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JPS60115886A - 放射線検知器 - Google Patents

放射線検知器

Info

Publication number
JPS60115886A
JPS60115886A JP58224924A JP22492483A JPS60115886A JP S60115886 A JPS60115886 A JP S60115886A JP 58224924 A JP58224924 A JP 58224924A JP 22492483 A JP22492483 A JP 22492483A JP S60115886 A JPS60115886 A JP S60115886A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor optical
scintillation crystal
light
optical sensor
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58224924A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58224924A priority Critical patent/JPS60115886A/ja
Publication of JPS60115886A publication Critical patent/JPS60115886A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018Scintillation-photodiode combinations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、例えば産業用CTスキャナなど忙使用される
放射線検知器に係シ、特に高密度実装可能な構造とした
放射線検知器に関する。
〔発明の技術的背景〕
従来のこの種の放射線検知器は、第1図に示さらにこれ
らの半導体光センサ2.・・・の面上には各半導体光セ
ンサ2ごとにシンチレータ9ンクリスタル3.・・・が
接着剤にて固定されている。
また、シンチレーションクリスタル3.・・・相互間お
よび複数のシンチレーションクリスタル3゜・・・によ
って形成されたユニット4の全周は遮光材5によって覆
われている。
ところで、このような放射線検知器は、約120 ke
VのX線エネルギーを発生するX線発生器を用いたX 
kl用CTスキャナによく利用されるが、典型的なシン
チレーションクリスタル3の場合にはその幅dが2順程
度、長さtは2咽程度のものが多く市販されている。そ
の理由としては、各半導体光センサ2に個別にシンチレ
ーションクリスタル3および遮光材5を接着して固定す
るものであるため、その製造上の容易性を考慮したもの
と考えられる。
〔背景技術の問題点〕
しかし、産業用CTスキャナのように高エネルギーのX
線を照射する必要がある場合は、シンチレーションクリ
スタル3のX線エネルギーの吸収度を良くするために長
さtを太きくしなければならず、−例として上げれば3
00 keVで長さLは約20mm程度にする必要があ
る。一方、被検査物から収集される透過データの分解能
を高める場合には、シンチレーションクリスタル30幅
dを小さくしシンチレーションクリスタル3と半導体光
センサ2とのユニットヲ高密度実装することが望ましい
従って、高吸収性および高分解能の放射線検知器を得る
には、シンナレーションクリスタル3の長さtは例えば
20−と長くし、その幅dは例えば0.2 mmと非常
に小さくする要求がでてくる。しかし、以上のような構
造の放射線検知器では、1つのシンナレーションクリス
タル3および半導体光センサ2によって形成はれる放射
線検知系は非常に小さなものであシ、とシわけ半導体光
センサ2の受光面積が小さくなるために、受光効率が極
端に悪化し、感度の不十分なものとなってしまう。また
、シンチレーションクリスタル3および遮光材5は前述
したように半導体光センサ2の面上に接着剤で固定して
いるが、シンチレーションクリスタル3が細長くなると
、所定の位置に正確に接着できない不具合がある。この
点は遮光材5にあっても同様でちゃ、このためシンチレ
ーションクリスタル3などの位置ずれは避けられない。
〔発明の目的〕
本発明は以上のような不都合を除去するためになされた
もので、高エネルギーおよび高分解能のものにも十分適
用し得、ζらにシンチレーションクリスタルなどの位置
ずれが発生せず、才だ半導体光センサの受光面積を犬き
くとれる放射線検知器を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、シンチレーションクリスタル、半導体光セン
サおよび遮光材を交互に積層しうるごとく接合してユニ
ット化し、必要により半導体光センサの出力端側かフレ
キシブルプリント配線基板と一体化して電気的信号を取
り出し得るようにした放射線検知器である。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の一実施例を示す図である。
即ち、この検知器は、シンチレーションクリスタル11
と半導体光センサ12と遮光材13とを交互に接合して
多重積層ユニット14を形成し、各半導体光センサ12
.・・・の出力端を除いてユニット14の全周を遮光材
15で覆ってなる構成である。すなわち1つのシンチレ
ーションクリスタル1ノと半導体上ンサ12とから構成
される放射線検知系は遮光材13間に配設され、各々遮
光材13によって分割され独立に入射する放射線量を検
出する。前記シンチレーションクリスタル11は例えば
タリウム活性化ヨウ化セシウムなどで構成された透明物
質であり、外部から遮光材15を介して入射されるX線
またはγ線などの放射線の励起を受けて放射線の量に比
例する放射性可視光を発生するものである。この放射性
可視光は放射線の励起点から等方的に発光し透明物質の
シンナレーションクリスタル11.・・・内を伝搬され
、半導体光センサ12、・・・によって受光される。
ここでシンチレーションクリスタル1ノ内で発生した可
視光の半導体光センサ12.・・・への伝搬効率を向上
させるように、遮光材13には例えばアルミ等の光を高
効率で反射する材質を使用し、少なくともシンチレーシ
冒ンクリスタル1ノ、・・・との接合側面は反射面とし
て形成する。これによシ入射した放射線の励起頻度の高
いシンチレーションクリスタルJJ、・・・の入射口付
近で発生した可視光は、透明なシンチレーションクリス
タル1ノ、・・・内を高効率に伝搬されほぼ均一な光量
として光センサ12.・・・に検出される。半導体光セ
ンサ12.・・・は、各シンチレーションクリスタル1
1.・・・によって発生された可視光を受光して電気信
号に変換して出力するが、この電気信号は可視光の量に
比例し、ひいては放射線の責に比例するものである。
前記多重積層ユニットZ4ば、例えば4個〜100個の
シンチレーシ冒ンクリスタル1ノ、半2.(体光七ンサ
12および遮光材13などをもって小ユニツト化される
が、例えば第3図のようにフレキシブルプリント配線基
板21と一体化し、かつ半導体光センサ12.・・・の
出力端とプリント配線基板21の一方の出力端とを接続
することにより、各半導体上ンサ12の電気信号をフレ
キシブルプリント配線基板21上の導電性パターン22
を経て基板21他端の端子23から出力するようにして
もよい。従って、この場合にはフレキシブルプリント配
線基板21を含めて小ユニツト化するものである。
従って、以上のような構成によれは、予め規格化された
寸法のシンチレーションクリスタル1)、半導体光セン
サ12および遮光材13を交互に接合するだけでよいの
で、細長いシンチレーションクリスタル11であっても
製造上何ら問題なく容易に組立てられ、また位置ずれが
生ずるようなこともなくなる。勿論、シンテレ−シロン
クリスタル1ノの長さtおよび幅dは要求に応じて自由
に設定できるので、高エネルギー放射線の吸収性および
分解能を高めることが可能となる。また、半導体光セン
サ12の受交面はシンチレーシ冒ンクリスタル1ノの長
さt方向に比例するので、非常に広範囲となり、ひいて
は受光効率の高効率が図れ感度のすぐれたものを得るこ
とができる。
なお、上記実施例では小ユニツト単位で考えたが、例え
ばCTスキャナのように円形状の基台に放射線検知器全
設置する場合には第4図のように複数個の小ユニット1
4.・・・を縦方向に並設し、これらをユニット保持板
25で基台に固定して中ユニ、ト26を構成し、ざらr
tcrtie父の中ユニット26.・・を円形状に配樅
して大ユニット27を構成することも可能である。また
、上記実施例ではシンチレーションクリスタル11の両
端の幅dを同一としたが、例えば一端側を小はくかつ他
端側を大きくしてチー・ぐ状に形成すれば、CTスギャ
ナの基台上に密接して設置し得、スペースの有効利用が
図れる。
〔発明の効果〕 以上詳述したように本発明によれば、シンチレーション
クリスタルと半導体光センサとの位置ずれをなくすこと
ができ、壕だ半導体光センサはシンチレーションクリス
タルの長手方向にそって面接合しつる構成であるので受
光効率を大幅に上けることができる。また、シンチレー
ションクリスタルの長でおよび幅は組立ておよび強度上
問題なく自由に設定でき、よって高密度実装化が可能で
あり、高エネルギー放射線の吸収性にすぐれかつ分解能
も高めうる放射線検知器を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はユニット化した従来の放射線検知器の断面図、
第2図は本発明に係る放射線検知器の一部を拡大して示
す断面図、第3図はフレキシブルプリント基板を含めて
一体化した小ユニットの放置を線検知器を示す外観図、
第4図はCTスキャナなどに適用する場合の例を示す図
である。 11・・・シンチレーションクリスタル、12・・・半
導体光センサ、13.15・・・遮光材、14・・・小
ユニット、2ノ・・・フレキシブルプリント配線基板、
26・・・中ユニット、27・・・大ユニット。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 4 第2図 第3図 第4図 6

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 入射される放射線量に応じた可視光を発生する
    シンチレーションクリスタルと、このシンチレーション
    クリスタルよ)発生される可視光を受光して電気信号に
    変換する半導体光センサと、第1の遮光材とを交互に接
    合するとともに、前記半導体光センサの出力端を除いて
    第2の遮光材で覆ってユニット化し、半導体光センサの
    電気信号を外部へ出力するようにしたことを特徴とする
    放射線検知器。
  2. (2)半導体光センサから外部へ電気信号を出力する手
    段は、前記ユニットに一体的に接続したフレキシブルプ
    リント配線基板を用いたことを特徴とする%rF−諸求
    の範囲第1項記載の放射線検知器。
  3. (3) シンチレーションクリスタルはその両端の幅を
    異ならせてチーA状に形成したものである特許請求の範
    囲第1項記載の放射線検知器。
  4. (4) 第1の遮光材は少なくともそのシンチレーショ
    ンクリスタルとの接合側面が光の反射面として形成され
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の放射線
    検知器。
JP58224924A 1983-11-29 1983-11-29 放射線検知器 Pending JPS60115886A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58224924A JPS60115886A (ja) 1983-11-29 1983-11-29 放射線検知器

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JP58224924A JPS60115886A (ja) 1983-11-29 1983-11-29 放射線検知器

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JPS60115886A true JPS60115886A (ja) 1985-06-22

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ID=16821298

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JP58224924A Pending JPS60115886A (ja) 1983-11-29 1983-11-29 放射線検知器

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JP (1) JPS60115886A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5440129A (en) * 1993-10-11 1995-08-08 Siemens Aktiengesellschaft Detector for high-energy radiation
EP0843363A1 (en) * 1996-11-18 1998-05-20 Nec Corporation Solid state camera element comprising a wavelength converter
WO2004104634A1 (en) * 2003-05-22 2004-12-02 Aberdeen University A detector module for detecting ionizing radiation

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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