JPS58193449A - イオン活量測定器具 - Google Patents
イオン活量測定器具Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、イオン濃度又はイオン活量(以後、イオン活
量とのみ記載する。)測定用器具に関する。特に本発明
は、水性液、血液、血清などの体液中のイオン濃度をポ
テンシオメトリカルに測定するだめのフィルム状イオン
選択電極(以下、単にイオン選択電極と呼ぶ。)が複数
個連らなった構造を有するものに関する。
量とのみ記載する。)測定用器具に関する。特に本発明
は、水性液、血液、血清などの体液中のイオン濃度をポ
テンシオメトリカルに測定するだめのフィルム状イオン
選択電極(以下、単にイオン選択電極と呼ぶ。)が複数
個連らなった構造を有するものに関する。
本発明のイオン活量測定用器具とは一般に半電池或いは
PH電極と称せられているものと類似した構成のもので
ある。
PH電極と称せられているものと類似した構成のもので
ある。
一般に生体液中のにミNaミGa2■、C6θ、HCO
30などの無機イオン濃度の測定に湿式のイオン選択電
極を用いる方法が広〈実施されている。
30などの無機イオン濃度の測定に湿式のイオン選択電
極を用いる方法が広〈実施されている。
しかし湿式法は針状の電極を生体液中に浸漬して測定す
る形式のものであり、電極の保守、洗浄、コンディショ
ニング、寿命、破損などの点で管理に線点があり、且つ
電極ヘッドを毎回カップ中の被検液に充分に浸漬する必
要があるので、多くの被検液量を必要とする。そこで湿
式法の欠点を鑑みて、電極をドライタイプのフィルム状
にしたイオン選択電極が公知であり、特開昭52−14
2584号および米国特許第4,053,381号に開
示されている。この電極フィルムは第1図に示すように
、絶縁性支持体1 の上に金属層2、金属層の金属と同種の金属の水不溶性
塩層ろ、水不溶性塩と共通の陰イオンをもつ水溶性塩を
溶解含有する親水性バインダーマトリックスから成る乾
燥させた参照電解質1層4とイオン選択層5fこのII
I K積層した4層積層構造のものである。また参照電
解層4を除い;+11層積構造の1&フイルムが特開昭
57−17851号公報で、更にまた水不溶性塩層およ
び参照電解質層の両層を省き、金属層の上に直接イオン
交換物質を含むイオン選択層が設けられた2層積層構造
の電極が特開昭48−82897号公報に開示されてい
る。これら電極フィルムでイオン活量を測定するには、
第2図に示すように上記の種々の積層構造よりなるフィ
ルム状電極10を2個並べて対構造とし、後述するブリ
ッジ19で連絡して、この電極対に電位差計20を接続
し、被検液15と標準液16とをブリッジ19を介して
電極フィルム上にそれぞれ微少量(例えば5AA’〜5
0μl)点着し、被検液と標準液間にイオン流を生じ、
電極間に起きる電位差を測定する。しかしながらとの様
なドライタイプのイオン選択電極にあっては、イオン活
量を前記した通り、対電極間に生じる被検液と標準液と
の示差電位として読み取るので、対電極のそれぞれは電
気化学的特性が同一物性であることが重要である。処が
、一般的に個々に製造された電極が全く同一の物性を有
することは不可能に近く、可及的に近似を示すのがせい
ぜいであるっ一方、備々に製造した電極を後で対電極と
1 ”する利点は、各電極が物理的に離隔出来
、電極間の電気的絶縁性を達成するのに有利となる。処
が、また別の課題は、電極構成層(少くとも金属層)の
端縁(以下、エツジと呼ぶ。)が霧出していると、イオ
ン活量の測定に好ましからざる欠点を生じる場合がある
。
る形式のものであり、電極の保守、洗浄、コンディショ
ニング、寿命、破損などの点で管理に線点があり、且つ
電極ヘッドを毎回カップ中の被検液に充分に浸漬する必
要があるので、多くの被検液量を必要とする。そこで湿
式法の欠点を鑑みて、電極をドライタイプのフィルム状
にしたイオン選択電極が公知であり、特開昭52−14
2584号および米国特許第4,053,381号に開
示されている。この電極フィルムは第1図に示すように
、絶縁性支持体1 の上に金属層2、金属層の金属と同種の金属の水不溶性
塩層ろ、水不溶性塩と共通の陰イオンをもつ水溶性塩を
溶解含有する親水性バインダーマトリックスから成る乾
燥させた参照電解質1層4とイオン選択層5fこのII
I K積層した4層積層構造のものである。また参照電
解層4を除い;+11層積構造の1&フイルムが特開昭
57−17851号公報で、更にまた水不溶性塩層およ
び参照電解質層の両層を省き、金属層の上に直接イオン
交換物質を含むイオン選択層が設けられた2層積層構造
の電極が特開昭48−82897号公報に開示されてい
る。これら電極フィルムでイオン活量を測定するには、
第2図に示すように上記の種々の積層構造よりなるフィ
ルム状電極10を2個並べて対構造とし、後述するブリ
ッジ19で連絡して、この電極対に電位差計20を接続
し、被検液15と標準液16とをブリッジ19を介して
電極フィルム上にそれぞれ微少量(例えば5AA’〜5
0μl)点着し、被検液と標準液間にイオン流を生じ、
電極間に起きる電位差を測定する。しかしながらとの様
なドライタイプのイオン選択電極にあっては、イオン活
量を前記した通り、対電極間に生じる被検液と標準液と
の示差電位として読み取るので、対電極のそれぞれは電
気化学的特性が同一物性であることが重要である。処が
、一般的に個々に製造された電極が全く同一の物性を有
することは不可能に近く、可及的に近似を示すのがせい
ぜいであるっ一方、備々に製造した電極を後で対電極と
1 ”する利点は、各電極が物理的に離隔出来
、電極間の電気的絶縁性を達成するのに有利となる。処
が、また別の課題は、電極構成層(少くとも金属層)の
端縁(以下、エツジと呼ぶ。)が霧出していると、イオ
ン活量の測定に好ましからざる欠点を生じる場合がある
。
すなわち、上述の電極フィルムK、被検液体および標準
液体をそれぞれ点着した場合、点着された液滴は、各電
極フィルムのイオン選択層(又は後装記述する保農層が
設けられている場合には、保護層)の表面に広がる傾向
がある。広がった液は、電極フィルムの端縁(エツジ)
から流れ下り、この流下液は前記電極の種々の構成層を
ショートしてしまう。そのため、ショートによる不正電
位が発生し、あるいは、ショートにより電位がゼロにな
り、誤った電位差計の読みを与えることとなる。従って
、被検液体又は標準液体によるこのような・/ヨードが
起らないようにすることは、電極フィルムにとって必須
であった。
液体をそれぞれ点着した場合、点着された液滴は、各電
極フィルムのイオン選択層(又は後装記述する保農層が
設けられている場合には、保護層)の表面に広がる傾向
がある。広がった液は、電極フィルムの端縁(エツジ)
から流れ下り、この流下液は前記電極の種々の構成層を
ショートしてしまう。そのため、ショートによる不正電
位が発生し、あるいは、ショートにより電位がゼロにな
り、誤った電位差計の読みを与えることとなる。従って
、被検液体又は標準液体によるこのような・/ヨードが
起らないようにすることは、電極フィルムにとって必須
であった。
このような認識にもとづき、特開昭52−142584
では、電極フィルムのイオン選択層だけを露出し、その
他の部分には水が浸透しない様に、プラスチック等の水
弁浸透性の電気絶縁性材料により作られたフレーム内に
収納し、1個の測定用セルとするか、又は接着剤のスト
リップス等を設けて各層間のショートを防ぐアンチショ
ーテイング手段が講じられなければならなかった。
では、電極フィルムのイオン選択層だけを露出し、その
他の部分には水が浸透しない様に、プラスチック等の水
弁浸透性の電気絶縁性材料により作られたフレーム内に
収納し、1個の測定用セルとするか、又は接着剤のスト
リップス等を設けて各層間のショートを防ぐアンチショ
ーテイング手段が講じられなければならなかった。
しかし、これらのアンチショーテイング手段も電極フィ
ルム1個毎に加工を施す必要があるので、多くの人手を
要し、その上、加工が困難であるため完全にアンチショ
ートすることが難かしいことがわかった。
ルム1個毎に加工を施す必要があるので、多くの人手を
要し、その上、加工が困難であるため完全にアンチショ
ートすることが難かしいことがわかった。
また、これまで記述したことからも察せられる通り、こ
れらイオン選択電極は1被検液毎に使い捨ての器具であ
り、従って、第2図で被検液の測定が行なわれる毎に1
測定用セルは電位差計のリード線21および22から切
り離され廃棄されなければならない。故に、各被検液の
測定毎に、電位差計20のリード線21および22を測
定用セルの電極に接続しなければならず、このために生
ずる測定毎のリード線と電極間の接触抵抗の変化、バラ
ツキに起因する測定誤差が問題となり、また測定毎に電
位差計を接続し直す手間が大変であった。
れらイオン選択電極は1被検液毎に使い捨ての器具であ
り、従って、第2図で被検液の測定が行なわれる毎に1
測定用セルは電位差計のリード線21および22から切
り離され廃棄されなければならない。故に、各被検液の
測定毎に、電位差計20のリード線21および22を測
定用セルの電極に接続しなければならず、このために生
ずる測定毎のリード線と電極間の接触抵抗の変化、バラ
ツキに起因する測定誤差が問題となり、また測定毎に電
位差計を接続し直す手間が大変であった。
本発明者らは、これら公知技術における欠点を解消すべ
く鋭意研究を重ねていたが、先に特願昭56−0089
88号にお1八て、 それぞれの長手方向の一端またはその近傍に1個の共通
電気的接続端子部を有する2個以上の長尺固体電極およ
び多孔性部材よりなる乾燥したブリッジを複数有した電
極群よりなるイオン活量測定器具を提案した。
く鋭意研究を重ねていたが、先に特願昭56−0089
88号にお1八て、 それぞれの長手方向の一端またはその近傍に1個の共通
電気的接続端子部を有する2個以上の長尺固体電極およ
び多孔性部材よりなる乾燥したブリッジを複数有した電
極群よりなるイオン活量測定器具を提案した。
該発明の一実施例を第6図により更に説明すると、第3
−a図は該発明によるイオン活量測定器具を示す平面図
で、 標準液用長尺固体電極ろ0と被検液用長尺固体電極51
が対を成しており、各電極の一端は金属層2が霧呈し、
共通電気的接続端子部34を形成し、該共通端子部34
はプローブ32を介し、それぞれ電位差計20のリード
線21および22に接続されている。上記長尺固体電極
30および31ii、前述し7た従来公知のフィルム状
電極を長尺化したものである。
−a図は該発明によるイオン活量測定器具を示す平面図
で、 標準液用長尺固体電極ろ0と被検液用長尺固体電極51
が対を成しており、各電極の一端は金属層2が霧呈し、
共通電気的接続端子部34を形成し、該共通端子部34
はプローブ32を介し、それぞれ電位差計20のリード
線21および22に接続されている。上記長尺固体電極
30および31ii、前述し7た従来公知のフィルム状
電極を長尺化したものである。
この場合の長さは、フィルム状電極の電気抵抗が測定値
に影響を及ぼさない範囲で任意に設定できるものである
。そして、一対の長尺固体電極50およびろ1には、は
しご状に複数個のブリッジ19が図示の如く設けられて
いる。これら複数のブリッジ19においては、隣接する
ブリッジ間での、被検液または標準液の滲み出しによる
汚染を防止するよう、ブリッジ間の距離を充分にとるか
、または各ブリッジを、被検液または標準液が番み出さ
ないようにソールすることが望ましい。
に影響を及ぼさない範囲で任意に設定できるものである
。そして、一対の長尺固体電極50およびろ1には、は
しご状に複数個のブリッジ19が図示の如く設けられて
いる。これら複数のブリッジ19においては、隣接する
ブリッジ間での、被検液または標準液の滲み出しによる
汚染を防止するよう、ブリッジ間の距離を充分にとるか
、または各ブリッジを、被検液または標準液が番み出さ
ないようにソールすることが望ましい。
以上の叩く構成されたイオン活it測定器具では、先に
述べたような個々の電極対毎の絶縁化処理を必要とせず
、まだ共通端子部34にプローブ32を介して電位差計
20が接続されているため、測定毎の電位差計の接続の
しなおしが不要で、手間が省け、且つ安定した測定結果
が得られる。しかし逆に共通端子で接続が行なわれてい
るため1測定終了毎に、使用されたブリッジ19は、第
6=D図で示すように切り捨てられる必要がある。次の
イオン#度またはイオン活量度の測定は、切り捨てられ
たブリッジ19に隣接していた新たなブリッジ19を使
用し、同様の操作により行われるものである。しかしこ
のようKm数のブリッジよりなるイオン活量測定器具に
あっても、個々に製造した電極をあとで対構造としてい
るので、先に述べた物性のバラツキの問題は保留されて
いた。
述べたような個々の電極対毎の絶縁化処理を必要とせず
、まだ共通端子部34にプローブ32を介して電位差計
20が接続されているため、測定毎の電位差計の接続の
しなおしが不要で、手間が省け、且つ安定した測定結果
が得られる。しかし逆に共通端子で接続が行なわれてい
るため1測定終了毎に、使用されたブリッジ19は、第
6=D図で示すように切り捨てられる必要がある。次の
イオン#度またはイオン活量度の測定は、切り捨てられ
たブリッジ19に隣接していた新たなブリッジ19を使
用し、同様の操作により行われるものである。しかしこ
のようKm数のブリッジよりなるイオン活量測定器具に
あっても、個々に製造した電極をあとで対構造としてい
るので、先に述べた物性のバラツキの問題は保留されて
いた。
そこで本発明者等は物性のバラツキもなく、また電極間
の電気的絶縁もはかれる発明を個々に既に行った。特願
昭56−108979号では、導電性層をイオン選択層
で被覆することKより、特別のアンチショーテイング手
段をtなどこす必要がないことを見出し、また、極めて
簡単な方法で単一′a極からtJI極対が形成されるイ
オン選択電極を提案した(特願昭57−40598号公
報)。
の電気的絶縁もはかれる発明を個々に既に行った。特願
昭56−108979号では、導電性層をイオン選択層
で被覆することKより、特別のアンチショーテイング手
段をtなどこす必要がないことを見出し、また、極めて
簡単な方法で単一′a極からtJI極対が形成されるイ
オン選択電極を提案した(特願昭57−40598号公
報)。
上述それぞれの発明にLれば、共通支持体上に金属層を
形成したのちで最外層(イオン選択層または保護層)形
成前に少なくとも金属層をスクラッチすることVこより
金属層に溝が設けられて同一物性の′亀漣対が6易に形
成され、しかも電気的絶縁性も充分に得られたものであ
る。
形成したのちで最外層(イオン選択層または保護層)形
成前に少なくとも金属層をスクラッチすることVこより
金属層に溝が設けられて同一物性の′亀漣対が6易に形
成され、しかも電気的絶縁性も充分に得られたものであ
る。
しかし、更に絶縁を完壁にするために金属層に溝形成後
、金属層上に前述した水不溶金属塩層及びイオン選択層
を設けたものである。即ち、第4図に示すように、絶縁
性フィルム基板1の上に設けられた金属層2は、電気抵
抗の高い水不溶性金属塩層5によって切り込み時に形成
されたエツジを含む婁出部分が被覆されている。それ故
、溝11により物理的に離間され絶縁を達成している金
属層2は更に前記水不溶性金属塩層ろにより絶縁の程度
を高めている。また更にその上にイオン選択層5が塗設
される結果、金属層2は不測の流下液から完壁に保護さ
れ、ショート等が生じる恐れは全く起きないのである。
、金属層上に前述した水不溶金属塩層及びイオン選択層
を設けたものである。即ち、第4図に示すように、絶縁
性フィルム基板1の上に設けられた金属層2は、電気抵
抗の高い水不溶性金属塩層5によって切り込み時に形成
されたエツジを含む婁出部分が被覆されている。それ故
、溝11により物理的に離間され絶縁を達成している金
属層2は更に前記水不溶性金属塩層ろにより絶縁の程度
を高めている。また更にその上にイオン選択層5が塗設
される結果、金属層2は不測の流下液から完壁に保護さ
れ、ショート等が生じる恐れは全く起きないのである。
本発明者等は、これら上述の発明を基に本発明全完成し
たもので、極めて簡単な方法で且つ安定した特性が得ら
れしかも低コストのイオン活量測定器具を提供できたの
である。
たもので、極めて簡単な方法で且つ安定した特性が得ら
れしかも低コストのイオン活量測定器具を提供できたの
である。
即ち本発明は、電気絶縁性支持体上に少なくも金属層お
よびイオン選択層を積層するイ丁ン選択電極よりなるイ
オン活量測定器具において、少なくも前記金属層が縦横
にスクラッチされた溝で分けられ、各片が電気的に絶縁
された複数個の独立した電極群よりなることを特徴とす
るイオン活量測定器具である。本発明の一態様は、前記
金属層と前記イオン選択層の間に前記金属層の金属と同
種の金属の水不溶性塩よりなる層が積層された前記構成
のイオン活量測定器具である。また他の態様は前記金属
層と前記イオン選択層の間に前記金属層の金属と同種の
金属の水不溶性塩よりなる層および参照電解質層が積層
され、てなる前記構成のイオン活量測定器具である。本
発明の具体例は前記スクラッチされた溝が前記電気絶縁
性支持体の一部に達している上記構成の何れかに該当す
るイオン活量測定器具であり、別の具体化例は最外層が
形成される直前に当該層上よりスクラッチされ前記溝が
設けられる上記構成の何れかに該当するイオン活量測定
器具である。
よびイオン選択層を積層するイ丁ン選択電極よりなるイ
オン活量測定器具において、少なくも前記金属層が縦横
にスクラッチされた溝で分けられ、各片が電気的に絶縁
された複数個の独立した電極群よりなることを特徴とす
るイオン活量測定器具である。本発明の一態様は、前記
金属層と前記イオン選択層の間に前記金属層の金属と同
種の金属の水不溶性塩よりなる層が積層された前記構成
のイオン活量測定器具である。また他の態様は前記金属
層と前記イオン選択層の間に前記金属層の金属と同種の
金属の水不溶性塩よりなる層および参照電解質層が積層
され、てなる前記構成のイオン活量測定器具である。本
発明の具体例は前記スクラッチされた溝が前記電気絶縁
性支持体の一部に達している上記構成の何れかに該当す
るイオン活量測定器具であり、別の具体化例は最外層が
形成される直前に当該層上よりスクラッチされ前記溝が
設けられる上記構成の何れかに該当するイオン活量測定
器具である。
以下、図面により本発明を更に詳細に説明する。
第5図は本発明の1実施例を示す図で、第5a図はその
平面図、第5b図は第5a図のA−A’線に示される部
分断面図および第5C図に斜視図を示す。1は電気絶縁
性支持体、2は電気絶縁性支持体上に設けられる金属層
、金属層2は長手方向にスクラッチされた溝11−aに
より、2aおよび2b部に分けられ対構造をなす。金属
層2は更に長手方向に交差する溝11−bにより独立し
た複数の電極対を形成する。更に、金属層2は長手方向
にその両端面の一部をマスキングして、その金属の水不
溶性塩層3およびイオン選択層5を設けている。金属層
2の両端面は電気接続端子部6として金属層が露出され
る。イオン選択層5上に、更に一部孔を有した水不透過
性支持層7を介して多孔性部材8よりなるブリッジ19
が絶縁化処理されて貼り合わされている。本実施例では
金属層2の両端を金属層上に更に積層される電極構成層
からマスキングして、金属層2を露出させて電気接続端
子部6とする構成例を記載したが、特にこのように電気
接続端子部を設けなくて、同一に構成されたイオン選択
電極の最外層上より針状a)tq気接接触子貫通させて
金属層と接触する構成とすることも出来る。
平面図、第5b図は第5a図のA−A’線に示される部
分断面図および第5C図に斜視図を示す。1は電気絶縁
性支持体、2は電気絶縁性支持体上に設けられる金属層
、金属層2は長手方向にスクラッチされた溝11−aに
より、2aおよび2b部に分けられ対構造をなす。金属
層2は更に長手方向に交差する溝11−bにより独立し
た複数の電極対を形成する。更に、金属層2は長手方向
にその両端面の一部をマスキングして、その金属の水不
溶性塩層3およびイオン選択層5を設けている。金属層
2の両端面は電気接続端子部6として金属層が露出され
る。イオン選択層5上に、更に一部孔を有した水不透過
性支持層7を介して多孔性部材8よりなるブリッジ19
が絶縁化処理されて貼り合わされている。本実施例では
金属層2の両端を金属層上に更に積層される電極構成層
からマスキングして、金属層2を露出させて電気接続端
子部6とする構成例を記載したが、特にこのように電気
接続端子部を設けなくて、同一に構成されたイオン選択
電極の最外層上より針状a)tq気接接触子貫通させて
金属層と接触する構成とすることも出来る。
以上の如く構成されたイオン選択電極を用いてイオン活
量を測定する場合には、電位差計20のり一ド端子を針
状接触端子として金属層の両端面に設けられた電気接続
端子部6と接触させた後、前述と同様の方法でブリッジ
19に設けられた孔17.18に標準液と被検液をおの
おの点着し、両液がそれぞれブリッジ中に拡がり、ブリ
ッジの中はどで両液の先端異聞が接触した後に電位差計
20に指示される電位差よりイオン活量の測定を行うも
のである。16411定か終了すると電位差計は他の未
使用の電極と接続しなおし、同様の操作により繰り返し
測定が行える。
量を測定する場合には、電位差計20のり一ド端子を針
状接触端子として金属層の両端面に設けられた電気接続
端子部6と接触させた後、前述と同様の方法でブリッジ
19に設けられた孔17.18に標準液と被検液をおの
おの点着し、両液がそれぞれブリッジ中に拡がり、ブリ
ッジの中はどで両液の先端異聞が接触した後に電位差計
20に指示される電位差よりイオン活量の測定を行うも
のである。16411定か終了すると電位差計は他の未
使用の電極と接続しなおし、同様の操作により繰り返し
測定が行える。
本発明は前述した特願昭56−008988号と同様に
複数の電極群より構成されているが、本発明では隣接す
る電極対が溝11−bにより完全に絶縁されており、隣
接するブリッジ間の被検液−上たは標H液の#み出しに
よる汚染も防止され、−また使用済電極をいちいち切り
離す必要もなく、更に共通端子部より最遠部に位置する
電極より順次使用せねばならないという制約もない。該
発明が電気接続端子部を共通としているので測定の都度
、電位差計を接続しなおす必要のない利点は有するが、
本発明では任意の長さの電極をカセット状に形成し、電
気接続端子上を電位差計のリード端子が接触してスライ
ド9する方式、或いはダイヤル式接点にすれば接続のし
なおしによる手間もなく、安定した測定が可能となる。
複数の電極群より構成されているが、本発明では隣接す
る電極対が溝11−bにより完全に絶縁されており、隣
接するブリッジ間の被検液−上たは標H液の#み出しに
よる汚染も防止され、−また使用済電極をいちいち切り
離す必要もなく、更に共通端子部より最遠部に位置する
電極より順次使用せねばならないという制約もない。該
発明が電気接続端子部を共通としているので測定の都度
、電位差計を接続しなおす必要のない利点は有するが、
本発明では任意の長さの電極をカセット状に形成し、電
気接続端子上を電位差計のリード端子が接触してスライ
ド9する方式、或いはダイヤル式接点にすれば接続のし
なおしによる手間もなく、安定した測定が可能となる。
また該発明ではその電極の長手方向の長さは、電極の内
部抵抗が影響を及はさない範囲を制約されたが、本発明
ではその問題も起きない。
部抵抗が影響を及はさない範囲を制約されたが、本発明
ではその問題も起きない。
本発明においては、溝を設けることによって金属層が絶
縁され、その結果、同一物性よりなる電極対が発現され
ている。この溝は後記の如く最も一般的には罫書き操作
によって設けられるので、通常は第5図に示すようなV
型の形状をとる。父、金属層は支持体上に設けた段階で
溝が形成され、その後に水不溶性金属塩層及びイオン選
択1−を構成するという工程を採用することにより、従
来のイオン選択電極と異なって溝形成時の切りこみ操作
に伴なう筈の露出エツジが形成されないことである。
縁され、その結果、同一物性よりなる電極対が発現され
ている。この溝は後記の如く最も一般的には罫書き操作
によって設けられるので、通常は第5図に示すようなV
型の形状をとる。父、金属層は支持体上に設けた段階で
溝が形成され、その後に水不溶性金属塩層及びイオン選
択1−を構成するという工程を採用することにより、従
来のイオン選択電極と異なって溝形成時の切りこみ操作
に伴なう筈の露出エツジが形成されないことである。
金属層11間の絶縁は単一の溝による離間で十分である
が、より完全を期すならば、二以上の複数の溝によって
もよい。また、最も導通り危険の高い金属層11間の外
、イオン流の方向と反対側(すなわち外向き)に拡がっ
て他端より流下する液がショートを生じるおそれも若干
ながら考えられるので、当該他端は接着剤のス) IJ
ツプス等を設けることで対処できる。
が、より完全を期すならば、二以上の複数の溝によって
もよい。また、最も導通り危険の高い金属層11間の外
、イオン流の方向と反対側(すなわち外向き)に拡がっ
て他端より流下する液がショートを生じるおそれも若干
ながら考えられるので、当該他端は接着剤のス) IJ
ツプス等を設けることで対処できる。
本発明によるイオン選択電極の製造方法は(特願昭57
−40398号公報)に開示したと同様手段により作る
ことができる。即ち、適当な支持体、例えばガラス板、
セラミック板、高分子物質ノートまたはフィルム、紙等
の上に導電性金属薄層を設ける。薄層の形成には従来公
知の方法が適用できる。例えば、蒸着法、無電解メッキ
法等である。支持体上に金属薄層形成後、第5図に図示
するように金属層を縦横にナイフ、罫書き針等の鋭利な
刃先で切り開くことで金属層を確実に電気的絶縁が出来
、分離できる。本発明の一態様は金属層の切りくず或い
は金属層に積層される連続層の影響を受けない為にもス
クラッチは絶縁性支持体にまで及び深さで行われること
が好ましい。通常、金属層の厚さの10倍以上の深さで
スクラッチされるのが好ましく、例えば金属層を500
nm、支持体を100μm〜200μm厚としたとき、
支持体のスクラッチの深さは5μm〜50μmが適当で
ある。金属層の両端面を電気接続端子部として、マスキ
ングする方法としては、公知のレジストを塗布してマス
クする方法、rResaarch Disclosur
e J誌す19445(1980年6月号)に開示され
ているアルカリで除去できる液状レジストを塗布してマ
スクする方法、特開昭56−63537号公報に開示さ
れているニッケルまたはクロムの厚さ5nmないし20
nmの蒸着薄膜を設けてマスクする方法、パラジウム
の厚さ1.5nn>ないし 1i5nm
の蒸着薄膜またはインジウムの3nmないし20nL[
Iの蒸着薄膜を設けてマスクする方法、被膜形成能を有
し乾燥後の被膜剥離性を有する液状レジスト、例えば、
フロンマスク■(ポリ塩化ビニールを主成分とする液状
レジスト。古藤産業製)が用いられる。スクラッチによ
る溝が設けられ、そして電気接続端子部をマスクされた
金属層はその金属の水不溶性塩に変えられ、又はその金
属の水不溶性塩層を金属層の上に設け、必要に応じてそ
の水不溶性金属塩が電解質すなわち前記金属塩のアニオ
ンを含む溶液を接触し内部参照電極を構成する。この水
不溶性塩は代表的には当該金属層の金属ハロゲン化物で
例えばAgCj、 Hg2CI2等からなり、周知の方
法、例えば当金属層を酸化剤(及び酸化剤にハライビイ
オンが含まれない場合は・・ライドイオン)含有組成物
で被覆又は処理する。ロール被覆、浸漬、積層又はプラ
ツシ被覆のような慣用方法により、酸化剤を銀へ適用す
ることができる。酸化剤は酸化剤含有酸溶液(たとえば
塩酸)のような溶液中に存在させることかできる。
−40398号公報)に開示したと同様手段により作る
ことができる。即ち、適当な支持体、例えばガラス板、
セラミック板、高分子物質ノートまたはフィルム、紙等
の上に導電性金属薄層を設ける。薄層の形成には従来公
知の方法が適用できる。例えば、蒸着法、無電解メッキ
法等である。支持体上に金属薄層形成後、第5図に図示
するように金属層を縦横にナイフ、罫書き針等の鋭利な
刃先で切り開くことで金属層を確実に電気的絶縁が出来
、分離できる。本発明の一態様は金属層の切りくず或い
は金属層に積層される連続層の影響を受けない為にもス
クラッチは絶縁性支持体にまで及び深さで行われること
が好ましい。通常、金属層の厚さの10倍以上の深さで
スクラッチされるのが好ましく、例えば金属層を500
nm、支持体を100μm〜200μm厚としたとき、
支持体のスクラッチの深さは5μm〜50μmが適当で
ある。金属層の両端面を電気接続端子部として、マスキ
ングする方法としては、公知のレジストを塗布してマス
クする方法、rResaarch Disclosur
e J誌す19445(1980年6月号)に開示され
ているアルカリで除去できる液状レジストを塗布してマ
スクする方法、特開昭56−63537号公報に開示さ
れているニッケルまたはクロムの厚さ5nmないし20
nmの蒸着薄膜を設けてマスクする方法、パラジウム
の厚さ1.5nn>ないし 1i5nm
の蒸着薄膜またはインジウムの3nmないし20nL[
Iの蒸着薄膜を設けてマスクする方法、被膜形成能を有
し乾燥後の被膜剥離性を有する液状レジスト、例えば、
フロンマスク■(ポリ塩化ビニールを主成分とする液状
レジスト。古藤産業製)が用いられる。スクラッチによ
る溝が設けられ、そして電気接続端子部をマスクされた
金属層はその金属の水不溶性塩に変えられ、又はその金
属の水不溶性塩層を金属層の上に設け、必要に応じてそ
の水不溶性金属塩が電解質すなわち前記金属塩のアニオ
ンを含む溶液を接触し内部参照電極を構成する。この水
不溶性塩は代表的には当該金属層の金属ハロゲン化物で
例えばAgCj、 Hg2CI2等からなり、周知の方
法、例えば当金属層を酸化剤(及び酸化剤にハライビイ
オンが含まれない場合は・・ライドイオン)含有組成物
で被覆又は処理する。ロール被覆、浸漬、積層又はプラ
ツシ被覆のような慣用方法により、酸化剤を銀へ適用す
ることができる。酸化剤は酸化剤含有酸溶液(たとえば
塩酸)のような溶液中に存在させることかできる。
有用な償化剤には、KCrOC1,に3(Fe(3+)
(ON)6]、K M n O4、K2Cr20□、N
H4VO3、(N F(4) 2 (Ce (4+ )
(N03 )a 〕、およびFe(3+) 2(OO
C−Coo) 3 がある。好ましい酸化剤はKCrO
3CA’、に2Cr20□及びK 3 (F e (3
+)(ON > 、 ) である。酸化剤を組み合わせ
て用いることもできる。CHandbook of C
hemistry andPhysics J、50
th Edition The ChemlcalRu
bber Company、1969年発行、第D10
9−114頁に、本発明に有用な酸化剤に関して更に拝
しく記載されている。
(ON)6]、K M n O4、K2Cr20□、N
H4VO3、(N F(4) 2 (Ce (4+ )
(N03 )a 〕、およびFe(3+) 2(OO
C−Coo) 3 がある。好ましい酸化剤はKCrO
3CA’、に2Cr20□及びK 3 (F e (3
+)(ON > 、 ) である。酸化剤を組み合わせ
て用いることもできる。CHandbook of C
hemistry andPhysics J、50
th Edition The ChemlcalRu
bber Company、1969年発行、第D10
9−114頁に、本発明に有用な酸化剤に関して更に拝
しく記載されている。
用いる酸化剤の量は生成させる・・ロゲン化銀層の厚さ
に依存して可変であるが、好ましくは適用徽は0.01
〜2.05’/m2である。・・ロゲン化銀層として形
成させるノ・ロゲン化銀としては塩化銀、臭化銀、沃化
銀かめる。捷だ電気分解法、更にまた銀の層をワイヤー
、箔または支持した薄層として溶融ノ・ロダン化銀中に
浸漬して製造できる。また特開昭52−142584号
によれば、他の態様が開示されている。即ち、有用な金
属/金属塩(%にA g/’A gX ; Xは)・ロ
ゲン原子)参照電極要素は、写真フィルムの製造に常用
される技法を用いて製造できる。
に依存して可変であるが、好ましくは適用徽は0.01
〜2.05’/m2である。・・ロゲン化銀層として形
成させるノ・ロゲン化銀としては塩化銀、臭化銀、沃化
銀かめる。捷だ電気分解法、更にまた銀の層をワイヤー
、箔または支持した薄層として溶融ノ・ロダン化銀中に
浸漬して製造できる。また特開昭52−142584号
によれば、他の態様が開示されている。即ち、有用な金
属/金属塩(%にA g/’A gX ; Xは)・ロ
ゲン原子)参照電極要素は、写真フィルムの製造に常用
される技法を用いて製造できる。
前記の如くしてハロゲン化銀層をオーバーコートできる
有用な銀層は次のようにして製造した。
有用な銀層は次のようにして製造した。
すなわち、ポリエチレンテレフタレート支持体に細粒塩
化銀−ゼラチン乳剤の層を通常の写真フィルム製造技法
により、塩化銀として銀2.02g/m”そしてゼラチ
ン95Iil;l/m のカバレジで塗布した。
化銀−ゼラチン乳剤の層を通常の写真フィルム製造技法
により、塩化銀として銀2.02g/m”そしてゼラチ
ン95Iil;l/m のカバレジで塗布した。
次いでその塩化銀層を、Kodak Develope
r D −19として知られている標準的な白黒現像液
中で室温日光条件下で5分盾現像した。この層を充分水
洗し乾燥した後、前記の如く塩化銀乳剤でオーバーコー
トした方法である。これら何れかの方法でハロゲン化処
理された電極膜の上に必要に応じて電位安定化のだめの
参照電解質層が従来公知の方法で設けることが出来る。
r D −19として知られている標準的な白黒現像液
中で室温日光条件下で5分盾現像した。この層を充分水
洗し乾燥した後、前記の如く塩化銀乳剤でオーバーコー
トした方法である。これら何れかの方法でハロゲン化処
理された電極膜の上に必要に応じて電位安定化のだめの
参照電解質層が従来公知の方法で設けることが出来る。
参照電解質層の形成については、特開昭52−1425
84番、米国特許第4.214.968号および特開昭
57−17852号明細誉記載の技術を用いることが出
来る。イオン選択層は、特定のイオンを選択することが
でき、このイオン選択層も、従来公知の方法で設けるこ
とができる。例えば、イオンキャリヤーを溶媒に溶解さ
せたものをバインダー溶液中に塗布、乾燥させる。イオ
ンキャリヤー濃度は、一般に0.05y〜109/m2
、イオン選択層の厚さは、約6μm〜約125μm、好
ましくは5μm〜50μmである。
84番、米国特許第4.214.968号および特開昭
57−17852号明細誉記載の技術を用いることが出
来る。イオン選択層は、特定のイオンを選択することが
でき、このイオン選択層も、従来公知の方法で設けるこ
とができる。例えば、イオンキャリヤーを溶媒に溶解さ
せたものをバインダー溶液中に塗布、乾燥させる。イオ
ンキャリヤー濃度は、一般に0.05y〜109/m2
、イオン選択層の厚さは、約6μm〜約125μm、好
ましくは5μm〜50μmである。
本発明のイオン選択電極は被検液および標準液体がとも
に水性液体であるので、イオン選択層は水不溶性でなけ
ればならない。イオン選択層は水不溶性であれば親水性
でも疎水性でもよいが、好ましくけ疎水性である。
に水性液体であるので、イオン選択層は水不溶性でなけ
ればならない。イオン選択層は水不溶性であれば親水性
でも疎水性でもよいが、好ましくけ疎水性である。
本発明によるイオン選択電極を構成する物質としては、
この分野において公知の電極に使用されているものと同
じ物質を使用することができる。
この分野において公知の電極に使用されているものと同
じ物質を使用することができる。
まず、本発明のイオン選択電極の金属層に使用される好
ましい導電性金属例としては前記の特許明細書等に開示
□されている銀、白金、パラジウム、 ′金、ニッ
ケル、銅、アルミニウム、インジウムがある。
ましい導電性金属例としては前記の特許明細書等に開示
□されている銀、白金、パラジウム、 ′金、ニッ
ケル、銅、アルミニウム、インジウムがある。
導電性層を、箔、フィルム、支持体上の薄層として使用
する時は、一般に約50 nmから約50μmの範囲の
厚さであることが望ましい。支持体としては、電極の他
の部分を支持することができ、電気絶縁性で電気的に不
活性な性質をもつ材料から構成できるものであれば、そ
の材料には特別の制限はなく、広く公知の材料から選択
して用いるコトができる。好ましいのは、セルロースア
セテート、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネ
ート、ポリスチレン等の膜形成性ポリマーから構成した
ものである。支持体は、一般に約0.05ないし0.5
mの厚さに形成するのが望ましい。
する時は、一般に約50 nmから約50μmの範囲の
厚さであることが望ましい。支持体としては、電極の他
の部分を支持することができ、電気絶縁性で電気的に不
活性な性質をもつ材料から構成できるものであれば、そ
の材料には特別の制限はなく、広く公知の材料から選択
して用いるコトができる。好ましいのは、セルロースア
セテート、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネ
ート、ポリスチレン等の膜形成性ポリマーから構成した
ものである。支持体は、一般に約0.05ないし0.5
mの厚さに形成するのが望ましい。
イオン選択層として最も典型的なものは、イオンキャリ
ヤー、イオンキャリヤー溶媒および疎水性有機バインダ
ー(または、疎水性有機バインダーからなるマトリクス
)から成るものである。イオンキャリヤーとしてはパリ
ノマイシン、環式ポリエーテル、テトララクトン、マク
ロリビアクチン、エンニナチン群、モネンシン類、グラ
ミシジン類、ノナクチン群、テトラフェニルボレート、
環式ポリハプテト9等がある。
ヤー、イオンキャリヤー溶媒および疎水性有機バインダ
ー(または、疎水性有機バインダーからなるマトリクス
)から成るものである。イオンキャリヤーとしてはパリ
ノマイシン、環式ポリエーテル、テトララクトン、マク
ロリビアクチン、エンニナチン群、モネンシン類、グラ
ミシジン類、ノナクチン群、テトラフェニルボレート、
環式ポリハプテト9等がある。
イオンキャリヤー溶媒としてはプロモフェニルノエニル
エーテル、3−メトキシフェニルフェニルエーテル、4
−メトキシフェニルフェニルエーテル、ジメチルフタレ
ート、ジブチルフタレート、ジオクチルフタレート、ジ
オクチルフェニルホスフェート、ビス(2−エチルヘキ
ノル)7タレート、オクチルジフェニルホスフェート、
トリトリルホスフェート、ジブチルセパケート等がある
。
エーテル、3−メトキシフェニルフェニルエーテル、4
−メトキシフェニルフェニルエーテル、ジメチルフタレ
ート、ジブチルフタレート、ジオクチルフタレート、ジ
オクチルフェニルホスフェート、ビス(2−エチルヘキ
ノル)7タレート、オクチルジフェニルホスフェート、
トリトリルホスフェート、ジブチルセパケート等がある
。
疎水性M機バインダーとしては薄膜を形成し得る疎水性
の天然又は合成高分子、例えば、セルロースエステル、
ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニルデン、ポリアクリロニ
トリル、ポリウレタン、ポリカルボネート、塩化ビニル
、酢酸ビニルコホリマー等がある。
の天然又は合成高分子、例えば、セルロースエステル、
ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニルデン、ポリアクリロニ
トリル、ポリウレタン、ポリカルボネート、塩化ビニル
、酢酸ビニルコホリマー等がある。
イオンキャリヤー、イオンキャリヤ溶媒、疎水性有機バ
インダー、およびそれらからなるイオン選択層は、特開
昭52−142584、米国特許第40 ’53381
号、則第4171246号、同第4214968号各明
細書および「ReseachDlsclosurej誌
報文416113(1977年9月号)に記載の物質お
よび技術を用いることができる。
インダー、およびそれらからなるイオン選択層は、特開
昭52−142584、米国特許第40 ’53381
号、則第4171246号、同第4214968号各明
細書および「ReseachDlsclosurej誌
報文416113(1977年9月号)に記載の物質お
よび技術を用いることができる。
イオン選択層の材料として、イオン交換体を使用するこ
ともできる。イオン交換体を用いる場合には、イオン変
換により、イオン含有溶液中のイオン活性変化により生
じた電位差応答を測定することになる。
ともできる。イオン交換体を用いる場合には、イオン変
換により、イオン含有溶液中のイオン活性変化により生
じた電位差応答を測定することになる。
イオン交換体は、カチオン性、アニオン性のいずれであ
ってもよい。本発明に使用しうる適当なイオン交換体及
びこれらを用いるイオン選択層の形成は、特開昭48−
82897(特公昭52−47717)に詳述されてい
る。
ってもよい。本発明に使用しうる適当なイオン交換体及
びこれらを用いるイオン選択層の形成は、特開昭48−
82897(特公昭52−47717)に詳述されてい
る。
また、イオン選択層については、測定するイオ7ヵエ、
K■、5a(−9、Ca2■、Hco3Of7)m合K
U必須なものであるが、測定するイオンがGtθであり
、電極が金属層として銀からなり、水不溶性金属塩層と
して塩化銀からなる構成をとる場合には、イオン選択層
は不賛である。その代りとして、セルロースエステル(
例、ttf、セルロースアセテートブチレート、セルロ
ースアセテートプロピオネート、加水分解されたセルロ
ースアセテートブチレート等やそれらの混合エステル)
などの特開昭55−89741に記載の物質;特開昭5
3−72622や同54−1684に記載のラテックス
等から形成される層を、被検イオン透過性の保農層とし
て設けてもよい。本明細書ではこの被検イオン透過性の
保護層もイオン選択層に含める。
K■、5a(−9、Ca2■、Hco3Of7)m合K
U必須なものであるが、測定するイオンがGtθであり
、電極が金属層として銀からなり、水不溶性金属塩層と
して塩化銀からなる構成をとる場合には、イオン選択層
は不賛である。その代りとして、セルロースエステル(
例、ttf、セルロースアセテートブチレート、セルロ
ースアセテートプロピオネート、加水分解されたセルロ
ースアセテートブチレート等やそれらの混合エステル)
などの特開昭55−89741に記載の物質;特開昭5
3−72622や同54−1684に記載のラテックス
等から形成される層を、被検イオン透過性の保農層とし
て設けてもよい。本明細書ではこの被検イオン透過性の
保護層もイオン選択層に含める。
ブリッジも従来タイプの三層トリラミネートで形成され
たものを用いる事もできるがまた、本発明者等によって
先に提案(特願昭56−112030号)した中間層の
多孔性層表面が疎水性を有し上部層を無くした部材も用
いられる。例えば合成ポリマー繊維からなる・ぞルプと
植物性天然繊維からなるパルプの混抄紙、合成ポリマー
繊維からなる・ぜルプから抄造した紙、合成ポリマー繊
維と植物性天然繊維とからなる混紡織物、植物性天然繊
維からなる平織物、セルロースエステルまたは再生セル
ロースからなる平均孔径2am以下のメンブランフィル
タ−、ニトロセルロースを含ム平均孔径10μm以下の
メンブランフィルタ−1および植物性天然繊維からなる
パルプから抄造し圧縮した紙である。更にナイロン糸の
ようなものも有効に使える。
たものを用いる事もできるがまた、本発明者等によって
先に提案(特願昭56−112030号)した中間層の
多孔性層表面が疎水性を有し上部層を無くした部材も用
いられる。例えば合成ポリマー繊維からなる・ぞルプと
植物性天然繊維からなるパルプの混抄紙、合成ポリマー
繊維からなる・ぜルプから抄造した紙、合成ポリマー繊
維と植物性天然繊維とからなる混紡織物、植物性天然繊
維からなる平織物、セルロースエステルまたは再生セル
ロースからなる平均孔径2am以下のメンブランフィル
タ−、ニトロセルロースを含ム平均孔径10μm以下の
メンブランフィルタ−1および植物性天然繊維からなる
パルプから抄造し圧縮した紙である。更にナイロン糸の
ようなものも有効に使える。
本発明のイオン選択電極においては、ただ単にスクラッ
チを行なうことによって簡単に連続した同一物性の金属
層を絶縁された一対の金属層とすることができ、更に別
に複数のスクラッチを行なうことにより一対の金属層の
組が複数個形成でき、これに酸化・ハロゲン化処理およ
びイオン選択層または保護層を積層することKより複数
個の独立し、且つ連続したイオン選択電極群が容易に形
成できることである。
チを行なうことによって簡単に連続した同一物性の金属
層を絶縁された一対の金属層とすることができ、更に別
に複数のスクラッチを行なうことにより一対の金属層の
組が複数個形成でき、これに酸化・ハロゲン化処理およ
びイオン選択層または保護層を積層することKより複数
個の独立し、且つ連続したイオン選択電極群が容易に形
成できることである。
このような電極群よりなるイオン選択電極は物性も均一
で敗扱いも容易、しかも製造工程も簡単で低コスト等の
メリットも有する。以上の記述ではスクラッチが金属層
形成直後に行われ、その上に設けられるハロゲン化金属
層でスクラッチによるエツジ部が絶縁化処理されたが、
他の態様では、最外層形成前、すなわち・・ロゲン化金
属層、または電解質層積層直後に金属層をへだてるよう
にスクラッチを行ってもよい。また、更に他の態様では
最外層形成後に最外層上よりスクラッチして金属層を切
り離してもよい。但し、この場合、ズリツ:)K滴下さ
れた液が多孔性部材の表面を溢流する所謂外部ブリッジ
ングを防止するための手段が講じられる事が望ましい。
で敗扱いも容易、しかも製造工程も簡単で低コスト等の
メリットも有する。以上の記述ではスクラッチが金属層
形成直後に行われ、その上に設けられるハロゲン化金属
層でスクラッチによるエツジ部が絶縁化処理されたが、
他の態様では、最外層形成前、すなわち・・ロゲン化金
属層、または電解質層積層直後に金属層をへだてるよう
にスクラッチを行ってもよい。また、更に他の態様では
最外層形成後に最外層上よりスクラッチして金属層を切
り離してもよい。但し、この場合、ズリツ:)K滴下さ
れた液が多孔性部材の表面を溢流する所謂外部ブリッジ
ングを防止するための手段が講じられる事が望ましい。
本発明のイオン選択電極の製造は、長尺な絶縁性支持体
から作る場合を記載したが、長尺な支持体を横に並べた
ような直方形支持体から電極対毎に裁断して形成するこ
ともできる。また、上述の記述では4層またFi3層積
層構造の電極について記載したが、特開昭48−828
97号公報に開示されている金属層とイオン選択層から
なる2層積層の電極も用いることもできる。
から作る場合を記載したが、長尺な支持体を横に並べた
ような直方形支持体から電極対毎に裁断して形成するこ
ともできる。また、上述の記述では4層またFi3層積
層構造の電極について記載したが、特開昭48−828
97号公報に開示されている金属層とイオン選択層から
なる2層積層の電極も用いることもできる。
第1図は4層積層構造よりなるイオン選択電極を示す1
実施例を示す外観図、 第2図はイオン活量の測定法を示す説明図、第3図は本
発明者により先に提案されたイオン活量測定器具の平面
図およびその使用方法を説明する平面図、 第4図はスクラッチによる様子を示すイオン選択電極の
断面図、 第5a図は本発明の1実施例を示す平面図、第5b図は
そのA−A’線で示す部分断面図、第5C図はその斜視
図である。 1・・・電気絶縁性支持体、2・・・金属層、6・・・
水不溶性金属塩層、4・・・電解質層、5・・・イオン
選択層、 6・・・電気接続端子部、7・・・水不
透過性支持層、8・・・多孔性部材、10・・・イオン
選択電極、 11・・・溝、15・・・被検液、
16・・・標準液、17.18・・・液点着孔
、 19・・・ブリッジ、20・・・電位差計 第 1 図 第 2 図 七 II 3.a 図 第 3−b 図
114図
実施例を示す外観図、 第2図はイオン活量の測定法を示す説明図、第3図は本
発明者により先に提案されたイオン活量測定器具の平面
図およびその使用方法を説明する平面図、 第4図はスクラッチによる様子を示すイオン選択電極の
断面図、 第5a図は本発明の1実施例を示す平面図、第5b図は
そのA−A’線で示す部分断面図、第5C図はその斜視
図である。 1・・・電気絶縁性支持体、2・・・金属層、6・・・
水不溶性金属塩層、4・・・電解質層、5・・・イオン
選択層、 6・・・電気接続端子部、7・・・水不
透過性支持層、8・・・多孔性部材、10・・・イオン
選択電極、 11・・・溝、15・・・被検液、
16・・・標準液、17.18・・・液点着孔
、 19・・・ブリッジ、20・・・電位差計 第 1 図 第 2 図 七 II 3.a 図 第 3−b 図
114図
Claims (5)
- (1) 電気絶縁性支持体上に少なくも金属層および
イオン選択層を積層するイオン選択電極よりなるイオン
活量測定器具において、少なくも前記金属層が縦横にス
クラッチされた溝で分けられ、各片が電気的に絶縁され
た複数個の独立した電極群よりなることを特徴とするイ
オン活量測定器具。 - (2)前記金属層と前記イオン選択層の間に前記金属層
の金属と同種の金属の水不溶性塩よりなる層が積層され
てなる特許請求の範囲第1項記載のイオン活量測定器具
。 - (3) 前記金属層と前記イオン選択層の間に前記金
属層の金属と同種の金属の水不溶性塩よりなる層および
参照電解質層が積層されてなる特許請求の範囲第1項記
載のイオン活量測定器具。 - (4)前記溝が前記電気絶縁性支持体の一部に達してい
る特許請求の範囲第1項から第3項の何れか1項に記載
のイオン活量測定器具。 - (5)最外層が形成される直前に当該層上よりスクラッ
チされ前記溝が設けられる特許請求の範囲第1項から第
6項の何れか1項に記載のイオン活量測定器具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7531582A JPS58193449A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | イオン活量測定器具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7531582A JPS58193449A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | イオン活量測定器具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58193449A true JPS58193449A (ja) | 1983-11-11 |
Family
ID=13572695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7531582A Pending JPS58193449A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | イオン活量測定器具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58193449A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03291557A (ja) * | 1989-12-26 | 1991-12-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | イオン選択性電極及びそれを用いたイオン活量測定素子 |
WO1999064849A1 (fr) * | 1998-06-05 | 1999-12-16 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Appareil de mesure de l'activite ionique |
-
1982
- 1982-05-07 JP JP7531582A patent/JPS58193449A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03291557A (ja) * | 1989-12-26 | 1991-12-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | イオン選択性電極及びそれを用いたイオン活量測定素子 |
WO1999064849A1 (fr) * | 1998-06-05 | 1999-12-16 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Appareil de mesure de l'activite ionique |
US6903335B1 (en) | 1998-06-05 | 2005-06-07 | Arkray, Inc. | Ion activity-measuring device and method for producing the same |
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