JPS5851337A - パタ−ン化されないタツチ検出を有する表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は表革上にあるフェースグレート上の奉賀的に任
意の位置にｋｒｊΦタッチ（伎厩」に応答して位置決め
する表示装置を提供する。

本発明は複数の情報項目を表示し、これら情報項目から
観察者が選択を行なう形式の檀々の表示装置とともに使
用できる。−例は多数の録音された歌の題名を表示する
ジュークボックスであり、使用者が演萎されるべきであ
る題名を選択する。

他の儒は地図に付随し、使用者が選択する地図上の位置
を照明する索引である。さらに他の例はコンピユータ化
情報システムに接続された陰極線管（Ｃｉｔ’Ｉ’）ｍ
末のスクリーン上に表示される情報項目を使用者が選択
することである。

表示スクリーン上の選択されたパターンの場所（ロケー
ション）の任意のものに接触することに応答するＣ　Ｋ
　’１’表示端末は知られている。これら端末は代表的
には表示スクリーン上にあるパターンの透明な接点な使
用する。喝末は所定のパターンにおける任意の接点に接
触することに応答して接触した一点の位置を識別する。

この性質の依触趨末の例は木国狩ｔＦＦ第５，６９４４
０９号に開示されており、また１９８０年７月１８日に
出願された米国％奸Ｍ第１７０，０５４号および１９８
１年５月１日に出願された米国特奸願第２５９．６１４
号に開示されている。

他の既知の実行例は表示上にあるバター／の透明な機械
的スイッチを使用する。米国カリフォルニア州のシェラ
シン・インドレックス・プロダクツはこの形式のスイッ
チをｌ”　ＴｒａｎｓｆＪｅｘ　Ｊという商品名で販売
している。

また、表示スクリーンの周囲に光学源および検出器のプ
レイを提供することによって表示スクリーンのタッチを
検出し、位置決めすることも提案されている。１つの変
形例は音波発生器および音波検出器のアレイを表示スク
リーンの）Ｓ囲に提供することである。６例において、
源および検出器は、タッチが無限の空間エネルギ・フィ
ールドにおいて引起すじよう乱（ｆｆｉｒＬ）ＫＡ６答
して位ｖｉｔ火すする電子システムに接続されている。

この例および関連する技術の例は米国＃計画４．１９＆
６２５号および＃記した米国籍ｅＫ開示されている。

本劣明の目的は改良されたパターン化されないタッチ応
答表示装置を提供することである。用語［バター７化さ
れない」とは既知の、すなわちパターン化されたロケー
ションを有する所建の一組のロケーショ／から１つのロ
ケーションを選択するのとは対照的に、表示スクリーン
上のどこか任意のロケーションに２けるタッチを検出し
、位置決めすることができるタッチ応答表示装置を特徴
付けるために本１１ｍ書では使用される。

他の目的は無限の空間エネルギ・フィールドを使用しな
いでタッチの位Ｔｌｔな決定する表示装置を提供するこ
とである。

他の目的は表示スクリーン上にある導電性フィルムに対
する容量性タッチの位置を決定するパターン化されない
タッチ応答表示装置を提供することである。

他の目的は表示装置が比較的＾いｇ！頼性なもつ【タッ
チな位置決めすることである。

他の目的は比較的小さな空間的あいまいさで、すなわち
比較的良好な止蓚さおよび確度でタッチの位ｆ１１を決
ｉする上ｍｌ藷徴の表示装置を提供することである。

他の目的は比較的安価な製造に通した上記特徴の表示装
置を提供することである。

本発明のその他の目的は一部分は明白であり、また一部
分は後で明らかとなろう。

本発明による表示装置は表示フェースプレート上のどこ
かで起る人間の指によるタッチのような容量性タッチを
検出する。その上、この表示装置は７エースグレート上
のタッチの位ｄを決足する。

かくして、本発明はパターン化されないフェースプレー
ト上のタッチを検出し、位ｉ１Ｍ決めすることができる
表示ｆｃ置を提供する。この表示装置は代表的には２つ
の交差するｍｍのそれぞれに沿ってタッチのロケーショ
ンを決足し、これら２つの軸線が交差する小さなスポッ
ト、理想的には点、においてこのタッチを位置決めする
。

本発明によるタッチロケーションの８！何はタッチが表
示フェースプレートの導電性被膜に生じさせるｌ［ｆｉ
イ／ビーダンスの変化である。元手的に透明でありかつ
本発明が実行できる４１１１牡板展およびフィルムは知
られている。それらは例えば米国カリフォルニア州のシ
エラシ／・コーポレイションから入手できる。しかしな
がら、破膜の４電率、または同様に抵抗は代表的には与
えられたフェースプレートの場所によって変化し、また
フェースプレートによって変化する。それ故、パターン
化されないタッチロケーショ／に望ましい不変の、既知
の、反復可能な抵抗特性は非常に高価な手続きにより製
造したときを除き得られない。

それにも拘わらず、本発明は相当な９１Ｍ性、正確さお
よび精度でそのような導電性被膜で覆われたフェースプ
レートに対する容量性タッチのロケーションを得る。こ
の目的のため、本発明が提供するタッチ位置決め装置が
、導電性フェースプレート被膜によって形成される抵抗
−容量回路に容量性タッチが引起す電気イノビーダンス
の変化を測定する。このインピーダンスの測定は抵抗−
谷１（Ｋ−Ｃ）回路の時定数を検査する。測定は代表的
には２つの交差する線状軸線のそれぞれの各端部から繰
返し実行される。その結果の４つの測定値が組合されて
タッチの位置を決定する。

本発明の例示の実施例は４つの別個の電極を有する長方
形フェースプレートを使用する。これら電極は４つの７
工−スプレート越部のそれぞれに沿って１つずつ導電性
被膜に接続される。電気的供給源が１つの電極に測定信
号を供給する。その結果の電極の電圧はこの電極からフ
ェースプレートの任意のタッチまでの距離の値を提供す
るための測定回路に供給される。フェースプレートの反
対側の電極におけるこの測定の繰返しは別の情報を提供
し、この情報は第１の測定からの情報と組合されてこれ
ら２つの電・極間に延在する軸線に沿うタッチのロケー
ションを決定する。残りの２つの電極のそれぞれから同
じ測定を実行することＫより第２の軸線に沿うタッチを
位ｔＩｔ次めし、２つの軸線の交点がタッチのロケーシ
ョンを詳細に足める。

この技術の一実施例は交流測定信号な使用する。

信号周波数は固定％ｒ号を愛情する電極において監視さ
れている結果としての電圧波形の選択された状態を得る
ために変化される。この選択された状態をもたらす源周
波数は付勢された電極からタッチロケーションの所望の
値を識別する。

本発明の他の実施例は２つの引続く選択的に計時された
値を有する直ｆｉＬ糊足侶号を使用する。付勢された電
極における結果の電圧はその′ｗＬ極に関するタッチロ
ケーションの所望の測定値を提供する。詳しくいうと、
測足匍号の第１の値はフェースプレート被膜に結合され
たキャパシタンスを既知のレベルに光屯する。第２の信
号値はフェースプレート被膜の抵抗を介してキャパシタ
ンスを一部分放電させる。その後篭樵に残っている電圧
がその電極からの容量性タッチのロケーションを識別す
る。

導電性フェースプレート被膜に対する容量性タッチを位
ｗ１決めする本発明による方法はフェースプレート被膜
のインピーダンスを關冗し、この測定値を、タッチが存
在しないとぎに＃ＪＶされた基準甑と比較することを含
む。−夾Ｊｌｉ例によれば、フェースプレート被膜のイ
ンピーダンスはタッチが目下のところ検出されないとき
に各電極から摺電される。基準の測定は各電極から別個
に、他の電極に既知の値のキャパシタンスを供給して、
遂行できる。このようにして得られた基準測定値は動作
中、変化する動作状態を補償し、それによって測定の精
度を高めるために周期的に更新でき、そしてマイクロプ
ロセッサに接続されたランダム・アクセス・メモリ（Ｒ
ＡＭ）に記憶できる。この場合に、マイクロプロセッサ
は基準値を、タッチが検出されたときに行なわれた同様
の測定値と比較し、相当な精度および侶幀性をもって７
エースプレート上のタッチのロケーションを決定する。

従って、本発明は複数の段階およびこれら段階のうちの
１つまたはそれ以上の他の段階のそれぞれに関する関係
、ならびに構成のｔ＃徴、系子の組合せ、および上記段
階を冥行するのに通合した部品の配置を具体化する装置
からなり、これらはすべて以下の１１ｉＩ細な説明に例
示されている。

本発明の性質および目的を十分に理解するために、離村
図面を参照して本発明の夾施例につき詳細Ｋ１１２明す
る。

第１図に示すように１本発明による表示装置は表示スク
リーン１４な備えた表示ユニット１２を有する。例示の
表示ユニット１２は陰極線管コンピュータ端末であり、
従って表示スクリーン１４は陰極線管の前面である。光
学的に透明なフェースプレート１６が瑠末のスクリーン
１４上に取付けられる。このフェースプレート１６はス
クリーン１４上にあるその全外［表向上に導電性被膜１
８を有する。このフェースグレー）１１Ｍ１８は表示ス
クリーン１４の全体にわたり、あるいは使用者が選択し
得る項目を表示する表示スクリーンのすべてｋわたって
延在しているという点においてパターン化されていない
。

４つの電極２０．２２．２４および２６がフェースプレ
ートに取付けられておりかつ被膜１８に電気的に接続さ
れている。′に極２０および２２はフェースグレートの
対１同する水平方向ＫＭ間された周＠ｗＫあり、互いに
対向するかつ半行なフェースプレート＠−に沿って細長
く延在している。

同様に、他方の対の電極２４および２６は互いに対向す
るかつ平行なフェースプレートの対向する周＠縁に垂直
方向に離間されている。これら電極は端末スクリーン１
４に関して既知のロケーションにあるように７エースプ
レートに取付けられ、その結果４つの電極２０〜２６に
関するフェースプレート１６上のロケーションの決定は
既知の態様で端末表示スクリーン１４上のロケーション
に対応する。

例示のタッチ位置決め装置はフェースプレート１６に対
するタッチのロケーションを決定するために２対の対向
する１［極２０．２２および２４．２６を使用する。別
のｔ憔２８が例示されており、華極率投スイッチ２９を
介して別個のタッチ検出器６０に接続するために＠腺１
８に任意の場所で接続されて（・る。このｗＬ憧２８は
分り易くするために別体として図ボされているか、別体
として設けないで、代りに検出器５０　Ｙ　６ｉｌＩ足
電慣ｚＯ１２２，２４，２６のどれかに接続してもよい
。検出器６０は、′に極２８をフェースグレート被膜１
８に接続することにより、スイッチ２９を閉成するとフ
ェースプレートがタッチされているか否かを決定する。

この決定はタッチのロケーションとは無関係である。タ
ッチ検出器５０は、タッチが７エースプレート上のどこ
かで検出されているか否かな識別する信号を制御装置１
５２に供給する。

第１図をさらに参照すると、醐定栖号源５４および測定
＠＠５６を使用するよ５に例示された測定ユニットはア
ナログスイッチ３８を介して測定磁極２０．２２．２４
および２６のどれかに接続される。例示のスイッチ３８
は事実上、４つの独立に動作し得る半極華投スイッチ段
を使用し、制＠９＆ｔ５２から受１６シた信号に応答し
て常開位臘に図示されているこれらスイッチ段を動作さ
せる。

スイッチ５８と大体において同じであるように例示され
た別の゛ｒナログスイッチ４０は制御装置３２からの別
の１ｓ′ｇｊに応答して端末装置４２を關足電極の任意
のものに接続する◎ 第１図のタッチ応答表示装置の代表的動作中、表示ユニ
ット１２は慣用手段′１に便用して、かつ使用者が選択
し得る情報項目のロケーションがパターン化タッチ能力
によって従来課されたような制約を受けないという点を
除き通常のものである態様で、スクリーン１４上に情報
を表示する。

タッチ検出器は、通常、フェースプレート被膜１８のキ
ャパシタンスを連続的に検査し、被膜がタッチされてい
るか否かを決定する。この目的のため、タッチ検出器は
後記する好ましい一構成、あるいは通常のＣ）ＬＴタッ
チ応答表示端末に関して上ｍｌしたものを含む既知の慣
用手段を使用することができる。

フェースプレー）１６に容量性タッチがないという信号
をタッチ検出器３ｏが発生するときごとに、制御装置３
２は測定信号源３４および測定装置５６により形成され
た測定ユニットおよび端末装置４２を動作させ、フェー
スプレート［１１！１８が測定電極２０，２２．２４お
よび２６に呈する電気インピーダンスに関する基準情報
を侍てそれを更新する。この動作および他の制御Ｗｉｃ
厘の動作のために、側ｌｌ１ＩＩ＃ｅ置５２は通常の補
数処理、メモリおよびＩ１０制御の各鉄−を有するプロ
グラマブル・マイクロコンピュータを使用できる。

人が「Ｘ」４４で指示したタッチをフェースプレート被
膜に行なうと、制御装置１６２は検出器６０からの結果
としてのタッチ報知信号に応答してタッチされたフェー
スプレート１６が各測定電極２０．２２．２４および２
６に呈する′電気インピーダンスの＃ｊ定植を得る。制
御装置は各仰１足されたインピーダンスを対応する基準
測定値と比較し、各＃Ｉ足電極からのタッチ４４のロケ
ーションを識別する。対間する電極２ｏおよび２２で−
ＩＭされた憾はこれら２つの１極間に延在する水平軸線
に沿うタッチのロケーションを識別する。ｌ！！Ｊ　ａ
ｅＫ、垂直刃ＩｃＩＩに暖間された一ａ極２４および２
６に関して行なわれたタッチロケーションの２つの慮別
櫃はこれら電極間の垂直軸線に沿うタッチのロケーショ
／な識別する。２つの交差する軸線に沿うタッチロケー
ションのこれら測定値はタッチ４４が生じたフェースプ
レート１６上の単一のスポットを識別する。フェースプ
レート１６に対するタッチのこのロケーションは表示ユ
ニット１２に表示されているどの情報項目な使用者が選
択したかを制御装４１１３２に識別させる。表示装置は
既知の態様で使用者選択のこの決定に応答する。

第２図は各測定電極２０．２２．２４および２４ＳＫお
ける抵抗−容量時定数のＩＩＩ定値によって７エースプ
レート１６に対する容量性タッチを位置決めする、第１
図によるタッチ検出位置決め装置を示す。（フェースプ
レート１６および破膜、電極ならびにタッチ４４は第２
図においても第１図と岡じ参照数字を有する。＃＆１図
と対応する第２図の・装置の他の素子は同じ参照数字に
ダッシュを付しである。）図面はタッチされたフェース
プレート１６がタッチ４４と測定電極２０間にに１と指
示された抵抗成分を含み、またタッチ４４と反対側の＃
Ｊ定電極２２間にＲ２と指示された抵抗成分を含むイン
ピーダンス１に何するように図示している。このタッチ
はフェースプレート被膜のタッチ４４と振地関に回路で
図示した分路キャパシタ／スＣＴ４１：、１ｌｌ１人す
る。フェースプレートの導電性被膜の電気インピーダン
スはさらに、測定電極２４とタッチ４４間におよび測定
電極２６とタッチ４４間にそれぞれ直列の抵抗成分Ｒ５
およびＲ４を含むように表わすととができる。

＠２図の装［Ｋ対する例示の測定信号源５４’は各イン
ピーダンス測定、２よび対応的にタッチ位置決め動作ご
とに２つの引続（直流信号を発生′する。例えば信号源
の通常非導通のトランジスタ３４ａをオンにすることに
よって発生される、第２Ａ図の上部波形に例示された１
つの信号はスイッチ３８’によって選択された１つの１
１４１］定電健に電流を供給する。この′底流はタッチ
４４のキャパシタンスを含むフェースプレート４ｍｍの
キャパシタンスを破膜の抵抗を通じて光域する。信号源
の別の通常非導通のトランジスタ５４ｂをオンにするこ
とにより発生される、４２Ａ図のＦ部波形に例示された
第２の１６号はフェースグレートの光電された容を社イ
／ピーダ／スから値腺の抵抗、導通トランジスタ３４ｂ
およびそれと直列の電流制限抵抗５４Ｃを通る既昶の放
電路を提供する。

第２図の装置に対する測定装置５６１はアナ目グーディ
ジタル変換器を使用する。この変換器はスイッチ３８１
を介して測定電極２０．２２．２４および２６に接続さ
れており、上記光電および放電動作に続く各測定電極に
おける電圧を受信し、この電圧のアナログ値を制御装置
５２に供給するための２進憾に変換する。

第２図の装置ＩｔＫ対する端末装置４２１はＣ，と指示
された値を有する基準コンデンサ４２．１と、常開の率
惨率投スイッチ４２ｂを含む。端末装置４２１は制御装
置の惧号に応答してスイッチ４２ｂを閉成し、フェース
プレートの導ｍｓ破線に関連した谷菫性インピーダンス
を放電させる。

このＤＣバイアスされた＃に２図の装置の１前作シーケ
／スはスイッチ２９’およびスイッチ３８１を開放し、
スイッチ４０１およびスイッチ４２ｂのすべての状態を
閉成し、フェースプレート被嵌１８のキャパシタンスを
放電させることを含み、その後スイッチ４２ｂＪ？よび
スイッチ４０’段が図示する常−状態に戻される。ｔｈ
ｉｌＪ御装置ｔ３２′は次にスイッチ段３８ｂを閉成し
、＄５４’を動作させて邸１冗電極２０に与えられる各
音性インピーダンスを十分に充電し、その後この谷普性
イ／ピーダ／スを既知の選択された僅かな時間′の間一
部分放電させる。測定装に３６１のＡ−Ｄ＆撲器はスイ
ッチ段３８ｂを介して測定を憔２０における結果として
の電圧を受イーし、それを制御ｔＩＩ装置５２’に：供
給する。

タッチ４４が存在したときに制御装−５２’に供給され
る結果としてのディジタル電圧信号は電極２０と２２間
の空間に酎って６１１１定されたときにこのタッチの電
極２０からの距離の独特の識別を提供する。この装置は
スイッチ段３８ｄ、３８ａおよび３８Ｃをそれぞれ１貫
に１つ閉成することによってＳつの残りの＃１定′ｓ１
６；極２２，２４および２６のそれぞれにおいて同体の
測定を実行する。

動作はきりに、タッチが存在せず、スイッチ２９１が開
放しているときに一度行なわれる一連の初期眩定副足を
冨む。この目的のため、制＃装置３２′は引続く光′隠
νよび放′区悟号を各醐屋嵐憔に一度に１つの′ｄｔ惨
に供給し、同時に既知の基準キャパシタンスＯＨをスイ
ッチ４０’を介して対向する測定電極に供給する。この
よ５Ｋして得られた測定値はフェースプレート被膜がタ
ッチのないときに各測定電極に与える抵抗性−答景性イ
ンピーダンスの基準値を提供する。これら基準測定値は
どのような性質の浮遊容量も含み、温度および湿度のよ
うな周囲環境条件を補償する。

第２図をさらに参照すると、例示のタッチ検出器３０’
は発振器５０ａおよび再トリガ可能なワンショットまた
は非安定マルチバイブレーク３０ｂを使用する。発振器
５０Ｊ１の周波数選択、同一段はスイッチ２９１および
電極２８を介してフェースプレート被膜に接続されてお
り、従って発振器周波数はフェースプレートがタッチさ
れたときに５そしてタッチがなくなったときに再び変化
する。

例示の実施例においては、発振器周波数はフェースプレ
ートがタッチされたときに測定できる程度に減少し、対
応的にタッチがなくなったと１１に増大する。発掘器か
らの出力信号はワンショットマルチバイブレータをトリ
ガし、安定状態から非簀定状１１に切換える。このマル
チバイブレータは選択された既知の継続時間の後、非安
定状ＭＫまだある関に別のトリガ信号を受信しないとき
Ｋは、安定状態に自動的に切換わる。非安屋状態の継続
時間はフェースプレートがタッチされていないときには
発振器の周期より長いが、しかしタッチの相関関係中は
発振器の周期より短かい。ワンショットマルチバイブレ
ータ５０ｂからの出力信号は制御装置Ｓ　２’に供給さ
れる。

フェースプレート被膜１８がタッチされず、発振器出力
信号がタッチのない状態に対する悼準の選択された比較
的速い周波数を有すると、発振器パルスはワンショット
マルチバイブレータ３０ｂを繰返しトリガするのに十分
に速く発生し、その結果マルチバイブレータは非安定状
職にとどまる。

従って、１ルチバイプレータからの出力信号は非安定状
廟を示すレベルにとどする。制御装置６２１はこの１１
号状態をタッチなし状態を報知するものとＩＩｌ！！繊
する。しかしながら、フェースプレート被膜がタッチさ
れると、発振器周波数は引続く発振器パルス間の期間が
マルチバイブレータ３０ｂの非安定期間より長くなる程
度まで減少する。従って、マルチバイブレータは安定状
態と非安定状１とに交互に切換わり、制御装置！＋２’
に供給するマルチバイブレータの出力信号が２つの選択
された値の間で対応的に変化する。制御装置はこの変化
する信号をタッチ状態を示すものと１繊する。

非安定マルチバイブレータは、この形式のｉ＆置には知
られているように、非安定状態の継続時間を調節可能に
変化するための１つまたはそれ以上の制御素子を含むこ
とが好ましい。これら素子は、動作温度および湿度の変
化および変動のような変化および変動、ならびＫこのマ
ルチバイブレータが第２図の装置において一緒に動作す
る装置の変化および変更に順応させるために、電子的に
制御できるこ戸が好ましい。

第２図の制御！１１５２’は一連の初期設定基準測定お
よび一連の位置決め測定によりフェースプレート被膜１
８のタッチを位置決めするように装置の素子を制御する
。タッチ検出のために閉成され、Ｂｘイアｆ２９’はこ
れら測定中開放していることが好ましい。初期収足測定
は、タッチがフェースプレート１６のどこＫも４仕しな
いことをタッチ検出器５０１が決定したときに実行され
、各測定電極に電気インピーダンスの基準値をもたらす
。位置決め測定は特定のタッチに対して各を極に与えら
れるインピーダンスを決定する。制御装置は位置決め測
定筒を基準１ｍと比較し、測定電極に関してタッチを位
置決めする。

第５図のフローチャートは第２図の制御装置３２１がこ
の目的のために提供する１動作シーケンスを？１１下す
る０動作は動作ボックス５０に指示されているように、
２段数電動作で始まる。ｉ＠１段に２いて、亀１］御装
賦はタッチ検出スイッチ２９および側だスイッチ６８の
すべての１１ｔな開き、熾末スイッチ４０のすべての段
を閉成し、そして放電スイッチ４２ｂを閉じる。これら
動作は測に電極に結合されたキャパシタンスを、スイッ
チ４ｏおよび４２ｂを介して測定電極を徽ｍ帰路に接続
することＫより、放電させる。第２段において、スイッ
チ５８および４０のすべての段がスイッチ４２ｂと同様
に開放され、タッチ検出スイッチ２９が閉成される。そ
の後、制＃装置３２６はタッチ検出器５０’に応答して
判断ボックス５２に示すよ５にタッチが検出されたか否
かを決定する。タッチが動作シーダンスのこの初期の点
で検出されると、いかなる動作も取られない。しかしな
がら、タッチが検出されないと、制御装置は、動作ボッ
クス５４に指示されているかつ第４図を参照してさらに
記載される、装置を初期設定することを開始する。

次の動作は動作ボックス５６に示され【いるように、動
作ボックス５０の放電動作を繰返すこと、ならび３判イ
ボックユ、８に示すようにタッチが検出されたか否かを
再び萱視することである。この点でタッチが検出されな
いと、例ボの装置は動作ボックス５９に示すように、史
Ｉ＃動作を爽行し、初期設定された基準値を例えばｍ度
、１１あるいは動作′賦圧の変化を補償するようＫ１１
１ｍ１’ｉする。

（史＊ｔｂ作は初Ｊ４１ＪＩｂ！足動作と類似し【いて
もよく、従ってこれ以上は記載しない。）−万、タッチ
が検出されると、動作は動作ボックス６０で指示される
ように測定シーケンスに進む。この測定シーケンスにつ
いては第５図を参照してさらに後記する。濁定動作が完
了すると、動作は動作ボックス５６の放電動作および別
のタッチの検出（判断ボックス５８）Ｋ戻る。

第４図は第３図の動作ボックス５４の初期設定動作に対
する制御装ｆｌｔ１５２’の１シーケンスを例示する。

この初期設定動作は動作ボックス６４に示すように、１
つの測定電極を基準コンデ／すＣｋＬに、＃１足スイッ
チ５８’の関連する段Ｐよび端末スイッチ４０１の関連
する段を閉成することにより、豊続することで始まる。

この際に１例示の１１ｉ１Ｊ御装置は対向する測定電極
に嵌絖されたスイッチ段を閉成する、例えば−例として
対向する電極２０および２２と関連するスイッチ段５８
ｂおよび４０ａ（ｊ１４２＠ｉ）を閉成する。動作は動
作ボックス６５に示すようにタッチ検出スイッチ２９１
を開放し、そし″ＣＣ佳作ボックス６６示すよ５に−足
値号碑３４１から光′！！傷号を供給して選択された測
定電極に与えられる容量性インビーダンスを選択された
既知の電圧に充電することに進む。この容量性インピー
ダンスは基準コンデンサＣｋＬ１およびタッチのない場
合のフェースプレート被膜のキャパシタ７スを含む。制
御装置は次に、動作ボックス６８で示すように、源Ｓ　
４’から放電信号な供給し、動作ボックス７０に示すよ
うに、アナログ−ディジタル変換器３６１によって測定
された結果の電圧を入力する。制御装置は代表的にはこ
の＃１足された電圧を同じ測定電極に対して行なわれた
面の任意の＃１足値とともに蓄積する。制御装置は判断
ボックス７２で決定される選択された回数（ｎｌだけ上
記１ｇ号供給および測定値入力段階を繰返す。例示の動
作シーケンスはｎの蓄積された＃ｊ定ｉｍを平均化し、
この平均値を記憶する動作ボックス７４に示す段階に進
む。この際に、装置は４つの＃１定電碓の１つに与えら
れる表示フェースプレート１６の被膜の電気に−Ｃイ／
ビーダンスの基準測定蝋を決定し、それを代表的にはＩ
ＩＪＩＩ装−５２９のう／ダム・アクセス・メモ、り部
分に記憶する。

動作シーケンスは異なる測定電極による上記基準−１足
動作な練返す、すなわち測定スイッチの異なる段を閉成
し、かつ対向する電極と関連した端末スイッチ段を閉成
することによってボックス６４の動作を繰返す段階に進
み、そして再び第４図のシーケンスを進める。この動作
シーケンスが判断ボックス７６によって決定されるよう
に、４つの一１定＃［極の全部に対して実行されると、
初期設置シーケンスは完了し、動作は出口Ｋｈ＜、すな
わち、第３図のシーケンスの動作ボックス５６に戻る。

所望ならば、上記初期設定シーケンスは、シーケンスが
実行されている間フェースプレートがタッチさまたか否
かｔｔ監視する段階を含んでいてもよい。これは動作ボ
ックス７７、判断ボックス７８および動作ボックス７９
で例示されている。

割＃装瀘５２１はこのときのタッチの検出に応答して例
示するよ５に初期瞑定シーダンスから出て行くことがで
きる（動作ボックス７９）、あるいはフェースプレート
がタッチされていないときに基準値の測定のみが生じる
ことを確かめる他の過歯な動作を取ることができる。

第５図は＠３図の動作ボックス６０の１１１ｊ定動作に
対する１シーケンスを例示する。このシーケンスは動作
ボックスＢＯＫ示すように１つり測定電極の選択および
測定スイッチの関連する段の閉成で始まる。この動作は
源３４１の光電信号を動作ボックス８２に示すように選
択された測定電極に供給し、そし″′Ｃｌｌ１Ｉ作ボッ
クス８４に示すように選択された一部分放電信号を供給
する。測定電極における結果の電圧は、変＄ｌ＃５６’
による変換の債、制ｗ４装置に供給され、動作ボックス
８６に示すように、同じ電極で行なわれた前の任意の＋
１１１足櫨とともに蓄積される。例示のシーケンスは動
作がツクス８Ｂで決定される既知の複数回（ｍ回）この
測定を実行し、かつボックス８５．８７および８９の例
示されたタッチなしｍ−または出ロシークンスを実行す
る。その後で、制＠装置は劇作ボックス９０に７Ｆ、す
ように蓄積された＃１足厘の平均を計算し、記憶し、そ
の結果から上記測定が行なわれた電極からのタッチの距
離を決定する。動作は４つの−ｊ定［憔２０．２２．２
４および２６のそれぞれに対して繰返され、測定スイッ
チ５８’の異なる対応する段が各繰返し中閉成される。

判断ボックス９４で決定されるように、この動作がすべ
ての電極に対して完了すると、前作は動作ボックス９６
で示す最終の計ＩＪ！に進む。この最終の計算は動作ボ
ックス９２から得られた距離決定値を組合せて検出され
たタッチが位置付けされている表示スクリーン上のスポ
ットの２座裸ロケーシヨンを決足する。測置シーケンス
が完了すると１．動作は第６図の動作に戻り、動作ボッ
クス５６に示す動作を実行する。第５図の測定動作はロ
ケーションの決定をさらに確認するために追加の段階を
含んでいてもよい。動作はまた、タッチ点が７・エース
プレー）ｆ線に沿って変化するか否かを決足するのに適
切なように調節することができ、る。他の変形ガはタッ
チがタッチ検出器５０’により決定されるように児了面
になくｔつだ場合に測定シーケンスを終了させることで
ある。

第２図をさらに参照すると、放電スイッチ４２ｂは例示
を簡単にするために別個の素子として図示されているけ
れど、好ましい一冥施例では、タッチ検出器５０１の発
振器３０ａは答菫性放電段として機１］ｔする素子を含
む。そのような発振器の一例は米国のテキサス・インス
ツルメンツおよびシグネテイクスのような製造会社から
入手できるようなタイプ５５６集積回路発条器である。

そのような発振器が使用されると、分路スイッチ４２ｂ
は省略され、同じようなスイッチが発振器と電極２８関
に直列に配置される。このスイッチはタッチ検出動作中
閉成され、かつ測定動作中開放され、基準測定値を決定
、吏新し、かつタッチ位Ｗｔ決め測定値を決定する。

第６図は交流測定信号によってフェースプレート電極２
０．２２．２４および２６に与えられる電気インピーダ
ンスを測定する第１図のタッチ検出および位置決め装置
の一笑施例な示す。瞥に、御ｊ定佃号諒５４”は選択さ
れた範囲に７卜つて変化できる周波数を有する交流また
は他の周波数信号を発生する。例示の諒５４”は＠振器
１００からのパルスを計数するカウンタ９８を使用する
６Ｊ変周波数クロックの一形式である。カウンタ制御レ
ジスタ１０２はカラ／り９８を満たすのに必Ｊａなカウ
ントの数を制御し、満たされたときにカウンタ９８は出
力パルスを発生する。カウンタはインピーダンス測定１
ｄ号であるこの出力パルスをスイッチ１０４に供給し、
スイッチ１０４は第１図の測定スイッチ５８と端末スイ
ッチ４００機能を組合したものである。例示のスイッチ
１０４は４つの早極双投段を有し、各段は４つの測定電
惚２０．２２．２４２よび２６の異なる１つをスイッチ
人力ライン１０４ａｆｉたはスイッチ出力ライン１０４
ｂＫ振続するように４１！成されている。出力ラインは
造営非導通のトランジスタ放電スイッチとして例示され
た端末装−４２１に一統されている。このトランジスタ
と並列にコンデ／すと直列のスイッチがあり、このスイ
ッチは図示するように常開であり、初期ｆｆ定測定中の
み外部制御装置によって閉成される。

第６図の装置に対する測定装［５！“は差動増中器のコ
ンパレータ１０６を使用する。このコンパレータ１０６
の一方の入力はスイッチ入カライン１０４暑に接続され
ており、他方の入力は２個の抵抗１０８および１１０を
有する＋ｖ４圧源から発生されるＤＣ基準電圧を受信す
る。測定製置５６１はさらに１制御装置５２”からの制
御のもとでコンパレータ１０６からの出カイ信号を配憶
できるバッファ１１２ケ含む。例示の割ｍａ直はマイク
ｏ　コｙ　ヒｚ　−ｆｉ　’４ｒ：　含み、このマイク
ロコンピュータはデータバス１１６およびアドレスバス
１１８を介してリード・オンリー・メモリ（ＲＯＭ）１
２０に接続されたプログラマブル・マイクロプロセッサ
１１４、）ｔＡＭ１２２、およびインターフェース−埋
素子１２４を有する。−ｊ脚装置はスイッチ１０４を１
１１Ｊｌｔｌｌ、、測定用バッファ１１２な制御し、か
つカウンタ制御レジスタ１０２を制御するようＫｍ続さ
れている。

第６図の装置はさらにタッチ検出器５０”を使用する。

このタッチ検出器３ｏ“は第１図および第２図を参照し
て上記したように構成されることが適当しており、その
出力はデータバス１１６に接続されている。

第６図のＡＣｍ置の全体の動作は代表的にはスイッチ１
０４および端末装置４２”を介して各−１足電極２０１
２２．２４および２６を接地することによってフエース
プに一ト被膜キャパシタンスを放電させること、電Ｉｉ
！２８を通じて動作する検出器５０”によるフェースプ
レート上の任意の場所でのタッチの検出、タッチが検出
されないときに測定された＃Ｉ展インピーダンスの基準
値を得て更新すること、タッチが検出されたときにこれ
らインピーダンスを測定すること、および後者のインピ
ーダンス６１４厘値を更新された基準値と比較すること
Ｋよってタッチのロケーションを計算することを含む。

かくして全体の動作は第２図の装置に対して＃＆５凶を
参照して上記した動作に類似しているといえる。さらに
、上記４準櫨を得て更新するルーチン、およびタッチが
検出されたときの副屋ルーチンは、一般に、第２図の装
置に対して第４図および第５図をそれぞれ参照して上記
したものＫｍ似しているといえる。しかしながら、各測
定電極において行なわれた測定の詳細は、基準値を得て
更新をする目的の場合でも、あるいはタッチが存在する
ときの１１定の場合でも、５ｇ６図およびｌ＠７図をさ
らに参照して記数するように、第２図の装置に関して上
記したものとは相違する。

例えば測定電極２６＆ｃおける測定（基準値を得る目的
であろうと、更新する目的であろうと、あるいは検出さ
れたタッチな位置決めする目的であろうとかまわない）
を考察する。スイッチ１０４０４つの段は図示するよう
に設定され、６４１１足電極２０．２２および２４をス
イッチライン１０４ｂＫ捩絖する。測定電極２６のみが
スイッチを介してライン１０４Ｊｌに１１２絖され、諒
５４″からの＃ｊ足偵号を受１１！する。

カウンタ９８は発＠器１００のパルスかレジスタ１０２
の数によって選択されたａｔでＩＲｉ！、シ計数される
ことに応答して選択された周波数を有する１１１定信号
を発生し、それをスイッチライン１０４１に供給する。

例示の制＃装＃Ｌ３２ｍはフェースプレート被験に結合
された任意のキャパシタンスが相当な分路負荷な与える
周波数より低い値を最初に待つ測定信号周波数を発生す
るための数な制御レジスタ１０２にロードする。従って
、電極２６に与えられるフェースプレートインピーダン
スによりロードされるスイッチ１０４に供給される測定
信号の波形は、第７図に波形１６０で図示するように、
源５４”が純粋に抵抗性のインピーダンスに与えるであ
ろう波形に本質的に同一の波形を有する。

コンパレータ１０６は一万の入力端子でこの波形を受領
し、他方の入力端子で第７図の波形１６２に示すように
波形１５０の測定信号の高レベルおよび低レベル漣間の
あるレベルの１ＪＣ基準区圧な受信する。それ故、コン
パレータ１０６からの出力は供給された６１！Ｉ　Ｍ　
１区１号の波形１３０の変化に応答して、２つの選択さ
れた埴り間で切換わり、波形１５４４を有するようＫな
る。

サンプリングバッファ１１２はコンパレータからの状態
信号出力をアドレスバス１１Ｂでり値した割御領号に応
答してデータバス１１６に供給する。コンパレータ１０
６からの交互時性の状謙ビットを感知すると、すなわち
波形１３４により、制御装＠　５２″は測定信号の周波
数を増大させる目的のために他の代表的にはより小さい
値の数を制御レジスタ１０２に供給する。

制御装＠　５２”はバッファ１１２を介してコンパレー
タ１０６からのスイッチングする状態ビットを受信する
ことに応答して源５４”の周波数を増大し続ける。しか
しながら、測定信号の周波数が増大すると、フェースプ
レート′Ｗｔ良に存在するキャパシタンスは大きな影曽
を持ち、コンパレータ１０６に供給されるインピーダン
ス応答波形は波形１５０から第７図の波形１５６に次第
に変化する。周波数が増大する電圧波形におけるこの変
化の１つの符徴は最低電圧がタッチのタッチキャノくシ
タンスを含むフェースプレートのキャノくシタ／スによ
る電荷の蓄積のために増大するということである。フェ
ースプレートキャパシタンスがコンパレータ１０６の他
方の入力に供給される基準電圧より高い波＃１３４にお
ける電圧の最小１区を保持する点まで源３４１の周波数
が増大すると、コンパレータからの出力信号はもは一？
２つの１直の間で切換わらず、一定にとどまる。コンパ
レータ出力信号はかくして波形１５８に祝われているよ
うに単一のｍを持つ。

コンパレータ１０６からのこの単−蝋の状腿侶号に応、
答して、劇＃＃１１５２”は周波数決定用数の値を制御
レジスタ１０２にｍｌ憶する。この数はコンパレータ出
力がＮｋ初に早−の１ｆＬとなった御１ボ佃号周波数を
識別する。それ改、この数はタッチされた７エースプレ
ートが測定電極２６に与える抵抗−容置インピーダンス
の比較側だの基準を提供する。

対問するＩ１１憤２４で行なわれた同体の６１１１　Ｍ
とこの−ｊだの比軟、ならびに２つの’ｇｔ極２６およ
び２４における更新された−４４６区１１足庫とさらに
比軟することにより、これら電＋＃間の画直方回の閣崗
に沿うフェースプレートタッチな位置決めする。

第６図に示すようにマイクロプロセッサ１１４を使用す
るｍＪ御装瀘３２１は１つの測定電極において上ｍｌ測
足を選択された回数繰返し、複数の測定の半均または他
の選択された結果を決定することができ、そして使用者
がフェースプレー）　８躾にタッチして表示されている
情報項月を選択するときに利用できる時間内に十分に入
る非常な高速度で、他の各測定電極において反復する同
様の複数の＃１足を実行することができる。制御装置６
２は複数の周波数に基ずく測定値を容易に比較して４つ
の一足１！極に関してタッチを位置決めする。こ収は相
当な正確さおよび梢度をゼしかつ容易に＾いイ♂幀性を
有し侍るタッチの比較的高いＰｓ像度のロケーションｆ
ｊＩ：もたらす。

本発明は関連する破膜傾城の周辺の４つのｍ＋屋電欅の
それぞれから測定を行なうことを％ＫＮ及して記載した
。しかしながら、それぞれか異なる方間に延在する２つ
のＭＬ慄、飼えｒＬ岨慣２０および２４のそれぞれのみ
によって付なわれた＃ｊ足によっても若干の応用に対し
ては満足にフェースグレートタッチを位置決めできる。

しかしながら、４つの電極のそれぞれ、あるいは過当な
場合には恐らく３つの３角形状に配慮された電極のそれ
ぞれにより行なわれた測定の万がより大きな解像度およ
び信頼性馨もってタッチのロケーションを得ることがで
きるので好ましい。

上ｍｌしたように、本発明は既知の充電状−１例えば順
次に既知の放電酒肴および既知のキャパシタンス光′に
信号な提供するインピーダンス−１１定値号により夾何
できる。これら引続く信号はフェースプレートに−Ｃパ
ラメータの埴を示す光電状題を生じさせる。別の実施例
は父流副足イ６号を提供する。いずれの実施例でも、装
置は一足信号に対するフェースプレートインビーダノス
の応答の測鼠値からフェースグレートタッチを位−次め
できる。あるいは、＃ｃｍはｔ９ｒ建の応答な倚るよう
に測定信号のパラメータな壷Ｉｉ＃１する、あるいはｔ
ｊｊ１４節し、そのパラメータの最終値からタッチのロ
ケーションを決定することができる。

かくして、上記した目的は有効に４成されたことが理解
できる。本発明の範囲から逸脱することなしに上記方法
を実行する際におよび上記構成にある変形、変更がなし
得るから、上１記威に含まれるあるいは添付図面に示さ
れたすべての事柄は例示であって限定する意味ではない
と解釈するべきである。

また、待ｆｆ請求の範囲はこの中に記載した不発明の包
括的なおよび特定の物像のすべてをカバーすることを意
図しているということが理解されよう０

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による表示装置の一内を示すブロック図
、第２図は切侠わる直ｔｌＬｌｉ４１Ｉ屋１ｄ号により
本発明を実施する除の第１図による表示装置のブロック
図、第２Ａ図は第２図の表示装置の動作を例示する波形
図、第５．４および５図は４２図の実施例によるタッチ
位置決め動作の７０−チャート、第６図は交流測定信号
により本発明を爽施する際の第１図による一表示装筺の
ブロック図、第７図は第６図の表示装置の動作ケ例示−
［る波形図である。 １２：表示ユニット １４　：＆示スクリーン １６：フェースプレート １８：導電性破膜 ２０．２２．２４．２６：１を極 ２８：電極 ３０：タッチ検出器 ５２：制ｎ装置 ５４：一足１ｄ号源 ６６：測定装置 ４２：４末装置 ４４：タッチ ｓｏ’、　ｓ、ｏ”　：タッチ検出器 ６２１．３２１：制御装置 ５４１．３４１′＝６１１Ｉ定佃号諒 ３６１．５６１：測定装置 ４２’、４２”：趨末装置 １００　：発＆器 １０２：カラ７りｖ制御レジスタ １０６：コンパレータ １１２：バッファ １１４：プログラマプル・マイクロプロセッサ１２０：
ＲＯＭ １２２　：　ｌｔＡＭ １２４：インターフェース調理素子 ＦＩＧ、　３

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１１導電性被膜が施こされたフェースプレートを有す
   るタッチ応答表示装置において、 前記フェースプレート被１１１１Ｃ［続されかつこの被
   膜上の既知の相対的場所に配置された少なくとも第１の
   電極と、 選択された特性のインピーダンス測定信号を該電極に供
   給するとともに、該測定信号に対する前記フェースプレ
   ート被膜の電気インピーダンスの応答に応答して前記フ
   ェースグレートの纒量性タッチの前記電極に関するロケ
   ーションを識別するための測定手段 とを具備することを％像とする表示装置。 （２１ｔｉｌｌ記欄足手戚がＷＭ記値展イ／ビーダンス
   の前記測定信号に対する応答を基準状態と比較するため
   の第１の手段を含む脣＃Ｔ：請求の範囲第１項記載の表
   示ｔｃ置。 （３１前記測定手段が、 いかなるタッチも存在しない場合に前記被膜インピーダ
   ンスの前記測定信号に対する基準応答を発生するための
   手段と、 咳基準応答を、タッチの存在時の前記被膜インピーダン
   スの＃６己測足侶号に対する応答と比較するための手段 とを含む％ｒｆｄＪ求の範囲第１項記載の表示装置。 （４）前記一定手段が前記棚厘１６号に応答して前耐電
   極に発生された電圧の大きさを測定するための手段を含
   む臀Ｉｆｆ請求の範囲第１項記載の表示装置。 （５１前ｉｋ；＃Ｉ足手段が複数の周波数値を含む選択
   された周波数特性を有する測定信号を前記電極に供給す
   るための手段を含む待＃！Ｆ請求の範囲第４ＪＪ記−の
   表示装置。 （６１ｔｔｘｔｉ＝測定手段が選択された範囲内の異な
   る周波数値な持つ前ｍｌ測定猶号を発生するための手段
   を含む特許請求の範囲第４項ｍｌ教の表示装置。 （７）前記１１建手段が選択されたキャパシタンス光電
   特性を有する測定信号を前記電極に供給するための手段
   を含む！ｆｆ−１Ｊｌｌ求の範囲第４項記載の表示装置
   。 １ＢＪ　　ｆＸＸ測測定手段選択されたキャパシタンス
   放電特性に続いて選択されたキャパシタンス光電特性を
   有する前記測定信号を発生するための手段を含む特許請
   求の範囲第４項記載の表示装置。 （９）前記＃Ｍ足手段が選択された特性を有する前記測
   定１ｇ号を発生しかつ該特性を変化させてそれに対する
   選択された応答を生じさせるための手段な會む脣ＩｆＦ
   ｔＩＩ求の範囲第１項記載の表示装置。 Ｑｏ　　前記測定手段が前記測定信号の周波数を変化さ
   せて前ｆｆｉ選択された応答を生じさせるｑ！ｆｅ請求
   の範囲１！！９項記載の表示装置。 ａｕ＊ｅフェースプレー）［１ｉｌに懐続されかつこの
   ｆｌｌｗｌ、上の既知の相対的ｍ所に配置された第２の
   電極を含み、＃記側屋手段が一１側匣佃号を前記各’［
   惺に供給し、繭紀各電愼に供給される繭紀−足侶号に対
   する前記フェースプレート被膜の電気インピーダンスの
   応答にに６答し、そして前記機敏）電極のＷ７Ｂ記応答
   に従ってタッチのロケーションを識別する籍ｆｌｆ請求
   の範囲第１項記載の表示順ｉｍ３　　前記第１および第
   ２の電極のそれぞれが異なる方間に沿って細長（なって
   いる時ｆｆｉ＃求の範囲＠１０項記載の表示装置◇ ０　前記第１および第２の電極のそれぞれが＃Ｉ長く、
   かつこれらｔ極がＮ關され、半行である特許請求の範囲
   第１００項記載表示装置。 ０４　　前記フェースプレート被−に接続された・電極
   と回路倣Ｉｔｔｌ関保にあるタッチ検出手段を含む軸杆
   Ｒ末の範囲第１項記載の表示装置。 ｔ１５１ＷＭ記フェースプレート被展に接続されかつ前
   記タッチ検出手段と回路接続関係にある別の′（慣を含
   む特／’Ｆ　請求の範囲第１４項ｍｌ畝の表示装置。 Ｑ−繭配測頑鴫惨におけるキャパシタンスを選択的に放
   電させるための手段をよむ時＋ｆＦ＋ｂｌ求の範囲第１
   項ｔＥ２械の表示装置〇 （１７１パターン化されない４＠性破麟が施こされたフ
   ェースプレートを有するタッチ応答衣示鉄−において、 前１フエースプレート被膜に接続されかつこの被換上の
   既知の場所に配置された少なくとも第１および第２の導
   電性電極と、 該電極に関する前ｉｅフェースプレートの容量性タッチ
   の場所を識別するための場所識別手段とを具備し、 該場所識別手段が 選択された特性のインピーダンス測定信号を前記各１に
   ＃Ａに供給するための手段と、前記＃１１信号に対する
   各電極における前記フエースプレー）！ｍの電気インピ
   ーダンスの応答に応答する手段と、 前記各電極に１？ける前ｍｌ被膜イ／ビーダンスの前１
   側足偏号に対−［る前記応答を基準状態と比較するため
   の手段 とを含む表示装置。 鰻　表示装置フェースプレートの尋ＩＥ注斂−に対する
   谷ｉｌｌ性タッチを位置決めするための方法において、 少な（とも１つの電極を前記フェースプレート被膜に関
   してこり破膜と一続された既知の場所に設ける段階と、 タッチが祥在しない場合ＫＭ記電極に供給される電気信
   号に応答してｓｉｒ紀ＷＩ１．惨に与えられる電気イン
   ピーダンスの基準＃ｊ定値を提供する段階と、タッチが
   存在するときＷＣｊｍ紀電極に供給される電気信号に応
   答して前配電便に与えられる１気インピーダンスの別の
   測定値な提供する段階と、＃紀基準測屍ｒｆｉとＦ１υ
   記別の測定値との比較に応答して前ｍ１１つのｌ［健に
   関するタッチの場所を繊別する段階 とからなることを特徴とする位置決め方法。 ０　前配亀憔に軸合されたキャパシタンスを、創紀測定
   値な提供する前に放電させる段階を含む竹、ｆＦｄ求の
   Ｎ囲第１８項ｍｌ械の位置決め方法。 Ｃ＃Ｉ！１妃各醐だ１区を提供する段階が抵抗−谷にイ
   ンピーダンスの直を提供する特ｄ’Ｆ、１ｌｌＪ末の範
   囲第１８項妃−の位置決め方法。 ３υ　前記フェースプレート上の既知の相対的−所に前
   に′、被被膜巌絖された少な（とも第２の゛成極を設け
   る段階と、 ば第２の・成極におけるｓＵ　ｒＮ基準側だ埴および繭
   紀別の測定層を提供する段階 とを含み、 前ｍｌ繊識別る段階が前記第２の電極における前記基準
   および別の測定１１の比較に応答して繭配県２の電極に
   関するタッチの場所を識別し、かつ前１２つの電極のそ
   れぞれＫｐＡする前記識別埴の組合せに応答し、率−の
   場所鐵別櫨を提供することを含む脣ｆｆｄＪ求の範囲第
   １８墳紀械の位は決め方法。 ｒＪ２Ｊａ記フェースフエースプレートタッチヶ検出し
   て＃配基準測定匝の提供νよび創記別の醐足鑞の提供を
   制御するための段階を富む符計ｄ末の軛ｗ！Ａ第１８項
   記械の位置決め方法〇