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JPS5842769U - Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体 - Google Patents

Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体

Info

Publication number
JPS5842769U
JPS5842769U JP13786881U JP13786881U JPS5842769U JP S5842769 U JPS5842769 U JP S5842769U JP 13786881 U JP13786881 U JP 13786881U JP 13786881 U JP13786881 U JP 13786881U JP S5842769 U JPS5842769 U JP S5842769U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact piece
connection conductor
contact
test
dip type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13786881U
Other languages
English (en)
Inventor
合田　稔
Original Assignee
株式会社明電舎
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社明電舎 filed Critical 株式会社明電舎
Priority to JP13786881U priority Critical patent/JPS5842769U/ja
Publication of JPS5842769U publication Critical patent/JPS5842769U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は一般的なりＩＰ形ＩＣの斜視図、第２図は、本
考案の一実施例から成る試験用接続導体の平面図、第３
図は第２図のＡ−Ａ線断面図、第４図は第３図のＢ−Ｂ
線断面図、第５図及び第６図は本考案の他の実施例から
成る試験用接続導体の未使用時及び使用時における正面
図である。 １・・・ＤＩＰ形ｉｃ、１２・・・接続ピン、２・・・
試験用接続導体、３・・・接触子体、３１．３１ａ、　
３１ｂ・・・接触子片、３２・・・モールド体、４１・
・・ケーブル素線、４２・・・コネクタ。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）　　ＤＩＰ形のＩＣの具備する複数の接続ピンと
    試験用機器とを電気的に接続する試験用接続導体におい
    て、該試験用接続導体を、複数のケーブル素線と、これ
    らケーブル素線の一端側に各々設けた前記試験用機器に
    接続されるコネクタと、前記ケーブル素線の他端側に接
    触支片を各々設けると共にこれら接触子片を２列に対向
    して並設し、且つこれら各接触子片を相互に絶縁離隔す
    ると共に絶縁部から成るモード体で包囲して成る接触子
    体とで形成し、該接触子体を前記ＩＣの具備する接続ピ
    ンに係脱し得るように構成したことを特徴とするＤＩＰ
    形ＩＣの試験用接続導体。
  2. （２）接触子体が、筐体状に形成されたモールド体の内
    部において接触子を対向させて成ることを特徴とする実
    用新案登録請求の範囲第１項記載のＤＩＰ形ＩＣの試験
    用接続導体。
  3. （３）接触子体が、対向する一対の接触子片間の対向寸
    法を可変することができるクリップから成ることを特徴
    とする実用新案登録請求の範囲第１項記載のＤＩＰ形Ｉ
    Ｃの試験用接続導体。
JP13786881U 1981-09-17 1981-09-17 Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体 Pending JPS5842769U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13786881U JPS5842769U (ja) 1981-09-17 1981-09-17 Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13786881U JPS5842769U (ja) 1981-09-17 1981-09-17 Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5842769U true JPS5842769U (ja) 1983-03-22

Family

ID=29931117

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13786881U Pending JPS5842769U (ja) 1981-09-17 1981-09-17 Ｄｉｐ形ｉｃの試験用接続導体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5842769U (ja)

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