JPS5834365A - クランプ式電力計におけるホ−ル素子の整流化誤差電圧補償方法 - Google Patents
クランプ式電力計におけるホ−ル素子の整流化誤差電圧補償方法Info
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- JPS5834365A JPS5834365A JP56133626A JP13362681A JPS5834365A JP S5834365 A JPS5834365 A JP S5834365A JP 56133626 A JP56133626 A JP 56133626A JP 13362681 A JP13362681 A JP 13362681A JP S5834365 A JPS5834365 A JP S5834365A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
- G01R21/08—Arrangements for measuring electric power or power factor by using galvanomagnetic-effect devices, e.g. Hall-effect devices
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は閉磁路中の空隙に号；−ル素子を有するクフ
ンプ式電力計の磁電変換手段に関するもので、該計器に
おける特性を改曽することを目的とする。
ンプ式電力計の磁電変換手段に関するもので、該計器に
おける特性を改曽することを目的とする。
クランプ式電力計は第７図に示すように開閉構造を有す
る磁気コアＣと該コア空隙部に挿入され九４（−ル素子
Ｉを有するが、全被測定電路Ｗの被測定電流をｉとする
と空隙部の磁束密度Ｂ！Ｉは次式％式％ ） Ｒ，グ：空隙部しフクタンス。
る磁気コアＣと該コア空隙部に挿入され九４（−ル素子
Ｉを有するが、全被測定電路Ｗの被測定電流をｉとする
と空隙部の磁束密度Ｂ！Ｉは次式％式％ ） Ｒ，グ：空隙部しフクタンス。
Ｒｃ：コアレフクタンス。
Ｓ！＝空隙空隙面断
面積、被測定電路電圧ｅを電圧電流変換器Ａを介して変
換した制御電流ＩＣをホール素子Ｈに供給したとき、ホ
ー／Ｌ’素子の出力電圧ＶＨは次式で表わされる。
換した制御電流ＩＣをホール素子Ｈに供給したとき、ホ
ー／Ｌ’素子の出力電圧ＶＨは次式で表わされる。
Ｖｌ（＝、に−１ｃｍＢｙ ＝に一１ｃｍ１／（Ｒ１＋
Ｒｃ）Ｓｌ ＶＫ：ホール素子によって決定される定
数ＣＶ／Ａ （ｕｒｈ／ＷＬＬ）］ したがって電電力室においては被測定電路電圧ｅおよび
被測定電路電流ｉを ｇ ｍｆＥ Ｅｃｏｓｗｔ、 ｉ ＝５１ｃｏｚ（ｗ
ｔ十〇）とし、―菟−ル素子の制御電流１ｃを電圧ｅに
比例させると上式からホール素子出力電圧ＶＨはＦＨｏ
ｃ ｆ ＮＩＣ−ｉ ｗｍαＥｌ ｃｏＪＰｗｔ 串ｃ
ａｐ （ｗｔ十〇）＝α’（Ｅｌｃｏｙθ＋Ｅｌｃｏｚ
（２ｗｔ十〇）） （１：（α、α′は定
数） とな如、波形を第２図に示すようにの式の第７項で表わ
される直流成分は被測定電路の有効電力に相肖する。
Ｒｃ）Ｓｌ ＶＫ：ホール素子によって決定される定
数ＣＶ／Ａ （ｕｒｈ／ＷＬＬ）］ したがって電電力室においては被測定電路電圧ｅおよび
被測定電路電流ｉを ｇ ｍｆＥ Ｅｃｏｓｗｔ、 ｉ ＝５１ｃｏｚ（ｗ
ｔ十〇）とし、―菟−ル素子の制御電流１ｃを電圧ｅに
比例させると上式からホール素子出力電圧ＶＨはＦＨｏ
ｃ ｆ ＮＩＣ−ｉ ｗｍαＥｌ ｃｏＪＰｗｔ 串ｃ
ａｐ （ｗｔ十〇）＝α’（Ｅｌｃｏｙθ＋Ｅｌｃｏｚ
（２ｗｔ十〇）） （１：（α、α′は定
数） とな如、波形を第２図に示すようにの式の第７項で表わ
される直流成分は被測定電路の有効電力に相肖する。
このようなりフンプ式電力計において、上記した電流ｉ
が零のときは被測定電路電圧Ｉ、又はこれに比例させ九
ホール素子の制御電流１ｃが如何なる値となってもホー
ル素子Ｈの出力電圧ＶＨは必らず零と表らなければなら
ないが、実際にはホール素子材質の不均一性、形状の非
対称性、電極付けの不完全性等によって、ｉｚＯのとき
でも交流の制御電流１ｃが流れるとホール素子の出力電
圧としてＩｃ１Ｃ比例して増減する交流成分と直流成分
が発生する。この交流成分は周知の通〉上記した原因即
ちホール素子における諸条件の不均衡による残留電圧成
分であって、電力針としては前記し友ようにホール素子
出力電圧の直流成分が有効電力として表示されるもので
あるから、上記交流成分は測定精度に何等の影臀を与え
ることもなく、且つ制御電流１ｃに比例するものである
から簡易な手法によって打消すことが可能であるが、こ
の発明とは関係がないからこ！ではこれ以上論及しない
。
が零のときは被測定電路電圧Ｉ、又はこれに比例させ九
ホール素子の制御電流１ｃが如何なる値となってもホー
ル素子Ｈの出力電圧ＶＨは必らず零と表らなければなら
ないが、実際にはホール素子材質の不均一性、形状の非
対称性、電極付けの不完全性等によって、ｉｚＯのとき
でも交流の制御電流１ｃが流れるとホール素子の出力電
圧としてＩｃ１Ｃ比例して増減する交流成分と直流成分
が発生する。この交流成分は周知の通〉上記した原因即
ちホール素子における諸条件の不均衡による残留電圧成
分であって、電力針としては前記し友ようにホール素子
出力電圧の直流成分が有効電力として表示されるもので
あるから、上記交流成分は測定精度に何等の影臀を与え
ることもなく、且つ制御電流１ｃに比例するものである
から簡易な手法によって打消すことが可能であるが、こ
の発明とは関係がないからこ！ではこれ以上論及しない
。
然し乍ら、ホール素子の出力電力に含まれる直流成分は
通常整流化誤差と呼ばれるもので、電力側ρ 化させる。この発明は上記したようにホール素子出力に
おける不都合を解消することを目的とした＊−ル素子の
整流化誤差電圧補償方法に係シ、被測定電線路を内挿さ
せる閉磁路中の空隙にホール素子を有し、該ホール素子
に被測定電路電圧に比例した交流制御電流を供給してホ
ー／Ｌ／素子出力を検出してなる電力測定法において、
上記交流制御電流とホール素子入力抵抗とによってホー
ル素子入力端子に発生する交流電圧を整流した電圧をホ
ール素子出力電圧に加算することを特徴とするものであ
る。
通常整流化誤差と呼ばれるもので、電力側ρ 化させる。この発明は上記したようにホール素子出力に
おける不都合を解消することを目的とした＊−ル素子の
整流化誤差電圧補償方法に係シ、被測定電線路を内挿さ
せる閉磁路中の空隙にホール素子を有し、該ホール素子
に被測定電路電圧に比例した交流制御電流を供給してホ
ー／Ｌ／素子出力を検出してなる電力測定法において、
上記交流制御電流とホール素子入力抵抗とによってホー
ル素子入力端子に発生する交流電圧を整流した電圧をホ
ール素子出力電圧に加算することを特徴とするものであ
る。
次にこの発明方法の実施例を図面を参照し乍ら説明する
。まず第ゲ図について一実施例を説明すると、被測定電
路電圧４は電圧電流変換器Ａによルホール素子Ｈに電圧
−に比例した制御電流１ｃを供給し、ホール素子の入力
端子には制御電流１ｃとホール素子の入力抵抗Ｒｉの積
１ｃ −Ｒｉ ａｍ ｇｉの交流入力電圧が発生する。
。まず第ゲ図について一実施例を説明すると、被測定電
路電圧４は電圧電流変換器Ａによルホール素子Ｈに電圧
−に比例した制御電流１ｃを供給し、ホール素子の入力
端子には制御電流１ｃとホール素子の入力抵抗Ｒｉの積
１ｃ −Ｒｉ ａｍ ｇｉの交流入力電圧が発生する。
この発明ではこの電圧をダイオード（１） Ｋよって整
流して可変抵抗器（２）に供給し、該抵抗器の調整によ
って得られる出力電圧をホール素子出力電圧に加算する
ことによシ、前記ダイオード（υならびに可変抵抗器（
２）から表るホール素子の整流化誤差補償回路によって
、該回路を設けまい従来例では前述の如くホール素子出
力即ち第ダ図では演算増巾器（３）の出力電圧りに発生
する直流成分を打ち消すことができる。第１図はホール
素子の整流化誤差が片極性の場合の補償手段を示した亀
のであるが、ホール素子の条件によっては上記誤差は両
極性となるから極性を問わず打消すためには１ＩＩｊ図
に示すホール素子の整流化誤差補償回路（１） （１）
（２）によって目的を達することができる。
流して可変抵抗器（２）に供給し、該抵抗器の調整によ
って得られる出力電圧をホール素子出力電圧に加算する
ことによシ、前記ダイオード（υならびに可変抵抗器（
２）から表るホール素子の整流化誤差補償回路によって
、該回路を設けまい従来例では前述の如くホール素子出
力即ち第ダ図では演算増巾器（３）の出力電圧りに発生
する直流成分を打ち消すことができる。第１図はホール
素子の整流化誤差が片極性の場合の補償手段を示した亀
のであるが、ホール素子の条件によっては上記誤差は両
極性となるから極性を問わず打消すためには１ＩＩｊ図
に示すホール素子の整流化誤差補償回路（１） （１）
（２）によって目的を達することができる。
中−Ａ／案子の整流化誤差は第３図に示すように電圧ｅ
即ち制御電流１ｃに対し非０［極性を有していることは
前段で４１述べた通シであるが、ξの発明の方法によれ
ばホール素子の入力電圧ｄの値とダイオード（１・）の
立上ルミ圧とによってホール素子の整流化補償回路にお
ける補償電圧もは′Ｓ：第を図に示すように整流化誤差
電圧と同様な変化特性を持たせることができ、簡易な手
段によってホーＩｖ素子の制御電流の広範囲な値に亘っ
てはソ完全な補償が行なわれ、零点の変動が小でしたが
って常に安定した補償が可能となシ更に出力電圧の優れ
た直線性が得られ、電圧入力に＃讐されない精度良好な
電力測定を可能とするものである。
即ち制御電流１ｃに対し非０［極性を有していることは
前段で４１述べた通シであるが、ξの発明の方法によれ
ばホール素子の入力電圧ｄの値とダイオード（１・）の
立上ルミ圧とによってホール素子の整流化補償回路にお
ける補償電圧もは′Ｓ：第を図に示すように整流化誤差
電圧と同様な変化特性を持たせることができ、簡易な手
段によってホーＩｖ素子の制御電流の広範囲な値に亘っ
てはソ完全な補償が行なわれ、零点の変動が小でしたが
って常に安定した補償が可能となシ更に出力電圧の優れ
た直線性が得られ、電圧入力に＃讐されない精度良好な
電力測定を可能とするものである。
第１図、第、２図はクフンプ式電力計による電力測定原
理を説明する図面、第３図はホーｉＬ／素子の整流化ｗ
４差説明図、第り図、第１図はこの発明の方法を実施す
るための回路偶因、第６図はこの発明によるホール素子
の整流化誤差補償態様説明図である。 Ｃ・・・磁気コア、Ｉ・・・ホール素子、ｒ・・・＊ａ
ｌｌｌｌ定電路、ｅ・・・被測定電路電圧、龜・・・被
測定電路電流、Ｉｃ・・・ホーＡ／素子の制御電流、（
１）（す・・・ダイオード、（２） （２）’・・・可
変抵抗悪、（３）・・・演算増巾器、す・・・出力電圧 特許出願人 日置電機株式会社 −（７） − オ １ の 第２の Ｐ＝ｅｉ＝ＥＩｃａｓθ十ＥＩｃｏｓ（２ｗｔ＋θ）、
＃４ の 升５■ 沖６ ■
理を説明する図面、第３図はホーｉＬ／素子の整流化ｗ
４差説明図、第り図、第１図はこの発明の方法を実施す
るための回路偶因、第６図はこの発明によるホール素子
の整流化誤差補償態様説明図である。 Ｃ・・・磁気コア、Ｉ・・・ホール素子、ｒ・・・＊ａ
ｌｌｌｌ定電路、ｅ・・・被測定電路電圧、龜・・・被
測定電路電流、Ｉｃ・・・ホーＡ／素子の制御電流、（
１）（す・・・ダイオード、（２） （２）’・・・可
変抵抗悪、（３）・・・演算増巾器、す・・・出力電圧 特許出願人 日置電機株式会社 −（７） − オ １ の 第２の Ｐ＝ｅｉ＝ＥＩｃａｓθ十ＥＩｃｏｓ（２ｗｔ＋θ）、
＃４ の 升５■ 沖６ ■
Claims (1)
- １、被測定電路を内挿させる閉磁路中の空隙のホール素
子に被測定電路電圧に比例した交流制御電流を供給して
ホール素子出力を検出する電力測定方法において、上記
交流制御電流とホール素子入力抵抗とによってホール素
子入力端子に発生する交流電圧を整流した電圧をホール
素子出力電圧に加算することを特徴とするクフンプ式電
力計におけるホール素子の整流化誤差電圧補償方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56133626A JPS5834365A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | クランプ式電力計におけるホ−ル素子の整流化誤差電圧補償方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56133626A JPS5834365A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | クランプ式電力計におけるホ−ル素子の整流化誤差電圧補償方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5834365A true JPS5834365A (ja) | 1983-02-28 |
| JPH0131592B2 JPH0131592B2 (ja) | 1989-06-27 |
Family
ID=15109209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56133626A Granted JPS5834365A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | クランプ式電力計におけるホ−ル素子の整流化誤差電圧補償方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5834365A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0601817A1 (en) * | 1992-12-11 | 1994-06-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power multiplication circuit |
| EP0670502A1 (en) * | 1994-03-03 | 1995-09-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrical quantity measurement device |
| JP2010025743A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Multi Keisokuki Kk | 絶縁監視装置及び絶縁監視方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5357941A (en) * | 1976-11-05 | 1978-05-25 | Toshiba Corp | Multiplier using hall element |
-
1981
- 1981-08-26 JP JP56133626A patent/JPS5834365A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5357941A (en) * | 1976-11-05 | 1978-05-25 | Toshiba Corp | Multiplier using hall element |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0601817A1 (en) * | 1992-12-11 | 1994-06-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power multiplication circuit |
| EP0670502A1 (en) * | 1994-03-03 | 1995-09-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrical quantity measurement device |
| JP2010025743A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Multi Keisokuki Kk | 絶縁監視装置及び絶縁監視方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0131592B2 (ja) | 1989-06-27 |
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