JPS59120968A - 部品テスト用フイクスチユア装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の技術分野 本発明は、プリント基板又はプリント板ユニット等の被
測定物の導通又は機能テストを行う部品テスト用フイク
スチュア装置に関し、特にフイクスチュアにり“リッド
状に配置して多数植え付けられたコンタクトプローブを
被測定物の端子部の位置に対応して適宜選択して接触さ
せ複数種類の被測定物に対して柔軟に対応できる部品テ
スト用フイクスチュア装置に関する。

（２）　従来技術と問題点 従来のこの種の部品テスト用フイクスチュア装置は、第
１図に示すように、台板状のフイクスチュア１の下面側
から上面側に向けてコンタクトプローブ２を植え付け、
このフイクスチュア１の上面側に被測定物たるプリント
板ユニット３を載置し、上記フイクスチュア１のコンタ
クトグローブ２の先端をプリント板ユニット３の測定箇
所の端子部に押圧して、導通テスト又は■Ｃ４、抵抗５
等の機能テストを行っていた。

しかしこの場合、フイクスチュア１のコンタクトグロー
ブ２の植設位置は、テストすべきブ１ノント板ユニット
３の端子部の位置に応じて固定されており、一つの種類
のプリント板ユニット３に対して一つのフイクスチュア
が対応付けられていた。したがって、他の種類のブ１ノ
ント板ユニット３をテストするには、それに対応したコ
ンタクトグローブの植設位置を有するフイクスチュアと
取り替えて測定し々ければならな力＼つだ。すなわち、
テストすべきプリント板ユニット又はプリント基板の種
類に応じてそれぞれ専用のフイクスチュアを多数必要と
し、コスト高と々るものであった。

（３）　　発明の目的 本発明は上記の問題点を解消するためになされたもので
、フイクスチュアにグリッド状に配置して多数植え付け
られたコンタクドブローフ′を被測定物の端子部の位置
に対応して適宜選択して接触させ複数棟類の被測定物に
対して柔軟に対応できる部品テスト用フィクスチュア装
置を提供することを目的とする。

（４）　発明の構成 そして上記の目的は本発明によれば、被測定物を載置す
るフイクスチュアに多数のコンタクトグローブを所定間
隔でグリッド状に配列して植え付け、このフイクスチュ
アの下面側には上記被測定物の端子部の配置に対応して
接触パッドが形成されると共にこの接触パッドに信号出
入用ワイヤが布線された個別カードをセットし、この個
別カード自身に被測定物の端子部の配置に逆対応してコ
ン−タクトグローブの下端部が貫通する選択孔を穿設し
て選択板とするか、又は被測定物の端子部の配置に対応
してコンタクトプローブの先端部が貫通する選択孔を穿
設した選択板を該被測定物の下面側にセットし、この選
択板の選択孔の配置によシ上記多数のコンタクトグロー
ブのうち被測定物の端子部の配置に対応するコンタクト
プローブのみを選択して上記端子部に抑圧接触させるよ
うにしたことを特徴とする部品テスト用フイクスチュア
装置を提供することによって達成される。

（５）　　発明の実施例 以下、本発明の実施例を重付図面に基いて詳細に説明す
る。

第２図は本発明による部品テスト用フイクスチュア装置
を示す断面説明図である。この装置の上面部には平板状
に形成されたフイクスチュア１１が設けられている。こ
のフイクスチュア１１は、被測定物たるプリント板ユニ
ット１２又はプリント基板を載置するもので、その平面
部には多数の植付孔１３．１３・・・・・・が所定の間
隔（例えば２．５４ｍｍ間隔）でグリッド状に配列して
貫通穿設されている。そして、上記植付孔１３．１３・
・・・・・にはそれぞれ一本のコンタクトグローブ１４
が下向きに付勢され且つ上方向に摺動可能に植え付けら
れている。したがって、上記フイクスチュア１１の平面
部には、多数のコンタクトグローブ１４．１４・・・・
・・が所定間隔でグリッド状に配列して植え付けられて
いることとなる。このコンタクトグローブ１４は、先端
部に上記プリント板ユニット１２のＩＣｌ３等の端子部
１６．１６・・・・・・と接触するチップ１Ｔを有し、
下端部には、後述の個別カード１９の接触パッド２０と
接触する接触端１８を有している。

上記フイクスチュア１１の下面側には、プリント板化さ
れた個別カード１９が被測定物たるプリント板ユニット
１２０種類に応じてセットされる。この個別カード１９
は、テストすべきプリント板ユニット１２の端子部１６
の配置に応じて上記フイクスチュア１１の多数のコンタ
クトグローブ１４．１４・・・・・・のうちどのコンタ
クトグローブ１４を上記端子部１６に接触させるかを選
択するもので、その板面には上記プリン１ト板ユニツト
１２の端子部１６の配置に応じて接触バンド２０が形成
されると共にこの接触パッド２０にはそれぞれ信号出入
用ワイヤ２１がワイヤボンディング方式で布線され、且
つ上記プリント板ユニット１２の端子ｆＪ１６の無い位
置（逆対応の位置）にはコンタクトグローブ１４の下端
部が貫通する選択孔２２が穿設されている。

上記信号出入用ワイヤ２１の他端は、上記個別カード１
９の一側部に設けられたスルーホーられたバッド２４と
導通されている。このバッド２４には、テストヘッドコ
ネクタ２５のプローブ２６の一端部２Ｔが抑圧接触され
、このグローブ２６の他端部２８はシステムコネクタ２
９に接触して図示外のテスターへテスト信号を出入する
ようになっている。

次に、このように構成された部品テスト用フイクスチュ
ア装置の使用について説明する。まス、フイクスチュア
１１の下面側にこれからテストすべきプリント板ユニッ
ト１２の端子部１６の配置に逆対応して選択孔２２．２
２・・・・・・が穿設された個別カード１９をセットし
、上記フィクスチュア１１の上面側のシール３０．３０
の部分には被測定物たるプリント板ユニット１２を載置
する。この状態で吸気口３１がら空気を抜いてシール３
０の内部を負圧とすると、プリント板ユニット１２の上
面及び個別カード１９の下面からそれぞれ矢印Ａ、Ｂの
ように正圧がかかシ、プリント板ユニット１２がフイク
スチュア１１の上面側に固定されると共に個別カード１
９がフイクスチュア１１の下面側に押し上けられる。こ
のとき、選択孔２２があけられた位置に植え付けられた
コンタクトグローブ１４はその１まの状態で動かないが
、接触バッド２０が形成された位置に該当するコンタク
トグローブ１４はその下端の接触端１８が上記接触バッ
ド２０に接触すると共に押し上げられ、その結果コンタ
クトグローブ１４の全体が上方に摺動して押し上けられ
、先端のチップ１７がプリン。

ト板ユニット１２の端子部１６に抑圧接触される。この
ようにして、フイクスチュア１１に多数植え付けられた
コンタクトプローブ１４．１４・・・・・・のうち、テ
ストすべきプリント板ユニット１２の端子部１６の配置
に対応するコンタクトグローブ１４だけを選択して、上
記端子部１６に抑圧接触させることができる。このよう
な状態で図示外のテスターからシステムコネクタ２９及
びテストへラドコネクタ２５を介してテスト信号を出入
して、被測定物たるプリント板ユニット１２の導通又は
機能テストを行う。別の種類のプリント板ユニット１２
をテストするときは、当該プリント板ユニット１２の端
子部１６の配置に逆対応して選択孔２２が穿設された別
の個別カード１９につけ替えればよい。

第３図は本発明の他の実施例を示す断面説明図である。

上記第２図の実施例では、個別カード１９に直接選択孔
２２を穿設して個別カード１９自身をもって選択板を兼
ねさせたものであるが、第３図の実施例では個別カード
１９には選択孔２２をあけず個別カード１９とは別個に
選択板３２を用意し、この選択板３２を被測定物１２の
下面側にセットしたものである。この選択板３２も上記
と同様に、テストすべきプリント板ユニット１２の端子
部１６の配置に応じて上記フイクスチュア１１の多数の
コンタクトグローブ１４．１４・・・・・・のうちどの
コンタクトグローブ１４を上記端子部１６に接触させる
かを選択するもので、その板面には上記プリント板ユニ
ット１２の端子部１６の配置に応じてコンタクトプロー
ブ１４の先端部が貫通ずる選択孔３３が穿設されている
。したかつて、テスト時において吸気口３１がら空気を
抜いてシール３０の内部を負圧とすると、上記と同様に
して、プリント板ユニット１２がフイクスチュア１１の
上面側に固定されると共に個別カード１９がフィクスチ
ュア１１の下面側に押し上けられ、該フイクスチュア１
１に植え付けられたコンタクトグローブ１４．１４・−
・・・・はすべて上記個別カード１９によって押し上け
られる。しかし、谷コンタクトグローブ１４の先端部は
、選択板３２の介在によって選択孔３３が形成された位
置のコンタクトプローブ１４のみの先端チップ１７が該
選択孔３３を貫通してプリント板ユニット１２の端子部
１６に押圧接触される。他の部位のコンタクトグローブ
１４のチップ１Ｔは上記選択板３２に当接してやや収縮
状態とされる。このようにして、フイクスチュア１１に
多数植え付けられたコンタクトグローブ１４．１４・・
・・・・のうち、テストすべきプリント板ユニット１２
の端子部１６の配置に対応するコンタクトグローブ１４
だけを選択して、上記端子部１６に抑圧接触させること
ができる。この実施例においては、個別カード１９に直
接選択孔を穿設しないでよいので、個別カード１９の簡
易化を図ることができる。なお、個別カード１９の接触
ハツト２０はコンタクトグローブ１４の位置に対応して
グリッド状に配列しであるが、該接触パッド２０への信
号出入用ワイヤ２１の布線は、テストすべきプリント板
ユニット１２の端子部１６の配置に応じてその箇所だけ
に行なえばよい。１だ、個別カード１９と選択板３２と
は、それぞれに同一番号又は信号をつける等して一対の
ものとして管理するのが望ましい。

（６ン　発明の効果 本発明は以上のように構成子れたので、フイクスチュア
１１にグリッド状に配置して多数殖え付けられたコンタ
クトグローブ１４．１４・・・・・・のうち、テストす
べき被測定物たるプリント板ユニット１２の端子部−１
６の配置に対応するコンタクトグローブ１４だけを選択
して、上記端子部１６に押圧接触させることができる。

したがって、選択板を適宜つけ替えるだけで複数棟類の
被測定物に対して柔軟に対応することができる。このこ
とから、従来のように被測定物の種類の数だけ専用のフ
イクスチュアを多数用意することを不要とし、コストの
低廉化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

椰１図は従来の部品テスト用フイクスチュア装置を示す
断面説明図、第２図は本発明による部品テスト用フイク
スチュア装置を示す断面説明図、第３図は他の実施例を
示す断面説明図である。 １１・−・・−・フイクスチュア １２・・・・・・プリント板ユニット（被測定物）１４
・・・・・・コンタクトグローブ １６・・・・・・端子部 １１・・・・・・先端部のチップ １８・・・・・・下端部の接触端 １９・・・・・・個別カード ２０・−・・・・接触パッド ２１・・・・・・信号出入用ワイヤ ２２．３３・・・・・・選択孔 ３２・・・・・・選択板 出願人　富士通株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定物を載置するフイクスチュアに多数のコンタクト
   プローブを所定間隔でクリッド状に配列して植え付け、
   このフイクスチュアの下面側には上記被測定物の端子部
   の配置に対応して接触パッドが形成されると共にこの接
   触パッドに信号出入用ワイヤが布線された個別カードを
   セットし、この個別カード自身に被測定物の端子部の配
   置に逆対応してコンタクトグローブの下端部が貫通する
   選択孔を穿設して選択板とするか、又は被測定物の端子
   部の配置に対応してコンタクトグローブの先端部が貫通
   する選択孔を穿設した選択板を該被測定物の下面側にセ
   ットシ、この選択板の選択孔の配置により上記多数のコ
   ンタクトグローブのうち被測定物の端子部の配置に対応
   するコンタクトグローブのみを選択して上記端子部に抑
   圧接触させるようにしたことを特徴とする部品テスト用
   フイクスチュア装置。