JPS58223032A - 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法 - Google Patents
定偏波フアイバのビ−ト長測定方法Info
- Publication number
- JPS58223032A JPS58223032A JP10615782A JP10615782A JPS58223032A JP S58223032 A JPS58223032 A JP S58223032A JP 10615782 A JP10615782 A JP 10615782A JP 10615782 A JP10615782 A JP 10615782A JP S58223032 A JPS58223032 A JP S58223032A
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- JP
- Japan
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- polarization
- fiber
- constant
- wavelength
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は非破壊でしかも精度の高い定偏波ファイバのビ
ート長の測定方法に関する。
ート長の測定方法に関する。
近時、誘電体基板あるいは半導体基板に集積さする２つ
の偏波面の伝搬速度を大きく異ならせることにより、両
者間の結合を少なくシ、一定の偏波状態を長距離にわた
って保とうとするものである。定偏波ファイバを記述す
る重要なパラメータとしては従来のファイバと同様、損
失、伝送帯域等の他に、固有のビート長、結合長などが
あげられる。ビート長とは定偏波ファイバで、伝搬速度
の最も大きい偏波面に対応するファースト軸、それに直
交して最も遅い面をスロー軸とすると、両軸を伝搬する
光波の位相差が２πとなるファイバ長を指す。従って特
性の優れた定偏波ファイバは、両軸の伝搬定数が大きく
異っており、それに伴いビート長も短い。
の偏波面の伝搬速度を大きく異ならせることにより、両
者間の結合を少なくシ、一定の偏波状態を長距離にわた
って保とうとするものである。定偏波ファイバを記述す
る重要なパラメータとしては従来のファイバと同様、損
失、伝送帯域等の他に、固有のビート長、結合長などが
あげられる。ビート長とは定偏波ファイバで、伝搬速度
の最も大きい偏波面に対応するファースト軸、それに直
交して最も遅い面をスロー軸とすると、両軸を伝搬する
光波の位相差が２πとなるファイバ長を指す。従って特
性の優れた定偏波ファイバは、両軸の伝搬定数が大きく
異っており、それに伴いビート長も短い。
定偏波ファイバの特性向上から、最近の発表データでは
ビート長が５闘以下の定偏波ファイバも出現している。
ビート長が５闘以下の定偏波ファイバも出現している。
面を一回一回測定してゆく順次切断法や、７アイパの横
方向の散乱強度がビート長を周期とする現象上オ０用し
た横方向散乱周期測定法などであった。
方向の散乱強度がビート長を周期とする現象上オ０用し
た横方向散乱周期測定法などであった。
とζろが前者では、多数回の―断あるいは研摩の繰り返
しを要し測定に多大な時間と労力を要することや、ファ
イバの特性向上に伴う短ビート長化に際し精度が低下す
る欠点をもりていた。又後者い通常の室内での測定は困
難であり、又ファイバの被覆材を取り去る必要があり、
いわば、前者と同様に破壊的手法を用いなければならな
いという欠点があった。
しを要し測定に多大な時間と労力を要することや、ファ
イバの特性向上に伴う短ビート長化に際し精度が低下す
る欠点をもりていた。又後者い通常の室内での測定は困
難であり、又ファイバの被覆材を取り去る必要があり、
いわば、前者と同様に破壊的手法を用いなければならな
いという欠点があった。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、今後ますます短ビート長化する
定偏波ファイバのビート長を非破壊手法で、高精度に測
定可能な手段を提供することにある。
の目的とするところは、今後ますます短ビート長化する
定偏波ファイバのビート長を非破壊手法で、高精度に測
定可能な手段を提供することにある。
本発明は定偏波ファイバのファースト軸に対し一定の角
度を為して入射した光波の偏波面の回転れβ１．β２．
更にβ１．β、の差を生じさせる両軸に関した屈折率変
化分をΔｎとすると ＬＢ ＝ ２π／（β皇−β１）＝λ／Δｎ ・・・
・・・・ （１）である。この伝搬定数差にもとすく、
距離ＬｖＣフとなる。、、＋３）式に従えば波長の掃引
により位相差の回転、即ち偏波面の回転を生ずるから、
逆に偏波面の回転を知ってビート長を算出することが出
来る。
度を為して入射した光波の偏波面の回転れβ１．β２．
更にβ１．β、の差を生じさせる両軸に関した屈折率変
化分をΔｎとすると ＬＢ ＝ ２π／（β皇−β１）＝λ／Δｎ ・・・
・・・・ （１）である。この伝搬定数差にもとすく、
距離ＬｖＣフとなる。、、＋３）式に従えば波長の掃引
により位相差の回転、即ち偏波面の回転を生ずるから、
逆に偏波面の回転を知ってビート長を算出することが出
来る。
本発明によれば、測定は非破壊であり、λ、Δλを既知
とするとビート長は高精度に測定され、又（３）式に従
えば、ビート長が短い程、偏波面回転の感度が高く高精
度となることから、従来のビート長測定に比べはるかに
好しい測定法となる。
とするとビート長は高精度に測定され、又（３）式に従
えば、ビート長が短い程、偏波面回転の感度が高く高精
度となることから、従来のビート長測定に比べはるかに
好しい測定法となる。
で、ＤＦＢ−ＬＤ １の出力偏波面に対してファイノ（
のファースト軸を４５°傾は入射させる１、出力端では
ファースト軸とポラライザの偏光軸とを並行あるいは直
角にし、その透過光をＰＤ４で受光する。。
のファースト軸を４５°傾は入射させる１、出力端では
ファースト軸とポラライザの偏光軸とを並行あるいは直
角にし、その透過光をＰＤ４で受光する。。
ＤＦＢ−ＬＤＩに第２図（ｂ）のような電流・（ルスを
日Ｊ力１１すると、その発振波長は内部屈折率の温度質
イしに伴い第２図（Ｃ）の様に変化する。この波長揚り
１により、ファイバ出射端での偏波面は（３）式に従い
回転を生じ、ポラライザ３を通して第２図（ａ）のよう
な出力強度振動とし−Ｃ観測される。
日Ｊ力１１すると、その発振波長は内部屈折率の温度質
イしに伴い第２図（Ｃ）の様に変化する。この波長揚り
１により、ファイバ出射端での偏波面は（３）式に従い
回転を生じ、ポラライザ３を通して第２図（ａ）のよう
な出力強度振動とし−Ｃ観測される。
ビート長の測定は位相が２π回転する時間τを求めそれ
に対する波長掃引幅Δλ＝λ２−λＩｄｈら（３）式に
依存している為、現在の技術から十分に高精度の測定が
可能である。
に対する波長掃引幅Δλ＝λ２−λＩｄｈら（３）式に
依存している為、現在の技術から十分に高精度の測定が
可能である。
尚本発明では入射端でのＤＦＢ −ＬＤＩの偏波面とフ
ァースト軸との傾きを４５°としたことや、出射端では
ファースト軸とポラライザの偏光軸を合せあるいは直角
にしたことは、測定に対する感度を最大とする為に行っ
た処置であり、少々傾きが異ったりしていても良いこと
は明らかである。
ァースト軸との傾きを４５°としたことや、出射端では
ファースト軸とポラライザの偏光軸を合せあるいは直角
にしたことは、測定に対する感度を最大とする為に行っ
た処置であり、少々傾きが異ったりしていても良いこと
は明らかである。
尚本測定で式（３）に於けるλ、Δλを知る必要がある
。前記したところではあらかじめ波長測定を行っておき
、その数値を用い計算を行ったが、更に高精度、高信頼
の測定を望む場合には、ビート長の測定に際し発掘波長
の同時測定を行う方法が好しい。第３図は波長の同時測
定を考慮した構成図描かせ、他方については波長測定器
へ入射させ、長を高精度に測定するエタロンを用いたが
通常の分光器を用いることも可能である。
。前記したところではあらかじめ波長測定を行っておき
、その数値を用い計算を行ったが、更に高精度、高信頼
の測定を望む場合には、ビート長の測定に際し発掘波長
の同時測定を行う方法が好しい。第３図は波長の同時測
定を考慮した構成図描かせ、他方については波長測定器
へ入射させ、長を高精度に測定するエタロンを用いたが
通常の分光器を用いることも可能である。
以上本発明の方法によれば、定偏波ファイノ（のビート
長を非破壊で、高精度に測定可能であり、定偏波ファイ
バの特性評価に有力な手段を与えることができる。
長を非破壊で、高精度に測定可能であり、定偏波ファイ
バの特性評価に有力な手段を与えることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は２・・・
・・・・被測定定偏波ファイバ３・・・・・・・ポララ
イザ ４・・・・・・・光検出器 出願人 工業技術院長 石 坂 誠 −第 １
図 第２図 第３図
・・・・被測定定偏波ファイバ３・・・・・・・ポララ
イザ ４・・・・・・・光検出器 出願人 工業技術院長 石 坂 誠 −第 １
図 第２図 第３図
Claims (3)
- （１）波長掃引の可能な波長掃引レーザの出力を定偏波
ファイバの一端に入射させ、この入射光を前記定偏波フ
ァイバの出射端で偏光子を介して光検出器で受光し、前
記波長・掃引レーザを波長掃引す為ことによって生ずる
光検出器の出力振動周期を測定し、前記定偏波ファイバ
のビート長を求めるようにしたことを特徴とする定偏波
ファイバのビート長測定方法。 - （２）波長掃引レーザは、内部に周期構造を有する分布
帰還型半導体レーザもしくは分布ブラッグ反射型半導体
レーザであることを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の定偏波ファイバのビート長測定方法。 - （３）波長掃引レーザから定偏波ファイバの入射に於い
て、レーザ光の偏光軸とファイバの伝搬定数の最も大き
いファースト軸とのなす角を略４５°と徴とする特許請
求の範囲第１項記載の定偏波ファイバのビート長測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10615782A JPS58223032A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10615782A JPS58223032A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58223032A true JPS58223032A (ja) | 1983-12-24 |
Family
ID=14426459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10615782A Pending JPS58223032A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58223032A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61178636A (ja) * | 1985-02-05 | 1986-08-11 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存フアイバの結合長の測定方法 |
| JPS61184439A (ja) * | 1985-02-13 | 1986-08-18 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存フアイバの結合長の測定方法 |
| WO2002101439A1 (en) * | 2001-06-07 | 2002-12-19 | 3M Innovative Properties Company | Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source |
| WO2005038425A1 (ja) * | 2003-10-22 | 2005-04-28 | Fujikura Ltd. | 光ファイバおよび光ファイバの偏波モード分散測定方法 |
| CN107806981A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-03-16 | 黄茂连 | 一种保偏光纤拍长的测量装置 |
-
1982
- 1982-06-22 JP JP10615782A patent/JPS58223032A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61178636A (ja) * | 1985-02-05 | 1986-08-11 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存フアイバの結合長の測定方法 |
| JPH0523380B2 (ja) * | 1985-02-05 | 1993-04-02 | Hitachi Cable | |
| JPS61184439A (ja) * | 1985-02-13 | 1986-08-18 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存フアイバの結合長の測定方法 |
| WO2002101439A1 (en) * | 2001-06-07 | 2002-12-19 | 3M Innovative Properties Company | Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source |
| US6721467B2 (en) | 2001-06-07 | 2004-04-13 | 3M Innovative Properties Company | Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source |
| WO2005038425A1 (ja) * | 2003-10-22 | 2005-04-28 | Fujikura Ltd. | 光ファイバおよび光ファイバの偏波モード分散測定方法 |
| US7298934B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-11-20 | Fujikura Ltd. | Optical fiber and method of measuring polarization mode dispersion of optical fiber |
| KR100868373B1 (ko) | 2003-10-22 | 2008-11-12 | 가부시키가이샤후지쿠라 | 광화이버 및 광화이버의 편파 모드 분산 측정방법 |
| CN107806981A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-03-16 | 黄茂连 | 一种保偏光纤拍长的测量装置 |
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