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JPS5930146A - Microprogram debugging device - Google Patents

Microprogram debugging device

Info

Publication number
JPS5930146A
JPS5930146A JP57137933A JP13793382A JPS5930146A JP S5930146 A JPS5930146 A JP S5930146A JP 57137933 A JP57137933 A JP 57137933A JP 13793382 A JP13793382 A JP 13793382A JP S5930146 A JPS5930146 A JP S5930146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
debugged
state
signal
debugging
micro
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57137933A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Suzuki
秀雄 鈴木
Takashi Yamagami
山上 敬
Koji Okada
浩二 岡田
Giichi Mori
森 義一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP57137933A priority Critical patent/JPS5930146A/en
Publication of JPS5930146A publication Critical patent/JPS5930146A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/22Microcontrol or microprogram arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

PURPOSE:To form a titled device by only a gate controlling circuit which is debugged easily, by inserting forcibly an optional micro-instruction and executing it, when testing a hardware. CONSTITUTION:A device to be debugged 10 is in a usual executing state, when both an A-INH signal of a control line 22 and a D-INH signal of a control line 23, which are emitted from a microprogram execution controlling circuit 21 in a debugging device 20 are in an ineffective state. In this case, a micro-sequencer 11 in the device to be debugged 10 executes access to both a storage device 12 of the device to be debugged 10 and a debugging device 20 through a micro-address bus 13, and a micro-instruction to be executed actually is determined by a state of an ROM-INH signal of a control line 25 for switching a selector 14.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

(技術分野) 本発明は、マイクロプログラム制御方式を採用したプロ
セッサのマイクロプログラムデバッグ、及びハードウェ
ア試験を効率良く行なうことができるマイクロプログラ
ムデバッグ装置に関するものである。 (背景技術) マイクロプログラム制御方式を採用したプロセッサのマ
イクロプログラムデバッグ、及びハードウェア試験等に
おいて、従来は、 (1)被デバツグプロセッサ(以下被デバツグ装置と称
す)の読み出し専用記憶装置(以下It OMと称す)
にデバッグ、及びハードウェア試験用のマイクロプログ
ラムを直接書き込み、これを実行する方法と、 (11)被デバツグ装置のROMの他に何回も書き換え
可能な記憶装置(たとえばランダムアクセスメモリ、レ
ジスタ)を被デバツグ装置に用意しておき、デバッグ、
及びハードウェア試験時には、後者の記憶装置を用℃・
て実行する方法とがあった。 しかしながら(1)の方法は、記憶装置が+?、 OM
である故に、マイクロプログラムの修正に対する対処が
簡単でなし・。また(11)の方法を実現するためには
、クロック制御等の繁雑な制御回路が必要とされる等の
欠点があった。 (発明の課題) 本発明の目的は、マイクロプログラムのデバッグを容易
Vこし、ハードウェア試験時にはマイクロ命令を任意に
強制挿入し実行できるデバッグ装置を提供することにあ
り、その特徴は、ILOMK書き込まれたプログラムを
マイクロシーケンサのアドレス指定に従って読み出し命
令解読器により解読して実行する被デバツグ装置を試験
するデバッグ装置において、該デバッグ装置が書き換え
可能な記憶装置とマイクロプログラム実行制御回路とを
有し、該マイクロプログラム実行制御回路は被デバツグ
装置のマイクロ/−ケンサのアドレス更新を禁止する制
御信号と、被デバツグ装置のR&)Mの出力とデバッグ
装置の記憶装置の出力を切り換えて命令解読器に力える
ための制御信号と、被デバツグ装置をノーオペレーショ
ン状態とさせるための制御信号の出方がoJ能であるご
ときマイクロプログラムデバッグ装置にある。 被デバツグ装置のIt、OMの出力とデバッグ装置の記
憶装置の出力との切り換えは、被デバツグ装置のクロッ
ク制御なしに行なわれる。 (発明の構成及び作用) 第1図は、本発明の実施例である。1()は被デバツグ
装置、月は装置1oのマイクロシーケンサ、】2は装置
10のIt 01VI、J3はマイクロシーケンサ[1
の出力線であるマイクロアドレスバス、14はセレクタ
、I5はf?、0MI2の出力線であるマイクロデータ
バス、]6はマイクロ命令レジスタ、17はマイクロ命
令解読器である。また20はデパック装置、21はマイ
クロプログラム実行制御回路である。22はマイクロプ
ログラド実行制御回路21かも放出されるアドレスイン
ヒビソト制御線であり、本線の#jす御信号(以下A−
INI−1と称す)が有効状態の時はシーケンサ1■の
更新を禁止する。乙はマイクロプログラム実行制御回路
2】がも放出されるデータインヒピット制御線であり、
本線の制御信号(以下D−INHと称す)が有効状態の
時はマイクロ命令解読器17に対してゲートをとり、N
Ooperation状態にする。2・1は装置2oの
何回も霜き換え可能な記憶装置である。25はセレクタ
I4を切り換えるロムイノヒビノド制御線であり、本線
の制御信号(以101’vl −I N I 1川号と
セ(・す)が有効状態の時はマイクロデータバス2(′
1を選択する。2(iば401回も書き換え可能な5[
:憶装置2・1の出力線であるマイクロデータバス、2
7は28の人力となるプリセットアドレス、28はセレ
クタである。。 以下第1図及び第2図をもとに、実施例の動作を詳細に
説明する。 まず、通常の制御状態を説明する。被デバツグ装置6川
が通常の実行状態にある時は、デバッグ装置20の内の
マイクロプログラム実行制御回路21がC)放出される
制御+<= 22のA−iNH信号、及び制御線2:3
の])−IN11信号がともに無効状態の時である。 この時、被デバツグ装置10内のマイクロシーケンサ1
1は、マイクロアドレスバス13を介して被デバツグ装
置10の記憶装置12とデバッグ装置24の両方をアク
セスしており、実際に実行されるマイクロ命令は、セレ
クタ14を切り換える制御線5のIjOM−iNLJ信
号の状態によって決定される。11.OM−i N1−
1川号が無効状態の場合は被デバツグ装置10の記憶装
置12の出力線15が選択され、また、有効状態の場合
はデバッグ装置20の記憶装置24の出力線26が選択
され、マイクロ命令レジスタ】60入力となる。 第2図は、A−INH、I) −INH、I(、OM 
−INHの各制御信号と実行マイクロ命令の切り換え状
態の関係を示している図であり、A−INI−I信号、
D−INH信号及び]tOM −I N1−1川号がす
べて無効状態の時は通常の状態であり、被デバツグ装置
10の記憶装置120マイクロ命令で動作する(第2図
;Aの場合)。 次ニ、被デバツグ装置10のプロセッサ状態をN。 operation状態にする場合を説明する。この場
合は、制御線22のA−IN11信号及び制御線23の
I)4NI−1川号を共に有効状態とすることにより、
被デバツグ装置10のプロセッサ状態をNo oper
ation状態にすることによって可能となる。これは
、制御&122のA−INI−1川号が有効状態となる
ことによりマイクロシーケンサ11の更新を禁止し、か
つ制御線乙のI)4−Nil信号がイj゛効状態となイ
)ことにより、マイクロ命令解読器17に対してこの1
.)−INliNll信号1jり的にNo opera
tion命令状態にゲート制御するためである。この結
果、被デバツグ装置10へのクロックは供給さilでい
るにもかかわらず、見かけ」ニプロセッサが停止状態(
No operation状態)に入り、直前の状態を
保持し続ける状態をつくり出すことが可能となる(第2
図;、1.tの状態)。 次に、デバッグ装置20側の記憶装置24で被デバツグ
装置10を動作さぜる場合を説明する。この場合は、制
御線25のR,OM −i Nll信号が有効状態であ
り、かつ制御線22のA4NI−(信号及び制御線23
の1)−INIINil信号状態にすることによって可
能となる。制御線22のA−INI−1信号が無効状態
に設定されることによりシーケンサ11は通常動作を行
ない、マイクロアドレスバス13を介して被デバツグ装
置10の記憶装置j2とデバッグ装置20の記憶装置2
・1がアクセスされ、被デバツグ装置10の記憶装置I
2の出力はマイクロデータバス15上に、デバッグ装置
20の記憶装置24の出力はマイクロデータバス26上
に放出される。これらの放出されたマイクロ命令のうち
、マイクロデータバス26]:のマイクロ命令が制御線
25のILOM −I NI4信号によってセレクタ1
4を介して選択され、マイクロ命令レジスタI6の入力
となる。マイクロ命令レジスタ16の出力は、制御線2
:つのD−INIINil信号状態であることからマイ
クロ命令解読器はNo operation状態とはな
らず、通常のマイクロ命令解読器とl〜て動作すること
により、デバッグ装置側の記憶装置2・10マイクロ命
令が実行される(第2図:13の状態)。 次に、マイクロ命令と破デバッグ装置2oがら強制挿入
し、ハードウェア試験を実行させる場合を説明する。こ
の場合、制御線22のA4N11信号と制御線5の1(
、OM −I Nil信号が有効状態である時、制御線
23のD−1N■■信号を無効にすることにより可能と
なる。A−INHNN信号効状態であることからマイク
ロシーケンサIIの更新は禁止さh、かつデバッグ装置
20側で予め設定されたプリセントアドレス27がA−
I Nll信号22によりセレクタ路を介して選択され
、デバッグ装置側の記憶装置2/1をアクセスする。ま
た、被デバツグ装置10の記憶袋jgj12から放出さ
A1.たマイクロデータバス15上のマイクロ命令と、
デバッグ装置20の記憶装置2=1から放出さJ+、た
マイクロデータバス26上のマイクロ命令は、++、0
〜+ −,1,Nll信号が有効状態であることがらセ
レクタ1/1を介してマイクロデータバス2Gの方が選
択さね5、マイクロ命令解読器1(iの入力となる。 また、制御線2;3のJ、)41’JII信号が無効状
態であることから、結果として予め設定されたプリセッ
トアドレス27でアクセスされたデバッグ装置20の記
憶装置2・1のマイクロ命令が実行さiLる(第2図;
Cの状態)。 次に、マイクロ命令のシングルステップオペレーション
に″)いて説明する。この場合は、制御線22のA、−
INN信号と制御線23のJJ4NIi信号を有効状態
から、1クロック幅分無効状態にすることにより
(Technical Field) The present invention relates to a microprogram debugging device that can efficiently perform microprogram debugging and hardware testing of a processor that employs a microprogram control method. (Background Art) Conventionally, in microprogram debugging and hardware testing of a processor that employs a microprogram control method, (1) a read-only storage device (hereinafter referred to as It) of a processor to be debugged (hereinafter referred to as debugged device); (referred to as OM)
(11) In addition to the ROM of the device being debugged, a storage device that can be rewritten many times (e.g., random access memory, registers) is provided. Prepare it in the device to be debugged, debug,
and during hardware testing, the latter storage device is used.
There was a way to run it. However, in method (1), if the storage device is +? , O.M.
Therefore, it is easy to deal with the modification of microprograms. Further, in order to realize the method (11), there is a drawback that a complicated control circuit such as clock control is required. (Problem of the Invention) An object of the present invention is to provide a debugging device that facilitates debugging of microprograms and can forcibly insert and execute microinstructions at will during hardware testing. A debugging device for testing a debugged device in which a read instruction decoder decodes and executes a read program in accordance with addressing of a microsequencer, the debugging device having a rewritable storage device and a microprogram execution control circuit; The microprogram execution control circuit outputs a control signal for inhibiting address updating of the microcontroller of the debugged device, and switches between the R&)M output of the debugged device and the output of the storage device of the debugged device to the instruction decoder. A microprogram debugging device such as an OJ function has a control signal for outputting a control signal for debugging and a control signal for putting the debugged device into a no-operation state. Switching between the outputs of It and OM of the device to be debugged and the output of the storage device of the debugging device is performed without clock control of the device to be debugged. (Structure and operation of the invention) FIG. 1 shows an embodiment of the invention. 1() is the device to be debugged, Moon is the microsequencer of device 1o, ]2 is It01VI of device 10, J3 is the microsequencer [1
micro address bus which is the output line of , 14 is the selector, I5 is f? , 0MI2 output lines, ]6 is a microinstruction register, and 17 is a microinstruction decoder. Further, 20 is a depacking device, and 21 is a microprogram execution control circuit. 22 is an address inhibit control line that is also released from the microprogram execution control circuit 21, and the main line #j control signal (hereinafter A-
(referred to as INI-1) is in a valid state, updating of sequencer 1■ is prohibited. B is the data input control line from which the microprogram execution control circuit 2 is also released.
When the main line control signal (hereinafter referred to as D-INH) is in a valid state, it gates the microinstruction decoder 17 and N
Put it in operation state. 2.1 is a storage device of the device 2o that can be refrosted many times. 25 is a control line that switches the selector I4, and when the main line control signal (hereinafter referred to as 101'vl -I N I 1 river and set) is in the valid state, the micro data bus 2 ('
Select 1. 2 (if 5[i can be rewritten 401 times)
: Micro data bus, 2, which is the output line of storage device 2/1.
7 is a preset address for 28 manual operation, and 28 is a selector. . The operation of the embodiment will be described in detail below with reference to FIGS. 1 and 2. First, a normal control state will be explained. When the debugged device 6 is in the normal execution state, the microprogram execution control circuit 21 in the debug device 20 releases the A-iNH signal of C) released control +<= 22 and the control line 2:3.
])-IN11 signals are both in an invalid state. At this time, the microsequencer 1 in the debugged device 10
1 accesses both the storage device 12 of the debugged device 10 and the debug device 24 via the micro address bus 13, and the micro instruction actually executed is IjOM-iNLJ on the control line 5 that switches the selector 14. Determined by the state of the signal. 11. OM-i N1-
If No. 1 is in an invalid state, the output line 15 of the storage device 12 of the device to be debugged 10 is selected, and if it is in a valid state, the output line 26 of the storage device 24 of the debugging device 20 is selected, and the microinstruction register is ] There are 60 inputs. Figure 2 shows A-INH,I) -INH,I(,OM
-INH is a diagram showing the relationship between each control signal and the switching state of an execution microinstruction, the A-INI-I signal,
When the D-INH signal and the tOM-IN1-1 signal are all in an invalid state, it is a normal state, and the memory device 120 of the debugged device 10 operates according to microinstructions (case A in FIG. 2). Next, set the processor state of the debugged device 10 to N. The case of setting it to the operation state will be explained. In this case, by enabling both the A-IN11 signal on the control line 22 and the I)4NI-1 signal on the control line 23,
Set the processor status of the debugged device 10 to No oper.
This becomes possible by setting it to the ation state. This means that the A-INI-1 of the control &122 becomes valid, which prohibits updating of the microsequencer 11, and the I)4-Nil signal of the control line becomes valid. This allows the microinstruction decoder 17 to
.. )-INliNll signal 1j-like No opera
This is for gate control to the tion command state. As a result, even though the clock is not being supplied to the debugged device 10, the two processors appear to be in a stopped state (
It becomes possible to create a state in which the state enters the No operation state) and continues to maintain the previous state (Second
Figure; 1. state). Next, a case in which the debugged device 10 is operated using the storage device 24 on the debugging device 20 side will be described. In this case, the R, OM-i Nll signals on the control line 25 are in a valid state, and the A4NI- (signal and control line 23
1) - This is possible by setting the INIINil signal state. By setting the A-INI-1 signal on the control line 22 to an invalid state, the sequencer 11 performs normal operation, and the memory device j2 of the debugged device 10 and the memory device 2 of the debugging device 20 are connected via the micro address bus 13.
・1 is accessed and the storage device I of the debugged device 10
The output of the storage device 24 of the debug device 20 is released onto the micro data bus 26. Among these released micro-instructions, the micro-instructions on the micro data bus 26 are sent to the selector 1 by the ILOM-I NI4 signal on the control line 25.
4 and becomes an input to the microinstruction register I6. The output of the microinstruction register 16 is connected to the control line 2.
: Since the D-INIINil signal state is in the state, the microinstruction decoder does not go into the No operation state, and by operating with a normal microinstruction decoder, the microinstruction device 2 and 10 of the memory device on the debugging device side can be read. is executed (FIG. 2: state 13). Next, a case will be described in which a microinstruction and a debugging device 2o are forcibly inserted and a hardware test is executed. In this case, the A4N11 signal on the control line 22 and the 1(
, OM-I This becomes possible by invalidating the D-1N ■■ signal on the control line 23 when the Nil signal is in the valid state. Since the A-INHNN signal is enabled, updating of the microsequencer II is prohibited, and the precent address 27 preset on the debugging device 20 side is A-INHNN.
It is selected via the selector path by the I Nll signal 22 and accesses the memory device 2/1 on the debug device side. Also, A1. a microinstruction on the microdata bus 15,
The microinstructions on the microdata bus 26 released from storage 2=1 of the debug device 20 are ++, 0.
Since the ~+ -, 1, and Nll signals are in the valid state, the micro data bus 2G is selected via the selector 1/1. 2; 3 J,) 41' Since the JII signal is in an invalid state, as a result, the microinstruction in the storage device 2/1 of the debug device 20 accessed at the preset address 27 is executed ( Figure 2;
condition C). Next, the single step operation of the microinstruction will be explained. In this case, the control lines 22 A, -
By changing the INN signal and the JJ4NIi signal on the control line 23 from the valid state to the invalid state by one clock width.

【〕J
能となる3、マイクロアドレスバス13により、被デバ
ツグ装置10の記憶装置12、及びセレクタ28を介し
てデバッグ装置20の記憶装置2=1がアクセスされて
いるものとする。この時、制御線部のR,OM −I 
NN信号の状態により、セレクタ14を介してマイクロ
データバス15またはマイクロデータバス26のいずれ
カ一方が選択されて、マイクロ命令レジスタ16の入力
となり、格納される。マイクロ命令レジスタ16の出力
がマイクロ命令解読器17の入力となっている状態で、
制御線23のD−4NII信号を無効状態にすることに
より、マイクロ命令解読器】7は有効となり、シングル
ステップオペレーションの実行が行なわれる。また、制
御@22のA−I Nil信号を制御線23のI)−I
NIINil信号に無効状態にすることにより、マイク
ロシーケンサ11のアドレス更新も実行される(第2図
;13または1〕の場合)。 以上の動作説明は、(1)被デバツグ装置側の記憶装置
で実行、(ii) No operation状態の発
生、(lit)被デバツグ装置側の記憶装置をデバッグ
装置側の記憶装置で置き換える、Ov)デバッグ装置側
から強制的にマイクロ命令を挿入する、(V)シングル
ステップオペレーションの実行の方法に関して説明した
が、これらの動作は被デバツグ装置側のクロックを直接
制御せず(クロックは供給状態にある)、簡単なゲート
回路と制御線22 、2.3 、25によって実現さJ
+。 ている。 (発明の効果) 本発明を実施することにより、以下列挙する事項が直接
クロック割面1されることなく、簡弔なゲ1□ a制御
回路のみで実現できる利点がある。 (1)被デバツグ装置側の読み出し専用記憶装置以外に
、デバッグ装置側の何回も宵き換え可能な記憶装置を利
用でき、両者の記憶装置の切り換えは、It、OM −
I N IT (、i号を切り換えるだけで実現できる
。 (2)  デバッグ作業中に被デバツグ装置のブロセノ
ザ状態をストップ状態(No operali(用状態
)にする必要がある場合、本発明では、この状態をA−
1NII信号と1)−iNII信号の2つの制御信号に
より簡単に実現できる。 (3)A、−1NII信号とD−1,NH倍信号1クロ
ック幅分だけ無効にすることにより、シングルステップ
オペレーションが簡単に実現できる。 (4)  デバッグ装置側からの強制マイクロ命令の挿
入が簡単に実現できる。 (5)被デバツグ装置側とデバッグ装置側の記憶装置の
切り換えにともなう遅れ、あるいはセットアンプ時間等
のタイミング上の問題は、I)4NI+信号によって簡
単に補償され、このために特別のハードウェアを必要と
しなし・。
[]J
3. It is assumed that the micro address bus 13 is accessing the storage device 12 of the debugged device 10 and the storage device 2=1 of the debugging device 20 via the selector 28. At this time, R, OM −I of the control line part
Depending on the state of the NN signal, either the micro data bus 15 or the micro data bus 26 is selected via the selector 14, and becomes an input to the micro instruction register 16, where it is stored. With the output of the microinstruction register 16 being the input to the microinstruction decoder 17,
By disabling the D-4NII signal on the control line 23, the microinstruction decoder 7 is enabled and a single step operation is performed. Also, the A-I Nil signal of the control @22 is connected to the I)-I of the control line 23.
By disabling the NIINil signal, the address of the microsequencer 11 is also updated (in the case of 13 or 1 in FIG. 2). The above operation description includes (1) execution in the storage device of the device being debugged, (ii) generation of a No operation state, (lit) replacing the storage device of the device being debugged with the storage device of the debugging device, and (Ov) We have explained how to execute (V) single-step operations in which microinstructions are forcibly inserted from the debugging device side, but these operations do not directly control the clock on the debugged device side (the clock is in the supplied state). ), realized by a simple gate circuit and control lines 22, 2.3, 25
+. ing. (Effects of the Invention) By implementing the present invention, there is an advantage that the matters enumerated below can be realized only by a simple G1□a control circuit without being directly applied to the clock division. (1) In addition to the read-only storage device on the debugged device side, a storage device on the debugging device side that can be changed over and over again can be used.Switching between the two storage devices can be performed using It, OM-
(2) If it is necessary to change the operating state of the device to be debugged to a stop state (No operating state) during debugging, the present invention A-
This can be easily realized using two control signals: 1NII signal and 1)-iNII signal. (3) A single step operation can be easily realized by invalidating the A, -1NII signal and the D-1,NH multiplied signal by one clock width. (4) Forced microinstruction insertion from the debug device side can be easily realized. (5) Timing problems such as delays in switching between storage devices on the debugged device side and the debugging device side, or set amplifier time can be easily compensated for by the I) 4NI+ signal, which requires special hardware. No need.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるデバッグシステムのブロック図、
第2図は第1図の装置の動作図である−620・・・・
・・・・デバッグ装置 21・・・・・・・・・マイクロプログラム実行制御回
路22・・・・・・・・・アドレスインヒビノド制御線
23・・・・・・・データインヒピット制御線2・1・
・・・・・・・・何回も書き換え可能な記憶装置部・・
・・・・・・・ロムインヒピット制御線26・・・・・
・・・マイクロデータバス27・・・・・・・・・プリ
セットアドレス路・・・・・・・・・セレクタ
FIG. 1 is a block diagram of a debug system according to the present invention,
Fig. 2 is an operational diagram of the device shown in Fig. 1 -620...
...Debug device 21...Microprogram execution control circuit 22...Address inhibit control line 23...Data inhibit control line 2・1・
......Storage unit that can be rewritten many times...
...Rom-in-hipit control line 26...
...Micro data bus 27...Preset address path...Selector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 10fvlに書き込まれたプログラムをマイクロシーケ
ンサのアドレス指定に従って読出し命令解読器により解
読して実行する被デバツグ装置を試験するデバッグ装置
において、該デバッグ装置が書き換えuJ能な記憶装置
とマイクロプログラム実行制御回路とを有し、該マイク
ロプログラム実行制御回路は被デバツグ装置のマイクロ
シーケンサのアドレス更新を禁止する制御信号と、被デ
バツグ装置のROMの出力とデバッグ装置の記憶装置の
出力を切り換えて命令解読器に力えるための制御信号と
、被デバツグ装置をノーオペレーション状態とさせるだ
めの制御信号の出力が可能であることを特徴とするマイ
クロプログラムデバッグ装置。
In a debugging device for testing a device to be debugged, the program written in a 10fvl is decoded and executed by a read instruction decoder according to address specification of a microsequencer, and the debugging device includes a rewritable storage device and a microprogram execution control circuit. The microprogram execution control circuit outputs a control signal that inhibits updating of the address of the microsequencer of the debugged device, and outputs power to the instruction decoder by switching between the output of the ROM of the debugged device and the output of the storage device of the debugged device. A microprogram debugging device is characterized in that it is capable of outputting a control signal for debugging and a control signal for putting a debugged device into a no-operation state.
JP57137933A 1982-08-10 1982-08-10 Microprogram debugging device Pending JPS5930146A (en)

Priority Applications (1)

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JP57137933A JPS5930146A (en) 1982-08-10 1982-08-10 Microprogram debugging device

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JP57137933A JPS5930146A (en) 1982-08-10 1982-08-10 Microprogram debugging device

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JP57137933A Pending JPS5930146A (en) 1982-08-10 1982-08-10 Microprogram debugging device

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JP (1) JPS5930146A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63129430A (en) * 1986-11-19 1988-06-01 Nec Corp Microprogram controller

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5173851A (en) * 1974-12-23 1976-06-26 Omron Tateisi Electronics Co
JPS5196257A (en) * 1975-02-20 1976-08-24 Wanchitsupu purosetsusakidomoodokirikaeseigyohoshiki
JPS5383543A (en) * 1976-12-28 1978-07-24 Yokogawa Hokushin Electric Corp Microprogram control unit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5173851A (en) * 1974-12-23 1976-06-26 Omron Tateisi Electronics Co
JPS5196257A (en) * 1975-02-20 1976-08-24 Wanchitsupu purosetsusakidomoodokirikaeseigyohoshiki
JPS5383543A (en) * 1976-12-28 1978-07-24 Yokogawa Hokushin Electric Corp Microprogram control unit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63129430A (en) * 1986-11-19 1988-06-01 Nec Corp Microprogram controller

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