JPS5825613A - 落射螢光顕微鏡におけるフイルタカセツトの識別装置 - Google Patents
落射螢光顕微鏡におけるフイルタカセツトの識別装置Info
- Publication number
- JPS5825613A JPS5825613A JP12449481A JP12449481A JPS5825613A JP S5825613 A JPS5825613 A JP S5825613A JP 12449481 A JP12449481 A JP 12449481A JP 12449481 A JP12449481 A JP 12449481A JP S5825613 A JPS5825613 A JP S5825613A
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- JP
- Japan
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- cassette
- optical path
- detector
- excitation
- filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、落射螢光顕微鏡のフィルタカセットの識別装
置に関し、本発明の識別装置を用いることによって測光
装置のついたものでは測光条件等が自動的に選択可能に
なる。
置に関し、本発明の識別装置を用いることによって測光
装置のついたものでは測光条件等が自動的に選択可能に
なる。
落射螢光顕微鏡においては、励起フィルタ、ダイクロイ
ックミラー、吸収フィルタを励起方法によって交換する
必要がある。
ックミラー、吸収フィルタを励起方法によって交換する
必要がある。
従来、これらは励起方法を変更するときに各々の励起方
法に合った励起フィルタ、ダイクロイックミラー、吸収
フィルタの組を一つづつ差し替えるか、あるいは数種の
組をあらかじめ内蔵しておいて切り換えて交換するかの
方法をとっていた。
法に合った励起フィルタ、ダイクロイックミラー、吸収
フィルタの組を一つづつ差し替えるか、あるいは数種の
組をあらかじめ内蔵しておいて切り換えて交換するかの
方法をとっていた。
使用態様としては、後者の方が便利であると共に、励起
方法の交換が迅速に行なえるので好ましいものであるが
、従来の顕微鏡では現在どの励起方法を行なっているの
かをあらかじめ各々の位置を記憶しておくか、その都度
確認する必要があ)、煩雛であつ;’c r+ また、
励起方法が変わる毎に検知器の感度、増幅器の利得等を
設定しなおす必要があった。1本発明の目的は、光路中
に挿入さnている励起フィルタ、ダイクロイックミラー
、吸収フィルタの組がいず汎の励起方法によるものかを
自動的に識別する如く成し、そ几によって従来の欠点を
解消しうるような自動識別装置の提供にある。
方法の交換が迅速に行なえるので好ましいものであるが
、従来の顕微鏡では現在どの励起方法を行なっているの
かをあらかじめ各々の位置を記憶しておくか、その都度
確認する必要があ)、煩雛であつ;’c r+ また、
励起方法が変わる毎に検知器の感度、増幅器の利得等を
設定しなおす必要があった。1本発明の目的は、光路中
に挿入さnている励起フィルタ、ダイクロイックミラー
、吸収フィルタの組がいず汎の励起方法によるものかを
自動的に識別する如く成し、そ几によって従来の欠点を
解消しうるような自動識別装置の提供にある。
以下、図面・K示した実施例に基づいて本発明を説明す
る。
る。
1は照明用光源であって通常はフォトマル、2は集光レ
ンズ、3は励起フィルタ、4はダイクロイックミラー、
5は吸収フィルタ、6は対物レンズ、7は標本、20は
フォトマル1の出力を処理し、所定のデータを得る回路
であシ、この光学系および回路20は従来ニジの標準的
な落射螢光測光顕微鏡の構成である。励起フィルタ3、
ダイクロイックミラー4によシ励起に必要な波長を選択
して標本7を照射し、標本7より発する螢光ダイクロイ
ックミラー4、吸収フィルタ5によシ選択して接眼部、
測光部へ導くようになっている。
ンズ、3は励起フィルタ、4はダイクロイックミラー、
5は吸収フィルタ、6は対物レンズ、7は標本、20は
フォトマル1の出力を処理し、所定のデータを得る回路
であシ、この光学系および回路20は従来ニジの標準的
な落射螢光測光顕微鏡の構成である。励起フィルタ3、
ダイクロイックミラー4によシ励起に必要な波長を選択
して標本7を照射し、標本7より発する螢光ダイクロイ
ックミラー4、吸収フィルタ5によシ選択して接眼部、
測光部へ導くようになっている。
励起フィルタ3、ダイクロイックミラー4、吸収フィル
タ5μ、特開昭49−128587号の如くフィルタカ
セット10に一体に組み込まnておシ、例えば、U励起
、V励起等と呼ばnでいる励起方法毎に、各々の特性を
選択さnて組み込まnている。上述の特開昭49−12
8587号に示さnている如くカセット10は、顕微鏡
本体に設けたターレットもしくはスライダーにアリ等に
よって着脱可能に成っている。ターレットもしくにスラ
イダーを顕微鏡本体に対して移動することによって、そ
こに取っ付けらnたカセットを顕微鏡の光路中に切り換
えて挿入することができる。この構造については第2図
、第3図に示すが、第1図では簡単のために光路中に挿
入さnたカセット10のみを示した。
タ5μ、特開昭49−128587号の如くフィルタカ
セット10に一体に組み込まnておシ、例えば、U励起
、V励起等と呼ばnでいる励起方法毎に、各々の特性を
選択さnて組み込まnている。上述の特開昭49−12
8587号に示さnている如くカセット10は、顕微鏡
本体に設けたターレットもしくはスライダーにアリ等に
よって着脱可能に成っている。ターレットもしくにスラ
イダーを顕微鏡本体に対して移動することによって、そ
こに取っ付けらnたカセットを顕微鏡の光路中に切り換
えて挿入することができる。この構造については第2図
、第3図に示すが、第1図では簡単のために光路中に挿
入さnたカセット10のみを示した。
カセット10の側面所定位置には、各励起方法に応じた
情報を発生する如く、磁石11が配設さnており、カセ
ット10が光路中に挿入さnた際、磁石11に対峙して
磁石11からの情報を受けとる磁気検出器12が図示な
き顕微鏡本体に固定さnている。検出器12からの信号
(・lフィルタ種類の表示装置13に入力される。フィ
ルタ種類の表示装置13はカセット10からの励起方法
に応じた情報を基に、現在光路中に挿入さnているカセ
ットの種類(励起方法によ)異なる)を表示する。
情報を発生する如く、磁石11が配設さnており、カセ
ット10が光路中に挿入さnた際、磁石11に対峙して
磁石11からの情報を受けとる磁気検出器12が図示な
き顕微鏡本体に固定さnている。検出器12からの信号
(・lフィルタ種類の表示装置13に入力される。フィ
ルタ種類の表示装置13はカセット10からの励起方法
に応じた情報を基に、現在光路中に挿入さnているカセ
ットの種類(励起方法によ)異なる)を表示する。
表示に、一般に螢光測光顕微鏡が暗室で用いら九ること
全考慮してL E D等の発光素子にて表示するのが有
効である。具体的には、各励起方法に応じた文字を顕微
鏡本体の前面に設けておき、そnらの文字に対応した照
明用光源としてJ、 E D ’i用いても良いし、あ
らかじめ各励起方法に応じた文字をセグメント素子にて
構成し、光路中のカセットによる励起方法を表示する如
く成しても良い。
全考慮してL E D等の発光素子にて表示するのが有
効である。具体的には、各励起方法に応じた文字を顕微
鏡本体の前面に設けておき、そnらの文字に対応した照
明用光源としてJ、 E D ’i用いても良いし、あ
らかじめ各励起方法に応じた文字をセグメント素子にて
構成し、光路中のカセットによる励起方法を表示する如
く成しても良い。
一方、検出器12からの信号は電気的な記憶回路14に
入力さ扛る。螢光測光顕微鏡では、励起方法が変わる毎
に検知器としてのフォトマルの感度、増幅器の利得等を
設定する必要があるので、使用者が容易に条件を設定し
得る如くキーボードスイッチ15が設けら九ている。キ
ーボードスイッチ15によって条件を設定すると、選択
スイッチ16を介して制御装置17に条件が入力さn1
制御装置17はフォトマルの電圧の切シ換え、フォトマ
ル1の出力を処理する回路20内の増幅器の利得の切シ
換え等を行なう。切シ換えが機械的スイッチにて行なわ
れる場合には、制御装置17はリードリレーを含むもの
である。
入力さ扛る。螢光測光顕微鏡では、励起方法が変わる毎
に検知器としてのフォトマルの感度、増幅器の利得等を
設定する必要があるので、使用者が容易に条件を設定し
得る如くキーボードスイッチ15が設けら九ている。キ
ーボードスイッチ15によって条件を設定すると、選択
スイッチ16を介して制御装置17に条件が入力さn1
制御装置17はフォトマルの電圧の切シ換え、フォトマ
ル1の出力を処理する回路20内の増幅器の利得の切シ
換え等を行なう。切シ換えが機械的スイッチにて行なわ
れる場合には、制御装置17はリードリレーを含むもの
である。
記憶回路14は、記憶開始スイッチ18のオンによって
上述の検知器12からの信号と対応せしめてキーボード
スイッチ15にて設定さ′nた条件を記憶する如く構成
さnている。
上述の検知器12からの信号と対応せしめてキーボード
スイッチ15にて設定さ′nた条件を記憶する如く構成
さnている。
上述の選択回路16は、キーボードスイッチ15 の
信号と記憶回路14に記憶されている条1’トとを択一
的に制御装置17へ人力するだめの回路である。
信号と記憶回路14に記憶されている条1’トとを択一
的に制御装置17へ人力するだめの回路である。
このような構造であるので、例えば、同一標本を異なる
励起方法で交互に切シ換えて測光するような場合、あら
かじめキーボードスイッチ15よシ設定された条件を、
各励起方法に対応させて記憶回路14に記憶させておく
ことができるから、選択回路16によって記憶回路14
と制御装置17とが接続するごとく切り換えておくこと
により、検出器12からの信号によって自動的に、条F
l−が切シ換わるごとく成すことができる。特に、1つ
の標本を2つ以上の励起方法で交互に検査する場合、励
起方法を切り換えるごとくに測定条件を設定し直す必要
がなく迅速に測定が可能となるので、特に退色の早い標
本では、同−条件で測定する点からして極めて有効であ
る。
励起方法で交互に切シ換えて測光するような場合、あら
かじめキーボードスイッチ15よシ設定された条件を、
各励起方法に対応させて記憶回路14に記憶させておく
ことができるから、選択回路16によって記憶回路14
と制御装置17とが接続するごとく切り換えておくこと
により、検出器12からの信号によって自動的に、条F
l−が切シ換わるごとく成すことができる。特に、1つ
の標本を2つ以上の励起方法で交互に検査する場合、励
起方法を切り換えるごとくに測定条件を設定し直す必要
がなく迅速に測定が可能となるので、特に退色の早い標
本では、同−条件で測定する点からして極めて有効であ
る。
次に、】・2図および牙2図のA矢睨図である牙3図に
よってカセット10に設けた磁石11の構造の一例と磁
気検出器12の詳細全説明する。顕微鏡本体100には
ターレット110が回転可能に設けらnておシ、ターレ
ット110には、カセット10がアリ等によって固定さ
nている。カセット10の側面には6ビツトの情報を発
生する如く、各ビットに対応せしめて磁石11a、?1
cが設けら乳ている。本実施例では、中間のビットに対
応する位置iibには磁石が設けらnておらず、結局、
図示のカセットによる励起方法は情報101にて表わさ
nる。顕微鏡本体100には、各ビットに対応せしめて
リードスイッチ12a、12b、12cがプリント基板
101を介して固定さnておシ、図の状態ではリードス
イッチ12aがオン、リードスイッチ12bがオフ、リ
ードスイッチ12cがオンである。リードスイッチ12
a 、?2b、12cからの3ビツトの情報は、コード
変換さnる等公知の手法によって表示装置130発光素
子等を駆動するために使用さnる。
よってカセット10に設けた磁石11の構造の一例と磁
気検出器12の詳細全説明する。顕微鏡本体100には
ターレット110が回転可能に設けらnておシ、ターレ
ット110には、カセット10がアリ等によって固定さ
nている。カセット10の側面には6ビツトの情報を発
生する如く、各ビットに対応せしめて磁石11a、?1
cが設けら乳ている。本実施例では、中間のビットに対
応する位置iibには磁石が設けらnておらず、結局、
図示のカセットによる励起方法は情報101にて表わさ
nる。顕微鏡本体100には、各ビットに対応せしめて
リードスイッチ12a、12b、12cがプリント基板
101を介して固定さnておシ、図の状態ではリードス
イッチ12aがオン、リードスイッチ12bがオフ、リ
ードスイッチ12cがオンである。リードスイッチ12
a 、?2b、12cからの3ビツトの情報は、コード
変換さnる等公知の手法によって表示装置130発光素
子等を駆動するために使用さnる。
なお、以上で説明した各励起方法に応じた磁気情報を磁
気ヘッドを用いて検出する如く成すこともできる。
気ヘッドを用いて検出する如く成すこともできる。
光路中にどのカセットがあるかを識別する装置としては
、光電式、電気容量式、機械式等積々の原理による識別
装置全便いうるが、顕微鏡の場合、光を使うと漏れ光の
対策が煩雑であシ、またスペース的に余裕の無いこと等
を考えると上述の磁気的な原理による識別装置が最も実
用的で良いものである。
、光電式、電気容量式、機械式等積々の原理による識別
装置全便いうるが、顕微鏡の場合、光を使うと漏れ光の
対策が煩雑であシ、またスペース的に余裕の無いこと等
を考えると上述の磁気的な原理による識別装置が最も実
用的で良いものである。
以−Fのように本発明によnば、光路中のカセットの種
類全磁気的に識別できるので、光路中に設置さnている
カセットによる励起方法全表示し、またあらかじめ電気
的にその励起方法に適した条件(感度、利得等)を記憶
しておいて、自動的に条件全設定する等の応用がある。
類全磁気的に識別できるので、光路中に設置さnている
カセットによる励起方法全表示し、またあらかじめ電気
的にその励起方法に適した条件(感度、利得等)を記憶
しておいて、自動的に条件全設定する等の応用がある。
と九によってカセットを変更したとき、そnにあわせた
条件全設定しなおす動作全不要になすこともでき、また
外部よフ設置さnているカセットの判別を種々の形で行
なうことが可能となる。そして、数種類のカセットを内
蔵するタイプの装置においてもそれを設置する位置には
無関係にカセットを識別可能であるので、あらかじめ内
蔵しておくカセットに制限がなくなる。
条件全設定しなおす動作全不要になすこともでき、また
外部よフ設置さnているカセットの判別を種々の形で行
なうことが可能となる。そして、数種類のカセットを内
蔵するタイプの装置においてもそれを設置する位置には
無関係にカセットを識別可能であるので、あらかじめ内
蔵しておくカセットに制限がなくなる。
このように本発明は使用者の測定時における煩雑さ、丑
た設置フィルタ(カセット)の誤認を解消するだけでな
く内蔵タイプにおける取付位置制限を解消するのに有効
である。
た設置フィルタ(カセット)の誤認を解消するだけでな
く内蔵タイプにおける取付位置制限を解消するのに有効
である。
第1図は本発明の詳細な説明図、
第2図はカセットに設けた磁石の構造の一例と磁気検出
器の一例、 2・3図は第2図のA矢視図である。 〔主要部分の符号の説明〕
器の一例、 2・3図は第2図のA矢視図である。 〔主要部分の符号の説明〕
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 励起フィルタ、ダイクロイックミラー、吸収フィルタを
一体に組込んだカセットを異なった励起方法毎に用意し
、これらカセットを顕微鏡本体に設けたターレットもし
くはスライダーに着脱可能に成し、ターレットもしくは
スライダーを顕微鏡本体に対して移動することによって
取り付けられたカセットを光路中に切り換えて挿入する
如く成しだ落射螢光顕微鏡において、 各励起方法に応じた磁気情報を発生する如く前記カセッ
トの側面所定位置に磁気手段を配設すると共に、光路中
に挿入されたカセットの前記磁気手段に対峙する本体に
磁気検出器を設け、該検出器の出力によって、光路中に
挿入されているカセットが、いずれの励起方法によるも
のであるかを判断することを特徴とするフィルタカセッ
トの識別装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12449481A JPS5825613A (ja) | 1981-08-08 | 1981-08-08 | 落射螢光顕微鏡におけるフイルタカセツトの識別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12449481A JPS5825613A (ja) | 1981-08-08 | 1981-08-08 | 落射螢光顕微鏡におけるフイルタカセツトの識別装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5825613A true JPS5825613A (ja) | 1983-02-15 |
Family
ID=14886879
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12449481A Pending JPS5825613A (ja) | 1981-08-08 | 1981-08-08 | 落射螢光顕微鏡におけるフイルタカセツトの識別装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5825613A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6034375A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-21 | 住友建設株式会社 | 付着、閉塞した粉粒体の破壊方法 |
JPS63133115A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-04 | Nikon Corp | 光学顕微鏡 |
JPH08234110A (ja) * | 1995-02-23 | 1996-09-13 | Nikon Corp | 落射蛍光顕微鏡 |
JP2004145343A (ja) * | 2002-10-22 | 2004-05-20 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡 |
-
1981
- 1981-08-08 JP JP12449481A patent/JPS5825613A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6034375A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-21 | 住友建設株式会社 | 付着、閉塞した粉粒体の破壊方法 |
JPS6254713B2 (ja) * | 1983-07-29 | 1987-11-16 | Sumitomo Const | |
JPS63133115A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-04 | Nikon Corp | 光学顕微鏡 |
JPH08234110A (ja) * | 1995-02-23 | 1996-09-13 | Nikon Corp | 落射蛍光顕微鏡 |
JP2004145343A (ja) * | 2002-10-22 | 2004-05-20 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡 |
JP4554907B2 (ja) * | 2002-10-22 | 2010-09-29 | ライカ インストルメンツ(シンガポール)プライベート リミテッド | 顕微鏡 |
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