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JPS59275A - Smear correcting circuit of solid state image pickup element - Google Patents

Smear correcting circuit of solid state image pickup element

Info

Publication number
JPS59275A
JPS59275A JP57109360A JP10936082A JPS59275A JP S59275 A JPS59275 A JP S59275A JP 57109360 A JP57109360 A JP 57109360A JP 10936082 A JP10936082 A JP 10936082A JP S59275 A JPS59275 A JP S59275A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
smear
signal
image pickup
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57109360A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuro Miyata
宮田 克郎
Takashi Asaida
浅井田 貴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP57109360A priority Critical patent/JPS59275A/en
Publication of JPS59275A publication Critical patent/JPS59275A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/625Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of smear

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent color balance from being varied, by supplying an output signal of a solid state image pickup element to a level comparator, and reducing a correcting quantity of a smear correction or stopping its correction, in a non- linear area, by its output. CONSTITUTION:An output signal from a solid state image pickup element is digitized and supplied to a comparator 18. As for a switching circuit 20, its state is controlled by an output of the comparator 18. The comparator 18 compares an image pickup output from an A/D converter 15 with a reference level from a terminal 22, and when the image pickup output does not exceed the reference level, the circuit 20 becomes a state for selecting an input terminal 21A, and when it exceeds, said circuit becomes a state for selecting an input terminal 21B. Accordingly, in the range where the image pickup output is smaller than the reference level, a smear signal is subtracted from the image pickup output and the smear correction is executed. Also, when said output becomes larger, a signal to a subtracting circuit 12 becomes ''0'', and the smear correction is not executed.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、C0D−?MO3などの固体撮像素子のス
ミア補正回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] This invention provides C0D-? The present invention relates to a smear correction circuit for a solid-state image sensor such as MO3.

固体撮像素子のひとつであるCCDは、第1図において
、1で示す感光部と2で示す蓄積部と3で示す出力レジ
スタとから構成されている。蓄積部2及び出力レジスタ
3には、斜線図示のように、マスクが施されており、感
光部1に対してレンズ等を介されだ撮像光が入射する。
A CCD, which is one type of solid-state image sensor, is composed of a photosensitive section 1, a storage section 2, and an output register 3 in FIG. The storage section 2 and the output register 3 are masked as shown by diagonal lines, and imaging light is incident on the photosensitive section 1 through a lens or the like.

との感光部1及び蓄積部2の夫々は、垂直方向のCOD
のチャンネルを有しておシ、3相(2相又はグ相でも良
い)のクロックによってドライブされ、信号電荷を垂直
方向に転送する。
The photosensitive section 1 and the storage section 2 each have a COD in the vertical direction.
It has two channels and is driven by a three-phase (two-phase or negative-phase) clock, and transfers signal charges in the vertical direction.

この第1図に示す構成は、フレーム転送方式として良く
知られているように、ある/フィールド期間で感光部1
で信号電荷の蓄積が行なわれ、垂直ブランキング期間内
の短い時間に、・この電荷が垂直方向で並列に蓄積部2
に転送される。−蓄積部2に貯えられた電荷は、水平ブ
ランキング期間に/水平区間(/H)に相当する分だけ
出力レジスタ3に転送され、この出力レジスタ3から順
次読出されて出力される。蓄積部2から出力レジスタ3
に対して/フィールr分の信号電荷が転送される間に1
感光部1には、次のフィールドの信号電荷が貯えられる
In the configuration shown in FIG. 1, as is well known as a frame transfer method, the photosensitive area is
During a short period of time during the vertical blanking period, the signal charge is accumulated in the accumulation section 2 in parallel in the vertical direction.
will be forwarded to. - Charges stored in the storage unit 2 are transferred to the output register 3 in an amount corresponding to /horizontal interval (/H) during the horizontal blanking period, and are sequentially read out from the output register 3 and output. From storage section 2 to output register 3
1 while the signal charge for /field r is transferred for
The photosensitive section 1 stores signal charges for the next field.

このlフィールr分の電荷を感光部1から蓄積部2に転
送する間に、感光部1に明るい撮像光が入射しているこ
とによってスミアが生じる。第2図を参照してこのスミ
アの発生について説明する。
During the transfer of the charges corresponding to l fields and r from the photosensitive section 1 to the storage section 2, smear occurs due to the bright imaging light being incident on the photosensitive section 1. The occurrence of this smear will be explained with reference to FIG.

第λ図Aは、ある像(図示せず)が感光部1に入射して
おり、そのうちで斜線領域4Aで示された明るい像が存
在していることを示している。・この明るい像によって
照射された感光部1のCCDには、対応する電荷が蓄積
する。次に1垂直ブランキング期間内で感光部1から蓄
積部2に対して高速で電荷が転送される。この時には、
明るい像が投射されたままであるから、第コ図Aにおい
て5Aで示す領域に形成されていた電位の井戸が明るい
像の下を通る。
FIG. λA shows that certain images (not shown) are incident on the photosensitive section 1, and among them there is a bright image indicated by a hatched area 4A. - The CCD of the photosensitive section 1 illuminated by this bright image accumulates a corresponding charge. Next, charges are transferred from the photosensitive section 1 to the storage section 2 at high speed within one vertical blanking period. At this time,
Since the bright image remains projected, the potential well formed in the region 5A in Figure A passes under the bright image.

感光部1から蓄積部2に対する転送速度は、かなり高速
であるが、明るい像によっである量の電荷が発生して電
位の井戸に蓄積される。その結果、この転送期間が終了
した時には、第λ図Bに示すように、感光部1の領域4
Aから転送された電荷が領域48に貯えられておシ、蓄
積部2の領域58には、領域5Aと対応してスミア電荷
が存在する。また、感光部1の領域5Cにもスミア電荷
が存在する。この領域5Cは、明るい像の下を移動した
が、蓄積部2までは到達していない電位の井戸である。
Although the transfer speed from the photosensitive section 1 to the storage section 2 is quite high, a certain amount of charge is generated by the bright image and accumulated in the potential well. As a result, when this transfer period ends, as shown in FIG.
The charges transferred from A are stored in the region 48, and smear charges exist in the region 58 of the storage section 2, corresponding to the region 5A. Further, smear charges also exist in the region 5C of the photosensitive section 1. This region 5C is a potential well that has moved under the bright image but has not yet reached the storage section 2.

更に、次のフィールドにおいて、同様に感光部1で電荷
が蓄積されると共に、蓄積部2から電荷が出力レジスタ
3に転送され、出力レジスタ3から順次出力される。こ
の次のフィールドが終了した時点では、第2図Cに示す
ように蓄積部2の領域5Dにもスミア電荷が発生する。
Furthermore, in the next field, charges are similarly accumulated in the photosensitive section 1, and the charges are transferred from the accumulation section 2 to the output register 3, where they are sequentially output. At the end of the next field, smear charges are also generated in region 5D of storage section 2, as shown in FIG. 2C.

このようなスミア電荷が存在しているために、出力レジ
スタ3の出力をカラーエンコードしてモニター受像機に
加えると、第3図において点線領域として示すスミアが
発生する。
Because of the presence of such smear charge, when the output of the output register 3 is color encoded and applied to a monitor receiver, smear occurs, shown as the dotted line area in FIG.

最初の転送後の再生像は、第3図Aに示すものとなる。The reproduced image after the first transfer is as shown in FIG. 3A.

つまり、領域4Aに入射しだのと対応する明るい像6の
下方に領域5Bと対応したスミ77B(点線領域)が発
生する。次の転送後では、第3図Bに示すように、領域
5B及び5Dに対応したスミ77B及び7Dが現れる。
That is, a dark spot 77B (dotted line area) corresponding to the area 5B is generated below the bright image 6 corresponding to the incident light on the area 4A. After the next transfer, as shown in FIG. 3B, corners 77B and 7D corresponding to areas 5B and 5D appear.

第3図Aの表示は、/フィールドだけ現われ、通常は、
見ることができず、第3図Bに示す再生像が見える。
In the display in Figure 3A, only the / field appears, and normally,
The reconstructed image shown in FIG. 3B is visible.

このようなスミアを補正するために、第を図に示す構成
のものが既に提案されている。この第、17図に示すよ
うに、感光部1の最初に読出される/〜数ラインに対し
てマスクを施す。また、出力レジスタ3の出力がプリア
ンプ8とスイッチ9とを介してレジスタ10に供給され
る。仁のレジスタ10には、循環ループを形成するため
のスイッチ11が設けられており、レジスタ10にlラ
イフ分の情報が書込まれて後は、仁の情報がスイッチ1
1を介して循環する仁とでホールドされる。
In order to correct such smear, a structure shown in FIG. 1 has already been proposed. As shown in FIG. 17, the first to several lines of the photosensitive section 1 that are read out are masked. Further, the output of the output register 3 is supplied to a register 10 via a preamplifier 8 and a switch 9. Jin's register 10 is provided with a switch 11 for forming a circulation loop, and after information for one life is written in the register 10, Jin's information is transferred to switch 1.
It is held by jin which circulates through 1.

感光部1のマスクされている領域には、スミア信号のみ
が貯えられており、このスミア信号がレジスタ10に取
り込まれる。次に、スイッチ9及び11が第7図に示す
状態から切り替わって、減算回路12に対し出力レジス
タ3からの撮像信号(スミア信号を含む)とレジスタ1
0からのスミア信号とを供給することによって、出力端
子13には、スミア信号が除去された撮像信号が得られ
る。
Only the smear signal is stored in the masked area of the photosensitive section 1, and this smear signal is taken into the register 10. Next, the switches 9 and 11 are switched from the state shown in FIG.
By supplying the smear signal from 0 to 0, an imaging signal from which the smear signal has been removed is obtained at the output terminal 13.

ところで、CODは、取扱い電荷量によって所定レベル
■、以上の撮像出力を発生することができない。第S図
においてs S1+ S2+ S’3は、スミア信号を
示し、S4は、明るい像と対応する映像信号を示・して
おり、この映像信号S4は、スミア信号S3に重畳され
ている。映像信号S4は、本来、A、の振幅を有してい
るが、取扱い電荷量と対応する所定レベルvR以上とな
ることができない。したがって、スミア信号を減算す−
ると、この映像信号S4の振幅がA2に減少してしまう
ことになる。との所定レベル■、は、入射光量と出力信
号とがリニアな関係にある範囲を示しており、この所定
レベルVRを越えると、入射光量に対し、出力信号が略
々飽和する非線形領域となる。更に、CODの出力信号
が供給されるプリアンプの特性によっても、映像信号が
所定レベル以上で飽和するようにされている。
Incidentally, the COD cannot generate an imaging output of a predetermined level (2) or higher depending on the amount of charge handled. In FIG. S, s S1+ S2+ S'3 indicates a smear signal, and S4 indicates a video signal corresponding to a bright image, and this video signal S4 is superimposed on the smear signal S3. The video signal S4 originally has an amplitude of A, but cannot exceed a predetermined level vR corresponding to the amount of charge to be handled. Therefore, subtracting the smear signal −
Then, the amplitude of this video signal S4 will be reduced to A2. The predetermined level (■) indicates a range in which the amount of incident light and the output signal have a linear relationship, and when this predetermined level VR is exceeded, the output signal becomes a nonlinear region where the output signal is approximately saturated with respect to the amount of incident light. . Furthermore, the characteristics of the preamplifier to which the COD output signal is supplied are such that the video signal is saturated at a predetermined level or higher.

この発明は、上述のように、スミア補正によって映像信
号の振幅が小さくなり、輝度が低下する問題点を解決す
るようKしたものである。
The present invention is intended to solve the problem that smear correction reduces the amplitude of the video signal and reduces the brightness, as described above.

以下、この発明の一実施例について第6図を参照して説
明する。第6図において、14は、CODからの撮像出
力が供給される入力端子を示し、との撮像出力がA7.
コンバータ15によってディ、ジタル化され、スイッチ
回路16の一方の端子17Aとレベル比較器18と減算
回路12に供給される。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 6, 14 indicates an input terminal to which the imaging output from COD is supplied, and the imaging output from A7.
The signal is digitized by the converter 15 and supplied to one terminal 17A of the switch circuit 16, the level comparator 18, and the subtraction circuit 12.

スイッチ回路16の端子17Aを介してディジタル化さ
れたスミア信号の7247分がメモリ19に書込まれる
。このメモリ19としては、前述のような循環ループを
有するレジスタ、RAMなどの構成のものを使用できる
。このメモリ19から読出されたスミア信号がスイッチ
回路16の他方の端子178に取り出され、更に、スイ
ッチ回路20の一方の入力端子21Aに供給される。こ
のスイッチ回路20の他方の入力端子21Bは、接地さ
れている。このスイッチ回路20の出力が減算回路12
に供給される。
7247 minutes of the digitized smear signal are written into the memory 19 via the terminal 17A of the switch circuit 16. As this memory 19, a register having a circular loop as described above, a RAM, or the like can be used. The smear signal read from the memory 19 is taken out to the other terminal 178 of the switch circuit 16 and further supplied to one input terminal 21A of the switch circuit 20. The other input terminal 21B of this switch circuit 20 is grounded. The output of this switch circuit 20 is
supplied to

スイッチ回路20は、レベル比較器18の出力によって
その状態が制御される。このレベル比較器18は、〜も
コンバータ15からの撮像出力と端子22からの基準レ
ベルとを比較し、撮像出力が基準レベルを越−えないと
きには、スイッチ回路20が入力端子21Aを選択する
状態となり、逆に撮像出力が基準レベルを越えるときに
は、スイッチ回路20が入力端子21Bを選択する状態
となる。
The state of the switch circuit 20 is controlled by the output of the level comparator 18. This level comparator 18 compares the imaging output from the converter 15 and the reference level from the terminal 22, and when the imaging output does not exceed the reference level, the switch circuit 20 selects the input terminal 21A. Conversely, when the imaging output exceeds the reference level, the switch circuit 20 is in a state of selecting the input terminal 21B.

したがって、撮像出力のレベルが基準レベルよシ小さい
範囲では、第7図のスミア補正回路と同様に、減算回路
12において、撮像出力からスミア信号が差引かれ、ス
ミア補正を行なう°ことができる。まだ、撮像出力が基
準レベルより大きくなるときには、減算回路12に対す
る信号がθとなり、スミア補正が行なわれない。
Therefore, in a range where the level of the imaging output is smaller than the reference level, the smear signal is subtracted from the imaging output in the subtraction circuit 12, similar to the smear correction circuit shown in FIG. 7, and smear correction can be performed. When the imaging output still exceeds the reference level, the signal to the subtraction circuit 12 becomes θ, and smear correction is not performed.

第7図は、この発明の他の実施例を示すものである。こ
の例では、減算回路12によって常にスミア補正を行な
い、スイッチ回路23の一方の入力端子24BVCA/
Dコンバータ15の出力を供給すると共に、その他方の
入力端子24AK減算回路12の出力を供給し、このス
イッチ回路23の状態をレベル比較回路18の出力によ
って制御するようにしたものである。bコンバータ15
からの撮像出力が基準レベルよシ小さいときでは、入力
端子24Aが選択され、そうでないときは、入力端子2
4Bが選択される。
FIG. 7 shows another embodiment of the invention. In this example, smear correction is always performed by the subtraction circuit 12, and one input terminal 24BVCA/
In addition to supplying the output of the D converter 15, the other input terminal 24 also supplies the output of the AK subtraction circuit 12, and the state of this switch circuit 23 is controlled by the output of the level comparison circuit 18. b converter 15
When the imaging output from the input terminal is smaller than the reference level, input terminal 24A is selected; otherwise, input terminal 24A is selected.
4B is selected.

また、第5図は、メモリ19を上述と同様にディジタル
メモリの構成とすると共に1このメモリ19の読出し出
力をρつ、コンバータ25に供給してアナログ信号に戻
すよう圧した実施例を示す。
Further, FIG. 5 shows an embodiment in which the memory 19 is configured as a digital memory in the same manner as described above, and one readout output of the memory 19 is supplied to the converter 25 so as to be converted into an analog signal.

したがって、この第5図では、レベル比較回路18、減
算回路12、スイッチ回路23として、アナログ信号を
扱う構成のものが用いられる。
Therefore, in FIG. 5, the level comparison circuit 18, the subtraction circuit 12, and the switch circuit 23 are configured to handle analog signals.

この第5図に示す実施例では、〜tコンバータ15がス
ミア信号だけをディジタル化すれば良いから、撮像信号
をディジタル化するのと比べて、ピット数の減少を図る
ことができ、また、同一ビット数を用いれば、量子化ス
テップを細かくでき、精度を上げることができる。
In the embodiment shown in FIG. 5, since the ~t converter 15 only needs to digitize the smear signal, the number of pits can be reduced compared to digitizing the imaging signal, and the number of pits can be reduced. By using the number of bits, the quantization step can be made finer and precision can be increased.

第9図は、上述と同様に、へtコンバータ15及びD7
.コンバータ25を設け、スミア信号だけをディジタル
化する構成としている。このA7.コンバータ15及び
D7.コンバータ250基準として、スミア信号のピー
クレベルを用いるようにしている。このため、入力信号
がピークホールド回路26に供給され、この出力がA7
.コンバータ15及びD/、コンバータ25に基準信号
として供給される。
FIG. 9 shows the het converter 15 and D7 as described above.
.. A converter 25 is provided to digitize only the smear signal. This A7. Converter 15 and D7. The peak level of the smear signal is used as the converter 250 reference. Therefore, the input signal is supplied to the peak hold circuit 26, and its output is
.. It is supplied to converter 15, D/, and converter 25 as a reference signal.

この第り図に示す構成において、入力端子14に対して
第1θ図Aに示す撮像信号が供給された場合について説
明する。撮像信号の/フィールドの最初の3Hの期間に
は、スミア信号だけが現れる。これは、感光部1のうち
で、3ライン分の領域がマスクされているからである。
In the configuration shown in FIG. 2, a case will be described in which an imaging signal shown in FIG. 1A is supplied to the input terminal 14. Only the smear signal appears during the first 3H period of the imaging signal/field. This is because the area for three lines in the photosensitive section 1 is masked.

/フィールドの最初のタイミングでもって、第1θ図B
IC示すリセットパルスPrが発生し、これによってピ
ークホールド回路26がリセットされる。次に、第70
図Cに示すホール−パルスphによって、撮像信号がサ
ンプルホールドされて、スミア信号のピーク値に応じた
サンプルホールド出力(第1θ図D)がピークホールド
回路26から発生する。
/ With the first timing of the field, Figure 1θB
A reset pulse Pr indicated by the IC is generated, and the peak hold circuit 26 is reset by this. Next, the 70th
The imaging signal is sampled and held by the Hall pulse ph shown in FIG.

このサンプルホールド出力がA、Bコンバータ15に基
準信号として供給され、次の水平区間に存在するスミア
信号がディジタル化されてメモリ19に書込まれる。更
に次の水平区間においで、メモリ19の出力が読出され
、ρつ、コンバータ25においてアナログ化される。こ
のアナログ化の際の基準信号も、上述のA7.変換時と
同一のものが用いられる。このように1実際に存在する
スミア信号のレベルに応じてAろ変換及びρう、変換の
基準信号を変化させることによシ、スミア信号のレベル
が小さいときには、量子化誤差を減少させることが可能
となる。
This sample and hold output is supplied to the A, B converter 15 as a reference signal, and the smear signal present in the next horizontal section is digitized and written into the memory 19. Furthermore, in the next horizontal interval, the output of the memory 19 is read out and converted into an analog signal in the converter 25. The reference signal at the time of this analogization is also the same as described in A7. The same one used during conversion is used. In this way, it is possible to reduce the quantization error when the level of the smear signal is small by changing the reference signal for A conversion and ρ conversion according to the level of the actually existing smear signal. It becomes possible.

なお、以上の実施例のように、スミア補正を停止するの
と異なシ、スミアの補正量を数分の/程度に減少させる
ようにしても良い。まだ、この発明は、フレーム転送方
式に限らず、垂直インターライン転送方式のCCDに対
しても適用することができる。
Note that, as in the above embodiment, instead of stopping the smear correction, the amount of smear correction may be reduced to several minutes/approximately. However, the present invention is not limited to the frame transfer method, but can also be applied to CCDs using the vertical interline transfer method.

上述の説明から理解されるように、この発明に依れば、
固体撮像素子の出力が飽和しているような場合に、スミ
ア補正を行なうことKよ如、映像信号のレベルが本来の
大きさより小さくなったり、色バランス(カラー映像信
号の場合)が変化することを防止することができる。
As understood from the above description, according to the present invention,
Perform smear correction when the output of the solid-state image sensor is saturated.In this case, the level of the video signal becomes smaller than its original size, or the color balance (in the case of a color video signal) changes. can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のCCDの一例の説明に用いる路線図、第
2図及び第3図はスミア発生の説明に用いる路線図、第
7図及び第5図は従来のスミア補正回路の説明に用いる
ブロック図及び波形図、第6図、第7図、第g図及び第
9図はこの発明の各実施例を示すブロック図、第1O図
は第9・図に示すこの発明の詳細な説明に用いる波形図
である。 1・・・・・・・・・感光部、2・・・・・・・・・蓄
積部、3・・・・・・・・・出力レジスタ、12・・・
・・・・・・減算回路、13・・・・・・・・・出力端
子、14・・・・・・・・・入力端子、18・・・・・
・・・・レベル比較回路、19・・・・・・・・・メモ
リ。 代理人  杉  浦  正  知 第1図      第2図 第4図 第5図 トー1日−門
Figure 1 is a route map used to explain an example of a conventional CCD, Figures 2 and 3 are route maps used to explain smear generation, and Figures 7 and 5 are used to explain a conventional smear correction circuit. The block diagram and waveform diagram, FIG. 6, FIG. 7, FIG. g, and FIG. 9 are block diagrams showing each embodiment of this invention, and FIG. It is a waveform diagram used. 1...Photosensitive section, 2...Accumulation section, 3...Output register, 12...
...Subtraction circuit, 13...Output terminal, 14...Input terminal, 18...
...Level comparison circuit, 19...Memory. Agent Tadashi Sugiura Figure 1 Figure 2 Figure 4 Figure 5 To 1st - Gate

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 固体撮像素子の出力信号をレベル比較器に供給し、撮像
光に比例し死出力が得られる線形領域と撮像光に対して
出力が略々飽和する非線形領域との境界に対応する基準
レベル及び上記出力信号を比較し、上記レベル比較器の
出力により上記非線形領域では、スミア補正の補正量を
減少又はスミア補正を停止するように構成された固体撮
像素子のスミア補正回路。
The output signal of the solid-state image sensing device is supplied to a level comparator, and the reference level corresponding to the boundary between the linear region where a dead output is obtained in proportion to the imaging light and the nonlinear region where the output is approximately saturated with respect to the imaging light and the reference level described above. A smear correction circuit for a solid-state image sensor, which compares output signals and is configured to reduce a correction amount of smear correction or stop smear correction in the nonlinear region based on the output of the level comparator.
JP57109360A 1982-06-25 1982-06-25 Smear correcting circuit of solid state image pickup element Pending JPS59275A (en)

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