JPS60106191A - 印刷配線板の製造方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 37
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 74
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 74
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 74
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 46
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 claims description 43
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 28
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 28
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 claims description 11
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 claims description 9
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 6
- 150000002009 diols Chemical class 0.000 claims description 6
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 6
- 125000000816 ethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 claims description 5
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical class OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 claims description 3
- VZXPHDGHQXLXJC-UHFFFAOYSA-N 1,6-diisocyanato-5,6-dimethylheptane Chemical compound O=C=NC(C)(C)C(C)CCCCN=C=O VZXPHDGHQXLXJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- MHCLJIVVJQQNKQ-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;2-methylprop-2-enoic acid Chemical class CCOC(N)=O.CC(=C)C(O)=O MHCLJIVVJQQNKQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 21
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 19
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- -1 alkali metal salts Chemical class 0.000 description 18
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 17
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 16
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 11
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 10
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 6
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 5
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 5
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 5
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 4
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 4
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 4
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 4
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 4
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 150000002391 heterocyclic compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002574 poison Substances 0.000 description 3
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 3
- YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzothiazole-2-thiol Chemical compound C1=CC=C2SC(S)=NC2=C1 YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JHWIEAWILPSRMU-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-3-pyrimidin-4-ylpropanoic acid Chemical compound OC(=O)C(C)CC1=CC=NC=N1 JHWIEAWILPSRMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenone Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IPNDIMIIGZSERC-UHFFFAOYSA-N 4-(2-sulfanylacetyl)oxybutyl 2-sulfanylacetate Chemical compound SCC(=O)OCCCCOC(=O)CS IPNDIMIIGZSERC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N benzoin Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IOJUPLGTWVMSFF-UHFFFAOYSA-N benzothiazole Chemical compound C1=CC=C2SC=NC2=C1 IOJUPLGTWVMSFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 239000008139 complexing agent Substances 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 2
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- YPHMISFOHDHNIV-FSZOTQKASA-N cycloheximide Chemical compound C1[C@@H](C)C[C@H](C)C(=O)[C@@H]1[C@H](O)CC1CC(=O)NC(=O)C1 YPHMISFOHDHNIV-FSZOTQKASA-N 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N p-methoxyphenol Chemical compound COC1=CC=C(O)C=C1 NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- ROVRRJSRRSGUOL-UHFFFAOYSA-N victoria blue bo Chemical compound [Cl-].C12=CC=CC=C2C(NCC)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(CC)CC)=C1C=CC(=[N+](CC)CC)C=C1 ROVRRJSRRSGUOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 1,1-Dichloroethane Chemical compound CC(Cl)Cl SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TUMNHQRORINJKE-UHFFFAOYSA-N 1,1-diethylurea Chemical compound CCN(CC)C(N)=O TUMNHQRORINJKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XHXSXTIIDBZEKB-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,4,5,6,7,8-octamethylanthracene-9,10-dione Chemical compound CC1=C(C)C(C)=C2C(=O)C3=C(C)C(C)=C(C)C(C)=C3C(=O)C2=C1C XHXSXTIIDBZEKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BEWCNXNIQCLWHP-UHFFFAOYSA-N 2-(tert-butylamino)ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCNC(C)(C)C BEWCNXNIQCLWHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CKKQLOUBFINSIB-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-1,2,2-triphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 CKKQLOUBFINSIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N Abietic-Saeure Natural products C12CCC(C(C)C)=CC2=CCC2C1(C)CCCC2(C)C(O)=O RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 1
- QSJXEFYPDANLFS-UHFFFAOYSA-N Diacetyl Chemical group CC(=O)C(C)=O QSJXEFYPDANLFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRLQWZUYTZBJKN-UHFFFAOYSA-N Epichlorohydrin Chemical group ClCC1CO1 BRLQWZUYTZBJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acrylate Chemical compound CCOC(=O)C=C JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N Hydroxyethyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCO WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N Leucocrystal Violet Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001024304 Mino Species 0.000 description 1
- 235000015429 Mirabilis expansa Nutrition 0.000 description 1
- 244000294411 Mirabilis expansa Species 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000233805 Phoenix Species 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N Rosin Natural products O(C/C=C/c1ccccc1)[C@H]1[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](CO)O1 KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N 0.000 description 1
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 1
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 1
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 1
- UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N Tetraethylene glycol, Natural products OCCOCCOCCOCCO UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910001854 alkali hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000000436 anus Anatomy 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000008365 aromatic ketones Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical class 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- LHMRXAIRPKSGDE-UHFFFAOYSA-N benzo[a]anthracene-7,12-dione Chemical compound C1=CC2=CC=CC=C2C2=C1C(=O)C1=CC=CC=C1C2=O LHMRXAIRPKSGDE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N butane-1,4-diol Chemical compound OCCCCO WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXZJHVJKXJLBKO-UHFFFAOYSA-N chembl1408157 Chemical compound N=1C2=CC=CC=C2C(C(=O)O)=CC=1C1=CC=C(O)C=C1 KXZJHVJKXJLBKO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- XTVVROIMIGLXTD-UHFFFAOYSA-N copper(II) nitrate Chemical compound [Cu+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O XTVVROIMIGLXTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000013039 cover film Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 1
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 1
- 239000011353 cycloaliphatic epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N dodecane-1-thiol Chemical compound CCCCCCCCCCCCS WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000866 electrolytic etching Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000002075 main ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 150000002734 metacrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 235000013536 miso Nutrition 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- MADOXCFISYCULS-UHFFFAOYSA-N octyl 2-sulfanylacetate Chemical compound CCCCCCCCOC(=O)CS MADOXCFISYCULS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003002 pH adjusting agent Substances 0.000 description 1
- NFHFRUOZVGFOOS-UHFFFAOYSA-N palladium;triphenylphosphane Chemical compound [Pd].C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 NFHFRUOZVGFOOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N pent‐4‐en‐2‐one Natural products CC(=O)CC=C PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 239000004848 polyfunctional curative Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L potassium sodium L-tartrate Chemical compound [Na+].[K+].[O-]C(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L 0.000 description 1
- MPQUSGMFRFJXDF-UHFFFAOYSA-N prop-2-enoic acid;toluene Chemical compound OC(=O)C=C.CC1=CC=CC=C1 MPQUSGMFRFJXDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 235000011006 sodium potassium tartrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 description 1
- CXVGEDCSTKKODG-UHFFFAOYSA-N sulisobenzone Chemical group C1=C(S(O)(=O)=O)C(OC)=CC(O)=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 CXVGEDCSTKKODG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003051 synthetic elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000005061 synthetic rubber Substances 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001029 thermal curing Methods 0.000 description 1
- 238000012719 thermal polymerization Methods 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229940071127 thioglycolate Drugs 0.000 description 1
- CWERGRDVMFNCDR-UHFFFAOYSA-M thioglycolate(1-) Chemical compound [O-]C(=O)CS CWERGRDVMFNCDR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KHPCPRHQVVSZAH-UHFFFAOYSA-N trans-cinnamyl beta-D-glucopyranoside Natural products OC1C(O)C(O)C(CO)OC1OCC=CC1=CC=CC=C1 KHPCPRHQVVSZAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- QXJQHYBHAIHNGG-UHFFFAOYSA-N trimethylolethane Chemical compound OCC(C)(CO)CO QXJQHYBHAIHNGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003673 urethanes Chemical class 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Chemically Coating (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷配線板の製造方法に関する。更に詳しくは
フォトレジストを用い、無電解めっきによって配線パタ
ーンを形成する印刷配線板の製造方法に関する。
フォトレジストを用い、無電解めっきによって配線パタ
ーンを形成する印刷配線板の製造方法に関する。
従来、印刷配線板の製造方法としては、銅張り積層板を
用い、配線パターン以外の部分の銅をエツチングにより
除去する方法(エツチドフォイル法といわれている)が
主であるが、これに対し銅張り積層板を使用せず、絶縁
性の積層板上に無電解めっきで配線パターンを直接形成
する方法(アディティブ法といわれている)が、不用の
銅を除去する不経済がなく、製造コストが低いため最近
注目されている。しかし無電解鋼めっきの析出速度は非
常に遅いため、長時間(通常5〜60時間)。
用い、配線パターン以外の部分の銅をエツチングにより
除去する方法(エツチドフォイル法といわれている)が
主であるが、これに対し銅張り積層板を使用せず、絶縁
性の積層板上に無電解めっきで配線パターンを直接形成
する方法(アディティブ法といわれている)が、不用の
銅を除去する不経済がなく、製造コストが低いため最近
注目されている。しかし無電解鋼めっきの析出速度は非
常に遅いため、長時間(通常5〜60時間)。
高温度(通常60〜80℃)、高アルカリ性(通常pH
11〜13.5)のめつき浴に浸漬しておかなければな
らず、このようなきびしい条件に耐えるような無電解め
っき用のレジストが必要である。
11〜13.5)のめつき浴に浸漬しておかなければな
らず、このようなきびしい条件に耐えるような無電解め
っき用のレジストが必要である。
従来、この目的のレジストはエポキシ樹脂と硬化剤を主
成分とするインクをスクリーン印刷し。
成分とするインクをスクリーン印刷し。
熱硬化することにより形成されているが、印刷ではライ
ンの寸法精度が制限されるため、高密度パターンの印刷
配線板はアディティブ法では製造困難であった。高密度
パターンの形成にはフォトレジストが適しているが、市
販されている電解めっき用あるいはエツチング用のフォ
トレジストには。
ンの寸法精度が制限されるため、高密度パターンの印刷
配線板はアディティブ法では製造困難であった。高密度
パターンの形成にはフォトレジストが適しているが、市
販されている電解めっき用あるいはエツチング用のフォ
トレジストには。
上記無電解めっきのきびしい条件に耐えるものがなかっ
た。本発明者らは特願昭56−199059号で無電解
めっきに耐えるフォトレジストを使用した印刷配線板の
製造方法の提案を行なったが。
た。本発明者らは特願昭56−199059号で無電解
めっきに耐えるフォトレジストを使用した印刷配線板の
製造方法の提案を行なったが。
本発明はそれをさら罠改良したものである。
無電解めっきの際に用いたフォトレジストは無電解めっ
き後、剥離・除去する場合とそのまま永久レジストとし
て残す場合とがある。印刷配線板が高密度になると必然
的にライン幅及びライン間隔が狭くなるが、狭いライン
間のレジストを完全に剥離・除去するには単に溶剤浸漬
のみでは不可能で、スプレー、ブラシ等の機械的な力の
併用が必要となり、この力によって狭い幅のラインが基
板から浮いたり、移動する不都合が生じる。さらにレジ
スト剥離後の基板は配線ラインによる凹凸のためソルダ
レジストの印刷にはかなりの熟練が必要となる。
き後、剥離・除去する場合とそのまま永久レジストとし
て残す場合とがある。印刷配線板が高密度になると必然
的にライン幅及びライン間隔が狭くなるが、狭いライン
間のレジストを完全に剥離・除去するには単に溶剤浸漬
のみでは不可能で、スプレー、ブラシ等の機械的な力の
併用が必要となり、この力によって狭い幅のラインが基
板から浮いたり、移動する不都合が生じる。さらにレジ
スト剥離後の基板は配線ラインによる凹凸のためソルダ
レジストの印刷にはかなりの熟練が必要となる。
これに対し、永久レジストとして残す場合は上述の問題
はないが、無電解めっきの際にレジスト表面への不必要
な銅金属の析出を抑制しなければならないし、めっき後
のレジス)Kは高度の電気絶縁性、半田耐熱性、耐溶剤
性、耐熱衝撃性等の永久レジストとしての特性が必要に
なる。レジスト表面への銅金属の析出を抑制するものと
して。
はないが、無電解めっきの際にレジスト表面への不必要
な銅金属の析出を抑制しなければならないし、めっき後
のレジス)Kは高度の電気絶縁性、半田耐熱性、耐溶剤
性、耐熱衝撃性等の永久レジストとしての特性が必要に
なる。レジスト表面への銅金属の析出を抑制するものと
して。
硫黄含有複素環式化合物、硫黄含有アルカリ金属塩など
の触媒毒の使用が知られているが1本発明者らが該複素
還式化合物をフォトレジストに適用したところ、無電解
めっき液中に該複素環式化合物が溶出し、めっき速度が
低下し、著しい場合妃はめっきが完全に停止する不都合
が生じ、またアルカリ金属塩も同様にめつき液中に溶出
し易く。
の触媒毒の使用が知られているが1本発明者らが該複素
還式化合物をフォトレジストに適用したところ、無電解
めっき液中に該複素環式化合物が溶出し、めっき速度が
低下し、著しい場合妃はめっきが完全に停止する不都合
が生じ、またアルカリ金属塩も同様にめつき液中に溶出
し易く。
これを多量に用いた場合には、レジストの電気絶縁性が
悪くなり永久レジストとしては使用できないことを見出
した。さらに、触媒毒が溶剤不溶の固体粒子の場合は、
像形成のだめのイメージ露光の際に粒子表面で光が散乱
し、高密度のパターンは形成できないことを見出した。
悪くなり永久レジストとしては使用できないことを見出
した。さらに、触媒毒が溶剤不溶の固体粒子の場合は、
像形成のだめのイメージ露光の際に粒子表面で光が散乱
し、高密度のパターンは形成できないことを見出した。
本発明者らが種々検討したところ、脂肪族性のメルカプ
ト基を有する化合物の使用によって上述の不都合がなく
、好ましい結果が得られることを見出した。脂肪族性の
メルカプト基を有する化合物を触媒毒としてフォトレジ
スト中に用いた場合にはめつき速度の低下がほとんどな
い理由について詳細は不明であるが、フォトレジスト組
成中の光重合性基でるるアクリロイル基必るいはメタク
リロイル基とメルカプト基とが反応してめっき液中には
ほとんど溶出しなくなるためと考えられる。
ト基を有する化合物の使用によって上述の不都合がなく
、好ましい結果が得られることを見出した。脂肪族性の
メルカプト基を有する化合物を触媒毒としてフォトレジ
スト中に用いた場合にはめつき速度の低下がほとんどな
い理由について詳細は不明であるが、フォトレジスト組
成中の光重合性基でるるアクリロイル基必るいはメタク
リロイル基とメルカプト基とが反応してめっき液中には
ほとんど溶出しなくなるためと考えられる。
本発明の目的は高精度の印刷配線板をアディティブ法で
製造する方法を提供することにある。
製造する方法を提供することにある。
本発明は
(1)無電解めっき銅をその所要部分に析出させるべき
絶縁性基板の表面に、(a)末端エチレン基を少なくと
も2個有する光重合可能な不飽和化合物20〜75重量
部、(b)線状高分子化合物20〜75重量部、(C)
脂肪族性のメルカプト基を有する化合物及びfd)活性
光により遊離ラジカルを生成する増感剤又は(及び)増
感剤系0.5〜10ii量部を含有し、上記(C1の脂
肪族性メルカプト基の含有m!R八 が4X10−6〜4×10″当量/gである感光性樹脂
組成物の層を形成する工程 (2)像的な活性光を照射後現像して#基板の表面上に
感光性樹脂組成物のネガティブパターンを形成する工程 (3)活性光を再照射する工程 ならびに (4)該基板の表面上の感光性樹脂組成物のネガティブ
パターンをめっきレジストとして無電解銅めっきにより
配線パターンを形成する工程を経る印刷配線板の製造方
法に関する。
絶縁性基板の表面に、(a)末端エチレン基を少なくと
も2個有する光重合可能な不飽和化合物20〜75重量
部、(b)線状高分子化合物20〜75重量部、(C)
脂肪族性のメルカプト基を有する化合物及びfd)活性
光により遊離ラジカルを生成する増感剤又は(及び)増
感剤系0.5〜10ii量部を含有し、上記(C1の脂
肪族性メルカプト基の含有m!R八 が4X10−6〜4×10″当量/gである感光性樹脂
組成物の層を形成する工程 (2)像的な活性光を照射後現像して#基板の表面上に
感光性樹脂組成物のネガティブパターンを形成する工程 (3)活性光を再照射する工程 ならびに (4)該基板の表面上の感光性樹脂組成物のネガティブ
パターンをめっきレジストとして無電解銅めっきにより
配線パターンを形成する工程を経る印刷配線板の製造方
法に関する。
本発明の提案する印刷配線板の製造方法について以下に
詳細に説明する。
詳細に説明する。
本発明の提案する印刷配線板の製造方法は、無電解めっ
き銅をその所要部分に析出させるべき絶縁性基板の表面
に感光性樹脂組成物の層を形成する工程を含むものであ
る。
き銅をその所要部分に析出させるべき絶縁性基板の表面
に感光性樹脂組成物の層を形成する工程を含むものであ
る。
絶縁性基板としては紙フェノール、ガラスエポキシ等の
積層板、鉄ボクロウ基板、アルミ板等の両面にエポキシ
樹脂絶縁層を形成した基板等の金属芯入り基板などが使
用できる。これらの基板は。
積層板、鉄ボクロウ基板、アルミ板等の両面にエポキシ
樹脂絶縁層を形成した基板等の金属芯入り基板などが使
用できる。これらの基板は。
穴あけ後にめっき触媒を含む溶液に浸漬され、スルホー
ル内壁にめっき触媒をつけることもできる。
ル内壁にめっき触媒をつけることもできる。
このようなめつき触媒溶液としては9日立化成工業■製
増感剤H8−101B等が使用できる。基板の表面には
めつき触媒の付着を良好とするため。
増感剤H8−101B等が使用できる。基板の表面には
めつき触媒の付着を良好とするため。
あるいは析出する無電解めっき銅の基板に対する密着性
を良好とするため等のために接着剤層を塗布することが
好ましい。
を良好とするため等のために接着剤層を塗布することが
好ましい。
接着剤としては、フェノール変性ニトリルゴム系接着剤
等アディティブ法用接着剤として知られているものが使
用できる。接着剤中にめっき触媒となる化合物を含ませ
ネとともできる。
等アディティブ法用接着剤として知られているものが使
用できる。接着剤中にめっき触媒となる化合物を含ませ
ネとともできる。
内部にPd化合物等の無電解銅めっきの触媒となる化合
物を分散させた積層板もスルホール内壁に無電解めっき
鋼を析出させる場合等に好ましい基板である。めっき触
媒を内部に含んだガラスエポキシ積層板の表面にめっき
触媒を含んだ接着剤層を形成した基板として9日立化成
工業■製積層板ACL−E−161等がある。とのよう
な基板を使用する場合は、あらたにめっき触媒を付着さ
せる工程は不要になる。めっき触媒の付着性を良好とす
るため、あるいは析出する無電解めっき銅の密着性を良
好とするため、無電解めっき処理の前に接着剤層表面を
粗化することが好ましい。粗化方法としては重クロム酸
ソーダまたはクロム酸等を含む酸性溶液等に浸漬する方
法があるが、公知の通り、粗化工程は無電解銅めっき工
程の前であれば1次に述べる感光性樹脂組成物の層を形
成する前であっても、レジストパターン形成後であって
もかまわない。
物を分散させた積層板もスルホール内壁に無電解めっき
鋼を析出させる場合等に好ましい基板である。めっき触
媒を内部に含んだガラスエポキシ積層板の表面にめっき
触媒を含んだ接着剤層を形成した基板として9日立化成
工業■製積層板ACL−E−161等がある。とのよう
な基板を使用する場合は、あらたにめっき触媒を付着さ
せる工程は不要になる。めっき触媒の付着性を良好とす
るため、あるいは析出する無電解めっき銅の密着性を良
好とするため、無電解めっき処理の前に接着剤層表面を
粗化することが好ましい。粗化方法としては重クロム酸
ソーダまたはクロム酸等を含む酸性溶液等に浸漬する方
法があるが、公知の通り、粗化工程は無電解銅めっき工
程の前であれば1次に述べる感光性樹脂組成物の層を形
成する前であっても、レジストパターン形成後であって
もかまわない。
本発明で使用する感光性樹脂組成物は、末端エチレン基
を少なくとも2個有する光重合可能な不飽和化合物を必
ずj成分として含有する。このような不飽和化合物とし
ては9例えばトリメチロールプロパン、トリメチロール
エタン、ペンタエリスリトール、ジベンメエリスリトー
ル、1.6−ヘキサンジオール、プロピレングリコール
、テトラエチレングリコール、ジブロムネオペンチルグ
リコール等の多価アルコールのアクリル酸エステル又は
メタクリル酸エステルを挙げ得る。さらに環状脂肪族エ
ポキシ樹脂、エポキシ化ノボラック樹脂。
を少なくとも2個有する光重合可能な不飽和化合物を必
ずj成分として含有する。このような不飽和化合物とし
ては9例えばトリメチロールプロパン、トリメチロール
エタン、ペンタエリスリトール、ジベンメエリスリトー
ル、1.6−ヘキサンジオール、プロピレングリコール
、テトラエチレングリコール、ジブロムネオペンチルグ
リコール等の多価アルコールのアクリル酸エステル又は
メタクリル酸エステルを挙げ得る。さらに環状脂肪族エ
ポキシ樹脂、エポキシ化ノボラック樹脂。
ビスフェノールへ−エピクロルヒドリン系エポキシ樹脂
等のエポキシ基を少なくとも2個含有する化合物とアク
リル酸あるいはメタクリル酸との反応生成物、ジオール
モノアクリレ−+4るいはジオールモノメタクリレート
とジイソシアナートとの反応生成物、リン含有アクリル
酸誘導体、たとえばトリスアクリロキ7エチルフオスフ
エート等も使用し得る。形成されるレジストの特性の点
から特願昭55−131322号及び特願昭55−14
1682号明細書で記載されたトリメチルへキサメチレ
ンジイソシアナート、ジオールモノアクリレート又はジ
オールモノメタクリレート、及び場合により他のインシ
アナート化合物又は(及び)他のアルコール化合物を反
応させて得られるウレタンアクリレート化合物又はウレ
タンメタクリレート化合物が好ましい。末端エチレン基
を少なくとも2個有する光重合可能な不飽和化合物の含
有量は耐無電解めっき性、半田耐熱性及び耐熱衝撃性か
ら20〜75重量部の範囲とされる。
等のエポキシ基を少なくとも2個含有する化合物とアク
リル酸あるいはメタクリル酸との反応生成物、ジオール
モノアクリレ−+4るいはジオールモノメタクリレート
とジイソシアナートとの反応生成物、リン含有アクリル
酸誘導体、たとえばトリスアクリロキ7エチルフオスフ
エート等も使用し得る。形成されるレジストの特性の点
から特願昭55−131322号及び特願昭55−14
1682号明細書で記載されたトリメチルへキサメチレ
ンジイソシアナート、ジオールモノアクリレート又はジ
オールモノメタクリレート、及び場合により他のインシ
アナート化合物又は(及び)他のアルコール化合物を反
応させて得られるウレタンアクリレート化合物又はウレ
タンメタクリレート化合物が好ましい。末端エチレン基
を少なくとも2個有する光重合可能な不飽和化合物の含
有量は耐無電解めっき性、半田耐熱性及び耐熱衝撃性か
ら20〜75重量部の範囲とされる。
本発明で使用する感光性樹脂組成物は線状高分子化合物
を必須成分として含有する。線状高分子化合物としては
9例えば特公昭41−15932号公報中に記載されて
いる熱可塑性重合体が使用できる。好ましい線状高分子
化合物としては9例えばメタクリル酸メチル、アクリル
酸エチル、アクリル酸、スチレン、2−ヒドロキシエチ
ルメタクリレート、t−ブチルアミノエチルメタクリレ
ート、アクリルアミド、アクリロニトリル、酢酸ビニル
等のビニル系単量体を重合又は共重合して得られるビニ
ル系高分子化合物、ブタジェン/アクリロニトリル共重
合体、ブタジェン/アクリ−ニトリル/スチレン共重合
体等の合成ゴム、縁状ポリウレタン化合物、アルコール
可溶性ナイロン等がおる。線状高分子化合物の含有量は
耐無電解めっき性、半田耐熱性及び耐熱衝撃性から20
〜75重量部の範囲とされる。
を必須成分として含有する。線状高分子化合物としては
9例えば特公昭41−15932号公報中に記載されて
いる熱可塑性重合体が使用できる。好ましい線状高分子
化合物としては9例えばメタクリル酸メチル、アクリル
酸エチル、アクリル酸、スチレン、2−ヒドロキシエチ
ルメタクリレート、t−ブチルアミノエチルメタクリレ
ート、アクリルアミド、アクリロニトリル、酢酸ビニル
等のビニル系単量体を重合又は共重合して得られるビニ
ル系高分子化合物、ブタジェン/アクリロニトリル共重
合体、ブタジェン/アクリ−ニトリル/スチレン共重合
体等の合成ゴム、縁状ポリウレタン化合物、アルコール
可溶性ナイロン等がおる。線状高分子化合物の含有量は
耐無電解めっき性、半田耐熱性及び耐熱衝撃性から20
〜75重量部の範囲とされる。
本発明で使用する感光性樹脂組成物は脂肪族性のメルカ
プト基を有する化合物を必須成分として含有する。脂肪
族性のメルカプト基を有する化合物としてはラウリルメ
ルカプタン、チオグリコール酸オクチル、1.4−ブタ
ンジオールジチオプロピオネ−)、1.6−ヘキサンシ
オールジチオグリコレート、トリメチロールプロノくン
トリス(チオクリコレート)、ペンタエリスリトールテ
トラキス(β−チオプロピオネート)等がある。脂肪族
性のメルカプト基の感光性樹脂組成物中の含有濃度は4
X 10−’〜4×10″″4当量/gの範囲とされ
る。4 X 10−6当量/g未満では銅金属の析出抑
制効果が認められない。4 X 10”当量/1をこえ
るとレジスト側面部分の析出も強く抑制され。
プト基を有する化合物を必須成分として含有する。脂肪
族性のメルカプト基を有する化合物としてはラウリルメ
ルカプタン、チオグリコール酸オクチル、1.4−ブタ
ンジオールジチオプロピオネ−)、1.6−ヘキサンシ
オールジチオグリコレート、トリメチロールプロノくン
トリス(チオクリコレート)、ペンタエリスリトールテ
トラキス(β−チオプロピオネート)等がある。脂肪族
性のメルカプト基の感光性樹脂組成物中の含有濃度は4
X 10−’〜4×10″″4当量/gの範囲とされ
る。4 X 10−6当量/g未満では銅金属の析出抑
制効果が認められない。4 X 10”当量/1をこえ
るとレジスト側面部分の析出も強く抑制され。
めっきにより形成されふ銅ラインの幅が狭くなる。
この含有濃度はI X 10−’〜2 X 10−’当
量/gの範囲がより好ましい。
量/gの範囲がより好ましい。
本発明で使用する感光性樹脂組成物は、活性光により遊
離ラジカルを生成する増感剤または(および)増感剤系
を0.5〜10重量部含有する。使用できる増感剤とし
ては、置換または非置換の多核キノン類9例えば、2−
エチルアントラキノ7゜2−t−ブチルアントラキノン
、オクタメチルアントラキノン、1.2−ベンズアント
ラキノン、2゜3−ジフェニルアントラキノン等、ジア
セチルおよびベンジル等のケトアルドニル化合物、ベン
ゾイン、ヒバロン等のα−ケタルドニルアルコール類お
よびエーテル類、α−炭炭化水素置換芳香族アシロイン
類例えばα−フェニル−ベンゾイン。
離ラジカルを生成する増感剤または(および)増感剤系
を0.5〜10重量部含有する。使用できる増感剤とし
ては、置換または非置換の多核キノン類9例えば、2−
エチルアントラキノ7゜2−t−ブチルアントラキノン
、オクタメチルアントラキノン、1.2−ベンズアント
ラキノン、2゜3−ジフェニルアントラキノン等、ジア
セチルおよびベンジル等のケトアルドニル化合物、ベン
ゾイン、ヒバロン等のα−ケタルドニルアルコール類お
よびエーテル類、α−炭炭化水素置換芳香族アシロイン
類例えばα−フェニル−ベンゾイン。
α、α−ジェトキシアセトフェノン等、ベンゾフェノン
、4.4’−ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等の
芳香族ケトン類を例示でき、これらは単独でも組合せて
もよい。使用できる増感剤系としては2,4.5−ト!
jアリールイミダゾールニ量体と2−メルカプトベンゾ
キナゾール、ロイコクリスタルバイオレット、トリス(
4−ジエチルアミノ−2−メチルフェニル)メタン等と
の組合せを例示できる。また、それ自体で光開始性はな
いが。
、4.4’−ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等の
芳香族ケトン類を例示でき、これらは単独でも組合せて
もよい。使用できる増感剤系としては2,4.5−ト!
jアリールイミダゾールニ量体と2−メルカプトベンゾ
キナゾール、ロイコクリスタルバイオレット、トリス(
4−ジエチルアミノ−2−メチルフェニル)メタン等と
の組合せを例示できる。また、それ自体で光開始性はな
いが。
前述した物質と組合せて用いることKよし全体として光
開始性能の1より良好な増感剤系となるような添加剤を
用いることができる。例えばベンゾフェノンに対するト
リエタノールアミン等の三級アミンなどである。
開始性能の1より良好な増感剤系となるような添加剤を
用いることができる。例えばベンゾフェノンに対するト
リエタノールアミン等の三級アミンなどである。
本発明で使用する感光性樹脂組成物はさらに他の副次的
成分を含有することができる。副次的成分としては熱重
合防止剤、染料、顔料、塗工性向上剤等であり、これら
の選択は通常の感光性樹脂組成物と同様の考慮のもと九
行なわれる。
成分を含有することができる。副次的成分としては熱重
合防止剤、染料、顔料、塗工性向上剤等であり、これら
の選択は通常の感光性樹脂組成物と同様の考慮のもと九
行なわれる。
本発明の提案する印桐配線板の製造方法は無電解めっき
銅をその所要部分に析出させるべき絶縁性基板の表面に
上記で詳細に説明した感光性樹脂組成物の層を形成する
工程を必ず含む。無電解めっき銅を析出させるべき絶縁
性基板の表面に感光性樹脂組成物の層を形成する工程は
常法で行なえる。たとえば感光性樹脂組成物をメチルエ
チルケトン、トル゛エン、塩化メチレン等の溶剤に均一
に溶解又は分散させ、ゲップコート法、フローコート法
等で無電解めっき銅を析出させるべき絶縁性基板の表面
上に塗布し、溶剤乾燥して行なわれる。
銅をその所要部分に析出させるべき絶縁性基板の表面に
上記で詳細に説明した感光性樹脂組成物の層を形成する
工程を必ず含む。無電解めっき銅を析出させるべき絶縁
性基板の表面に感光性樹脂組成物の層を形成する工程は
常法で行なえる。たとえば感光性樹脂組成物をメチルエ
チルケトン、トル゛エン、塩化メチレン等の溶剤に均一
に溶解又は分散させ、ゲップコート法、フローコート法
等で無電解めっき銅を析出させるべき絶縁性基板の表面
上に塗布し、溶剤乾燥して行なわれる。
感光性樹脂組成物の溶液を基板上に直接塗布せず妃、支
持体フィルム上にナイフコート法、ロールコート法等公
知の方法で塗布乾燥し、支持体フィルム上に感光性樹脂
組成物の層を有する感光性エレメントを製造したのち、
該感光性エレメントを無電解めっき銅を析出させるべき
絶縁性基板表面に公知の方法で加熱・加圧積層して、該
基板表面に感光性樹脂組成物の層を形成することもでき
る。
持体フィルム上にナイフコート法、ロールコート法等公
知の方法で塗布乾燥し、支持体フィルム上に感光性樹脂
組成物の層を有する感光性エレメントを製造したのち、
該感光性エレメントを無電解めっき銅を析出させるべき
絶縁性基板表面に公知の方法で加熱・加圧積層して、該
基板表面に感光性樹脂組成物の層を形成することもでき
る。
支持体フィルムとしてはポリエステルフィルム。
ポリプロピレンフィルム、ポリイミドフィルム。
ポリスチレンフィルム等公知のフィルムを使用できる。
感光性エレメントによる方法は塗布膜厚の均一化が容易
でるり、また耐溶剤性の低い接着剤も使用できる等の点
で好ましい。
でるり、また耐溶剤性の低い接着剤も使用できる等の点
で好ましい。
形成される感光性樹脂組成物の層の厚さには特に制限は
ないが、高密度の印刷配線板を製造する場合には、無電
解めっきにより析出されるめっき銅の厚さとほぼ同じ厚
さにするのが好ましい。例えば35μm厚のめっきを行
なう場合は感光性樹脂組成物の層の厚さは30〜40μ
mの範囲が好ましい。このようにしてめっき銅とレジス
トの厚さをほぼ合わせることにより、無電解めっき後の
基板の表面はスルーホール等を除いてほぼ平滑となり、
ソルダレジストの印刷を非常に゛容易に行なうことがで
きる。
ないが、高密度の印刷配線板を製造する場合には、無電
解めっきにより析出されるめっき銅の厚さとほぼ同じ厚
さにするのが好ましい。例えば35μm厚のめっきを行
なう場合は感光性樹脂組成物の層の厚さは30〜40μ
mの範囲が好ましい。このようにしてめっき銅とレジス
トの厚さをほぼ合わせることにより、無電解めっき後の
基板の表面はスルーホール等を除いてほぼ平滑となり、
ソルダレジストの印刷を非常に゛容易に行なうことがで
きる。
本発明の提案する印刷配線板の製造方法は像的な活性光
を照射後現像して無電解めっき銅をその所要部分に析出
させるべき絶縁性基板の表面上に感光性樹脂組成物のネ
ガティブパターンを形成する工程を必ず含む。像的な活
性光の照射は超高圧水銀灯、高圧水銀灯等の光源を用い
、ネガマスクを通して像的に露光することで行なえる。
を照射後現像して無電解めっき銅をその所要部分に析出
させるべき絶縁性基板の表面上に感光性樹脂組成物のネ
ガティブパターンを形成する工程を必ず含む。像的な活
性光の照射は超高圧水銀灯、高圧水銀灯等の光源を用い
、ネガマスクを通して像的に露光することで行なえる。
また微小断面積に絞ったレーザ光線等を像的にスキャン
して行なうこともできる。現像は、1,1.1−)リク
ロルエタン等の現像液に像的に活性光の照射された感光
性樹脂組成物の層を有する基板を浸漬するか又は現像液
をスプレーする等して行なえる。
して行なうこともできる。現像は、1,1.1−)リク
ロルエタン等の現像液に像的に活性光の照射された感光
性樹脂組成物の層を有する基板を浸漬するか又は現像液
をスプレーする等して行なえる。
本発明の提案する印刷配線板の製造方法は現像によるネ
ガティブパターンの形成後に活性光を再照射する工程を
必ず含む。活性光の再照射は超高圧水銀灯、高圧水銀灯
等の光源を用い基板全面忙照射することにより行なえる
。
ガティブパターンの形成後に活性光を再照射する工程を
必ず含む。活性光の再照射は超高圧水銀灯、高圧水銀灯
等の光源を用い基板全面忙照射することにより行なえる
。
このようにして形成された感光性樹脂組成物のネガティ
ブパターンは優れた耐アルカリ性を示す。
ブパターンは優れた耐アルカリ性を示す。
めっき浴の汚染を防ぐため、活性光の再照射されたネガ
ティブパターンに100〜2oo℃での加熱処理を行な
うのが好ましい。
ティブパターンに100〜2oo℃での加熱処理を行な
うのが好ましい。
本発明の提案する印刷配線板の製造方法は、上記方法で
得られた感光性樹脂組成物のネガティブパターンをめっ
きレジストとして無電解銅めっきにより配線パターンを
形成する工程を必ず含む。
得られた感光性樹脂組成物のネガティブパターンをめっ
きレジストとして無電解銅めっきにより配線パターンを
形成する工程を必ず含む。
無電解めっき液としては銅塩、錯化剤、還元剤及びpH
調整剤を含有するめっき液が使用できる。
調整剤を含有するめっき液が使用できる。
銅塩としては例えば硫酸銅、硝酸銅、塩化第2銅等が使
用できる。錯化剤としては例えにエチレンジアミン四酢
酸、 N、 N、 N’、 N’−テトラキス−2−ヒ
ドロキシグロビルエチレンジアミン、ロッシェル塩等が
使用できる。還元剤としてはホルマリンが好ましい。ま
たpH調整剤としては通常。
用できる。錯化剤としては例えにエチレンジアミン四酢
酸、 N、 N、 N’、 N’−テトラキス−2−ヒ
ドロキシグロビルエチレンジアミン、ロッシェル塩等が
使用できる。還元剤としてはホルマリンが好ましい。ま
たpH調整剤としては通常。
水酸化アルカリが使用され、水酸化ナトリウム。
水酸化カリウム等がある。さらにめっき浴の安定性を増
すため、あるいは析出する銅金属の特性を良くするため
等の目的で各種の添加剤が加えられることもある。めっ
き浴の条件は、めっき浴の安定性、析出する銅金属の特
性等から銅濃度5〜159/1. pH11〜13.浴
温度60〜80℃が好ましい。無電解銅めっきにめたっ
ては、必要ならばめっき触媒の付着及び/あるいは活性
化を行なうことは勿論のことである。
すため、あるいは析出する銅金属の特性を良くするため
等の目的で各種の添加剤が加えられることもある。めっ
き浴の条件は、めっき浴の安定性、析出する銅金属の特
性等から銅濃度5〜159/1. pH11〜13.浴
温度60〜80℃が好ましい。無電解銅めっきにめたっ
ては、必要ならばめっき触媒の付着及び/あるいは活性
化を行なうことは勿論のことである。
無電解めっき後、めっきレジストとして用いた感光性樹
脂組成物のネガティブパターンを剥離・除去の際に無電
解めっきによって形成した配線ラインの特に細線部分が
基板から剥れやすいこと。
脂組成物のネガティブパターンを剥離・除去の際に無電
解めっきによって形成した配線ラインの特に細線部分が
基板から剥れやすいこと。
また配線ラインによる凹凸が生じてソルダレジストの形
成がやりにくくなることなどから、感光性樹脂組成物の
ネガティブパターンを剥離・除去せずに、永久レジスト
として残すのが好ましい。
成がやりにくくなることなどから、感光性樹脂組成物の
ネガティブパターンを剥離・除去せずに、永久レジスト
として残すのが好ましい。
銅パターン形成後に、銅表面を酸化から保護するため、
あるいはその部分が電気的接続部分となる場合は接触抵
抗を低下させるため等の目的で。
あるいはその部分が電気的接続部分となる場合は接触抵
抗を低下させるため等の目的で。
半田レペラー等で銅パターン全体あるいは所望部分に半
田を被膜したり、あるいは金めつき、スズめっき等を行
なうことができる。銅表面を半田。
田を被膜したり、あるいは金めつき、スズめっき等を行
なうことができる。銅表面を半田。
金、スズ等の金属で覆った後、あるいは銅表面のまま基
板上の必要な部分にソルダマスクを形成することができ
る。銅パターンの所望部分のみに半田等の被覆を行なう
為のレジストとしてこのソルダマスクを利用することも
できる。ソルダマスクの形成は、エポキシ樹脂系インク
をスクリーン印刷などで印刷し、硬化させて行なうこと
もできるが1本発明で用いた感光性樹脂組成物を使用し
。
板上の必要な部分にソルダマスクを形成することができ
る。銅パターンの所望部分のみに半田等の被覆を行なう
為のレジストとしてこのソルダマスクを利用することも
できる。ソルダマスクの形成は、エポキシ樹脂系インク
をスクリーン印刷などで印刷し、硬化させて行なうこと
もできるが1本発明で用いた感光性樹脂組成物を使用し
。
写真法で高精度のソルダマスクを形成することもできる
。このようにして製造される印刷配線板は公知の方法で
種々の応用が可能であり1例えば電子部品を半田付けす
る等°して利用できるが、無電解銅めっき後の印刷配線
板を多層印刷配線板の内層板として使用することもでき
る。
。このようにして製造される印刷配線板は公知の方法で
種々の応用が可能であり1例えば電子部品を半田付けす
る等°して利用できるが、無電解銅めっき後の印刷配線
板を多層印刷配線板の内層板として使用することもでき
る。
次に本発明の実施例を示す。ここに示す実施例によって
本発明が限定されるものではない。実施例中及び比較例
中の「部」は重量部を示す。
本発明が限定されるものではない。実施例中及び比較例
中の「部」は重量部を示す。
実施例1
a)ウレタンアクリレート化合物の合成トルエン(溶剤
) 1200部 ルアクリレート トルエン(溶剤) 379部 Cメタノール(停止剤) 32部 上記上記源度計、攪拌装置、冷却管、窒素ガス導入管及
び滴下器のついた。加熱及び冷却の可能な容積約51!
の反応器に加え攪拌しながら60℃忙昇温した。反応温
度を55〜65℃に保ちながら約5時間で均一にBを滴
下した。B滴下後、約5時間かけて徐々に反応温度を8
0℃まで昇温した。その後温度を60℃に下げ、Cを加
え約1時間攪拌を続けた。このようにして不揮発分70
俤のウレタンアクリレート化合物の溶液(1)を得た。
) 1200部 ルアクリレート トルエン(溶剤) 379部 Cメタノール(停止剤) 32部 上記上記源度計、攪拌装置、冷却管、窒素ガス導入管及
び滴下器のついた。加熱及び冷却の可能な容積約51!
の反応器に加え攪拌しながら60℃忙昇温した。反応温
度を55〜65℃に保ちながら約5時間で均一にBを滴
下した。B滴下後、約5時間かけて徐々に反応温度を8
0℃まで昇温した。その後温度を60℃に下げ、Cを加
え約1時間攪拌を続けた。このようにして不揮発分70
俤のウレタンアクリレート化合物の溶液(1)を得た。
b)印刷配線板の製造
(不揮発分としては49部)
移温度約95℃) 47部
ベンゾフェノン 4部
4.4′−ビス(ジエチルア 0.2部ミノ)ベンゾフ
ェノン p−メトキシフェノール 0.1部 クリスタルバイオレット 0.1 部 メチルエチルケトン 80部 上記の配合で感光性樹脂組成物の溶液を調整した。
ェノン p−メトキシフェノール 0.1部 クリスタルバイオレット 0.1 部 メチルエチルケトン 80部 上記の配合で感光性樹脂組成物の溶液を調整した。
日立化成工業■製アディティブ法用基板ACL−E−1
61(Pd系メッキ触媒含有ガラスエポキシ積層板の両
面に、メッキ触媒を含有するフェノール変性ニトリルゴ
ム系接着剤を約30μmの厚さに塗布した基板)にNC
トリルア直径1.0mmのスルホールを2.54mm間
隔であけた試験基板を作った。この試験基板をナイロン
ブラシで研磨、水洗し、80℃で10分加熱乾燥した後
、″上記の感光性樹脂組成物の溶液をディップコート法
で塗布し。
61(Pd系メッキ触媒含有ガラスエポキシ積層板の両
面に、メッキ触媒を含有するフェノール変性ニトリルゴ
ム系接着剤を約30μmの厚さに塗布した基板)にNC
トリルア直径1.0mmのスルホールを2.54mm間
隔であけた試験基板を作った。この試験基板をナイロン
ブラシで研磨、水洗し、80℃で10分加熱乾燥した後
、″上記の感光性樹脂組成物の溶液をディップコート法
で塗布し。
80℃で20分溶剤乾燥した。このようにして乾燥後の
厚さ約25μmnの感光性樹脂組成物の層を形成した試
験基板の両面に第1図に示す試験用ネガマスクを密着さ
せ■オーク製作新製フェニックス3000型露光機を使
用し、 120 mJ/cm2で露光し、80℃で5分
加熱した後ネガマスクを剥離した。1はネガマスクの不
透明部分、2はネガマスクの透明部分を示し数字の単位
は肛である。
厚さ約25μmnの感光性樹脂組成物の層を形成した試
験基板の両面に第1図に示す試験用ネガマスクを密着さ
せ■オーク製作新製フェニックス3000型露光機を使
用し、 120 mJ/cm2で露光し、80℃で5分
加熱した後ネガマスクを剥離した。1はネガマスクの不
透明部分、2はネガマスクの透明部分を示し数字の単位
は肛である。
次に1.1.1− )リクロルエタンを用いて20℃で
50秒間スプレー現像した。現像後80℃で10分間加
熱乾燥し、東芝電材■製紫外線照射装置を用い2J/c
m2の量の紫外線を再照射した。その後160℃で20
分間加熱処理した。このようにしてレジスト像を形成し
た試験基板を42係のホウフッ化水素酸IJに重クロム
酸ナトリウム209を溶かした40℃の液に15分間浸
漬し、接着剤層の露出部分を粗化し水洗後、濃度3規定
の塩酸に5分間浸漬し水洗した。この試験基板を。
50秒間スプレー現像した。現像後80℃で10分間加
熱乾燥し、東芝電材■製紫外線照射装置を用い2J/c
m2の量の紫外線を再照射した。その後160℃で20
分間加熱処理した。このようにしてレジスト像を形成し
た試験基板を42係のホウフッ化水素酸IJに重クロム
酸ナトリウム209を溶かした40℃の液に15分間浸
漬し、接着剤層の露出部分を粗化し水洗後、濃度3規定
の塩酸に5分間浸漬し水洗した。この試験基板を。
Cu80a ・5Hz0 15 g/ l 、−1−チ
レンジアミン四酢酸309/l、37%HCHO水溶液
10 ml/l、シアン化ナトリウム25mg/lを含
みNaOHでpH12,5に調整した無電解銅めっき液
に70℃で15時間浸漬し、水洗後80℃で10分間乾
燥した。レジストにはクラックの発生はなく基板からの
浮きヤはがれもなく、基板上のレジストのない部分にネ
ガマスクのパターンに従った厚さ約30μmの銅パター
ンが形成された。またスルホール内壁にも厚さ約30μ
mの無電解銅めっき膜が形成された。レジスト表面には
余分な銅金属の析出はなかった。このようにして作成し
た印刷配線板にロジン系フラックスA−226(タムラ
化研■製)を塗布し、260℃の半田浴に10秒間浸漬
し、その後25℃のトリクレンに20秒間浸漬してフラ
ックスを除去した。レジストにはクラックの発生はなく
、また一基板からの浮きやはがれは認められず半田耐熱
性が優れていることがわかった。さらにMIL−8TD
−202E 107D条件B(−65℃、30分間#常
温5分内#125℃。
レンジアミン四酢酸309/l、37%HCHO水溶液
10 ml/l、シアン化ナトリウム25mg/lを含
みNaOHでpH12,5に調整した無電解銅めっき液
に70℃で15時間浸漬し、水洗後80℃で10分間乾
燥した。レジストにはクラックの発生はなく基板からの
浮きヤはがれもなく、基板上のレジストのない部分にネ
ガマスクのパターンに従った厚さ約30μmの銅パター
ンが形成された。またスルホール内壁にも厚さ約30μ
mの無電解銅めっき膜が形成された。レジスト表面には
余分な銅金属の析出はなかった。このようにして作成し
た印刷配線板にロジン系フラックスA−226(タムラ
化研■製)を塗布し、260℃の半田浴に10秒間浸漬
し、その後25℃のトリクレンに20秒間浸漬してフラ
ックスを除去した。レジストにはクラックの発生はなく
、また一基板からの浮きやはがれは認められず半田耐熱
性が優れていることがわかった。さらにMIL−8TD
−202E 107D条件B(−65℃、30分間#常
温5分内#125℃。
30分間)、50サイクルの熱衝撃試験を行なったがレ
ジストにはクラックの発生はなく、また基板からの浮き
ヤはがれは認められず長期間の信頼性に優れていること
がわかった。
ジストにはクラックの発生はなく、また基板からの浮き
ヤはがれは認められず長期間の信頼性に優れていること
がわかった。
実施例2
a)ウレタンアクリレート化合物の合成トルエン(溶剤
) 1200部 B 1,6−ヘキサンジオール 472部(8当量)ト
ルエン(溶剤) 88部 D メタノール(停止剤) 32部 上記上記源度計、攪拌装置、冷却管、窒素ガス導入管及
び滴下器のついた。加熱及び冷却の可能な容積的51!
の反応器に加え攪拌しながら60℃に昇温した。反応温
腿を55〜65℃に保ちながら約3時間で均一にBを滴
下した。B滴下後、60℃の温度で約2時間保ち、その
後60℃の温度でCを約3時間で均一に滴下した。C滴
下後、約5時間かけて徐々に反応温度を80℃まで昇温
した。
) 1200部 B 1,6−ヘキサンジオール 472部(8当量)ト
ルエン(溶剤) 88部 D メタノール(停止剤) 32部 上記上記源度計、攪拌装置、冷却管、窒素ガス導入管及
び滴下器のついた。加熱及び冷却の可能な容積的51!
の反応器に加え攪拌しながら60℃に昇温した。反応温
腿を55〜65℃に保ちながら約3時間で均一にBを滴
下した。B滴下後、60℃の温度で約2時間保ち、その
後60℃の温度でCを約3時間で均一に滴下した。C滴
下後、約5時間かけて徐々に反応温度を80℃まで昇温
した。
その後温度を60℃に下げ、Dを加え約1時間攪拌を続
けた。このようにしてウレタンアクリレート化合物の溶
液を得た。その後、減圧乾燥して粘稠なウレタンアクリ
レート化合物(Illを得た。
けた。このようにしてウレタンアクリレート化合物の溶
液を得た。その後、減圧乾燥して粘稠なウレタンアクリ
レート化合物(Illを得た。
b)感光性エレメントの製造
上記方法で得られたウレタンアクリレート化合物([1
40部 ベンゾフェノン 2.7部 ミヒラーケトン 0.3部 p−メトキシフェノール 0.1部 ビクトリアピュアブルー o、o5部 メチルエチルケトン 80部 トルエン 40部 第2図に示す装置を用いて上記配合の感光性樹脂組成物
の溶液1(1−25μm厚さのポリエチレンテレフタレ
ートフィルム16上に均一に塗布し80〜100℃の熱
風対流式乾燥機11で約10分間乾燥した。感光性樹脂
組成物の層の乾燥後の厚さは約35μmnでめった。感
光性樹脂組成物の層の上には、更に第2図のようにして
厚さ約25μmのポリエチレンフィルム17をカバーフ
ィルムとして張り合わせた。
40部 ベンゾフェノン 2.7部 ミヒラーケトン 0.3部 p−メトキシフェノール 0.1部 ビクトリアピュアブルー o、o5部 メチルエチルケトン 80部 トルエン 40部 第2図に示す装置を用いて上記配合の感光性樹脂組成物
の溶液1(1−25μm厚さのポリエチレンテレフタレ
ートフィルム16上に均一に塗布し80〜100℃の熱
風対流式乾燥機11で約10分間乾燥した。感光性樹脂
組成物の層の乾燥後の厚さは約35μmnでめった。感
光性樹脂組成物の層の上には、更に第2図のようにして
厚さ約25μmのポリエチレンフィルム17をカバーフ
ィルムとして張り合わせた。
第2図において、5はポリエチレンテレフタレートフィ
ルム< !l)出Lロール、6,7.8i、l:ロール
、9はナイフ、12はポリエチレンフィルムくり出しロ
ール、13.14はロール、15は感光性エレメント巻
き取りロールである。
ルム< !l)出Lロール、6,7.8i、l:ロール
、9はナイフ、12はポリエチレンフィルムくり出しロ
ール、13.14はロール、15は感光性エレメント巻
き取りロールである。
C)印刷配線板の製造
アディティブ法用基板ACL−E−161にNCドリル
で直径0.8 mmのスルホールを2.54 mm間隔
であけた試験基板を住友スリーエム■製スコッチブライ
トで研磨、水洗し、80℃で15分加熱乾燥した。この
試験基板の両面に上記b)で得た感光性エレメントを諸
産業■製A−500型ラミネータを用い積層した。この
2枚の試験基板の両面に第1図に示す試験用ネガマスク
を密着させ100mJ/cm2で露光し、80℃で10
分加熱した。20分間常温で放置後支持体フィルムであ
るポリエステルフィルムをはがし、1,1.1−)リク
ロルエタンを用いて70秒間スプレー現像し、80℃で
10分乾燥した。この試験基板を実施例1と同様に2J
/cm”の紫外線で再照射したのち160℃で20分間
加熱処理し、実施例1と同様にして粗化処理後無電解銅
めっきを20時間行なった。レジストにはクラックの発
生はなく基板からの浮きやはがれもなく、基板上にネガ
マスクのパターンに従った高精度の銅パターン(銅厚さ
約35μm)が形成された。レジスト表面には余分な銅
金属の析出はなかった。このあと、実施例1と同様に半
田付は処理し、50サイクルの熱衝撃試験を行なったが
レジストにはクラックの発生はなくiまた基板からの浮
きやはがれは認められなかった。
で直径0.8 mmのスルホールを2.54 mm間隔
であけた試験基板を住友スリーエム■製スコッチブライ
トで研磨、水洗し、80℃で15分加熱乾燥した。この
試験基板の両面に上記b)で得た感光性エレメントを諸
産業■製A−500型ラミネータを用い積層した。この
2枚の試験基板の両面に第1図に示す試験用ネガマスク
を密着させ100mJ/cm2で露光し、80℃で10
分加熱した。20分間常温で放置後支持体フィルムであ
るポリエステルフィルムをはがし、1,1.1−)リク
ロルエタンを用いて70秒間スプレー現像し、80℃で
10分乾燥した。この試験基板を実施例1と同様に2J
/cm”の紫外線で再照射したのち160℃で20分間
加熱処理し、実施例1と同様にして粗化処理後無電解銅
めっきを20時間行なった。レジストにはクラックの発
生はなく基板からの浮きやはがれもなく、基板上にネガ
マスクのパターンに従った高精度の銅パターン(銅厚さ
約35μm)が形成された。レジスト表面には余分な銅
金属の析出はなかった。このあと、実施例1と同様に半
田付は処理し、50サイクルの熱衝撃試験を行なったが
レジストにはクラックの発生はなくiまた基板からの浮
きやはがれは認められなかった。
比較例1
実施例2.b)の1.4〜ブタンジオ一ルジチオグリコ
レート2部を用いない他は、実施例2.b)と同様にし
て感光性エレメントを作成した。次いで実施例2.C)
と同様にして無電解銅めっきを行なったがレジスト表面
に数10μm径程度の余分な銅金属の析出が500個/
Cm2以上あり、銅パターン間で電気的にショートして
いる部分もめった。
レート2部を用いない他は、実施例2.b)と同様にし
て感光性エレメントを作成した。次いで実施例2.C)
と同様にして無電解銅めっきを行なったがレジスト表面
に数10μm径程度の余分な銅金属の析出が500個/
Cm2以上あり、銅パターン間で電気的にショートして
いる部分もめった。
無電解銅めっきにより形成された銅パターンの銅厚さは
約35μmでめった。
約35μmでめった。
比較例2
実施例2.b)の1.4−ブタンジオールジチオグリコ
レート2部にかえてこれを10部(脂肪族性のメルカプ
ト基の濃度として7.6X10”当量/g)用いた他は
実施例2.b)と同様にして感光性エレメントを作成し
た。次いで実施例2.C)と同様圧して無電解銅めっき
を行なった。
レート2部にかえてこれを10部(脂肪族性のメルカプ
ト基の濃度として7.6X10”当量/g)用いた他は
実施例2.b)と同様にして感光性エレメントを作成し
た。次いで実施例2.C)と同様圧して無電解銅めっき
を行なった。
レジストの側面部分の銅金属の析出が強く抑制されたた
めネガマスクのラインパターン幅0.25mmの部分で
は、めつきKより形成された実際の銅ラインの幅は約0
.12mmと細くなっており、レジストと銅ラインの間
に明らかに銅金属の析出していない部分が目視で認めら
れた。
めネガマスクのラインパターン幅0.25mmの部分で
は、めつきKより形成された実際の銅ラインの幅は約0
.12mmと細くなっており、レジストと銅ラインの間
に明らかに銅金属の析出していない部分が目視で認めら
れた。
比較例3
実施例2.b)の1.4−ブタンジオールジチオグリコ
レート2部にかえて2−メルカプトベンゾチアゾール2
部を用い、他は実施例2.b)と同様にして感光性エレ
メントを作成した。次いで実施例2、C)と同様にして
無電解銅めっきを行なった。
レート2部にかえて2−メルカプトベンゾチアゾール2
部を用い、他は実施例2.b)と同様にして感光性エレ
メントを作成した。次いで実施例2、C)と同様にして
無電解銅めっきを行なった。
レジスト表面には余分な銅金属の析出はなかったが、無
電解銅めっきにより形成された銅パターンの銅厚さは約
5μIllでめった。レジスト中のベンゾチアゾールが
めつき液中に多量に溶出し、めっき液を汚染したため、
めっき速度が著しく低下したものと考えられる。
電解銅めっきにより形成された銅パターンの銅厚さは約
5μIllでめった。レジスト中のベンゾチアゾールが
めつき液中に多量に溶出し、めっき液を汚染したため、
めっき速度が著しく低下したものと考えられる。
実施例3
ベンゾフェノン 2.7部
ミヒラケトン 0.3部
ビクトリアピュアブルー 0.02部
メチルエチルケトシ 100部
トルエン 50部
上記配合の感光性樹脂組成物の溶液を用い、他は実施例
2.b)と同様の操作を行ない、感光性樹脂組成物の層
の厚さ約35μmの感光性エレメントを得た。
2.b)と同様の操作を行ない、感光性樹脂組成物の層
の厚さ約35μmの感光性エレメントを得た。
アディティブ法用基板ACL−E−161’&スコッチ
プライトで研磨、水洗し、80℃で10分加熱乾燥した
。この試験基板の表面に上記で得た感光性エレメントを
実施例2.C)と同様にして積層した。次に線幅100
μm、線間隔1ooμmの高密着パターンを含むネガマ
スクを密着させ、■オーク製作所膜フェニックス300
0型露光機を使用し、 70 +nJ/am2で露光し
、so’cで5分加熱した。20分間常温で放置後、支
持体フィルムをはがし、1,1.1−)リクロルエタン
を用いて60秒間スプレー現像し、80℃で1o分乾燥
した。
プライトで研磨、水洗し、80℃で10分加熱乾燥した
。この試験基板の表面に上記で得た感光性エレメントを
実施例2.C)と同様にして積層した。次に線幅100
μm、線間隔1ooμmの高密着パターンを含むネガマ
スクを密着させ、■オーク製作所膜フェニックス300
0型露光機を使用し、 70 +nJ/am2で露光し
、so’cで5分加熱した。20分間常温で放置後、支
持体フィルムをはがし、1,1.1−)リクロルエタン
を用いて60秒間スプレー現像し、80℃で1o分乾燥
した。
この試験基板を実施例1と同様に2J/cm2の紫外線
で再照射したのち160℃で20分間加熱処理し、実施
例1と同様にして粗化処理後、無電解銅めっきを20時
間行なった。レジストにはクラックの発生はなく基板か
らの浮きやはがれもなく。
で再照射したのち160℃で20分間加熱処理し、実施
例1と同様にして粗化処理後、無電解銅めっきを20時
間行なった。レジストにはクラックの発生はなく基板か
らの浮きやはがれもなく。
ネガマスクのパターンに従った高精度の銅パターン(銅
厚さ約35μm )が形成された。レジスト表面には余
分な銅金属の析出はなかった。このようにして作成した
試験基板の表面上にさらにタムラ化研■製ソルダレジス
トインクUSR−2Gをスクリーン印刷した。基板人血
がほぼ平滑なため一度の印刷で容易にソルダレジストを
形成できた。
厚さ約35μm )が形成された。レジスト表面には余
分な銅金属の析出はなかった。このようにして作成した
試験基板の表面上にさらにタムラ化研■製ソルダレジス
トインクUSR−2Gをスクリーン印刷した。基板人血
がほぼ平滑なため一度の印刷で容易にソルダレジストを
形成できた。
このあと高圧水銀灯(東芝電材■製H5600L/8W
)で2J/cm2の量の紫外線を照射したのち。
)で2J/cm2の量の紫外線を照射したのち。
゛フラックスを用いて260℃、20秒間半田処理を行
なったが、レジストの浮きやはがれ等の異常は認められ
なかった。
なったが、レジストの浮きやはがれ等の異常は認められ
なかった。
比較例4
実施例3と同様にして無電解銅めっきまで行ない高精度
の銅パターン(銅厚さ約35μm)が形成された試験基
板を得た。このあとめつきに用いたレジストを除去する
ために25℃の塩化メチレン中に10分間浸漬したがレ
ジストを除去できなかった。さらに塩化メチレン中に浸
漬しながら。
の銅パターン(銅厚さ約35μm)が形成された試験基
板を得た。このあとめつきに用いたレジストを除去する
ために25℃の塩化メチレン中に10分間浸漬したがレ
ジストを除去できなかった。さらに塩化メチレン中に浸
漬しながら。
ブラシを併用してレジスト除去を試みたが高精度の銅ラ
インを傷つけることなくレジストを除去することはでき
なかった。
インを傷つけることなくレジストを除去することはでき
なかった。
比較例5
現像後に2J/cm2の紫外線を照射しないこと以外は
実施例3と同様にして無電解銅めっきまでを行ない高精
度の銅パターン(銅厚さ約30μ+11 )が形成され
た試験基板を得た。銅厚さが実施例3の場合より若干薄
いのは紫外線の再照射を省略したため、めっき浴を汚染
し、めっき速度が若干低下したためと思われる。
実施例3と同様にして無電解銅めっきまでを行ない高精
度の銅パターン(銅厚さ約30μ+11 )が形成され
た試験基板を得た。銅厚さが実施例3の場合より若干薄
いのは紫外線の再照射を省略したため、めっき浴を汚染
し、めっき速度が若干低下したためと思われる。
この試験基板を25℃の塩化メチレン中に5分間浸漬し
基板をかるく上下に動かすとレジストが完全に除去され
た。このあとさらに試験基板の表面上にソルダレジスト
インクUSR−2Gを用いてスクリーン印刷でソルダレ
ジストの形成を認めたが、銅ラインによる凹凸がめるた
め、特に線幅。
基板をかるく上下に動かすとレジストが完全に除去され
た。このあとさらに試験基板の表面上にソルダレジスト
インクUSR−2Gを用いてスクリーン印刷でソルダレ
ジストの形成を認めたが、銅ラインによる凹凸がめるた
め、特に線幅。
線間隔100μmの高密度部分を気泡の残存なくレジス
トインクでうめるのは困難であった。
トインクでうめるのは困難であった。
以上、実施例忙示した様に本発明になる印刷配線板の製
造方法によって、アディティブ法で高密度、高精度の印
刷配線板が得られる。
造方法によって、アディティブ法で高密度、高精度の印
刷配線板が得られる。
尚、上記は本発明の実施例にすぎず、当然9本発明の精
神を逸脱しない範囲で種々の変形及び使用方法が可能で
ある。
神を逸脱しない範囲で種々の変形及び使用方法が可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例で用いた試験用ネガマスクを示す図、第
2図は実施例で用いた感光性エレメントの製造装置の略
図である。 符号の説明 1・・・ネガマスクの不透明部分 2・・・ネガマスクの透明部分 5・・・ポリエチレンテレフタレートフィルム<す出し
ロール 6.7.8・・・ロール 9・・・ナイフ 10・・・感光性樹脂組成物の溶液 11・・・乾燥機 12・・・ポリエチレンフィルム<す出しロール13.
14・・・ロール 15・・・感光性エレメント巻き取りロール16・・・
ポリエチレンテレフタレートフィルム17・・・ポリエ
チレンフィルム 聞 1 口 4丁目1旙1号 日立化成工業株式会社山崎工手続補正
書(自発) III +11 fin +l lid 1120 +
11事件の表示 昭和58年持許願第ztti?oz号 2、発明の名称 印刷配線板の製造方法 3袖正をする渚 1・l′lとの関イf′1.?許出願人名 称 (44
50」立化成工業株式会II4、代 理 人 [1立化成−L業株式会ンl内 電話東晶3dG−3111f大代表) 5捕正の対象 手続補正書(自発) 昭和g9年57I15 日 特許片長14殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第214906号 2、発明の名称 印刷配線板の製11′i方法 、31市正をする名 り・イ1との関IM li訂出願人 名1h(44!i目11ン一化成工業株式会社11 代
理 人 とあるのを「試み」とij正します。 以上
2図は実施例で用いた感光性エレメントの製造装置の略
図である。 符号の説明 1・・・ネガマスクの不透明部分 2・・・ネガマスクの透明部分 5・・・ポリエチレンテレフタレートフィルム<す出し
ロール 6.7.8・・・ロール 9・・・ナイフ 10・・・感光性樹脂組成物の溶液 11・・・乾燥機 12・・・ポリエチレンフィルム<す出しロール13.
14・・・ロール 15・・・感光性エレメント巻き取りロール16・・・
ポリエチレンテレフタレートフィルム17・・・ポリエ
チレンフィルム 聞 1 口 4丁目1旙1号 日立化成工業株式会社山崎工手続補正
書(自発) III +11 fin +l lid 1120 +
11事件の表示 昭和58年持許願第ztti?oz号 2、発明の名称 印刷配線板の製造方法 3袖正をする渚 1・l′lとの関イf′1.?許出願人名 称 (44
50」立化成工業株式会II4、代 理 人 [1立化成−L業株式会ンl内 電話東晶3dG−3111f大代表) 5捕正の対象 手続補正書(自発) 昭和g9年57I15 日 特許片長14殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第214906号 2、発明の名称 印刷配線板の製11′i方法 、31市正をする名 り・イ1との関IM li訂出願人 名1h(44!i目11ン一化成工業株式会社11 代
理 人 とあるのを「試み」とij正します。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 (1) 無電解めっき銅をその所要部分に析出さ
せるべき絶縁性基板の表面に、(a)末端エチレン基を
少なくとも2個有する光重合可能な不飽和化合物20〜
75重量部、(b)線状高分子化合物20〜75重量部
、(C)脂肪族性のメルカプト基を有する化合物及び(
d)活性光により遊離ラジカルを生成する増感剤又は(
及び)増感剤系0.5〜10重量部を含有し、上記(C
)の脂肪族性メルカプト基の含有濃度が4 X 10=
〜4 X 10−’当量/gである感光性樹脂組成物の
層を形成する工程 (2)像的な活性光を照射後現像して該基板の表面上に
感光性樹脂組成物のネガティブパターンを形成する工程 (3)活性光を再照射する工程 ならびに (4)該基板の表面上の感光性樹脂組成物のネガティブ
パターンをめっきレジストとして無電解銅めっきによし
配線ノ(ターンを形成する工程を経ることを特徴とする
印刷配線板の製造方法。 2 感光性樹脂組成物のネガティジノ9−ンを無電解銅
めっき後も永久レジストとして残す特許請求の範囲第1
項記載の印刷配線板の製造方法。 a、(1)で形成される感光性樹脂組成物の層の厚さを
無電解銅めっきにより析出させるめっき銅の厚さとほぼ
同じとした特許請求の範即第1項又は ′第2項記載の
印刷配線板の製造方法。 4、(a)の末端エチ゛レン基を少なくとも2個有する
光重合可能な不飽和化合物が、トリメチルヘキサメチレ
ンジイソシアナート、ジオールモノアクリレート又はジ
オールモノメタクリレート及び場合により他のジイソシ
アナート化合物又は(及び)他のアルコール化合物を反
応させて得られるウレタンアクリレート化合物又はウレ
タンメタクリレート化合物である特許請求の範囲第1項
、第2項。 又は第3項記載の印刷配線板の製造方法。 5、感光性樹脂組成物の層を形成する工程75里。 支持体フィルム上に感光性樹脂組成物の層を有する感光
性エレメントを積層する方法である特許請求の範囲第1
項、第2項、第3項又は第4項記載の印刷配線板の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21490683A JPS60106191A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 印刷配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21490683A JPS60106191A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 印刷配線板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60106191A true JPS60106191A (ja) | 1985-06-11 |
Family
ID=16663518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21490683A Pending JPS60106191A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 印刷配線板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60106191A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60126892A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-07-06 | 日本曹達株式会社 | 回路基板 |
US6680440B1 (en) | 1998-02-23 | 2004-01-20 | International Business Machines Corporation | Circuitized structures produced by the methods of electroless plating |
-
1983
- 1983-11-15 JP JP21490683A patent/JPS60106191A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60126892A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-07-06 | 日本曹達株式会社 | 回路基板 |
US6680440B1 (en) | 1998-02-23 | 2004-01-20 | International Business Machines Corporation | Circuitized structures produced by the methods of electroless plating |
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