[go: up one dir, main page]

JPS5868284A - Integrated storage circuit - Google Patents

Integrated storage circuit

Info

Publication number
JPS5868284A
JPS5868284A JP56166601A JP16660181A JPS5868284A JP S5868284 A JPS5868284 A JP S5868284A JP 56166601 A JP56166601 A JP 56166601A JP 16660181 A JP16660181 A JP 16660181A JP S5868284 A JPS5868284 A JP S5868284A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
circuit
word line
memory cells
lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56166601A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Takeya
武谷 健
Nobuaki Ieda
家田 信明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP56166601A priority Critical patent/JPS5868284A/en
Publication of JPS5868284A publication Critical patent/JPS5868284A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/04Arrangements for selecting an address in a digital store using a sequential addressing device, e.g. shift register, counter

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)

Abstract

PURPOSE:To perform high-speed successive reading and writing by arranging memory cells at intersections of word lines and bit lines, and providing a means of selecting the bit lines successively corresponding to the selection of the word lines. CONSTITUTION:In a memory array MA, memory cells MC are arranged at intersections of word lines WL and bit lines BL crossing at right angles. Successive specifying circuits SP1 and SP2 and a multiplexer circuit MUX are provided to select word lines successively, and bit lines are selected successively corresponding to said selection to connect memory cells to the outside in predetermined order. Consequently, input and output of information is speeded up and an input terminal for address specification is eliminated to obtain small-sized constitution.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は集積記憶回路に関し、さらに詳細には情報処理
装置や画像端末に有用な高速度の順次読出しあるいは順
次書込みが可能な集積記憶回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an integrated memory circuit, and more particularly to an integrated memory circuit capable of high-speed sequential reading or sequential writing useful for information processing devices and image terminals.

従来の集積記憶回路としては、いわゆるランダムアクセ
ス形が知られている。第1図に従来のランダムアクセス
形の集積記憶回路を示す。第1図において、MAはメモ
リアレイであり、互に直交している複数のワード線WL
と複数のピット線BLの交点にメモリセルMCが配置さ
れている。R■)はロウデコーダで、複数のワード線W
Lのうちの1本を選択する。MUXはマルチプレクサで
あり、複数のビット線BLのうちの1本をデータバス線
DBに接続する。C’Dはコラムデコーダで、マルチプ
レクサMUXにおいてデータバス線DBと接続を行なう
べきビット線BLを選択する。
As a conventional integrated memory circuit, a so-called random access type is known. FIG. 1 shows a conventional random access type integrated memory circuit. In FIG. 1, MA is a memory array, and a plurality of word lines WL are orthogonal to each other.
A memory cell MC is arranged at the intersection of and a plurality of pit lines BL. R■) is a row decoder that connects multiple word lines W
Select one of L. MUX is a multiplexer and connects one of the plurality of bit lines BL to the data bus line DB. C'D is a column decoder which selects the bit line BL to be connected to the data bus line DB in the multiplexer MUX.

外部から与えられるアドレス信号はロウデコーダRDお
よびコラムデコーダCDに供給される。
Address signals applied from the outside are supplied to row decoder RD and column decoder CD.

ロウデコーダR,Dに供給されるアドレス信号は複数の
ワード線WLのうちの1本を選択するために使用され、
選択されたワード線WLに接続された各メモリセルMC
はそれぞれのビット線BLヘデータを転送するか(読出
し)、またはビット線BI・からデータを転送される状
態(書込み)となる。
The address signal supplied to the row decoders R and D is used to select one of the plurality of word lines WL,
Each memory cell MC connected to the selected word line WL
transfers data to each bit line BL (read) or enters a state in which data is transferred from bit line BI (write).

コラムデコーダCDに供給されるアドレス信号は複数の
ビット線BLのうちの1本をデータバス線D B (−
電気的に接続するために使用される。こうしてアドレス
信号は全体としてメモリアレイMAのなかの1つのメモ
リセルMCを指定し、このメモリセルとデータバス線D
Bの間をデータ転送可能な状態とする。
The address signal supplied to the column decoder CD connects one of the plurality of bit lines BL to the data bus line D B (-
Used for electrical connections. In this way, the address signal as a whole specifies one memory cell MC in the memory array MA, and connects this memory cell to the data bus line D.
B makes data transfer possible.

このように従来の集積記憶回路によると、任意のメモリ
セルに対して情報の読出しや書込みができるが、1つの
情報を読み書きする毎にアドレス信号の入力と解読を伴
ない、従って、読出し時間や書込み時間を短かく゛でき
ない欠点がある。
In this way, according to conventional integrated memory circuits, information can be read and written to any memory cell, but each time one piece of information is read or written, an address signal is input and decoded, so the read time and The drawback is that the writing time cannot be shortened.

本発明の目的は情報の入出力を高速;−行なうことので
きる集積記憶回路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an integrated memory circuit that can input and output information at high speed.

しかして、本発明は多くの情報処理装置等では情報の入
出力が予め決まった順序であることに着目し、複数のワ
ード線およびビット線をj軟水選択する手段を設け、メ
モリセルを予め定めた順序で外部と接続することを特徴
とするものである。
Therefore, the present invention focuses on the fact that information is input and output in a predetermined order in many information processing devices, etc., and provides a means for soft selection of a plurality of word lines and bit lines, so that memory cells can be selected in a predetermined order. It is characterized by being connected to the outside in the following order.

以下、本発明の内容を図面を参照して詳細に説明する。Hereinafter, the contents of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第2図は本発明の第1の実施例を示す。第2図において
、メモリアレイMAは第1図の集積記憶回路と同様に、
互(二直交するワード線WLとビット線BLの交点にメ
モリセルMCが配置されている。SP、 、 8P2は
順次指定回路であり、MUXはマルチプレクサ回路であ
る。ここで、ワード線WLの数をN、ビット線の数をM
とし、メモリアレイMへにMN個のメモリセルMCが設
けられているとする。
FIG. 2 shows a first embodiment of the invention. In FIG. 2, the memory array MA is similar to the integrated storage circuit in FIG.
Memory cells MC are arranged at the intersections of two orthogonal word lines WL and bit lines BL.SP, , 8P2 is a sequential designation circuit, and MUX is a multiplexer circuit.Here, the number of word lines WL is is N, and the number of bit lines is M.
Assume that a memory array M is provided with MN memory cells MC.

順次指定回路SP1はN個の出力端子TO11,TO]
2・・・・・・TOINと1個のクロック入力端子T1
1を、具備しており、出力端子’ro11〜TOINは
各々ワード線W L E接続されており、クロック入力
端子T11に与えられるクロック信号φ1に同期して各
々のワード線WLを順次選択する。順次指定回路SP2
はビット線BLより1個多いM+1個の出力端子’t”
021 、 ’ro22・・・・・・TO2(M+−1
)と1個のクロック入力端子T■2を具備しており、該
出力端子のうち第1の出力端子T021はSPlの入力
端子T11に接続され、クロック信号φ1はSP2の第
1の出力端子TO21から出力されるように構成されて
いる。また第2.第3.・・・・・・第M+1のM個の
出力端子T022.TO23・・・・・・TO2CM+
1)はマルチプレクサ回路MUXに接続されている。マ
ルチプレクサ回路MUXでは順次指定回路SP2よりの
M個の信号がそれぞれビット線BLに1対1に対応され
′Cおり、順次指定回路SP2の第2〜第M+1の出力
端子よりの信号により、M個のビット線BLのうち1個
がデータバス線DBに電気的に接続される。
Sequential designation circuit SP1 has N output terminals TO11, TO]
2...TOIN and one clock input terminal T1
The output terminals 'ro11 to TOIN are each connected to the word line WLE, and each word line WL is sequentially selected in synchronization with the clock signal φ1 applied to the clock input terminal T11. Sequential designation circuit SP2
is M+1 output terminal 't' which is one more than bit line BL.
021, 'ro22...TO2(M+-1
) and one clock input terminal T2, the first output terminal T021 of which is connected to the input terminal T11 of SP1, and the clock signal φ1 is connected to the first output terminal TO21 of SP2. It is configured to be output from. Also second. Third. ...M+1st M output terminals T022. TO23...TO2CM+
1) is connected to a multiplexer circuit MUX. In the multiplexer circuit MUX, the M signals from the sequential designation circuit SP2 are in one-to-one correspondence with the bit lines BL, and the M signals are sequentially transmitted by the signals from the second to M+1 output terminals of the sequential designation circuit SP2. One of the bit lines BL is electrically connected to the data bus line DB.

次に取扱う電気信号を2値論理rlJ、rOJに対応さ
せて第2図の動作を説明する。順次指定回路sp1の出
力端子TChi(i=1〜N)の出力信号が「1」のと
き、その端子に接続されるワード線WLが選択されると
する。また、順次指定回路SP2の出力端子TOzj 
(J = 1〜M+1)の出力信号が「1」のとき、こ
の端子(二対応するビット線BLがデータバス線DBと
電気的に接続されるとする。
Next, the operation shown in FIG. 2 will be explained by associating the electric signals to be handled with binary logic rlJ and rOJ. It is assumed that when the output signal of the output terminal TChi (i=1 to N) of the sequential designation circuit sp1 is "1", the word line WL connected to that terminal is selected. In addition, the output terminal TOzz of the sequential designation circuit SP2
When the output signal of (J=1 to M+1) is "1", the bit line BL corresponding to this terminal (2) is electrically connected to the data bus line DB.

第3図は第2図を説明するタイムチャートである0第°
3図において、T11+T1.2・・・TIM、Tl(
M+])、T21+T22・・・・・・T2M+T2(
M+1)・・・・・・はそれぞれ動作の期間であり、’
I’llにおいてはφ1が「1」となり、順次指定回路
SP1の出力端子TO11が「1」となって、N個のう
ちのTOl】に対応する1個のワード線(第1のワード
線と呼ぶ)が「1」となり、第1のワード線に接続され
たすべ°Cのメモリセルに記憶されたデータが各々該メ
モリセル(二接線されたビット線に取り出される。Tl
lに続<T12においてφ1は「0」となるが、第1の
ワード線は依然として「1」に保たれるようにされてお
り、該期間においては順次指定回路SP2の第2の出力
端子TO22に対応するビット線がデータバス卿DBと
電気的に接続される。T12に続くT13においてはT
”+2と同様、第1のワード線は「1」であり、SF3
の次の第3の出力端子’t”023に対応するビット線
がデータバス線DBと電気的に接続される。
Figure 3 is a time chart explaining Figure 2.
In Figure 3, T11+T1.2...TIM, Tl(
M+]), T21+T22...T2M+T2(
M+1) ...... are the periods of operation, and '
In I'll, φ1 becomes "1", the output terminal TO11 of the designation circuit SP1 becomes "1", and one word line (first word line and Tl) becomes "1", and the data stored in all memory cells connected to the first word line are taken out to the respective memory cells (bit lines tangential to each other).
Although φ1 becomes "0" at <T12 following l, the first word line is still kept at "1", and during this period, the second output terminal TO22 of the designation circuit SP2 is sequentially The bit line corresponding to DB is electrically connected to the data bus DB. At T13 following T12, T
”+2, the first word line is “1” and SF3
The bit line corresponding to the next third output terminal 't''023 is electrically connected to the data bus line DB.

以下T14 + ’ris I・・・・・・T1(M+
1)の各期間において、各々のビット線が順次データバ
ス線DBに電気的に接続される。TI(M+1)に続<
T21においてはφ1が再び「1」となり、順次指定回
路SP1のTollはroJ、TOl2は「1」となる
ため、第1のワード線は[Ol、TOlz、、に対応す
る第2のワード線が「1」となり、第2のワード線に接
続されたすべてのメモリセルに記憶されたデータが各々
該メモリセルの接続されたピットmに取り出される。
Below T14 + 'ris I...T1(M+
In each period 1), each bit line is sequentially electrically connected to the data bus line DB. Following TI(M+1)<
At T21, φ1 becomes "1" again, and Toll of the designation circuit SP1 becomes roJ and TOl2 becomes "1", so the first word line becomes [Ol, TOlz, . "1", and the data stored in all the memory cells connected to the second word line are taken out to the pits m to which the memory cells are connected.

T21に続<T22 * T23+・・・・・・T2(
M+1)において、それぞれのビット線が順次データバ
ス線DBと電気的に接続される。データバス線DBの信
号は集積記憶回路の外部と入出力可能なように構成され
ている。
Following T21<T22 * T23+...T2(
M+1), each bit line is sequentially electrically connected to data bus line DB. The signals on the data bus line DB are configured to be able to be input/output to/from the outside of the integrated storage circuit.

このように、メモリアレイMAの行と列を順次に選択す
る機構を有することによって、すべてのメモリセルを順
次選択することができ、メモリセル指定のための外部信
号の入力や解読の時間が不必要であり、短時間にデータ
の入出力が可能になる。
As described above, by having a mechanism for sequentially selecting rows and columns of memory array MA, all memory cells can be selected sequentially, and there is no need to input or decode external signals for memory cell designation. This is necessary and enables data input/output in a short period of time.

第2図に示す実施例は、同一ワード線に接続されるメモ
リセルをすべて選択した後、次のワード線に接続される
メモリセルに処理を移す構成となっているが、メモリセ
ルがダイナミック形である場合には、そのリフレッシュ
時間間隔とクロック信号φ2の関係により、同一ワード
線に接続されるメモリセルM個のうちT個(LはMat
下の整数)だけの処理(データバス線と該メモリセルの
接続されるビット線の電気的接続)を行ない、次に上記
ワード線が再び選択された時(二上記メモリセルM個の
うち前回処理されないM−一個のなかの一個を処理する
ようにし、L回のワード線選択の後に該ワード線につな
がるすべてのメモリセルを処理するようにすれば、リフ
レッシュ時間間隔を適正にすることができる。
The embodiment shown in FIG. 2 has a configuration in which after all memory cells connected to the same word line are selected, processing is transferred to the memory cell connected to the next word line, but the memory cells are dynamic type. In this case, depending on the relationship between the refresh time interval and clock signal φ2, T out of M memory cells connected to the same word line (L is Mat
(lower integer) (electrical connection of the data bus line and the bit line to which the memory cell is connected), and then when the word line is selected again (2) By processing one out of M unprocessed memory cells and processing all memory cells connected to the word line after L word line selections, the refresh time interval can be made appropriate. .

また第2図に示す実施例では、すべてのビット線がMU
Xに接線されていたが、メモリセルとして11ランンス
タ形を用いた場合などには、2つのビット線を組とし、
同−組に属するビット線をセンス回路で結合し、MUX
には該2本のビット線のうち1本を接続するようにして
もよい。
Further, in the embodiment shown in FIG. 2, all bit lines are MU
Although it was tangential to
The bit lines belonging to the same group are connected by a sense circuit, and the MUX
One of the two bit lines may be connected to the bit line.

上記第2図の実施例においては、期間T]1rT21+
・・・・・・TNlのように、どのビット線もデータバ
ス線に電気的に接続されない期間が生じてしまう欠点が
ある。第4図はこの欠点を除去した第2の実施例である
。第4図の実施例はMを偶数として説明するにN個のワ
ード線とT個のビット線の交点にメモリセルを配置して
形成された2つのメモリセルアレイMA1、MA2と、
第2図の実施例のSP1と全く同じように入力端子より
入力されるクロック信号に同期してN個の出力端子にそ
れぞれ接続されたN個のワード線を順次選択するよう構
成された2つの順次指定回路5P11,5P12と、M
本のビット線のうち1本をデータバス線DBと電気的に
接続するためのマルチプレクサ回路MtJXと、M本の
ビット線のうちデータバス線DBと電気的接続をすべき
ビット線BLを順次に指定する順次指定回路SP′2と
により構成されている。順次指定回路8 pH,S P
、2はそれぞれN個の出力端子TOIIIIT0112
 + ””” TOIIN r TOl21 + TO
l22 + ””” TOl 2N及びそれぞれ1個の
入力端子TI]1.T■12を有し、順次指定回路SP
】1の出力端子TO111+・・・・・・TOIINは
メモリアレイMA1のN個のワード、IWLに、順次指
定回路5P12の出力端子TO+21・TO122パ°
°°°゛T012NはメモリアレイMN2のN個のワー
ド(4wLにそれぞれ接続されCいる。順次指定回路S
P′2はM個の出力端子TO’2.1 + TO’2.
2 +・・・・・・TO’2!、 M及び入力端子TI
′2を有し、TO′2,1.TO′2,2・・・・・・
TO2,M’  はマルチプレクサ回路MUXに接続さ
れており、M/2個の出力端子TO+TO2,2、・・
・To2.Mより出力される信号はMn2の7本のピッ
ト線と1対1に対応しており、他のτ個の出力端子TO
2、M/2+1.・・・To2.Mより出力される信号
はへINlのτ本のビットmと1対1に対応している。
In the embodiment shown in FIG. 2 above, the period T]1rT21+
. . . Like TN1, there is a drawback that there is a period in which no bit line is electrically connected to the data bus line. FIG. 4 shows a second embodiment that eliminates this drawback. The embodiment of FIG. 4 will be explained assuming that M is an even number. Two memory cell arrays MA1 and MA2 are formed by arranging memory cells at the intersections of N word lines and T bit lines.
Just like SP1 in the embodiment shown in FIG. 2, two Sequential designation circuits 5P11, 5P12 and M
A multiplexer circuit MtJX for electrically connecting one of the M bit lines to the data bus line DB, and a bit line BL to be electrically connected to the data bus line DB among the M bit lines in sequence. and a sequential designating circuit SP'2. Sequential designation circuit 8 pH, S P
, 2 are each N output terminals TOIIIT0112
+ “”” TOIIN r TOl21 + TO
l22 + """ TOl 2N and each one input terminal TI]1.T■12, sequentially specifying circuit SP
] Output terminal TO111+...TOIIN of memory array MA1 is sequentially connected to output terminals TO+21 and TO122 of designation circuit 5P12 to N words and IWL of memory array MA1.
°°°゛T012N is connected to N words (4wL) of memory array MN2, respectively. Sequential designation circuit S
P'2 is M output terminals TO'2.1 + TO'2.
2 +...TO'2! , M and input terminal TI
'2, and TO'2,1. TO'2,2...
TO2,M' is connected to the multiplexer circuit MUX, and M/2 output terminals TO+TO2,2,...
・To2. The signal output from M has a one-to-one correspondence with the seven pit lines of Mn2, and the signals output from the other τ output terminals TO
2, M/2+1. ...To2. The signal output from M has a one-to-one correspondence with the τ bits m of INl.

SP′2の出力端子のうち1つが論理値「1」となれば
それに対応するビット線BLがデータバス線DBに電気
的に接続されるように構成されており、TO’2.1は
マルチプレクサ回路MU父と同時にsp、lの入力端子
TIIIに、TO’2、M/2+1はMUXと同時にS
P+2の入力端子T112にそれぞれ接続されている。
The configuration is such that when one of the output terminals of SP'2 has a logical value of "1", the corresponding bit line BL is electrically connected to the data bus line DB, and TO'2.1 is connected to the multiplexer. At the same time as the circuit MU father, input terminals sp and l are connected to input terminals TIII, and TO'2 and M/2+1 are connected to input terminals S
They are respectively connected to the input terminals T112 of P+2.

順次指定回路5P11の入力端子Tl11に入力される
信号をφ11、順次指定回路5P12の入力端子T11
2に入力される信号をφ12とし、5P11,5P1z
、Sy2の入力端子、出力端子の信号の変化を第5図に
示す。クロック信号φ2によつて区切られる期間をTN
、 1においてはすでにT o12Nが「1」であり、
メモリアレイMA2の第Nのワード線が選択状態(=あ
り、TO゛2,1も「1」であり、メモリアレイ1〜4
A2の o’、1に対応するビット線(第1のビット線
)とデータバス、IIDBが電気的に接続された状態に
され、MA2の第Nのワード線と第1のビット線の交点
にあるメモリセルはデータバス線DBを通じて読み書き
できる状態になると同時に、TO′2,1の信号はφ1
1としてTIIIにも入力されており、5P11のTo
lllが「1」となり、Toll】に接続されているメ
モリアレイMへ1の第1のワード線が選択状態となる。
The signal input to the input terminal Tl11 of the sequential specification circuit 5P11 is input to φ11, and the signal input to the input terminal T11 of the sequential specification circuit 5P12 is input to the input terminal T11 of the sequential specification circuit 5P12.
The signal input to 2 is φ12, and 5P11, 5P1z
, Sy2's input terminal and output terminal are shown in FIG. 5. The period separated by clock signal φ2 is TN
, 1, T o12N is already “1”,
The Nth word line of memory array MA2 is in the selected state (= present, TO゛2,1 is also "1", and memory arrays 1 to 4
The bit line (first bit line) corresponding to o', 1 of A2 is electrically connected to the data bus, IIDB, and the Nth word line of MA2 and the first bit line are connected to each other. At the same time that a certain memory cell becomes ready for reading and writing through the data bus line DB, the signal of TO'2,1 becomes φ1.
It is also input to TIII as 1, and To of 5P11
Toll becomes "1", and the first word line of 1 to the memory array M connected to Toll] becomes selected.

TN、1に続くT’N、2においてはTO′2.2 +
TO111,TO12Nが「1」であり、データパス線
DBと電気的に接続されるメモリセルはMA2の第Nの
ワード線とTO’2.2に対応するビット線の交点のメ
モリセルである。このようにTN、1からTN,M/2
まではMA2の第Nのワード線に接続されているメモリ
セルが順次データバス線DBに電気的に接続されてゆき
、それと同時にMへ1の第1のワード線が選択状態にさ
れる。T′N、4+1においてはMA、のTO’2、4
+1に対応するビット線がデータパス線DBと電気的に
接続され、MAlの第1のワード線が選択されているの
で、該TO′2.子+1に対応するビット線と第1のワ
ード線の交点にあるメモリセルがデータバス線DBと電
気的に接続される。この時、TO’2.誓+1の信号は
φ12とし−CT112にも入力されているので、TO
12Nの信号が「0」となり、T O] 21の信号が
「1」となり、MN2の第Nのワード線が非選択、第1
のワード線が選択状態となる。
TN, T'N following 1, TO'2.2 + at 2
TO111 and TO12N are "1", and the memory cell electrically connected to the data path line DB is the memory cell at the intersection of the Nth word line of MA2 and the bit line corresponding to TO'2.2. like this from TN, 1 to TN, M/2
The memory cells previously connected to the Nth word line of MA2 are sequentially electrically connected to the data bus line DB, and at the same time, the first word line of M1 is brought into a selected state. T'N, 4+1, MA, TO'2, 4
The bit line corresponding to TO'2.+1 is electrically connected to the data path line DB and the first word line of MAl is selected. The memory cell at the intersection of the bit line corresponding to child +1 and the first word line is electrically connected to data bus line DB. At this time, TO'2. The +1 signal is set to φ12 and is also input to -CT112, so TO
The signal of 12N becomes "0", the signal of T O] 21 becomes "1", the Nth word line of MN2 is unselected, the first
The word line becomes selected.

以上説明したように、この第4図の実施例においては、
ワード線の選択を他のメモリアレイのデータの順次読出
し書込み動作中に行なうことができるので、データバス
線DBは常にどこかのメモリセルに電気的に接続されて
いる。メモリセルに1トランジスタ形を使った場合、メ
モリアレイMA、、MA2にセンス増幅回路を具備する
必要があるが、この場合には該センス増幅回路の動作も
他のメモリアレイのデータの順次読出し、書込み動作中
に行なうことができるので、本構成は特(二有効である
As explained above, in the embodiment shown in FIG.
Since word lines can be selected during sequential read/write operations of data in other memory arrays, data bus line DB is always electrically connected to some memory cell. When a one-transistor type memory cell is used, it is necessary to equip the memory arrays MA, MA2 with a sense amplifier circuit. This configuration is particularly effective because it can be performed during a write operation.

十記第4図の実施例は2つのメモリアレイMAI。The embodiment of FIG. 4 includes two memory arrays MAI.

MN2を具備している例であるが、3個以上のメモリア
レイでも同様の効果が期待できる。
Although this is an example in which MN2 is provided, the same effect can be expected with three or more memory arrays.

第6図は本発明の第3の実施例の構成を示したものであ
り、第4図の第2の実施例に第2のマルチプレクサ回路
MUX’を付加した構成例である。
FIG. 6 shows the configuration of a third embodiment of the present invention, which is an example of the configuration in which a second multiplexer circuit MUX' is added to the second embodiment of FIG. 4.

M U X’はメモリアレイI’t4A1及びMへ2の
ビットmBLのうちの1本を第2のデータ・くス線D 
B’に電気的に接続することができる構成となっており
、第2のデータバス線D B’に接続すべきビット線は
順次指定回路SP’2の出力信号で決定される。マルチ
プレクサ回路M U X’はMUXと全く同じ構成であ
るが、SP′2の出力信号の入力が異なり、MUXにお
いてはTO’2.1、TO’2.2、・・・TO’2M
/2からの信号がMA2の第1.第2.・・・・・・第
一のビット線にそれぞれ対応させて入力され、TO’2
.4+t + TO’2. +2 。
M U X' connects one of the two bits mBL to the memory arrays I't4A1 and
The bit line to be connected to the second data bus line DB' is sequentially determined by the output signal of the designation circuit SP'2. The multiplexer circuit MUX' has exactly the same configuration as the MUX, but the input of the output signal of SP'2 is different;
The signal from MA2's 1st. Second.・・・・・・Input corresponding to the first bit line, TO'2
.. 4+t+TO'2. +2.

・・・・・・TO’2.Mからの信号がMAlの第1.
第2.・・・第2のビット線にそれぞれ対応させて入力
され゛ているのに対し、MUX’におしへてはTO′2
 、1 s TO’2 、2・・・・・・To’2.4
 ’からの信号がMA2の第2.第3゜・・・・・・第
2のビット線にそれぞれ対応させて入力され、TO’2
M/2+、TO’2.M/2+1.・・・・・・TO’
2.M−1からの信号がMA、の第1.第2.・・・・
・・実子のビット線にそれぞれ対応されて入力され、T
O’2.Mからの信号はMへ2の第1のビット線に対応
させて入力されている。SP′2,5P11,5P12
の出力端子の信号は本実施例の場合も第5図のタイミン
グ(二従い、期間T’N、1においては第4図の実施例
の場合と同様、DBとMA2の第1のビット線がMUX
によって電気的に接続されるが、それと同時にM U 
X’によってDB’とMN2の第2のビット線も電気的
に接続される。他の期間においても、次(−続く期間に
おいてDBに電気的に接続されるべきビット線がM U
 X’によってDB’iに電気的に接続される。例えば
DBに書込み回路、D B’に読出し回路を接続し、M
UX’及びDB’を通じて読出しだけを、MUX及びD
Bを通じて書込みだけを行なうようにすれば、φ2の1
周期で定義されるある期間で読出されたデータを外部の
情報処理回路等で変更して、上記期間に続く期間に書込
むことが可能となり、データの処理の高速化、簡便化が
図れる。
...TO'2. The signal from M is the first .
Second. ...While inputs are made corresponding to the second bit lines, TO'2 is input to MUX'.
, 1 s TO'2 , 2...To'2.4
'The signal from MA2's 2nd. 3rd゜...Input corresponding to the second bit line, TO'2
M/2+, TO'2. M/2+1.・・・・・・TO'
2. The signal from M-1 is the first . Second.・・・・・・
...is input corresponding to the bit line of the real child, and T
O'2. The signal from M is input to M in correspondence with the two first bit lines. SP'2, 5P11, 5P12
In this embodiment as well, the signal at the output terminal of MUX
is electrically connected by, but at the same time, M U
DB' and the second bit line of MN2 are also electrically connected by X'. Also in other periods, the bit line to be electrically connected to DB in the next (- succeeding period) is M U
It is electrically connected to DB'i by X'. For example, connect a write circuit to DB, a read circuit to DB',
Only read through UX' and DB', MUX and D
If only writing is done through B, 1 of φ2
Data read out in a certain period defined by the cycle can be changed by an external information processing circuit or the like and written in a period following the above period, thereby speeding up and simplifying data processing.

第6図の実施例において、D B’が接続されるビット
線は次にDBが接続されるビット線であり、D B’の
接続はDBの接続に対してφ2の1周期だけ先行してい
るが、1周期以上先行させてもよい。
In the embodiment of FIG. 6, the bit line to which D B' is connected is the bit line to which DB is connected next, and the connection of D B' precedes the connection of DB by one cycle of φ2. However, it may be preceded by one cycle or more.

また、第6図の実施例では一つの順次指定回路SP′2
をMUX、MUX’の2つのマルチプレクサの制御に使
用したが、それぞれのマルチプレクサに対応させて順次
指定回路を設けてもよい。
Further, in the embodiment of FIG. 6, one sequential designation circuit SP'2
is used to control two multiplexers, MUX and MUX', but designation circuits may be sequentially provided corresponding to each multiplexer.

以上、第1、第2、第3の実施例において、順次指定回
路の初期設定機構は省略されているが、外部端子により
順次指定回路の状態の全体又は一部分を制御できるよう
にすると有効である。第7図は5P12に初期設定回路
としてのリセット回路几が接続された例を示したもので
ある。また、順次指定回路の状態を表わす信号、例えば
第1の実施例のTOllの信号を外部に出力することも
集積記憶回路の制御に有用である。
As described above, in the first, second, and third embodiments, the initial setting mechanism of the sequentially designated circuits is omitted, but it is effective if the state of the sequentially designated circuits can be controlled in whole or in part by external terminals. . FIG. 7 shows an example in which a reset circuit as an initial setting circuit is connected to 5P12. Further, it is also useful for controlling the integrated memory circuit to sequentially output a signal representing the state of the designation circuit, for example, the TOll signal in the first embodiment, to the outside.

以上説明したごとく、本発明によれば、情報の入出力を
高速に行なうことができる。さらにはアドレスを指定す
るための入力端子を省略することもでき、集積記憶回路
の小形化にも役立つ。
As described above, according to the present invention, information can be input and output at high speed. Furthermore, an input terminal for specifying an address can be omitted, which is useful for downsizing the integrated memory circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来例を示す図、第2図は本発明の一実施例を
示す図、第3図は第2図を説明するためのタイムチャー
ト、第4図は本発明の他の実施例を示す図、第5図は第
4図を説明するためのタイムチャート、第6図、第7図
は本発明のさらに他の実施例を示す図である。 MA、MA1、MA2・・・メモリアレイ、MC・・・
メモリセル、WL・・・ワード線、BL・・・ビット線
、DB。 DB’・・・データバス線、SP1、SP2、SP11
、SP12、SP′2・・・順次指定回路、MUX、M
UX’・・・マルチプレクサ回路。 代理人 弁理士 鈴 木   誠、汎 \、′7 ;′糾 く二/ 第1図 第2図 第3図 第4図 v、、Tc χ d π 世 b    つ 第5図 ト1i;、++T;、r!     国、、i−鷲!十
′5:(へ)−トも、七′声十π、1↓T1;2二1 為1上且鶴   “ 。 0II    1111. 1.l1lI111111
111111 1 + l  1t ( ’l        、11’l ’  l  ”  l       l  +  11
 11  1   j    j   1  1   
’   l    +   、   1   l   
ll  1 1   +  1 1+  1jl  ”
  ’”  1ull、Ill  1 ”2.1 。 ”’  l’lll  111゜ 上上士−二二二二一二二二f± 12.2〇 =4二トニ二−伸二二 り、′X。   11 M1’    l    +  11 ’ l l÷具
→牛÷tk≠絆二→二土 2、y+l o           1111  1
111’   ”l: ±4−−−二■具−Jイユヰエ 駅゛0、   1.l       、11”  ll
l’l  Ill、1 ′・”・ II  IZl ′÷モ下士卆’l  1 
11  I I joJ“““““””“′”′“““”““““11“
““““““““′°°”““°“1[“°″゛゛゛゛
“°”°“°““1.、、、.1.111+、   1
1..1  11’ll二±ニ一畷二−−ニニエI士+ 121 1  ’  l   1’  l  l I   11
  l  l11211!  −!  l’lll  
Ill、1、  1
FIG. 1 is a diagram showing a conventional example, FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a time chart for explaining FIG. 2, and FIG. 4 is another embodiment of the present invention. FIG. 5 is a time chart for explaining FIG. 4, and FIGS. 6 and 7 are diagrams showing still other embodiments of the present invention. MA, MA1, MA2...Memory array, MC...
Memory cell, WL...word line, BL...bit line, DB. DB'...Data bus line, SP1, SP2, SP11
, SP12, SP'2...Sequential designation circuit, MUX, M
UX'...Multiplexer circuit. Agent Patent Attorney Makoto Suzuki, Pan\,'7 ;'Taku2/ Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 v, Tc χ d π world b Figure 5 To 1i;, ++T; , r! Country,, i-eagle! 1'5: (He) - To also, 7' voice 1π, 1↓T1; 221 Tame 1 upper and crane ". 0II 1111. 1.l1lI111111
111111 1 + l 1t ('l, 11'l 'l'' l l + 11
11 1 j j 1 1
' l +, 1 l
ll 1 1 + 1 1+ 1jl”
''' 1ull, Ill 1 ``2.1. ”'l'llll 111° Upper Superior - 22221222f± 12.20 = 42 Toni 2 - Shin 22, 'X. 11 M1' l + 11' l l÷ tool → Cow ÷ tk ≠ bond 2 → two soil 2, y + l o 1111 1
111' ``l: ±4---2■tool-JIYUE STATION゛0, 1.l, 11''ll
l'l Ill, 1 ′・”・II IZl ′÷MO下士卆'l 1
11 I I joJ"""""""'"'"""""""11"
""""""""'°°""°"1 ["°"゛゛゛゛"°"°"°"1.,,,.1.111+, 1
1. .. 1 11'll 2±Ni Ichi-Ni + 121 1 ' l 1' l l I 11
l l11211! -! l'llll
Ill, 1, 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数のワード線と複数のピット線の交点にメモリセ
ルを配置し、上記ワード線の一部分を選択することによ
り、該ワード線に接続されたメモリセルと上記ピット線
の間でデータの入出力を可能とする集積記憶回路におい
て、上記複数のワード線を順次選択する手段と、該ワー
ド線の選択に対応してビット線を順次選択する手段を有
し、メモリセルを予め定めた順序で外部と接続すること
を特徴とする集積記憶回路。 2、特許請求の範囲第1項記載の集積記憶回路において
、一部分のワード線の選択の期間及び該ワード線に接続
されたメモリセルからピット線に取り出されたデータの
増幅の期間に、上記以外のワード線(−接続されたメモ
リセルを外部と接続するようにしたことを特徴とする集
積記憶回路。 3、特許請求の範囲第1項記載の集積記憶回路において
、該集積記憶回路内のメモリセルをデータ出力機構と接
続し、その一定期間後、該メモリセルをデータ入力機構
と接続するようにしたことを特徴とする集積記憶回路。 4、特許請求の範囲第3項記載の集積記憶回路において
、データ入力機構及びデータ出力機構の一方又は両方を
データ入出力機構(二置き換えたことを特徴とする集積
記憶回路。
[Claims] 1. By arranging memory cells at the intersections of a plurality of word lines and a plurality of pit lines, and selecting a portion of the word line, the memory cells connected to the word line and the pit line An integrated memory circuit capable of inputting and outputting data between memory cells, comprising means for sequentially selecting the plurality of word lines, and means for sequentially selecting bit lines in response to the selection of the word lines; An integrated memory circuit characterized in that it is connected to the outside in a predetermined order. 2. In the integrated memory circuit according to claim 1, during the period of selection of a part of the word line and the period of amplification of data taken out from the memory cell connected to the word line to the pit line, other than the above An integrated memory circuit characterized in that the memory cells connected to the word line (-) are connected to the outside. 3. In the integrated memory circuit according to claim 1, the memory in the integrated memory circuit An integrated memory circuit characterized in that a cell is connected to a data output mechanism, and after a certain period of time, the memory cell is connected to a data input mechanism. 4. The integrated memory circuit according to claim 3. An integrated memory circuit characterized in that one or both of the data input mechanism and the data output mechanism is replaced by a data input/output mechanism (two).
JP56166601A 1981-10-19 1981-10-19 Integrated storage circuit Pending JPS5868284A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56166601A JPS5868284A (en) 1981-10-19 1981-10-19 Integrated storage circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56166601A JPS5868284A (en) 1981-10-19 1981-10-19 Integrated storage circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5868284A true JPS5868284A (en) 1983-04-23

Family

ID=15834311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56166601A Pending JPS5868284A (en) 1981-10-19 1981-10-19 Integrated storage circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5868284A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62252590A (en) * 1986-04-24 1987-11-04 Ascii Corp Memory device
JPS62271291A (en) * 1986-05-20 1987-11-25 Ascii Corp Memory device
WO1992022068A1 (en) * 1991-06-04 1992-12-10 Oki Electric Industry Co., Ltd. Serial access memory

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5543676A (en) * 1978-09-22 1980-03-27 Fujitsu Ltd Vertical-horizontal conversion system
JPS5667888A (en) * 1979-11-06 1981-06-08 Tokyo Shibaura Electric Co Imageehandling memory unit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5543676A (en) * 1978-09-22 1980-03-27 Fujitsu Ltd Vertical-horizontal conversion system
JPS5667888A (en) * 1979-11-06 1981-06-08 Tokyo Shibaura Electric Co Imageehandling memory unit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62252590A (en) * 1986-04-24 1987-11-04 Ascii Corp Memory device
JPS62271291A (en) * 1986-05-20 1987-11-25 Ascii Corp Memory device
WO1992022068A1 (en) * 1991-06-04 1992-12-10 Oki Electric Industry Co., Ltd. Serial access memory
US5369618A (en) * 1991-06-04 1994-11-29 Oki Electric Industry Co., Ltd. Serial access memory

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4130900A (en) Memory with common read/write data line and write-in latch circuit
US4675850A (en) Semiconductor memory device
US5185744A (en) Semiconductor memory device with test circuit
KR950001289B1 (en) Semiconductor memory device
KR940006362B1 (en) Semiconductor memory device
US5029134A (en) Memory circuit with improved serial access circuit arrangement
US5267212A (en) Random access memory with rapid test pattern writing
US4410964A (en) Memory device having a plurality of output ports
JP2845187B2 (en) Semiconductor storage device
JPH05342855A (en) Semiconductor memory circuit
KR950006215B1 (en) Test device for semiconductor memory
JPS628877B2 (en)
JPS5868284A (en) Integrated storage circuit
JPS63102094A (en) Semiconductor memory
KR100336955B1 (en) Semiconductor storage device
JP2982902B2 (en) Semiconductor memory
JP2533404B2 (en) Semiconductor memory device
US6628562B2 (en) Method and apparatus for high-speed read operation in semiconductor memory
JP3183167B2 (en) Semiconductor storage device
JPH07282599A (en) Semiconductor memory device
JPH0713860B2 (en) Semiconductor memory device
JPH0746519B2 (en) Semiconductor device
JPH06223597A (en) Semiconductor device
JPH01112592A (en) Semiconductor storage device
JPH0676599A (en) Semiconductor memory