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JPS5841737A - 発光ガラス層の製造方法とその応用 - Google Patents

発光ガラス層の製造方法とその応用

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Publication number
JPS5841737A
JPS5841737A JP57061860A JP6186082A JPS5841737A JP S5841737 A JPS5841737 A JP S5841737A JP 57061860 A JP57061860 A JP 57061860A JP 6186082 A JP6186082 A JP 6186082A JP S5841737 A JPS5841737 A JP S5841737A
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JP
Japan
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glass layer
luminescent
layer
luminescent glass
light
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Application number
JP57061860A
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English (en)
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JPH0686307B2 (ja
Inventor
リユドルフ・アインドウル
アンドレ・ロベ−ル
クロ−ド・セラ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centre National de la Recherche Scientifique CNRS, Commissariat a lEnergie Atomique CEA filed Critical Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
Publication of JPS5841737A publication Critical patent/JPS5841737A/ja
Publication of JPH0686307B2 publication Critical patent/JPH0686307B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C4/00Compositions for glass with special properties
    • C03C4/12Compositions for glass with special properties for luminescent glass; for fluorescent glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/02Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/10Glass or silica
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • G01T1/2023Selection of materials
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は発覚ガラス層(couch@s d・マ・rr
1wn*im@sa@mts )の製造方法に関する0
本発明は。
特に1発光表示装置、隘極管、像増幅管、X@やテレビ
の画像面の如き少なくとも1層の発光ガラスを備える装
置の製造方法に関する0本発明は更に1人力ロ(f@m
8tr@4@ntr** ) t−備えたフォトディテ
クタに光学的に接続され、エネルギー吸収によ9発光し
うる、基台上に取付け7’h1層の発覚ガラスを含むフ
ォトシンチレータの製造方法にも関する。
このようなフォトシンチレータは特にアクチニドの製造
に用いる酸液中のα粒子放射率の欄足及び原子炉からの
放射性燃料の再処理工場で発生する放射性廃秦物の連続
検査に用いる。
事実、原子カニ業と同じく研究分野に於いて、液体中に
溶解している物質のα粒子放射率tm足しなければなら
ないことがしばしばある。測定対象の筐体が腐食性で、
流動してお〕、α、β及び/又はrの放射性を同時に呈
する場合、光電増倍管のようなフォトディテクタの入力
口に光学的に接続した発光ガラス層を有するフォトシン
チレータを用いてα粒子を検知する方法は一公知の他の
方法と比較して着しく有利である。特に、腐食性の硝酸
溶液の如き有機又は無機の試薬に対して高度の耐性を示
すガラス(二酸化ケイ累8102分の多い)を用いるこ
とは有利である・この高度の耐性を有するガラスを用い
ることによって、光電増倍管の入力口に向い合って設置
した発光ガラス層を被側足液体と直接に*触させること
ができる。脆弱且つ容易に変形する隔離口を用いる従来
の装置では同様の立体角度で溶液を観察することができ
なかりた。上記のガラスを採用する装置では、堅牢であ
るので、流量を変化させて液体を流動せしめ、従って、
発光ガラス層の位置での液体の圧力を変化させてII察
を行いうる利点がある。
同時にα、β及び/又はrの放射源である液体に対して
は、β粒子及び/又紘γ光子に対するα粒子の識別が必
蚤であシ、このためには、次の2(5) 条件を満足させねばならない。即ち、β粒子及び/又は
T光子がほとんど放射しないように測定すべき液体の部
分を数−のオーダーの薄層にしなければならない、同時
に、発光ガラス層の厚さを、測定すべきα粒子の放射エ
ネ^ギーに相轟する発光ガラス内の行1距離としなけれ
ばならない、この行程距離は20μm以下、例えば10
〜15μmでよい。
しかしながら、薄層の発覚ガラスを製作する公知の方法
で紘1再現可11!に発光ガラスの薄層を製作できない
基体上に発光ガラスの薄層を融合する方法で娘、発覚4
$4&に関与するガラスのIlt分を製作中同一に保持
するのが1ilJ111である。更に、この#l@で社
、薄層とするのに非常に少量の材料を使用するので、薄
層の最終成分(111合の後の)は、発光ガ5)スを得
る九めに調合し九初期成分と大巾に相違することとなp
、この細釆300μm以下の層厚を得るのが不可能であ
る。
他方1ガクスを磨耗して行う製法では、ガラス(6) を2501#mtで薄くすることができ、この磨耗を続
けると、40分の1ミクロンまでの結果が得られる。し
かし、この方法にもいくつかの欠点がある。すなわち、
この!11!法は不確実であシ、更に、得られたガラス
の薄片を光電増倍管の入力部に固足するのが困難である
本発明の目的は上述の公知技術の欠点を解法する仁とに
ある。
本実@に従りて、シリカを含有し、発光中心を与えるよ
うな化学成分の少なくとも1つのターゲットの材料を基
台上に1ilk4jスノ中ツタリンダして、該1台上に
少なくとも1層の発光ガラスを形成すること1**とす
る発光ガラス層の製造方法が提供される。
本!i!1明の方法に従うと、儒えば10〜20ミクロ
ンのオーダーの所望厚さの発光ガラスの薄層が再現可能
に製作することができる。
本発明では、各々発光中心を与える1111又は豪数種
の化学成分の1又紘数個のターゲットを用いるが、これ
によって基台上に所足の発光ガラスの単一層(単一被覆
)又紘それぞれ相違する成分の発光ガラスの複数層(複
合被覆)t−形成することができる。
従って、粒子で各ターrットtI&撃することによりて
ターゲットから材料tノ為ギとりて材料を噴射させる0
粒子酸中性又は電荷されていてもよい。
書見ば0.又aN2の如き気体のイオン化分子、或いは
ブルゾンの如き希ガスのイオン化原子である。
本発明のill様Vcl!うと〜例えば水素管添加した
ブルゾンの如き不活性ガスからなる還元雰囲気中で基台
上に材料を噴射する。セリウ五入シ発光ガラスの場合に
は、この還元雰囲気によりて発光中心C−が形成さ・れ
中すくなる。
本発明の他の態様に従うと、更に形成された層の焼なま
しの如き熱I&nt行う、この熱処理は1層の形成中に
1台を加熱することによりて行りたシ、或いは層の形成
後に行う、セリウム入9の発光ガラスの場合には%焼な
ましを行うと、セリウム原子の大部分をCの状態にして
、発光ガラス層がエネルギーを、吸収したとtlに発す
る元の童を可成シの割合で増大させる。
この熱処理は、例えばアルプン雰囲気の如き不活性雰囲
気、或いは例えばブルゾンの如き不活性ガスに水素を添
加した混合気体の還元雰囲気中で行うことができる。
本発明の特徴に従うと、発光中心を形成すべき化合物は
少なくとも1種の希土類元gを含む・これはセリウムで
あってもよい、(複合被覆の場合には、例えば、各種希
土類元素をペースにした複数の化合物を使用したシ、単
一被覆の場合には例えばC・02又はC・20sの如き
セリウム基化合−又はそれらの混合物を使用することが
できる。)上述した如く、本実明拡、基台上に発光ガラ
ス層を有するシンチレータの制作方法tm供することを
も目的とし、この発光ガラスII(本発明の方法で製造
された)はエネルギーt−吸収し九ときに発光し、且つ
入力口を備えたフォトディテクタと光学的に接続してい
る。このフォトディテクタは例えば光電増倍器である。
発光ガラスとは、エネルギーの吸収によって励(9) 起され(例えばへα又は1粒子、又はr光子の形のエネ
ルギー)、その−ネルギーの少なくとも1部益を光とし
て再生するものである。、この再生は、励起後の極めて
短か1時間(一般に10−’s以下)に起る。
シンチレータは例えば、α又紘β粒子、又はr光子の検
出に用いる。
発光ガラス層の1台はフォトディテクタの予め艶けしし
た入力口でありうる。(この入方口社、発光ガラス層が
励起したときに発する光に透過性を有して、フォトディ
テクタが仁の光をとらえて電流に変換する。) 発光ガラス層の1台は、発光ガラス層が生じうる光に対
して透明で、且つ、フォトディテクタの入力口に光学的
K11l!されるものであってよい。
1台が磨*mと艶けし面とを有するときは、発光ガラス
層を艶けし面上に設置し、諌磨き直管介してフォトディ
テクタの入力口に光学的IF−接続するのが好ましい。
好ましくは、発光ガラス層on面は金属化して(1G) いる。
シンチレータがα粒子検出用のときは、発光ガラス面は
、α粒子の放射エネルギーに相当する発光ガラス内での
行程のオーダーの厚さでおるのが好tしく、従りて、こ
の場合、シンチレータがβ粒子(電子又は陽電子)又は
r光子を吸収したことによる光はα粒子の吸収による光
と比軟すると無視できる。
本発明の他の特徴及び効果は添付の図面を参照する以下
の実施例の説明によって明らかになるだろう、これらの
実施例は本発明の技術的範8を何等制限するものではな
い。
第1図には本発明の方法を実施するのに用いる装置が示
されている。ここで社、高周波泰陰也スノ臂ツタリング
によって基台上に少なくと41つの発光ガラス層が形成
される。特にこれは、第2図及び第3図を参照して後述
するシンチレータ用の発光ガラス層である= この高純度の被at−得るための装置は、”  Mod
ule  d@ pulv二rlsation  ma
ltlmode  janiAss  sea纏…*n
s d@ tr’*s haut@ pur@le  
’ と題し、雑誌” L@ V11+1・−Law C
ouChes Mine@s ”の1979年第196
号の付録、の211頁に記載のC,5ILLA及びF 
、 JAQUΣSの論文に記載されている。
この装置は囲障(第1図に図示せず)t7にし・このな
かで社、例えばターが分子ポンプ及びチタン昇華ポンプ
(図示せず)によりて10Pa程度の真空が実現されて
いる。これは、残存空気の不純物による還元雰囲気の汚
染を避けるためである。
装置は囲陣内に次のものを含んでいる。
−例えば直径8国のターp、) 1゜このターグットは
−その冷却のために水の循環をしている電lk3によっ
て−1500乃!−2000V(D高周波電圧(例えば
13 Milm )にされたターグツト支持体2上に配
置されている。
一水の循環4Sによって冷却され、導体5によ制 −HVリカの厚い被覆の抑iスクリーy 8 aこれに
よりて、発光の害になるF・# Ca + Na及びK
の如き不純物を層内に導入する恐れのある不本意なスパ
ッタリングによる汚染を抑制することができる。
本発明の好ましい態様に従うと、製造能率を高めるため
に、単一の基台よ)も複数の基台上に同時に被覆を行う
ターグット1は極めて純度の高いシリカと、例えば酸化
セリウムCa2O3又はC・02(Xは両者の混合物)
の如き発光化合一(すなわち、発光中心を与える特性の
)との混合物からなる。セリウム以外の発光化合物食用
いうるの社当然である。ターP、)i内のセリウムの割
合は1〜6質量−1例えば4−である、更に、ターグッ
トにアルイニウム、!グネシウム又はリチウムの酸化物
を添加して発光ガラス層の発光性tiめる乙とがで門る
更に、リチウムを添加することによって中性子の検出が
可能なシンチレータに用いうる発光ガラス層を得ること
ができる。
アルプンの如き不活性ガスと水素との混合気体(13) 内で陰極スパッタリング管行うが、水嵩は5〜1ov−
存在する。この気体は高純度(N55)のものが好壇し
い6.混合ガスの圧力はスパッタリング中は0.1〜I
Psである。
公知の如く、抑制スクリーン8で画成された囲障の区域
f3o・ターr、)1と基台6の間でアルfンイオンt
t−宣むf91マが形成される。イオンrはタニrット
IK引き嵜せられ、これt衝撃し、霧化し、原子111
.0及びC@fとシ出し、これらの原子が1台6上に噴
射されて層7t−形成する。@(tri統計的に(すな
わち平均して)行われ、得られる層7の組成は1〜6−
のセリウム11む発光tう誠の組成に相当する・ 水素は画先ガラス中にイオン06”(発光中心)を形成
す為のに好ましく、これは発光性に有害なイオンC−“
が消失するからである。事実、ス・皆ツタリングは層7
が形成されるまでに数時間続き、これは、基台支持体4
がシ11力′e禎41″Sれ、次いで真空化を止め、基
台6を導入する願で行われる。
不純物が$ l”l”Mであるような発光ガラス層を形
成(14) するように注意管払う(抑制スクリーン8.初期の強力
な真空度)。
まず最初に所望の層厚を決める。これは、例えば直径B
emのターゲットで300Wのオーダーの高周波電力の
場合に被着速度は時間当り0.2μmである。このよう
な速度で、良質の、すなわちち密で基台6に良好に接着
した層7の厚さは10〜20μmに達成できる・ このようにして得られたセリウム入りの発光ガラス層7
は、励起され九とき(例えに、α粒子によって)、他め
て弱い発光性を示すにすぎない。
これを焼なましの如き熱処理に付す、この熱地理は、公
知の掃気ガス炉(four a balayag@ga
*@ux)(図示せず)で、アルゴン又は窒素の如きガ
スからなる不活性雰囲気X線不活性ガスと水素(5〜1
0vLsの水素)からなる還元雰囲気内で行う。
この炉内で、1台6上のガラス層7は、例えは、1〜5
時間、700〜1000℃のオーダーの温度に保持され
る。この処理によって、発光性に有害なイオンC@4+
の大部分が除去できる。炉内での熱処理の代わ〕に、ガ
ラス層7の形成中に、囲陣内で500〜1000℃のオ
ーダーの温度に基台6を加熱して熱処理を行うことがで
きる。
第1図に示す装置で、同−基台上に単一ではなく・次々
に異り九種類の発光ガラス層を形成することができる・
これは−実現すべき層の数だけのターゲットを用い、こ
れらのターゲットを次々に衝−撃するか、或いは単一の
ターゲットを用い、1つの層を形成した後に1次の層を
形成する前に組成を変更して実現で龜る。
1台6の代わ夛に、光電増倍器の如き1又は複数のフォ
トディテクタt、その入力口のみt″残して保躾して囲
陣内に配置し、この入力口の上に直接に発光ガラス層を
形成せしめることができる(第3図に示す)、かくして
、検出システムの全体を作製できる。これが本発明の利
点の1つである。
第2図Kflえばα粒子検出用のシンチレータの概略を
示す、このシンチレータは、本発明に従りて、陰極ス/
譬ツタリングで石英の基台6上にセリウムを含有する発
光ガラス層9を接着させたものである。(このガラス層
は前述の如く熱処理にも付されている。)更に、この発
光ガラス層9は、α粒子を選択的に検出できるように、
入射α粒子の放射エネルギーに相当する骸ガラス内の行
程のオーダーの厚さである。
基台lOは板状であって・液体1,3を介して光電増倍
器12の入力口11に光学的に接続されている。液体1
3は石英及び入力口11を構成するガラスと近接した屈
折率を有する。例えば、この液体としてシリコンオイル
を用いる。光電増倍器12は高電圧源と、増幅0迦択及
び計算手段15と電気的に接続している。
基台1Gが艶岐し面10mと磨き面10bとを有してい
るとき、層9Fi艶けし面10a上に配置されているの
が好ましく、基台10は磨1面10bによりて光電増倍
器12の入力口11に接続されているのが好ましい、こ
れによって、層9の発する光が光電増倍器12に伝達し
やすくなる。
同様の理由で、公知技術に従い、発光ガラス層(17) 90表i[9a上に例えば500〜1000XO,t−
〆一の反射性金属被覆を施こしてもよい、この反射性金
属被覆として一嬬例えばアル1=ウムがあるが・シンチ
レータが腐食性試薬に耐性を有するために紘白金が好ま
し−0 更に・1台10の周囲すなわちヘリ10gを金属化1又
は党の全反射が可能な形状として、へりlO・での光の
反射を利用することによって光の伝導性を改畳すること
ができる。
更に発光ガラス層9と光電増倍器12との間の光学的!
IIl!を単純化することもできる。これは本発明の万
@に従って、増倍器12の予め艶けしにした入力口11
上に層9を直接に配置して達成で自る・入力口11上に
発光層9が配置されているシンチレータ16を第3図に
示している。上述と同じ理由で層9の表面は金属化され
ている。
第sI!lIには、主配管(図示せず)t−流れる放射
性且つ腐食性の液体りのα粒子の放射度t−11j足す
るためのシンチレータ16が図示されている0発光ガラ
ス層9の厚さは、液体り中の粒子αの放射(18) エネルギーに相当する該発光ガラス内の行程のオーダー
である。即ち、ここでは10〜15μmの範囲でよい、
更に、発光層9が液体りと接触するように主配管からの
分岐管17上にシンチレータ16を配置している。
本発明の方法によって、再現可能且つ工業的規模で薄い
発光ガラス層の製造が可能となり、この厚さはlo#n
のオーダーでよい。本発明の方法は、α粒子の検出用の
シンチレータの製造に特に適当、であ夛、1粒子及びr
光子との識別が良好にできるには発光ガラス層は10〜
15−を越えない厚さである。更に、発光ガラスtri
はとんどの化学剤に対して抵抗を有するので、α粒子を
放射する腐食性の液体と直接m触せしめることができる
。更に本発明の方法に従うと、光電増倍器の入力口の上
に直接に発光層を接着せしめて、一体化したシンチレー
タを製作することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法1*施する良めの装置の概略図で
ある。 第2図は、本発明の方法で製造した発光ガラス層を含む
シンチレータの1実施例の概略図である・第3図は、本
発明、の方法によって製造し九発光ガラス層を、シンチ
レータが備える光電増倍器の入力口上に直接取付けて−
る形式のシンチレータの1実施例の概略図である。 1:ターグット、2:ターグツト支持体、ユ4゜lO:
基台支持体、6:基台、7.9二発光ガラス層、8:抑
制スクリーン、11:入力口、12:光電増倍器。 出願人 ;ミサリア タ レネルジー アトき、クサン
トルナシ、ナル ドウ 2 ルシェルシ、 シアンティフィク 代理人 弁理士 新 居 正 彦 窮1頁の続き 0発 明 者 クロード・セラ フランス国92360ミュドン・う ・フォμ・サン・ランベール・ アブニュ・ボリュベ13 ■出 願 人 サンドル・ナショナル・ドウ・う・ルシ
エルシュ・シアンティ フィシ フランス国パリ・リュ・ボワイ エ26

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)少なくとも1つのターグット(l゛)の材料を陰他
    ス/臂tタリングで基台(6)上に噴射することよID
    、ターグット(1)の各々は、鋏基台(6)上に少なく
    とも1つの発光ガラス層(7)を形成するように、シリ
    カと発光中心管与える少なくとも1つの化合物を富むこ
    とを轡黴とする発光ガラス層の製造方法。 2)′腋材料を還元Ill気で噴射することを4111
    とする響許請求の範囲第1項に記載の発覚ガラス層の製
    造方法。 3)陳発光ガラス層(7)の形成中に#層の熱島環を行
    うこと10黴とする特許請求の範囲第1項又は#l2J
    JK記載の発光ガラス層の製造方法。 4)発光ガラス層(7)の形成後に、その熱外mt行う
    ことを特徴とする特許請求の範S第1項又は第2項に記
    載の発光ガラスの製造方法。 5)該熱#!&履を不活性雰囲気中で行うことを特徴と
    する特許請求の範囲第4項に記載の発光ガラス層の鵬造
    方法。 6)  @l&錫履を遺5e雰囲気中で行うことを特徴
    とする特許請求aSS第4項に記載の発光ガラス層の製
    造方法。 7)賦化合物O各々紘少なくとも1種の希土類元°累を
    含むことを尋黴とする発光I27層の製造方法・ S>  *希±II元素紘竜すクムである特許請求の@
    II第1項に記11O尭党tツス層の製造方法。 9)4I許−求の範11111PI至第8項の−ずれか
    に記載077決を、少なく“と%1つの発光I21層を
    備え良装置1)9作に応用すること。 1G) 41許請*omm第1乃至第8項のいずれかに
    記載07F法を、基台(10)上に発光ガラス層(9)
    を備え、数層(9)はエネルイー吸収にようて発光し、
    五り、入力口(11)を備見九フォトディテ//(1雰
    )と光学的KIIaしているシシテレータO11作に応
    用すること。 11)該基−8(10)は、フォトディテクタ(12)
    の予じめ艶けした入力口(11)であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第10項に記載の応用。 12) #、基台(10)は、発光ガラス層(9)の発
    する光に対して透明であ)、且つ、フォトディテクタの
    入力口(11)に光学的に接続されるべきである特許請
    求の範囲第10項に記載の応用。 13)諌轟台(10)紘磨自面(1(1)と艶けし面(
    10m)とを有し、咳発光ガラス層(9)は艶けし爾(
    10m)上に配置され、餓磨き面(10b )t−介し
    てフォトディテクタの入力口(11)K光学的に接続し
    ていることt4I黴とする特許請求の範S籐12項に記
    載の応用。 14)該発光ガラス層(9)の表面が金属化しているこ
    とを特徴とする特許請求の範W!A纂10項乃至第13
    項のいずれかに記載の応用。 15)#シンチレータはα粒子の検出用であ〕、諌発光
    ガラス層(9)は、α粒子の放射エネルギーに相轟する
    発光fラス内の行程のオーダーの厚さであることt−特
    徴とする特許請求の範囲第10項乃至第14項のいずれ
    かに記載の応用。
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