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JPS59200982A - ウラン濃縮度測定方法及びその装置 - Google Patents

ウラン濃縮度測定方法及びその装置

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Publication number
JPS59200982A
JPS59200982A JP58064750A JP6475083A JPS59200982A JP S59200982 A JPS59200982 A JP S59200982A JP 58064750 A JP58064750 A JP 58064750A JP 6475083 A JP6475083 A JP 6475083A JP S59200982 A JPS59200982 A JP S59200982A
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JP
Japan
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uranium
sample
shutter
rays
radiation source
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JP58064750A
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JPH0434115B2 (ja
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Shinji Ishiguro
石黒 信治
Akira Kurosawa
黒沢 明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan
Power Reactor and Nuclear Fuel Development Corp
Original Assignee
Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan
Power Reactor and Nuclear Fuel Development Corp
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Publication date
Application filed by Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan, Power Reactor and Nuclear Fuel Development Corp filed Critical Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan
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Priority to US06/590,915 priority patent/US4629600A/en
Priority to GB08409141A priority patent/GB2138129B/en
Priority to FR8405800A priority patent/FR2544497B1/fr
Priority to DE3413844A priority patent/DE3413844C2/de
Publication of JPS59200982A publication Critical patent/JPS59200982A/ja
Publication of JPH0434115B2 publication Critical patent/JPH0434115B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/221Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by activation analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/167Measuring radioactive content of objects, e.g. contamination

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  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ウラン溶液中のウラン)砧縮度(ウラン−2
35含有足)を測定する方法及び装置に関し、特に限定
されるものではないか、例えば、1吏用済核燃料物貿の
再処理施設におけるウラン脱硝施設内の臨界管理をする
ため、1稈プロヒス中のウラン躇縮度を検出して監視す
る場合に奸適な方法及び装置に関りるしのである。
一般にウラン脱硝1M段においては、ウラン1113N
ih度を常にある一定値以下に保ち、臨界状態が野生じ
ないように黙視りることが重要である。
そしてこの監視は施設のプロセス−「迅速に行う必要が
ある。
従来、ウラン溶液中のウラン濃縮度は、大型で保守の…
j倒な質量分析計を使用していたため、測定試料を特殊
なフィラメントに塗イrlする前処理操作や艮い測定時
間、及び特殊な伽器の操作を必要どした。このため迅速
に、簡便にウラン濃縮度を測定づることができなかった
その他、X線発4r管球を使用したり、特殊な放射線(
イッテルビウム−169)を使用してウラン濃縮度を測
定Jる放射能法がある。しかし、前者のX線管球を用い
る方法は、X線管球に印加りる特!A、”c゛大型高圧
電源装置が必要であるし、更にX線管球が発生する不必
要なX線か多n1に出るため、必要なX線のみを選択的
に取り出す特殊4gエネルギフィルタや大型の遮蔽体が
必要で゛ある。また、後者の密封放射性同位体線源を要
Jる方法は、使用する線源の減衰(イッテルビウム−1
69の半減期は32 F] > /メ早く、年間約10
回の線源交換を実施しな(−」れは装置を正常に維持管
理り゛ることかできイrい。
いり゛れにしても、このよう4I−実情のため、特に前
述の如きウラン脱硝前3,9内においてウラン溶液中の
ウラン濃縮度を迅速に1;;1祝りるような用途には不
適であった。
しかし、最近、これらの欠点を解)肖しうるちのとして
、ウランの吸収端二[ネル4ff J:り低いエネルギ
の光子と高いエネルギの光子をウランを含む試料に照射
し、試料を透過した各光子の強叶から試わ1中のウラン
)かび度を求め、試わ1中のウラン−235のα崩壊に
伴って試第′」がら放出されるγ線の測定値J)よび前
記ウラン濃度からウランi間縮度含水める方法が提案さ
れたく特開昭57−1!11881号)。
この方法は、ウラン温液mを迷やかに、かつ容易に測定
づることがでさ′る1点を右し、前)小の如き用途に対
して特にね効く・ある。しかし、線源の具体例について
は何等開示されてJ5らず、従来技術をそのまま利用し
たのではコンバク1へで保守の容易4丁装置を構成でさ
・ないこと、また、試4′」中のガンマ線自己吸収にに
り誤差が入り、測定活用を」−げられないといった間1
点があつIこ 。
本発明の目的は、このような従来技術の欠点を解消し、
いかなるウラン溶液でも原液のまま少「)で、特殊な試
料の前処理操作やは器についての熟練技術を必要とせず
、簡便に、正(i(i: !こ、かつ迅速に測定−リ−
ることができ、また、装置iJ全全体小型化することが
でき、連続測定や自動測定に適J−るような改良された
ウラン)悶縮度測定方法及びその装置を提供することに
ある。
かかる目的を辻成りることのできる本発明は、原理的に
(,11、ウラン溶液中のウランilf’i Iqをに
一工ツジ吸収法で求め、ウラン溶液中のウラ〕/−23
!ilはウラン−235白身が放出するガンマ線(パッ
シブガンマ線:  186keV )を高純度ゲルマニ
ウム検出器で検出して求めて、ウラン濃縮度をウラン−
235量に対りるウラン濃度の比によって求めるもので
、特に、線源のl’!’S成並びに試片31中の前記ガ
ンマ線の自己(9′I収率による誤差を補正して正Ti
fi: &測定を行なえるにうに]二人されたものであ
る。
以下、図面に基づき本発明につい−Cβ(明り−る。
第1図は本発明にかかるウラン温液麿側定装置の測定部
の縦1析面図、第2図はでの遮11々体部分の平面図で
ある。各構成部拐(jl、’f<i ’kll 遮蔽(
4,1に設りられた各部(名取イ」(プ用の孔に組込ま
れる。
線源は、線源ボルダ2に組込まれているコパル1〜−5
7密封線源3とその前面に設(′Jられているウランホ
イル4とからなり、それらにJ二つて=1パル1−−5
7の畜」、J線源3から出る2杆のγわj!(122k
e、  136keV)の他に、該γワi:とウランホ
イル4との相47作用にJ、ってX線(UkcAIX 
! : 98keV 、 U ka2X mA : 9
4kC等)を発生>jる。ウランボイル4は、望ましく
はウラン−238が良いが、天然ウランでb l!’j
’j 麿に影ν′Pはない。
そして前記線源から放出される光子(γ線やX線〉の通
路にi?>つて第1のコリメータ55、シトツタ6、第
2のコリメータ7、試わlビン8、り〕33の]コリメ
ータ、及び高純度ゲルマニウl\検出器10がこの順序
で配設される。各コリメータは、タンゲスミーン製であ
り、そこを通る光子を卵1い束にJる(コリメー1−す
る)關能を果づ。シX・ツタ(3はタングステン製であ
り、第3図にも示されているJ:うに、その一部(こ貫
通孔11が′@′説されるどどもに高1fll !Ii
iウランメクル12を埋設し〕こ411〜造をなす。そ
して、第1図矢印で承り如< N ’J’n製N 1t
ik体1中をスライド白I′1゛となっていて、くれに
よって線源からの光子が試料ビンh向に照射υ−るのを
任意に開閉てきるととt)に、高i農縮・クランメタル
12か1ill: fl′31ビン8に対向しうるよう
に41つている。試料(でン8は、その内部(こウラン
溶液13を収容するしので、S:D ′!Aj(j4蔽
体1の上面から自由に挿入し・たり取出し!、:す(゛
きるようになっている。実1系には、自動Eil: l
t:lIIIシ5機かイ]設されて、それに多数の試料
ビンを−E3 tツ1〜づれば、後は連続的に交換でき
る」;うG、lづる。高純度ゲルマニウム検出器10は
、検出器へ71〜部1/′lにイ11込まれ、側方7)
冒ろ水平に341装X ink体1内に1中人されてセ
ットされる。そしてその出力は、波高分、!I7器を含
む11111定系゛市子駅詩に入力号−ること(こなる
。また、鉛製遮蔽体1の各間[]部LJ、’ :!’f
f製ノラ915で閉塞される。
線源から生じた前記γ線やX線は、シトツタ6が聞いた
状態のとき、第1のコリメータ5及U第2のコリメー・
タフに」−って細い末にざUられて、試:1″jlビン
E3中の1クラン(6液13を通過し、更に第3のコリ
メータ9を経Ci!;n 1llli度ゲルマニウム検
出器10によつ′(検出される。ここに到達したγ線、
X線は7Ti気色昼となり、岐1t′δ分析23(!−
有づ−る測定系雷゛子装置ににって、この電気信4]が
カンマスペク[−ルに分力1されj’7?偵される。
これらの測定系電子装置自体GJ、この技術分野にa′
3いて公知の−しのて゛よいの(′、ぞ4′(についτ
の記載は省略するが、この測定系電子j’A tによっ
て到達したγ線やX線の強度を測定りることがてきる。
これらのγ’+Q ’1ゝ’ X kg=のうち 12
21< e Vと94keV(又【よ1]旧(eV)の
らのは、丁度ウランの)〈−エラ21段収Δ°r:;前
後のLネルギ値をもっており、これらが通過ゴるウラン
溶液の淵1褪によ−、)で吸収さ4′する割合が異なり
、この吸収される割合がら潤度を求めることができる。
この方法は[1〈−丁ツジ吸収法]といわれる。
具1本面測定方法fJi次の如くである。今、試料じン
8にウラン溶液カリH1((,11っシトツタ6が聞い
た状!川の」!、J合、高純度ゲルマニウム検出器10
にてイ4ミ出υ4′するγ線(122kOV ) 、X
イ≦ζ(!EkeV又は981りeV)の強度をぞれぞ
れI、。。
12oどりる。次(こ試λ′G1ビン8にウラン’<8
2’?2 IJ<人っている場合の−r 線<  12
2keV ) 、 X Ig (94kcV又は9 I
I k (ハ/)の強度をそれぞれI 11+  Il
lとりる。こσ)ばあい、試料ビン8中のウラン溶#M
 ’13 (bウラン1r−34o (g、y 1 >
とで−れぞれのγ線、X 8!どの関1.;i 4;U
 、次の(1)式のようになる。
ただlノ、△μX IJ、装億定故(比例定数)である
。この式は周知であるし、もY来技術に(ν1連して述
べた前記待聞口J !j ?−1!+ 1 +181 
pL公報にし記載されでいるのて゛、くの勇出過(5j
についての記載は省Ot3する。ど−しかく、事1)0
にウラン潤度が判っているウラン溶(j夕を用いて11
ム記侃:置定故を決力I Ly Tおし′Jは、ウラン
ン;)1:度が未9.11イiウラン溶ンtシを試イ′
斗ヒン8に入れ、ウランンン1液を通3(Uリ−るγ線
、X線の強1宴(1,、、I2. ) 4.、/l1l
I定することに上っC前記(1)式よりウラシイ1il
I厄を求めることかできる。
更に、ウラン−23!i ITI、 (絶苅11′!)
はウラン(γを液13に含まれるウラン−235白L]
か一定割合(゛放出するγ線(パッシブカンン線;  
1861り(ハりを直接?:′5粍度ゲルマニウム検出
器で検出りること1JJzり求めること/バで−さ6.
、、二のji、’lのγ線づ介)1哀を le、 rと
J゛る。しかし、ウラン’7’6 :i’i中で(,1
ウラシー235白身が放出したγ線は、まわりにあるウ
ランや水qの物質のため、試料ビンF3の表面に到辻づ
る前に吸収、減衰(自己吸収)してしまう。本発明て゛
は、この自己吸収の割合を正確に求めるためにシ17ツ
タ6に高濃縮ウランメタル12を埋設し・である。これ
を用いて自己吸収の割合をil:鮪[こ求めることがで
き、測定精度が向上り゛るのである。その方法は次のと
おりでd)る。
本発明で(ニジ1?ツタ6が開いた状態の簡にウラン溶
液中のウラン−230のγf@ (18(ikOV)を
高純度ゲルマニウム検出器10で測定し、その強度(i
s)を求める。次にシャッタ6を開じる。
この時シt7ツタ6は線源から発生するγ線やX線を遮
蔽し、かつ、シャッタ6に組込まれている高濃縮ウラン
メタル12が丁匪第2のコリメータ7の中心の開口部に
一致する位置にセラ1〜される。この状態で高濃縮ウラ
ンメタル12J:り放出されるγ4jl (186ke
V )は、第2のコリメータ7でコリメートされウラン
溶液13で減衰し、第3のコリメータ9を経て高IT!
度グル7ニウム検出器で検出される。この凸の強度を(
isや、、、)とする。この−一)の強度差(is+M
 −Is )とシ17ンタ6が開し、かつウランンd′
液カリ((−い状態のγ線(186keV)の強IY(
Lo>からウラン溶液中のγ線(186keV )の自
己吸収率を正確にsJ<ぬることができる。即ち、自己
吸収率CFは、この二つの強度〈i9.い−is、1−
0)の次の関数として理論的に求まる。
そして、結局、ウラン溶液中に含まれているウラン−2
35量(絶対量)yは、前記自己吸収率CFで補正して
、つぎ′のように表すことができる。
y=(K・i、)/CF      ・・・(3)但し
、kは装置定数(比例定vJ、) 従って、この装置定数kを、事前にウラン−235昂が
判っているウラン溶液で決定してa> 4づば、ウラン
−23!1足が未知2ヱウラン溶液をBjl: fl′
+lヒンに入ビンシ」−記のγ線強度を測定り′れぽ、
(3)式よりウラン−235邑を求めることができる。
結局、ウラン溶液中のウラン濃縮1良Eは、ウラン溶液
133中のウラン−23573■とウラン濃度ρ(それ
ぞれ(1)、(3)式から求めることができる)の比7
3日ら次式により求めることが【゛きる。
E(%) = (y/ρ)X100   ・・・(4)
〔実施例〕 次に本発明の実施例について述べる。試才]1として、
ウラン濃度もウラン澗縮痘もそれぞれ異なる3種のウラ
ン溶液を用意し、ズ51図に水工1如き装置6を試作し
て測定を行なった。測定系電子装置mとしては、増幅器
、波高分析2jj、]ンビコークq9からなるものを使
用した。本発明において測定11・1間はそれぞれ50
分間である。
試わ1のウラン濃度は化学分析により、またウラン)1
0縮■αは’fi 、iTi分析によりそれぞれ別途正
r、1cな値を測定して、15き、各2回にわたって行
なつlζ本発明による測定値と比較し、1偏差を求めた
測定結果を第1表に示J0 第1表 妓 2回の測定値 第4図は、上記測定結果に見づさ・横軸1こ試料のウラ
ン淵縮度の(1昂分析値を、縦軸に本発明方法による測
定116と貿fii分)lRf的とのihlΔZ(%)
を示?Iものである。質量分析11C1との隔九では平
均10%以内となっている。
本発明は上記のような4回成のウラン11:3縮度の測
定方法であるから、従来の質量分析計ににる測定部間(
5〜611jt間)に比べて大幅な短線化(約111’
i間)が可能であり、特殊な前処理作業・19機器に対
J−る2ノミ紬性を必要としないため、簡便で、かつ人
為的誤差が生じないし、試料中のウラン自己吸収率によ
る影響を補正して;);す定精庶を向上させることがで
きる。史に、装置としてもコバル1〜−j)7どウラン
ホイルとを組合Vた密封線源を使用しているため小型化
しうるし、コバルト−j)7は半減期が艮い(270日
)ため、線源の交換頻度を年間約1回位【こ誠ら1こと
かでさ、保守1°4V哩が容易であるほか、自動試ij
l交換器等を組込んでの連続測定や全自動測定宿す可能
となるなど、本発明の効果は極めて犬でdりる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る測定装置の一実施例を示す縦断面
図、第2図はそれに用いる鉛製遮蔽体の平i74図、第
3図はシャッタの一部破…i斜視図、第4図は測定結果
の一例を示づ一グラフである。 1・・・鉛′KJJ遮蔽体、3・・・コバルl−57j
七月線源、4・・・ウランホイル、5・・・負′)1の
二]リメータ、6・・・シIIツタ、7・・・第2の″
□:1リメータ、8・・・試料ビン、9・・・第3のコ
リメータ、10・・・高純度ゲルマニ、ウム検出器、1
2・・・9濃縮ウランヌタル、13・・・ウラン溶液。 特許出願人   動力か・核燃別聞光事呆団代  理 
 人       je、   ll5)   行  
雄1司            73ヒ  ν己   
   イ′!!同      荒 木 友之助 第3図 ′;:4 図 千U1ネ市■三臥](自発)(5 昭和59年6月 60 1、事件の表示 昭和58<T持晶′1頭第647505”32、発明の
名称 ウラン(1)コ稲麻測定方法及0ての装置3、補正をづ
る古 事件どのjジj係 ’l 、f許出願人住所 111京
都港区赤坂1丁目9番13号名称  動ノLl )、i
e−杉)然Ji3i聞介事局“、団/19代理人〒10
4 住所 東京都中火1区銀P1う8丁1」12番1と5B
5.7+Ii正の女J”sミ 明細書の発明の訂細イf説明の!IMI(1)明畑−(
第4真第2行l−11−約10回りどあるを、「約5回
−;と補正!、lう i2)  lri] >了317′I頁第1表中の最上
段組2)閏の1ウラン濶、f宿]とあるを、[゛−クラ
ン::i+! 、!哀二とン市正・j−る。 (3′J′  同u)14貞第゛1表中のり−[・L、
jj、第1)(閉の「< 16.0%)」どあるを、’
、’ (−t6.0eHへ)jと補正りる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ウランの吸収端エネルギより低いニ[ネルギの光子
    と高いエネルギの光子をウランを含む試料に照則し、試
    お[を透過した各光子の強度から試料中のウラン濃度を
    求め、試別中のウラン−2計のα崩壊に伴って試わ1か
    ら放出されるγ線の測定値および前記ウラン濃度からウ
    ラン淵縮庶を求める方法において、試わ1に照射する光
    子をコバル1〜密封綜源及びそれとウランホイルどの相
    互作用によって生じさμるとと乙に、試別の近傍に高濃
    縮ウランメタルを前説して、前記試別が無い時の強度と
    右る口νの強度の比から試別中のγ線の自己吸収率を求
    めて前記γ線の測定値を補正することを特徴とするウラ
    ン)閂縮度測定方法。 2、二1パルl−−’、+7密月線源及びその前面に設
    けられているウランホイルとからなる線源と、前記線源
    からの光路に治って配設己れたコリメータ系、シャッタ
    放1jij、ウラン溶液が入れられる着脱自在の試料ビ
    ン、高純度ゲルマニウム検出器と、波高分々11器をa
    む測定系電子装置とからなり、前記シャッタ(戊禍は、
    前記線源からの光子を任意に開閉自在(パあるとともに
    、シャッタの一部に高iU縮ウランメタルが埋設されて
    、そこからIJ文出されるγ線が前記シャッタの移動に
    より前記試別に向(プて照Qjされるようにしたことを
    1S徴とJるウラン1111縮度1す1j定装置。
JP58064750A 1983-04-13 1983-04-13 ウラン濃縮度測定方法及びその装置 Granted JPS59200982A (ja)

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JP58064750A JPS59200982A (ja) 1983-04-13 1983-04-13 ウラン濃縮度測定方法及びその装置
US06/590,915 US4629600A (en) 1983-04-13 1984-03-15 Method and apparatus for measuring uranium isotope enrichment
GB08409141A GB2138129B (en) 1983-04-13 1984-04-09 Method and apparatus for measuring uranium isotope enrichment
FR8405800A FR2544497B1 (fr) 1983-04-13 1984-04-12 Procede et appareil pour la mesure de l'enrichissement de l'uranium en isotope
DE3413844A DE3413844C2 (de) 1983-04-13 1984-04-12 Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Uranisotopanreicherung

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