サンプリングパルスAは前記駆動パルスと同一に設定さ
れる。32 is a sample hold circuit that samples the electric signal added by the addition path 31 using the sampling pulse 8 from the pulse Q'-IE device 20, and this sampling pulse A is set to be the same as the drive pulse. .
33は、前記減算回路30で減算された電気信号を、前
記サンプルボールド回路32から出力された電気信号で
除算して、前記受光素子27」−の光像の変位量を変換
出力する除算器である。33 is a divider that divides the electrical signal subtracted by the subtraction circuit 30 by the electrical signal output from the sample bold circuit 32 to convert and output the amount of displacement of the optical image of the light receiving element 27. be.
34ば発光素子22のパルス光から変位した信号のみを
純化して取り出ずバイパスフィルタ、35は前記除算器
33からの出力信号〜をバイパスフィルタ34を通した
後サンプリングパルスBてサンプリングするサンプルボ
ールド回路である。34 is a bypass filter that purifies only the signal displaced from the pulsed light of the light emitting element 22 and does not take it out; 35 is a sample bold that samples the output signal from the divider 33 through the bypass filter 34 and then samples it with a sampling pulse B. It is a circuit.
このサンプリングパルスBば前記サンプリングパルス八
よりパルス開始時点が遅れると共に、パルス終了時点が
同時か又はそれよりも早く終了するように設定されてい
る。そして、前記駆動パルスとサンプリングパルスA、
、Bとは発生器20からそれぞれ同期して出力される。This sampling pulse B is set so that its pulse start time is delayed from the sampling pulse 8, and its pulse end time is set to end at the same time or earlier. The driving pulse and the sampling pulse A,
, B are output from the generator 20 in synchronization with each other.
なお図示省略したが、受光素子27と、減算回路30及
び加算回路31との間には適宜バイパスフィルタ34が
挿入される。Although not shown, a bypass filter 34 is appropriately inserted between the light receiving element 27 and the subtraction circuit 30 and addition circuit 31.
次に、第2図のブロック図に示したシステムの動作の時
間的な関係を第3図のタイミングチャー1〜に基づき説
明する。Next, the temporal relationship of the operation of the system shown in the block diagram of FIG. 2 will be explained based on timing charts 1 to 3 of FIG. 3.
パルス発生器20から減算回路30及び加算回路3]ま
ての動作は、前述の実施例と同様であるから説明は省l
1ll!する。しかして、加算回路31の出力信号を前
記サンプリングパルスAてサンプルホールドすると、破
線にて示すようなステップの短い波形となる。ここでサ
ンプルホールドするのは、発光素子22の次の発光期間
で速やかに復帰する必要があるからであり、サンプルボ
ールドしない場合は発光素子22が発光しない期間では
加算出力ばOvとなり、実線のようにステップの長い波
形となって除算器33の出力が飽和若しくは不定となる
。従って、復帰時間が長くなってしまう結果となる。The operations from the pulse generator 20 to the subtraction circuit 30 and the addition circuit 3 are the same as those in the previous embodiment, so a description thereof will be omitted.
1ll! do. When the output signal of the adder circuit 31 is sampled and held using the sampling pulse A, it becomes a waveform with short steps as shown by the broken line. The reason for sampling and holding here is that it is necessary to quickly recover in the next light emitting period of the light emitting element 22.If sample bold is not used, the added output will be Ov during the period in which the light emitting element 22 does not emit light, as shown by the solid line. Since the waveform has a long step, the output of the divider 33 becomes saturated or undefined. This results in a longer recovery time.
このサンプリングパルスAにてサンプルボールドされた
加算出力で減算出力を除算する除算器33からの出力信
号は、一般に図のように立ち上がりがなまった波形とな
る。The output signal from the divider 33, which divides the subtraction output by the addition output sampled and bolded with this sampling pulse A, generally has a waveform with a blunted rise as shown in the figure.
この出力信号をバイパスフィルタ34を通してサンプリ
ングパルスBによってサンプリングすると、バイパスフ
ィルタ34の出力信号のピーク値が保持されて連続的な
信号に変換され、前記受光素子22上の光像の変位量に
比例した信号が出力される。When this output signal is sampled by the sampling pulse B through the bypass filter 34, the peak value of the output signal of the bypass filter 34 is maintained and converted into a continuous signal, which is proportional to the amount of displacement of the optical image on the light receiving element 22. A signal is output.
(へ)効果
本発明は以」−詳述した構成にて所期の目的を有効に達
成した。特に、除算器に温度ドリフトが発生しても除算
器からの出力信号をバイパスフィルタに通ずため、温度
ドリフトは測定精度に影響を及ぼさない。かつ、バイパ
スフィルタを通した後サンプリングパルスBでサンプリ
ングするザンブルホールド回路を設けたから、除算器の
出力の立ち上がりのなまりによる影響がtζく、サンプ
リングされた除算器の出力は所望の変位出力となる。(f) Effects The present invention has effectively achieved the intended purpose with the configuration described in detail below. In particular, even if a temperature drift occurs in the divider, the output signal from the divider is passed through the bypass filter, so the temperature drift does not affect measurement accuracy. In addition, since a sample hold circuit is provided that samples with sampling pulse B after passing through a bypass filter, the influence of the blunt rise of the output of the divider is reduced, and the sampled output of the divider becomes the desired displacement output. .
また、除算器の出力にはオフセットがあり、これを調整
するためにトリマを必要とするが、上述のように除算器
の出力をバイパスフィルタに通した後、サンプルホール
ド回路に入力するため、オフセットによる影響がなく
l−リマを省略出来て除算器の調整が容易となる。この
ように、高性能の除算器を使用しなくても測定精度が高
くかつ安価な非接触変位測定装置が得られる。In addition, there is an offset in the output of the divider, and a trimmer is required to adjust this, but as mentioned above, the output of the divider is passed through the bypass filter and then input to the sample and hold circuit, so the offset is There is no influence due to
Since the l-lima can be omitted, the adjustment of the divider becomes easy. In this way, a non-contact displacement measuring device with high measurement accuracy and low cost can be obtained without using a high-performance divider.
第1図は従来例を示す非接触変位測定装置を説明するブ
ロック図、第2図は本発明に係る非接触変位測定装置の
一実施例を説明するブロック図、第3図は第2図のブロ
ック図に示したシステムの動作の時間的な関係を説明す
るタイミングチャートである。
20・・・パルス発生器、22・・・発光素子、23・
・・送光レンズ、24・・・測定対象物、26・・0
・受光レンズ、27・・・受光素子、28.29・・・
増幅器、30・・・減算回路、31・・・加算回路、3
2.35・・・ザンプルホールド回路、33・・・除算
器、34・・・バイパスフィルタ、A、B・・・サンプ
リングパルス。
特許出願人 リード電機株式会社
代理人 弁理士 大 西 孝 治
1FIG. 1 is a block diagram illustrating a conventional non-contact displacement measuring device, FIG. 2 is a block diagram illustrating an embodiment of the non-contact displacement measuring device according to the present invention, and FIG. 3 is a timing chart illustrating the temporal relationship of operations of the system shown in the block diagram. 20... Pulse generator, 22... Light emitting element, 23.
...Light sending lens, 24...Measurement object, 26...0 - Light receiving lens, 27...Light receiving element, 28.29...
Amplifier, 30... Subtraction circuit, 31... Addition circuit, 3
2.35... Sample hold circuit, 33... Divider, 34... Bypass filter, A, B... Sampling pulse. Patent applicant Reed Electric Co., Ltd. Agent Patent attorney Takaharu Ohnishi 1
Claims (1)
スと同一に設定されたパルスを有するサンプリングパル
ス八と、このサンプリングパルス八よりパルス開始時点
が遅れると共にパルス終了時点が同時か又はそれよりも
早く終了するサンプリングパルスBとをそれぞれ同期し
て出力するパルス発生器と、 前記駆動パルスを入力してパルス状に光を発生ずる発光
素子と、 前記パルス状の光を測定対象物の表面上に結像させる送
光レンズと、 測定対象物の表面上の光像を受光素子に結像させる受光
レンズと、 受光素子上に結像された光像の位置が電気信号として出
力される受光素子と、 前記受光素子から出力された電気信号を増幅する増幅器
と、 増幅された前記受光素子から出力された電気信号を減算
する減算回路及び加算する加算回路と、前記加算回路で
加算された電気信号を前記サンプリングパルス八により
サンプリングするーリ・ンプルホールド回路と、 前記減算回路で減算された電気信号を、加算された電気
信号で除算して、前記受光素子」−の光像の変位量を変
換出力する除算器と、 この除算器からの出力信号をバイパスフィルターを通し
た後、前記サンプリングパルスI3でサンプリングする
ザンプルポールト回路とからなることを特徴とする非接
触変位測定装置。(1) A driving pulse for driving a light-emitting element, a sampling pulse 8 having a pulse set to be the same as this driving pulse, and a pulse start time delayed from this sampling pulse 8, and a pulse end time at the same time or earlier. a pulse generator that outputs the sampling pulse B that finishes early in synchronization with each other; a light emitting element that receives the drive pulse and generates pulsed light; and a light emitting element that generates pulsed light on the surface of the object to be measured. A light transmitting lens that forms an image, a light receiving lens that forms a light image on the surface of the object to be measured on a light receiving element, and a light receiving element that outputs the position of the light image formed on the light receiving element as an electrical signal. , an amplifier that amplifies the electrical signal output from the light receiving element; a subtraction circuit that subtracts the amplified electrical signal output from the light receiving element; and an addition circuit that adds the electrical signal that is added by the addition circuit; A sample hold circuit performs sampling using the sampling pulse 8, and the electric signal subtracted by the subtraction circuit is divided by the added electric signal to convert and output the amount of displacement of the optical image of the light receiving element. A non-contact displacement measuring device comprising: a divider that outputs a signal from the divider; and a Samplepoort circuit that passes an output signal from the divider through a bypass filter and then samples it with the sampling pulse I3.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1777884A JPS60162901A (en) | 1984-02-02 | 1984-02-02 | Noncontacting displacement measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1777884A JPS60162901A (en) | 1984-02-02 | 1984-02-02 | Noncontacting displacement measuring instrument |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60162901A true JPS60162901A (en) | 1985-08-24 |
JPH0437925B2 JPH0437925B2 (en) | 1992-06-22 |
Family
ID=11953173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1777884A Granted JPS60162901A (en) | 1984-02-02 | 1984-02-02 | Noncontacting displacement measuring instrument |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60162901A (en) |
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Also Published As
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