JPS60122367A - 超音波測定方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ■８発明の背景 Ａ、技術分野 本発明は、超音波を物体に送信し、物体の内部からの反
射超音波を受信して、物体内部の音響特性を測定する超
音波測定方法の改良に係り、特に物体内部の超音波伝播
に伴う減衰に関する情報を提供する超音波測定方法およ
びその装置に関する。

Ｂ、先行技術とその問題点 超音波測定技術は現在金属探傷、魚群探知、医療診断分
野等広範囲にわたって利用されている。中でも医療用の
超音波断層装置の最近の発展には目をみはるものがある
。

超音波断層装置は原理的には、パルスエコー法を用いて
おり、被測定物体としての生体内へ送信された超音波・
ぐルスが生体内部の音響インピーダンスの異なる境界で
反射する現象を利用し、この反射波（エコー）を受信し
ていわゆるＢモード法による生体の断層像を表示するも
のである。従ってこのエコーには生体内部での超音波の
減衰、音響インピーダンス、音速等の様様な情報が含ま
れている。しかし従来の装置では、これらの各情報が明
確に分離されず、単にエコーの振幅を表示しているにす
ぎない。

具体的には、生体内の音速を一定と仮定し、さらに生体
内の超音波伝播による減衰は、いわゆるＳＴＣ（５ｅｎ
ｓｉｔｉｖｉｔｙ　Ｔｉｍｅ　Ｃｏｎｔｒｏｌ　）回路
と呼ばれている回路によって任意的に補正をしたエコー
振幅値を輝度に変調し、これをブラウン管上に断層像と
して表示しているにすぎない。従って、得られた断層像
は、生体内部の音響インピーダンス境界面の２次元的分
布を定性的に画像化したものとなシ、必然的に生体組織
の位置や形に関する形態情報がその利用の中心となって
いる。つまり、生体組織の特性である減衰度、音速等の
測定はなされていないのが現状である。

生体組織の減衰情報を得ようとする試みがいくつか報告
されている。後で詳しく述べるように、エコー信号には
生体組織伝播による減衰と音響インピーダンスの異なる
境界での反射強度の２つの情報が含まれており、両者は
いずれも、未知である。したがって厳密にこの２つの影
響を分離することは、今のところ極めて困難であると言
わざるを得ない。

反射強度が超音波の周波数に依存しないと仮定した場合
には、被測定物体の同一部分について複数の異なる周波
数の超音波を送受信しエコーの各周波数成分の音圧比を
測定すれば、反射強度の影響をなくして伝播による減衰
係数をめることが可能となる。このような仮定は、超音
波の波長に比べて十分大きな広がりをもつ音響境界、例
えば平面反射板の場合には成立する。

しかし実際の生体組織では、使用する超音波の波長程度
あるいはそれ以下の大きさの散乱体が存在し得るので、
この仮定は生体組織全体を考えたとき必ずしも成立する
ことは考えにくい。

このような状況を鑑みて本出願人は、生体の超音波伝播
による減衰情報を音響境界での反射強度の影響を少なく
して測定する方法および装置を特願昭５５−４．９５７
１として出願している０しかしながら前記出願の発明で
得られる超音波減衰情報は、減衰係数そのものではなく
、被測定物体内の所定の区間における超音波減衰係数（
５） の平均値の一次式である。

■０発明の目的 本発明は、被測定物体の減衰係数、および減衰係数の周
波数依存性を近似的に測定する超音波測定方法および装
置を提供することを目的とする。

本発明によれば、複数の異なる周波数の超音波パルスを
被測定物体に送信し、物体内よシ反射された超音波パル
スのエコーを検出し、この検出された複数の周波数のエ
コーを情報処理することによって物体の超音波特性に関
する定量的な情報を得る超音波測定方法において、２つ
の異なる周波数よシ測定された減衰係数の平均値、およ
びこれら２つの周波数を含む３つの異なる周波数より測
定された減衰係数の平均値より、物体の減衰係数に関す
る情報を算出する。

本発明の一つの特徴によれば、減衰係数に関する情報は
、被測定物体における超音波の減衰係数を含む。

（６） 本発明の他の特徴によれば、減衰係数に関する情報は、
被測定物体における超音波の減衰係数の周波数依存性を
含む。

本発明による超音波測定装置は、複数の異なる周波数の
超音波・やルスを被測定物体に送信する手段と、物体内
より反射された超音波・やルスのエコーを検出する手段
と、検出された複数の周波数のエコーを情報処理し物体
の超音波特性に関する定量的な情報を得る手段と、この
得られた定量的な情報を表示する手段とを有する超音波
測定装置であって、情報を得る手段は、２つの異なる周
波数の減衰係数の平均値、および２つの周波数を含む３
つの異なる周波数の減衰係数の平均値をめ、これらの平
均値より該物体の減衰係数に関する情報を算出する。

■１発明の詳細な説明および作用 次に添付図面を参照して、本発明による超音波測定方法
の実施例を詳細に説明する。

まず第１図によって本発明の原理について説明を行う。

超音波探触子ｌから被測定物体４に放射された超音波・
やルス１０は、音響特性不連続面２および３によってそ
れぞれ反射され、それぞれの反射・ぐルス２０および３
０が探触子１によって検出される。

いま、パルス放射から反射パルス受信までの時間Ｉｔと
すると、超音波探触子ｌから音響特性不連続面までの距
離Ｘは、音速−６ｖとして次式で与えられる。

ｘ　＝　Ｖ−ｔ　／　２ ここで周波数ｆで放射された・ぐルス１０の強度を■。

（ｆ）、受信した反射パルスの強度ｋ　ＩＣｆ、Ｘ　）
とすると、近似的に次式が成立する。

（１）式の両辺の自然対数をとると ここでαＣｆ、ｘ）は被測体物体４の超音波伝播による
減衰係数であり、ｆａ（ｆ″Ｘ）・ｇ（ｘ）は、周波数
依存性を考慮に入れた音響特性不連続面の反射強度であ
る。

ａ（Ｃｘ）の値は、波長（λ＝Ｖ／Ｖ）より充分大きい
音響特性不連続面では、ａ（ｆ、ｘ）＝０であシ、波長
よジ充分小さい音響特性不連続面では、ａ（ｆ、ｘ）＝
４である。従っである特定の周波数帯域内ではａ（ｆ、
Ｘ）は一定であり、生体については０くα（ｆ、ｘ）＜
４であると考えられる。またｘ　ｂ　（ｘ）は、反射波
が広がることに起因して超音波探触子１の位置での反射
強度が弱まる効果を考慮したもので、充分に広い音響特
性不連続面では、ｂ（ｘ）　＝　Ｏ、小さい音響特性不
連続面では、ｂ（ｘ）＝−２である。従って一般に−２
＜ｂ（ｘ）＜　Ｏである。

またα（ｆ、ｘ）は、超音波の伝播による減衰係数であ
る。但し、以上の考察では、放射超音波１０（９） は理想的に細いペンシル・ビームとし、また近接した複
数の音響特性不連続面からの反射波相互間の干渉の効果
は無視している。

エコー強度の分布から情報処理をして被検査物体４の超
音波特性に関する定量的情報を得る原理は、（２）式か
ら出発する。

数学的見通しを良くするため、ここで仮シにエコー強度
Ｉ（ｆ、Ｘ）が距離Ｘおよび周波数ｆについて連続的に
得られるとして、（２）式の両辺をＸで一階偏微分する
と、 一４α（ｆ、　ｘ）・・・（３） さらに周波数ｆで一階偏微分すると ・・・（４） 両辺にｆ”ｆｒかけ整理すると次式を得る。

（１０） また（３）式の両辺を周波数の対数ｔｎｆで２階偏微分
すると次式を得る。

被検査物体の超音波減衰係数が周波数の巾β（Ｘ）乗に
比例するとα（Ｊ’、ｘ）−α。（Ｘ）・ｆβ（Ｘ）と
なり、従って（５）式の左辺は次のようになる。

また（６）式の左辺は、次のようになる。

（８）　／　（７）より （７）２／　（８）より となシ、減衰係数α（ｆ、ｘ）およびその周波数依存性
β（ｘ）がまる。すなわち（９）式および（５）　（６
）式より ・・・・・・α■ また（９）式のβ（Ｘ）オヨヒ（１０式（７）　α（ｆ
、ｘ）ヨり、α（ｆ、ｘ）＝α。（Ｘ）・ｆβ（Ｘ）の
関係を用いてα。（Ｘ）が、次式α。（Ｘ）＝α（ｊ’
、ｘ）／Ｖβ（Ｘ）よりめられる。

０９式の分母および分子の第１項は測定量であるが、第
２項は非測定量である音響特性不連続面の反射強度によ
る項であシ、β（Ｘ）　請求める場合には誤差を生じる
原因となる。

反射強度の周波数依存性を示す係数ａ（ｆ、ｘ）が測定
する周波数の範囲で一定であれば、ナなわな９、従って
（５）式および（６）式はそれぞれ次式のようになる。

・・・・・・α→ 従って０９式は０■および０３式よシ ・・・・・・・・・α→ となり、同様に０１式は次のようになる。

・・・・・・・・α→ これらは０９式および（１１式に比べて誤差の項が少／
’ＩＱ） なくなっていることがわかる。すなわち０４式でαΦ式
は次式のように誤差を含まない式となる。

つまり、反射強度の周波数依存性を示す係数ａ（ｆ、ｘ
）が測定する範囲の周波数ｆおよび距離Ｘに依存せず一
定であれば、ｆａとなパ００式によって減衰係数α（ｆ
、Ｘ）の周波数依存性β（Ｘ）が正確に測定されるわけ
である。この場合には００式よＱ１α（ｆ、　ｘ）も次
式のように正確に測定することが可能となる。

以上の説明ではエコー信号強度Ｉ（、ｌ’、Ｘ）が距離
Ｘおよび周波数ｆに関して連続的に得られる場合につい
て述べたが、実際の測定の場合には、エコー信号は散乱
体のある位置Ｘにより離散的（１４） に与えられるので、若干の修正を必要とする。

すなわち、（５）式および（６）式で用いた微分の代わ
りに差分を用いなければならない。第１図に示すように
、散乱体２，３が離散的に存在する位置ｆ　Ｘｌおよび
Ｘ２として両位置の間で（２）式の差分をめ変形すると
、次式のようになる。

数値微分により（４）式に対応する近似式を得るに・・
・・・・翰 ただし であるから、 同様に数値微分によシ（６）式に対応する近似式を得る
ために、３つの周波数ｆ１＋　ｆ２．　ｆ５Ｃｆ１＜ｆ
２＜　ｆ、　）についてデータをとり、周波数の対数”
ｆ　１　＋　ｔｎｆ２　＋　ＺｎＩ２に関して２階の差
分面をとって変形すれば次式を得る。　／ に −Ｉ：Ｉ　８ 「〕　Ｓ ど） （２５）式の分母および分子の第１項はへ◇式と同様、
測定量であるが、第２項のＤ２およびＤ５はαめ式と同
様、音響特性不連続面の反射強度による周波数依存性が
あるために生じる項であり、βωに対しては誤差の項と
なる。反射強度の周波数依存性ｆａＣｆ・Ｘ）が測定す
る周波数の範囲で一定であれば、すなわちａ（ｆ４．ｘ
ｌ）＝ａ（ｆ２．ｘｌ）＝ａ（ｆ３．Ｘ、）およびａ　
（ｆｌｐ　Ｘ２　）　””　ａ　（ｆ２　ｅ　Ｘ　２　
）＝ａ　（ｆ３　＊　Ｘ　２　）であれば、ａはＸのみ
の関数となシＤ５は零となる。よって翰式および（２２
１式は次式のようになる。

又（２７）式は（２８）および（２９）式より・・・・
・・（３１） となり、これら２つの式は（２５）式および（２７）式
に比べると誤差の項が少なくなっていることがわかる。

更に反射強度の周波数依存性ａ（ｘ）が距離Ｘに依存せ
ず一定であればａ（Ｘ２）−ａ（Ｘｌ）よｐ　（３０）
式は次式のようにさらに誤差を、少ない式となる。

、１１′ 省 （ （２４） つまシ反射強度の周波数依存性を示す係数ａ（ｆ、ｘ）
が測定する範囲の周波数ｆおよび距離Ｘに依存せず一定
であればａ（ｆ、ｘ）−ａとなり、ｃ３ａ式によって減
衰係数α（ｆ、　りの周波数依存性の平均値β（Ｘ）が
さらに正確に測定されるわけである。

この場合には、０］）式によシ、α（ｆ、ｘ）も次式の
ようにさらに正確に測定することが可能となる。

１Ｌ１１− １１　理 ９　Ｑ （υ 述 （２６） 翰式及び（イ）式においてＤ２及びＤ３は実験値からは
まらない誤差項である。翰式においてＤ２はａ（ｆ、ｘ
）がｆｌｒ　ｆ５　＋　ｘ　１ｒ　Ｘ　２によらず定数
のときは消去され、（イ）式においてＤ３はａ（ｆ、ｘ
）がＸ１１　Ｘ２には依存していても周波数ｆ４．ｆ２
．ｆ３について一定であるときは消去されるが、そうで
ない場合については次のようにしてその相対誤差を評価
できる。即ちＯ＜　ａ（ｆ、ｘ）　＜　４であるので ・・・・・Ｇ４ となり、これは翰式におけるＤ２による相対誤差／″ （２７） べ （２８） ところで現実には、超音波プローブ１から、例えば減衰
の極めて小さい水中に向けて送信された超音波ビームは
、そのゾローブ１の開口、あるいは中心周波数によって
その音場が変化する。音場は、近似的には第２図（４）
のようになシ、また中心軸上の強度は超音波プローブ１
からの距離Ｘによって同（Ｂ）に示すように変化する。

なお同（Ｂ）の縦軸は、最大強度工。に対する距離Ｘに
おける強度を示している。

そこで装置の実用上はこれを較正しておかなければ正し
い測定が行なえない。すなわち、音圧の変動をあらかじ
め標準媒質で測定し、被測定物体からのエコー振幅（音
圧）を標準音圧で割シ算し規格化することで、超音波プ
ローブの音場特性の影響を除き、測定された減衰度を、
よシ普遍的な値とすることが可能となる。

標準媒質による測定は次のようにして行なうのが適当で
ある。第３図のように、脱気水１００中にたとえばステ
ンレスの完全反射体１０２を、設け、この完全反射体１
０２からのエコー振幅（２９） 全標準音圧とする。超音波プローブ１と完全反射体１０
２の距離を相対的に変化させ、各距離からのエコー振幅
を測定すれば、標準音圧曲線が第４図のようにめられる
。

実用に適した装置としては、標準音圧曲線をあらかじめ
測定し、装置内に記憶させておくことが有利である。又
再度、標準音圧曲線を測定したい場合には、第５図のよ
うに階段状の完全反射体１０２ａを有する装置を作成す
ればよい。

すなわち超音波プローブｌを走査機構８で同図の矢印の
方向に水平走査すると、超音波プローブｌと反射体１０
２ａの反射面との距離が段階的に変化する。そこで完全
反射体１０２ａからのエコー振幅を測定し、順次記憶す
れば標準音圧曲線を得ることができる。

以上のように、複数の異なる周波数（ｆｌ。

ｆ２．　ｆ３）によって減衰係数α（ｆ、り　、αｏ（
Ｘ）およびその周波数依存性β（、）を近似的に測定で
きることが示されたわけである。とくに、反射強度が観
測する範囲の周波数ｆおよび距離Ｘに（３０） 依存せず一定であれば、α（ｆ、ｘ）　、α、（、）お
よびβ（Ｘ）をさらに正確に測定することが可能である
。

次に第６図にブロック図で示す本発明の実施例について
詳細説明を行う。

第６図に示す実施例は、本発明による超音波測定方法を
実現する装置であシ、生体４などの被測定物体の表面に
設定された電気信号と超音波の相互変換を行なう超音波
探触子１に送信回路５が接続されて送信系が構成され、
また受信回路７、対数増幅回路１８、検波回路１９およ
びＳＴＣ回路ｚＯによって受信系が構成されている。探
触子１による走査は走査部８によって制御回路１７の制
御のもとに行なわれる。

生体４の内部で反射された超音波エコーは表示部１５に
可視像として表示される。表示部１５に表示されるのは
、本発明に従って算出された、たとえばエコー振幅の減
衰係数および（または）その周波数依存性であるが、こ
れは、受信した超音波エコーから２つのメモリ回路ｌＯ
および１２を使用して演算回路１１によって得られる。

送信回路５より探触子ｌに第７図のよう々急峻に減衰す
る広帯域の駆動・ぐルスが印加される。

探触子１は高分子系振動子（ポリフッ化ビニルデン：　
ＰＶＤＦ　）　、高分子と無機物の複合系振動子、ある
いは音響整合層を付加したＰＺＴ振動子が広帯域特性を
もつ探触子として好ましい。この結果探触子ｌより第８
図のような広帯域超音波・ぐルスが被測定物体４の内部
へ送波（信）される。

被測定物体４中の音響特性不連続面（たとえば第１図の
２，３）で反射散乱された超音波エコーは同じ探触子１
によって受波（信）され受信回路７へ入力される。受信
回路７で増幅されたエコー信号（Ａモード信号）はｌ変
換器９でデジタル化され、メモＩＪ　１０へ蓄積される
。

このメモリ１０内のＡモード信号は、第９Ａ図および第
９Ｂ図に示した所定のアルゴリズムによって演算回路１
１で処理され、これによって前述のβ（Ｘ）、αｏ（Ｘ
）　、α（几５Ｃ）をめ、これらの値をメモリ１２へ蓄
積する。このメモリ１２内のβ（Ｘ）、αｏ（Ｘ）ある
いはα（ｆ、Ｘ）’を必要に応じて選択し、Ｄ／Ａ変換
器１３でアナログ化し、映像出力増幅回路１４へ入力し
、表示部１５へ可視画像として出力する。

生体４におけるβ（Ｘ）、α。（Ｘ）あるいはα（ｆ、
ｘ）を測定したい関心領域は、表示部１５へ展開された
生体４のＢモード像２００（第１０図）上においてたと
えば枠２０２で示すように、関心領域設定回路１６によ
って設定される。すなわち従来行なわれているように、
Ｂモード像は、走査部８によって探触子１を被測定物体
４上に走査し、Ａモード信号を収集することによって得
られる。走査の方法は、メカニカル・セクタ、コンノウ
ンドスキャン、リニア電子スキャンおよびセクタ電子ス
キャン等、多くの方式がある。

しかしそれらの詳細については本発明に直接関係ないの
で、ここでは説明を省略する。このような走査で得られ
たエコー信号は、受信回路７を通シ、対数増幅回路１８
によって対数増幅され、検波回路１９およびＳＴＣ回路
２０によって（３３） ＳＴＣ補正を受ける。ＳＴＣ補正されたエコー信号は、
メモＩＪ　２１に蓄積され、映像出力増幅回路１４によ
って表示部１５へＢモード像として展開される。このＢ
モード像を出力する各回路の動作は公知であるので、説
明を省略する。

ところでメモリ２１への書き込み（入力）を停止し、こ
のメモＩＪ　２１内の情報を繰返し出力（再生）すれば
、フリーズＢモード像が表示部１５へ展開される。この
フリーズ像２００上において、第１０図のように、α（
，７”、Ｘ）　、αｏ（Ｘ）。

β（Ｘ）’を測定したい関心領域２０２を関心領域設定
回路１６で指定する。指定法は、設定回路１６の操作部
（図示せず）を操作して例えば第１０図のように関心領
域の区間を枠２０２で指定すればよく、この方法は、い
わゆるキャリハ計測による２点間の距離計測法に類似し
たものである。

次に、演算回路１１で実行されるα（７，り　。

αｏ（、）　、β（、）を測定するアルゴリズムにつ込
て、第９Ａ図および第９Ｂ図のフローチャートに従（３
４） って詳細説明を行う。第９Ａ図および第９Ｂ図の左側の
フローチャートに対応して、右側にその処理結果がグラ
フなどで示されている。また演算回路１１の機能ブロッ
クが第１１図に示されている。

まず加算平均処理部５０では、メモリ１ｏがら読み出し
た受信信号を指定区間について加算平均を行う（３００
，３０２）。次に検波処理部５１で上記加算平均された
受信信号１０００を検波する（３０４）。次に高周波成
分抽出部５２では、受信信号１００１の高周波成分のみ
を抽出した受信信号１００２を作り、所定レベルＬ。以
上の受信信号１００３に変換する（３０６）。

次に極大値検出部５３では、受信信号１００３の極大値
の位置２０００〜２００３を検出する（３０８）。

次にエコー強度算出部５４では、検出された極大値２０
００〜２００３のうちで指定区間の始めと終りの位置に
最も近い極大値２０００および２００３を決定し、この
位置に対応した受信信号１０００の波形について所定巾
のハミングウィンドウをかけて高速フーリエ変換（ＦＦ
Ｔ）を実行し、工げ、ｘ）をめる（３１０）。

そこで探触子１による音場特性を較正するために、規格
部５６では、前述のようにして標準媒質１００または１
００ａなどでめたＪ（ｆ、Ｘ）でＩ（ｆ、ｘ）を規格化
し、Ｉ（ｆ、ｘ）を与える（３１２）。

生体４の音速Ｃ８全一定、たとえばＣ３＝１，５３０ｍ
／ｓと仮定しているので、Ｘｌ−ｃｔｌ、Ｘ２−ｃｔ２
でＸｌ　＋　Ｘ２が得られる。

次に、前述したように周波数ｆ１．ｆ３における指定区
間での超音波減衰係数の平均値Ｈ２及びｆｌ、　ｆ２．
　ｆ３における同平均値に比例する量Ｈ３が減衰係数算
出部５７でめられる（３１４゜３１６）。このＨ２およ
びＨ３よシさらに、目的のβ（Ｘ）、α（ｆ、Ｘ）およ
びα。（Ｘ）が次にめられる（３１８．３２０）。これ
らのＨ２，Ｈ３゜β（Ｘ）、αｏ（ｘ）およびα（ｆ、
Ｘ）の値がメモリ１２へ入力され、映像出力増幅器１４
を通って表示部１５へ出力され、メモリ２１から読み出
されたＢモード画像と共に表示部１５に併示される。

Ｈ２、Ｈ３，およびα（ｆ、りは［Ｎｅ　ｐ　ｅ　ｒ／
ｃｍ）の単位で表現されるが、必要に応じて演算回路ｌ
ｌ内で［ｄＢ／ｃｍ）の単位に変換してもよい。又は、
β（Ｘ）も表示可能である。α。（、）も［ｄＢｈ［Ｍ
Ｈｚ　）の単位で表示できる。

ところで本装置による第２の表示モードでは、指定区間
のみの減衰係数を測定するのではなく、全画面如対して
単位画素（区間）当シのＨ２゜Ｈ３１β（Ｘ）、α。（
、）およびα（ｆ、ｘ）を測定し、その分布を画像とし
て表示することができる。

これは、第１２図のように画像の各単位画素ΔＳに対し
て前記と同様のアルゴリズムを適用すれば、可能となる
。この分布像は当然、Ｂモード像に比べて空間分解能は
劣化するが、表示している情報としては、従来全く測定
できなかった減衰係数に関する情報が得られることが根
本的な相違点となっている。

本実施例では探触子１として広帯域探触子を使用したが
、特開昭５６−１４．７０８２に記載（３７） しであるように、複数の異なる周波数帯域を有する探触
子を使用してもよい。

■０発明の具体的効果 堤上のように本発明によれば、複数の異なる周波数で被
測定物体からのエコー強度を測定し、これによって被測
定物体の減衰係数および減衰係数の周波数依存性を近似
的に測定することができ、まだこれらの値の分布像を得
ることができる。よって、従来の形態学的な情報しか得
られなかった超音波断層測定方法および装置と異なり、
被測定物体の減衰に関する定量的情報を得ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明の基本的な原理を説明する
ための説明図、 第３図、第４図および第５図は本発明の実施例に使用す
る超音波探触子の校正を説明するための説明図、 第６図は本発明による超音波測定方法を実現する装置の
実施例を示すブロック図、 （３８） 第７図および第８図は、第６図に示す実施例の動作説明
に使用するパルス波形を示す波形図、第９Ａ図および第
９Ｂ図は、第６図に示す実施例の装置の動作アルコ８リ
ズムを示す説明フロー図、 第１０図は、第６図に示す実施例の装置で表示される超
音波段層映像の例を示す図、第１１図は、第６図に示す
実施例の装置における演算回路の機能的構成を示す機能
ブロック図、 第１２図は、第６図に示す実施例の装置の他の表示モー
ドを説明するための説明図である。 主要部分の符号の説明 ｌ・・・・・・超音波探触子 １０．１２．２１・・・・・・メモリ １１・・・・・・演算回路 １５・・・・・・表示部 １６・・・・・・関心領域設定回路 １８・・・・・・対数増幅回路 ２０・・・・・・ＳＴＣ回路 ５０・・・・・・加算平均処理部 ５２・・・・・・高周波成分抽出部 ５３・・・・・・極大値検出部 ５４・・・・・・エコー強度算出部 ５５・・・・・・指定区間距離算出部 ５６・・・・・・規格化部 ５７・・・・・・減衰係数算出部 第１図 第２図 Ｙランス奢す１１％−ｊｉｌｌＡＸ　（ｃｍ）　”−”
”千−１，５Ｍ）１２ 第５図 第７図 筒音０図 第８図 第１２図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　複数の異なる周波数の超音波・母ルスを被測定物
   体に送信し、該物体内より反射された超音波パルスのエ
   コーを検出し、該検出された複数の周波数のエコーを情
   報処理することによって該物体の超音波特性に関する定
   量的な情報を得る超音波測定方法において、 ２つ′の異なる周波数より測定された減衰係数の平均値
   、および該２つの周波数を含む３つの異なる周波数よシ
   測定された減衰係数の平均値より、該物体の減衰係数に
   関する情報を算出することを特徴とする超音波測定方法
   。 ２、前記減衰係数に関する情報は、前記被測定物体内に
   おける超音波の減衰係数を含むことを特徴とする特許請
   求の範囲第１項記載の超音波測定方法。 ３、前記減衰係数に関する情報は、前記被測定物体内に
   おける超音波の減衰係数の周波数依存性を含むことを特
   徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記載の超
   音波測定方法。 ４　複数の異なる周波数の超音波・ぐルスを被測定物体
   に送信する手段と、該物体内より反射された超音波パル
   スのエコーを検出する手段と、検出された複数の周波数
   のエコーを情報処理し該物体の超音波特性に関する定量
   的な情報を得る手段と、該得られた定量的な情報を表示
   する手段とを有する超音波測定装置において、該情報を
   得る手段は、２つの異なる周波数の減衰係数の平均値、
   および該２つの周波数を含む３つの異なる周波数の減衰
   係数の平均値をめ、これらの平均値よシ該物体の減衰係
   数に関する情報を算出することを特徴とする超音波測定
   装置。