JPS589330A - Bonding method - Google Patents
Bonding methodInfo
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- JPS589330A JPS589330A JP56106505A JP10650581A JPS589330A JP S589330 A JPS589330 A JP S589330A JP 56106505 A JP56106505 A JP 56106505A JP 10650581 A JP10650581 A JP 10650581A JP S589330 A JPS589330 A JP S589330A
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- Pending
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- H10W72/0711—
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- H10W72/01551—
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- H10W72/07141—
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- H10W72/075—
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- H10W72/07511—
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- H10W72/07521—
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- H10W72/07533—
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- H10W72/536—
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- H10W72/5363—
-
- H10W90/756—
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 本実E14は、−/ディンダ方法の改良に関する。[Detailed description of the invention] This work E14 relates to improvement of the -/Dinda method.
従来、半導体装置を構成する半導体チップとインナーリ
ード間に架設されるがンディンダ線は1例えば第1図(
4)乃至同図(qに示す如く自動−ンディンダによって
行われている。先ず、同図(A)に示す如く、加熱台1
上にリードフレーム2を介して載置された半導体チッf
8c)アル電ニウム電極等で形成され&I[]l#Pン
ディンダ領域1aの上方にキヤc′yリーツール4會配
置し。Conventionally, wires are installed between a semiconductor chip and inner leads constituting a semiconductor device.
4) to the same figure (q), this is done by automatic heating.
A semiconductor chip f placed on top via a lead frame 2
8c) Four carrier tools are arranged above the &I[]l#P endinder region 1a formed of an aluminum electrode or the like.
キャピラリーツール4の上方のタランプ5の把持力を調
節して、先端部に一−ル#aを有するがンディンダsg
t第1#ンティンダ領域J&に供給し、−一ルーンディ
ンダを施す0次いで。By adjusting the gripping force of the ramp 5 above the capillary tool 4, it is possible to
t 1st # ntinda area J & 0 then -1 runndinda is applied.
同図(B)に示す如く、キャビツリーツール4の先端部
から一ンーインダIII#を押し出しながらキャピラリ
ーツール4を第2−ンディンダ領域1aで′I)、i1
加熱台1上のインナーリード間上に移送すゐ所■ルービ
ンダ管行う、そして、キャピラリーツール4が82がン
ティンダ領域1a土に来たところで、これを押し下げて
メンrインダ線6の所定部分を熱圧着せしめ、スディッ
テがンデイングt−施す、然る後、キャビ2リ−ツール
4及びり2ンflfよ万に引き上げ、第2Nンデイング
領域7a以降のがンディンダ線6t−切断し、キャピラ
リーツール4の先端部に導出したゲンディングIIi!
6の部分を水素/!1.ニナ8で加熱しゴール6b′f
:形成する。再びキャピラリーツール4t−半導体チ、
グSの新しい纂IIンディング領域に移してが−ルゲン
ディングを施し、以下、同様゛°メ操作を繰シ返して牛
導体チ、グSとインナーリード7間にIンディングls
−の架設を行っている。As shown in the same figure (B), the capillary tool 4 is pushed out from the tip of the cavity tree tool 4 in the second indinder region 1a'I), i1
The capillary tool 4 is transferred to the upper space between the inner leads on the heating table 1. When the capillary tool 4 reaches the inner lead area 1a, the capillary tool 4 is pushed down to heat a predetermined part of the inner lead wire 6. After crimping, the suditte performs the winding process. Then, the capillary tool 4 and the winding wire 6t are pulled up to 10,000 degrees, and the end wire 6t from the second N winding area 7a is cut, and the end of the capillary tool 4 is cut. Gending IIi introduced to the department!
Part 6 is hydrogen/! 1. Heat with Nina 8 and goal 6b'f
:Form. Capillary tool 4t-semiconductor chip again,
Move the conductor to the new lead II binding area of the lead S, and then repeat the same operation to install the lead I between the cow conductor CH, the lead S and the inner lead 7.
− is being constructed.
しかしながら、スティッW=zンディングによって第2
がンディング領域7aに取付けられた一ツール4を引き
上げると、第2図に示す如く、切断してがンディンダ1
m6FX、、クラング5とキャピラリーツール4との間
で弛んだ状態となり、その先端部はキャピラリーツール
4内に入シ込んで収納される。このようにがンディンダ
II6がキャピラリーツール4内にある良め、水素バー
ナ8でその先端部に一一ルを形成することができない、
そO結果1手作業でクランプ5とキャピラリーツール4
間に弛んだがンディング纏6をキャビ2リーツール4か
ら押し出してI−ル6aの形成をする必要があ夛、極め
て作業性が悪い問題があった。However, the second
As shown in FIG.
m6FX is in a slack state between the clang 5 and the capillary tool 4, and its tip is inserted into the capillary tool 4 and stored. In this way, since the Endinda II 6 is inside the capillary tool 4, it is not possible to form a hole at its tip with the hydrogen burner 8.
Result 1 Manually clamp 5 and capillary tool 4
However, it was necessary to push out the loose binding 6 from the cavity tool 4 to form the I-rule 6a, which caused the problem of extremely poor workability.
本発明は、かかる点に鑑みてなされ良もので。The present invention has been made in view of this point.
スティ、チぎンディンダされた一ンrイング部以降の一
ンディンダ線に亀裂等の欠陥が生じていても速やかにI
−ル形成を行ってがンディングの作業性を同上させるこ
とができる一ンrインダ方法を見出したものである。Even if there is a defect such as a crack in the one-in-board wire after the one-in-ring part where the stay or chiging is done, immediately inspect it.
- We have discovered a one-round inder method that can improve the workability of bonding by forming a hole.
以下1本発明の実施例について説明する。An embodiment of the present invention will be described below.
先ず、第1図(4)に示す如く、キャピラリーツール4
から導出された先端部に一−ル+iaf有するがンディ
ンダillを、その上方のりランプ5の把持力を調節し
てキャビツリーツール4 、+>−ら押し出し、加熱台
1上にリードフレーム1を介して載置された半導体チッ
プ3の纂1−ンディング領域s島に一一ルゲンディング
せしめる。First, as shown in FIG. 1 (4), the capillary tool 4 is
Adjust the gripping force of the lamp 5 to push out the cavity tree tool 4, +>-, onto the heating table 1 via the lead frame 1. The semiconductor chip 3 placed on the semiconductor chip 3 is placed on the leading edge area S island.
次いで、同図(層に示す如く、キャピラリーツール4及
びクランプ5を第2がンディング領域11であるインナ
ーリード1の上方に移送し、キャピラリーツール4を押
し下げて第2がンディング領域7aにスティッテIンデ
ィングをmす。次いで、キャビ2リーツール4及びクラ
ンプ5を所定位置まで引き上げた後、Iンディンダ*g
’を利用して第2ゲンデイング領域r1、第1ゲンデイ
ング領域Ja及び半導体チッ7”Jに通電を施し、スデ
ィッチゴンディングした部分以降のゲンディング線6の
部分に亀裂等の欠陥が生じているか否かを検査する。つ
壕シ、亀裂等の欠陥が一ンディング線eKあると、その
部分で電気抵抗が大きくなシ所足の検査電流が流れない
。その結果、次工程でIンディンダ線6の切断t−行う
と、がンディング線Cの先端部はキャビフリーツール4
内に入)込んだ状態とな仝。この九めがンディンダ#e
の先端部に一一ルを形成できないことが判る。Next, as shown in FIG. Next, after pulling up the cavity tool 4 and clamp 5 to the specified position,
' is used to energize the second gendering area r1, first gendering area Ja, and semiconductor chip 7''J, and is there a defect such as a crack in the gendering line 6 after the stitch-goned area? If there is a defect such as a hole or a crack in the binding wire eK, the electrical resistance is large in that part and the required test current will not flow.As a result, in the next process, the binding wire 6 When cutting t-, the tip of the cutting wire C is cut with the cavity free tool 4.
It is in a state of being stuck inside. This ninth ga ndinda #e
It can be seen that it is not possible to form a loop at the tip.
なお、キャピラリーツール4の先msから?ンディング
!I4が導出されていない場合□にが−ルの形成ができ
なくなるので、上述の如く通電試験によってキャビ2リ
ーツール4がら一ンディング線σが導出しなくなるかど
うかを判定しても良いし、或は、スティッチーンディン
ダ後にIンディング線IIを切断してから、切断されて
キャピラリーツール4から突出したぎンディンダ@6の
端部との間で電気トーチで放電を起ζさせて、確に一ン
ディンダIII#がキャ♂2り一ツール4から導出され
ているか否かを判断しても良い。この場合には、キャピ
ラリーツール4から一ンディング線Cが導出していると
放電が生じてが−ル6aの形成を行うことができる。In addition, from the tip of capillary tool 4 ms? Ending! If I4 is not derived, it will not be possible to form a groove in □, so it may be determined whether or not the binding line σ cannot be derived from the cavity 2 Lee tool 4 by conducting an energization test as described above, or After stitching, cut the I binding wire II, and then use an electric torch to generate a discharge between the cut end of the binding wire 6 that protrudes from the capillary tool 4, and ensure that the line is aligned. It may also be determined whether or not the endinder III# is derived from the library tool 4. In this case, if one binding wire C is led out from the capillary tool 4, discharge will occur and the wire 6a can be formed.
また、がンディンダM#がキャビ2リーツール4から導
出されていない場合には、放電は起きず、勿論が一ル#
魯の形成も行われない。Furthermore, if the gun and the cylinder M# are not derived from the cavity 2 Lee tool 4, no discharge will occur, and of course one loop # will not occur.
The formation of lu also does not take place.
然る後1通電試験の後、所定の電流が−ンデインタ!I
6に流れない場合には、lI2−ンディング領域7a以
降の一ンディング線#を切断すると、切断されたがンデ
ィング線6の先端部は第2図に示す如く、キャピラリー
ツール4内に入シ込んだ状態となる。また、電気トーチ
で放電が起きない場合にも同様の状態になっている。After that, after one energization test, the specified current is applied to the inverter! I
If the flow does not flow into the capillary tool 4, cut the first binding line #1 from the 2-nding area 7a onward. Although it was cut, the tip of the binding line 6 has entered the capillary tool 4 as shown in FIG. state. A similar situation occurs when no discharge occurs in the electric torch.
次に、第3図に示す如く、フラング5に例えば30 k
Hz程度の振動を与える。キャピラリー4が振動すると
クツ7グ5とキャビ2リーツール4間に弛んだ状態で収
納されて先端部がキャピラリーツール4内に入シ込んだ
一ンディング1716は、除々にキャピラリーツール4
からその先端部を導出する。Next, as shown in FIG.
Gives vibration of about Hz. When the capillary 4 vibrates, the capillary 1716, which is stored in a loose state between the shoe 7 and the cavity 2 tool 4 and whose tip has entered the capillary tool 4, gradually moves into the capillary tool 4.
Derive its tip from .
次いで、フラング5の振動によって用足の長さだけ一ン
ディング線Cの先端部がキャピラリーツール4から導出
したところで、第4図に示す如く1例えは水素バーナ8
でその先端部に?−ル6aを形成せしめる。Next, when the tip of the binding wire C is led out from the capillary tool 4 by the length of the arm due to the vibration of the flang 5, as shown in FIG.
And at the tip? - forming a rule 6a;
然る後、キャピラリーツール4f:半導体チツf3の新
しい第1がンrイング領域Jaに移動し、−一ルーンデ
ィングを施した後、@2dlンディンダ領域11でステ
ィ、?&ンディングを施し、以下、上述と同様の操作を
繰夛返す仁とにより、半導体チッ7’Jとインナーリー
ド7間のワイヤがンディンダを達成する。After that, the capillary tool 4f: the new first semiconductor chip f3 is moved to the running area Ja, -1 runding is performed, and then the new first one of the semiconductor chips f3 is moved to the 2dl ending area 11. Then, by repeating the same operations as described above, the wire between the semiconductor chip 7'J and the inner lead 7 achieves undinning.
このように、ステイフナが7デイング後に切断された一
ンディングS−の先端部がキャピラリーツール4から導
出されているか否かを検知し、導出されていない場合に
はキャピラリー4を振動させることによシ、確実にゲン
ディング@gの先端部をキャピラリーツール4から導出
させてI−ルを形成した後に1次のビンディング操作に
移行するので、手作業によるゲンディング線Iの押し出
し操作を不要にして、作業性上着しく同上させることが
できる。In this way, the stiffener detects whether or not the tip of the cut S- binding has been led out from the capillary tool 4 after seven days, and if it has not been led out, it is fixed by vibrating the capillary 4. , since the tip of the gendering @g is reliably led out from the capillary tool 4 to form the I-rule, the primary binding operation is started, so manual extrusion of the gendering line I is not necessary. It is possible to do the same as above for better workability.
以上説明した如く1本発明に係るがンダインダ方法によ
れば、ステイフナがンディングされた一ンディンダ部以
降の一ンディング線の部分に亀裂等の欠陥が生じていて
も、速やかにl−ル形成を行りて次工程のが一ルIンデ
ィングに移ることができるので、極めて作業性を同上さ
せることができるものである。As explained above, according to the binder method according to the present invention, even if a defect such as a crack occurs in the part of the binding line after the binder part where the stiffener is bonded, the l-ru can be formed immediately. Since the next process can be carried out in one run, the work efficiency can be greatly improved.
第1図(蜀乃至同図(Qは、−一ルーンデイングからス
テイフナがンデインダまでの一ンデイング操作を工程順
に示す説明図、第2図は、切断された一ンディンダ線の
先端部がキャピラリーツール内に入っている状態管示す
説明図、第3図は、クランfを振動させて一ンデイング
線を押し出している状態を示す説明図、第4図は、キャ
ピラリーツールから導出された一ンデ(ング線の先端部
にが一ルを形成している状態を示す説明図である。
1・・・加熱台、2・・・リードフレーム、3・・・牛
導体チ、!、Ja”・第1−ンデインダ領域、4・・・
キャピラリーツール、J−・・フラング、#・・・−ン
ディング線、Ca・・・−−ル、r・・・インナーリー
ド、1a・・・第2−ンデ43/ダ領域、8・・・水嵩
If−す。
(A) ’ii ’図 (B)j!3図
第4v4Figure 1 (Q) is an explanatory diagram showing the process order of the binding operation from -1 runding to stiffener binding. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a state in which the clamp f is vibrated to push out a binding wire, and FIG. It is an explanatory diagram showing a state in which a line is formed at the tip of the wire. 1... Heating table, 2... Lead frame, 3... Cattle conductor Chi, !, Ja" 1st - Ndeinda area, 4...
Capillary tool, J-...Flang, #...-Ending wire, Ca...-Rule, r...Inner lead, 1a...Second-end 43/da region, 8... Mizutake If-su. (A) Figure 'ii' (B) j! Figure 3
4th v4
Claims (1)
ィング領域にキャビツリーツールから一ンディング線を
供給してが−ルがンティンダを施す工程と、前記キャピ
ラリーツールtjl12Iンディング領域に移送して前
記−/ディンダ線の所定部分管熱圧着せしめるスティ、
チ一ンディンダを施す工程と、該@2−ンディンダ領域
以降の前記がンティンダat−切断する工程と。 切断された前記Iンディンダ線゛の先端部が前記キャピ
ラリーツールから導晶しているか否かt検知する工程と
、該検知信号に基づいて一記がンディング線を振動させ
て前記キャビツリーツールから導出せしめ、該導出部に
I−ルを形成する工程とを具備することを特徴とするI
ンディング方法。[Scope of Claims] A step of supplying a binding line from a cavity tree tool to the binding body 0IIl/landing area heated to a predetermined temperature, and applying a binding line to the binding area of the capillary tool tjl12I. and a predetermined portion of the Dinda wire to be heat-pressed and bonded;
a step of applying a binder; and a step of cutting at the binder after the @2-endinder region. a step of detecting whether or not the tip of the cut I-dinning wire is guided from the capillary tool; and based on the detection signal, one vibrates the ending wire to lead it out from the cavity-tree tool. and forming an I-rule in the lead-out portion.
landing method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56106505A JPS589330A (en) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | Bonding method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56106505A JPS589330A (en) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | Bonding method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS589330A true JPS589330A (en) | 1983-01-19 |
Family
ID=14435280
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56106505A Pending JPS589330A (en) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | Bonding method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589330A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5495667A (en) * | 1994-11-07 | 1996-03-05 | Micron Technology, Inc. | Method for forming contact pins for semiconductor dice and interconnects |
-
1981
- 1981-07-08 JP JP56106505A patent/JPS589330A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5495667A (en) * | 1994-11-07 | 1996-03-05 | Micron Technology, Inc. | Method for forming contact pins for semiconductor dice and interconnects |
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