JPS5832200A - 特性x線の単色性を強める方法 - Google Patents
特性x線の単色性を強める方法Info
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- JPS5832200A JPS5832200A JP13129281A JP13129281A JPS5832200A JP S5832200 A JPS5832200 A JP S5832200A JP 13129281 A JP13129281 A JP 13129281A JP 13129281 A JP13129281 A JP 13129281A JP S5832200 A JPS5832200 A JP S5832200A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、特性xIIの単色性を強める方法に関するも
のである。
のである。
従来1軟xIIは、加速電圧を低く (10IT以下)
して得られているが、このようにして得られた軟Xll
は連続軟X線であるために、物質を構成する元素の5I
II&:よる吸収の差が平均化されてしまい、そのよう
な連続軟Xllを使用した透過軟X@写真は、吸収によ
るフントラストが小さくなり鮮明なものが得にくいとい
った問題があった。
して得られているが、このようにして得られた軟Xll
は連続軟X線であるために、物質を構成する元素の5I
II&:よる吸収の差が平均化されてしまい、そのよう
な連続軟Xllを使用した透過軟X@写真は、吸収によ
るフントラストが小さくなり鮮明なものが得にくいとい
った問題があった。
本発明は、そのような問題を解決すべくなされたもので
、倫質を構成する元素の*iiiによってX線の吸収係
数に差があることを利用し、特性x4Mの波長より少し
だけ短い波長域に吸収端を有し、対陰極を構成する元素
の11類に応じて、該対陰極の元素と同檀の元素、また
は原子番号が該対陰極の元素の原子番号よりlだけ小さ
い員穂の元素で構成されたフィルターを用い、該特性X
線の波長よりも短い波長の連続X@を吸収することによ
り、特性Xaの単色性を強める方法を提供しようとする
ものである。
、倫質を構成する元素の*iiiによってX線の吸収係
数に差があることを利用し、特性x4Mの波長より少し
だけ短い波長域に吸収端を有し、対陰極を構成する元素
の11類に応じて、該対陰極の元素と同檀の元素、また
は原子番号が該対陰極の元素の原子番号よりlだけ小さ
い員穂の元素で構成されたフィルターを用い、該特性X
線の波長よりも短い波長の連続X@を吸収することによ
り、特性Xaの単色性を強める方法を提供しようとする
ものである。
以下、本発明方法の#顧を図EIh−基づいて説明する
。第1図番コ、本発明方法を行なう特性軟xIi発生管
球及び装置の一例をポし、(1)は対陰極(ターゲラ)
)、(21J電子ビーム源、(3)はコパール硝子製の
真空容器、(4)は銅、(5)は厚さ70sa前後のベ
リリウムからなる透過窓、(6)はフィルター、(71
J被写体、(8目コフイルムである。フィルター(6)
には、対陰極(1)と同種、例えばカリウムターゲット
の!−特性xlliを利用するときは、カリウムのフィ
ルターを用い、同様に、カルシウムターゲラ)k−はカ
ルシウムのフィルターを、スカンジウムターゲラ)には
スカンジウムのフィルターを、チタンターゲラF&:は
チタンのフィルターをという具合に用いる。或いは、対
陰&(1)と異種、即ち対陰極(1)を構成する元素の
原子番号よりlだけ小さい原子番号の元素からなるフィ
ルター、例えばノくナジウムターゲットの!−特性X@
を利用するときは、バナジウムの原子番号よりlだけ小
さい原子番号のチタンのフィルターを用い、同様に、ク
ロムターゲットにはバナジウムのフィルターを、マンガ
ンターゲットにはクロムのフィルターをという具合に用
いる。このフィルター(6)は厚さが約コOμma@度
の薄膜で、特性XIMのみを通して透過X線の単色性を
強める為に−一けている。尚、前記透過窓(5)に、ベ
リリウムの代わりにフィルター(6)を直接取り付けて
透過窓とフィルターとを兼用させることもできるが、そ
の場合は、耐圧を高めるためにフィルター(6)の厚み
を厚くしておく必要がある。
。第1図番コ、本発明方法を行なう特性軟xIi発生管
球及び装置の一例をポし、(1)は対陰極(ターゲラ)
)、(21J電子ビーム源、(3)はコパール硝子製の
真空容器、(4)は銅、(5)は厚さ70sa前後のベ
リリウムからなる透過窓、(6)はフィルター、(71
J被写体、(8目コフイルムである。フィルター(6)
には、対陰極(1)と同種、例えばカリウムターゲット
の!−特性xlliを利用するときは、カリウムのフィ
ルターを用い、同様に、カルシウムターゲラ)k−はカ
ルシウムのフィルターを、スカンジウムターゲラ)には
スカンジウムのフィルターを、チタンターゲラF&:は
チタンのフィルターをという具合に用いる。或いは、対
陰&(1)と異種、即ち対陰極(1)を構成する元素の
原子番号よりlだけ小さい原子番号の元素からなるフィ
ルター、例えばノくナジウムターゲットの!−特性X@
を利用するときは、バナジウムの原子番号よりlだけ小
さい原子番号のチタンのフィルターを用い、同様に、ク
ロムターゲットにはバナジウムのフィルターを、マンガ
ンターゲットにはクロムのフィルターをという具合に用
いる。このフィルター(6)は厚さが約コOμma@度
の薄膜で、特性XIMのみを通して透過X線の単色性を
強める為に−一けている。尚、前記透過窓(5)に、ベ
リリウムの代わりにフィルター(6)を直接取り付けて
透過窓とフィルターとを兼用させることもできるが、そ
の場合は、耐圧を高めるためにフィルター(6)の厚み
を厚くしておく必要がある。
ところで、透過室(5)にベリリウムを用いたのは、ベ
リリウムが透過XIIAの強度にほとんど影響を与えな
いためで、そのことを示すべく以下にベリリウムの透過
窓(5)によってチタンの!−特性x騨(波長ム=2.
ysi> がどのくらい吸収されるかを概算してみる。
リリウムが透過XIIAの強度にほとんど影響を与えな
いためで、そのことを示すべく以下にベリリウムの透過
窓(5)によってチタンの!−特性x騨(波長ム=2.
ysi> がどのくらい吸収されるかを概算してみる。
ベリリウムの線吸収係数をμとし、密度をPとすると、
チタンのKm 特性XM (J、73^)に対しする
ベリリウムの質量吸収係数(μ/p)は7゜4C11”
7g、またベリリウムの密度(/l)は1.1であるか
ら、μは/、3.13♂となり、厚さIが70μmのベ
リリウムの透過XIIA強度比(1/工0)は、後述す
る(4)式〔工/ 1 o =e−Jf )により得ら
れ、この式に上記数値を代入すると〔工/工o=e=’
:e−”’ = 0. ? / )となり、透過窓にベ
リリウムを用いても、透過Xliの強”度にはとんど変
化がないこと □がわかる。コノ透aX1111強度
比(I/Ia)4−4、透過X@強度比の減衰をあられ
している。ここで、Xは透過111強度、IOは入射X
1i1強度である。
チタンのKm 特性XM (J、73^)に対しする
ベリリウムの質量吸収係数(μ/p)は7゜4C11”
7g、またベリリウムの密度(/l)は1.1であるか
ら、μは/、3.13♂となり、厚さIが70μmのベ
リリウムの透過XIIA強度比(1/工0)は、後述す
る(4)式〔工/ 1 o =e−Jf )により得ら
れ、この式に上記数値を代入すると〔工/工o=e=’
:e−”’ = 0. ? / )となり、透過窓にベ
リリウムを用いても、透過Xliの強”度にはとんど変
化がないこと □がわかる。コノ透aX1111強度
比(I/Ia)4−4、透過X@強度比の減衰をあられ
している。ここで、Xは透過111強度、IOは入射X
1i1強度である。
次にチタンターゲラ)を例にとって、チタンに=t
特性X線(波畏ム=2.7jλ)を透過X線像の撮廖用
に用いる場合を説明する◎チタンの!燻特性X線を多量
に発生させるためには、ターゲット原子に電子を衝突さ
せ′るときに、衝突電子が原子のに@電子を多量に叩き
出してイオン化するほどよい。即ち、!殻電子のイオン
化断面積が最大となるとき、Km 特性X線の放出量
が最大となるのである。このことから、多量のKd
特性X線が得られる加速電圧を知るに番コ、イオン化断
面積を最大にする衝突電子のエネルギーがわかればよい
。第2図は、チタン及び銅について、非弾性衝突の古典
論の理論式より得られた衝突電子のエネルギーとイオン
化断面積との関係を示すグラフで、横軸に衝突電子のエ
ネルギー(!・V)を、縦軸にイオン化断面積(〜X
/ 0” ’ctgM )をとっている〇このグラフか
ら、イオン化断面積が最大となるときの衝突電子のエネ
ルギーを求めると20 IOVとなり、従って、Keg
特性X1liJが多重に得られる加速電圧は、2
o xvであることがわかる。しかし、より低い加速電
圧で相対的に多量のKa 特性X線を得る効率を考慮
すると、浦波電圧は、ヲ牛÷イオン化効率 が最もよいlコ〜l≦!Vが遺し゛ている。実際は、電
子がターゲットの表面原子に衝突する場合、1回の衝突
でなく多重衝突も起るので、加速電圧が大きくなるほど
1回目で!殻電子に衝突しなかった電子も、2回目、或
いは3回目の衝突によってX殻電子を叩き出す場合もあ
る。従って、1g特性X線の相対強度(Ih、、+)は
、次の(1)式で示すように、加速電圧Vの値に応じて
大きくなる。
特性X線(波畏ム=2.7jλ)を透過X線像の撮廖用
に用いる場合を説明する◎チタンの!燻特性X線を多量
に発生させるためには、ターゲット原子に電子を衝突さ
せ′るときに、衝突電子が原子のに@電子を多量に叩き
出してイオン化するほどよい。即ち、!殻電子のイオン
化断面積が最大となるとき、Km 特性X線の放出量
が最大となるのである。このことから、多量のKd
特性X線が得られる加速電圧を知るに番コ、イオン化断
面積を最大にする衝突電子のエネルギーがわかればよい
。第2図は、チタン及び銅について、非弾性衝突の古典
論の理論式より得られた衝突電子のエネルギーとイオン
化断面積との関係を示すグラフで、横軸に衝突電子のエ
ネルギー(!・V)を、縦軸にイオン化断面積(〜X
/ 0” ’ctgM )をとっている〇このグラフか
ら、イオン化断面積が最大となるときの衝突電子のエネ
ルギーを求めると20 IOVとなり、従って、Keg
特性X1liJが多重に得られる加速電圧は、2
o xvであることがわかる。しかし、より低い加速電
圧で相対的に多量のKa 特性X線を得る効率を考慮
すると、浦波電圧は、ヲ牛÷イオン化効率 が最もよいlコ〜l≦!Vが遺し゛ている。実際は、電
子がターゲットの表面原子に衝突する場合、1回の衝突
でなく多重衝突も起るので、加速電圧が大きくなるほど
1回目で!殻電子に衝突しなかった電子も、2回目、或
いは3回目の衝突によってX殻電子を叩き出す場合もあ
る。従って、1g特性X線の相対強度(Ih、、+)は
、次の(1)式で示すように、加速電圧Vの値に応じて
大きくなる。
Ixm = nt(v −VK )” (1)こ
こで、1は管の形状及び特性できまる定数、n ’=
/ −As、 iは管電流、vk は励起電圧(吸収
端の電圧)である。因みに、チタンではVK4’j4’
−94KVx銅では、l 91KVC1oるO尚、特性
x41の強度は、原子番号2とは関係がない。
こで、1は管の形状及び特性できまる定数、n ’=
/ −As、 iは管電流、vk は励起電圧(吸収
端の電圧)である。因みに、チタンではVK4’j4’
−94KVx銅では、l 91KVC1oるO尚、特性
x41の強度は、原子番号2とは関係がない。
一方、白色X [(F)総xa強度(Ioont−to
tal)番コ、次の・(2)式で求められる。
tal)番コ、次の・(2)式で求められる。
l
工eont*total = AlzV (2
)ここで、ムは管の形状及び特性できまる定数、2は原
子番号で、チタンは22、鋼は29である。
)ここで、ムは管の形状及び特性できまる定数、2は原
子番号で、チタンは22、鋼は29である。
第3図は、縦軸にチタンと銅の特性X線強度(エト、)
を、横軸に加速電圧(X V)をとったもの、また第1
図は、縦軸にチタンと鋼について白色X線強度(Iao
nb・totalL ) C対する特性111強度(X
)の比をとり、横軸に加速電圧(CV)をとったもの
である。
を、横軸に加速電圧(X V)をとったもの、また第1
図は、縦軸にチタンと鋼について白色X線強度(Iao
nb・totalL ) C対する特性111強度(X
)の比をとり、横軸に加速電圧(CV)をとったもの
である。
第3図から番j、加速電圧(V)が大きくなるほど放射
される特性X線の量が多くなることがわかる・ 白色X線の量が多くなると、透過Xll’j真のコント
ラストが悪くなるので、白色X線に比較して強いし 特
性x#Iを得るためには、第1図から、第2図と同様に
、加速電圧がlコル16Kvのとき、最も効果的に強い
に一特性X@を得られることがわかる。
される特性X線の量が多くなることがわかる・ 白色X線の量が多くなると、透過Xll’j真のコント
ラストが悪くなるので、白色X線に比較して強いし 特
性x#Iを得るためには、第1図から、第2図と同様に
、加速電圧がlコル16Kvのとき、最も効果的に強い
に一特性X@を得られることがわかる。
第5図は、7JO途璽圧が/jKVのときのチタンのタ
ーゲットから発生するXM強度の波長分布(実線で示す
)k:対するチタンの質量吸収係数(点線で示す)を示
したものである。この図において、横軸は波長(λ)を
、左@縦軸はX線強度(1)を、右側縦軸は質量吸収係
W1(μ/ρ)を示している。!−線(ム=2.7S^
)の強度は、その同じ波長の白色X線の強度の10倍以
上で、Kplll()=2.j/A)の強度番j1その
同じ波長の白色X1laの強度の、2(17倍以上゛で
ある。第5図からもわかるように−1,2〜コ、7λの
短い波長の白色X線が多量に放出されているので、この
ままで透過軟X@写真撮影に用いても、この白色X線の
ために透過軟XIIJ像は不鮮明になる。それを防ぐた
めには、これらの多量に出ている短い波長の白色X線を
吸収して、コントラストの良い鮮明な像を得る工夫が必
要となる6そこで、チタンターゲットに対してチタンの
フィルターを用いると、チタンはその吸収端が2.qq
本のところにあるので% Kg及びに−の特性!線近傍
の波長をよく通し、それよりも短い波長の白色X線はよ
く吸収するので、透過xiIの単色性を強めることがで
きる。
ーゲットから発生するXM強度の波長分布(実線で示す
)k:対するチタンの質量吸収係数(点線で示す)を示
したものである。この図において、横軸は波長(λ)を
、左@縦軸はX線強度(1)を、右側縦軸は質量吸収係
W1(μ/ρ)を示している。!−線(ム=2.7S^
)の強度は、その同じ波長の白色X線の強度の10倍以
上で、Kplll()=2.j/A)の強度番j1その
同じ波長の白色X1laの強度の、2(17倍以上゛で
ある。第5図からもわかるように−1,2〜コ、7λの
短い波長の白色X線が多量に放出されているので、この
ままで透過軟X@写真撮影に用いても、この白色X線の
ために透過軟XIIJ像は不鮮明になる。それを防ぐた
めには、これらの多量に出ている短い波長の白色X線を
吸収して、コントラストの良い鮮明な像を得る工夫が必
要となる6そこで、チタンターゲットに対してチタンの
フィルターを用いると、チタンはその吸収端が2.qq
本のところにあるので% Kg及びに−の特性!線近傍
の波長をよく通し、それよりも短い波長の白色X線はよ
く吸収するので、透過xiIの単色性を強めることがで
きる。
厚さがx3、密度が−g/(z” % ” !I k一
対する質量吸収係数がμ/P tx”7gの物質を通
った Xilの強度は次の(一式で求められる。
対する質量吸収係数がμ/P tx”7gの物質を通
った Xilの強度は次の(一式で求められる。
、t I=Io (31尚、IOは入射
xIm強度、工は透過X線強度である。ここで、波長が
2.7j^のに1特性X線が、チタンのフィルターによ
ってどのくらい吸収されるかを見積ってみる。チタンの
フィルターの厚さを20μmとすると、チタンの質量吸
収係数(IIII/P)は1003濡/gとなるので、
チタンの密度ρPは#、 !;Q−g/3”であるから
、線吸収係数μは1SII−*となる。従って、Xil
iの吸収による強度− の減衰は、次の(4)式から求められる。
xIm強度、工は透過X線強度である。ここで、波長が
2.7j^のに1特性X線が、チタンのフィルターによ
ってどのくらい吸収されるかを見積ってみる。チタンの
フィルターの厚さを20μmとすると、チタンの質量吸
収係数(IIII/P)は1003濡/gとなるので、
チタンの密度ρPは#、 !;Q−g/3”であるから
、線吸収係数μは1SII−*となる。従って、Xil
iの吸収による強度− の減衰は、次の(4)式から求められる。
工/工0 =e”’ +47この式に上記数
値を代入すると、e=e= 0. If−03となり、
元の強度の約0.11倍となる、更に、チタンのフィル
ターによる波長i、slIλの白色X線の!1に収を検
討すると、このとき質量吸収係数μが20 ’ICII
”/ gとなるので、μは9J4as−’となり、Xを
20μ臘とすると、強度の減衰は(4)式にこれら数値
を代入して、e′″y == e−1″4+Le、aa
l=0./37となり、元の強度の約o、it倍となる
O 上記2種(F)I!I C0,7!λ、!−/、51λ
)が吸収される前に仮に同じ強さであったとすると、吸
収された後では、波長1.jダ^の白色X線は、チタン
の!ぺ 特性X@に比べてより侭く吸収される結果、白
色X1ltj特性X4I(1) CO,Itlo、 1
I3=’/2,6〕の強さに弱められる。
値を代入すると、e=e= 0. If−03となり、
元の強度の約0.11倍となる、更に、チタンのフィル
ターによる波長i、slIλの白色X線の!1に収を検
討すると、このとき質量吸収係数μが20 ’ICII
”/ gとなるので、μは9J4as−’となり、Xを
20μ臘とすると、強度の減衰は(4)式にこれら数値
を代入して、e′″y == e−1″4+Le、aa
l=0./37となり、元の強度の約o、it倍となる
O 上記2種(F)I!I C0,7!λ、!−/、51λ
)が吸収される前に仮に同じ強さであったとすると、吸
収された後では、波長1.jダ^の白色X線は、チタン
の!ぺ 特性X@に比べてより侭く吸収される結果、白
色X1ltj特性X4I(1) CO,Itlo、 1
I3=’/2,6〕の強さに弱められる。
一般に、特性XIJの強度は、それと同じ波長の白色X
IJの強度に対して数10倍の大きさを持っているのて
、第5図で、/−!;h付近の白色X線が比較的大きな
強度を持っていても、フィルターでより強い@収を受け
る結果特性X線の強度の数10分91の強度となり、特
性XM&:対して白色X線の影譬は無視できるほど小さ
くなる。この吸収を全波長に亘って計算して表わしたも
のがa1!≦図で、厚さ20μ重のチタンのフィルター
による吸収後のX線スペクトル分布を示している。この
第、6図は、第5図と同じく縦軸にX11M強度(1)
、横軸に波長(λ)をとっ、ている。第6図より、!ぺ
及びへ の特性xIsが受ける吸収よりも、それより波
長が短いi−i、sLの領域の白色l:線が受ける吸収
の方が相対的により強いことがわかる。
IJの強度に対して数10倍の大きさを持っているのて
、第5図で、/−!;h付近の白色X線が比較的大きな
強度を持っていても、フィルターでより強い@収を受け
る結果特性X線の強度の数10分91の強度となり、特
性XM&:対して白色X線の影譬は無視できるほど小さ
くなる。この吸収を全波長に亘って計算して表わしたも
のがa1!≦図で、厚さ20μ重のチタンのフィルター
による吸収後のX線スペクトル分布を示している。この
第、6図は、第5図と同じく縦軸にX11M強度(1)
、横軸に波長(λ)をとっ、ている。第6図より、!ぺ
及びへ の特性xIsが受ける吸収よりも、それより波
長が短いi−i、sLの領域の白色l:線が受ける吸収
の方が相対的により強いことがわかる。
この結果、吸収のために全体的に強度は減少しても、白
色X線に対する特性xMの相対強度は、非常に大きくな
ることが示される。このことから、厚さコOμmのチタ
ンのフィルターを装着することにより、/jxvの加速
電圧を印加したチタン軟xlI管の放射xIsかに、i
及びXβ 線に゛はぼ単色化されることがわかる。
色X線に対する特性xMの相対強度は、非常に大きくな
ることが示される。このことから、厚さコOμmのチタ
ンのフィルターを装着することにより、/jxvの加速
電圧を印加したチタン軟xlI管の放射xIsかに、i
及びXβ 線に゛はぼ単色化されることがわかる。
従って、上記X線管を透過X線写真撮影の光源に用いわ
ば、非常に鮮明な写真を得ることができる。
ば、非常に鮮明な写真を得ることができる。
尚、上記ターゲット及びフィルターは、チタンに限らな
いこと勿−で、前記したようにターゲットとフィルター
とは同種の元素で構成されたもの、或いは異種の元素で
構成されたものであればよい。□、□□、X□゛。1.
!□、9 例に限らないこと勿論である。
いこと勿−で、前記したようにターゲットとフィルター
とは同種の元素で構成されたもの、或いは異種の元素で
構成されたものであればよい。□、□□、X□゛。1.
!□、9 例に限らないこと勿論である。
以上説明したように、本発明方法によれば、吸収端が特
性X線の波長より少しだけ短い波長域にある対陰極と同
種、或いは原子番号が対陰極を構成する元素の原子番号
よりlだけ小さい異種のフィルターを用いるだけで、特
性X1m1の波長より短い波長の連続軟X@を吸収する
ことができ容易に特性Xllの単色性を強めることがで
きる。また、フィルターを用いて行なうものであるから
、従来からあるxIM発生管球を簡単に単色性の硬れた
特性X線を発生することのできるものに改良することが
できるなど優れた効果を奏する。
性X線の波長より少しだけ短い波長域にある対陰極と同
種、或いは原子番号が対陰極を構成する元素の原子番号
よりlだけ小さい異種のフィルターを用いるだけで、特
性X1m1の波長より短い波長の連続軟X@を吸収する
ことができ容易に特性Xllの単色性を強めることがで
きる。また、フィルターを用いて行なうものであるから
、従来からあるxIM発生管球を簡単に単色性の硬れた
特性X線を発生することのできるものに改良することが
できるなど優れた効果を奏する。
第7図は、本発明方法を行なう特性軟xJ1発生管球及
び装置の一例を示す概略図、第2図は、チタン及び銅に
ついて、非弾性衝突の古典論の理論式より得られた衝突
電子のエネルギーとイオン化断面積との関係を示すグラ
フ、第3図は、チタン及び銅の特性19強度と加速電圧
との関係を示すグラフ、第1図は、チタン及び−につい
て白色X線強度の比と加速電圧との関係を示すグラフ、
第5図は、加速電圧が7jfKVのときのチタンのター
ゲットから発生する11111強度の波長分布に対する
チタンの質il@l検収を示すグラフ、第6図4J、厚
さコOμ−のチタンのフィルターによる@明後ノxil
aスペクトル分布を示すグラフである〇(1)・・・対
陰極 (6)・・・フィルターほか1名 第1I71 第5図 第6図
び装置の一例を示す概略図、第2図は、チタン及び銅に
ついて、非弾性衝突の古典論の理論式より得られた衝突
電子のエネルギーとイオン化断面積との関係を示すグラ
フ、第3図は、チタン及び銅の特性19強度と加速電圧
との関係を示すグラフ、第1図は、チタン及び−につい
て白色X線強度の比と加速電圧との関係を示すグラフ、
第5図は、加速電圧が7jfKVのときのチタンのター
ゲットから発生する11111強度の波長分布に対する
チタンの質il@l検収を示すグラフ、第6図4J、厚
さコOμ−のチタンのフィルターによる@明後ノxil
aスペクトル分布を示すグラフである〇(1)・・・対
陰極 (6)・・・フィルターほか1名 第1I71 第5図 第6図
Claims (1)
- υ 特性X1lkの波長より若干短い波長域&:@収端
を有し、対陰極を構成する元素の種類に応じて、該対陰
極の元素と同極の元素、または原子番号が該対陰極の元
素の原子番号よりlだけ小さい異積の元素で構成された
フィルターな用い、該特性XtSの波長よりも短い波長
の連続XIIを吸収することにより、特性X線の単色性
を強める方法〇
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13129281A JPS5832200A (ja) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | 特性x線の単色性を強める方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13129281A JPS5832200A (ja) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | 特性x線の単色性を強める方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5832200A true JPS5832200A (ja) | 1983-02-25 |
Family
ID=15054548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13129281A Pending JPS5832200A (ja) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | 特性x線の単色性を強める方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5832200A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62127657A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | X線ct装置の1次フイルタ |
US10280351B2 (en) | 2013-12-20 | 2019-05-07 | 3M Innovative Properties Company | Fluorinated olefins as working fluids and methods of using same |
JP2019128204A (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 株式会社日立ビルシステム | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5127555A (ja) * | 1974-08-31 | 1976-03-08 | Gifu Plastic Ind Co Ltd | Hachisaibainokansuihoho oyobi sonosochinarabinikansuihi |
JPS5347788A (en) * | 1976-10-14 | 1978-04-28 | Toshiba Corp | Diagnosis x-ray tomogram device |
-
1981
- 1981-08-20 JP JP13129281A patent/JPS5832200A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5127555A (ja) * | 1974-08-31 | 1976-03-08 | Gifu Plastic Ind Co Ltd | Hachisaibainokansuihoho oyobi sonosochinarabinikansuihi |
JPS5347788A (en) * | 1976-10-14 | 1978-04-28 | Toshiba Corp | Diagnosis x-ray tomogram device |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62127657A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | X線ct装置の1次フイルタ |
US10280351B2 (en) | 2013-12-20 | 2019-05-07 | 3M Innovative Properties Company | Fluorinated olefins as working fluids and methods of using same |
US10557069B2 (en) | 2013-12-20 | 2020-02-11 | 3M Innovative Properties Company | Fluorinated olefins as working fluids and methods of using same |
JP2019128204A (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 株式会社日立ビルシステム | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 |
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