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JPS5833256A - Photoconductive member - Google Patents

Photoconductive member

Info

Publication number
JPS5833256A
JPS5833256A JP57077668A JP7766882A JPS5833256A JP S5833256 A JPS5833256 A JP S5833256A JP 57077668 A JP57077668 A JP 57077668A JP 7766882 A JP7766882 A JP 7766882A JP S5833256 A JPS5833256 A JP S5833256A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
gas
amorphous
atoms
pulp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57077668A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Shirai
茂 白井
Junichiro Kanbe
純一郎 神辺
Tadaharu Fukuda
福田 忠治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP57077668A priority Critical patent/JPS5833256A/en
Publication of JPS5833256A publication Critical patent/JPS5833256A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers
    • G03G5/08228Silicon-based comprising one or two silicon based layers at least one with varying composition

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a photoconductive member for electrophotography, which is excellent in a charge holding function, has scarcely residual potential, stable in an electric characteristic even in a high humidity atomosphere, is high in sensitivity, has a high S/N ratio, is excellent in optical fatigue resistance and repetitive use property, has high density, generates a half tone clearly, and also is capable of stably obtaining a high resolution and high quality picture at all time. CONSTITUTION:A titled member is constituted of a supporting body 101, and an amorphous material containing a hydrogen atom or a halogen atom, and consisting of a silicon atom as its base body, and has an amorphous layer 103 showing photoconductivity and a barrier layer 102, and said amorhous layer 103 has a layer area containing an oxygen atom, distribution of the oxygen atom is unequal in the thickness direction of the layer, it is distributed more on the opposite surface side of the supporting body, and the layer is constituted so that its maximum distribution quantity Cmax is in the vicinity of a surface ts. In this way, excellent electric, optical and photoconductive characteristics and a use environmental characteristic are obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光線、可視光
線、赤外光線、X線、r?/a等を示す)の様な電磁波
に感受性のある光導vLs材に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a light guide that is sensitive to electromagnetic waves such as light (herein, light in a broad sense refers to ultraviolet light, visible light, infrared light, X-rays, r?/a, etc.). Regarding vLs material.

固体撮像装置、或いは像形成分野に於ける電子写真用像
形成部材や原梢貌取装置等に於ける光導電層を構成する
光導電材料としては、高感度で、8N比〔光電流(Ip
)/暗電流(Id))が高く、照射する電磁波のスペク
トル特性にマ光波長時性にマツチングした吸収スペクト
ル特性を有すること、光応答性が速く、所望の暗抵抗値
を有すること、使用時に於いて人体に対して無公害であ
る事、更には固体撮像装置に於いては、残像を所定時間
内に容易に処理することが出来る事等の特性が要求され
る。殊に、事務機としてオフィスで使用される電子写真
装置内に組込まれる電子写真用像形成部材の場合には、
上記の使用時に於ける無公害性は重要な点であるO この橡な点に立脚して最近注目されている光導電材料に
アモルファスシリコン(以後a−8iと表記す)がTo
#)、例えば、独国公開第2746967号公報、同第
285.5718号公報には電子写真用像形成部材とし
て、特開@ 55−39404  号公報には光電変換
読取装置への応用が記載されている。
As a photoconductive material constituting a photoconductive layer in a solid-state imaging device, an electrophotographic image forming member in the image forming field, a protoscopic imaging device, etc., it has a high sensitivity and a photocurrent (Ip
)/dark current (Id)), have absorption spectrum characteristics that match the spectral characteristics of the electromagnetic waves to be irradiated with the wavelength of light, have fast photoresponsiveness, have a desired dark resistance value, and when used Solid-state imaging devices are required to have characteristics such as being non-polluting to the human body and being able to easily dispose of afterimages within a predetermined time. In particular, in the case of electrophotographic image forming members incorporated into electrophotographic devices used in offices as business machines,
The non-polluting property during the above usage is an important point. Based on this point, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-8i) is a photoconductive material that has recently attracted attention.
For example, DE 2746967 and DE 285.5718 describe its application as an electrophotographic image forming member, and JP-A-55-39404 describes its application to a photoelectric conversion/reading device. ing.

丙午ら、従来のa−8iで構成され九九導電層を有する
光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的
、光学的、光導電的特性及び耐湿性等の使用環境特性の
点、更には経時的安定性の点に於いて、更に改良される
可き点が存し、広範囲に於ける応用を含めた実用的な固
体撮像装置や読取装置、電子写真用像形成部材→には、
生産性、量産性をも加味して仲々有効に使用し得ないの
が実情である。
A photoconductive member composed of conventional A-8I and having a multilayer conductive layer has excellent electrical, optical, photoconductive properties such as dark resistance value, photosensitivity, and photoresponsiveness, as well as moisture resistance, etc. There are points that can be further improved in terms of environmental characteristics and stability over time, and practical solid-state imaging devices, reading devices, and electrophotographic images can be used in a wide range of applications. Forming member→
The reality is that it cannot be used effectively considering productivity and mass production.

例えば、電子写真用像形成部材に適゛用した場合に、そ
の使用時に於いて残留電位が残る場合が度々観測され、
この様な種の光導電部材は繰返し長時間使用し続けると
、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残儂が生ずる
所謂ゴースト曳象を発する様になる等の不都合な点が少
なくなかった。
For example, when applied to electrophotographic image forming members, it is often observed that residual potential remains during use.
When these types of photoconductive members are used repeatedly for a long period of time, fatigue accumulates due to repeated use, and there are many inconveniences such as the appearance of so-called ghost images, which result in the formation of a residual image. .

更には例えば、本発明者等の多くの実験によれば、電子
写真用像形成部材の光導電層を構成する材料としてのa
−84は、従来の8e 、 、Od8 。
Furthermore, for example, according to many experiments conducted by the present inventors, a as a material constituting the photoconductive layer of an electrophotographic image forming member
-84 is the conventional 8e, , Od8.

ZnO或いはPVOzやTNF等のOPO(有機光導電
部材)K@べて、数多くの利点を有するが、従来の太陽
電池用として使用する為の特性が付与されたa−8iか
ら成る単層構成の光導電層を有する電子写真用像形成部
材の上記光導電層に静電像形成の為の帯電処理を施して
も暗減衰(dark decay )が著しく速く、通
常の電子写真法が仲々適用され難い事、及び多湿雰囲気
中に於いては、上記傾向が著しく、場合によっては現澹
時間まで帯電々荷を全く保持し得ない事がある等、解決
され得る可き点が存在している事が判明している。
OPO (organic photoconductive materials) such as ZnO, PVOz, and TNF have many advantages, but a single-layer structure consisting of a-8i that has characteristics suitable for use in conventional solar cells has many advantages. Even if the photoconductive layer of an electrophotographic image forming member having a photoconductive layer is subjected to charging treatment for electrostatic image formation, dark decay is extremely fast, making it difficult to apply ordinary electrophotographic methods. However, in a humid atmosphere, the above-mentioned tendency is remarkable, and in some cases, it may not be possible to retain the charged charge at all until the current stagnation time, so there are points that can be solved. It's clear.

従って、a−8i材料そのものの特性改良が計られる一
方で光導電部材を設計する際に、上記した様な所望の電
気的、光学的及び光導電的特性が得られ、高感度で画質
の安定したものが得られる様に工夫される必要がある。
Therefore, while efforts are being made to improve the properties of the a-8i material itself, when designing photoconductive members, the desired electrical, optical, and photoconductive properties as described above can be obtained, and high sensitivity and stable image quality can be achieved. It is necessary to devise ways to obtain the desired results.

本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、a−8iに
就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読皐装置等
に使用される光導電部材としての適応性とその応用性と
いう観点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、シリ
コン原子を母体とし、水素原子(H)又はハロゲン原子
(X)のいずれか一方を少なくとも含有するアモルファ
ス材料(非晶質材料)、所謂、水素化アモルファスシリ
コン、ハロゲン化アモルファスシリコン、或いはハロゲ
ン含有水素化アモルファスシリコン〔以後これ等の総称
的表記としてa−8i(H,X)ffi使用する〕から
構成され、光導電性を示す非晶質層の層構成を後述する
様に特定化して作製された光導電部材は実用的に充分使
用し得るばかりでなく、従来の光導電部材と較べてみて
も殆んどの点に於いて凌駕していること、殊に電子写真
用の光導電部材として光感度及び画質安定化に於いて著
しく優れた特性を有していることを見出した点に基いて
いる。
The present invention has been made in view of the above points, and the adaptability and applicability of a-8i as a photoconductive member used in electrophotographic image forming members, solid-state imaging devices, reading devices, etc. As a result of comprehensive research and consideration from this perspective, we have developed an amorphous material (non-crystalline material) that uses silicon atoms as its base material and contains at least either a hydrogen atom (H) or a halogen atom (X). Amorphous silicon that exhibits photoconductivity and is composed of hydrogenated amorphous silicon, halogenated amorphous silicon, or halogen-containing hydrogenated amorphous silicon (hereinafter a-8i (H, A photoconductive member manufactured with a specific layer structure as described below is not only usable for practical use, but also surpasses conventional photoconductive members in most respects. This is based on the discovery that it has extremely excellent properties, especially as a photoconductive member for electrophotography, in terms of photosensitivity and stabilization of image quality.

本発明は電気的、光学的、光導電的特性が常時安定して
いて、殆んど使用環境に制限を受けない全環境型であり
、耐光疲労に著しく長け、繰返し使用に際しても劣化現
象を起さず、残留電位が全く又は殆んど観測されない光
導電部材を提供することを主たる目的とする。
The present invention has stable electrical, optical, and photoconductive properties at all times, is suitable for all environments with almost no restrictions on usage environments, and has excellent resistance to light fatigue and does not cause deterioration even after repeated use. The main object of the present invention is to provide a photoconductive member in which no or almost no residual potential is observed.

本発明の別の目的は、全可視光域に於いて光感度が高く
、且つ光応答性の速い光導電部材を提供することである
Another object of the present invention is to provide a photoconductive member that has high photosensitivity in the entire visible light range and quick photoresponsiveness.

本発明の他の目的は、電子写真用の傷形成部材として適
用させた場合、通常の電子写真法が極めて有効に適用さ
れ得る程度に、静電像形成の為の帯電処理の際の電荷保
持能が充分ちや、且つ多湿雰囲気中でもその特性の低下
が殆んど観測されない優れた電子写真時性を有する光導
電部材管提供することである。
Another object of the present invention is to maintain charge during charging processing for electrostatic image formation to such an extent that ordinary electrophotography can be applied very effectively when applied as a scratch forming member for electrophotography. It is an object of the present invention to provide a photoconductive member tube having sufficient performance and excellent electrophotographic properties with almost no deterioration in its characteristics observed even in a humid atmosphere.

本発明の良に他の目的は、濃度が高<、7%−7トーン
が鮮明に出て且つ解偉度の為い、高品質画像を常時安定
して得る事が容易に出来る電子写真用の光導電部材を提
供することである。
Another object of the present invention is to provide electrophotography with high density, clear 7%-7 tones, and high resolution, making it easy to consistently obtain high-quality images. An object of the present invention is to provide a photoconductive member.

本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、水素
原子(H)又はハロゲン原子(X”)の少なくともいず
れか一方を含み、シリコツ原子を母体とする非晶質材料
(a −s r (H、X) l)で構成され、光導電
性を示す非晶質層と障壁層と【有し、前記非晶質層は、
少なくともその一部に酸素原子を含有する層領域を有し
、諌層領域に於ける酸素原子の分布が前記支持体の表面
に略々平行な面内では実質的に均一であり、層の厚み方
向には不均一であって、前記層領域に含有されている酸
素原子が紬記支持体と唸反対の表面側の方に多く分布し
ている事t%徽とし、更に好ましい実施態様に於いては
、前記層領域全体に於ける酸素原子の含有量が0.05
〜30atomic−であり且つその最大分布量が該層
領域OS記支持体とは反対の表面又は該表面近傍に存し
、その値が03〜67atomjctsである事を特徴
とする。
The photoconductive member of the present invention includes a support for the photoconductive member and an amorphous material (a- an amorphous layer exhibiting photoconductivity and a barrier layer, the amorphous layer comprising:
It has a layer region containing oxygen atoms in at least a part thereof, and the distribution of oxygen atoms in the layer region is substantially uniform in a plane substantially parallel to the surface of the support, and the thickness of the layer is In a more preferred embodiment, it is non-uniform in the direction, and the oxygen atoms contained in the layer region are more distributed on the surface side opposite to the Tsumugi support. , the content of oxygen atoms in the entire layer region is 0.05
~30 atomic-, and the maximum distribution amount is present on the surface opposite to the layer region OS support or in the vicinity of the surface, and the value is 03 to 67 atomjcts.

上記した様な層構成を取る様にして設計された光導電部
材は、前記した諸問題の総て管解決し得、極めてすぐれ
た電気的、光学的、光導電的特性及び使用環境特性を示
す。
A photoconductive member designed to have the layer structure described above can solve all of the above-mentioned problems, and exhibits extremely excellent electrical, optical, photoconductive properties, and use environment characteristics. .

殊に、電子写真用像形成部材として適用させた場合には
帯電処理の際の電荷保持能に長け、−儂形成への残留電
位の影響が全くなく、多湿雰囲気中でもその電気的特性
が安定しており高感度で、高8N比を有するものであっ
て耐光疲労、繰返し使用性に著しく長け、淡度が高く、
ハーフトーンが鮮明に出て、且つ解像度の高い、高品質
の可aiIi像を常時安定的に得る事が出来゛るO 以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就て詳細に
説明する。
In particular, when applied as an image forming member for electrophotography, it has excellent charge retention ability during charging processing, has no influence of residual potential on formation, and has stable electrical properties even in a humid atmosphere. It is highly sensitive, has a high 8N ratio, is extremely resistant to light fatigue, has excellent repeatability, and has high lightness.
It is possible to always stably obtain high-quality images with clear halftones and high resolution.Hereinafter, the photoconductive member of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

1s1図は、本発明の光導電部材の典型的な構成例を説
明する為に模式的に示した模式的構成図である。
FIG. 1s1 is a schematic configuration diagram schematically shown to explain a typical configuration example of the photoconductive member of the present invention.

第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、必要に応じて設けられる障壁層
102、該障壁層102に直接接触した状態に設けられ
、光導電性を示す非晶質層103とで構成され、該非晶
質層103は、少なくともその一部に酸素原子を含有す
る層領域を有し、該層領域に於ける酸素原子の分布が前
記支持体1010表面に略々平行な面内では実質的に均
一であり、層の厚み方向には、不均一であって、前記層
領域に含有されている酸素原子が前記支持体101とは
反対の表面側の方に多く分布し、咳層領域全体に於ける
酸素原子の含有量O1が0.05〜30atomic 
@であり、且つその最大分布量Omaxが鋏層領域の前
記支持体101とは反対の表面又は該表面の極く近傍に
存し、0unaxが0.3〜67 mtonnt c 
d4とされている。
A photoconductive member 100 shown in FIG. 1 includes a barrier layer 102 provided as necessary on a support 101 for a photoconductive member, and a barrier layer 102 provided in direct contact with the barrier layer 102. The amorphous layer 103 has a layer region containing oxygen atoms in at least a part thereof, and the distribution of oxygen atoms in the layer region is similar to that of the support 1010. It is substantially uniform in a plane substantially parallel to the surface, and non-uniform in the thickness direction of the layer, so that the oxygen atoms contained in the layer region are on the surface side opposite to the support 101. The oxygen atom content O1 in the entire cough layer region is 0.05 to 30 atomic.
@, and the maximum distribution amount Omax exists on the surface opposite to the support 101 in the scissor layer region or very close to the surface, and 0unax is 0.3 to 67 mtonnt c
It is said to be d4.

支持体101としては、導電性でも1憾絶縁性であって
も良い。導電性支持体としては、例えば、Ni0r、x
テンレス、ム/ 、Or 、Mo +Au +NJTa
、V、Ti、Pi、Pd  等の金属又はコレ等の合金
が挙げられる。
The support 101 may be conductive or slightly insulating. As the conductive support, for example, Ni0r, x
Stainless Steel, Mu/, Or, Mo +Au +NJTa
, V, Ti, Pi, Pd, or alloys thereof.

電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。Polyester is used as the electrically insulating support.

ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
Polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride.

ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
Films or sheets of synthetic resins such as polyvinylidene chloride, polystyrene, polyamide, etc., and glass.

セラミック、紙等が通常使用される。これ等の電気絶縁
性支持体は、好適tCa少なくともその一方の表面を導
電処理され、該導電処理され九表面側に他の層が設けら
れるのが望ましい。
Ceramic, paper, etc. are commonly used. It is preferable that at least one surface of these electrically insulating supports is conductively treated with tCa, and another layer is provided on the conductively treated surface side.

例えば、ガラスであれば、その表面に、Ni0r 。For example, if it is glass, Ni0r is applied to its surface.

A4 *Or 、Mo、Au、Ir 、Nb*Ta、V
、Ti 、Pt sPd*1、n、0. 、8nO,+
 ITO(I n、0. +8nO,)等から成る薄膜
を設けることによって導電性が付与され、或いはポリエ
ステルフィルム等の合成樹脂フィルムであれば、Ni0
r 、A/ 、Ag 、Pb 、Zn *Ni 、Au
A4 *Or, Mo, Au, Ir, Nb*Ta, V
, Ti, Pt sPd*1, n, 0. ,8nO,+
Conductivity can be imparted by providing a thin film made of ITO (In, 0. +8 nO,) or the like, or if it is a synthetic resin film such as a polyester film, Ni0
r, A/, Ag, Pb, Zn*Ni, Au
.

Or、Mo、Ir、Nb、Tm、V、Ti、Pt等の金
属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング
等でその表miK設け、又は前記金属でその表面をラミ
ネート処理して、その表面に導電性が付与される。支持
体101の形状としては、円筒状、ベルト状、板状等、
任意の形状とし得、所望によって、その形状は決定され
るが、例えば、第1図の光導電部、$100を電子写真
用像形成部材として使用するのであれば連続高速複写の
場合には、無端ベルト状又社円箇状とするのが望ましい
。支持体101の厚さは、所望通りの光導電部材が形成
される様に適宜決定されるが、光導電部材として可撓性
が要求される場合には、支持体としての機能が充分発揮
される範囲内であれば可能な限り薄くされる。丙午ら、
この様な場合支持体の製造上及び取扱い上、機械的強度
等の点から、通常は、10μ以上とされる。
A thin film of metal such as Or, Mo, Ir, Nb, Tm, V, Ti, Pt, etc. is formed on the surface by vacuum evaporation, electron beam evaporation, sputtering, etc., or the surface is laminated with the above metal. conductivity is imparted to the The shape of the support body 101 may be cylindrical, belt-shaped, plate-shaped, etc.
It can be of any shape, and its shape is determined as desired; for example, if the photoconductive section of FIG. It is desirable to have an endless belt shape or a circle shape. The thickness of the support 101 is determined as appropriate so that a desired photoconductive member is formed, but if flexibility is required as a photoconductive member, the thickness of the support 101 may be determined so that it can sufficiently function as a support. It is made as thin as possible within the range. Heigo et al.
In such cases, the thickness is usually 10μ or more in view of manufacturing and handling of the support, mechanical strength, etc.

障壁層102は、支持体、101の儒から非晶質層10
3儒方向か又は非晶質層103側から支持体101側方
向へのフリーキャリアの流入を効果的に阻止し且つ電磁
波照射時に於いて電磁波の照射によって非晶質層103
中に生じ、支持体101の側に向って移動するフォトキ
ャリアの非晶質層103の側から支持体101の側への
通過を容易に許す機能を有するものである。
The barrier layer 102 is formed by forming the amorphous layer 10 from the support 101.
3. Effectively prevents the inflow of free carriers from the amorphous layer 103 side to the support body 101 side, and at the time of electromagnetic wave irradiation, the amorphous layer 103 is
It has a function of easily allowing photocarriers generated in the amorphous layer 103 and moving toward the support 101 to pass from the amorphous layer 103 side to the support 101 side.

障壁層102は、上記の様な機能を有するものであるが
、支持体101と非晶質層103との間で形成される界
面に於いて、上記の様な障壁層102と同様な機能が充
分発揮されるのであれば、本発明に於いては、障壁層1
02i強いて設ける必要はない。
The barrier layer 102 has the above-mentioned functions, but at the interface formed between the support 101 and the amorphous layer 103, the barrier layer 102 has the same function as the above-mentioned barrier layer 102. In the present invention, if the barrier layer 1 is sufficiently exhibited,
It is not necessary to provide 02i.

障壁層102は、7リコン原子を母体とし、炭素原子、
窒素原子の中から選択される原子の少なくとも一種と、
必要に応じて水素原子又はハロゲン原子の少なくともい
ずれか一方とを含む非晶質材料くこれ等を総称してa−
(8ix(0、N)>−x)y(H9X) s−yと表
記する(但し、0<x<1 。
The barrier layer 102 has 7 licon atoms as its base material, and carbon atoms,
At least one type of atom selected from nitrogen atoms,
Amorphous materials containing at least either a hydrogen atom or a halogen atom as necessary are collectively referred to as a-
(8ix(0,N)>-x)y(H9X) Written as sy (however, 0<x<1.

Q<y<1 )>又は、電気絶縁性の金属酸化物或いは
電気絶縁性の有機化合物で構成される。
Q<y<1 )> or an electrically insulating metal oxide or an electrically insulating organic compound.

本発明に於いて、ハロゲン原子(X)として好適なのは
F、Ol、Br 、Iであり、殊にF 、Oxが望まし
いものである。
In the present invention, preferred halogen atoms (X) are F, Ol, Br, and I, with F and Ox being particularly preferred.

上記障壁層102を構成する非晶質材料として有効に使
用されるものとして具体的には、例えば炭素系の非晶質
材料としてa8ia0z−Hsa−(8ムbCt b)
cHx−c +  a−(8t(101−d)eL−e
+a−(8ifOt−f)g(H+X)t−g−窒素系
の非晶質材料としてa 5ihNt−h+a−(8i 
tNl−1)7H1−j、 a−(SikNx−k)l
Xi−/+a (81mNn−rrl)n(H+X)t
−nl等、更には、上記の非晶質材料に於いて、0及び
Nの2種の原子を構成原子として含む非晶質材料を挙け
ることが出来る(但しO< a e b + C* d
 * e + f +g + k + 1 + J +
 k w l t On * El < Z )。
Specifically, as a carbon-based amorphous material that can be effectively used as the amorphous material constituting the barrier layer 102, for example, a8ia0z-Hsa-(8mu bCt b)
cHx-c + a-(8t(101-d)eL-e
+a-(8ifOt-f)g(H+X)t-g-a 5ihNt-h+a-(8i
tNl-1)7H1-j, a-(SikNx-k)l
Xi-/+a (81mNn-rrl)n(H+X)t
Furthermore, among the above-mentioned amorphous materials, examples include amorphous materials containing two types of atoms, 0 and N, as constituent atoms (provided that O< a e b + C* d
* e + f + g + k + 1 + J +
kwltOn*El<Z).

これ等の非晶質材料は層構成の最適化設計に依る障壁層
102に要求される特性及び該障壁層102上に積重さ
れる非晶質層103との連続的作成の容易さ等によって
適宜最適なものが選択される。殊に特性向からすれば、
炭素系の非晶質材料全選択するのがより好ましいもので
ある。
These amorphous materials are used due to the characteristics required for the barrier layer 102 due to the optimized design of the layer structure and the ease of continuous production with the amorphous layer 103 stacked on the barrier layer 102. The most suitable one is selected accordingly. Especially from the characteristics point of view,
It is more preferable to select all carbon-based amorphous materials.

障壁層102を上1の非晶質材料で構成する場合の層形
成法としてはグロー放電法、スパッタリング法、イオン
インプラ/チージョン法。
When the barrier layer 102 is made of the above amorphous material, the layer forming method may be a glow discharge method, a sputtering method, or an ion implantation/chision method.

イオンブレーティング法、エレクトロンビーム法等によ
って成される。
This is accomplished by ion blating method, electron beam method, etc.

グロー放電法によって障壁層102會形成するには、前
記非晶質材料形成用の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スと所定量の混合比で混合して、支持体101の設置し
である真空堆積用の堆積室に導入し、導入させたガスを
グロー放電を生起させることでガスプラズマ化シて前m
l支持体101上に前記の非晶質材料管堆積させれば良
い。
To form the barrier layer 102 by the glow discharge method, the raw material gas for forming the amorphous material is mixed with a dilution gas at a predetermined mixing ratio as needed, and the support 101 is installed. The introduced gas is introduced into a deposition chamber for vacuum deposition and turned into gas plasma by causing a glow discharge.
The amorphous material tube described above may be deposited on the support 101.

本発明に於いて、炭素系の非晶質材料で構成される障壁
層102を形成する為の原料ガスとして有効に使用され
るのは、SlとHとを構成原子とする8直H4,8b 
Hs * 8 k s Hs r 814 Hta  
等のシラン(8i1ane)類等の水素化硅素ガス、C
とHとを構成原子とする、例えば炭素数1〜5の飽和炭
化水素、炭素数2〜5のエチレン系炭化水素。
In the present invention, 8-vertical H4,8b whose constituent atoms are Sl and H is effectively used as a raw material gas for forming the barrier layer 102 made of a carbon-based amorphous material.
Hs * 8 k s Hs r 814 Hta
Silicon hydride gas such as silanes (8i1ane), C
and H as constituent atoms, for example, saturated hydrocarbons having 1 to 5 carbon atoms, and ethylene hydrocarbons having 2 to 5 carbon atoms.

炭素−2〜4のアセチレン系炭化水素等が挙げられる。Examples include acetylene hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms.

具体的には、飽和炭化水素としてはメタン(OH,)、
 工p ン<ctHm>+プロパy (0@H1l) 
、n−ブタン(n 04H16) +ペンタ7 (0,
H,、) @ エチレン系炭化水素としては、エチレン
(OtH* ) 、グロビレン(OIH@ ) 、ブテ
ン−1(0*HA 、ブテン−2(0aHa ) 、イ
ソブチレン(04H8)、ペンテン(OsHso ) 
、アセチレン系炭化水素としては、アセチレン(0*H
t)−メチルアセチレン(OIH4)。
Specifically, the saturated hydrocarbons include methane (OH,),
Engineering <ctHm> + property (0@H1l)
, n-butane (n 04H16) + penta7 (0,
H,,) @ Ethylene hydrocarbons include ethylene (OtH*), globylene (OIH@), butene-1 (0*HA), butene-2 (0aHa), isobutylene (04H8), and pentene (OsHso).
, As the acetylene hydrocarbon, acetylene (0*H
t)-Methylacetylene (OIH4).

ブチン(04H* )等が挙げられ今。Butin (04H*) etc. are now mentioned.

SiとCとHとを構成原子とする原料ガスとしては、a
t(OHm)a 、8t(OtHs)a等oケイ化フル
キルを挙げることが出来る。これ等の原料ガスの他、H
導入用の原料ガスとしては勿論H1も有効なものとして
使用される〇 障壁層102をハロゲン原子を含む炭素系の非晶質材料
で構成する為の層形成用の原料ガスの中でハロゲン原子
導入用の原料ガスとしては、例°えばハロゲン単体、ハ
ロゲン化水素、ハロゲン間化合物、ハロゲン化硅素、ハ
ロゲン置換水素化硅素、水素化硅素等を挙げる事が出来
る。
As a raw material gas containing Si, C, and H as constituent atoms, a
Examples include o-furkyl silicides such as t(OHm)a and 8t(OtHs)a. In addition to these raw material gases, H
Of course, H1 is also effectively used as the raw material gas for introduction. Halogen atoms are introduced in the raw material gas for layer formation to configure the barrier layer 102 from a carbon-based amorphous material containing halogen atoms. Examples of raw material gases for use include simple halogens, hydrogen halides, interhalogen compounds, silicon halides, halogen-substituted silicon hydrides, and silicon hydrides.

具体的にはハロゲン単体としては、フッ素。Specifically, the single halogen is fluorine.

塩IA、臭素、:Wつ素のハ胃ゲンガス、ハロゲン化水
素としては、FHeHI 、HOz 、HBr 、 ハ
ロゲン間化合物としては、BrF、OtF、OzF、、
Ot¥、 。
Salt IA, bromine, hydrogen gas, hydrogen halides include FHeHI, HOz, HBr, interhalogen compounds include BrF, OtF, OzF,...
Ot¥, .

BrF5 *BrFB +Il’y + IF5 + 
IOI 、IB r 、 ハロゲン化硅素としては、8
iF4.sj、F’、 、sio/4+5iOl、Br
BrF5 *BrFB +Il'y + IF5 +
IOI, IBr, silicon halide: 8
iF4. sj, F', , sio/4+5iOl, Br
.

5tar、Br、 、5iOIBr、 +8i0t、1
5siBr41 ハロゲン置換水素化硅素としては、8
 iH,F、 、 8 iH,C1@ 。
5tar, Br, , 5iOIBr, +8i0t, 1
5siBr41 As halogen-substituted silicon hydride, 8
iH,F, , 8 iH,C1@.

S IHO/81 S t HBOI + 8 sHg
 Br * 81 HIBrfi l 8 r )iB
 rm +水素化硅素トシテハ、S iB4. S i
、H,、S i、Hl。
S IHO/81 S t HBOI + 8 sHg
Br * 81 HIBrfil 8 r )iB
rm + silicon hydride, SiB4. Si
,H,,S i,Hl.

8 i4H,、等のシラン(8i1ane)類、等々を
挙げることが出来る。
Examples include silanes (8i1ane) such as 8i4H, and the like.

これ等の他に、OOt、 、 OHF、 、 OH,F
、 、 OH,F。
In addition to these, OOt, , OHF, , OH,F
, ,OH,F.

OH,O/ 、OH,Br 、OH,I 、 0.H,
Ol等のハ0ゲン置換パラフィン系炭化水素、 8F、
 、 8F、等のフッ素化硫黄化合物、 8t(OH3
)、 、8t(OtHs)4゜等のケイ化アルキルやs
 sat (OH,)1 、s s o tt(OH,
)t 、 S iOt、OH,勢のハロゲン含有ケイ化
アルキル等のシランの鰐導体も有効なものとして挙げる
ことが出来る。
OH, O/, OH, Br, OH, I, 0. H,
Halogen-substituted paraffinic hydrocarbons such as Ol, 8F,
, 8F, etc., fluorinated sulfur compounds, 8t(OH3
), , 8t(OtHs)4゜and other alkyl silicides and s
sat (OH,)1 , s s o tt (OH,
)t, SiOt, OH, silane conductors such as halogen-containing alkyl silicides can also be mentioned as useful.

これ等の障壁層形成物質は、形成される障壁層中に、所
定の組成比でシリコン原子、炭素原子及び必要に応じて
ハロゲン原子及び水素原子とが含有される様に、障壁層
形成の際に所望に従って選択されて使用される。
These barrier layer forming substances are used during the formation of the barrier layer so that the formed barrier layer contains silicon atoms, carbon atoms, and if necessary halogen atoms and hydrogen atoms in a predetermined composition ratio. be selected and used as desired.

例えば、シリコン原子と炭素原子と水素原子との含有が
容易に成し得て且つ所望の特性の障壁層が形成され得る
8 i (OH,)4とハロゲン原゛子を含有させるも
のとしての5iHO/、 、 S 10/418iH,
O/、、或いは8iH,0/等を所定の混合比でガス状
態で障壁層形成用の装置系内に導入してグロー放電を生
起させることによってa−(8IfOt−f ) g(
X+H) t −g カラ成ル障11Nli’t 形成
することが出来る。
For example, 8i (OH,)4, which can easily contain silicon atoms, carbon atoms, and hydrogen atoms, and form a barrier layer with desired characteristics, and 5iHO, which contains halogen atoms. /, , S 10/418iH,
By introducing O/, or 8iH, 0/, etc. in a gaseous state at a predetermined mixing ratio into the system for forming a barrier layer to generate a glow discharge, a-(8IfOt-f) g(
X+H) t -g Color disorder 11Nli't can be formed.

窒素系の非晶質材料で障壁層102會構成するのにグロ
ー放電法を採用する場合には、先に挙げた障壁層形成用
の物質の中から所望に応じたものを選択し、それに加え
て次の窒素原子導入用の原料ガスを使用すれば良い。即
ち、障壁層102形成用の窒素原子導入用の原料ガスに
成り得るものとして有効に使用される出発物質は、Nを
構成原子とする或いはNとHとを構成原子とする例えば
窒素(Nt)、アンモニア(NHm)。
When employing the glow discharge method to form the barrier layer 102 with a nitrogen-based amorphous material, select the desired material from the materials listed above for forming the barrier layer, and add Then, the next raw material gas for introducing nitrogen atoms may be used. That is, a starting material that can be effectively used as a raw material gas for introducing nitrogen atoms to form the barrier layer 102 is nitrogen (Nt) having N as a constituent atom or N and H as constituent atoms, for example. , ammonia (NHm).

ヒドラジン(H,NNH,) 、アジ化水素(HNm)
、アジ化アンモニウム(NH4Ns )等のガス状の又
はガイし ス化し得る窒素、窒素物及びアジ化物郷の窒素化合物を
挙げることが出来る。この他に、窒素原子の導入に加え
て、ハロゲン原子の導入も行えるという点から、三弗化
窒* (FsN> 、四弗化窒素(F4N、)等のハロ
ゲン化窒素化合物を挙げることか出来る。
Hydrazine (H,NNH,), hydrogen azide (HNm)
Mention may be made of gaseous or oxidizable nitrogen, nitrogen products, and nitrogen compounds of the azide group, such as ammonium azide (NH4Ns). In addition, halogenated nitrogen compounds such as nitrogen trifluoride* (FsN> and nitrogen tetrafluoride (F4N) can be mentioned, since they can also introduce halogen atoms in addition to nitrogen atoms). .

上記した様に、グロー放電法によって障壁層102を形
成する場合には、障壁層形成用の出発物質を上船した物
質の中より種々選択して使用することにより、所望醤性
を有する所望構成材料で構成された障壁層102を形成
することが出来る。障壁層1(12’iグロー放電法で
形成する場合の出発物質の組合せで良好なものとして具
体的には例えば8 I(OH,)、 、 S 1Oz2
(OHs)。
As described above, when forming the barrier layer 102 by the glow discharge method, by selecting and using various starting materials for forming the barrier layer from among the materials on board, a desired structure having a desired solubility can be obtained. A barrier layer 102 can be formed of a material. Specifically, a good combination of starting materials when forming the barrier layer 1 (12'i by glow discharge method) is, for example, 8 I(OH,), , S 1Oz2
(OHs).

等の単独ガス又は8iH4−NH,系、 8 i 0 
!、 −NH4系。
Single gas or 8iH4-NH, system, 8i 0
! , -NH4 system.

SiH4N!系、 8 i (OH,)4−8 i H
,系、Sio/、(OH5)。
SiH4N! system, 8 i (OH,)4-8 i H
, system, Sio/, (OH5).

−8iH4糸等の混合ガスを挙げることが出来る。-8iH4 yarn and other mixed gases can be mentioned.

スパッタリング法によって炭素系の非晶質材料で構成さ
れる障壁層102を形成するには、単結晶又は多結晶の
8iウエーハー又は0ウエーハー又は81とCが混合さ
れて含有されているウェーハーをターゲットとして、こ
れI4t″種々のガス雰囲気中でスパッタリングするこ
とによって行えば曳い。
To form the barrier layer 102 made of a carbon-based amorphous material by sputtering, a single crystal or polycrystalline 8i wafer, a 0 wafer, or a wafer containing a mixture of 81 and C is used as a target. , this can be done by sputtering I4t'' in various gas atmospheres.

例えば、Siウェーハーをターゲットとじて使用する亀
のであれば、炭素原子(0)と水嵩原子(H)又はハロ
ゲン原子(X)を導入する為の原料ガスを、必要に応じ
て稀釈ガスで稀釈して、スパッタ用の堆積室中に導入し
、これ4!のガスのガスプラズマを形成して鵠kSiウ
ェーハーをスパッタリングすれば喪い。
For example, if a Si wafer is used as a target, the source gas for introducing carbon atoms (0) and water bulk atoms (H) or halogen atoms (X) may be diluted with diluent gas as necessary. Then, introduce it into the deposition chamber for sputtering, and this is 4! It is possible to sputter a Si wafer by forming a gas plasma of the same gas.

又、別には、S鳳とCとは別々のターゲットとして、又
は8iとOo混合した一枚のターゲットを使用すること
によって、少なくとも水嵩原子(H)又はハロゲン原子
(X) t−含有するガス雰囲気中でスパッタリングす
ることによって成される。
Alternatively, a gas atmosphere containing at least water bulk atoms (H) or halogen atoms (X) can be created by using S and C as separate targets, or by using a single target mixed with 8i and Oo. This is done by sputtering inside.

炭素原子又は水素原子或いはハロゲン原子導入用の原料
ガスとしては、先述したグロー放電の例で示した原料ガ
スが、スパッタリング法の場合にも有効なガスとして使
用され得る。
As the raw material gas for introducing carbon atoms, hydrogen atoms, or halogen atoms, the raw material gases shown in the glow discharge example described above can be used as effective gases also in the case of the sputtering method.

スパッタリング法によってSl素系の非晶質材料で構成
される障壁層102t−形成するには、単結晶又は多結
晶の8iウエーハー又はS6凡。
To form the barrier layer 102t, which is made of an amorphous material based on Sl, by a sputtering method, a single crystal or polycrystalline 8i wafer or an S6 wafer is used.

ウェーハー又紘Siと8 輸N4が混合されて含有され
ているウェーハーをターゲットとして、これ等tm々の
ガス雰囲気中てスパッタリングすることによって行えば
良い。
Sputtering may be carried out using a wafer or a wafer containing a mixture of Si and N4 as a target in an atmosphere of these gases.

例えば、81ウエーハーをターゲットとして使用すれば
、窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン
原子を導入する為の原料ガス、例えばH8とN2、又は
NH,を、必要に応じて稀釈ガスで稀釈して、−スパッ
タ用の堆積室中に導入し、これ等のガスのガスプラズマ
を形成して前記Siウェーハーをスパッタリングすれば
喪い。
For example, if an 81 wafer is used as a target, a raw material gas for introducing nitrogen atoms and optionally hydrogen atoms and/or halogen atoms, such as H8 and N2, or NH, is supplied with a diluting gas as necessary. If the Si wafer is diluted and introduced into a deposition chamber for sputtering, a gas plasma of these gases is formed and the Si wafer is sputtered.

又、別には、Siと8i、N、とは別々のターゲットと
して、又はStと8輸N、の混合して形成した一枚のタ
ーゲットを使用するととによって、スパッタ用のガスと
しての稀釈ガス雰囲気中で又は少なくともH原子及び/
又はX原子を含有するガス雰囲気中でスパッタリングす
ることによって成される。
Alternatively, it is possible to use a diluted gas atmosphere as a sputtering gas by using separate targets for Si, 8i, and N, or by using a single target formed by mixing St and 8iN. in or at least H atoms and/or
Alternatively, it can be performed by sputtering in a gas atmosphere containing X atoms.

N原子導入用の原料ガスと成り得るものとしては、先述
したグロー放電の例で示し友障壁層形成用の出発物質の
中ON原子導入用の原料ガスが、スパッタリングの場合
にも有効なガスとして使用され得る。
Possible raw material gases for introducing N atoms include the raw material gas for introducing ON atoms into the starting material for forming a barrier layer, which is shown in the glow discharge example mentioned above, and is also effective in sputtering. can be used.

本発明に於いて、障壁層102をグロー放電法又はスパ
ッタリング法で形成する際に使用される稀釈ガスとして
は、所謂・希ガス、例えばHe、 N@、 Ar  等
が好適なものとして挙げることが出来る。
In the present invention, so-called rare gases such as He, N@, Ar, etc. can be cited as suitable diluent gases used when forming the barrier layer 102 by a glow discharge method or a sputtering method. I can do it.

障壁層102を前記の非晶質材料で構成する場合には、
その要求される特性が所望通りに与えられる様に注意深
く形成される。
When the barrier layer 102 is made of the above-mentioned amorphous material,
It is carefully shaped to provide the required properties as desired.

即ち、旧と、C,Hの中の少なくと411つ及び必要に
応じてH又は/及びXを構成原子とする物質はその作成
条件によって構造的には結晶からアモルファスまでの形
態を取り、電気物性的には導電性から半導電性、絶縁性
までの間の性質を、又光導電的性質から非光導電的性質
までの間の性質を、各々示すので、本発明に於いては、
非光導電性の非晶質材料が形成される様に、その作成条
件の選択が厳密に成される。
In other words, substances whose constituent atoms are at least one of C, H, and H and/or Physically, it exhibits properties ranging from conductivity to semiconductivity to insulating properties, and properties ranging from photoconductive properties to non-photoconductive properties, so in the present invention,
The preparation conditions are carefully selected so that a non-photoconductive amorphous material is formed.

障壁1li102を構成する前記の非晶質材料は障壁層
102の機能が、支持体101側から非晶質層103側
へ又は非晶質層103側から支特休101儒への7リー
キヤリアの注入を阻止し、且つ非晶質層103中で発“
生じたフォトキャリアが移動して支持体101側に通過
するのを容易に許すことを果すものであることから、電
気絶縁性的挙動を示す本のとして形成される。
The amorphous material constituting the barrier layer 102 has the function of injecting a 7-lead carrier from the support 101 side to the amorphous layer 103 side or from the amorphous layer 103 side to the support layer 101. and prevent " from occurring in the amorphous layer 103.
Since the generated photocarrier is easily allowed to move and pass to the support 101 side, it is formed as a book exhibiting electrically insulating behavior.

父、非晶質層103中で発生したフォトキャリアが障壁
層102中を通過する際、その通過がスムーズに成され
る程度に通過するキャリアに対する易動[(mobL/
lty )の値を有するものとして障壁層102が形成
される。
When the photocarriers generated in the amorphous layer 103 pass through the barrier layer 102, the mobility of the photocarriers passing through the barrier layer 102 is increased to such an extent that the photocarriers generated in the amorphous layer 103 pass through the barrier layer 102 smoothly.
The barrier layer 102 is formed to have a value of lty ).

上記の様な特性を有する前記の非晶質材料から成る障壁
層102が形成される為の層作成条件の中の重要な要素
として、層作成時の支持体温度を挙げる事が出来る。
An important factor in the layer forming conditions for forming the barrier layer 102 made of the amorphous material having the above characteristics is the temperature of the support during layer forming.

即ち、支持体101の表面に前記非晶質材料から成る障
壁層102を形成する際、層形成中の支持体温度は、形
成される層の構造及び特性を左右する重要な因子であっ
て、本発明に於いては、目的とする特性を有する前記非
晶質材料が所望通妙に作成され得る様に層作成時の支持
障1層102を形成する際の支持体温度としては障壁−
102の形成法に併せて適宜最適範囲が選択されて、障
壁層102の形成が実行されるが、通常の場合、20℃
〜300℃、好適には、50℃〜250℃とされるのが
望ましいものである。障壁層102の形成には、同一系
内で障壁層102から非晶質層103、更には必要に応
じて非晶質層103上に形成される第3の1mまで連続
的に形成する事が出来る、各層を構成する原子の組成比
の微妙な制御や層厚の制御が他の方法に比べて比較的容
易である事等の為に、グロー放電法やスパッターリング
法の採用が有利であるが、これ等の層形成法で障壁@1
02を形成する場合には、前記の支持体温度と同様に層
形成の際の放電パワー、ガス圧が、作成される障Ij1
層102の特性を左右する重要な因子として挙げること
が出来る。
That is, when forming the barrier layer 102 made of the amorphous material on the surface of the support 101, the temperature of the support during layer formation is an important factor that influences the structure and properties of the formed layer. In the present invention, the temperature of the support when forming the support layer 102 at the time of layer formation is set at a barrier-
The barrier layer 102 is formed by appropriately selecting the optimum range in accordance with the formation method of the barrier layer 102, but in normal cases, the barrier layer 102 is formed at 20°C.
The temperature is preferably 50°C to 250°C, preferably 50°C to 250°C. To form the barrier layer 102, it is possible to continuously form the barrier layer 102 to the amorphous layer 103 and, if necessary, the third 1 m layer formed on the amorphous layer 103 in the same system. The glow discharge method and sputtering method are advantageous because it is relatively easy to finely control the composition ratio of atoms that make up each layer and control the layer thickness compared to other methods. However, with these layer formation methods, the barrier @1
02, the discharge power and gas pressure during layer formation, as well as the support temperature described above, are determined by the barrier Ij1 to be created.
This can be cited as an important factor that influences the characteristics of the layer 102.

その目的が達成される為の特性を有する障壁−102が
生産性よく効果的に作成される為の放電パワー条件とし
ては、通常1〜300 W。
The discharge power condition for effectively creating the barrier-102 with high productivity with the characteristics necessary to achieve the purpose is usually 1 to 300 W.

好適には2〜150Wである。又、堆積室内のガス圧は
通常3 X 10’〜5丁orr、好適には8×104
〜0.5 Torr g度とされるのが望ましい。
It is preferably 2 to 150W. Further, the gas pressure in the deposition chamber is usually 3 x 10' to 5 orr, preferably 8 x 104
It is desirable that the temperature is 0.5 to 0.5 Torr g.

障壁層102に含有される炭素原子、窒素原子及び水素
原子、ハロゲノ原子の量は、障壁層102の作成条件と
同様、所望の特性が得られる障壁層が形成される重要な
因子である。
The amount of carbon atoms, nitrogen atoms, hydrogen atoms, and halogen atoms contained in the barrier layer 102 is an important factor in forming a barrier layer with desired characteristics, similar to the conditions for forming the barrier layer 102.

障壁層102をa−st、cl−、で構成する場合には
炭素原子の含有量は、シリコン原子に対して通常は60
〜90 s+ornlc%、好適には65〜80ato
mic−%9 耐過には70〜75 atomic%1
.の表示では0.1〜04.好適には0.2〜0.35
゜最適には0.25〜03とされ、暑−(SlbCt−
b)cHt−Cで構成する場合には、炭素原子の含有環
は、通常30〜9 Q a(omic%、好適には40
〜9Qmtomlc俤、最適には50〜80 itom
ic 婆、水素原子の含有量としては、通常1〜49 
*to+nla%、好適には2〜35 atomic%
、最適には5〜30 atomic%、b、cの表示で
示せば、bが通常は01〜0.5.好適には0.1〜0
.35.最適には0.15〜0.3.cが通常は0.6
0〜0.99.好適には0.65〜0.98.最適には
0.7〜0.95とされ、m (81aCt−a)eX
l−a又はs−C81tC1r)g5−C31tC1r
)で構成される場合には、炭素原子の含有1は通常は4
0〜90 atomlc係、好適には50〜90ata
mlc%、 Jl適には60〜83 s@omlc%、
  ノ10グン原子又はノ・ロゲン原子と水素原子とを
併せた含有量は通常al〜20 @tomic%、好適
には1〜18 atomlc 4)、最適には2〜15
 atomlc%とされ、ノ・ロゲン原子と水素原子の
両者が含有される場合の水素原子の含有量は通常は19
atosaic %以下、好適には13 atomic
係以下とされ、d、 e、 f、 Hの表示では、d、
 fが通常は0.1〜0.47.好適には0.1〜0.
35.最適には0.15〜0.3.  e、  gが通
常は0.8〜0.99.好適には0.82〜0.99.
最適には0.85〜0,98とされる。
When the barrier layer 102 is composed of a-st, cl-, the content of carbon atoms is usually 60% relative to silicon atoms.
~90 s+ornlc%, preferably 65-80 ato
mic-%9 70-75 atomic%1 for tolerance
.. The display shows 0.1 to 04. Preferably 0.2 to 0.35
゜Optimum value is 0.25~03, and heat (SlbCt-
b) In the case of cHt-C, the carbon atom-containing ring usually has 30 to 9 Q a (omic%, preferably 40
~9Qmtomlc 俤, optimally 50-80 itom
ic, the hydrogen atom content is usually 1 to 49
*to+nla%, preferably 2-35 atomic%
, optimally 5 to 30 atomic%, b and c, where b is usually 01 to 0.5. Preferably 0.1 to 0
.. 35. Optimally 0.15-0.3. c is usually 0.6
0-0.99. Preferably 0.65 to 0.98. The optimum value is 0.7 to 0.95, m (81aCt-a)eX
la or s-C81tC1r) g5-C31tC1r
), the carbon atom content 1 is usually 4
0 to 90 atomlc, preferably 50 to 90 ata
mlc%, Jl suitable 60-83s@omlc%,
The combined content of hydrogen atoms and hydrogen atoms is usually al~20 @tomic%, preferably 1~18 atoms 4), optimally 2~15
atomlc%, and when both hydrogen atoms and hydrogen atoms are contained, the hydrogen atom content is usually 19
atosaic % or less, preferably 13 atomic
In the display of d, e, f, H, d,
f is usually 0.1 to 0.47. Preferably 0.1 to 0.
35. Optimally 0.15-0.3. e and g are usually 0.8 to 0.99. Preferably 0.82 to 0.99.
The optimum value is 0.85 to 0.98.

障壁層102を窒素系の非晶質材料で構成する場合、先
ず霞−’l1bNl −bの場合には、窒素原子の含有
量はシリコン原子に対して通常は43〜60 atos
mic%、好適には43 ′50 atomic% 、
 hの表示では通常は0.40〜0.57.好適には0
5〜0.57とされる。
When the barrier layer 102 is made of a nitrogen-based amorphous material, first, in the case of Kasumi-'l1bNl-b, the content of nitrogen atoms is usually 43 to 60 atos to silicon atoms.
mic%, preferably 43'50 atomic%,
h is usually 0.40 to 0.57. Preferably 0
5 to 0.57.

a −(SiINl−1) 1Hx−jで構成する場合
には、窒素原子含有量としては、通常は25〜55at
oImic%。
When composed of a-(SiINl-1) 1Hx-j, the nitrogen atom content is usually 25 to 55 at
oImic%.

好適には35〜55 atomic’l p水素原子の
含有量としては、通常2〜35ato■ic%、好適に
は5〜30 atomic%とされ、l、  jで表示
すれば、1としては通常0.43〜0.6.好適には0
.43〜0.5゜1としては通常0.65〜0.98.
好適には07〜0.95とされ、a −(SikN]−
k)/Xx−1又は a−(51mN1 m)n (H
+ X ) 1m で構成する場合には窒素原子の含有
量は、通常30〜60 atomic係、好適には40
〜6 o 2tomic%、ノ・ロゲン原子又は、ハロ
ゲン原子と水素原子とを併せた含有量は、通常1〜20
 atomic%、好適には2〜15 atomic%
とされ、ハロゲン原子と水素原子の両者が含有される場
合の水素原子の含有量は通常、は19atomic%以
下、好適には13 atomic%以下とされ、y、 
4 +11. nの表示では、k、lが通常は0.43
〜0.60.好適には0.43〜0.49、m、n力”
通常は0.8〜0.99.好適には0.85〜0.98
とされる。
The content of hydrogen atoms is preferably 35 to 55 atomic%, preferably 5 to 30 atomic%, and when expressed as l and j, 1 is usually 0. .43-0.6. Preferably 0
.. 43-0.5°1 is usually 0.65-0.98.
It is preferably set to 07 to 0.95, and a −(SikN]−
k)/Xx-1 or a-(51mN1 m)n (H
+
~6 o 2tomic%, the content of halogen atoms or the combined content of halogen atoms and hydrogen atoms is usually 1 to 20
atomic%, preferably 2-15 atomic%
When both halogen atoms and hydrogen atoms are contained, the content of hydrogen atoms is usually 19 atomic% or less, preferably 13 atomic% or less, y,
4 +11. In the representation of n, k and l are usually 0.43
~0.60. Preferably 0.43 to 0.49, m, n force"
Usually 0.8-0.99. Preferably 0.85 to 0.98
It is said that

障壁層102を構成する電気絶縁性の金属酸化物として
は、Ti01 、 Cm@OB 、 Zr01 、 H
fO富、 Ge01 。
The electrically insulating metal oxides constituting the barrier layer 102 include Ti01, Cm@OB, Zr01, H
fO wealth, Ge01.

CmO、BeO、Pro@、 YIOI、 Cry03
. Llzへ、Mgo、xgo*ム1,0@ 。
CmO, BeO, Pro@, YIOI, Cry03
.. To Llz, Mgo, xgo*mu1,0@.

si 03・MgO、等が好ましいものとして挙げるこ
とが出来る。これ等は2種以上を併用して障壁層102
を形成しても良いものである。
Preferred examples include si03.MgO. The barrier layer 102 is formed by using two or more of these in combination.
It is also possible to form a

電気絶縁性の金属酸化物で構成される障壁層102の形
成は、真空蒸着法、CV D (chemlcsjva
pour deposition)法、グロー法電分解
法、スフ<ツタリング法、イオンインプランテーション
法。
The barrier layer 102 made of an electrically insulating metal oxide is formed using a vacuum evaporation method, CVD (chemical vapor deposition), or chemical vapor deposition (CVD).
pour deposition) method, glow electrolysis method, sufu<tsutaring method, and ion implantation method.

イオンブレーティング法、エレクトロンビーム法等によ
って成される。
This is accomplished by ion blating method, electron beam method, etc.

例えば、スパッタリング法によって障壁層102を形成
するには、障壁層形成用の出発物質のウエーノ1−をタ
ーゲットとしてHe 、 Ha 、Ar等のスパッター
用のガス雰囲気中でスノくツl IJ/グすることによ
って行えば良い。
For example, to form the barrier layer 102 by a sputtering method, the starting material for forming the barrier layer, Ueno 1, is used as a target to perform IJ/Ging in a gas atmosphere for sputtering such as He, Ha, Ar, etc. You can do it by doing this.

エレクトロンビーム法を用いる場合には障壁層形成用の
出発物質を蒸着ボート内に入れてエレクトロ/ビームを
照射して蒸着すればよいが、支持体101から非晶質層
103中へのキャリアの流入を阻止し、且つ非晶質層1
03中で発生したフォトキャリアが移動して支持体10
1側に通過するのを容易に許すことを果たすものである
ことから、電気絶縁性的挙動を示すものとして形成され
る。
When using the electron beam method, the starting material for forming the barrier layer may be placed in a vapor deposition boat and evaporated by irradiation with an electro/beam. and amorphous layer 1
The photocarriers generated in 03 move to the support 10.
Since it is intended to easily allow passage to one side, it is formed to exhibit electrically insulating behavior.

障壁層102の層厚の数値範囲は、その目的を効果的に
達成する為の重要な因子の1つである。
The numerical range of the layer thickness of the barrier layer 102 is one of the important factors for effectively achieving its purpose.

障壁層1020層厚が充分過ぎる程に薄いと、支持体1
01の側からの非晶質層103側方向へ、又は非晶質F
f4103flllから支持体101側方向へのフリー
キャリアの流入を阻止する働きが充分果し得なくなり、
又、充分過ぎる程以上に厚いと、非晶質層103中に於
いて生ずるフォトキャリアの支持体101の側への通過
する確率が極めて小さくなり、従って、いずれの場合に
も、本発明の目的を効果的に達成され得なくなる。
If the thickness of the barrier layer 1020 is too thin, the support 1
01 side toward the amorphous layer 103 side, or amorphous F
The function of preventing free carriers from flowing toward the side of the support body 101 from f4103flll becomes insufficient,
Moreover, if the thickness is more than enough, the probability that the photocarriers generated in the amorphous layer 103 will pass to the support body 101 side becomes extremely small, and therefore, in either case, the object of the present invention is not achieved. cannot be achieved effectively.

上記の点に鑑みて本発明の目的を効果的に達成する為の
障壁層1020層厚としては、通常の場合、30〜10
0OA、好適には、50〜600人である。
In view of the above points, the thickness of the barrier layer 1020 to effectively achieve the object of the present invention is usually 30 to 10
0OA, preferably 50-600 people.

本@唄に於いて、その目的を効果的に達成する様子、支
持体101上に設けられる非晶質層103は下記に示す
半導体特性を有するm−8i(’ + x)  で構成
され、その層厚方向に後述する様な分布を以って酸素原
子がドーピングされる。
In this @ song, how to effectively achieve this purpose, the amorphous layer 103 provided on the support 101 is composed of m-8i(' + x) having the semiconductor properties shown below, Oxygen atoms are doped in the layer thickness direction with a distribution as described below.

■ pffls−84(H,X)・・・アクセプターの
みを含むもの。或いは、ドナーとアクセプターとの両方
を含み、アクセプターの濃度(Na)が高いもの。
■pffls-84(H,X): Contains only acceptor. Or one that contains both a donor and an acceptor and has a high acceptor concentration (Na).

■ P−型−−si(H、X )−・Φの一タイプに於
いてアクセプターの濃度(N麿)が低い所謂p型不純物
をライトリ−ドープしたもの。
(2) P-type - A type of si(H,

■ 日型a  St (H、X )・・・ドナーのみを
含むもの。
■ Day-type a St (H,X): Contains only the donor.

或いはドナーとアクセプターの両方を含み、ドナー濃度
(Nd)が高いもの。
Or one that contains both a donor and an acceptor and has a high donor concentration (Nd).

■ n−型a−8i(H,X)・−〇のタイプに於いて
ドナーの濃度(Nd)が低い、所謂ノンドープのものか
父はD型不純物をライトリ−ドープしたもの。
(2) The n-type a-8i (H,

■ 直型a −84(H、! )−Na!Nd! Oの
もの又は、Na ’:: NdOもの。
■ Straight type a-84 (H,! )-Na! Nd! O's or Na':: NdO's.

本発明において、非晶質層103中に含有されるハロゲ
ン原子(X)としては、具体的にはフッ素、塩素、臭素
9口、つ素が挙げられ、殊にフッ素、塩素を好適なもの
として挙げることが出来る。
In the present invention, specific examples of the halogen atoms (X) contained in the amorphous layer 103 include fluorine, chlorine, bromine, and chlorine, with fluorine and chlorine being particularly preferred. I can list them.

本発明の光導電部材100に於いて、非晶質11103
中には、その分布が支持体1010表面に略々平行な面
内では実質的に均一であり、層の厚み方向には不均一で
あって、支持体101とは反対の表面側(第1図に於い
ては、自由表面104@)の方に多く分布し、その最大
分布t Cmax の位置が前記表面又は、その極近傍
にある様に酸素原子が含有されている層領域が形成され
る。
In the photoconductive member 100 of the present invention, amorphous 11103
In some cases, the distribution is substantially uniform in a plane substantially parallel to the surface of the support 1010, non-uniform in the thickness direction of the layer, and on the surface side opposite to the support 101 (the first In the figure, a layer region containing oxygen atoms is formed such that oxygen atoms are distributed more on the free surface 104@) and the position of the maximum distribution t Cmax is on the surface or in the very vicinity thereof. .

第2図乃至第5図には、非晶質層103中に含有される
酸素原子の非晶質層103の層厚方向の分布状態の典型
例が示される。第2図乃至第5図に於いて、縦軸は、非
晶質層103の層厚tを示1−1電・は支持体101又
は障壁層102等の他のものとの非晶質層103の界面
位置(下部表面)を、tlは自由表面104側の非晶質
@103の界面位置(上部表面)(W、1図に於いては
自由表面104と同位置である)を各々表わし、toか
らtsに向うに従って、層厚tの厚くなることを示し、
横軸は、非晶質層1030層向方向の任意の位置に於け
る酸素原子の分布量Cを示し、矢印方向に分布量の増大
が示され、C□8は非晶質層103中に於ける酸素原子
の最大分布量を示す本のである。
2 to 5 show typical examples of the distribution of oxygen atoms contained in the amorphous layer 103 in the thickness direction of the amorphous layer 103. In FIG. 2 to FIG. 5, the vertical axis indicates the layer thickness t of the amorphous layer 103. 103 represents the interface position (lower surface), and tl represents the interface position (upper surface) of amorphous @103 on the free surface 104 side (W, which is the same position as the free surface 104 in Figure 1). , indicating that the layer thickness t increases from to to ts,
The horizontal axis shows the distribution amount C of oxygen atoms at any position in the layer direction of the amorphous layer 1030, and the increase in the distribution amount is shown in the direction of the arrow. This is a book that shows the maximum distribution amount of oxygen atoms in.

第2図に示す例に於いては、非晶質層103中に含有さ
れる酸°素原子の該層103中での分布状態は、下部表
面位WILt・より上部表面位置tBに至る。に従って
単調的に連続的に増大し、位置t1に於いて最大分布量
Crn□に至り、その後表面位置1%までの間は、分布
tcに変動がなく、C,□の値を維持している。第2因
に於いて、t0附近に於いては、酸、g原子は全く含有
されていないかの様に示されているが、酸素原子量の検
出限界以下は、酸素原子が含有されてい危いのと同様に
扱っている為であ名。
In the example shown in FIG. 2, the distribution state of oxygen atoms contained in the amorphous layer 103 extends from the lower surface position WILt to the upper surface position tB. The distribution tc increases monotonically and continuously, reaching the maximum distribution amount Crn□ at the position t1, and thereafter there is no fluctuation in the distribution tc until the surface position 1%, maintaining the value of C,□. . Regarding the second factor, near t0, it appears as if no acid or g atoms are contained at all, but below the detection limit of oxygen atoms, it is dangerous that oxygen atoms are contained. It is nicknamed because it is treated in the same way.

従って、本発明に於いては、酸素原子の篭が0と示され
る7m領域(例えば第3図に於けるt−とtlとの間の
層領域)は、酸素原子が全く含まれないか、又は、検出
限界量未満含有されているものとして扱われる。現在の
ところ、我々の技術レベルに於いては酸素原子量の検出
限界はシリコン原子に対して200 atoa+ic 
PPmである。
Therefore, in the present invention, the 7m region (for example, the layer region between t- and tl in FIG. 3) where the cage of oxygen atoms is shown as 0 contains no oxygen atoms at all, or Otherwise, it is treated as containing less than the detection limit. At present, at our technological level, the detection limit for oxygen atoms is 200 atoa+ic for silicon atoms.
It is PPm.

本発明の光導電部材に於いては、高光感度化と安定した
画質特性が得られる様に酸素原子の分布状態は上部表面
位置t、に近くなるに従って分布量が増大する様に非晶
質層103中に酸素原子が含有される。
In the photoconductive member of the present invention, in order to obtain high photosensitivity and stable image quality characteristics, the distribution state of oxygen atoms is made of an amorphous layer such that the distribution amount increases as the position approaches the upper surface position t. 103 contains an oxygen atom.

第1図に示される様に作成される光導電部材iooの非
晶質@ 103が自由表面104を有する場合には、上
部表面位置t、近傍に於いて、酸素原子の含有値を他の
層領域に較べて著しく増大させて、自由表面104に付
与される電荷の保持能を同上させる様に設けることがで
きる。
When the amorphous @ 103 of the photoconductive member ioo prepared as shown in FIG. The free surface 104 can be provided with a significantly increased capacity to retain the charge applied to the free surface 104.

この場合、斯かる層領域は所謂一種の障壁層の機能を果
すものである。
In this case, such a layer region serves as a so-called barrier layer.

この様に、非晶質層103の自由表面104近傍に於い
て、酸素原子の含有量を他の層領域に較べて極端に多く
して、−上部障壁層を非晶質層103中に形成する事本
出来るが、父別には非晶質層103の表面上に、障壁1
1!102を構成する材料と同材の材料を使用して、上
部障壁層を形成することも出来る。この際の上部障壁層
の層厚としては、通常は30A〜5μ、好適には50λ
〜2μとされるのが望ましい。
In this way, in the vicinity of the free surface 104 of the amorphous layer 103, the content of oxygen atoms is extremely increased compared to other layer regions, and an upper barrier layer is formed in the amorphous layer 103. Although it is possible to
The upper barrier layer can also be formed using the same material as that constituting 1!102. The thickness of the upper barrier layer at this time is usually 30A to 5μ, preferably 50λ.
It is desirable that the value is ~2μ.

第3図に示す例に於いては、非晶質層103の下部側t
・とt!の間の層領域には、酸素原子が全く含まれない
か、又は検出限界量未満しか含有されてないものであり
、位置tlよりtsに至るに従って、酸素原子の分布量
は一次関数的又は−次関数に近い関数的に単調増加し、
位置t1に於いて、最大分布量Cm5xに達する。ts
とtsとの間の層領域に於いては、酸素原子は、最大分
布1i Crossで一様均一に含有されている。
In the example shown in FIG. 3, the lower side t of the amorphous layer 103
・andt! The layer region between the layers contains no oxygen atoms at all or contains less than the detection limit, and the distribution amount of oxygen atoms changes linearly or - from the position tl to ts. Monotonically increasing functionally close to the following function,
At position t1, the maximum distribution amount Cm5x is reached. ts
In the layer region between and ts, oxygen atoms are uniformly contained with a maximum distribution of 1i Cross.

第4図に示す例に於いては、非晶質Fii103の下部
層領域(t・とt4との間)では、その分布量が一定量
CIで一様均一に酸素原子が含有されており、上部層領
域(taとt30間)では、最大分布量Cmaxで一様
均一に分布した状態で酸素原子が含有されていて、下部
層領域と上部層領域とに於いて、その分布量が不連続的
になっている。
In the example shown in FIG. 4, the lower layer region (between t and t4) of the amorphous Fii 103 contains oxygen atoms evenly and uniformly with a constant amount CI, In the upper layer region (between ta and t30), oxygen atoms are contained in a uniformly distributed state with a maximum distribution amount Cmax, and in the lower layer region and the upper layer region, the distribution amount is discontinuous. It's becoming a target.

第5図に示される例に於いては、非晶[1103の下部
表面位置亀・から位置tlに至るまでは、一定p分布量
C,で酸素原子が含有されており、位i!f、liより
位置t6に至るに従□って酸素原子の分布量は徐々に増
大し、位置亀・より上部表面位置t。
In the example shown in FIG. 5, oxygen atoms are contained at a constant p distribution amount C, from the lower surface position of the amorphous [1103] to the position tl, and the position i! The distribution amount of oxygen atoms gradually increases from f and li to position t6, and the distribution amount of oxygen atoms gradually increases from position □ to the upper surface position t.

に至るまでは、酸素原子の分布tけ急激に増大し、上部
表面位置1sに至って最大分布量C+a■Xを取る様に
、酸素原子が分布している。
The oxygen atoms are distributed in such a way that the distribution of oxygen atoms rapidly increases by t until reaching the upper surface position 1s, where the maximum distribution amount is C+a*X.

本発明に於いては酸素原子の最大分布tCrnaxは、
通常は、前記した様な値を取り得るものであるが、好適
には0.5〜67 atomic%、最適にけ1.0 
′67 atomic%の範囲から選択されるのが望ま
しいものである。
In the present invention, the maximum distribution of oxygen atoms tCrnax is
Normally, it can take the above-mentioned values, but preferably 0.5 to 67 atomic%, optimally 1.0 atomic%.
It is preferable to select from the range of '67 atomic%.

本発明の光導電部材に於いて1、非晶質層103中に含
有される酸素原子は、n11記した様に非晶質層103
の脂摩方向にその含有量の分布が不均一であり、且つ上
部表面位Wt、又は1.近傍に於いて最大分布量を有し
、上部表面位置t、がら下部表面位置t。に向って、分
布量が減少私する様な分布状態が非晶質層103中の層
厚方向に形成される様に所望の分布状態関数に従って、
非晶質層103中に添加されることによって、本発明の
所期の目的が効果的に達成されるものであるが、更に非
晶質層103全体に於いての含有される#I索原子の含
有量も、本発明の所期の目的を達成するのに重要である
In the photoconductive member of the present invention, 1. oxygen atoms contained in the amorphous layer 103 are as described in n11.
The distribution of its content is uneven in the greasing direction, and the upper surface Wt or 1. The maximum distribution amount is in the vicinity of the upper surface position t, while the lower surface position t. According to a desired distribution state function, a distribution state in which the amount of distribution decreases in the direction of the layer thickness in the amorphous layer 103 is formed.
By being added to the amorphous layer 103, the intended purpose of the present invention is effectively achieved. The content of is also important for achieving the intended purpose of the present invention.

本発明に於いて、非晶質層103中に含有される酸素原
子の全量の値は、通常は、前記【7たlkを取り得るも
のであり、更に好適には0.05〜20 atomic
4 、171通には0.05〜10 ato111ic
%の範囲から選択されるのが望ましいものである、本発
明におい又、主としてa−8i(t(、X )で構成さ
れる非晶質1m103を形成するには例えばクロー放電
法、スパッタリング法、或いはイオングレーティング法
等の放を現象を利用する真空堆積法によって成される。
In the present invention, the value of the total amount of oxygen atoms contained in the amorphous layer 103 is usually in the range of [7], more preferably 0.05 to 20 atomic
4, 0.05 to 10 ato111ic for 171 letters
In the present invention, in order to form the amorphous 1m103 mainly composed of a-8i(t(,X)), for example, claw discharge method, sputtering method, Alternatively, it can be accomplished by a vacuum deposition method that utilizes a radiation phenomenon such as an ion grating method.

例えば、クロー放電法によって非晶質1−を形成するに
は、Srを生成し得るSi生成原料ガスと共に、水*原
子導入IIの又は/及びハロゲン原子導入用の原料ガス
を内部が減圧にし得る堆積室内に尋人し−C1該堆積室
内にグロー放電を生起させ、予めトリf定位置に設置さ
れである所定の支持体表面上にa −8i(H+ x 
)からなる層を形成させれば良い。酸素1皇子を形成さ
れる層中に導入するには、層の成長に併せて、酸系原子
導入用の原料ガスを層の形成時に前記堆積室内に導入し
てやれに良い。
For example, in order to form amorphous 1- by the claw discharge method, the internal pressure of the raw material gas for water * atom introduction II and/or halogen atom introduction, together with the Si generation raw material gas that can generate Sr, must be reduced. A glow discharge is generated in the deposition chamber, and a -8i (H+ x
) may be formed. In order to introduce oxygen into the layer to be formed, it is preferable to introduce a raw material gas for introducing acid atoms into the deposition chamber at the time of forming the layer, in conjunction with the growth of the layer.

又、スパッタリング法で形成する場合には、例えばAr
、ms等の不活性ガス又はこれ等のガスをベースとした
混合ガスの雰囲気中で8iで形成されたターゲットをス
パッタリングする際、水素原子父は/及びハロゲン原子
導入用のガスをスパッタリング用の堆積室に導入してや
ればよい。
In addition, when forming by sputtering method, for example, Ar
When sputtering a target formed with 8i in an atmosphere of an inert gas such as , ms, or a mixed gas based on these gases, the hydrogen atoms are used as the parent gas and/or the gas for introducing halogen atoms is deposited for sputtering. You can introduce it into your room.

この際に於ける非晶質層103中の酸素原子の導入法と
してれ層の成長に併わせて、酸素原子尋人用の原料ガス
を層形成時に前記堆積室中に導入してやるか、又は、層
形成時に、予め堆積室中に設けた酸素原子導入用のター
ゲットをスパッタリングしてやることが挙げられる。
At this time, the method of introducing oxygen atoms into the amorphous layer 103 is to introduce a raw material gas for oxygen atoms into the deposition chamber at the time of layer formation, in conjunction with the growth of the layer, or, When forming the layer, sputtering may be carried out using a target for introducing oxygen atoms that has been provided in advance in the deposition chamber.

本発明に於いて非晶質層103を形成する際に使用され
るSi生成原料ガスとしては、”[418I11@ 、
5t3H@1 、81411(1等のガス状態の又はガ
ス化し得る水素化硅素(シラン類)が有効に使用される
ものとして挙げられ、殊に、層作成作業の際の扱い易さ
、S1生成効率の良さ等の点でfJiH4゜5i3)I
@  が好ましいものとして挙げられる。
In the present invention, the Si generation raw material gas used when forming the amorphous layer 103 includes "[418I11@,
5t3H@1, 81411 (1 grade) Silicon hydride (silanes) in a gaseous state or that can be gasified is mentioned as one that can be effectively used, especially ease of handling during layer creation work, S1 generation efficiency fJiH4゜5i3)I
@ is preferred.

本発明において非晶質1i103を形成する際に使用さ
れる・・ロダン原子導入用原料ガスとして有効なのeよ
、多くのハロゲン化合物が挙げらrL 、例、t ハロ
ゲン化物、ハロゲン化物、ハロゲン間化合物、ハロゲン
で置換されたシラン誘導体等のガス状態の又はガス化し
得るハロゲン化合物が好ましく挙げられる。
In the present invention, many halogen compounds are effective as raw material gases for introducing rodan atoms, such as halides, halides, and interhalogen compounds. Preferred examples include gaseous or gasifiable halogen compounds such as halogen-substituted silane derivatives.

父、虹には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得るハロゲンを含む硅素
化合物も有効がものとして本発明に於いては挙げること
が出来る。
Also effective in the present invention are silicon compounds containing silicon atoms and halogen atoms, which are in a gaseous state or contain gasifiable halogens.

本発明に於いて好適に使用し得るハロゲン化合物として
は、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素のハIf
fゲンガス、BrF 、CI? 、 ClF5+BrF
@ 、 BrF3 、 IF7 、 IFF 、 rc
/、 IBr  等のハロゲン間化合物を挙げることが
出来る。
Specifically, halogen compounds that can be suitably used in the present invention include fluorine, chlorine, bromine, and iodine.
f Gengas, BrF, CI? , ClF5+BrF
@, BrF3, IF7, IFF, rc
/, IBr, and other interhalogen compounds.

ハロゲン原子を含む硅素化合切、所謂、ハロゲンで置換
されたシラン誘導体としては、具体的には例えばSiF
4 、5iIP@ 、 SiC/4 、 SiBr4 
 等のハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げるとと
が出来る。
Examples of silane derivatives containing halogen atoms, so-called halogen-substituted silane derivatives include, for example, SiF
4, 5iIP@, SiC/4, SiBr4
Preferred silicon halides are as follows.

この様なハロゲン胞子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、Siを生成し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にa −8
t : Xから成る非晶質層を形成する事が出来る。
When forming the characteristic photoconductive member of the present invention by a glow discharge method using such a silicon compound containing halogen spores, silicon hydride gas as a raw material gas capable of producing Si is not used. In both cases, a-8 is placed on a predetermined support.
t: An amorphous layer consisting of X can be formed.

グロー放電法に従って、ハロゲン原子を含む非晶質層1
03を作成する場合、基本的には、84生成用の原料ガ
スであるハロゲン化硅素ガスとAr、Hl、I・等のガ
スとを所定の混合比とガス流量になる様にして非晶質層
を形成する堆積室内に導入し、グロー放電を生起してこ
れ等のガスのプラズマ雰囲気を形成することによって、
所定の支持体上に非晶質層103を形成し得るものであ
るが、水素原子の導入を計る為にこれ等のガスに更に水
素原子を含む硅素化合物のガスも所定量混合して層形成
しても良い。
Amorphous layer 1 containing halogen atoms according to the glow discharge method
When creating 03, basically, silicon halide gas, which is the raw material gas for 84 generation, and gases such as Ar, Hl, I, etc. are mixed at a predetermined mixing ratio and gas flow rate to form an amorphous material. By introducing these gases into the deposition chamber where the layer is to be formed and generating a glow discharge to form a plasma atmosphere of these gases,
The amorphous layer 103 can be formed on a predetermined support, but in order to introduce hydrogen atoms, a predetermined amount of silicon compound gas containing hydrogen atoms is further mixed with these gases to form a layer. You may do so.

父、各ガスは単独種のみでなく所定の混合比で複数棟混
合して使用しても差支えないものである。
Father, each gas can be used not only as a single species, but also in a mixture of multiple types at a predetermined mixing ratio.

反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依って主としてm−8i(H,X)から成る非晶質fi
103を形成するには、例えばスパッタリング法の場合
にけ81から成るターゲットを使用して、これを所定の
ガスプラズマ雰囲気中でスパッタリングし、イオンブレ
ーティング法の場合には1.多結晶シリコン又は単結晶
シリコンを蒸発源として蒸着ボートに収容し、このシリ
コン蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロンビーム法
(KB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定の
ガスプラズマ雰囲気中を通過させる事で行う事が出来る
Amorphous fi mainly consisting of m-8i (H,
In order to form 103, for example, in the case of a sputtering method, a target consisting of 81 is used and sputtered in a predetermined gas plasma atmosphere, and in the case of an ion blasting method, 1. Polycrystalline silicon or single crystal silicon is housed in a deposition boat as an evaporation source, and this silicon evaporation source is heated and evaporated by a resistance heating method or an electron beam method (KB method), etc., and the flying evaporates are evaporated into a predetermined gas plasma atmosphere. This can be done by passing it through.

この際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合にも形成される層中に・・ログン原子を導入
するには、前記の・・ロゲン化合物又は前記のハロゲン
原子を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して該ガ
スのプラズマ雰囲気を形成してやれば良いものである。
At this time, in order to introduce logon atoms into the layer formed by either the sputtering method or the ion blasting method, the above-mentioned halogen compound or the above-mentioned halogen atom-containing silicon compound gas is used. It is sufficient to introduce the gas into the deposition chamber to form a plasma atmosphere of the gas.

父、水素原子を導入する場合には、水vg11!子導入
用の原料ガス、例えば、H!、前記したシラ/類等のガ
スをスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば良い。
Father, when introducing hydrogen atoms, water vg11! Raw material gas for child introduction, for example, H! A plasma atmosphere of the gas may be formed by introducing a gas such as the above-described gas into a deposition chamber for sputtering.

形成される非晶質層中に層厚方向に所望の分布状態を以
って含有される酸素JQ子は、グロー放電法、イオンブ
レーティング法、或いは反応スパッタリング法によって
非晶質層を形成する場合には、酸素原子導入用の原料ガ
スを階の形成時に;−の成長に併せて所望の流量に従っ
て層形成用の堆積室中に導入してやれば良い。
Oxygen JQ atoms contained in the formed amorphous layer with a desired distribution state in the layer thickness direction are formed by a glow discharge method, an ion blasting method, or a reactive sputtering method. In this case, the raw material gas for introducing oxygen atoms may be introduced into the deposition chamber for layer formation according to a desired flow rate in conjunction with the growth of layers.

父、スパッターリング法によって非晶質層を形成する場
合には、上記の他、酸素原子導入用のターゲットを前記
堆積室内に設けて置き、層の成長に併せて前記ターゲッ
トをスパッタリングしてやれば良い。
When forming an amorphous layer by a sputtering method, in addition to the above, a target for introducing oxygen atoms may be provided in the deposition chamber, and the target may be sputtered as the layer grows.

本発明に於いて、酸素原子導入用の原料ガスとして有効
に使用されるものとしては、酸素(02)。
In the present invention, oxygen (02) is effectively used as a raw material gas for introducing oxygen atoms.

オゾン(03)、Siと0とHとを構成原子とする。The constituent atoms are ozone (03), Si, 0, and H.

例えばジシロキサンEIsSi081H,、トIJシロ
キサンH38i08iH,0818,4の低級シロキサ
ン等を挙げる事が出来る。父、酸素原子導入用のターゲ
ットを形成し得る材料として、本発明に於いて有効に使
用されるのは、sto、、 sio等である。
Examples include lower siloxanes such as disiloxane EIsSi081H, and ToIJ siloxane H38i08iH, 0818.4. In the present invention, materials that can be effectively used to form a target for introducing oxygen atoms include sto, sio, and the like.

本発明に於いては、非晶質層を形成する際に使用される
ハロゲン導入用の原料ガスとして上記されたハロゲン化
合物或いはハロゲンを含む硅素化合物が有効なものとし
て使用されるものであるが、その他に、HF、 Hcj
、 HBr、 HI 等のハロゲン化水素、5iH1F
1 、8iH■C1g 、 5iHCI2 jliHl
Brl。
In the present invention, the above-mentioned halogen compounds or halogen-containing silicon compounds are effectively used as the raw material gas for introducing halogen used when forming the amorphous layer. In addition, HF, Hcj
, HBr, hydrogen halides such as HI, 5iH1F
1, 8iH■C1g, 5iHCI2 jliHl
Brl.

5iHBr3等のハロゲン置換水素化硅素等々のガス状
態の或いはカス化し得る、水素原子を構成要素の1つと
するハロゲン化物も有効な非晶質層形成用の出発物質と
して挙げる事が出来る。
Halides having a hydrogen atom as one of their constituents, such as halogen-substituted silicon hydrides such as 5iHBr3, which are in a gaseous state or can be cassified, can also be cited as effective starting materials for forming an amorphous layer.

これらの水素原子を含むハロゲン化物は、非晶質−形成
の際に層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或いは
光電的特性の制御に惨めで有効な水素原子も導入される
ので、本発明においては好適なハロゲン導入用の原料と
して使用される。
When these halides containing hydrogen atoms are formed into an amorphous state, hydrogen atoms, which are effective in controlling electrical or photoelectric properties, are also introduced into the layer at the same time as halogen atoms are introduced into the layer. It is used as a suitable raw material for introducing halogen.

水素1争子を非晶質層中に構造的に導入するには、上記
の他にH鵞、或いはSiH4、5tlH@ 、 5i3
H畠。
In order to structurally introduce hydrogen ions into the amorphous layer, in addition to the above, hydrogen, SiH4, 5tlH@, 5i3
H Hatake.

8i4自・等の水素化硅素のガスをa −3i を生成
する為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電を
生起させる事でも行う事が出来る。
This can also be achieved by causing a discharge to occur by causing a silicon hydride gas such as 8i4 to coexist with a silicon compound for producing a -3i in the deposition chamber.

例えば、反応スパッタリング法の場合には、8iターゲ
ツトを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH,ガス
を必要に応じてlie、Ar等の不活性ガスも含めて堆
積室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記Stメ
タ−ットをスパッタリングする事によって、所定の特性
を有し、主としてa −8i (H,X )から成る非
晶質1−が形成される。
For example, in the case of the reactive sputtering method, an 8i target is used, and a gas for introducing halogen atoms, H gas, and inert gases such as Lie and Ar are introduced into the deposition chamber as necessary to create a plasma atmosphere. By forming and sputtering the St metal, an amorphous 1- having predetermined characteristics and mainly consisting of a-8i (H,X) is formed.

更には、不純物のドーピングも兼ねてBII(−+PH
s*PFm4のガスを導入してやることも出来る。
Furthermore, BII (-+PH
It is also possible to introduce s*PFm4 gas.

本発明に於いて、形成される光導電部材の非晶質層中に
含有されるH又はXの駄又は(H+X )の量は通常の
場合1〜40 atomic%、好適には5〜30 a
tosaic%とされるのが望ましい。
In the present invention, the amount of H or X (H+X) contained in the amorphous layer of the photoconductive member to be formed is usually 1 to 40 atomic%, preferably 5 to 30 atomic%.
It is desirable to set it as tosaic%.

層中に含有される■又は/及びXの1を制御するには、
例えば堆積支持体温度又は/及びHを含有させる為に使
用される出発物質の堆積装置系内へ導入する量、放電々
力等を制御してやれば良い。
To control 1 of ■ or/and X contained in the layer,
For example, the temperature of the deposition support, the amount of the starting material used to contain H into the deposition system, the discharge force, etc. may be controlled.

非晶質層をn型傾向又はP型傾向或いはi型とするには
、グロー放電法や反応スパッタリング法等による層J構
成の際に、n型不純物父は。
In order to make the amorphous layer N-type, P-type, or i-type, an n-type impurity is added when forming the layer J by a glow discharge method, a reactive sputtering method, or the like.

型不純物、或いは両不純物を形成される層中にその量を
制御し乍らドーピングしてやる事によって成される。
This is achieved by doping a type impurity or both impurities into the layer to be formed while controlling the amount thereof.

非晶質層中にドーピングされる不純物としては、非晶質
層を1型又はp型傾向にするには、周期律表第■族Aの
元素、例えば、B、ムl、 G4゜In、rt4が好適
なものとして挙げられる。
As impurities doped into the amorphous layer, in order to make the amorphous layer 1 type or p type, elements of group Ⅰ A of the periodic table, such as B, mul, G4゜In, rt4 is preferred.

n型傾向にする場合には、周期律表第■族Aの元素、例
えばN、  P、 AI、8b、Bl 等が好適なもの
として挙げられる。
In the case of an n-type tendency, suitable elements include elements of Group ⅠA of the periodic table, such as N, P, AI, 8b, and Bl.

本発明に於いて所望の伝導型を有する為に非晶質−中に
導入される不純物の量としては、周期律表第■族Aの不
純物の場合は3×1o″’1(OmjC係以下の量範囲
でドーピングしてやれば良く、周期律表第V族^の不純
物の場合には5 X 10−3atogmic%以下の
量範囲でドーピングしてやれば良い。
In the present invention, the amount of impurity introduced into the amorphous material in order to have the desired conductivity type is 3×1o'''1 (below OmjC) in the case of impurities in group A of the periodic table. In the case of impurities belonging to group V of the periodic table, doping may be carried out in an amount of 5 x 10-3 atogmic% or less.

非晶vL判の層厚は、非晶質層中で発生されるフォトキ
ャリアが効率良く所定の方向に輸送される様に所望に従
って適宜決められ、通常は3〜100μ、好適には5〜
50μとされる。
The layer thickness of the amorphous VL size is determined as desired so that the photocarriers generated in the amorphous layer are efficiently transported in a predetermined direction, and is usually 3 to 100 μm, preferably 5 to 100 μm.
It is assumed to be 50μ.

実施例1 完全にシールドされたクリーンルーム中に設置された第
6図に示す装置を用い、以下の如き操作によって電子写
真用像形成部材を作製した。
Example 1 Using the apparatus shown in FIG. 6 installed in a completely shielded clean room, an electrophotographic image forming member was produced by the following operations.

表向が清浄にされたQ、 5 tx*厚10cIL角の
モリブデン板(基板)609をグロー放電堆積室601
内の所定位置にある固定部材603に略同に固定した。
A molybdenum plate (substrate) 609 with a square surface of Q, 5 tx * thickness 10 cIL, whose surface has been cleaned, is placed in a glow discharge deposition chamber 601.
They were fixed substantially in the same manner to a fixing member 603 located at a predetermined position inside.

基板609は、固定部材603内の加熱ヒーター608
によって±0.5℃の精度で加熱される。Mllは、熱
電対(アルメル−クロメル)によって基板裏血を直接測
定されるようになされた。次いで系内の全バルブが閉じ
られていることを確認してからメインバルブ610を全
開して、室601内が排気され、約5 X IQ’To
rrの真空度にした。その後ヒーター608の入力電圧
を上昇させ、モリブデン基板温度を検知しながら入力端
子を変化させ、250°Oの一定値になる°夕で安定さ
せた。
The substrate 609 is connected to the heater 608 inside the fixing member 603.
is heated with an accuracy of ±0.5°C. Mll was made to measure substrate back blood directly by thermocouple (alumel-chromel). Next, after confirming that all valves in the system are closed, the main valve 610 is fully opened and the inside of the chamber 601 is evacuated.
The vacuum level was set to rr. Thereafter, the input voltage of the heater 608 was increased, and the input terminal was changed while detecting the temperature of the molybdenum substrate, and the temperature was stabilized at a constant value of 250°O.

七の後、補助パルプ641、次いで流出パルプ626,
627,629及び流入パルプ621゜622.624
を全Ml、、マスフローコントローラ616,617,
619内も十分脱気真空状態にされた。補助パルプ64
11パルプ626゜627.629,621,622.
6’24を閉じだ後、H富で10vo/%に稀釈された
SiH4ガス(純度99.999係、以下31H4QO
)/H雪と略す)のボンベ611のパルプ631.II
@で0.1vol係に稀釈された01ガス(純度99.
999%、以下O雪(0,1)/画e (!: 略ス。
After seven, the auxiliary pulp 641, then the outflow pulp 626,
627,629 and inflow pulp 621°622.624
The total Ml, mass flow controllers 616, 617,
The interior of 619 was also sufficiently degassed and vacuumed. Auxiliary pulp 64
11 Pulp 626°627.629,621,622.
After closing 6'24, SiH4 gas (purity 99.999, hereinafter 31H4QO) diluted to 10vo/% with H-rich
)/H Yuki) pulp 631 from cylinder 611. II
01 gas diluted to 0.1 vol with @ (purity 99.
999%, hereafter O snow (0, 1) / picture e (!: Abbreviation.

)ボンベ612のパルプ632を開け、出口圧ゲージ6
36,637の圧を1#/−2に調整し、流入パルプ6
21,622を徐々に開ケてマスフローコントローラー
616,617内へs+ui(10)/Hsガス、O寓
(旧)/&Iガスを流入させた。引ぼいて、流出パルプ
626,627を徐々に開け、次いで補助パルプ641
を徐々に開けた。このとき5iH4(1o)/Fhガス
流量とO雪の、l)’leガス流量の比が10:0.3
になるようにマスフローコントローラ616,617を
調整した。
) Open the pulp 632 of the cylinder 612 and check the outlet pressure gauge 6.
The pressure of 36,637 was adjusted to 1#/-2, and the inflow pulp 6
21, 622 were gradually opened to allow s+ui(10)/Hs gas and Oeg (old)/&I gas to flow into mass flow controllers 616, 617. By pulling, the outflow pulps 626 and 627 are gradually opened, and then the auxiliary pulp 641
I gradually opened it. At this time, the ratio of 5iH4(1o)/Fh gas flow rate and O snow, l)'le gas flow rate is 10:0.3
The mass flow controllers 616 and 617 were adjusted so that

次にビラニーゲージ642の読みを注視しながら補助パ
ルプ641の開口を調整し、室601内がI X 1O
−2Torrになるまで補助パルプ641を開けた。室
601内圧が安定してから、メインパルプ610を徐々
に閉じ、ビラニーゲージ642の指示がQ、l Tor
rになるまで開口を絞った。
Next, adjust the opening of the auxiliary pulp 641 while paying close attention to the reading on the Villany gauge 642, and adjust the opening of the auxiliary pulp 641 so that the inside of the chamber 601 is I
The auxiliary pulp 641 was opened until the pressure was -2 Torr. After the internal pressure of the chamber 601 stabilizes, the main pulp 610 is gradually closed and the indications on the Villany gauge 642 are Q and l Tor.
I narrowed down the aperture until it reached r.

ガス流入が安定し内圧が安定するのを確認し続いて高周
波電源643のスイッチをON状態にしてシャッター(
電極を兼ねる。)605を閉にして、電極603、シャ
ッター605間に13、56 Mklgの高周波電力を
投入し室601内にグロー放電を発生させ、lOWの入
力電力とした。上記条件を3時間保って光導電性を示す
非晶質層の一部となる下部層領域を形成した。
After confirming that the gas inflow is stable and the internal pressure is stable, turn on the high frequency power supply 643 and close the shutter (
Also serves as an electrode. ) 605 was closed, and a high frequency power of 13.56 Mklg was applied between the electrode 603 and the shutter 605 to generate a glow discharge in the chamber 601, resulting in an input power of 1OW. The above conditions were maintained for 3 hours to form a lower layer region that would become part of the amorphous layer exhibiting photoconductivity.

その後、高周波電源643をoff状態とし、グロー放
電を中止させた状態で、流出パルプ627を閉じ、次に
O!ガス(純t99.999係)ボンベ614からパル
プ634を通じて1 kg / cx*゛の“ガスlヒ
(出口圧ゲージ639の読み)で、流入パルプ624、
流出パルプ629を徐々に開いてマスフローコントロー
ラ619に0雪ガスfr K Lマスフローコントロー
ラ619の調整によって0、ガスが、S+1(4(10
)/It  ガス流量の1/lOになる様にし、安定化
させた。
Thereafter, the high frequency power supply 643 is turned off, the outflow pulp 627 is closed, and the glow discharge is stopped, and then the O! Gas (purity t99.999) is passed from the cylinder 614 through the pulp 634 at a rate of 1 kg/cx*'' (reading of the outlet pressure gauge 639), and the inflow pulp 624,
Gradually open the outflow pulp 629 and set the mass flow controller 619 to 0 snow gas fr KL.
)/It It was stabilized at 1/1O of the gas flow rate.

引き続き、再び11周波電源643をON状態にして、
グロー放電を再開させた。そのときの入力−力を3Wに
した。こうしてグロー放電を史に10分間持続させて非
晶質層の一部を構成するE部1−領域を600人の厚さ
に形成した後、加熱ヒーター608をoff状態にし、
高周波電源648もoff状蝶とし、基板種度が100
℃になるのを侍ってから流出パルプ626.629及び
流入パルプ621,622,624を閉じ、メインパル
プ610を全開にして、室601内を10’Torr以
乍に・した後、メインパルプ610を閉じ室601内を
リークパルプ606によって大気圧として基板をとり出
した。この場合、形成された層の全厚は約9μであった
。こうして得られた像形成部材を、帯電露光実験装置に
設置し、05.5KVで0.2111C間コロナ帯輩を
行い、直ちに光像を照射した。光像は、タングステンラ
ンプ光源を用い、1.0 /ax sacの光址を透過
型のテストチャートを通して照射させた。
Subsequently, turn on the 11th frequency power supply 643 again,
Glow discharge was restarted. The input power at that time was set to 3W. After continuing the glow discharge for 10 minutes in this manner to form the E section 1-region that constitutes a part of the amorphous layer to a thickness of 600 mm, the heating heater 608 is turned off.
The high frequency power supply 648 is also turned off, and the board type is 100.
℃, close the outflow pulps 626, 629 and inflow pulps 621, 622, 624, fully open the main pulp 610, and bring the inside of the chamber 601 to 10'Torr or more. The chamber 601 was closed and the inside of the chamber 601 was brought to atmospheric pressure by the leak pulp 606, and the substrate was taken out. In this case, the total thickness of the layer formed was approximately 9μ. The image forming member thus obtained was placed in a charging exposure experimental device, subjected to corona charging at 05.5 KV for 0.2111 C, and immediately irradiated with a light image. A light image was generated using a tungsten lamp light source, and a light field of 1.0 /ax sac was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとキャリヤー
を含む)を部材表向にカスケードすることによって、部
材表面上に良好なトナー1儂を得た。部材上のトナー1
儂を、es、oxvのコロナ帯電で転写紙上に転写した
所、解f象力に優れ、噌副外現性のよい鮮明な高濃度の
1儂が得られた。
Immediately thereafter, a chargeable developer (containing toner and carrier) was cascaded onto the surface of the member to obtain a good toner layer on the surface of the member. Toner 1 on the member
When I was transferred onto a transfer paper using ES and OXV corona charging, a clear, high-density image with excellent image resolution and good secondary appearance was obtained.

実施例2 実施例1と同様にモリブデン基板を設置し続いて実施例
1と同様の操作によってグロー放電堆積室601内を5
 X 10’Torrの真空となし、基′板a度は25
0℃に保たれた後実施例1と同様の操作によって補助パ
ルプ641、次いで流出パルプ626,627,629
及び流入パルプ621,622,624を全開し、マス
フローコントローラー616. 617. 619内も
十分脱気真空状態にされた。補助パルプ641゜パルプ
626,627,629,621,622゜624を閉
じた後、5oH4(10)/Fixガス(純[99,9
99tfb)のボンベ611のパルプ631 、O,(
0,1)’■Cガスボンベ612のパルプ632を開け
、出口圧ゲージ636,637の圧を1kg/♂に調整
し、流入パルプ621,622を徐々に開けてマスフロ
ーコントローラー616,617内へ5tu4(1))
/)Tmガス、o 、(0,1)/璽e を各々流入さ
せた。
Example 2 A molybdenum substrate was installed in the same manner as in Example 1, and then the inside of the glow discharge deposition chamber 601 was
X 10' Torr vacuum, substrate a degree 25
After being maintained at 0°C, the same operation as in Example 1 was performed to prepare the auxiliary pulp 641 and then the effluent pulps 626, 627, 629.
and the inflow pulps 621, 622, 624 are fully opened, and the mass flow controller 616. 617. The interior of 619 was also sufficiently degassed and vacuumed. After closing the auxiliary pulp 641° pulp 626, 627, 629, 621, 622° 624, 5oH4 (10)/Fix gas (pure [99,9
Pulp 631 in cylinder 611 of 99tfb), O, (
0,1)'■Open the pulp 632 of the C gas cylinder 612, adjust the pressure of the outlet pressure gauges 636, 637 to 1 kg/♂, gradually open the inflow pulps 621, 622, and inject 5tu4( 1))
/) Tm gas, o and (0,1)/e were respectively introduced.

引続いて、流出パルプ626,627を徐々に開け、次
いで補助パルプ641を徐々に開けた。
Subsequently, the outflow pulps 626 and 627 were gradually opened, and then the auxiliary pulp 641 was gradually opened.

このとき8iHa (10)/Hm ガスitとo、(
0,1)/■Cガス流量の比が10:0.3になるよう
にマスフローコントローラー616,617を調整した
。次にビラニーゲージ642の読みを注視しながら補助
パルプ641め開口をwA整し、室601内がI X 
10’Tortになるまで補助パルプ641を開けた。
At this time, 8iHa (10)/Hm gas it and o, (
Mass flow controllers 616 and 617 were adjusted so that the ratio of 0,1)/■C gas flow rate was 10:0.3. Next, while paying close attention to the reading on the Billany gauge 642, adjust the opening of the auxiliary pulp 641 to make sure that the inside of the chamber 601 is
The auxiliary pulp 641 was opened until the pressure reached 10' Tort.

室601内圧が安定してから、メインパルプ610を徐
々に閉じ、ビラニーゲージ641の指示が0.1丁or
eになるまで開口を絞った。ガス流入が安定し内圧が安
定するのを確認し続いてシャッター(電極を兼ねる。)
6o5を閉にして高周波電源643のスイッチをON状
態にし、電極603,605間に13.56MH冨の高
周波電力を投入し室601内にグロー放電を発生させ、
10Wの入力電力とした。上記条件で基板上に非晶質層
を、堆積し始めると同時に5tuF14(10)/ I
sガス流量とO,ω、1)/IaガxR量の比が、1:
1に力るように調整して、光導電性を示す非晶質層を形
成した。
After the internal pressure of the chamber 601 stabilizes, the main pulp 610 is gradually closed until the indication on the Villany gauge 641 is 0.1 tons or more.
I narrowed down the aperture until it reached e. After confirming that the gas inflow is stable and the internal pressure is stable, close the shutter (which also serves as an electrode).
6o5 is closed, the switch of the high frequency power source 643 is turned on, and a high frequency power of 13.56 MHz is applied between the electrodes 603 and 605 to generate a glow discharge in the chamber 601.
The input power was 10W. At the same time as starting to deposit an amorphous layer on the substrate under the above conditions, 5tuF14(10)/I
The ratio of s gas flow rate and O, ω, 1)/Ia gas xR amount is 1:
1 to form an amorphous layer exhibiting photoconductivity.

その後高周波電源643をoff状態とし、グロー放電
を中止させた状態で流出パルプ627を−閉じ、次に0
1ガスボンベ614からパルフロ34を通じてl # 
/ (m”のガス圧(出口圧ゲージ639の読み)で、
流入パルプ624.rIt、出ハルフロ 29 を徐々
ニ開いてマスフローコントo−:>6194Co、ガス
t−KLマスフローコントローラ619の調整によって
O,ガスが!911(4α(1/Filガス流量の1/
10 になるようにし安定させた。
After that, the high frequency power supply 643 is turned off, the outflow pulp 627 is closed with the glow discharge stopped, and then the
1 from gas cylinder 614 through Palflo 34 #
/ (m” gas pressure (outlet pressure gauge 639 reading),
Inflow pulp 624. rIt, gradually open the output half flow 29 and mass flow control o-:>6194Co, gas t-KL By adjusting the mass flow controller 619, O, gas! 911 (4α (1/Fil gas flow rate 1/
It was stabilized to 10.

引き続き、再び高周波電源643をON状態にして、グ
ロー放電を再開させた。そのときの入力電力を3Wにし
た。こうしてグロー放電を更に15分間持続させて上部
障壁層を形成した後、加熱ヒーター608をoff状態
にし、高周波電5643もoff状態とし、基板温度が
100℃になるのを侍ってから流出パルプ626,62
9及び流入パルプ621,622,624を閉じ、メイ
ンパルプ610を全開にして、室601内を10’Ta
rr以下にした後、メインパルプ610を閉じ室601
内をリークパルプ606によって大気圧として基板を取
抄出した。この場合、形成された層の全厚は約15μで
あった。この像形成部材に就て、実施例1と同様の条件
及び手順で転写紙上に5bJ−像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
Subsequently, the high frequency power supply 643 was turned on again to restart the glow discharge. The input power at that time was 3W. After continuing the glow discharge for another 15 minutes to form the upper barrier layer, the heating heater 608 is turned off, the high frequency electric current 5643 is also turned off, and after the substrate temperature reaches 100°C, the outflow pulp 626 ,62
9 and inflow pulps 621, 622, 624 are closed, the main pulp 610 is fully opened, and the inside of the chamber 601 is heated to 10' Ta.
After reducing the temperature to below rr, the main pulp 610 is closed and the chamber 601
The inside was brought to atmospheric pressure using leak pulp 606, and the substrate was extracted. In this case, the total thickness of the layer formed was approximately 15μ. Using this image forming member, a 5bJ-image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, and an extremely clear image quality was obtained.

実施例3 実施例1と同様にモリブデン基板を設置し、続いて実施
例1と同様の操作によってグロー放電堆積室601内を
5810’丁◎「rの真空となし、基板温度は250℃
に保たれた後実施例1と同様の操作−によって補助パル
プ641、次いで流出パルプ626,627、及び流入
パルプ621゜622を全開し、マスフローコントロー
ラ616゜617内も十分脱気真空状態にされた。補助
パルプ6411パルプ626,627.62−1゜62
2を[じた後、81H4(1(1/Ha カ、x、 (
純t−99,999%)のポジペロ11のパルプ631
 、0x(0,11eガスのボンベ612のパルプ63
2を開ケ、出口圧ゲージ636,637の圧を14/扉
に調整し、流入パルプ621,622を徐々に開けてマ
ス7 a −=t 7 トo−ラ616,617内へ8
1H4Ql174[1ガス、O!ω、IVムを各々流入
させた。引続いて、流出パルプ626,627を徐々に
開け、次いで補助パルプ641を徐々に開けた。このと
きgtH4ao/Isガス流量とo、Φ1 )’Isガ
ス流量比が10:0.3になるように流入パルプ621
,622を調整した。
Example 3 A molybdenum substrate was installed in the same manner as in Example 1, and then the inside of the glow discharge deposition chamber 601 was made into a vacuum of 5810'r by the same operation as in Example 1, and the substrate temperature was 250°C.
Then, by the same operation as in Example 1, the auxiliary pulp 641, then the outflow pulps 626, 627, and the inflow pulps 621 and 622 were fully opened, and the mass flow controllers 616 and 617 were also sufficiently degassed and vacuumed. . Auxiliary pulp 6411 pulp 626, 627.62-1゜62
After dividing 2, 81H4(1(1/Ha ka, x, (
Pure T-99,999%) Posipero 11 pulp 631
, 0x(0,11e Pulp 63 of gas cylinder 612
2, adjust the pressure of the outlet pressure gauges 636, 637 to 14/door, gradually open the inflow pulp 621, 622, and move the mass 7 a -=t 7 into the toler 616, 617.
1H4Ql174 [1 gas, O! ω and IV were respectively injected. Subsequently, the outflow pulps 626 and 627 were gradually opened, and then the auxiliary pulp 641 was gradually opened. At this time, the inflow pulp 621 is adjusted so that the gtH4ao/Is gas flow rate and o,
, 622 was adjusted.

次にビラニーゲージ642の読みを注視しながら補助パ
ルプ641の開口を調整し、室601内がI X 10
’Torrに彦るまで補助パルプ641を開けた。室6
01内圧が安定してから、メインパルプ610を徐々に
閉じ、ビラニーゲージ641の指示が0.1 Terr
になるまで開口を絞った。ガス流入が安定し内圧が安定
するのを確認し続いてシャッター(電極を兼ねる。)6
05を閉にして高周波電源643のスイッチをON状態
にし、電極603,605間に13.56 MHIの高
周波電力を投入し室601内にグロー放電を発生させ、
lOWの入力電力とした。上記条件で基板上に光導電層
を堆積し始めると同時に5aH’ltlKMって、マス
フローコン)o−−p  −617の流量設定置を連続
的に増加し、5時間後のSi H4(J/’H@ガス流
量と(h(0,1)/Is カスIt、 t 比カ、1
 :10になるようにIJ!411シた。
Next, adjust the opening of the auxiliary pulp 641 while paying close attention to the reading on the Villany gauge 642, and adjust the opening of the auxiliary pulp 641 so that the inside of the chamber 601 is I
'I opened the auxiliary pulp 641 until I got to Torr. room 6
01 After the internal pressure stabilizes, the main pulp 610 is gradually closed and the Villany gauge 641 reads 0.1 Terr.
I narrowed my aperture until it was. Confirm that the gas inflow is stable and the internal pressure is stable, then close the shutter (also serves as an electrode) 6
05 and turn on the switch of the high frequency power source 643, 13.56 MHI of high frequency power is applied between the electrodes 603 and 605 to generate a glow discharge in the chamber 601.
The input power was 1OW. At the same time as the photoconductive layer was started to be deposited on the substrate under the above conditions, the flow rate setting of the mass flow controller (op-617) was continuously increased, and after 5 hours, the SiH4 (J/ 'H@Gas flow rate and (h(0,1)/Is KasIt, t ratio, 1
:IJ to make it 10! 411.

こうして光導電性を示す非晶質層を形成し先後、加熱ヒ
ーター60Bをole状態にし、高周波電源643もo
ff状態とし、基板温度が100℃になるのを待ってか
ら流出パルプ626,627及び流入パルプ621,6
22を閉じ、メインパルプ61Gを全開にして、室60
1内を104T@rr以下にした後、メインパルプ61
0を閉じ室601内をリークパルプ606によって大気
圧として基板をkllり出した。この場合、形成された
層の全厚は約15μであった。この傷形成部材に就て、
実施例1と同様の条件及び手順′で転写紙上に画像を形
成し九ところ極めて鮮明な1ii(*が得られた。
After forming an amorphous layer exhibiting photoconductivity in this way, the heating heater 60B is turned on, and the high frequency power source 643 is also turned on.
ff state, and after waiting for the substrate temperature to reach 100°C, the outflow pulps 626, 627 and the inflow pulps 621, 6
22, fully open the main pulp 61G, and open the chamber 60.
After reducing the inside of 1 to 104T@rr or less, main pulp 61
0 was closed, the inside of the chamber 601 was brought to atmospheric pressure by the leak pulp 606, and the substrate was taken out. In this case, the total thickness of the layer formed was approximately 15μ. Regarding this wound forming member,
An image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, and extremely clear 1ii(*) was obtained.

実施例4 8iH4QQ/Hmガスボンベ611を8iF4ガス(
H度99.999僑)ボンベに、’h(0,1)/l@
ガスボンベ612を、酸素を0゜2マ・tqb含むアル
ゴン(以ンペに代え、又元尋電虐示す非晶質層の堆積初
期時のS凰F4ガスtA乙門と、o、 (o、2 )/
ム「ガス直重の比をl:0.6に設定して、層形成を開
始し非晶質層の堆積終了時のSiF4ガス流量とOm(
0,2)/^rガス流曖を、連続嶋−加させ、更にグロ
ー放電の入力電力をioowにした以外は、実施例3と
同様の操作条件にてモリブデン基板上に光導電性を示す
非晶質層を形成した。この場合形成された膚の厚さは、
約18μであった。この津形成郡材に就て、実施例1と
同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成し九ところ
極めて鮮明なIthi儂が得られた。
Example 4 8iH4QQ/Hm gas cylinder 611 was replaced with 8iF4 gas (
H degree 99.999) In the cylinder, 'h(0,1)/l@
The gas cylinder 612 was filled with argon containing 0°2 m/tqb of oxygen (instead of gas, S-F4 gas, tA-Omon, and o, (o, 2)/
Set the gas direct weight ratio to l:0.6, start layer formation, and adjust the SiF4 gas flow rate and Om(
Photoconductivity was exhibited on the molybdenum substrate under the same operating conditions as in Example 3, except that the gas flow was continuously applied and the input power of the glow discharge was set to IOOW. An amorphous layer was formed. The thickness of the skin formed in this case is
It was about 18μ. An image was formed on a transfer paper using this Tsugai powder under the same conditions and procedures as in Example 1, and an extremely clear Ithi image was obtained.

実施例5 実施例1と同様にモリブデン基板を設置し続いて実施例
1と同様の操作によってグロー放電堆積室601内を5
 X 10’Tarrの真空となし、基板i!度は25
0℃に保たれた後、補助パルプ641、次いで流出パル
プ626. 627. 628゜629及び流入パルプ
621,622,623゜624tlaL、マスプロー
コントローラ616゜617.618,619内も十分
脱気真空状態にされた。
Example 5 A molybdenum substrate was installed in the same manner as in Example 1, and then the inside of the glow discharge deposition chamber 601 was filled with 50% by the same operation as in Example 1.
X 10' Tarr vacuum and no substrate i! degree is 25
After being kept at 0°C, the auxiliary pulp 641 and then the effluent pulp 626. 627. 628°629, inflow pulps 621, 622, 623°624tlaL, and mass plow controllers 616°617, 618, 619 were also sufficiently degassed and vacuumed.

補助パルプ641.パルプ626,627゜628、−
629,621,622,623,624を閉じた(&
 8iH40(1/−ガスのボンベ611のパルプ63
1,0冨CO,Wkガスのボンベ612のパルプ632
.H,で50 to7 ppmに希釈されたBIH@ガ
ス(純−[99,999%、以下hH@(50)/H,
と略す。)ボンベ613のパルプ633を開け、出口圧
ゲージ636,637,638の圧を1kg/adに調
整し、流入パルプ621,622,623を徐々に開ケ
てマスフローコントローラー61’6゜617.6.1
8内へ81HaQ(1/Ha カス、0s(0,1)/
isガス、B、H,(50)/H1ガスを流入させた。
Auxiliary pulp 641. Pulp 626, 627°628, -
629, 621, 622, 623, 624 closed (&
8iH40 (1/-pulp 63 of gas cylinder 611
Pulp 632 from cylinder 612 of 1,0 tonne CO, Wk gas
.. BIH@gas diluted to 50 to7 ppm with H, (pure - [99,999%, hereinafter hH@(50)/H,
It is abbreviated as ) Open the pulp 633 of the cylinder 613, adjust the pressure of the outlet pressure gauges 636, 637, 638 to 1 kg/ad, gradually open the inflow pulp 621, 622, 623, and set the mass flow controller 61'6°617.6. 1
81HaQ (1/Ha scum, 0s(0,1)/
IS gas, B, H, (50)/H1 gases were introduced.

引続いて、流出パルプ626,627,628を徐々に
開け、次いで補助パルプ641を徐々に開けた。このと
き8iH4(Ill/Hlガス流菫と0茸Φ、1 )/
lieガスIlt量の比が10 : 0.3 、 !1
lH40(1/H雪ガス流量 とB鵞Ha(50)/H
鵞ガス流量の比を50=1になるようにマスフローコン
トローラ616,617.stgを調整した0次にビラ
ニーゲージ642の読みを注視しながら補助パルプ64
1の開口をiA整【2、室601内がI X 10′T
arrになるまで補助パルプ641を開けた。室601
内圧が安定してから、メインパルプ610を徐々に閉じ
、ビラニーゲージ642の指示がQ、 l Torrに
なるまで開口を絞った。ガス流入が安定し内圧が安定す
るのを確認し続いて高周波電源643のスイッチをON
状態にしてシ゛ヤツター(tJt極を兼ねる。)605
を閉にして、電極603.シャッター605間に13.
56 MFIgの高周波電力を投入し室601内にグロ
ー放電を発生させ、lOWの入力電力とした。上記条件
を3時間保って光導電性を示す非晶質層の一部を構成す
る下部1−領域を形成した。その後、高周波電源6・1
3をoff状態とし、グロー放電を中止させた状態で、
流出パルプ627. 628を閉じ、0クガスボ/ペロ
14からパルプ634を通じて1kg/cdのガス圧(
出口圧ゲージ639の銃み)で、流入パルプ624流出
バルブ629を徐々に開いてマスフローコントローラ6
19にヘガスt−MLマスフローコントローラ616.
 6tsola!整によ、つてヘガスが、giH4(i
ll/’H+ガスの流量のIAOになる様に安定化させ
た。
Subsequently, the outflow pulps 626, 627, and 628 were gradually opened, and then the auxiliary pulp 641 was gradually opened. At this time, 8iH4 (Ill/Hl gas flow violet and 0 mushroom Φ, 1)/
The ratio of lie gas Ilt amount is 10:0.3,! 1
lH40 (1/H snow gas flow rate and B鵞Ha(50)/H
The mass flow controllers 616, 617. The auxiliary pulp 64 is adjusted while paying close attention to the reading of the zero-order Billany gauge 642 after adjusting the stg.
Adjust the opening of 1 to iA [2, the inside of chamber 601 is I x 10'T
The auxiliary pulp 641 was opened until it reached arr. Room 601
After the internal pressure became stable, the main pulp 610 was gradually closed and the opening was narrowed until the Villany gauge 642 indicated Q, l Torr. Confirm that the gas inflow is stable and the internal pressure is stable, then turn on the high frequency power supply 643.
Shutter (also serves as tJt pole) 605
with electrode 603. closed. 13 between the shutters 605.
A high frequency power of 56 MFIg was applied to generate a glow discharge in the chamber 601, resulting in an input power of 1OW. The above conditions were maintained for 3 hours to form a lower 1-region constituting a part of the amorphous layer exhibiting photoconductivity. After that, high frequency power supply 6.1
3 is turned off and glow discharge is stopped,
Effluent pulp627. 628 is closed, and a gas pressure of 1 kg/cd (
The outlet pressure gauge 639 is used to gradually open the inflow pulp 624 outflow valve 629 and the mass flow controller 6
19, Hegas t-ML mass flow controller 616.
6tsola! Seiyo, Tsute Hegas, giH4 (i
The IAO was stabilized to a flow rate of 1/'H+ gas.

引き続き、再び高周波電源643をON状態にして、グ
ロー放電を再開させた。そのときの人力電力を3Wにし
た。こうしてグロー放電を劇に10分間持続させて非晶
質層の一部となる上部層領域を600五の厚さに形成し
た後、加熱ヒーター608をoff状態にし、高周波電
源643もoff状態とし、基板温度が100℃になる
のを待ってから流出パルプ626,629及び流入パル
プ621,622,623,624を閉じ、メインパル
プ610を全開にして、室601内を104〒ore以
下にした後、メインパルプ610を閉じ室601内をリ
ークパルプ606によって大気圧として基板をと抄出し
た。この場合、形成された層の全厚は約9μであった。
Subsequently, the high frequency power supply 643 was turned on again to restart the glow discharge. The human power at that time was set to 3W. In this way, after continuing the glow discharge for 10 minutes to form an upper layer region that will become a part of the amorphous layer to a thickness of 600 mm, the heating heater 608 is turned off, and the high frequency power source 643 is also turned off. After waiting for the substrate temperature to reach 100°C, close the outflow pulps 626, 629 and inflow pulps 621, 622, 623, 624, fully open the main pulp 610, and reduce the inside of the chamber 601 to 104〒ore or less, The main pulp 610 was closed, and the inside of the chamber 601 was brought to atmospheric pressure by the leak pulp 606, and the substrate was cut out. In this case, the total thickness of the layer formed was approximately 9μ.

こうして得られた像形成部材を、帯電露光実験装置に設
置し、θ5.SKYで0.28間コロナ帯電を行い、直
ちに光像を照射した。光像は、タングステンランプ光源
を用い、1.0 /ax −5acの光−を透過型のテ
ストチャートを通して照射させた。
The image forming member thus obtained was placed in a charging exposure experiment apparatus, and the image forming member was set at θ5. Corona charging was performed for 0.28 hours using SKY, and a light image was immediately irradiated. The optical image was obtained by irradiating light of 1.0 /ax -5 ac through a transmission type test chart using a tungsten lamp light source.

その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとギヤリヤー
を含む)を部材表面にカスケードすることによって、部
材表面上に良好なトナー1曲像を得た。部材上のトナー
画1家を、es、oxvのコロナ帯電で転写紙上に転写
した所、解偉力に侵れ、階調再現性のよい鮮明な高濃度
のth像が得られた。
Immediately thereafter, (1) a charged developer (including toner and gear) was cascaded onto the surface of the member to obtain a good toner image on the surface of the member. When the toner image on the member was transferred onto transfer paper using ES and OXV corona charging, it was eroded by the resolving power and a clear, high-density TH image with good gradation reproducibility was obtained.

次に上記儂形成部材に就で、帯電露光実験装置でes、
o K v−t’0.2seei41o) o −を帯
電を行イ、直ちに0.81ux@wwzの光量で画像露
光を行い、その後直ちにθ荷電性の現像剤を部材表向に
カスケードし、次に転写紙上に転写・定着したところ極
めて鮮明な画像が得られた。
Next, on the above-mentioned forming member, es was applied to the electrostatic exposure experimental device.
o K v-t'0.2seei41o) o - is charged, and image exposure is immediately performed with a light intensity of 0.81ux@wwz. Immediately thereafter, a θ-chargeable developer is cascaded onto the surface of the member, and then When transferred and fixed onto transfer paper, an extremely clear image was obtained.

この結果と先の結果から、本実施例で得られた電子写真
用像形成部材は、帯電極性に対する依存性がなく両極性
像形成部社の特性を具部材ていることが判った。
From this result and the previous results, it was found that the electrophotographic image forming member obtained in this example had no dependence on charging polarity and had the characteristics of a bipolar image forming member.

実施例6 第6図に示す装置を用い、以下の如き操作によって電子
写真用像形成部材を作成した。
Example 6 Using the apparatus shown in FIG. 6, an electrophotographic image forming member was produced by the following operations.

位置にある固定部材603に堅固に固定した。It was firmly fixed to the fixed member 603 in position.

俤)を設置したものである。基板609は、固定部材6
03内の加熱ヒーター608によって±0.5℃の精度
で加熱される。温度は、熱電対(アルメル−クロメル)
によって基板裏面を直接測定されるようになされた。次
いで系内の全パルプが閉じられていることを確認してか
らメインバルブ610を全開して一旦5 X 104t
orr程度まで真空にされ(このとき、系のパルプは閉
じられている)、補助パルプ641および流出パルプ6
26,627,629,630が開かれマスフローコン
トローラ616,617,619,620内が十分に脱
気された後、流出バルブ626゜627,629,63
0  と補助バルブ641が閉じられた。アルゴン(純
度99.99([6)  ガスボンベ615のバルブ6
35を開け、出口圧力針640の銃みが1 kg / 
cm”になる様に調整され九仕、流入バルブ625が開
けられ、続いて流出パルプ630が徐々に開けられ、ア
ルゴンガスを室601内に流入させた。ピラニーゲージ
611の指示が5×10″tartになるまで、流出パ
ルプ630が徐々に開けられ、との状態で流にが安定し
てから、メインバルブ610が徐々に閉じられ、室内圧
がI X 10−2totrになるまで開口が絞られた
。シャッター605を開として、マスフローコントロー
ラー620が安定するのを確認してから、高周波電源6
43をON状態にL 、ターゲット604および固定部
材603間に13.56MHz、] OOWの交流電力
が入力された。
忤) was installed. The substrate 609 is the fixing member 6
It is heated with an accuracy of ±0.5° C. by a heater 608 in 03. Temperature is measured using a thermocouple (alumel-chromel)
The backside of the board was measured directly using the method. Next, after confirming that all the pulp in the system is closed, the main valve 610 is fully opened and the 5 x 104t
The vacuum is evacuated to about
After the mass flow controllers 616, 617, 619, 620 are sufficiently deaerated by opening the mass flow controllers 616, 627, 629, 630, the outflow valves 626, 627, 629, 63 are opened.
0 and the auxiliary valve 641 was closed. Argon (purity 99.99 ([6) Gas cylinder 615 valve 6
35 and the outlet pressure needle 640 is 1 kg/
cm", the inflow valve 625 was opened, and then the outflow pulp 630 was gradually opened to allow argon gas to flow into the chamber 601. The reading on the Pirani gauge 611 was 5 x 10". The outflow pulp 630 is gradually opened until it reaches tart, and after the flow becomes stable in this state, the main valve 610 is gradually closed and the opening is narrowed until the indoor pressure reaches I x 10-2 totr. Ta. After opening the shutter 605 and confirming that the mass flow controller 620 is stable, turn on the high frequency power supply 6.
43 was turned on, and AC power of 13.56 MHz, OOW was input between the target 604 and the fixing member 603.

この条件で安定した放電を続ける様にマツチングを敗り
、層を形成した。この様にして1分間放電を続けて10
0λ1すの下部障壁層を形成した。その後高周波電源6
43をoff状態にし、放電を一珪中止させた。引き続
いて流出パルプ630を閉じ、メインバルブ610を全
開して室601内のガスを抜き、5X10’竜otrま
で真空にした。その後ヒータ608の入力電圧を上昇さ
せ、基板温度を検知しながら入力電圧を変化させ、20
0℃の一定値になるまで安定させた。その後は、実施例
1と同様の操作、条件にて光導電性を示す非晶質層を形
成した。このようにして得られた像形成部材を実施例1
と同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したとこ
ろ極めて鮮明な画質が得られた。
Under these conditions, matching was performed to continue stable discharge, and a layer was formed. Continue discharging in this way for 1 minute and
A lower barrier layer of 0λ1 was formed. Then high frequency power supply 6
43 was turned off, and the discharge was stopped for one cycle. Subsequently, the outflow pulp 630 was closed, and the main valve 610 was fully opened to remove gas from the chamber 601, creating a vacuum of 5×10′ otr. After that, the input voltage of the heater 608 is increased, and the input voltage is changed while detecting the substrate temperature.
It was stabilized until it reached a constant value of 0°C. Thereafter, an amorphous layer exhibiting photoconductivity was formed under the same operations and conditions as in Example 1. Example 1 The image forming member thus obtained
When an image was formed on transfer paper under the same conditions and procedures as described above, an extremely clear image quality was obtained.

実施例7 実施例4の酸素を0.2vo/%含むアルゴンガスボン
ベ612を酸素を0.2マo14)含むヘリウムガスボ
ンベに代えた以外は実施例4と同様の操作、条件にてモ
リブデン基板上に光導電性を示す非晶質層を形成した。
Example 7 A molybdenum substrate was formed on a molybdenum substrate under the same operations and conditions as in Example 4, except that the argon gas cylinder 612 containing 0.2 vo/% oxygen in Example 4 was replaced with a helium gas cylinder containing 0.2 vol/% oxygen. An amorphous layer exhibiting photoconductivity was formed.

この場合形成された層の厚さは約15μであった。この
像形成部材に就て実施例1と同様の条件及び手順で転写
紙上に自儂を形成したところ憔めて鮮明な画像が得られ
た。
The thickness of the layer formed in this case was approximately 15μ. When this image forming member was used to form an image on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, a very clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の光導電部材の好適な実施態様例の層構
造を説明する為の模式的構成図、第2図乃至第5図は各
々本発明の光導電部材の非晶質j−中に含有される1j
II;J原子の分布状態を説明する為の模式的説明図、
第6図は本発明の光導電部材を作成する為の装置の一例
を示す模式的説明図である。 100・−光導電部材、  101・・・支持体、10
2・・・障壁層、103・・・非晶質層。 出願人  キャノン株式会社
FIG. 1 is a schematic block diagram for explaining the layer structure of a preferred embodiment of the photoconductive member of the present invention, and FIGS. 2 to 5 each show an amorphous structure of the photoconductive member of the present invention. 1j contained in
II; Schematic explanatory diagram for explaining the distribution state of J atoms,
FIG. 6 is a schematic explanatory diagram showing an example of an apparatus for producing the photoconductive member of the present invention. 100--photoconductive member, 101... support, 10
2... Barrier layer, 103... Amorphous layer. Applicant Canon Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光導電部材用の支持体と、シリコン原子を母体とする非
晶質材料で構成され、光導電性を小す非晶質層と、障壁
層とを有し前記非晶質層は、少なくともその一部に酸素
原子を含有する層領域を有し、該層領域に於ける酸素原
子の分布が層の厚み方向には不均一であって、前記層領
域に含有されている酸素原子が前記支持体とは反対の表
面側の方に多く分布してる事を特徴とする光導電部材。
The amorphous layer includes a support for a photoconductive member, an amorphous layer made of an amorphous material having silicon atoms as a matrix and which reduces photoconductivity, and a barrier layer. It has a layer region containing oxygen atoms in part, and the distribution of oxygen atoms in the layer region is uneven in the thickness direction of the layer, and the oxygen atoms contained in the layer region are A photoconductive material that is characterized by its large distribution on the surface opposite to the body.
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