JPS58209146A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS58209146A JPS58209146A JP57092738A JP9273882A JPS58209146A JP S58209146 A JPS58209146 A JP S58209146A JP 57092738 A JP57092738 A JP 57092738A JP 9273882 A JP9273882 A JP 9273882A JP S58209146 A JPS58209146 A JP S58209146A
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- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
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- H01L2924/30107—Inductance
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に係り、特にそのパッケージの構造
に関する。
に関する。
最近、半導体集積回路素子の高速比が進行し。
この為にきわめて短時間のうちに多数の回路が動作し大
きな電流が流れる事態が起こっている。このような状態
においては、パッケージの各リード線のインダクタンス
が小さくても、短時間の電流質1ヒの定め大きなノイズ
が発生し、半導体集積回路素子の誤動作や速度の遅れが
生じる。とくに接地(グランド)端子の場合この影響は
大きい、グランド端子のインダクタンスはチップ内の配
線。
きな電流が流れる事態が起こっている。このような状態
においては、パッケージの各リード線のインダクタンス
が小さくても、短時間の電流質1ヒの定め大きなノイズ
が発生し、半導体集積回路素子の誤動作や速度の遅れが
生じる。とくに接地(グランド)端子の場合この影響は
大きい、グランド端子のインダクタンスはチップ内の配
線。
ポンディングパッドからパッケージの内部リードのボン
ディング線および内部リードから外部ピンまでのケース
のリード配線の各インダクタンス成分の和となるっテユ
アルーインーラインパッケージではグランドビンは一般
に一番外側に位置するためにチヴプをマウントするアイ
ランド部がケースの中央部にある従来型のパッケージの
場合、パッケージの外部リードから外部ピンまでの距離
が他ピンに比し大キく、グランドに寄生するインダ1f
i7スが大きくなってしまう。
ディング線および内部リードから外部ピンまでのケース
のリード配線の各インダクタンス成分の和となるっテユ
アルーインーラインパッケージではグランドビンは一般
に一番外側に位置するためにチヴプをマウントするアイ
ランド部がケースの中央部にある従来型のパッケージの
場合、パッケージの外部リードから外部ピンまでの距離
が他ピンに比し大キく、グランドに寄生するインダ1f
i7スが大きくなってしまう。
本発明は、該アイランド部をグランドビンに近い方にず
ら丁ことによりグランドに寄生するインダクタンスを小
さくシ之パッケージ全提供することを目的とする。
ら丁ことによりグランドに寄生するインダクタンスを小
さくシ之パッケージ全提供することを目的とする。
次に図面を用いて本発明の一実施例の詳細を説明する。
第1図AおよびBは、各々従来のデユアルーイン−ライ
ンパッケージの平面図および側面図である。アイランド
部11にチップ12がマウイトされておジ、チップ内の
GNDバッドと内部リード端子はボンディング線13に
よジ接続されパ・ツケージのリード配線14からGND
外部ピン15へと導ひかれる。一般にはGNDピンは図
の位置にあるためにリード配線14は長くなる。GND
につく寄生インダクタンスtL、Δtの短かい時間に流
れる電流ΔlとするとGND電位はパΔ t のノイズが生じる。Lは18ピンケースを用いt場合U
20nHとなる。又一般に用いられるパワーダウンモー
ドつきの4にスタテックRAMでΔi は活性比され之ときに一斉に電源電流が流れ石は20
mA/ s e cとなりΔVは400mVにもなる。
ンパッケージの平面図および側面図である。アイランド
部11にチップ12がマウイトされておジ、チップ内の
GNDバッドと内部リード端子はボンディング線13に
よジ接続されパ・ツケージのリード配線14からGND
外部ピン15へと導ひかれる。一般にはGNDピンは図
の位置にあるためにリード配線14は長くなる。GND
につく寄生インダクタンスtL、Δtの短かい時間に流
れる電流ΔlとするとGND電位はパΔ t のノイズが生じる。Lは18ピンケースを用いt場合U
20nHとなる。又一般に用いられるパワーダウンモー
ドつきの4にスタテックRAMでΔi は活性比され之ときに一斉に電源電流が流れ石は20
mA/ s e cとなりΔVは400mVにもなる。
丁なわちGND電位が0.4Vになるために入力レベル
が厳しくなり誤動作や速度遅れの原因となる。このよう
な現象は多数の出力回路を有する食上充放電する電流が
瞬時に流れる為にΔi/Δtはきわめて大きくなる7寄
生インダクタンスのうち第1図のGNDビンの場合大部
分はリード線14によるもので、ノイズΔv=2小さく
する之めにはこのリード線14を短かくする必要がある
。
が厳しくなり誤動作や速度遅れの原因となる。このよう
な現象は多数の出力回路を有する食上充放電する電流が
瞬時に流れる為にΔi/Δtはきわめて大きくなる7寄
生インダクタンスのうち第1図のGNDビンの場合大部
分はリード線14によるもので、ノイズΔv=2小さく
する之めにはこのリード線14を短かくする必要がある
。
第2図は本発明の実施例を示し友もので第1図Aの場合
よりアイランドの位置金中心部よりGNDピンをシに1
0%以上下げることにより、 GNDのリード配線24
の長さを短かくしている7本実施例では第1図Aの場合
よジリード配Wi24t−太くシ、すらにリード4?左
によせている。このようにすることによジインダクタン
ス金1/3にすることかできる5本発明に基づいて試作
し冥測したところによるとGNDの寄生インダクタンス
は20nHから8 nHに低下しノイズ量は0.16V
におさえることかで@fc。
よりアイランドの位置金中心部よりGNDピンをシに1
0%以上下げることにより、 GNDのリード配線24
の長さを短かくしている7本実施例では第1図Aの場合
よジリード配Wi24t−太くシ、すらにリード4?左
によせている。このようにすることによジインダクタン
ス金1/3にすることかできる5本発明に基づいて試作
し冥測したところによるとGNDの寄生インダクタンス
は20nHから8 nHに低下しノイズ量は0.16V
におさえることかで@fc。
本発明から明らかなようにリードフレーム形状とアイラ
ンドの位fi−変更するだけで容易にGNDノイズの小
さなパッケージを実現することができる。
ンドの位fi−変更するだけで容易にGNDノイズの小
さなパッケージを実現することができる。
第1図A、 Bld各々従来の半導体装置の平面図およ
び側面図、第2図は本発明の実施例の半導体装置を示す
平面図、である。 なお図において、11・・・・・・アイランド部、12
・・・・・・搭載チップ、13・・・・・・チップのG
NDバッドとリード配線端?結ぶボンディング線、14
.24・・・・・・パッケージのリード起重 15−・
・・・GND外部ビン、である。 代理人 弁理士 内 原 晋 「 5 5r−71図 8
び側面図、第2図は本発明の実施例の半導体装置を示す
平面図、である。 なお図において、11・・・・・・アイランド部、12
・・・・・・搭載チップ、13・・・・・・チップのG
NDバッドとリード配線端?結ぶボンディング線、14
.24・・・・・・パッケージのリード起重 15−・
・・・GND外部ビン、である。 代理人 弁理士 内 原 晋 「 5 5r−71図 8
Claims (1)
- 半導体素子がアイランド部に搭載され之パッケージ構造
會有する半導体装置において、該アイランド部の中心が
該パッケージの中心部より外部接地端子側に配置されt
ことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57092738A JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57092738A JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58209146A true JPS58209146A (ja) | 1983-12-06 |
JPS6250059B2 JPS6250059B2 (ja) | 1987-10-22 |
Family
ID=14062755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57092738A Granted JPS58209146A (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58209146A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50118684A (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-17 | ||
JPS53115176A (en) * | 1977-03-17 | 1978-10-07 | Sanyo Electric Co Ltd | Production of resn mold type semiconductor device |
JPS54161270A (en) * | 1978-06-09 | 1979-12-20 | Nec Corp | Lead frame for integrated-circuit device |
JPS5593243A (en) * | 1979-01-04 | 1980-07-15 | Nec Corp | Semiconductor device |
-
1982
- 1982-05-31 JP JP57092738A patent/JPS58209146A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50118684A (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-17 | ||
JPS53115176A (en) * | 1977-03-17 | 1978-10-07 | Sanyo Electric Co Ltd | Production of resn mold type semiconductor device |
JPS54161270A (en) * | 1978-06-09 | 1979-12-20 | Nec Corp | Lead frame for integrated-circuit device |
JPS5593243A (en) * | 1979-01-04 | 1980-07-15 | Nec Corp | Semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6250059B2 (ja) | 1987-10-22 |
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