JPS59206808A - Focus detector - Google Patents
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- JPS59206808A JPS59206808A JP8217683A JP8217683A JPS59206808A JP S59206808 A JPS59206808 A JP S59206808A JP 8217683 A JP8217683 A JP 8217683A JP 8217683 A JP8217683 A JP 8217683A JP S59206808 A JPS59206808 A JP S59206808A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は積分型受光素子列を用いて、被写体輝度が変化
しても一定レベルのコントラスト出力をとり出して、自
動的に焦点検出を行う装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus that uses an array of integral light receiving elements to extract a constant level of contrast output even when subject brightness changes, and automatically performs focus detection.
従来MO8型受光素子アレーあるいはCCD等の積分型
受光素子列を用いて、コントラスト法。Conventional contrast method using an MO8 type photodetector array or an integral type photodetector array such as a CCD.
三角測距法等による焦点検出を行う装置が多数出願され
、又製品化されてきている。ところで積分型受光素子の
出力を■とすると、Cを形状、感度により定まる定数、
Lを照射されている光の平均照度、TをLの照度の光が
照射されている時間として、
V = CX L X T
なる式で与えられる。そして、従来の一定の光積分電圧
■を得る方法では、被写体の輝度の変化しに対して積分
時間Tを変える事により一定出方を得ていた。ところで
、この方法では、被写体輝度が1/2に低下すると、必
然的に積分時間は2倍にのびてしまい、特に低輝度の場
合には、この積分時間は非常に長いものとなって、装置
の応答速度や、手ブレ等の影響により使用上不都合を生
じていた。又、積分時間を一定時間で限定すると、光積
分電圧が減少して、焦点検出ができないという欠点を有
していた。Many applications have been filed for and commercialized devices that perform focus detection using triangulation and the like. By the way, if the output of the integral type photodetector is ■, then C is a constant determined by the shape and sensitivity,
It is given by the formula V=CX L XT where L is the average illuminance of the light being irradiated and T is the time during which the light with the illuminance L is being irradiated. In the conventional method of obtaining a constant optical integral voltage (2), a constant output voltage was obtained by changing the integral time T in response to changes in the brightness of the subject. By the way, in this method, when the subject brightness decreases to 1/2, the integration time inevitably doubles, and especially in the case of low brightness, this integration time becomes extremely long, making it difficult for the device to The response speed of the camera and the effects of camera shake caused inconvenience in use. Furthermore, if the integration time is limited to a certain period of time, the optical integration voltage decreases and focus detection becomes impossible.
本発明は以上の様な不都合を克服する為のものであり、
その目的は、低輝度においても応答速度が早く、手ブレ
の影響の少ない焦点検出を提供すると共に、低輝度時に
おける焦点検出能力を高める事である。The present invention is intended to overcome the above-mentioned disadvantages,
The purpose is to provide focus detection that has a fast response speed even in low brightness and is less affected by camera shake, and to improve focus detection ability in low brightness.
以下本発明の焦点検出を添付図面に示す実施例に従って
詳細に説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Focus detection of the present invention will be explained in detail below according to embodiments shown in the accompanying drawings.
まず、本発明の焦点検出の基本的な構成を第1図を参照
しながら説明する。第1図には、本発明の焦点検出の基
本的な構成が回路ブロック図として示されている。駆動
回路100は積分型受光素子列200と接続され、積分
開始パルス、駆動パルスを出力すると共に、モニタダイ
オード500.基準時間発生回路800.計時回路とも
接続され、積分開始パルスを出力する。積分型受光素子
列200は積分終了制御回路900と増幅器300とに
接続され、積分終了信号を入力して積分を終了し、出力
を増幅器300に出力する。該増幅器300は外部から
設定可能な増幅率により増幅を行ない一定レベルの光積
分電圧を焦点検出回路400に出力する。焦点検出回路
400は増幅器300からの入力電圧により焦点検出の
処理を行う。モニタダイオード500は比較回路600
に接続され、モニタ用の光積分電圧を出力する。一方輝
度変調レベル発生回路700も、比較回路600に接続
され、外部から設定される輝度変調レベルを出力する。First, the basic configuration of focus detection according to the present invention will be explained with reference to FIG. FIG. 1 shows the basic configuration of focus detection according to the present invention as a circuit block diagram. The drive circuit 100 is connected to the integrating type light receiving element array 200, outputs an integration start pulse and a drive pulse, and also outputs a monitor diode 500. Reference time generation circuit 800. It is also connected to a clock circuit and outputs an integration start pulse. The integrating type light receiving element array 200 is connected to an integration end control circuit 900 and an amplifier 300, inputs an integration end signal, ends the integration, and outputs the output to the amplifier 300. The amplifier 300 performs amplification using an externally settable amplification factor and outputs a constant level optical integrated voltage to the focus detection circuit 400. The focus detection circuit 400 performs focus detection processing using the input voltage from the amplifier 300. The monitor diode 500 is a comparison circuit 600
is connected to outputs an optically integrated voltage for monitoring. On the other hand, the brightness modulation level generation circuit 700 is also connected to the comparison circuit 600 and outputs a brightness modulation level set from the outside.
比較回路600は積分終了制御回路900と計時回路1
000に接続され、モニタダイオード500の出力と、
輝度変調レベル発生回路700の出力の比較を行い出力
を出す。基準時間発生回路800は積分終了制御回路9
00と接続され、積分時間がある設定時間に達した時に
信号を出力する。積分終了制御回路900は比較回路6
00と基準3一
時間発生回路800のどちらかの出力が出た時点で積分
型受光素子列900に積分終了信号を出力する。The comparison circuit 600 includes an integration end control circuit 900 and a timing circuit 1.
000 and the output of the monitor diode 500;
The outputs of the brightness modulation level generation circuit 700 are compared and outputted. The reference time generation circuit 800 is the integration end control circuit 9
00 and outputs a signal when the integration time reaches a certain set time. The integration end control circuit 900 is the comparison circuit 6
When either the output of 00 or the reference 3-time generating circuit 800 is output, an integration end signal is output to the integrating type light receiving element array 900.
計時回路1000は駆動回路100の積分開始パルスか
ら比較回路600の積分終了信号が出るまでの計時を行
う。コントローラ1100は各部と接続され、積分時間
の調整、増幅率の調整、輝度変調レベルの調整やタイミ
ングの管理を行う。The clock circuit 1000 measures the time from the integration start pulse of the drive circuit 100 until the integration end signal of the comparator circuit 600 is output. A controller 1100 is connected to each part and performs integration time adjustment, amplification factor adjustment, brightness modulation level adjustment, and timing management.
以上の如く構成された本発明の基本的な構成に対して次
に第2図を参照して機能を説明する。第2図はχ軸にモ
ニタダイオード500の積分時間、y軸にモニタダイオ
ード500の出力あるいは輝度変調レベル発生回路70
0の輝度変調レベルをとっている。直線の傾きは大きい
程明るく、小さい程暗い事を示していて、モニタダイオ
ード500は明るさに対応する傾きで積分を行い、設定
されている輝度変調レベルに達した時、積分を終了する
。Next, the functions of the basic structure of the present invention constructed as described above will be explained with reference to FIG. FIG. 2 shows the integration time of the monitor diode 500 on the χ axis and the output of the monitor diode 500 or the brightness modulation level generation circuit 70 on the y axis.
The brightness modulation level is 0. The larger the slope of the straight line is, the brighter it is, and the smaller the slope is, it is darker. The monitor diode 500 performs integration with the slope corresponding to the brightness, and ends the integration when the set brightness modulation level is reached.
図の太い実線部分1〜3.4〜7,8〜11゜12〜1
5.16〜19.20〜23.・・・・・・は、本発明
の焦点検出を動作させた時のモニタダイオード500の
とりうる積分終了点を連ねたもので、4−
輝度変調レベルに対応する直線部分の集まりである。又
、図の点線部分は同じ明るさの積分に対して、輝度変調
レベルが一段変化した時の積分終了点の遷移を示してい
る。さらに、輝度変調レベル1 、1/2. i/’I
、・・・・・・に対して一定の出力を得る為の増幅率1
,2,4.・・・・・・と、その時の一定出力1,1,
1.・・・・・・が輝度変調レベルに対応する形でグラ
フ右側に示されている。第2図では説明の簡略化の為輝
度変調レベルが初期値1で一段当り172倍の変化で、
増幅率を初期値1で一段当り2倍の変化として出力lを
得ているが、より一般的には輝度変調レベル初期値mで
一段当り1/n倍、増幅率初期値にで一段当りn倍とし
て、一定出力mkとする事ができる。まず、明るさが低
下していった場合には、任意の設定輝度変調レベル内で
、積分時間が長くなってゆき→T1→T2→T3→T4
の方向に積分終了点が移動する。Thick solid line part in the figure 1~3.4~7,8~11°12~1
5.16-19.20-23. . . . is a series of possible integration end points of the monitor diode 500 when the focus detection of the present invention is operated, and is a collection of straight line portions corresponding to 4-brightness modulation levels. Furthermore, the dotted line portion in the figure shows the transition of the integration end point when the brightness modulation level changes by one step for the same brightness integration. Further, brightness modulation levels 1, 1/2. i/'I
Amplification factor 1 to obtain a constant output for ,...
, 2, 4. ...and the constant output at that time 1, 1,
1. ... is shown on the right side of the graph in a form corresponding to the brightness modulation level. In Fig. 2, to simplify the explanation, the brightness modulation level is initial value 1 and changes by 172 times per step.
The output l is obtained by setting the amplification factor to an initial value of 1 and changing it by a factor of 2 per step, but more generally, the brightness modulation level is changed by a factor of 1/n per step at an initial value of m, and the amplification factor changes by a factor of 2 per step at an initial value of m. By doubling this, it is possible to obtain a constant output mk. First, when the brightness decreases, the integration time becomes longer within the arbitrarily set brightness modulation level → T1 → T2 → T3 → T4
The integration end point moves in the direction of .
そして、積分時間がT4あるいはT4以上かかる場合に
は、基準時間発生回路800の出力がコントローラ11
00にゆき、該コントローラ1100の制御により輝度
変調レベルが一段下げられ、同じ明るさに対しては積分
時間はT4からT2に短かくなる。If the integration time is T4 or longer than T4, the output of the reference time generation circuit 800 is
00, the brightness modulation level is lowered by one level under the control of the controller 1100, and the integration time is shortened from T4 to T2 for the same brightness.
この時コン1−ローラ1100の出力は増幅器300に
送られ、増幅率が一段上げられる為、出力は変化しない
。さらに暗くなっていった場合は同様にT2→1゛3→
T4の変化の後、T4かT4より積分時間が長くなった
時に輝度変調レベルが一段下げられ、同じ明るさに対し
ては積分時間はT4→T2に短かくなる。従って、非常
に明るい状態から暗い状態に輝度が低下していった場合
に、積分終了点は1→2→3→5→6→7→9→1o→
11→13→14→15→17→18→19→21→2
2→23に従って移動する。次に、明るさが増していっ
た場合について説明する。明るくなっていった場合には
、任意の輝度変調レベル内で積分時間が短かくなってゆ
き、→T4→T3→T2→T1の方向に積分終了点が移
動する。そして、積分時間がT1あるいはT1より短か
くなっていった場合には、計時回路1000の出力が前
記コントローラ1100に行き、該コントローラ110
0の制御により輝度変調1ノベルが一段上げられ、同じ
明るさに対しては、積分時間はT1からT3に長くなる
。At this time, the output of the controller 1-roller 1100 is sent to the amplifier 300, and the amplification factor is increased by one step, so the output does not change. If it gets even darker, do the same T2→1゛3→
After a change in T4, when the integration time becomes longer than T4 or T4, the brightness modulation level is lowered by one step, and for the same brightness, the integration time becomes shorter from T4 to T2. Therefore, when the brightness decreases from a very bright state to a dark state, the integration end point is 1 → 2 → 3 → 5 → 6 → 7 → 9 → 1o →
11 → 13 → 14 → 15 → 17 → 18 → 19 → 21 → 2
Move according to 2 → 23. Next, a case where the brightness increases will be explained. When the light becomes brighter, the integration time becomes shorter within an arbitrary brightness modulation level, and the integration end point moves in the direction of →T4 →T3 →T2 →T1. Then, when the integration time becomes T1 or shorter than T1, the output of the clock circuit 1000 goes to the controller 1100,
With the control of 0, the brightness modulation level is increased by one level, and for the same brightness, the integration time becomes longer from T1 to T3.
この時該コンl−ローラ1100の出力は増幅器300
に送られ、増幅率が一段下げられる為、出力は変化しな
い。さらに明るくなっていった場合には、同様に、T:
3→T2→T、の変化の後、T1かT1より積分時間が
短かくなった時に、輝度変調レベルが一段下げられ、同
じ明るさに対しては、積分時間はT、→T3に長くなる
。従って、非常に暗い状態から非常に明るい状態に変化
していった場合に、積分終了点は、23→22→21→
20→18→17→16→】4→13→12→10→9
→8→6→5→4→3→2→1に従って移動する。At this time, the output of the controller 1100 is output to the amplifier 300.
Since the amplification factor is lowered by one step, the output does not change. Similarly, when it becomes brighter, T:
After the change from 3 to T2 to T, when the integration time becomes shorter than T1 or T1, the brightness modulation level is lowered by one step, and for the same brightness, the integration time becomes longer from T to T3. . Therefore, when changing from a very dark state to a very bright state, the integration end point is 23→22→21→
20→18→17→16→】4→13→12→10→9
→ Move according to 8 → 6 → 5 → 4 → 3 → 2 → 1.
以上述べた如き動作により、明るさに対応した輝度変調
レベルを設定する事により、常に一定の時間T4より短
かい時間で積分出力を得る事が可能となり、輝度変調レ
ベルに対応した増幅率を持たせる事により、出力の低下
を防止し、常に一定の積分出力電圧を得る事ができる。Through the operation described above, by setting the brightness modulation level corresponding to the brightness, it is possible to always obtain an integral output in a time shorter than the constant time T4, and the amplification factor corresponding to the brightness modulation level can be obtained. This prevents the output from decreasing and allows a constant integrated output voltage to be obtained at all times.
なお、レベル遷移の時間条件を図の如くヒステリシスを
有する− ’/ −
為、遷移の後、多少明るさが変化しても、設定されたレ
ベルの中にとどまり、より安定した出力が得られる。Note that since the level transition time condition has hysteresis as shown in the figure -'/-, even if the brightness changes somewhat after the transition, it remains within the set level and a more stable output can be obtained.
次に本発明の具体的な実施例を第3図から第21図を参
照しながら詳細に説明する。Next, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 21.
第3図は本発明の増幅器300の構成例である。オペア
ンプ302とオペアンプ304の反転入力端子は抵抗R
,306を介して接続され、各々のオペアンプの非反転
入力端子の入力電圧の差が抵抗R3306の両端に加え
られ、これにより生ずる電流を各々のオペアンプ302
.304の出力と反転入力端子間に接続された抵抗R4
308,310に供給する事により(R3+2R4)/
R3倍の差動増幅を行う。この増幅された点Aと点Bの
電圧は次段の反転増幅器320に入力される。該反転増
幅器320はオペアンプ322とオペアンプ322の反
転入力端子とオペアンプ302の出力の間に接続された
抵抗Rr324と、反転入力端子と出力間に接続された
抵抗326と、非反転入力端子とオペアンプ304の出
力間に接続された抵抗R,,328と非反転入力端子と
GND間に接8−
続された抵抗R2330とにより構成され、増幅率R2
/R,,で反転増幅し、次段の抵抗分割器340に出力
を出す。該抵抗分割器340はオペアンプ322とGN
D間に直列に接続された抵抗4 R342゜2R344
,R346,R3/18と、各抵抗の分割点と次段のオ
ペアンプバッファ360の非反転入力端子間に接続され
、4ピッ1−レジスタ350の出力によりスイッチング
を制御するMOSスイッチ352.354゜356、3
58により構成される。各抵抗の分割点の電位は、MO
Sスイッチ352に対応する電圧を1として、1. 、
1/2. ]/4. +/8で与えられそれぞれ、R3
,T32,13]、BQの信号により選択される。FIG. 3 shows an example of the configuration of an amplifier 300 according to the present invention. The inverting input terminals of operational amplifier 302 and operational amplifier 304 are connected to resistor R.
, 306, and the difference in the input voltages of the non-inverting input terminals of each operational amplifier is applied across the resistor R3306, and the resulting current is connected to each operational amplifier 302.
.. Resistor R4 connected between the output of 304 and the inverting input terminal
By supplying 308 and 310, (R3+2R4)/
Performs differential amplification of R3 times. The amplified voltages at points A and B are input to the inverting amplifier 320 at the next stage. The inverting amplifier 320 includes an operational amplifier 322, a resistor Rr324 connected between the inverting input terminal of the operational amplifier 322 and the output of the operational amplifier 302, a resistor 326 connected between the inverting input terminal and the output, and a non-inverting input terminal and the operational amplifier 304. It consists of a resistor R2330 connected between the non-inverting input terminal and GND, and an amplification factor R2.
/R, , is inverted and amplified, and the output is output to the next stage resistor divider 340. The resistor divider 340 connects the operational amplifier 322 and GN
Resistor 4 connected in series between D R342゜2R344
, R346, R3/18, and a MOS switch 352.354°356 which is connected between the dividing point of each resistor and the non-inverting input terminal of the next stage operational amplifier buffer 360, and whose switching is controlled by the output of the 4-pin 1-register 350. ,3
58. The potential at the dividing point of each resistor is MO
Assuming that the voltage corresponding to the S switch 352 is 1, 1. ,
1/2. ]/4. +/8, respectively, R3
, T32, 13], selected by the BQ signal.
4ビツトレジスタ350は前記コントロール回路110
0により制御され、B3〜BOに出力されているデータ
がC8端子の操作により書き込まれる。The 4-bit register 350 is connected to the control circuit 110.
0, and the data output to B3 to BO is written by operating the C8 terminal.
前記オペアンプバッファ360は初段増幅器と次段反転
増幅器と最終段の抵抗分割器によって最終的に得られる
出力をバッファとしてとり出す。以上の構成により増幅
器300は積分型受光素子列200から入力する信号と
雑音の差を
((R3+2R4) /R3) (R2/Rt )
X(設定減衰率)倍
(1、1/2.1/4.1/8)
増幅して出力を出す。The operational amplifier buffer 360 takes out as a buffer the output finally obtained by the first stage amplifier, the next stage inverting amplifier, and the final stage resistor divider. With the above configuration, the amplifier 300 calculates the difference between the signal input from the integrating type photodetector array 200 and the noise by ((R3+2R4) /R3) (R2/Rt)
Amplify by X (set attenuation rate) times (1, 1/2.1/4.1/8) and output.
第4図は増幅器300の別の構成例である。オペアンプ
372.オペアンプ378の非反転入力には第3図と同
様積分型受光素子列200の雑音出力と信号出力がそれ
ぞれ入力されている。又、抵抗分割器370の内部構成
は第3図の抵抗分割器340の構成と同じである。オペ
アンプ372の反転入力端子には抵抗分割器370のM
OSスイッチの共通端子が接続され、出力端子には抵抗
374を介して抵抗分割器370の抵抗分割部の4 R
380側が接続されている。FIG. 4 shows another configuration example of the amplifier 300. Operational amplifier 372. The non-inverting input of the operational amplifier 378 receives the noise output and the signal output of the integrating type photodetector array 200, respectively, as in FIG. Further, the internal configuration of resistance divider 370 is the same as the configuration of resistance divider 340 in FIG. 3. The inverting input terminal of the operational amplifier 372 is connected to the resistor divider 370.
The common terminal of the OS switch is connected, and the output terminal is connected to the 4R of the resistance dividing section of the resistance divider 370 via a resistor 374.
380 side is connected.
オペアンプ378の反転入力端子には抵抗分割器370
の抵抗分割部のR386側が接続されている。オペアン
プ378の出力と反転入力端子間には抵抗4R376が
接続されている。この構成により16R/Z倍(Z=R
,2R,4R,8R)の増幅を行い、反転増幅器320
に出力を出す。反転増幅器320は第3図で説明したも
のと同じものである。以上の構成により信号と雑音の差
は(16R/Z)X(R2/ Rt )倍に増幅されて
出力される。A resistor divider 370 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 378.
The R386 side of the resistance dividing section is connected. A resistor 4R376 is connected between the output of the operational amplifier 378 and the inverting input terminal. With this configuration, 16R/Z times (Z=R
, 2R, 4R, 8R) and inverting amplifier 320
Output to . Inverting amplifier 320 is the same as that described in FIG. With the above configuration, the difference between the signal and noise is amplified by (16R/Z)×(R2/Rt) and output.
次に、モニタダイオード500の実施例について第5図
〜第7図を参照して説明する。第5図は積分が低電位か
ら高電位に行なわれる場合の例で。Next, an embodiment of the monitor diode 500 will be described with reference to FIGS. 5 to 7. Figure 5 shows an example where integration is performed from a low potential to a high potential.
モニタダイオード502は電源とMOSスイッチ間に接
続され、該MOSスイッチの他端はGNDに接続されて
いる。MOSスイッチのゲートが旧ghになると、モニ
タダイオード502がチャージされLowになると積分
が行なわれる。第6図は積分が高電位から低電位に行な
われる場合の例で、モニタダイオード502はMOSス
イッチの一端とGND間に接続され、該MOSスイッチ
の他端は電源に接続されている。MOSスイッチのゲー
トがLowになると、モニタダイオード502がチャー
ジされ、Highになると積分が行なわれる。第7図は
積分が低電位から高電位に行なわれる場合で、いくつか
のモニタダイオードの平均の積分値により出力を出す場
合である。いくつかのモニタダイオード502は並列に
接続され、一端を電源に、他端を11−
MOSスイッチに接続され、MOSスイッチの他端はG
NDに接続されている。MOSスイッチのゲートがHi
ghになると、モニタダイオード502がチャージされ
+’ Lowになると積分を開始する。The monitor diode 502 is connected between the power supply and the MOS switch, and the other end of the MOS switch is connected to GND. When the gate of the MOS switch becomes old gh, the monitor diode 502 is charged and becomes Low, and integration is performed. FIG. 6 shows an example in which integration is performed from a high potential to a low potential, and a monitor diode 502 is connected between one end of a MOS switch and GND, and the other end of the MOS switch is connected to the power supply. When the gate of the MOS switch goes low, the monitor diode 502 is charged, and when it goes high, integration is performed. FIG. 7 shows a case in which integration is performed from a low potential to a high potential, and an output is produced based on the average integrated value of several monitor diodes. Several monitor diodes 502 are connected in parallel, with one end connected to the power supply and the other end connected to the 11-MOS switch, with the other end of the MOS switch connected to G.
Connected to ND. MOS switch gate is Hi
When the voltage reaches gh, the monitor diode 502 is charged, and when it becomes +'Low, it starts integrating.
次に比較回路600の実施例について第8図〜第10図
を参照しながら説明する。第8図、第9図は市販のバイ
ポーラのコンパレータを用いて実現するもので、信号S
が基準電圧Rに対して高い時1.1 にLo
wの出力を得るのが第8図の回路で、Highの出力を
得るのが第9図の回路である。第8図、第9図がバイポ
ーラのコンパレータにより実現する回路なのに対し、第
10図はCMOSで実現する回路である。信号Sと基準
電圧RはそれぞれSWl、SW2を介して交流増幅器6
10を構成するコンデンサC6L2の一端に接続されて
いる。前記交流増幅器610は前記コンデンサC612
とそれに連なるインバータ614とインバータの入出力
間に接続されたスイッチSW3とから構成され、増幅結
果をフリップフロップ620のD端子に出力する。まず
最初はSW3が閉じられ、インバータ614の入=12
−
出力電位が■DD/2に設定される。次にSWIが閉じ
ると、コンデンサC612は信号電位とVD、/ 2の
電位差に充電される。この状態でSW3.SWlを開き
次にSW2を閉じると、コンデンサC612の一端は基
準電位Rに変化するが、コンデンサC612の他端は高
インピーダンスのインバータ614の入力が接続されて
いるのみで電流が流れてゆく場所がない為、コンデンサ
C612の電位は変化しない。従って、コンデンサC6
12の一端に加えられる信号電圧の差がコンデンサC6
12の持つ電位に加えられて他端に出力される。インバ
ータ614はスレッシュホールドレベルに対して与えら
れるこの電位変化により出力を反転させ、ブリップフロ
ップ620に比較結果、を出し、フリッププロップはク
ロック端子に入力される信号φ3により結果を保持し出
力を出す。Next, an embodiment of the comparison circuit 600 will be described with reference to FIGS. 8 to 10. Figures 8 and 9 are realized using a commercially available bipolar comparator, and the signal S
is higher than the reference voltage R, Lo at 1.1
The circuit of FIG. 8 obtains an output of w, and the circuit of FIG. 9 obtains a high output. 8 and 9 are circuits realized by bipolar comparators, whereas FIG. 10 is a circuit realized by CMOS. The signal S and the reference voltage R are sent to the AC amplifier 6 via SWl and SW2, respectively.
10 is connected to one end of the capacitor C6L2. The AC amplifier 610 is connected to the capacitor C612.
, an inverter 614 connected thereto, and a switch SW3 connected between the input and output of the inverter, and outputs the amplification result to the D terminal of the flip-flop 620. First, SW3 is closed and inverter 614 is turned on = 12
- Output potential is set to ■DD/2. Next, when SWI closes, capacitor C612 is charged to a potential difference between the signal potential and VD,/2. In this state, SW3. When SWl is opened and SW2 is closed, one end of the capacitor C612 changes to the reference potential R, but the other end of the capacitor C612 is only connected to the input of the high impedance inverter 614, so there is no place for the current to flow. Therefore, the potential of capacitor C612 does not change. Therefore, capacitor C6
The difference between the signal voltages applied to one end of capacitor C6
It is added to the potential of 12 and output to the other end. The inverter 614 inverts its output due to this potential change applied to the threshold level and outputs the comparison result to the flip-flop 620, which holds the result and outputs it by the signal φ3 inputted to the clock terminal.
次に輝度変調レベル発生回路700の実施例について第
11図〜第13図を参照しながら説明する。Next, an embodiment of the brightness modulation level generation circuit 700 will be described with reference to FIGS. 11 to 13.
第11図は基準電圧をGNDを基準に発生させる回路で
、電源からGNDに直列に接続された抵抗Ro 712
.4 R71,4,2R716,R71g、 R720
からなる抵抗分割器710と、一端が抵抗分割器710
の各分割点に接続され、他端が出力につながるMOSス
イッチ722と、MOSスイッチ722のゲートに選択
信号を出力する4ビツトレジスタ730とからなり、4
ビツトレジスタ730のチップセレクト端子をコントロ
ールしてコントローラ1100からの設定データを受け
とり、MOSスイッチのゲートを制御して基準電圧を出
力する。Figure 11 shows a circuit that generates a reference voltage with GND as a reference, using a resistor Ro 712 connected in series from the power supply to GND.
.. 4 R71, 4, 2R716, R71g, R720
a resistor divider 710 consisting of a resistor divider 710;
It consists of a MOS switch 722 that is connected to each dividing point and whose other end is connected to an output, and a 4-bit register 730 that outputs a selection signal to the gate of the MOS switch 722.
It controls the chip select terminal of the bit register 730 to receive setting data from the controller 1100, controls the gate of the MOS switch, and outputs a reference voltage.
第12図は基準電圧を電源を基準に発生させる回路で、
第11図の抵抗分割器710の部分の別の実施例である
。電源からGNDに直列にR742,R744、2R7
46,4R74B、 Ro750が接続され、抵抗分割
による電圧を発生する。Figure 12 shows a circuit that generates a reference voltage based on the power supply.
12 is another embodiment of the resistor divider 710 portion of FIG. 11. FIG. R742, R744, 2R7 in series from power supply to GND
46, 4R74B, and Ro750 are connected to generate voltage by resistance division.
第13図は輝度変調レベル発生回路700の別の実施例
で前記コントローラとデータのやりとりを行う8ビツト
レジスタ750と、その8ビツトレジスタ750と接続
され設定されているデジタル量に対応するアナログ電圧
を発生する8ビツトD/Aコンバータ760とからなり
、前記コントローラの制御で輝度変調レベルを発生する
。FIG. 13 shows another embodiment of the brightness modulation level generation circuit 700, including an 8-bit register 750 that exchanges data with the controller, and an analog voltage that is connected to the 8-bit register 750 and that corresponds to the set digital amount. The brightness modulation level is generated under the control of the controller.
次に基準時間発生回路の具体的な実施例である第14図
について説明する。発振器802けカウンタ804のク
ロック端子に接続され、カウンタ804に基準クロック
を送る。カウンタ804には駆動回路100の積分開始
信号がリセット端子に接続され、積分開始の同期がとら
れる。カウンタ804はある設定時間の後に積分終了制
御回路900に出力を出す。Next, FIG. 14, which is a specific embodiment of the reference time generation circuit, will be described. The oscillator 802 is connected to the clock terminal of the counter 804 and sends a reference clock to the counter 804 . An integration start signal from the drive circuit 100 is connected to a reset terminal of the counter 804, and the start of integration is synchronized. Counter 804 outputs an output to integral end control circuit 900 after a certain set time.
次に積分終了制御回路900の具体的な実施例について
説明する。第15図はOR回路で実現する場合で、比較
回路600の出力がHighか基準時間発生回路800
の出力がHighの時に積分終了制御信号thighを
積分型受光素子列200に出力する場合である。第16
図はAND回路により実現する場合で、前記比較回路6
00の出力がLowか基準時間発生回路800の出力が
Lowの時、積分終了制御信号1,0νを積分型受光素
子列200に出力する。Next, a specific example of the integration end control circuit 900 will be described. FIG. 15 shows a case where the OR circuit is used to determine whether the output of the comparison circuit 600 is High or the reference time generation circuit 800
This is a case where the integration end control signal high is output to the integrating type light receiving element array 200 when the output of the integration type light receiving element array 200 is High. 16th
The figure shows a case realized by an AND circuit, and the comparison circuit 6
When the output of 00 is Low or the output of the reference time generating circuit 800 is Low, an integration end control signal 1,0ν is output to the integrating type light receiving element array 200.
次に計時回路1000の具体的な実施例である第17図
について説明する。分周カウンタ]002は発15−
振器802の出力を入力し、分周してOR回路1004
の入力に出力する。OR回路1004には、比較回路6
00の出力が入力され、積分時間中のみ分周カウンタ1
002の出力をゲーティングしてカウンタ1006のク
ロック端子に出力を出す。カウンタ1006は前記駆動
回路の積分開始信号がリセット端子に入力され、該積分
開始信号と同期して積分時間の計時を行う。3ステート
バツフアはカウンタ1006の出力が入力され、C8端
子が選択された時に出力を出す。Next, FIG. 17, which is a specific example of the clock circuit 1000, will be described. A frequency division counter] 002 inputs the output of the oscillator 802, divides the frequency, and outputs the output to the OR circuit 1004.
output to the input of The OR circuit 1004 includes a comparison circuit 6
An output of 00 is input, and the division counter 1 is used only during the integration time.
The output of counter 1002 is gated and output to the clock terminal of counter 1006. The counter 1006 receives an integration start signal from the drive circuit at its reset terminal, and measures the integration time in synchronization with the integration start signal. The 3-state buffer receives the output of the counter 1006 and outputs an output when the C8 terminal is selected.
最後にコントローラ1100の実施例である第18図に
ついて説明する。第18図はコン1−ローラ1100を
ワンチップマイクロコンピュータ8049を用いて実現
したものであり、このワンチップマイクロコンピュータ
のプログラムのフローチャートを第19図〜第21図に
示す。このワンチップマイクロコンピュータのTO端子
には駆動回路100の積分開始パルスが入力され、シス
テムの動作と同期がとられる。T1端子は外部タイマー
割り込み端子で、基準時間発生回路800の出力を入力
し、−16=
Loνレベルの入力を検出してタイマー割り込み処理ル
ーチンを実行する。INT端子は、外部割り込み端子で
、比較回路600の出力を入力し、Loνレベルの入力
を検出して、外部割り込み処理ルーチンを実行する。前
記タイマー割り込み処理ルーチン及び前記外部割り込み
処理ルーチンは1回の積分に対して、どちらか片方の処
理ルーチンが実行される。ポー1−1のO〜3ピッh(
PO〜P3)は各々、増幅器300のレジスタのC8端
子、輝度変調レベル発生回路700のレジスタのC8端
子。Finally, FIG. 18, which is an embodiment of the controller 1100, will be described. FIG. 18 shows the controller 1-roller 1100 realized using a one-chip microcomputer 8049, and flowcharts of the program of this one-chip microcomputer are shown in FIGS. 19 to 21. The integration start pulse of the drive circuit 100 is input to the TO terminal of this one-chip microcomputer, and the operation of the system is synchronized. The T1 terminal is an external timer interrupt terminal, which inputs the output of the reference time generation circuit 800, detects an input at the -16=Loν level, and executes the timer interrupt processing routine. The INT terminal is an external interrupt terminal, which inputs the output of the comparator circuit 600, detects an input at the Lov level, and executes an external interrupt processing routine. Either the timer interrupt processing routine or the external interrupt processing routine is executed for one integration. Poe 1-1 O~3 pitch h (
PO to P3) are the C8 terminal of the register of the amplifier 300 and the C8 terminal of the register of the brightness modulation level generation circuit 700, respectively.
計時回路1000のレジスタのC8端子と接続され、そ
れぞれのレジスタに対する読み書きの制御を行う。この
時に読み書きされるデータはパスポート(BUS)の8
ビットのラインの全部又は一部を使って転送される。It is connected to the C8 terminal of the register of the clock circuit 1000, and controls reading and writing to each register. The data read and written at this time is 8 of the passport (BUS).
It is transferred using all or part of a line of bits.
以上の様に接続されたワンチップマイクロコンピュータ
の動作を第19図〜第21図に示すフローチャートに従
って説明する。第19図はメインルーチンのフローチャ
ートである。■から■の処理はパワーオン時の処理で輝
度変調レベルと増幅率の初期設定と、設定値の内部レジ
スタ(それぞれR2,R3)への記憶がなされる。Q〜
■の間では、まず割り込みをマスクしてから、タイマー
カウンタが255にセットされ、TO端子がモニタされ
る。TO端子のモニタにより積分開始が検出され、割り
込みが解除され、タイマーがカウント動作に入る。そし
て、■の割り込み待ちとなる。The operation of the one-chip microcomputer connected as described above will be explained according to the flowcharts shown in FIGS. 19 to 21. FIG. 19 is a flowchart of the main routine. The processes from (1) to (4) are power-on processes in which the brightness modulation level and amplification factor are initialized and the set values are stored in internal registers (R2 and R3, respectively). Q~
During (2), interrupts are first masked, the timer counter is set to 255, and the TO terminal is monitored. The start of integration is detected by monitoring the TO terminal, the interrupt is canceled, and the timer starts counting. Then, the system waits for the interrupt (■).
積分時間が長く、基準時間発生回路800の出力により
積分が終了した場合には、T1端子がLowレベルを検
出して、第20図のタイマー割り込み処理ルーチン(■
からの処理)が実行される。タイマー割り込み処理ルー
チンでは、記憶している増幅率が最大値でない時は、増
幅率設定レジスタの増幅率を一段上げ、又、記憶値も変
更し、さらに輝度変調レベルが最小値でない時には輝度
変調レベル設定レジスタの輝度変調レベルを一段下げ。If the integration time is long and the integration is completed by the output of the reference time generation circuit 800, the T1 terminal detects a low level and the timer interrupt processing routine (■
(processing from) is executed. In the timer interrupt processing routine, when the stored amplification factor is not the maximum value, the amplification factor in the amplification factor setting register is increased by one step, the stored value is also changed, and when the brightness modulation level is not the minimum value, the brightness modulation level is changed. Lower the brightness modulation level of the setting register by one step.
又、記憶値も変更して、一定の出力で積分時間が短かく
なる様にする。そして、割り込みをマスクし、スタック
を操作して■の結合子にリターンする。積分時間が短か
く、比較回路600の出力により積分が終了した場合に
は、INT端子がLOνレベルを検出して、第21図の
外部割り込み処理ルーチンが実行される。外部割り込み
処理ルーチンでは、まず最初に計時回路1000で計時
された積分時間を入力する。そしてこの積分時間が規程
の時間と比較され、規程の時間よりも長い場合は、増幅
率、輝度変調レベルの設定レジスタの変更は行なわずに
割り込みをマスクし、スタックを操作して■の結合子に
リターンする。逆に、規程の時間よりも長い場合には、
内部レジスタに記憶している増幅率が最小値でない時は
、増幅率設定レジスタの増幅率を一段下げ、又、記憶値
もそれに対応して変更し、さらに、輝度変調レベルが最
大でない時は、輝度変調レベル設定レジスタの輝度変調
レベルを一段上げ、又、それに対応して記憶値も変更し
、一定の出力で積分時間が長くなる様にする。そして、
割り込みをマスクし、スタックを操作して、■の結合子
にリターンする。Also, change the stored value so that the integration time becomes shorter with a constant output. Then, it masks the interrupt, operates the stack, and returns to the connector of ■. If the integration time is short and the integration is completed by the output of the comparator circuit 600, the INT terminal detects the LOν level and the external interrupt processing routine shown in FIG. 21 is executed. In the external interrupt processing routine, first, the integral time measured by the clock circuit 1000 is input. Then, this integration time is compared with the specified time, and if it is longer than the specified time, the interrupt is masked without changing the amplification factor and brightness modulation level setting register, and the stack is manipulated to connect the Return to. On the other hand, if the time is longer than the prescribed time,
When the amplification factor stored in the internal register is not the minimum value, the amplification factor in the amplification factor setting register is lowered by one step, and the stored value is also changed accordingly.Furthermore, when the brightness modulation level is not the maximum value, The brightness modulation level in the brightness modulation level setting register is raised by one level, and the stored value is also changed accordingly, so that the integration time becomes longer with a constant output. and,
Mask the interrupt, manipulate the stack, and return to the connector of ■.
以上述べた如く、本発明のカメラの焦点検出装置は、常
にある設定時間T2以内で所望のデータ19−
が得られる為、応答の速い焦点検出装置を実現する事が
できるとともに、被写体輝度に応じてダイナミックレン
チを変えられる為、より暗い被写体に対する焦点検出も
可能となり、焦点検出能力が向上する。又、データの検
出時間が常にある設定時間T2よりも短かくできるとい
う事は、手ブレ等の影響を防止するとともに、使用感に
すぐれた装置の提供ができその効果は大である。As described above, the focus detection device for a camera according to the present invention can always obtain the desired data 19- within a certain set time T2, so it is possible to realize a focus detection device with quick response and to Since the dynamic wrench can be changed by changing the dynamic wrench, focus detection for darker objects is also possible, improving focus detection ability. Furthermore, the fact that the data detection time can always be made shorter than the set time T2 has a great effect in that it is possible to prevent the effects of camera shake and the like, and to provide a device that is easy to use.
第1図はクレーム対応の構成図、第2図は本発明の構成
による機能を説明するグラフ、第3図から第18図は本
発明の夫々の構成要素の一実施例図、第19図から第2
1図はコントローラの一実施例を説明する為のフローチ
ャート。
100・・・駆動回路 200・・・積分型受光素子
300・・・増幅器 400・・・焦点検出回路50
0・・・モニターガイド 600・・・比較回路70
0・・・輝度変調レベル発生回路
800・・・基準時間発生回路 900・・・積分終
了制御回路 1000・・・計時回路 1100・
・・コントローラ20−
第1図
第2図
tQ め 出 笥
2 り
剖凹 ロト
摩 −1l(1
第4図
第14圓
第15図 第16図
第17図
第180
第tq口
第20図
第2f図
#i分時間入力
fr*分億間 YES
N。
増幅亭最小?
N。
増幅キ設定値!!1級ダウン
増幅亭殻疋しシスタの・変更
内部しジス5Rシ11♂換え
π11Z虻古−レヘ′1し最大?
トリ
n度変幻弓しべ1し乞1殴ヱνフ。
へ1し吉焚iし
内部しシスタR2のIFき換えFig. 1 is a block diagram corresponding to the claims, Fig. 2 is a graph explaining the functions according to the structure of the present invention, Figs. 3 to 18 are illustrations of one embodiment of each component of the present invention, and Figs. Second
FIG. 1 is a flowchart for explaining one embodiment of the controller. 100... Drive circuit 200... Integral type light receiving element 300... Amplifier 400... Focus detection circuit 50
0... Monitor guide 600... Comparison circuit 70
0... Brightness modulation level generation circuit 800... Reference time generation circuit 900... Integration end control circuit 1000... Time measurement circuit 1100.
...Controller 20 - Fig. 1 Fig. 2 tQ Megout 2 Rotoma -1l (1 Fig. 4 Fig. 14 Fig. 15 Fig. 16 Fig. 17 Fig. 180 Fig. 20 Fig. 2f Figure #i Minute time input fr * Minutes YES N. Minimum amplification? N. Amplification setting value!! 1st class down amplification Rehe '1 and maximum? Tori n degree transformation bow stamen 1 slave 1 punch ヱνfu.
Claims (1)
対応する積分電圧を出力するモニタダイオードと、外部
から設定可能な輝度変調レベル発生回路と、前記モニタ
ダイオードの出力と前記輝度変調レベル発生回路の出力
とを比較する比較回路と、積分開始から前記比較回路の
出力がでるまでの計時を行う計時回路と、前記積分型受
光素子列の出力を外部から設定可能な増幅率により増幅
する増幅器と、により構成され、前記計時回路の出力が
第1の規定時間より大であるとき、前記輝度変調レベル
発生回路のレベルを下げて、積分時間を短かくするとと
もに、前記増幅器の増幅率を上げて、前記積分型受光素
子列の出力を一定にすると共に前記第1の規定時間より
も短い別の第2の規定時間に対して計時回路の出力が小
である時は、前記輝度変調レベル発生回路のレベルを上
げて、積分時間を長くするとともに、前記増幅器の増幅
率を下げて、前記積分型受光素子列の出力を一定ならし
めた事を特徴とした焦点検出装置。an integral type light-receiving element array, a monitor diode that outputs an integrated voltage corresponding to the average illuminance of the integral type light-receiving element array, an externally settable brightness modulation level generation circuit, an output of the monitor diode, and the brightness modulation level. a comparison circuit that compares the output of the generator circuit; a timing circuit that measures the time from the start of integration until the output of the comparison circuit is output; and a timer circuit that amplifies the output of the integrating type light-receiving element array using an externally settable amplification factor. an amplifier, and when the output of the timer circuit is greater than a first specified time, the level of the brightness modulation level generation circuit is lowered to shorten the integration time, and the amplification factor of the amplifier is increased. When the output of the timer circuit is small for a second specified time shorter than the first specified time, the brightness modulation level is increased. A focus detection device characterized in that the level of the generation circuit is increased to lengthen the integration time, and the amplification factor of the amplifier is lowered to make the output of the integration type light receiving element array constant.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8217683A JPS59206808A (en) | 1983-05-11 | 1983-05-11 | Focus detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8217683A JPS59206808A (en) | 1983-05-11 | 1983-05-11 | Focus detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59206808A true JPS59206808A (en) | 1984-11-22 |
JPH0463372B2 JPH0463372B2 (en) | 1992-10-09 |
Family
ID=13767120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8217683A Granted JPS59206808A (en) | 1983-05-11 | 1983-05-11 | Focus detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59206808A (en) |
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