JPS5815767B2 - ヒカリビ−ムソウサホセイコウガクケイ - Google Patents
ヒカリビ−ムソウサホセイコウガクケイInfo
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- JPS5815767B2 JPS5815767B2 JP49045284A JP4528474A JPS5815767B2 JP S5815767 B2 JPS5815767 B2 JP S5815767B2 JP 49045284 A JP49045284 A JP 49045284A JP 4528474 A JP4528474 A JP 4528474A JP S5815767 B2 JPS5815767 B2 JP S5815767B2
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- light beam
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
- G02B26/125—Details of the optical system between the polygonal mirror and the image plane
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
- G02B27/0031—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration for scanning purposes
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は回転多面鏡式光ビーム走査器に於ける回転多面
鏡の傾きによる走査光のズレを補正する装置に関する。
鏡の傾きによる走査光のズレを補正する装置に関する。
回転多面鏡による光走査法により画像を表現する場合一
般的に第1図に示す様な光学系を使う。
般的に第1図に示す様な光学系を使う。
第1図に於て、光源1からの光線2は回転多面鏡3上に
て反射し投影レンズ4を経て、走査面5上にて結像する
。
て反射し投影レンズ4を経て、走査面5上にて結像する
。
走査面5上で、光線2が回転多面鏡30回転により走査
される方向をy軸に、このy軸と垂直方向にy軸が取っ
である。
される方向をy軸に、このy軸と垂直方向にy軸が取っ
である。
以下の説明において、y軸とy軸は総て前記の関係を満
たすものとする。
たすものとする。
光源1からの光線2は、回転多面鏡30反射面が前記光
線2に対して垂直に正しく位置しているならば、走査面
5上のX軸上を走査される。
線2に対して垂直に正しく位置しているならば、走査面
5上のX軸上を走査される。
しかし実際上は回転多面鏡の軸を正しく製作及び調整す
ることが困難である。
ることが困難である。
すなわち回転多面鏡の回転軸又は反射面が所定の回転軸
又は反射面の位置に対して傾きが生じ、光線2は結像面
5上でy軸方向に位置ずれを生じる。
又は反射面の位置に対して傾きが生じ、光線2は結像面
5上でy軸方向に位置ずれを生じる。
この上記位置ずれをなくし、良質の光走査を行なう為の
従来の方法としては、機械的に回転多面鏡の反射面の傾
きを極度になくす方法や、前記y軸方向に対して回転反
射鏡上にフォーカスを取ることで、鏡面の傾きに関係な
く前記走査面5のX軸上に常に結像する装置(特開昭4
8−49315)がある。
従来の方法としては、機械的に回転多面鏡の反射面の傾
きを極度になくす方法や、前記y軸方向に対して回転反
射鏡上にフォーカスを取ることで、鏡面の傾きに関係な
く前記走査面5のX軸上に常に結像する装置(特開昭4
8−49315)がある。
しかし前者は装置を製作する上で非常に製作精度が必要
とされるので作り難く、又後者は回転反射鏡の反射面上
に焦点を結ばせであるので、反射面上に傷などの欠陥が
あると光が散乱し、光量的に不利があるので、反射面の
面精度が非常に要求される。
とされるので作り難く、又後者は回転反射鏡の反射面上
に焦点を結ばせであるので、反射面上に傷などの欠陥が
あると光が散乱し、光量的に不利があるので、反射面の
面精度が非常に要求される。
そこで本発明は、回転多面鏡3に入射する光線2が走査
面5のX軸上を走査される時、回転多面鏡3の傾きによ
り走査面5上における光線2がy軸方向へ移動する感度
を低下させることにより、極力走査された光線の走査方
向と直交する方向へのゆらぎを押さえ、回転反射鏡30
反射面に於ける精度もあまり必要とせず、製作上容易な
装置を提供するものである。
面5のX軸上を走査される時、回転多面鏡3の傾きによ
り走査面5上における光線2がy軸方向へ移動する感度
を低下させることにより、極力走査された光線の走査方
向と直交する方向へのゆらぎを押さえ、回転反射鏡30
反射面に於ける精度もあまり必要とせず、製作上容易な
装置を提供するものである。
以下本発明につし・て詳述する。
第2図A、Bは本発明の原理を示す図であり、第2図A
は第1図示光学系の平面図を、第2図Bは第1図示光学
系の正面図を表わしている。
は第1図示光学系の平面図を、第2図Bは第1図示光学
系の正面図を表わしている。
図中、6は投影レンズ光学系の光軸、7は走査面5のX
軸と同方向の成分を有する投影レンズ光学系3のX軸方
向成分の後側主平面、8は同じくy軸方向成分の後側主
平面であり、9,10はそれぞれの前側主平面を表わし
ている。
軸と同方向の成分を有する投影レンズ光学系3のX軸方
向成分の後側主平面、8は同じくy軸方向成分の後側主
平面であり、9,10はそれぞれの前側主平面を表わし
ている。
fxは投影レンズ系4のX軸方向の成分を持つ焦点距離
、fyは同じくy軸方向の成分を持つ焦点距離である。
、fyは同じくy軸方向の成分を持つ焦点距離である。
θXは回転反射鏡3で反射された直後の光線2と前記光
軸6が前記X軸方向成分に於いてなす角で、走査方向の
角度を示し、θyは光線2と光軸6が前記y方向成分に
於いてなす角で、回転反射鏡3が回転する際に生じる面
の倒れ、製作上の誤差などにより生じる角度誤差である
。
軸6が前記X軸方向成分に於いてなす角で、走査方向の
角度を示し、θyは光線2と光軸6が前記y方向成分に
於いてなす角で、回転反射鏡3が回転する際に生じる面
の倒れ、製作上の誤差などにより生じる角度誤差である
。
投影レンズ系に光線2をX軸、y軸方向に対する入射角
を各々θX、θyを入射させると、走査面5上でのスポ
ット位置X、Yは光軸6と結像面が交わる点を原点とし
て取れば X=fxtanθX Y=fxtanθy XとYの変動量の比を取れば となる。
を各々θX、θyを入射させると、走査面5上でのスポ
ット位置X、Yは光軸6と結像面が交わる点を原点とし
て取れば X=fxtanθX Y=fxtanθy XとYの変動量の比を取れば となる。
ここでfy/fxの比を小さく取れば、例えば投影レン
ズ系4のy軸方向成分の焦点距離を短くしてやれば、X
軸方向の走査に対してy軸方向の倒れなどによる感度を
ゆるくすることができる。
ズ系4のy軸方向成分の焦点距離を短くしてやれば、X
軸方向の走査に対してy軸方向の倒れなどによる感度を
ゆるくすることができる。
従って投影レンズ光学系の走査方向(X軸方向)の焦点
距離fx と、前記走査方向と直交する方向、即ち傾れ
補正方向(Y軸方向)の焦点距離fy とが fx > fy なる条件を有していれば傾れ補正ができるのである。
距離fx と、前記走査方向と直交する方向、即ち傾れ
補正方向(Y軸方向)の焦点距離fy とが fx > fy なる条件を有していれば傾れ補正ができるのである。
次に走査面上での走査ビーム(以下走査スポットと呼ぶ
)の形状に関して述べる。
)の形状に関して述べる。
通常走査スポットの形状は走査の目的に応じて円形又は
欄内形が多用されている。
欄内形が多用されている。
走査面上に於けるスポットの形状を決定する要因として
は、前記投影レンズ光学系3のX軸方向及びY軸方向の
Fナンバーがある。
は、前記投影レンズ光学系3のX軸方向及びY軸方向の
Fナンバーがある。
投影レンズ光学系3のX軸及びY軸方向の焦点が走査面
5上に結像されている時前記投影レンズ光学系のX軸方
向のFナンバーをFx、Y軸方向のFナンバーをFyと
すると走査面上でのスポットの形状は、 (i)Fx>Fy の場合はX軸方向に長く、Y軸方向
に短い欄内形 曲)Fx=Fyの場合は円形 (iii)Fx=Fyの場合はX軸方向に短く、Y軸方
向に長い欄内形 となる。
5上に結像されている時前記投影レンズ光学系のX軸方
向のFナンバーをFx、Y軸方向のFナンバーをFyと
すると走査面上でのスポットの形状は、 (i)Fx>Fy の場合はX軸方向に長く、Y軸方向
に短い欄内形 曲)Fx=Fyの場合は円形 (iii)Fx=Fyの場合はX軸方向に短く、Y軸方
向に長い欄内形 となる。
走査面上での走査線の間隔を埋める為に走査線の幅を走
査ピッチの幅又はそれよりも広くする必要がしばしば生
ずる。
査ピッチの幅又はそれよりも広くする必要がしばしば生
ずる。
この様な場合は上述の曲)で述べた様に走査スポットの
形状は走査方向(X軸方向)の幅は短かく、走査方向と
は垂直な方向(Y軸方向)の幅を広くし、故意に走査面
上に於ける走査スポットのX軸方向とY軸方向のFナン
バーの値を違える。
形状は走査方向(X軸方向)の幅は短かく、走査方向と
は垂直な方向(Y軸方向)の幅を広くし、故意に走査面
上に於ける走査スポットのX軸方向とY軸方向のFナン
バーの値を違える。
次に本発明の一実施例として走査スポットの形状が円形
になる場合に関して述べる。
になる場合に関して述べる。
走査スポットの形状を円形にするには、上述した様に以
上の条件が必要になる。
上の条件が必要になる。
第2図A、Bを併用して説明すると、
(I) 投影レンズ系4のX、y方向のバックフォー
カス位置、即ち投影レンズ系4のX軸方向成分の後側主
平面7からfxの距離を取った位置と、同じく投影レン
ズ系4のy軸方向成分の後側主平面8からfyの距離を
取った位置が同じ走査面上になることである。
カス位置、即ち投影レンズ系4のX軸方向成分の後側主
平面7からfxの距離を取った位置と、同じく投影レン
ズ系4のy軸方向成分の後側主平面8からfyの距離を
取った位置が同じ走査面上になることである。
これは上述した様にfx>fyなる条件の下に於いては
シリンドリカルレンズの様な縦方向と横方向に於いて主
平面の異なる様なレンズを用いてやれば満足できる条件
である。
シリンドリカルレンズの様な縦方向と横方向に於いて主
平面の異なる様なレンズを用いてやれば満足できる条件
である。
(II) 走査面上に於いて前記スポットのX軸方向
、y軸方向のFナンバー(口径/焦点距離)Fx。
、y軸方向のFナンバー(口径/焦点距離)Fx。
Fyをそれぞれ等しくしなげればならない。
これは投影レンズ系に入射する光束のX軸方向、y軸方
向の幅(口径)の比wx/wyを投影レンズ系の焦点距
離の比fX/fyに等しくとればwx : wy =
fx : fy となる。
向の幅(口径)の比wx/wyを投影レンズ系の焦点距
離の比fX/fyに等しくとればwx : wy =
fx : fy となる。
故にとなり、前記スポットを円形に保つことができる。
以上の条件を満足する本発明に於ける走査スポットの形
状を円形にする場合の光学系の一実施例の概略を表わす
平面図を第3図Aに同じく正面図を第3図Bに示す。
状を円形にする場合の光学系の一実施例の概略を表わす
平面図を第3図Aに同じく正面図を第3図Bに示す。
第3図A 、Bに於いて11は入射光束、12は凹レン
ズ、13は凸レンズ、14.15,16,17はシリン
ドリカルレンズ、18は凸レンズ、19は走査面、20
は投影レンズ系16.17,18のX軸方向成分の後側
主平面、21は同じ(投影レンズ系16,17,18の
y軸方向成分の後側主平面でありfx + fyはそれ
ぞれ投影レンズ系16,17,18のX軸方向、y軸方
向の焦点距離で、FX、Fy も同様に投影レンズ系の
X軸方向、y軸方向のFナンバーである。
ズ、13は凸レンズ、14.15,16,17はシリン
ドリカルレンズ、18は凸レンズ、19は走査面、20
は投影レンズ系16.17,18のX軸方向成分の後側
主平面、21は同じ(投影レンズ系16,17,18の
y軸方向成分の後側主平面でありfx + fyはそれ
ぞれ投影レンズ系16,17,18のX軸方向、y軸方
向の焦点距離で、FX、Fy も同様に投影レンズ系の
X軸方向、y軸方向のFナンバーである。
第3図Aに図示する如く光束11のX軸方向成分の変化
について述べると、断面が円形の平行入射光束11は凹
レンズ12によって拡大され凸レンズ13により平行光
束とされ、シリンドリカルレンズ14,15、反射面R
、シリンドリカルレンズ16.17等を光束幅の変化を
受けず通過し、凸レンズ18により走査面19上に結像
する。
について述べると、断面が円形の平行入射光束11は凹
レンズ12によって拡大され凸レンズ13により平行光
束とされ、シリンドリカルレンズ14,15、反射面R
、シリンドリカルレンズ16.17等を光束幅の変化を
受けず通過し、凸レンズ18により走査面19上に結像
する。
第3図Bに図示する如(y軸方向成分の変化に関して、
光束11は凹レンズ12により拡大され凸レンズ13に
より平行光束とされ、シリンドリカルレンズ14により
集光された後、シリンドリカルレンズ15により平行光
束とされ反射面Rを経てシリンドリカルレンズ16に入
射し再び光束幅を拡大され、シリンドリカルレンズ17
によって平行光束とされ凸レンズ18により走査面19
上に結像する。
光束11は凹レンズ12により拡大され凸レンズ13に
より平行光束とされ、シリンドリカルレンズ14により
集光された後、シリンドリカルレンズ15により平行光
束とされ反射面Rを経てシリンドリカルレンズ16に入
射し再び光束幅を拡大され、シリンドリカルレンズ17
によって平行光束とされ凸レンズ18により走査面19
上に結像する。
またシリンドリカルレンズを含む投影光学系16,17
,18を用いたことにより、投影光学系のy軸方向成分
の後側主平面21はX軸方向成分の後側主平面20に比
べて走査面19寄りに位置させることができるのでfx
>fyという関係を満足する。
,18を用いたことにより、投影光学系のy軸方向成分
の後側主平面21はX軸方向成分の後側主平面20に比
べて走査面19寄りに位置させることができるのでfx
>fyという関係を満足する。
条件■の投影光学系のバックフォーカスの合致に関して
は投影光学系内のシリンドリカルレンズ16,170曲
面部の曲率を変化させることで投影光学系のX軸方向成
分、y軸方向成分の後側主平面の位置や焦点距離を調節
することができ、それによってバックフォーカスの位置
を合わせることができる。
は投影光学系内のシリンドリカルレンズ16,170曲
面部の曲率を変化させることで投影光学系のX軸方向成
分、y軸方向成分の後側主平面の位置や焦点距離を調節
することができ、それによってバックフォーカスの位置
を合わせることができる。
次に条件■の投影光学系16.17,18のX軸方向y
軸方向のFナンバー、FX、Fyの合致に関しては光学
系内のに、L、Mのそれぞれの位置に於ける入射光束1
1の断面形状の変化を第3図Cに示しながら説明すると
上述した如く、円形(K点)の入射光束11はL点に於
いては拡大された欄内形の平行光束になっていて、この
形状のままで反射面Rで反射した後投影光学系16゜1
7.18に入射する。
軸方向のFナンバー、FX、Fyの合致に関しては光学
系内のに、L、Mのそれぞれの位置に於ける入射光束1
1の断面形状の変化を第3図Cに示しながら説明すると
上述した如く、円形(K点)の入射光束11はL点に於
いては拡大された欄内形の平行光束になっていて、この
形状のままで反射面Rで反射した後投影光学系16゜1
7.18に入射する。
L点に於ける光束の断面のX軸方向成分の大きさをLx
、y軸方向成分の大きさをLyとすると、光束はLx
: Ly=fx : fyとなる様に光学系12,13
,14,15を配し−も合致させることができる。
、y軸方向成分の大きさをLyとすると、光束はLx
: Ly=fx : fyとなる様に光学系12,13
,14,15を配し−も合致させることができる。
上記装置に於ける投影光学系16.17,18において
はシリンドリカルレンズ17と凸レンズ18の位置関係
は前後して設計されていても良い、又縦、横の光束幅の
異なった光束を得る為の前記光学系内のシリンドリカル
レンズ14,15を用いる代りに第4図示のプリズムを
用いることができる。
はシリンドリカルレンズ17と凸レンズ18の位置関係
は前後して設計されていても良い、又縦、横の光束幅の
異なった光束を得る為の前記光学系内のシリンドリカル
レンズ14,15を用いる代りに第4図示のプリズムを
用いることができる。
第4図Aは第3図示シリンドリカルレンズ14.15の
部分にプリズムPを用いた場合の平面図、第4図Bは同
じく正面図を示す。
部分にプリズムPを用いた場合の平面図、第4図Bは同
じく正面図を示す。
直径aの幅をもつ光束11は屈折率nのプリズム208
面に垂直に入射し同じくF面に入射角θiで入射し、出
射角θjでプリズムPから出射し反射面Rに垂直に入射
する様にプリズムを設置する。
面に垂直に入射し同じくF面に入射角θiで入射し、出
射角θjでプリズムPから出射し反射面Rに垂直に入射
する様にプリズムを設置する。
この場合走査方向であるX方向の出射光束は光束幅の影
響を受けず、X方向の出射光束めみが影響を受けてbの
光束幅となり、光束幅a、bの間には次の関係が成り立
つ にすることもできる。
響を受けず、X方向の出射光束めみが影響を受けてbの
光束幅となり、光束幅a、bの間には次の関係が成り立
つ にすることもできる。
以上述べた様に本発明の走査光学系に於いては回転走査
鏡に光束を平行もしくはほぼ平行の状態で入射させ、し
かる後に前記走査ビームを走査面上に投影させる投影レ
ンズ光学系に入射させる。
鏡に光束を平行もしくはほぼ平行の状態で入射させ、し
かる後に前記走査ビームを走査面上に投影させる投影レ
ンズ光学系に入射させる。
該投影レンズ光学系に於いては、回転反射鏡の反射面又
は回転軸の倒れによる走査ビームの振れを補正する方向
の焦点距離を走査方向の焦点距離よりも短かくすること
により商転鏡の倒れ補正を行う。
は回転軸の倒れによる走査ビームの振れを補正する方向
の焦点距離を走査方向の焦点距離よりも短かくすること
により商転鏡の倒れ補正を行う。
従って本発明は従来め倒れ補正光学系に比べ回転鏡に入
射するビームの径が大きい為、回転鏡の反射面上の表面
欠陥及び付着物による光束の散乱を小さく押えることが
出来又反射面上でのビームのエネルギー密度が低く去る
ので反射面を損傷することがない。
射するビームの径が大きい為、回転鏡の反射面上の表面
欠陥及び付着物による光束の散乱を小さく押えることが
出来又反射面上でのビームのエネルギー密度が低く去る
ので反射面を損傷することがない。
又、本発明は回転鏡の反射面に入射する光束が平行光宅
あるので、反射面上に結像される場合に比べると、回転
鏡の反射面がいかに回転しても該反射面から出射される
光束は平行光束であるので、回転鏡の回転に伴って走査
面上の走査スポットの集光状態に変化を生ぜず常に集光
度の良いスポット像が得られるなど、高速・高密度の走
査に適した高性能の光走査装置として優れた効果を有す
るものである。
あるので、反射面上に結像される場合に比べると、回転
鏡の反射面がいかに回転しても該反射面から出射される
光束は平行光束であるので、回転鏡の回転に伴って走査
面上の走査スポットの集光状態に変化を生ぜず常に集光
度の良いスポット像が得られるなど、高速・高密度の走
査に適した高性能の光走査装置として優れた効果を有す
るものである。
第1図は回転反射鏡による一般的な光走査を示す概略図
、第2図Aは本発明光ビーム走査補正光学系に於ける原
理を示す概略図の平面図、第2図Bは同じく正面図、第
3図Aは本発明光ビーム走査補正光学系の第一実施例の
平面図、第3図Bは同じく正面図、第3図Cは本発明光
ビーム走査補正光学系内の光束の変化を示す断面図、第
4図Aは本発明光ビーム走査補正光学系の第二実施例の
平面図、第4図Bは同じく正面図。 1・・・・・・光源、2・・五・光線、3・・・・・・
回転反射鏡、4・・・・・・投影光学系、5・・・・・
・結像面、6・・・・・・光軸、7.8・・・・・・後
側主平面、9,10・・・・・・前側主平面、11・・
・・・・光束、12・・・・・・凹レンズ、13,18
・・・・・・凸レンズ、14,15,16,17・・・
・・・シリンドリカルレンズ、19・・・・・・結像面
、20.21・・・・・・後側主平面、fx 、f7・
・・・・・焦点距離、Fx 。 Fy・・・・・・Fナンバー。
、第2図Aは本発明光ビーム走査補正光学系に於ける原
理を示す概略図の平面図、第2図Bは同じく正面図、第
3図Aは本発明光ビーム走査補正光学系の第一実施例の
平面図、第3図Bは同じく正面図、第3図Cは本発明光
ビーム走査補正光学系内の光束の変化を示す断面図、第
4図Aは本発明光ビーム走査補正光学系の第二実施例の
平面図、第4図Bは同じく正面図。 1・・・・・・光源、2・・五・光線、3・・・・・・
回転反射鏡、4・・・・・・投影光学系、5・・・・・
・結像面、6・・・・・・光軸、7.8・・・・・・後
側主平面、9,10・・・・・・前側主平面、11・・
・・・・光束、12・・・・・・凹レンズ、13,18
・・・・・・凸レンズ、14,15,16,17・・・
・・・シリンドリカルレンズ、19・・・・・・結像面
、20.21・・・・・・後側主平面、fx 、f7・
・・・・・焦点距離、Fx 。 Fy・・・・・・Fナンバー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光線走査装置と、該光線走査装置に平行光束を入射
させる第1光学系と、前記光線走査装置からの光束を走
査面上に集光させる第2光学系とからなる光ビーム走査
光学系において、第2光学系の走査方向の光束を集束さ
せるための光学系の焦点距離より、走査方向と直交方向
の光束を集束させるための光学系の焦点距離を短かくし
且つ前記第2光学系の走査方向及び走査方向と直交する
方向の各々の焦点位置を前記走査面と合致せしめた事を
特徴とする光ビーム走査補正光学系。 2 光線走査装置と、該光線走査装置に平行光束を入射
させる第1光学系と、前記光線走査装置からの光束を走
査面上に集光させる第2光学系とからなる光ビーム走査
光学系において、前記第2光学系の走査方向と直交する
方向の光束を集束させるための焦点距離は、走査方向の
光束を集束させるための焦点距離より短かく、前記走査
方向と走査方向と直交する方向での第2光学系の焦点位
置は前記走査面と合致し、且つ前記第2光学系の直交す
る方向における焦点距離の比と、前記第1光光学系から
入射する光束幅の縦方向と横方向の比がほぼ等しいこと
を特徴とする光ビーム走査補正光学系。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49045284A JPS5815767B2 (ja) | 1974-04-22 | 1974-04-22 | ヒカリビ−ムソウサホセイコウガクケイ |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP49045284A JPS5815767B2 (ja) | 1974-04-22 | 1974-04-22 | ヒカリビ−ムソウサホセイコウガクケイ |
Publications (2)
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JPS50137752A JPS50137752A (ja) | 1975-11-01 |
JPS5815767B2 true JPS5815767B2 (ja) | 1983-03-28 |
Family
ID=12714998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP49045284A Expired JPS5815767B2 (ja) | 1974-04-22 | 1974-04-22 | ヒカリビ−ムソウサホセイコウガクケイ |
Country Status (2)
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JPS60642B2 (ja) * | 1976-06-16 | 1985-01-09 | 株式会社日立製作所 | 光走査装置 |
DE2834085A1 (de) * | 1977-08-05 | 1979-02-15 | Canon Kk | Optisches abtastsystem |
JPS54126051A (en) * | 1978-03-23 | 1979-09-29 | Ricoh Co Ltd | Anamorphic f lens system |
JPS6052409B2 (ja) * | 1978-10-19 | 1985-11-19 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビ−ム走査装置 |
US4866459A (en) * | 1987-02-27 | 1989-09-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image scanner with a non-spherical fθ lens system |
DE3833727A1 (de) * | 1988-10-04 | 1990-04-05 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische abtastvorrichtung |
Citations (1)
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-
1975
- 1975-04-22 DE DE19752517821 patent/DE2517821C3/de not_active Expired
Patent Citations (1)
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JPS4928355A (ja) * | 1972-07-05 | 1974-03-13 |
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