JPS58171676A - インパルス電圧測定装置 - Google Patents
インパルス電圧測定装置Info
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- JPS58171676A JPS58171676A JP5382582A JP5382582A JPS58171676A JP S58171676 A JPS58171676 A JP S58171676A JP 5382582 A JP5382582 A JP 5382582A JP 5382582 A JP5382582 A JP 5382582A JP S58171676 A JPS58171676 A JP S58171676A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
Landscapes
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- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電力または信号伝達回路中のインパルス電圧
の振幅を測定する装置に関する。
の振幅を測定する装置に関する。
電力伝達路、あるいは信号伝送路には伝送しようとする
対象の電力あるいは信号のほかに、雑音等の意図しない
電圧がインパルスの形にて入り込む場合がある。このイ
ンパルス電圧は送電線メ落雷や誘導電に起因するものの
ほか、電磁接触器や電磁バルブなど誘導性負荷を電磁I
Iシレーどを用いた駆動回路で動作させる場合に発生す
ることは衆知のとおりであり、とくに、最近はエレクト
ロニクスの普及に伴ない、弱電回路と強電回路とが近接
して設置される場合が増えており、この場合に、強電回
路中の誘導性負荷の0N10FF時に発生するインパル
ス電圧が導体あるいは空間の静電容量を通じ、または電
磁誘導によって弱電回路に入りこみ、これを誤動作させ
ることがある。
対象の電力あるいは信号のほかに、雑音等の意図しない
電圧がインパルスの形にて入り込む場合がある。このイ
ンパルス電圧は送電線メ落雷や誘導電に起因するものの
ほか、電磁接触器や電磁バルブなど誘導性負荷を電磁I
Iシレーどを用いた駆動回路で動作させる場合に発生す
ることは衆知のとおりであり、とくに、最近はエレクト
ロニクスの普及に伴ない、弱電回路と強電回路とが近接
して設置される場合が増えており、この場合に、強電回
路中の誘導性負荷の0N10FF時に発生するインパル
ス電圧が導体あるいは空間の静電容量を通じ、または電
磁誘導によって弱電回路に入りこみ、これを誤動作させ
ることがある。
このインパルス電圧は1通常数マイクロ秒から数ミIJ
秒のパルス幅を持つため、通常の電圧計なでは検知不可
能であり、普通はブラウン管オツシロスコープを対象回
路に接続して、インパルス電圧の存在の検知あるいは計
測を行っている。
秒のパルス幅を持つため、通常の電圧計なでは検知不可
能であり、普通はブラウン管オツシロスコープを対象回
路に接続して、インパルス電圧の存在の検知あるいは計
測を行っている。
コ(7)オツシロスコープによる計測の問題点は、オツ
シロスコープはその形状と重量のため1人間が携行する
には不便であることである。またオツシロスコープはか
なりの正確さでインパルス電圧の振幅を捕えることがで
きるが、一般にはインパルス電圧に対しては、その大き
さの概略値を知ることができれば充分なことが多い。す
なわち、一般的にこの種の電圧を測定するのは、電子回
路の設置に際し電子回路を誤動作させる大きさのインパ
ルス電圧t;発生しているか否かを調べて、発生してい
る場合にその対策を立てるためであり、パルス電圧の精
密な測定は無意味である。
シロスコープはその形状と重量のため1人間が携行する
には不便であることである。またオツシロスコープはか
なりの正確さでインパルス電圧の振幅を捕えることがで
きるが、一般にはインパルス電圧に対しては、その大き
さの概略値を知ることができれば充分なことが多い。す
なわち、一般的にこの種の電圧を測定するのは、電子回
路の設置に際し電子回路を誤動作させる大きさのインパ
ルス電圧t;発生しているか否かを調べて、発生してい
る場合にその対策を立てるためであり、パルス電圧の精
密な測定は無意味である。
インパルス電圧を計測する。もうひとつの代表的な方法
として、第1図に示すところの、微分回路1と、演算増
幅器を主体として構成したピークホールド回路2と、電
圧指示回路3を組合せて成る回路を用いるものがある。
として、第1図に示すところの、微分回路1と、演算増
幅器を主体として構成したピークホールド回路2と、電
圧指示回路3を組合せて成る回路を用いるものがある。
この回路は、微分回路の出力をピークホールド回路に加
え、ピークホールド回路後端のコンデンサ22を演算増
幅器21により急速に充電させ、このコンデンサの電圧
ヲ何らかの表示手段(例えば直流電圧計)により指示さ
せるものであるが、ピークホールド回路用の演算項11
11i器21は極めて高性能なものが要求され、この方
式は一般には高価となる。何故なら、ここに使用される
演算増幅6は高スリューレートを有し、負荷のコンデン
サを急速に充電するとで必要な充分な出力電流をとれる
ものでなければならず、コンデンサの放電を少なくする
ため、入力バイアス電流も極めて少ないもの≠2要求さ
れるからであ6° 巷 本発明は上記の点にかんがみ、溝帯用劾で安価なインパ
ルス電圧測定装置を提供するものである。
え、ピークホールド回路後端のコンデンサ22を演算増
幅器21により急速に充電させ、このコンデンサの電圧
ヲ何らかの表示手段(例えば直流電圧計)により指示さ
せるものであるが、ピークホールド回路用の演算項11
11i器21は極めて高性能なものが要求され、この方
式は一般には高価となる。何故なら、ここに使用される
演算増幅6は高スリューレートを有し、負荷のコンデン
サを急速に充電するとで必要な充分な出力電流をとれる
ものでなければならず、コンデンサの放電を少なくする
ため、入力バイアス電流も極めて少ないもの≠2要求さ
れるからであ6° 巷 本発明は上記の点にかんがみ、溝帯用劾で安価なインパ
ルス電圧測定装置を提供するものである。
本発明の概念を第2図に示すブロック線図にて説明する
。第2図の回路は電圧分子回路を含む入力(電圧微分)
回路(以後微分回路とぎう)1と。
。第2図の回路は電圧分子回路を含む入力(電圧微分)
回路(以後微分回路とぎう)1と。
基準電比発生回路(以後電圧発生回路とどう)4と、こ
れらの電圧の大小を比較するtlf比較回路(以後比較
回路とざう)5と、比較回路の出力にて駆動されるメモ
11回路6と、メモリ回路の出力聾 の状樽を表示するだめの表示回路7と、メモリ回路をリ
セットさせるためのリセット回路8と、こ・れらの回路
を動作させるための電源9とをその構成要素としている
。
れらの電圧の大小を比較するtlf比較回路(以後比較
回路とざう)5と、比較回路の出力にて駆動されるメモ
11回路6と、メモリ回路の出力聾 の状樽を表示するだめの表示回路7と、メモリ回路をリ
セットさせるためのリセット回路8と、こ・れらの回路
を動作させるための電源9とをその構成要素としている
。
この回路の動作について説明すると、微分回路1の入力
端子11と基準端子(図示せず)との間に印加されたイ
ンパルス電圧(振幅EEj、 )t−含むに 分圧された結果の電圧#七iを比較回路5に供給し、こ
こで電圧発生回路4の出力電圧Esと比較験 されて、f13j、>Esの場合に、比較回路5出力が
発生し、後段のメモリ回路6に記憶され、メモ1回路6
の出力変化(記憶内容)を表示回路7にて表示する。リ
セット回路8はメモリ回路6の状態を変化前の状態に復
帰させるために使用される。
端子11と基準端子(図示せず)との間に印加されたイ
ンパルス電圧(振幅EEj、 )t−含むに 分圧された結果の電圧#七iを比較回路5に供給し、こ
こで電圧発生回路4の出力電圧Esと比較験 されて、f13j、>Esの場合に、比較回路5出力が
発生し、後段のメモリ回路6に記憶され、メモ1回路6
の出力変化(記憶内容)を表示回路7にて表示する。リ
セット回路8はメモリ回路6の状態を変化前の状態に復
帰させるために使用される。
このように本発明は微分回路1を用いて入力電圧よりイ
ンパルス電圧E1を取り出し、その電圧を比較回路5を
用いて基準電圧Esと比較し、−瞬の比較回路出力の変
化をメモリ回路6にて記憶し、そのメモリ回路の状aを
表示回路7にて表示することをその骨子としている。1
1セット回路8と電源9とは本発明においては補助的な
ものである。
ンパルス電圧E1を取り出し、その電圧を比較回路5を
用いて基準電圧Esと比較し、−瞬の比較回路出力の変
化をメモリ回路6にて記憶し、そのメモリ回路の状aを
表示回路7にて表示することをその骨子としている。1
1セット回路8と電源9とは本発明においては補助的な
ものである。
第1図の回路を用いると、表示回路7の表示が変化すべ
く入力されたインパルス電圧E1については、BEi、
>Esであり、表示回路7の表示が変化しない場合には
、AEi≦Esであるから、例えば基準電圧11Gsを
変化させ、Ks、の場合1表示が変化せず、Es、とし
たとき表示が変化したとすれば。
く入力されたインパルス電圧E1については、BEi、
>Esであり、表示回路7の表示が変化しない場合には
、AEi≦Esであるから、例えば基準電圧11Gsを
変化させ、Ks、の場合1表示が変化せず、Es、とし
たとき表示が変化したとすれば。
EEs、≧iE:L)Es、・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1)と
なり、インパルス電圧E1の存在する電圧区間を知り得
る。基準電圧を固定とし、分圧比8t−可変としても、
同様にElの電圧区間を知り得ることは言うまでもない
。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1)と
なり、インパルス電圧E1の存在する電圧区間を知り得
る。基準電圧を固定とし、分圧比8t−可変としても、
同様にElの電圧区間を知り得ることは言うまでもない
。
このように本発明によれば、アナログ的記憶手段である
ところの、演算増幅器を用いたピークホールド回路とア
ナログ−デジタル変換器の組合せによる回路を用いるこ
となく、極めて容易にインパルス電圧の範囲を知り得る
。
ところの、演算増幅器を用いたピークホールド回路とア
ナログ−デジタル変換器の組合せによる回路を用いるこ
となく、極めて容易にインパルス電圧の範囲を知り得る
。
本発明の具体的実施例のうち、最も簡単なものを第3図
に示す。第3図において、入力点11と基準点12との
間に測定対象回路(線路)が接続される。その対象電圧
中のインパルス電圧はコンデンサー3と抵抗器14より
なる微分回路 1により微分され、その振幅はほとんど
変らずにパルス成分のみ抵抗器140両端に取り出され
る。このインパルス電圧E1は、必要に応じ抵抗器14
1゜142にて示す分圧回路により分圧されて、つぎの
電圧比較回路5の1万に印加される。ここで、微分回路
1に仕分圧器を必要に応じ使用するとしたのは、一般に
、電子回路にて使用する信号電圧よりインパルス電圧の
方が大きい場合が多いからである。
に示す。第3図において、入力点11と基準点12との
間に測定対象回路(線路)が接続される。その対象電圧
中のインパルス電圧はコンデンサー3と抵抗器14より
なる微分回路 1により微分され、その振幅はほとんど
変らずにパルス成分のみ抵抗器140両端に取り出され
る。このインパルス電圧E1は、必要に応じ抵抗器14
1゜142にて示す分圧回路により分圧されて、つぎの
電圧比較回路5の1万に印加される。ここで、微分回路
1に仕分圧器を必要に応じ使用するとしたのは、一般に
、電子回路にて使用する信号電圧よりインパルス電圧の
方が大きい場合が多いからである。
電圧比較回路5に入力された信号BEEiは電圧比較器
51により電圧発生回路4中の比較用基準電圧Esとそ
の電圧(振幅)を比較され、この回路では、BKi>E
Esの場合、電圧比較器51の出カポON(論理レベル
111)となり1次段の記に 憶回路6を動作させ、REi≦Esの場合は、電圧比較
器51の出力は0FF(論理レベル1o1)を保つ。
51により電圧発生回路4中の比較用基準電圧Esとそ
の電圧(振幅)を比較され、この回路では、BKi>E
Esの場合、電圧比較器51の出カポON(論理レベル
111)となり1次段の記に 憶回路6を動作させ、REi≦Esの場合は、電圧比較
器51の出力は0FF(論理レベル1o1)を保つ。
記憶回路6はDタイプフリップ70ツブ(以下D−FF
という)回路61により構成され、信号入力端子りは常
時論理レベル@11偶に接続され、61 ている。記憶回路入力信号62はD−FF回路鯰のクロ
ック入力信号端子Cに接続されており、この信号がON
になると、D−J’F回路61の出力頁65がローレベ
ル(論理レベルI o I )となり、ここに接続され
ている表示回路7中の発光ダイオード71が点灯する。
という)回路61により構成され、信号入力端子りは常
時論理レベル@11偶に接続され、61 ている。記憶回路入力信号62はD−FF回路鯰のクロ
ック入力信号端子Cに接続されており、この信号がON
になると、D−J’F回路61の出力頁65がローレベ
ル(論理レベルI o I )となり、ここに接続され
ている表示回路7中の発光ダイオード71が点灯する。
D −F’ F回路61にはリセット信号端子64があ
り、この端子に接続されている抵抗器81とはねかえり
式スイッチ82より構成されるリセット回路8により、
D−FF回路61はインパルス計測前にあらかじめリセ
ットされる。リセットされた状態ではD−FF回路61
の出力頁63はONの状態にあるので発光ダイオード7
1は消灯の状態にある。この回路の主要アクティブ素子
は電圧比較器1個とD−FF回路1個であり、&めて低
電力で動作可能である。
り、この端子に接続されている抵抗器81とはねかえり
式スイッチ82より構成されるリセット回路8により、
D−FF回路61はインパルス計測前にあらかじめリセ
ットされる。リセットされた状態ではD−FF回路61
の出力頁63はONの状態にあるので発光ダイオード7
1は消灯の状態にある。この回路の主要アクティブ素子
は電圧比較器1個とD−FF回路1個であり、&めて低
電力で動作可能である。
上記実施例では、記憶回路入力信号62をD−FF回路
梓のクロック入力信号端子Cに接続されているが、これ
には次の利点がある。通常この櫨のFF’回路のクロッ
ク入力端子には第4図(3)に示されるような1定周期
tのクロックパルスCPが印加され、信号入力端子Dv
cはF’F内に記憶すべき入力信号が印加される。そし
て、クロックパルスCPが入力されたタイミングでの端
子りに印加されている入力信号がFF内に記憶され、同
時に出力端子Qにその記憶内容が出力される(端子互か
らは端子Qの信号の反転信号が出力される)。
梓のクロック入力信号端子Cに接続されているが、これ
には次の利点がある。通常この櫨のFF’回路のクロッ
ク入力端子には第4図(3)に示されるような1定周期
tのクロックパルスCPが印加され、信号入力端子Dv
cはF’F内に記憶すべき入力信号が印加される。そし
て、クロックパルスCPが入力されたタイミングでの端
子りに印加されている入力信号がFF内に記憶され、同
時に出力端子Qにその記憶内容が出力される(端子互か
らは端子Qの信号の反転信号が出力される)。
今仮に、インパルス電圧E1とクロックパルスCPの発
生タイミングが第4図の状態とする。同図(1X3)を
みるとインパルス電圧−REiが基準電圧ESt−越え
るタイミングではクロックパルスcpI5:発生してい
ない。従って実際には基準電圧を越えるインパルス電圧
が発生しているにもかかわらず。
生タイミングが第4図の状態とする。同図(1X3)を
みるとインパルス電圧−REiが基準電圧ESt−越え
るタイミングではクロックパルスcpI5:発生してい
ない。従って実際には基準電圧を越えるインパルス電圧
が発生しているにもかかわらず。
D−FF回路にはその旨を記憶することができないこと
になる。本実施例では前記のように構成されているので
、比較回路5の出力信号(記憶回路の入力信号62)が
クロックパルスの役目をしてト シリ、インパルス電圧REiが基準電圧を越えた(比較
回路から論理レベル@1″信号が発生した)タイミング
で入力端子りの信号を記憶し、同時に出力端予電に低レ
ベル(論理レベル101)信号を発生する。従って、イ
ンパルス電圧が基準電圧を越えるタイミングに係わりな
く、正確に即座にインパルス電圧のレベルを表示するこ
とができ。
になる。本実施例では前記のように構成されているので
、比較回路5の出力信号(記憶回路の入力信号62)が
クロックパルスの役目をしてト シリ、インパルス電圧REiが基準電圧を越えた(比較
回路から論理レベル@1″信号が発生した)タイミング
で入力端子りの信号を記憶し、同時に出力端予電に低レ
ベル(論理レベル101)信号を発生する。従って、イ
ンパルス電圧が基準電圧を越えるタイミングに係わりな
く、正確に即座にインパルス電圧のレベルを表示するこ
とができ。
信頼性を損うことがない。
また、上記比較回路を介さずに直接クロック入力端子C
にインパIレス等の雑音が入力されたときも、この旨を
表示することができる。
にインパIレス等の雑音が入力されたときも、この旨を
表示することができる。
第3図に示す回路は、インパルス電圧E1を電圧Es/
!! と、1点のみについて行なうものであるが、イン
パルス電圧Eiが、繰り返し入力される場合には、例え
ばKSを順次変えて行き、その都度表示回路の出力を見
るなどの方法を採用することにより、インパルス電圧の
振幅を知ることができる。
!! と、1点のみについて行なうものであるが、イン
パルス電圧Eiが、繰り返し入力される場合には、例え
ばKSを順次変えて行き、その都度表示回路の出力を見
るなどの方法を採用することにより、インパルス電圧の
振幅を知ることができる。
第5図に本発明の他の実施例を示す。この図は第3図に
示す回路の電圧比較器とD−FF回路とを複数個C本例
でld4個)設けたもので、電圧比較器の比較用基準電
圧−8sはそれぞれ違えてあり、ここでは1gs、 −
g、 、 EES、〜2E、 、 ES、 −3E、
、 Es、−4E、となるように与えている。これらの
基準電圧は、実際には電圧比較器入力抵抗より充分低い
抵抗器群による分圧回路により供給可能である。
示す回路の電圧比較器とD−FF回路とを複数個C本例
でld4個)設けたもので、電圧比較器の比較用基準電
圧−8sはそれぞれ違えてあり、ここでは1gs、 −
g、 、 EES、〜2E、 、 ES、 −3E、
、 Es、−4E、となるように与えている。これらの
基準電圧は、実際には電圧比較器入力抵抗より充分低い
抵抗器群による分圧回路により供給可能である。
第5図に示す回路は、上述の説明から明かなよ(2)発
光ダイオード711のみ点灯で発光ダイオード712〜
714不点灯ならbe<甘Ei≦2E、、 (3)発光ダイオード711,712点灯で発光ダイオ
ルドア13.フ14不点灯なら2E、<歇E1≦3E、
、 (4)発行ダイオード711〜713点灯でに 発行ダイオード714不点灯なら31D、(JEi≦4
E。
光ダイオード711のみ点灯で発光ダイオード712〜
714不点灯ならbe<甘Ei≦2E、、 (3)発光ダイオード711,712点灯で発光ダイオ
ルドア13.フ14不点灯なら2E、<歇E1≦3E、
、 (4)発行ダイオード711〜713点灯でに 発行ダイオード714不点灯なら31D、(JEi≦4
E。
(5)全部の発行ダイオード点灯ならa E、 (曾E
j:と、インパルス電圧E1の範囲を5区分することが
できる。これから判るように、一般に電圧比較器とD−
FF回路との組合せをN個使用すれば、インパルス電圧
の値′t−N千1区分の詳しさで知ることが可能である
。この実施例では、ある表示回路が駆動されたとき、そ
れ以丁の電圧で駆動されるべき表示回路が全て駆動され
るので、インパルス電圧を表示器(発光ダイオード)で
直線状に表示することができ、見易くなる。なお、第5
図ではリセット回路の図示を略しである。
j:と、インパルス電圧E1の範囲を5区分することが
できる。これから判るように、一般に電圧比較器とD−
FF回路との組合せをN個使用すれば、インパルス電圧
の値′t−N千1区分の詳しさで知ることが可能である
。この実施例では、ある表示回路が駆動されたとき、そ
れ以丁の電圧で駆動されるべき表示回路が全て駆動され
るので、インパルス電圧を表示器(発光ダイオード)で
直線状に表示することができ、見易くなる。なお、第5
図ではリセット回路の図示を略しである。
最近の集積回路製作技術によれば、極めて低電力で動作
する高集積の電圧比較器とD−FF回路を入手すること
ができるので、上述のNを実用的な4白星16程度とす
る回路を作成しても、その回路はトランジスタラジオ用
程度の電池で動作させることが可能である。
する高集積の電圧比較器とD−FF回路を入手すること
ができるので、上述のNを実用的な4白星16程度とす
る回路を作成しても、その回路はトランジスタラジオ用
程度の電池で動作させることが可能である。
第6図は本発明に使用される微分回路に使用される分圧
回路にブIJツジ整流回路143を組み込み、インパル
ス電圧の計測を、正負両極性電圧に対し、可能としたも
のである。第3図および第5図に述べた実施例では正極
性のインパルス電圧のみしか計測できず、実際にはイン
パルス[圧は正負いずれの極性で発生するか不明であり
、また計測値の極性も問題としないことが多いので、こ
の第6図に示すブリッジ回路付の分圧回路を持つ微分回
路は極めて実用的であると言える。
回路にブIJツジ整流回路143を組み込み、インパル
ス電圧の計測を、正負両極性電圧に対し、可能としたも
のである。第3図および第5図に述べた実施例では正極
性のインパルス電圧のみしか計測できず、実際にはイン
パルス[圧は正負いずれの極性で発生するか不明であり
、また計測値の極性も問題としないことが多いので、こ
の第6図に示すブリッジ回路付の分圧回路を持つ微分回
路は極めて実用的であると言える。
前記実施例は、急激な立上りを持つインパルス電圧を測
定することを目的としたものであるが、第7図に示すよ
うに、微分回路を構成するコンデンサ13を通さずに対
象電圧を抵抗器14に印加する端子15をも併設すると
、一般の直流、交流電圧のピーク値や、極めて緩慢に変
化し微分回路にて検出不可能なサージ電圧ピーク値をも
測定できる機能をも併せ持つことになる。なお、第8図
に示すように入力端子16を1個のみ設け、切換スイッ
チ17により、対象電圧を抵抗器14に直接印加、ある
いはコンデンサ13を通じて印加のいずれかを選択でき
るようにしてもこの機能は変らない。この場合被測定線
路のバイアス電圧が高い場合、コンデンサ13t−介し
た方が安全である。
定することを目的としたものであるが、第7図に示すよ
うに、微分回路を構成するコンデンサ13を通さずに対
象電圧を抵抗器14に印加する端子15をも併設すると
、一般の直流、交流電圧のピーク値や、極めて緩慢に変
化し微分回路にて検出不可能なサージ電圧ピーク値をも
測定できる機能をも併せ持つことになる。なお、第8図
に示すように入力端子16を1個のみ設け、切換スイッ
チ17により、対象電圧を抵抗器14に直接印加、ある
いはコンデンサ13を通じて印加のいずれかを選択でき
るようにしてもこの機能は変らない。この場合被測定線
路のバイアス電圧が高い場合、コンデンサ13t−介し
た方が安全である。
以上の実施例では記憶回路としてD−FF回路を用いた
ものを示したが、この記憶回路D−FF回路に限る必要
はなく、例えば第9図および第10図に示すようにN
A Dゲート101〜104やN6Rゲ一ト91〜94
′ft組合せたラッチ回路を用いても本発明の王旨は失
なわれない。第9図は第5図と同じく電圧比較器出力の
正方向の立上りを記憶する記憶回路を含む例であ6.g
to図¥igs図とは逆に電圧比較器出力の負方向への
変化を記憶する実施例である。すなわち、インパルス電
圧の入力端が第9図では比較器のマイナス入力端で第1
0図では比較器のプラス入力端となっている。
ものを示したが、この記憶回路D−FF回路に限る必要
はなく、例えば第9図および第10図に示すようにN
A Dゲート101〜104やN6Rゲ一ト91〜94
′ft組合せたラッチ回路を用いても本発明の王旨は失
なわれない。第9図は第5図と同じく電圧比較器出力の
正方向の立上りを記憶する記憶回路を含む例であ6.g
to図¥igs図とは逆に電圧比較器出力の負方向への
変化を記憶する実施例である。すなわち、インパルス電
圧の入力端が第9図では比較器のマイナス入力端で第1
0図では比較器のプラス入力端となっている。
上記ラッチ回路の場合は、クロックパルスを用いないた
め、比較回路の出力信号の発生タイミングで記憶回路に
記憶されるため、比較器の出力を正確に記憶できる。
め、比較回路の出力信号の発生タイミングで記憶回路に
記憶されるため、比較器の出力を正確に記憶できる。
第11図にD−FFを記憶回路として用いたときの具体
的な回路図を示す。これは測定電圧を8段階のレベルに
分けて表示し得るように構成したものであり、スイッチ
S、によって抵抗142の半分を短絡することによって
最大520DVまで測定できる。C,−C,= 0.0
22μF 、 R,〜R,=I KΩ。
的な回路図を示す。これは測定電圧を8段階のレベルに
分けて表示し得るように構成したものであり、スイッチ
S、によって抵抗142の半分を短絡することによって
最大520DVまで測定できる。C,−C,= 0.0
22μF 、 R,〜R,=I KΩ。
R15代、−4,7にΩに設定されており、比較器51
〜58、インバータNINN、およびD−FF61〜6
8はICで構成される。発光ダイオードつ、8〜D8.
はアレー状に構成されたものを用いている。
〜58、インバータNINN、およびD−FF61〜6
8はICで構成される。発光ダイオードつ、8〜D8.
はアレー状に構成されたものを用いている。
入力回路1内の微分回路を構成するコンデンサ13は1
000PF、抵抗141は100にΩ、抵抗142は2
0旧に設定されている。Roは基準電圧調整用の可変抵
抗である。
000PF、抵抗141は100にΩ、抵抗142は2
0旧に設定されている。Roは基準電圧調整用の可変抵
抗である。
上記構成において、比較器51〜58はインパルス電圧
をそれのマイナス端子に印加されているが、各比較器の
出力を対応するインバータNl〜N、によって反転して
いるので、記憶回路は比較回路5の出力の正方向への変
化を記憶することになる。゛また、021〜028は予
備のためであり必ずしも取付ける必要はない。スイッチ
S、が投入されると電源用IC17805から電力が供
給される。次いでスイッチS5を押すと記憶回路はリセ
ット状態に設定され、インパルス電圧が測定可能となる
。この測定結果によりインパルス電圧が電子装置を誤動
作させる値である場合には、電子装置の設置に際し、設
置場所を変えるとかノイズフィルタ等を新たに設置る等
の対策が必要となる―第12図に第2の具体回路例を示
す。第11図と同一部分には同一符号を付して示す。こ
の例は第9図・1s10図示すと同様にラッチ回路を記
憶回路として用いたものである。久方回路1には保護用
のツェナーダイオードZDが挿入される。記憶回路91
〜98(工C)のエネーブル端子Eには電源のプラス側
が印加され、またS端子にはリセット入力信号が印加さ
れ、R入力端に比較回路の出力信号が印加されるように
構成されている。
をそれのマイナス端子に印加されているが、各比較器の
出力を対応するインバータNl〜N、によって反転して
いるので、記憶回路は比較回路5の出力の正方向への変
化を記憶することになる。゛また、021〜028は予
備のためであり必ずしも取付ける必要はない。スイッチ
S、が投入されると電源用IC17805から電力が供
給される。次いでスイッチS5を押すと記憶回路はリセ
ット状態に設定され、インパルス電圧が測定可能となる
。この測定結果によりインパルス電圧が電子装置を誤動
作させる値である場合には、電子装置の設置に際し、設
置場所を変えるとかノイズフィルタ等を新たに設置る等
の対策が必要となる―第12図に第2の具体回路例を示
す。第11図と同一部分には同一符号を付して示す。こ
の例は第9図・1s10図示すと同様にラッチ回路を記
憶回路として用いたものである。久方回路1には保護用
のツェナーダイオードZDが挿入される。記憶回路91
〜98(工C)のエネーブル端子Eには電源のプラス側
が印加され、またS端子にはリセット入力信号が印加さ
れ、R入力端に比較回路の出力信号が印加されるように
構成されている。
各実施例のように構成された測定装置は単体として、他
の電子装置の保守点検時に携帯してインパルス電圧の有
無を調べることができる。また。
の電子装置の保守点検時に携帯してインパルス電圧の有
無を調べることができる。また。
この測定装置は小形かつ安価に形成できるので。
他の電子装置(例えばシーケンスコントロー′y)に組
込むことができる。この場合、毎日定期的にあるいは、
電子装置の周囲の環境(他の電機の動作状況からみて最
もインパルス電圧の発生し易い時期に臨時に測定するこ
とd?でき、電子装置の動作信頼性を向上させることが
できる。
込むことができる。この場合、毎日定期的にあるいは、
電子装置の周囲の環境(他の電機の動作状況からみて最
もインパルス電圧の発生し易い時期に臨時に測定するこ
とd?でき、電子装置の動作信頼性を向上させることが
できる。
郷土の説明から明らかなように本発明によれば、任意の
線路あるいは回路中に含まれるインパルス電圧の概略f
i11r簡単な手段により極めて容易に計測することが
できるので1強電回路と共に弱電回路を設置するに際し
、適切な対策を対てることができ、その効果は大きい。
線路あるいは回路中に含まれるインパルス電圧の概略f
i11r簡単な手段により極めて容易に計測することが
できるので1強電回路と共に弱電回路を設置するに際し
、適切な対策を対てることができ、その効果は大きい。
第1図は従来例のブロック構成図、第2図は本発明の概
略を示すブロック構成図、第3図は第2図を具体的に示
す第1実施例のブロック線図、第4図は第3図番部の信
号波形図、第5図は同じく第2実施例のブロック線図、
第6図は久方回路の変形例を示す回路図、第7図は同じ
く他の変形例を示す回路図、第8図は第7図の変形例を
示す回路図、第9図はfJg3実施例の回路構成図、第
10図は第4実施例の回路構成図、第11図は実際の回
路例を示す#!5実施例の回路構成図、第12図は同じ
く第6実施例の回路構成図である。 1:入力回路、4:基準電圧測定回路、5:比較回路、
6:記憶回路、7:表示回路、Dロクロックパルス印加
端子、13,14:微分回路、1Z:切換回路%146
:電流回路。 図面の浄書(内容に変更なし) 第 1 図 )$ 2図 沸 3 図 浄5図 第6図 第7凹 第9 図 亮IQ 口 手続補正書(方式) ・11件の表示 昭和57年特許願第 j3825 号発明の名称 インパルス電圧測定装置 抽11:、をする者゛ ” 51 Q印、式会月 11 立 製 作 折代
表 n ′、[1勝 茂 代 理 人
略を示すブロック構成図、第3図は第2図を具体的に示
す第1実施例のブロック線図、第4図は第3図番部の信
号波形図、第5図は同じく第2実施例のブロック線図、
第6図は久方回路の変形例を示す回路図、第7図は同じ
く他の変形例を示す回路図、第8図は第7図の変形例を
示す回路図、第9図はfJg3実施例の回路構成図、第
10図は第4実施例の回路構成図、第11図は実際の回
路例を示す#!5実施例の回路構成図、第12図は同じ
く第6実施例の回路構成図である。 1:入力回路、4:基準電圧測定回路、5:比較回路、
6:記憶回路、7:表示回路、Dロクロックパルス印加
端子、13,14:微分回路、1Z:切換回路%146
:電流回路。 図面の浄書(内容に変更なし) 第 1 図 )$ 2図 沸 3 図 浄5図 第6図 第7凹 第9 図 亮IQ 口 手続補正書(方式) ・11件の表示 昭和57年特許願第 j3825 号発明の名称 インパルス電圧測定装置 抽11:、をする者゛ ” 51 Q印、式会月 11 立 製 作 折代
表 n ′、[1勝 茂 代 理 人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 t 外部信号を受けてこの信号を降圧処理する゛入力回
路、基準電圧を発生する基準電圧発生回路。 上記入力回路からの出力信号と上記基準電圧とを比較す
る比較回路、上記比較回路の出力信号を受けて比較結果
を記憶する記憶回路、上記記憶回路の出力に基づいてそ
の記憶内容を表示する表示回路を備え、上記比較回路の
出力信号がこの出力信号の発生タイミングで上記記憶回
路に記憶されてなるインパルス電圧測定装置。 2、上記基準電圧発生回路は複数種の電圧を発生するよ
うに構成され、上記比較回路は複数の基準電圧にそれぞ
れ設定された複数個からなり、上記記憶回路は各比較器
の出力を記憶すべく各比較器に対応して複数個配置され
てなる特許請求の範囲第1項記載のインパルス電圧測定
装置。 1 上記記憶回路はクロックパルスの印加タイミングで
記憶する記憶素子からなり、上記比較回路の出力信号−
lに、上記記憶回路のクロックパルス印加端子に供給さ
れるように出力巌を接続してなる特許請求の範囲第1項
、または第2項記載のインパルス電圧測定装置。 4、上記入力回路は微分回路を含み、外部信号の交流成
分のみ上記比較器に供給するように構成されてなる特許
請求の範囲第1項、または第2項または第6項記載のイ
ンパルス電圧測定装置。 5、上記入力回路は、外部信号の直流成分と交流成分の
いづれか一方を取込む切換スイッチを有してなる特許請
求の範囲第1項、または第2項または第6項、または第
4項記載のインパルス電圧測定装置。 & 上記入力回路は外部信号を整流する整流回路を有し
てなる特許請求の範囲第1項、または第2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5382582A JPS58171676A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | インパルス電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5382582A JPS58171676A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | インパルス電圧測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58171676A true JPS58171676A (ja) | 1983-10-08 |
Family
ID=12953563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5382582A Pending JPS58171676A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | インパルス電圧測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58171676A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07244079A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-09-19 | Fluke Corp | グリッチ・トリガ回路 |
JP2021096089A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | 株式会社東芝 | 電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5524656A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-21 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Electronic watch |
-
1982
- 1982-04-02 JP JP5382582A patent/JPS58171676A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5524656A (en) * | 1978-08-11 | 1980-02-21 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Electronic watch |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07244079A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-09-19 | Fluke Corp | グリッチ・トリガ回路 |
JP2021096089A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | 株式会社東芝 | 電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器 |
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