JPS5957103A - 歪計 - Google Patents
歪計Info
- Publication number
- JPS5957103A JPS5957103A JP16769682A JP16769682A JPS5957103A JP S5957103 A JPS5957103 A JP S5957103A JP 16769682 A JP16769682 A JP 16769682A JP 16769682 A JP16769682 A JP 16769682A JP S5957103 A JPS5957103 A JP S5957103A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scale
- magnetic
- measured
- strain
- magnetic scale
- Prior art date
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- Granted
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は歪計に関する。
従来公知の歪計としては抵抗線ひずみ計等があるがこれ
らの歪計は測定しうる範囲が狭く、被測定体の部分的な
測定にとどまり、しかもインピーダンス変換なので抵抗
線の抵抗測定のためにブリッジ回路等の測定回路を必要
とするので装置が複雑となり、また抵抗変化が僅少であ
るので測定回路の増幅率を高めねばならずＳ／Ｎ比が小
さくなり、さらに抵抗線の発熱による温度上昇の影響を
受けるため温度ｗｉ償をしなければならないという問題
点があった。
らの歪計は測定しうる範囲が狭く、被測定体の部分的な
測定にとどまり、しかもインピーダンス変換なので抵抗
線の抵抗測定のためにブリッジ回路等の測定回路を必要
とするので装置が複雑となり、また抵抗変化が僅少であ
るので測定回路の増幅率を高めねばならずＳ／Ｎ比が小
さくなり、さらに抵抗線の発熱による温度上昇の影響を
受けるため温度ｗｉ償をしなければならないという問題
点があった。
本発明は叙上の観点に立ってなされたものであり、その
目的とするところは、被測定体の形状にかかわらず、そ
の全体にわたっての歪の測定が可能で、しかもデジタル
方式であるのでＳ ／ Ｎ比が大きく、装置を簡単にで
きる上、極めて高精度に測定ができ、さらに抵抗線を使
用しないのでその発熱による温度上昇の影響を受けるこ
とのない歪計を提供することにある。
目的とするところは、被測定体の形状にかかわらず、そ
の全体にわたっての歪の測定が可能で、しかもデジタル
方式であるのでＳ ／ Ｎ比が大きく、装置を簡単にで
きる上、極めて高精度に測定ができ、さらに抵抗線を使
用しないのでその発熱による温度上昇の影響を受けるこ
とのない歪計を提供することにある。
而して本発明の要旨とするところは、被測定体に一対の
スケール取り付は部と複数のスケール案内とを設け、適
宜の磁気スケールを上記スケール・取付部の一方から所
定の順序で上記スケール案内を順次経由して他の一方の
スケール取り付は部に到る径路に沿って配設し、その一
端は上記取り付は部に直接に、他の一端はスプリングを
介して弾性的に上記の他の一方の取り付は部にそれぞれ
取り付け、さらに、上記磁気スケールを読み取り得る位
置に複数の磁気ヘッドを配設して、これらの磁気ヘッド
によって磁気スケールの目盛を読み取り、その出力を演
算装置によって解析して被測定部材の歪を算出すること
にある。
スケール取り付は部と複数のスケール案内とを設け、適
宜の磁気スケールを上記スケール・取付部の一方から所
定の順序で上記スケール案内を順次経由して他の一方の
スケール取り付は部に到る径路に沿って配設し、その一
端は上記取り付は部に直接に、他の一端はスプリングを
介して弾性的に上記の他の一方の取り付は部にそれぞれ
取り付け、さらに、上記磁気スケールを読み取り得る位
置に複数の磁気ヘッドを配設して、これらの磁気ヘッド
によって磁気スケールの目盛を読み取り、その出力を演
算装置によって解析して被測定部材の歪を算出すること
にある。
以下図面にもとすいて本発明の構成の詳細を説明する。
尚、各図中、同一の符号を付したものは同一の機能を有
する構成要素を示している。
する構成要素を示している。
第１図は本発明にかかる歪計の一実施例を示す説明図、
第２図は本発明の他の一実施例を示す説明図、笹３図は
さらに別の一実施例を示す説明図、第４図は被測定体が
工作機械である本発明の一実施例を示す説明図である。
第２図は本発明の他の一実施例を示す説明図、笹３図は
さらに別の一実施例を示す説明図、第４図は被測定体が
工作機械である本発明の一実施例を示す説明図である。
ＮＳ１図中、１は被測定体、２はワイヤ又は帯状の磁気
スケール、３は磁気スケールの一端を取り付けるスケー
ル取り付は部、４は磁気スケールの他の一端を取り（＝
Ｊ番）るスケール取り（”Ｊけ部、５はスプリング、６
はスケール案内、７は磁気ヘッド、８は演算装置である
。
スケール、３は磁気スケールの一端を取り付けるスケー
ル取り付は部、４は磁気スケールの他の一端を取り（＝
Ｊ番）るスケール取り（”Ｊけ部、５はスプリング、６
はスケール案内、７は磁気ヘッド、８は演算装置である
。
磁気スケールはワイヤ又は帯状の磁性体の要所要所に１
ｐｍ −１０ｐｒｎｓ或いは、約１１００ｔｒ前後の
間隔で磁極者垂直に、場合によっては水平に着磁して磁
気格子（磁気スケール）を有せしめたものであり、スケ
ール取付部３から図示する順序でスケール案内６をＷｔ
Ｖ：経由して他の一方のスケール取り００部４に到り、
その−・端は取り付は部３に＆接に、他の一端はスプリ
ング５を介して弾性的に取り付は部４にそれぞれ取り付
けてあり、スプリング５によって−・定の張力が与えら
れている。
ｐｍ −１０ｐｒｎｓ或いは、約１１００ｔｒ前後の
間隔で磁極者垂直に、場合によっては水平に着磁して磁
気格子（磁気スケール）を有せしめたものであり、スケ
ール取付部３から図示する順序でスケール案内６をＷｔ
Ｖ：経由して他の一方のスケール取り００部４に到り、
その−・端は取り付は部３に＆接に、他の一端はスプリ
ング５を介して弾性的に取り付は部４にそれぞれ取り付
けてあり、スプリング５によって−・定の張力が与えら
れている。
磁気ヘッド７は歪を測定すべき部分の要所に設け、磁気
スケール２の目盛を検知できるよう磁気スケール２に軽
く触れるか、所定微小間隔で近接するよう構成する。
スケール２の目盛を検知できるよう磁気スケール２に軽
く触れるか、所定微小間隔で近接するよう構成する。
被測定体１が外力によって変形し歪を起すと被測定体１
の歪を起した部分に取り付けたスケール案内６及び磁気
ヘッド７は磁気スケール２に対して移動するので、磁気
ヘッド７によって磁気スケール２の移動した目盛を続み
取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算装置によ
り解析して被測定体１の歪を算出する。
の歪を起した部分に取り付けたスケール案内６及び磁気
ヘッド７は磁気スケール２に対して移動するので、磁気
ヘッド７によって磁気スケール２の移動した目盛を続み
取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算装置によ
り解析して被測定体１の歪を算出する。
上記の場合、被測定体ｌが変形し歪を起したことにより
、磁気ヘッド７と磁気スケール２との対向が開離しない
ように適宜の手段で係合させておくことが推奨されるが
、逆に上記所定以上の開離を測定に利用することもでき
る。
、磁気ヘッド７と磁気スケール２との対向が開離しない
ように適宜の手段で係合させておくことが推奨されるが
、逆に上記所定以上の開離を測定に利用することもでき
る。
第２図は複数の磁気スケールを被測定部材に取り付けた
歪計の実施例を示す説明図である。
歪計の実施例を示す説明図である。
磁気スケール２及び２′は一方のスケール取付部３．３
′から図示する順序でスケール案内６．６′を順次経由
して他の一方のスケール取り付は部４．４′に到り、そ
の一端は取り付は部３．３１に直接に、他の一端はスプ
リング５．５１を介して弾性的に取り付は部４．４′に
それぞれ取り付けてあり、スプリング５．５１によって
一定の張力が与えられている。
′から図示する順序でスケール案内６．６′を順次経由
して他の一方のスケール取り付は部４．４′に到り、そ
の一端は取り付は部３．３１に直接に、他の一端はスプ
リング５．５１を介して弾性的に取り付は部４．４′に
それぞれ取り付けてあり、スプリング５．５１によって
一定の張力が与えられている。
被測定体１′が外力によって変形し歪を起すと被測定体
１の歪を起した部分に取り付けた磁気ヘッド７．７１は
磁気スケール２．２′に対して移動するので、磁気ヘッ
ド７．７′によって磁気スケール２．２′の移動した目
盛を読み取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算
装置により解析して被測定体１の歪を算出する。
１の歪を起した部分に取り付けた磁気ヘッド７．７１は
磁気スケール２．２′に対して移動するので、磁気ヘッ
ド７．７′によって磁気スケール２．２′の移動した目
盛を読み取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算
装置により解析して被測定体１の歪を算出する。
上記のように複数の磁気スケールを設けた実施例によれ
ば、１個の磁気スケールによる測定よりも広範囲に歪を
測定でき、しかも１個の磁気スケールの長さを短くでき
るので測定誤差を小さくすることができる。
ば、１個の磁気スケールによる測定よりも広範囲に歪を
測定でき、しかも１個の磁気スケールの長さを短くでき
るので測定誤差を小さくすることができる。
而して、歪には外力によるものと温度分布の不均−によ
るものとがあるが、これは被測定部材と同一・の肚張係
数を有する磁気スケールと異なる膨張係数を有するのも
のとを併用することにより判定することができる。
るものとがあるが、これは被測定部材と同一・の肚張係
数を有する磁気スケールと異なる膨張係数を有するのも
のとを併用することにより判定することができる。
第３図は磁気スケールとしてその膨張係数が被測定体の
膨張係数と同一のものと異なるものとを併用する歪δ１
の実施υすを示ず説明図である。
膨張係数と同一のものと異なるものとを併用する歪δ１
の実施υすを示ず説明図である。
第３図において磁気スケール２は被測定休１と同一・の
ｌｉ ’！係数を有するものを用いてあり、磁気スケー
ル２１けインパール等の熱膨張係数の低いワイヤの要所
に磁気目盛を施した白金コバルト片を取り付けたものを
用いである。
ｌｉ ’！係数を有するものを用いてあり、磁気スケー
ル２１けインパール等の熱膨張係数の低いワイヤの要所
に磁気目盛を施した白金コバルト片を取り付けたものを
用いである。
被測定体１が熱及び外力によって変形し歪を起すと被測
定部材の歪を起した部分に取り付けたスケール案内６．
６′及び磁・気ヘッド７．７′は磁気スケール２．２′
に対して移動する。このとき磁気スケール２は被測定体
１と同様に熱膨張を起し、磁気スケール２′は熱膨張係
数の低い磁性材を用いであるのでほとんど変形を起さな
い。磁気ヘッド６．６′によって磁気スケール２．２′
の移動した目盛を続み取り、さらにこれらの磁気ヘッド
の出力を演算装置により解析して被測定体１の歪を算出
する。
定部材の歪を起した部分に取り付けたスケール案内６．
６′及び磁・気ヘッド７．７′は磁気スケール２．２′
に対して移動する。このとき磁気スケール２は被測定体
１と同様に熱膨張を起し、磁気スケール２′は熱膨張係
数の低い磁性材を用いであるのでほとんど変形を起さな
い。磁気ヘッド６．６′によって磁気スケール２．２′
の移動した目盛を続み取り、さらにこれらの磁気ヘッド
の出力を演算装置により解析して被測定体１の歪を算出
する。
この場合、一般に熱歪は磁気スケール２と２１の移動量
の差によって検知され、外力による歪は両スケールに共
通な部分とみられるから、両磁気スケール２及び２′の
移動量を解析すれば熱歪と外力歪とを別異に知ることが
できる。
の差によって検知され、外力による歪は両スケールに共
通な部分とみられるから、両磁気スケール２及び２′の
移動量を解析すれば熱歪と外力歪とを別異に知ることが
できる。
第４図は被測定部材が工作機械である本発明の一実施例
を示す説明図である。
を示す説明図である。
磁気スケール２は工作機械の一側面に設けであるが、こ
れは側面に限らず歪を起し易い部分に設定することが推
奨され、インパール等の膨張係数の低いものを用いる。
れは側面に限らず歪を起し易い部分に設定することが推
奨され、インパール等の膨張係数の低いものを用いる。
被測定体１が熱によって変形し歪を起すと被測定体１の
歪を起した部分に取り付けた磁気ヘッド７は移動するが
、磁気スケール２は熱膨張係数の低い磁性材を用いであ
るのでほとんど変形を起さず、磁気ヘッド７の移動は磁
気スケール２の目盛の移動として検出できるので、磁気
ヘッド７によって磁気スケール２の移動した目盛を読み
取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算装置によ
り解析して被測定休１の歪を算出する。
歪を起した部分に取り付けた磁気ヘッド７は移動するが
、磁気スケール２は熱膨張係数の低い磁性材を用いであ
るのでほとんど変形を起さず、磁気ヘッド７の移動は磁
気スケール２の目盛の移動として検出できるので、磁気
ヘッド７によって磁気スケール２の移動した目盛を読み
取り、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を演算装置によ
り解析して被測定休１の歪を算出する。
尚、第３図で示した実施例と同様に磁気スケールとして
被測定体と同じ膨張係数を有するものと異なる膨張係数
を有するものを併用すれば、熱歪と外力歪とを別異に知
ることができる。
被測定体と同じ膨張係数を有するものと異なる膨張係数
を有するものを併用すれば、熱歪と外力歪とを別異に知
ることができる。
本発明は畝上の如く構成されるから、本発明によるとき
は、被測定体の形状にかかわらず、その全体にわたって
の歪の測定が可能で、しかもデジタル方式であるのでＳ
／Ｎ比が大きく、装置を簡単にできる上、極めて７ｔｒ
Ｊ精度に測定ができ、さらに抵抗線を使用しないのでそ
の発熱による温度上昇の影響を受けることのない歪計を
提供することができる。
は、被測定体の形状にかかわらず、その全体にわたって
の歪の測定が可能で、しかもデジタル方式であるのでＳ
／Ｎ比が大きく、装置を簡単にできる上、極めて７ｔｒ
Ｊ精度に測定ができ、さらに抵抗線を使用しないのでそ
の発熱による温度上昇の影響を受けることのない歪計を
提供することができる。
尚、本発明の構成は畝上の実施例に限定されるものでは
ない。被測定体の形状は任意のものでよく、磁気スケー
ルの形状は線状、棒状、帯状等とすることができ、また
スケール案内、磁気スケール及び磁気ヘッドの設定位置
は本発明の目的の範囲内で自由に設計変更できるもので
あり、本発明はそれらの一切を包摂するものである。
ない。被測定体の形状は任意のものでよく、磁気スケー
ルの形状は線状、棒状、帯状等とすることができ、また
スケール案内、磁気スケール及び磁気ヘッドの設定位置
は本発明の目的の範囲内で自由に設計変更できるもので
あり、本発明はそれらの一切を包摂するものである。
第１図は本発明にかかる歪計の一実施例を示す説明図、
第２図は本発明の他の一実施例を示す説明図、第３図は
さらに別の一実施例を示す説明図、第４図は被測定部材
が工作機械である本発明の一実施例を示す説明図である
。 ■−・・〜−−−−−−−−−−−被測定体２−−−−
−−−−−・−一−−−磁気スケール３．４−−−−−
−スケール取すイ・ｊけ部５−・−−−−−−−−−−
−・〜−−−−スプリング６−−−−・−−−−−−−
一−−−−−−−−−−スケール案内７−−−−・−−
−−一−−−−−−−−−−−・磁気ヘッド８−−−−
−−−−−−〜−−一−−演算装置特許出願人Ｗａｔ井
上ジャパックス研究所代理人（７５２４）最上正太部 第１図 第２図 第：３図 第４図
第２図は本発明の他の一実施例を示す説明図、第３図は
さらに別の一実施例を示す説明図、第４図は被測定部材
が工作機械である本発明の一実施例を示す説明図である
。 ■−・・〜−−−−−−−−−−−被測定体２−−−−
−−−−−・−一−−−磁気スケール３．４−−−−−
−スケール取すイ・ｊけ部５−・−−−−−−−−−−
−・〜−−−−スプリング６−−−−・−−−−−−−
一−−−−−−−−−−スケール案内７−−−−・−−
−−一−−−−−−−−−−−・磁気ヘッド８−−−−
−−−−−−〜−−一−−演算装置特許出願人Ｗａｔ井
上ジャパックス研究所代理人（７５２４）最上正太部 第１図 第２図 第：３図 第４図
Claims (3)
- （１）被測定体に一対のスケール取り付は部と複数のス
ケール案内とを設け、適宜の磁気スケールを上記スケー
ル取付部の一方から所定の順序で上記スケール案内を順
次経由して他の一方のスケール取り付は部に到る径路に
沿って配設し、その一端は上記取り付は部に直接に、他
の一端はスプリングを介し、て弾性的に上記の他の一方
の取り付は部にそれぞれ取り付け、さらに、上記磁気ス
ケールを読み取り得る位置に複数の磁気ヘッドを配設し
、さらにこれらの磁気ヘッドの出力を解析して被測定部
材の歪を算出する演算装置を接続して成る歪計。 - （２） ｕＩ磁気スケール複数個取り付けられた特許請
求の範囲第１項記載の歪計。 - （３）磁気スケールとしてその膨張係数が被測定体の膨
張係数と同一のものと異なるものとが併用されている特
許請求の範囲第１項又は第２項記載の歪計。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16769682A JPS5957103A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 歪計 |
| US06/536,891 US4586576A (en) | 1982-09-28 | 1983-09-28 | Measuring system |
| DE8383305795T DE3377668D1 (en) | 1982-09-28 | 1983-09-28 | Method and system for measuring a deformation |
| DE198383305795T DE110514T1 (de) | 1982-09-28 | 1983-09-28 | Methode und anordnung zur messung einer deformation. |
| EP83305795A EP0110514B1 (en) | 1982-09-28 | 1983-09-28 | Method and system for measuring a deformation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16769682A JPS5957103A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 歪計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5957103A true JPS5957103A (ja) | 1984-04-02 |
| JPH0240166B2 JPH0240166B2 (ja) | 1990-09-10 |
Family
ID=15854524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16769682A Granted JPS5957103A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 歪計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5957103A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737044U (ja) * | 1980-08-12 | 1982-02-26 |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP16769682A patent/JPS5957103A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737044U (ja) * | 1980-08-12 | 1982-02-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0240166B2 (ja) | 1990-09-10 |
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