JPS58153941A - 電子写真用光導電部材 - Google Patents
電子写真用光導電部材Info
- Publication number
- JPS58153941A JPS58153941A JP57036918A JP3691882A JPS58153941A JP S58153941 A JPS58153941 A JP S58153941A JP 57036918 A JP57036918 A JP 57036918A JP 3691882 A JP3691882 A JP 3691882A JP S58153941 A JPS58153941 A JP S58153941A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- atoms
- photoconductive
- photoconductive member
- amorphous
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims abstract description 57
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 claims abstract description 54
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 200
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 82
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 26
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 17
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 15
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 13
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 12
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- -1 etc. Chemical group 0.000 description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical group [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 4
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N nitrogen dioxide Inorganic materials O=[N]=O JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 4-(3,5-dimethylphenyl)-1,3-thiazol-2-amine Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C=2N=C(N)SC=2)=C1 MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 3
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 2
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 2
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- LZDSILRDTDCIQT-UHFFFAOYSA-N dinitrogen trioxide Inorganic materials [O-][N+](=O)N=O LZDSILRDTDCIQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N nitrogen oxide Inorganic materials O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052990 silicon hydride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 2-(3-phenylmethoxyphenyl)-1,3-thiazole-4-carbaldehyde Chemical compound O=CC1=CSC(C=2C=C(OCC=3C=CC=CC=3)C=CC=2)=N1 OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N Cloperastine hydrochloride Chemical compound Cl.C1=CC(Cl)=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)OCCN1CCCCC1 UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GVGLGOZIDCSQPN-PVHGPHFFSA-N Heroin Chemical compound O([C@H]1[C@H](C=C[C@H]23)OC(C)=O)C4=C5[C@@]12CCN(C)[C@@H]3CC5=CC=C4OC(C)=O GVGLGOZIDCSQPN-PVHGPHFFSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 240000007476 Pseudomussaenda flava Species 0.000 description 1
- 241000270666 Testudines Species 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N borane Chemical compound B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010277 boron hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical group [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 210000000554 iris Anatomy 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001363 water suppression through gradient tailored excitation Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
- G03G5/08242—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers at least one with varying composition
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
- G03G5/08228—Silicon-based comprising one or two silicon based layers at least one with varying composition
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光−1可視光
線、赤外光線e X@* r線等を示す)の様な電磁波
に感受性のある光導m部材に関する。
線、赤外光線e X@* r線等を示す)の様な電磁波
に感受性のある光導m部材に関する。
固体撮像装置、或いはIl形成分野における電子写真用
像形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する
光導電材料としては、高感度で、SN比〔光電流(I、
) /暗電流(1直)〕が高く、照射する電磁波のスペ
クトル特性に!ツチングした嶽収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が連(、所望の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無公害であるこり、更に
は固体撮倫装置においては、残像を所定時間内に容品に
処理することができること等の特性が要求される。殊に
、事務機としてオフィスで使用される電子写真直間六に
組込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使
用時における無公害性は重要な点である。
像形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する
光導電材料としては、高感度で、SN比〔光電流(I、
) /暗電流(1直)〕が高く、照射する電磁波のスペ
クトル特性に!ツチングした嶽収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が連(、所望の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無公害であるこり、更に
は固体撮倫装置においては、残像を所定時間内に容品に
処理することができること等の特性が要求される。殊に
、事務機としてオフィスで使用される電子写真直間六に
組込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使
用時における無公害性は重要な点である。
この様な点に立脚して最近注目されている光導電材料に
ア七ルファスシ92ン(以m5−8tト表記す)があり
、例えば独国公開第2746967号公報、同第285
5718号公報には電子写真用像形成部材として、独国
公iIa第2935411号公報には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
ア七ルファスシ92ン(以m5−8tト表記す)があり
、例えば独国公開第2746967号公報、同第285
5718号公報には電子写真用像形成部材として、独国
公iIa第2935411号公報には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
面乍ら、従来のa−8iで構成された光導電層を有する
光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的
、光学的、光導電的特性、及び使用環境特性の点、更に
は経時的安定性及び耐久性の点において、各々、個々に
は特性の向上が計られているが総合的な特性向上を計る
上で更に改良される余地が存するのが実情である。
光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的
、光学的、光導電的特性、及び使用環境特性の点、更に
は経時的安定性及び耐久性の点において、各々、個々に
は特性の向上が計られているが総合的な特性向上を計る
上で更に改良される余地が存するのが実情である。
例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合に、高光
感度化、高晴抵抗化を同時に針ろうとすると従来におい
てはその使用時において残留電位が残る場合が度々観測
され、この種の光導電部材は長時間繰返し使用し続ける
と、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像が生ず
る所謂ゴースト現象を発するIIIKなる等の不都合な
点が少なくなかった。
感度化、高晴抵抗化を同時に針ろうとすると従来におい
てはその使用時において残留電位が残る場合が度々観測
され、この種の光導電部材は長時間繰返し使用し続ける
と、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像が生ず
る所謂ゴースト現象を発するIIIKなる等の不都合な
点が少なくなかった。
又、a−81材料で光導電層を構成する場合には、その
電気的、光導電的特性の改良を計るために、水素原子或
いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気伝
導側の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその他
の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として光
導電層中に含有されるが、これ等の構成原子のJ有の仕
方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や耐圧性に問題が生ずる場合があった。
電気的、光導電的特性の改良を計るために、水素原子或
いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気伝
導側の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその他
の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として光
導電層中に含有されるが、これ等の構成原子のJ有の仕
方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や耐圧性に問題が生ずる場合があった。
即ち、例えば、形成した光導電層中に光照射によって発
生したフオ)中ヤリTの該層中での寿命。
生したフオ)中ヤリTの該層中での寿命。
が充分でないことや暗部において、支持体側よりの電荷
の注入の阻止が充分でないこと、或いは、転写紙に転写
された画像に俗に「白翼ケ」と呼ばれる、局所的な放電
破壊風1aKよると思われる画像欠陥や、例えば、タリ
ー二ンダに、ブレードを用いるとそり摺擦によると思わ
れる、俗K「白スジ」と云われている所間画像欠陥が生
じたりしていた。又、多湿宴曲、、[、気中で使用した
り、或いは多湿雰囲気中に長時間放置した直後に使用す
ると俗に云う画像のボクが生ずる場合が少なくなかった
。
の注入の阻止が充分でないこと、或いは、転写紙に転写
された画像に俗に「白翼ケ」と呼ばれる、局所的な放電
破壊風1aKよると思われる画像欠陥や、例えば、タリ
ー二ンダに、ブレードを用いるとそり摺擦によると思わ
れる、俗K「白スジ」と云われている所間画像欠陥が生
じたりしていた。又、多湿宴曲、、[、気中で使用した
り、或いは多湿雰囲気中に長時間放置した直後に使用す
ると俗に云う画像のボクが生ずる場合が少なくなかった
。
更には、層厚が士数声以上になると層形成用の真空堆積
室より取り出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちになる。この現象は、殊に
支持体が通電、電子写真会費において使用されているド
ラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点に
おいて解決される可き点がある。
室より取り出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちになる。この現象は、殊に
支持体が通電、電子写真会費において使用されているド
ラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点に
おいて解決される可き点がある。
従って&−81材料そのものの特性改良が計られる一方
で光導電部材を設計する際に、上記した鎌な闘−の総て
が解決される様に工夫される必要がある。
で光導電部材を設計する際に、上記した鎌な闘−の総て
が解決される様に工夫される必要がある。
本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、a−81K
就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読取装置等
に使用される光導電部材としての適用性とその応用性と
いう一点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、シリ
コン原子を母体とし〜水嵩原子(H)又はハロゲン原子
(X)のいずれか一方を少なくとも含有するTI%ルフ
ァス材料、所s 水素化ア峰ルファスシリコン、ハロゲ
ン化ア峰ルファスシリコン、或いはハ四ゲン含有水素化
アモルファスシリコン〔以後これ等の総称的表記として
[a−81(H−X) Jを使用する〕から構成される
光導電層を有する光導電部材の層構成を以後に説明され
る様な特定化の下に設定されて作成された光導電部材は
実用上著しく優れた特性を示すばかりでな、<、従来の
光導電部材と較べてみて4あらゆる点において凌駕して
いること、殊に電子写真用の光導電部材として著しく優
れた特性を有していることを見出した点に基づいている
。
就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読取装置等
に使用される光導電部材としての適用性とその応用性と
いう一点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、シリ
コン原子を母体とし〜水嵩原子(H)又はハロゲン原子
(X)のいずれか一方を少なくとも含有するTI%ルフ
ァス材料、所s 水素化ア峰ルファスシリコン、ハロゲ
ン化ア峰ルファスシリコン、或いはハ四ゲン含有水素化
アモルファスシリコン〔以後これ等の総称的表記として
[a−81(H−X) Jを使用する〕から構成される
光導電層を有する光導電部材の層構成を以後に説明され
る様な特定化の下に設定されて作成された光導電部材は
実用上著しく優れた特性を示すばかりでな、<、従来の
光導電部材と較べてみて4あらゆる点において凌駕して
いること、殊に電子写真用の光導電部材として著しく優
れた特性を有していることを見出した点に基づいている
。
本発明は電気的、光学的、光導電的特性が使用環境に殆
んど依存なく実質的に常時安定しており、耐光疲労に著
しく長け、−返し使用に際しても劣化現象を起さず耐久
性、耐湿性に優れ、残留電位が全く又は殆んどll1i
iIされない光導電部材を提供することを主たる目的E
する。
んど依存なく実質的に常時安定しており、耐光疲労に著
しく長け、−返し使用に際しても劣化現象を起さず耐久
性、耐湿性に優れ、残留電位が全く又は殆んどll1i
iIされない光導電部材を提供することを主たる目的E
する。
本発明の他の目的は、支持体上に設けられる層と支持体
との間や積層される層の各層間における密着性に優れ、
構造配列的に緻密で安定的であり、層品質の高い光導電
部材を提供することである。
との間や積層される層の各層間における密着性に優れ、
構造配列的に緻密で安定的であり、層品質の高い光導電
部材を提供することである。
本発明の他の目的は、電子写真用像形成部材として適用
させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の’It
N保持能力が充分あり、通常の電子写真法が極めて有効
に適用され得る優れた電子写真特性を有する光導電部材
を提供することである@本発明の更に他の目的は、長期
の使用において―像欠陥や1働のボケが全くなく、s度
が高く、ハーフトーンが鮮明に出て且つ解倫度の高い、
高品質画像を得ることが容易にできる電子写真用の光導
電部材を提供することである。
させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の’It
N保持能力が充分あり、通常の電子写真法が極めて有効
に適用され得る優れた電子写真特性を有する光導電部材
を提供することである@本発明の更に他の目的は、長期
の使用において―像欠陥や1働のボケが全くなく、s度
が高く、ハーフトーンが鮮明に出て且つ解倫度の高い、
高品質画像を得ることが容易にできる電子写真用の光導
電部材を提供することである。
本発明の更にもう1つの目的は、高光#1度性。
高SN比特性及び為耐圧性を有する光導電部材を提供す
ることでもある◎ 本発明の光4電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を母体とし、好ましくは構成原子として水素原
子(H)又はハロゲン原子(X)のいずれか一方を少な
くとも含有する非晶質材料で構成され、光導電性を有す
る非晶質層とを有し、該非晶質層が、構成原子として、
層厚方向に不均一で連続的な分布状態で酸素原子が含有
されている第一の層領域(0)と、構成原子として、層
厚方向に連続的な分布状態で周期律表嬉厘族に属する原
子が含有され、非晶質層の表面下に内在している第二の
層領域(厘)とを有することを特徴とする。
ることでもある◎ 本発明の光4電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を母体とし、好ましくは構成原子として水素原
子(H)又はハロゲン原子(X)のいずれか一方を少な
くとも含有する非晶質材料で構成され、光導電性を有す
る非晶質層とを有し、該非晶質層が、構成原子として、
層厚方向に不均一で連続的な分布状態で酸素原子が含有
されている第一の層領域(0)と、構成原子として、層
厚方向に連続的な分布状態で周期律表嬉厘族に属する原
子が含有され、非晶質層の表面下に内在している第二の
層領域(厘)とを有することを特徴とする。
王妃した様な層構成を取る様にして設計された本発明の
光導電部材は、前記した諸問題の総てを解決し得、極め
て優れた電気的、光学的、光導電的特性、耐圧性及び使
用環境特性を示す。
光導電部材は、前記した諸問題の総てを解決し得、極め
て優れた電気的、光学的、光導電的特性、耐圧性及び使
用環境特性を示す。
殊に1電子写真用偉形成部材として適用させた場合には
、1iifIi形成への残留電位の影響が全くなく、そ
の電気的特性が安定しており、高感度で、高SN比を有
するものであって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、
濃度が高く、ノく−フ)−ンが鮮明に出て、且つ解倫変
の高い、高品質の画像を安定して繰返し得ることができ
る。
、1iifIi形成への残留電位の影響が全くなく、そ
の電気的特性が安定しており、高感度で、高SN比を有
するものであって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、
濃度が高く、ノく−フ)−ンが鮮明に出て、且つ解倫変
の高い、高品質の画像を安定して繰返し得ることができ
る。
又、本発明の光導電部材は支持体上に形成される非晶質
層が、層自体彊憶であって、且つ支持体との密着性に著
しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用する
ことが出来る。
層が、層自体彊憶であって、且つ支持体との密着性に著
しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用する
ことが出来る。
以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就て詳細K
m明する。
m明する。
t1111図は、本発明のIIIの夷−m*例の光導電
部材の層構成をJll!明するために模式的に示した模
式的構成図である。
部材の層構成をJll!明するために模式的に示した模
式的構成図である。
igI図に示す光導電部材100は、光導電部材用とし
ての支持体101ノ上、a−81(H,X) ipう成
り、光導電性を示す非晶質層102を有する。
ての支持体101ノ上、a−81(H,X) ipう成
り、光導電性を示す非晶質層102を有する。
非晶質層102は、該層の全層域を占め、構成原子とし
て酸素原子を含有する菖−の層領域(0)105、周期
律表嬉厘族に属する原子(嬉厘族原子)を含有する第二
の層領域(厘)104、及び第二の層領域(厘)104
上に、酸素原子は含有しているが嬉厘**子は含有され
てiない表面層領域105とから成る層構造を有する。
て酸素原子を含有する菖−の層領域(0)105、周期
律表嬉厘族に属する原子(嬉厘族原子)を含有する第二
の層領域(厘)104、及び第二の層領域(厘)104
上に、酸素原子は含有しているが嬉厘**子は含有され
てiない表面層領域105とから成る層構造を有する。
第一の層領域(0)105に含有される酸素原子は核層
領域(亀)105において層厚方向には連続的に分布し
、その分布状態は不均一とされるが、支持体101の表
面に実質的に平行な面内では連続的に且つ実質的Kjl
−に分布されるのが好會しいものである。
領域(亀)105において層厚方向には連続的に分布し
、その分布状態は不均一とされるが、支持体101の表
面に実質的に平行な面内では連続的に且つ実質的Kjl
−に分布されるのが好會しいものである。
[1図に示す光導電部材100は非晶質層102の表面
部分には第1に原子が含有されない層領域105が設け
である。
部分には第1に原子が含有されない層領域105が設け
である。
第二の層領域104中に含有される縞蓋族原子は、該層
領域104において層厚方向には連続的に分布し、その
分布状態は均一であり、且つ支持体101の表面に実質
的に平行な面内では連続的に且っ実質的に均−忙分布さ
れるのが好ましいものである。
領域104において層厚方向には連続的に分布し、その
分布状態は均一であり、且つ支持体101の表面に実質
的に平行な面内では連続的に且っ実質的に均−忙分布さ
れるのが好ましいものである。
本発明の光導電部材においては、第一の層領域。
(0)には−素原子の含有によって高崎抵抗化と、非晶
質層mが直接設けられる支持体との間の密着性の向上が
重点的に針られている。殊に、縞1図に示す光導電部材
ioo#)t*に非晶質層102が原子の含有されてい
ない表面層領域105とを有し、第一の層領域(0)1
05と第二の層領域(厘)1o4とが共有する層領域を
有する層構造の場合により良好な結果が得られる。
質層mが直接設けられる支持体との間の密着性の向上が
重点的に針られている。殊に、縞1図に示す光導電部材
ioo#)t*に非晶質層102が原子の含有されてい
ない表面層領域105とを有し、第一の層領域(0)1
05と第二の層領域(厘)1o4とが共有する層領域を
有する層構造の場合により良好な結果が得られる。
又、本発明の光導電部材においては、感−の層領域(0
)103に含有される酸素原子の該層領域(0)105
における層厚方向の分布状態は1gIKは該第−の層領
域(0)10!Iの設けられる支持体101又は他の層
との密着性及び接触性を良くするために支持体101又
は他の層との接合面側の方に分布濃度が高くなるIIK
される。1E211cは、上記零となる様に嬉−の層領
域(0)105中に含有されるのが好ましいものである
。第二の層領域(Jl)104中に含有される1厘族原
子の分布状態は、層領域(■)104において、その層
厚方向においては、連続的で均一であって、且つ支持体
101の表面に平行な面内において4連続□″的で均一
である。
)103に含有される酸素原子の該層領域(0)105
における層厚方向の分布状態は1gIKは該第−の層領
域(0)10!Iの設けられる支持体101又は他の層
との密着性及び接触性を良くするために支持体101又
は他の層との接合面側の方に分布濃度が高くなるIIK
される。1E211cは、上記零となる様に嬉−の層領
域(0)105中に含有されるのが好ましいものである
。第二の層領域(Jl)104中に含有される1厘族原
子の分布状態は、層領域(■)104において、その層
厚方向においては、連続的で均一であって、且つ支持体
101の表面に平行な面内において4連続□″的で均一
である。
:1
本発明において、非晶質層を構成する第二の層領域(膳
)中に含有される周期律表嬉璽族に属する原子として使
用されるのは、B(硼素)、ムl(アルiニウム)、G
a(ガリウム)、III(インジウム)。
)中に含有される周期律表嬉璽族に属する原子として使
用されるのは、B(硼素)、ムl(アルiニウム)、G
a(ガリウム)、III(インジウム)。
TI(タリウム)等であり、殊に好適に用いられるのは
B、Gaである。
B、Gaである。
的が効果的に達成される4m!に所望に従って適宜法め
られるが、通常は0.01〜5 X 10’ atom
Ls pawn、好ましくは0.5〜I X 10’
atomie ))sa、最適には1〜5 X 1「’
atom’s ))馳とされるのが望ましいものであ
る。第一の層領域(0)中に含有される酸素原子の量に
就ても形成される光導電部材に要求される特性に応じて
所望に従って適宜法められるが、通常の場合、0.00
1〜50 hso■1・憾、好ましくは0.002〜2
0 atomye≦、最適には0.003〜10ato
mio幡とされるのが11ましいものである。
られるが、通常は0.01〜5 X 10’ atom
Ls pawn、好ましくは0.5〜I X 10’
atomie ))sa、最適には1〜5 X 1「’
atom’s ))馳とされるのが望ましいものであ
る。第一の層領域(0)中に含有される酸素原子の量に
就ても形成される光導電部材に要求される特性に応じて
所望に従って適宜法められるが、通常の場合、0.00
1〜50 hso■1・憾、好ましくは0.002〜2
0 atomye≦、最適には0.003〜10ato
mio幡とされるのが11ましいものである。
本発明の光導電部材においては、第一の層領域(0)に
は、酸素原子の含有によって、高暗抵抗へ 1 殊に%第1図に示す光導電部材100のIlK、非晶質
層102が、酸素原子を含有する第一の層領域(0)1
05.m厘族原子を含有する第二の層領域(厘)104
,11厘原子の含有されていない層領域105とを有し
、纂−の層領域(0)1ff5と第二の層領域(厘)1
04とが共有する層領域を有する層構造の場合により良
好な結果が得られる・本発明の光導電部#においては非
晶質層の全層領域を構成し、酸素原子の含有される纂−
の層領域(0)は、1つには非晶質層の支持体との密着
性の向上を計る目的のために、又、非晶質層の一部な備
威し嬉1族原子の含有される第二の層領域(璽)は、1
つには、非晶質層の自由表面側より惜電逃理を施された
際、支持体側より非晶質層の内11KIIIE荷が注入
されるのを阻止する目的のために夫々、支持体と非晶質
層とが接合する層領域として、少なくとも互いの一部を
共有する構造で設けられる。
は、酸素原子の含有によって、高暗抵抗へ 1 殊に%第1図に示す光導電部材100のIlK、非晶質
層102が、酸素原子を含有する第一の層領域(0)1
05.m厘族原子を含有する第二の層領域(厘)104
,11厘原子の含有されていない層領域105とを有し
、纂−の層領域(0)1ff5と第二の層領域(厘)1
04とが共有する層領域を有する層構造の場合により良
好な結果が得られる・本発明の光導電部#においては非
晶質層の全層領域を構成し、酸素原子の含有される纂−
の層領域(0)は、1つには非晶質層の支持体との密着
性の向上を計る目的のために、又、非晶質層の一部な備
威し嬉1族原子の含有される第二の層領域(璽)は、1
つには、非晶質層の自由表面側より惜電逃理を施された
際、支持体側より非晶質層の内11KIIIE荷が注入
されるのを阻止する目的のために夫々、支持体と非晶質
層とが接合する層領域として、少なくとも互いの一部を
共有する構造で設けられる。
本発明の光導電部材におい−では、諺璽族原子の含有さ
れる層領域(厘)は、その設けられる目的が非晶質層と
支持体間における、支持体価から非晶質層中への電荷の
注入防止を主たるものとする場合には、非晶質層の支持
体価の方に極力偏在させる必要がある◇ この様な場合においては、第璽族原子の含有されている
層領域(1)の層厚t1と(111図では層領域104
0層厚)、層領域(曹)の上に設けられた、層領域(1
)を除いた部分の層領域(gI図では層領域106)の
層厚Tとの間には、 ’s/ (T+i1)≦0.4 の関係が成立する様に非晶質層を形成するのが望ましく
、より好ましくは、上記した関係式の値が0.55以下
、最適には0.5以下とされるのが望ましいO 又、縞■族原子の含有される層領域(璽)の層厚tBと
しては、通常は5(1〜5戸、好適には40ましいもの
である。
れる層領域(厘)は、その設けられる目的が非晶質層と
支持体間における、支持体価から非晶質層中への電荷の
注入防止を主たるものとする場合には、非晶質層の支持
体価の方に極力偏在させる必要がある◇ この様な場合においては、第璽族原子の含有されている
層領域(1)の層厚t1と(111図では層領域104
0層厚)、層領域(曹)の上に設けられた、層領域(1
)を除いた部分の層領域(gI図では層領域106)の
層厚Tとの間には、 ’s/ (T+i1)≦0.4 の関係が成立する様に非晶質層を形成するのが望ましく
、より好ましくは、上記した関係式の値が0.55以下
、最適には0.5以下とされるのが望ましいO 又、縞■族原子の含有される層領域(璽)の層厚tBと
しては、通常は5(1〜5戸、好適には40ましいもの
である。
他方前記層厚Tと層厚t1との和(T +tB)として
は、通常は1〜100声、好適には1〜80声、最適に
は2〜50戸とされるのが望ましいものである。
は、通常は1〜100声、好適には1〜80声、最適に
は2〜50戸とされるのが望ましいものである。
本発明の光導電g材においては、非晶質層は支持体側の
方に一在させて設けられる嬉厘族原子の含有される層領
域(璽)と、該層領域(1)を除いた残りの部分であっ
て、嬉厘族原子の含有されてない層領域とで構成される
が、該嬉厘族原子の含有されない層領域の層厚Tは、形
成される光導電部材に要求される特性に従って、層設計
の際に適宜決定される。本発明において、層厚〒として
は、通常は0.1〜90声、好ましくは0.5〜80戸
、最適には1〜70戸とされるのが望ましいものである
。
方に一在させて設けられる嬉厘族原子の含有される層領
域(璽)と、該層領域(1)を除いた残りの部分であっ
て、嬉厘族原子の含有されてない層領域とで構成される
が、該嬉厘族原子の含有されない層領域の層厚Tは、形
成される光導電部材に要求される特性に従って、層設計
の際に適宜決定される。本発明において、層厚〒として
は、通常は0.1〜90声、好ましくは0.5〜80戸
、最適には1〜70戸とされるのが望ましいものである
。
112図乃至嬉10図には、本発明に招ける光導電部材
の非晶質層を構成する層領域(0)中に含有される酸素
原子の層厚方向の分布状態の典蓋的例が示される。
の非晶質層を構成する層領域(0)中に含有される酸素
原子の層厚方向の分布状態の典蓋的例が示される。
第2図乃至第10図において、横軸は酸素原子の含有量
Cを、縦軸は、酸素原子の含有されている層領域(0)
の層厚を示し、t、は支持体の界面の位置を、tアは支
持体価とは反対−の界面の位置を示す。即ち、酸素原子
の含有されている層領域(0)はt、flAよりtア側
に向って層形成がなされる。
Cを、縦軸は、酸素原子の含有されている層領域(0)
の層厚を示し、t、は支持体の界面の位置を、tアは支
持体価とは反対−の界面の位置を示す。即ち、酸素原子
の含有されている層領域(0)はt、flAよりtア側
に向って層形成がなされる。
本発明においては、酸素原子の含有される層領JIiR
(0) ハ、主K a−8t (H、X) ipら成す
、光導電性を示す非晶質層の全層領域を占めている。
(0) ハ、主K a−8t (H、X) ipら成す
、光導電性を示す非晶質層の全層領域を占めている。
82図には、層領域(0)中に含有される酸素原子の層
厚方向の分布状態の[11の典麗例が示される。
厚方向の分布状態の[11の典麗例が示される。
第2図に示される例では、酸素原子の含有される層領域
(0)が形成される表面と該層領域(0)の表面とが接
する界面位置t1よりt、の位−までは、酸素原子の含
有m*cが01なる一定の値を取り乍ら酸素原子が形成
される層領域(0)に含有され、位置t、より濃度C婁
より一面位置tTKllるまで徐々に連続的に減少され
そいる。界面位置tTにおいては酸素原子の含有量*C
LtC,とされる〇[3図に示される例においては、含
有される酸素原子の含有濃度Cは位置t1より位置IT
に到5まで濃[Oaから−々に連続的に減少して位置t
において濃度C魯となる様な分布状態を形成している。
(0)が形成される表面と該層領域(0)の表面とが接
する界面位置t1よりt、の位−までは、酸素原子の含
有m*cが01なる一定の値を取り乍ら酸素原子が形成
される層領域(0)に含有され、位置t、より濃度C婁
より一面位置tTKllるまで徐々に連続的に減少され
そいる。界面位置tTにおいては酸素原子の含有量*C
LtC,とされる〇[3図に示される例においては、含
有される酸素原子の含有濃度Cは位置t1より位置IT
に到5まで濃[Oaから−々に連続的に減少して位置t
において濃度C魯となる様な分布状態を形成している。
84図の場合には、位置t、より位置t1までは酸素原
子の含有濃度CはG−と一定値とされ、位置t。
子の含有濃度CはG−と一定値とされ、位置t。
と位置Itとの関において、徐々に連続的に減少され、
位ft、において、含有−1cは実質的に零とされてい
る。
位ft、において、含有−1cは実質的に零とされてい
る。
一5図の場合には、酸素原子は装置t、より位置tTK
jlる亥で、含有1Ita・より連続的に徐々に減少さ
れ、位置t、において集質的に零とされている0116
図に示す例においては、酸素原子の含有濃度Cは、位置
t、と位置tsilにおいては、濃度C・と一定値であ
り、位置t、においては濃度G1・とされる・位置t、
と位置t1との間では、含有量1cは一次関数的に位置
t、より位置t、に到るまで減少されている・ 纂76AK示される例においては、位置t1より位置1
.重では濃fcxxの一定値を取り、位置t、より位置
t、までは濃度01麿より濃度Cλstで一次関数的に
減少する分布状態とされている。
jlる亥で、含有1Ita・より連続的に徐々に減少さ
れ、位置t、において集質的に零とされている0116
図に示す例においては、酸素原子の含有濃度Cは、位置
t、と位置tsilにおいては、濃度C・と一定値であ
り、位置t、においては濃度G1・とされる・位置t、
と位置t1との間では、含有量1cは一次関数的に位置
t、より位置t、に到るまで減少されている・ 纂76AK示される例においては、位置t1より位置1
.重では濃fcxxの一定値を取り、位置t、より位置
t、までは濃度01麿より濃度Cλstで一次関数的に
減少する分布状態とされている。
嬉8図に示す例においては、位置t、より位置tTに到
るまで、酸素原子の含有濃度Cは濃lllClより零に
到る41iK−次間数的に減少している。
るまで、酸素原子の含有濃度Cは濃lllClより零に
到る41iK−次間数的に減少している。
第9図においては、位置t1より位置t、Kjlるまで
は酸素原子の含有濃度Cは、濃度C18より濃度C1・
まで−次間数的に減少され、位置t、と位置ITとの関
においては、濃KCh−の一定値とされた例が示されて
いる。
は酸素原子の含有濃度Cは、濃度C18より濃度C1・
まで−次間数的に減少され、位置t、と位置ITとの関
においては、濃KCh−の一定値とされた例が示されて
いる。
菖10図に示される例においては、酸素原子の含有濃度
Cは位置t、6cおいて濃IEGxvであり、位置t、
に到るまではこの濃度C1マにより初めはゆっくりと減
少され、t、の位置付近においては、急激に減少されて
位置t、では、濃度CIとされる@位置上、と位w1t
、との間においては、初め急激に減少されて、その後は
、緩やかに減少されて位置t、で濃度01・となり、位
置t、と位Nt、との闘では、極めてゆっくりE徐々に
減少されて位置t、において、濃度C■に到る。位置t
、と位置t、の関においては、濃度CSOより実質的に
零になる様に図に示す如き形状の曲線に従って減少され
ている。
Cは位置t、6cおいて濃IEGxvであり、位置t、
に到るまではこの濃度C1マにより初めはゆっくりと減
少され、t、の位置付近においては、急激に減少されて
位置t、では、濃度CIとされる@位置上、と位w1t
、との間においては、初め急激に減少されて、その後は
、緩やかに減少されて位置t、で濃度01・となり、位
置t、と位Nt、との闘では、極めてゆっくりE徐々に
減少されて位置t、において、濃度C■に到る。位置t
、と位置t、の関においては、濃度CSOより実質的に
零になる様に図に示す如き形状の曲線に従って減少され
ている。
以上、112図乃至菖10図により、層領域(0)中に
含有される酸素原子の層厚方向の分布状態の典型例の幾
つかを説明した様に、本発明においては、支持体11に
おいて、酸素原子の含有層fIILCの高い部分を有し
、#画IT鱈においては、前記含有濃度Cは支持体11
に較べて可成り低くされた部分を有する酸素原子の分布
状態が形成された層領域(0)が非晶質層に#にけられ
るのが好ましい〇本発11において、非晶質層を構成す
る酸素原子の含有される層領域(0)は、上記した嫌に
支持体軸の方に酸素原子が比較的高濃度で含有されてい
る局在領域ムを有する〇 局在領域ムは、嬉2図乃至嬉10図に示す記号を用いて
説明すれば、界面位ltBより5戸以内に設けられるの
が望ましいものである。
含有される酸素原子の層厚方向の分布状態の典型例の幾
つかを説明した様に、本発明においては、支持体11に
おいて、酸素原子の含有層fIILCの高い部分を有し
、#画IT鱈においては、前記含有濃度Cは支持体11
に較べて可成り低くされた部分を有する酸素原子の分布
状態が形成された層領域(0)が非晶質層に#にけられ
るのが好ましい〇本発11において、非晶質層を構成す
る酸素原子の含有される層領域(0)は、上記した嫌に
支持体軸の方に酸素原子が比較的高濃度で含有されてい
る局在領域ムを有する〇 局在領域ムは、嬉2図乃至嬉10図に示す記号を用いて
説明すれば、界面位ltBより5戸以内に設けられるの
が望ましいものである。
ある。
局在領域ムを層領域LTの一部とするか又は全部とする
かは、形成される非晶質層に要求される特性に従って適
宜法められる。
かは、形成される非晶質層に要求される特性に従って適
宜法められる。
局在領域ムはその中に含有される酸素原子の層厚方向の
分布状態として酸素原子の含有量分布値(分布濃度値)
の最大Gmaxが通常は、1oat・ml・弧以上、好
適には20 at@mi・襲以上、最適には50ate
ai*−以上とされる嫌な分布状態となり得る様に層形
成されるのが望ましい。
分布状態として酸素原子の含有量分布値(分布濃度値)
の最大Gmaxが通常は、1oat・ml・弧以上、好
適には20 at@mi・襲以上、最適には50ate
ai*−以上とされる嫌な分布状態となり得る様に層形
成されるのが望ましい。
即ち、本発明の好ましい実施jm様例においては、酸素
原子の含有される層領域(0)は、支持体側からの層厚
で5i以内(1,から5声厚の層領域)に分布濃度の最
大値CmIaxが存在するIaK形成され本発明におい
て使用される支持体としては、導電性でも電気絶縁性で
あり【も良い。導電性支持体としては、例えば7 Ni
Cr、ステンレス、ムl、 Cr。
原子の含有される層領域(0)は、支持体側からの層厚
で5i以内(1,から5声厚の層領域)に分布濃度の最
大値CmIaxが存在するIaK形成され本発明におい
て使用される支持体としては、導電性でも電気絶縁性で
あり【も良い。導電性支持体としては、例えば7 Ni
Cr、ステンレス、ムl、 Cr。
Mo 、ムu、 Nb、 Ta、 V、 Ti、 PI
、 Pd 等f>傘属又はこれ等の合金が挙げられる。
、 Pd 等f>傘属又はこれ等の合金が挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、でリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、−にルローズ、アセテート、ポ
リグロビレ/、ポリ塩化ビニル、?り塩化ビニリデン、
ポリスチレン、ボリアミド等の合成樹脂のフィルム又は
シート、ガラス、セラミック、紙等が通常使榔される。
ン、ポリカーボネート、−にルローズ、アセテート、ポ
リグロビレ/、ポリ塩化ビニル、?り塩化ビニリデン、
ポリスチレン、ボリアミド等の合成樹脂のフィルム又は
シート、ガラス、セラミック、紙等が通常使榔される。
これ等の電気絶縁性支持体は、好適には少なくともその
7方の表面を導電処理され、鋏導電IIj、llされた
表面側に他の層が設けられるのが望ましい。
7方の表面を導電処理され、鋏導電IIj、llされた
表面側に他の層が設けられるのが望ましい。
例えば、ガラスであれば、その表向に、NiCr。
ムl、Or、Mo、Au、Ir、Nb、Ta、V、Ti
、Pi、Pd、ImzOi、5hoz 。
、Pi、Pd、ImzOi、5hoz 。
I’lX)(Im20! −)8n02 )等から成る
薄膜を設けるコトによって導電性が付与され、或いはポ
リエステルフィルム等の合成**フィルムであれば、N
iCr。
薄膜を設けるコトによって導電性が付与され、或いはポ
リエステルフィルム等の合成**フィルムであれば、N
iCr。
ムJ、Ag、Pb、Zn、Ni、ムu、Cr、 Mo、
Ir、Nb、Ta、V、TI、Pt 等の金属の薄
膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でそ
の表面に設け、又は前記金属でその表面をラミネート処
理して、その表面に導電性が付与される。支持体の形状
としては、円筒状。
Ir、Nb、Ta、V、TI、Pt 等の金属の薄
膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でそ
の表面に設け、又は前記金属でその表面をラミネート処
理して、その表面に導電性が付与される。支持体の形状
としては、円筒状。
ベルト状、板状等任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状は決定されるが、例えば、第1図の光導電部材1
00を電子写真用僧形成部材として使用するのであれば
連続高速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状とす
るのが望ましい。支持体の厚さは、所望通りの光導電部
材が形成される様に適宜決定されるが、光導電部材とし
て可憐性が要求される場合には二支持体としC′)機能
”′充分発揮される範囲内セ%れば可能な限り薄くされ
るっ面乍ら、この様な場合支持体の製造上及び取扱い上
、機械的強度等の点から、通常は、1011以上とされ
る。
の形状は決定されるが、例えば、第1図の光導電部材1
00を電子写真用僧形成部材として使用するのであれば
連続高速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状とす
るのが望ましい。支持体の厚さは、所望通りの光導電部
材が形成される様に適宜決定されるが、光導電部材とし
て可憐性が要求される場合には二支持体としC′)機能
”′充分発揮される範囲内セ%れば可能な限り薄くされ
るっ面乍ら、この様な場合支持体の製造上及び取扱い上
、機械的強度等の点から、通常は、1011以上とされ
る。
本発明において、a−8i(H,X)で構成される非晶
質層を形成するには例えばグロー放電法、スパッタリン
グ法、或いはイオンブレーティング法等の放電現象を利
用する真空堆積法によって成される。例えば、グロー放
電法によって、 a−8i(H,X)で構成される非晶
質層を形成するには、基本的にはシリコン原子(84)
を供給し得る別供給用の原料ガスと共K、水素原子l導
入用の又は/及びハロゲン原子内導入用の原料ガスを、
内部が減圧にし得る堆積室内に導入して、錬堆積室内に
グロー放電を生起させ、予め所定位置に設置されである
所定の支持体表面上K a−81(H,X)から成る層
を形成させれば良い。又、スパッタリング法で形成する
場合には、例えばムr、 He等の不活性ガス又はこれ
等のガスをペースとした混合ガスの雰囲気中で81で構
成されたターゲットをスパッタリングする際、水素原子
(ハ)又は/及びハロゲン原子内導入用のガスをスパッ
タリング用の堆積室に導入してやれば良い。
質層を形成するには例えばグロー放電法、スパッタリン
グ法、或いはイオンブレーティング法等の放電現象を利
用する真空堆積法によって成される。例えば、グロー放
電法によって、 a−8i(H,X)で構成される非晶
質層を形成するには、基本的にはシリコン原子(84)
を供給し得る別供給用の原料ガスと共K、水素原子l導
入用の又は/及びハロゲン原子内導入用の原料ガスを、
内部が減圧にし得る堆積室内に導入して、錬堆積室内に
グロー放電を生起させ、予め所定位置に設置されである
所定の支持体表面上K a−81(H,X)から成る層
を形成させれば良い。又、スパッタリング法で形成する
場合には、例えばムr、 He等の不活性ガス又はこれ
等のガスをペースとした混合ガスの雰囲気中で81で構
成されたターゲットをスパッタリングする際、水素原子
(ハ)又は/及びハロゲン原子内導入用のガスをスパッ
タリング用の堆積室に導入してやれば良い。
本発明において、必要に応じて非晶質層中に含有される
ハロゲン原子囚とし? &誉j具体的にはフッ素、塩素
、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、塩素を好適な
ものとして挙げることが出来る。
ハロゲン原子囚とし? &誉j具体的にはフッ素、塩素
、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、塩素を好適な
ものとして挙げることが出来る。
本発明におい1使用される81供給用の原料ガスとして
は、8iHa、 8! 2H4,8isHs、 8i
4H10等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅素(
シラン−)が有効に使用されるものとして挙げられ、殊
に、層作成作業の扱い易さ、S&供給効率め良さ郷の点
で8iH4,8i2Hi が好ましいものとして挙げ
られる。
は、8iHa、 8! 2H4,8isHs、 8i
4H10等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅素(
シラン−)が有効に使用されるものとして挙げられ、殊
に、層作成作業の扱い易さ、S&供給効率め良さ郷の点
で8iH4,8i2Hi が好ましいものとして挙げ
られる。
本発明において使用されるハロゲン原子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙げられ
、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン間化合
物、ハロゲンで置換された。
スとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙げられ
、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン間化合
物、ハロゲンで置換された。
シラン−導体等のガス状態の又はガス化し得るI・ロゲ
ン化合物が好ましく挙げられる。
ン化合物が好ましく挙げられる。
又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得る、I・ロゲ/原子を
含む硅素化合一も有効なものとして本発明においては挙
げることが出来る。
とするガス状態の又はガス化し得る、I・ロゲ/原子を
含む硅素化合一も有効なものとして本発明においては挙
げることが出来る。
本発明において好適に使用し得るノ・ロゲン化合物とし
ては、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素の/%
Hゲンガス、BrF、 C1l?、 CjFi、 Hr
Fs、IArFs。
ては、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素の/%
Hゲンガス、BrF、 C1l?、 CjFi、 Hr
Fs、IArFs。
IFi 、 IF7 、 ICj 、 IHr等の7%
Clグン関化合物を挙げることが出来る。
Clグン関化合物を挙げることが出来る。
ハロゲン原子を含む硅素化合一、所■、ハロゲyj[子
で置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば
8iFa、 8i2F6.8iCj4.8iBra 等
のハIIIゲン化硅素が好ましいものとして挙げること
が出来る。
で置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば
8iFa、 8i2F6.8iCj4.8iBra 等
のハIIIゲン化硅素が好ましいものとして挙げること
が出来る。
この様なハロゲン原子な含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、8iを供給し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にハロゲン
原子を含むa−8iから成る非晶質層を形成する事が出
来る。
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、8iを供給し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にハロゲン
原子を含むa−8iから成る非晶質層を形成する事が出
来る。
グロー放電法に従って、ハロゲン原子を含む非晶質層を
形成する場合、基本的には、8i供給用の原料ガスであ
るハロゲン化硅素ガスとムr、 I(2,He等のオス
等を所定の混合比とガス流量になる様にして非晶質層を
形成する堆積室に導入し、グロー放電な生起してこれ等
のガスのプラズマ1llaを形成するととKよって、所
定の支持体上に非晶質層を形成し得るものであるが、水
素原子の導入を針る為にこれ等のガスに更に水素原子を
含む硅素化合物のガスも所定量混合して層形成しても良
い。
形成する場合、基本的には、8i供給用の原料ガスであ
るハロゲン化硅素ガスとムr、 I(2,He等のオス
等を所定の混合比とガス流量になる様にして非晶質層を
形成する堆積室に導入し、グロー放電な生起してこれ等
のガスのプラズマ1llaを形成するととKよって、所
定の支持体上に非晶質層を形成し得るものであるが、水
素原子の導入を針る為にこれ等のガスに更に水素原子を
含む硅素化合物のガスも所定量混合して層形成しても良
い。
又、各ガスは単独種のみでなく所定の議会比で複数種混
合して使用しても差支えないものである。
合して使用しても差支えないものである。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−8i(H,X)から成る非晶質層を形成する
には、例えばスパッタリング法の場合には8iから成る
ターゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ雰囲
気中でスパッタリングし、イオンブレーティング法の場
合には、多結晶シリ、フン又は単結晶シリコンt−蒸発
源として蒸着ボートに収容し、このシリコン蒸発源を抵
抗加熱法、或いはエレクトロンビーム法(1<B法)等
によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラズマ
雰囲気中を通過させる−で行う事が出来る。
依ってa−8i(H,X)から成る非晶質層を形成する
には、例えばスパッタリング法の場合には8iから成る
ターゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ雰囲
気中でスパッタリングし、イオンブレーティング法の場
合には、多結晶シリ、フン又は単結晶シリコンt−蒸発
源として蒸着ボートに収容し、このシリコン蒸発源を抵
抗加熱法、或いはエレクトロンビーム法(1<B法)等
によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラズマ
雰囲気中を通過させる−で行う事が出来る。
この際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合にも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るには、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン原子
を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して鋏ガスの
プラズマ雰囲気t−形成してやれば良いものである。
何れの場合にも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るには、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン原子
を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して鋏ガスの
プラズマ雰囲気t−形成してやれば良いものである。
又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば、H2、或いは前記したシラン類等のガ
スなスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば喪い。
料ガス、例えば、H2、或いは前記したシラン類等のガ
スなスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば喪い。
本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるか、そ
の他K 、 HF、 Hcl、 HBr、 HI等のハ
ロゲン化水素、8iHzFz、 8iHzIz、 8i
HzCjz 。
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるか、そ
の他K 、 HF、 Hcl、 HBr、 HI等のハ
ロゲン化水素、8iHzFz、 8iHzIz、 8i
HzCjz 。
8iHCハ、 81HzBr 1,81HBr s等の
ハElゲン置換水素化硅素、等々の〃ス状態の或いはガ
ス化し得る、水素原子を構成要素の1つとするハロゲノ
化物も有効な非晶質層形成用の出発物質として挙げる事
が出来る。
ハElゲン置換水素化硅素、等々の〃ス状態の或いはガ
ス化し得る、水素原子を構成要素の1つとするハロゲノ
化物も有効な非晶質層形成用の出発物質として挙げる事
が出来る。
これ等の水−原子な含むハロゲン化物は、非晶質層形成
の際に層中にハロゲン−子の導入と同時に電気的或いは
光電的特性の制御Klhめて有効な水素原子も導入され
るので、本発明におい【は好適なハロゲン原子導入用の
原料とし″C使用される。
の際に層中にハロゲン−子の導入と同時に電気的或いは
光電的特性の制御Klhめて有効な水素原子も導入され
るので、本発明におい【は好適なハロゲン原子導入用の
原料とし″C使用される。
水嵩原子を非晶質層中に構造的に導入するに&東上記の
他KH2、或いは8 tH4t 812H6e 8 i
墨Ha、8轟4H10等の水嵩化硅素のガスを8iv供
給する為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電
を生起させる事でも行う事が出来る。
他KH2、或いは8 tH4t 812H6e 8 i
墨Ha、8轟4H10等の水嵩化硅素のガスを8iv供
給する為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電
を生起させる事でも行う事が出来る。
例えば、反応スパッタリング法の場合には、Siターゲ
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH2ガス
を必要に応じ”CHe、 Ar等の不活性ガスも含めて
堆積室内に導入してプラズマ雰囲気な形成シ、前記81
ターゲツトをスパッタリングする事により【、基板上K
a−8i (H,X)から成る非晶質層が形成される
。
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH2ガス
を必要に応じ”CHe、 Ar等の不活性ガスも含めて
堆積室内に導入してプラズマ雰囲気な形成シ、前記81
ターゲツトをスパッタリングする事により【、基板上K
a−8i (H,X)から成る非晶質層が形成される
。
更には、不純物のドーピングも兼ねてB2H2等のガス
を導入してやることも出来る。
を導入してやることも出来る。
本発明において、形成される光導電部材の非晶質層中に
含有される水素原子餞の量又はハロゲン原子内の量又は
水門原子と・・ロゲン原子の量の和(H+X)は通常の
場合1〜40轟t omi (嗟、好適には5〜60a
tomi4とされるのが望ましい。
含有される水素原子餞の量又はハロゲン原子内の量又は
水門原子と・・ロゲン原子の量の和(H+X)は通常の
場合1〜40轟t omi (嗟、好適には5〜60a
tomi4とされるのが望ましい。
非晶質層中に含有される水素原子部又は/及びハロゲン
原子内の量を制御するには、例えば支持体温度又は/及
び水嵩原子(ハ)、或いはハロゲン原子0Qt−含有さ
せる為に使用される出発物質の堆積装置系内へ導入する
量、放電々力等を制御してやれば良い。
原子内の量を制御するには、例えば支持体温度又は/及
び水嵩原子(ハ)、或いはハロゲン原子0Qt−含有さ
せる為に使用される出発物質の堆積装置系内へ導入する
量、放電々力等を制御してやれば良い。
非晶質層に、第厘族原子を含有する層領域側)及び酸素
原子を含有する層領域0v設けるには、グロー放電法や
反応スパッタリング法等による非晶質層の形成のl1K
1第厘−原子導入用の出発物質及び酸素原子導入用の出
発物質を夫々前記した非晶質層形成用の出発物質と共に
使用して、形成される層中区その量を制御し乍ら含有し
【やる事によって威される。
原子を含有する層領域0v設けるには、グロー放電法や
反応スパッタリング法等による非晶質層の形成のl1K
1第厘−原子導入用の出発物質及び酸素原子導入用の出
発物質を夫々前記した非晶質層形成用の出発物質と共に
使用して、形成される層中区その量を制御し乍ら含有し
【やる事によって威される。
非晶質層な構成する、酸素原子の含有される層領域0及
び第厘族原子の含有される層領域@を夫々形成するのに
グロー放電法シ轡いる場合、各層領域形成用の原料ガス
となる出発物質としては、前記した非晶質層形成用の出
発物質の中から所望に従って選択されたものに、酸素原
子導入用の出発物質又は/及び嬉璽族原子導入用の出発
物質が加えられる。その様な酸素原子導入用の出発物質
又は第鳳族原子導入用の出発物質としては、少なくとも
酸素原子或いは第厘族原子を構成原子とするガス状の物
質又はガス化し得る物質をガス化したものの中の大概の
ものが使用され得る。
び第厘族原子の含有される層領域@を夫々形成するのに
グロー放電法シ轡いる場合、各層領域形成用の原料ガス
となる出発物質としては、前記した非晶質層形成用の出
発物質の中から所望に従って選択されたものに、酸素原
子導入用の出発物質又は/及び嬉璽族原子導入用の出発
物質が加えられる。その様な酸素原子導入用の出発物質
又は第鳳族原子導入用の出発物質としては、少なくとも
酸素原子或いは第厘族原子を構成原子とするガス状の物
質又はガス化し得る物質をガス化したものの中の大概の
ものが使用され得る。
例えば層領域0を形成するのであれば、シリコン原子(
8i ) t−構成原子とする原料ガスと、酸素原子0
を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて水素原子l
又は/及びハロゲン化物(3)を構成原子とする原料ガ
スとを所望の混合比で混合して使用するか、又は、シリ
コン原子(8i)t’構成原子とする原料ガスと、酸素
原子口及び水素原子(ハ)を構成原子とする原料ガスと
を、これも又所望の混合比で混合するか、或いは、シリ
コン原子(8i)を構成原子とする原料ガスと、シリコ
ン原子(8i)、酸素原子O)及び水lIA原子(ハ)
の3つを構成原子とする原料ガスとを混合し【使用する
ことか出来る。
8i ) t−構成原子とする原料ガスと、酸素原子0
を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて水素原子l
又は/及びハロゲン化物(3)を構成原子とする原料ガ
スとを所望の混合比で混合して使用するか、又は、シリ
コン原子(8i)t’構成原子とする原料ガスと、酸素
原子口及び水素原子(ハ)を構成原子とする原料ガスと
を、これも又所望の混合比で混合するか、或いは、シリ
コン原子(8i)を構成原子とする原料ガスと、シリコ
ン原子(8i)、酸素原子O)及び水lIA原子(ハ)
の3つを構成原子とする原料ガスとを混合し【使用する
ことか出来る。
又、別には、シリコン原子(8i)と水素原子lとを構
成原子とする原料ガスに酸素原゛′−FO)を構成原子
とする原料ガスを混合して使用しても良い。
成原子とする原料ガスに酸素原゛′−FO)を構成原子
とする原料ガスを混合して使用しても良い。
酸素原子導入用の出発物質となるものとして具体的には
、例えば酸素(02)、オゾン(”)*−酸化窒素(N
O)、二酸化窒素(NO2)、−二酸化窒素(NzO)
。
、例えば酸素(02)、オゾン(”)*−酸化窒素(N
O)、二酸化窒素(NO2)、−二酸化窒素(NzO)
。
三二酸化窒素(N20i)、 8二酸化窒素(N2O2
)、三二酸化窒素(820S )、二酸化窒素(Non
)、シリコン原子(si) と酸素原子0と水素原子
峠とを構成原子とする、例えば、ジVHキサy (Hx
8i08iHA ) 、 )リシロキすン(Hs引0
8iH208iH5)等の低級シロキサン等を挙げるこ
とが出来る。
)、三二酸化窒素(820S )、二酸化窒素(Non
)、シリコン原子(si) と酸素原子0と水素原子
峠とを構成原子とする、例えば、ジVHキサy (Hx
8i08iHA ) 、 )リシロキすン(Hs引0
8iH208iH5)等の低級シロキサン等を挙げるこ
とが出来る。
層領櫨圓をグロー放電法を用いて形成する場合に第1族
原子導入用の出発物質として1本発明において有効に使
用されるのは、硼素原子導入用としては、B2H2,8
4H1G、BS)19. BSHll 、B6H1o
、B4H1! 。
原子導入用の出発物質として1本発明において有効に使
用されるのは、硼素原子導入用としては、B2H2,8
4H1G、BS)19. BSHll 、B6H1o
、B4H1! 。
B4H14等の水素化硼素、BFs、 BCI s、
BBr s等II’) 7% Cllノン硼素等が挙げ
られる。この他、UCIs 。
BBr s等II’) 7% Cllノン硼素等が挙げ
られる。この他、UCIs 。
GaCji、Ga(Glすi、InCJi+、TjCj
i 等も挙げることが出来る。
、、。
i 等も挙げることが出来る。
、、。
第曹族原子な含有する層領域(至)に導入される第−族
原子の含有量は、堆積室中に流入される第1族原子導入
用の出発物質のガス流量、ガス流量地放電パワー、支持
体温度、堆積室内の圧力等を制御することによって任意
Kll制御され得る。
原子の含有量は、堆積室中に流入される第1族原子導入
用の出発物質のガス流量、ガス流量地放電パワー、支持
体温度、堆積室内の圧力等を制御することによって任意
Kll制御され得る。
スパッターリング法により【、酸素原子を含有する層領
域0を形成するには、単結晶又は多結晶の8iクエーハ
ー又は8102クエーハー、又は8ゑと8102 が
混合されて含有され【いるウェーハーをターゲットとし
て、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッターリングす
ることによって行えば良い。
域0を形成するには、単結晶又は多結晶の8iクエーハ
ー又は8102クエーハー、又は8ゑと8102 が
混合されて含有され【いるウェーハーをターゲットとし
て、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッターリングす
ることによって行えば良い。
例えば、8iクエーハーをターゲットとして使用すれば
、酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン
原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガス
で稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ等
のガスのガスプラズマを形成して前記siウェーハーを
スバ、ツタ−りングすれば良い。
、酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン
原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガス
で稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ等
のガスのガスプラズマを形成して前記siウェーハーを
スバ、ツタ−りングすれば良い。
又、別には、Sムと8i0!とは別々のターゲットとし
て、又は8iと810x i”′混合した一枚のターゲ
ットを使用することによって、スパッター用のガスとし
ての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子I又
は/及びハロゲン原子内な構成原子として含有するガス
雰囲気中でスパッターリングすることKよって威される
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、ス/くツタ−リングの場合にも有効なガスとし
て使用され得る。
て、又は8iと810x i”′混合した一枚のターゲ
ットを使用することによって、スパッター用のガスとし
ての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子I又
は/及びハロゲン原子内な構成原子として含有するガス
雰囲気中でスパッターリングすることKよって威される
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、ス/くツタ−リングの場合にも有効なガスとし
て使用され得る。
本発明において、非晶質層をグロー放電法で形成する−
に使用される稀釈ガス、或いはスノくツタ−りフグ法で
形成される際に使用されるスノ(ツタ−リング用のガス
としては、所■稀ガス、例えばHe、 Ne、 Ar
尋が好適なものとして挙げることが出来る。
に使用される稀釈ガス、或いはスノくツタ−りフグ法で
形成される際に使用されるスノ(ツタ−リング用のガス
としては、所■稀ガス、例えばHe、 Ne、 Ar
尋が好適なものとして挙げることが出来る。
次に、1s11図に本発明の光導電部材を作成する場合
の製造装置の一例な示す。
の製造装置の一例な示す。
図中の1102.1103,1104.1105.11
06 のガスボンベには、本発明の光導電部材における
夫々の層領域【形成するための原料ガスが密封されてお
ガ、その−例として例えば1102は、Heで稀釈され
た8iH4ガス(純II 99.999−、以下8iH
4/Heと略−C)ボンベ、1103はHeで稀釈され
たB2H4ガス(純度99.999嗟、以下BtH4/
)leと略す。)ボンベ、1104はHeで稀釈された
8に2)14ガス(純を支持体上に形成する。
(lDを形成する場合の1例をあげると、ガスボンベ1
102より8iH4/4(eガス、ガスボンベ1103
よりB2H6741eガスをパルプ1122.1123
’に’lI!いて出口圧ゲージ1127.1128の圧
t’1iG’fjに調整し、流入](ルア’1112.
1113を徐々に開けて、マスフロコントローラ110
7.1108内KR人させる。引き続いて流出パルプ1
117.1118、補助パルプ1162を徐々に開いて
夫々のガスを反応室1101に流入させる。このときの
8iH47Heガス流量とB2H47Heガス流量との
比が所望の値になるよ5Kll出パルプ1117.11
18を調整し、又、反応室1101内の圧力が所望の値
になるように真空針1136の続みt−鬼ながらメイン
パルプ1164の開口を調整する。そして基体シリンダ
ー1137の温度が加熱ヒーター1138により50〜
400℃の範囲内の温tに設定されていることt−11
M!シた後、電111140t−所望の電力に設定して
反応室1101 内にグロー放電を生起させ【層領域
(2)を支持体上に形成する。
層領域−)の形成の際には、ボンベ1105よりNOガ
スな予め選定された流量変化率−11に従って、流量t
−制御し乍ら反応m1101^゛に導入することによっ
て、所望量の酸素原子を層領域口中に含有させることが
出来る。
スな予め選定された流量変化率−11に従って、流量t
−制御し乍ら反応m1101^゛に導入することによっ
て、所望量の酸素原子を層領域口中に含有させることが
出来る。
所望の層厚に層領域(至)が形成された段階において、
反応室1101内へのボンベ1103よりのB2H4/
Heガスの導入tl−遮断し、引き続き所望時間グロー
放電vI!持することで層領域011)上には、第鳳族
原子(この場合にはB)の含有されないが、酸素原子は
含有される層領域が所望層厚に形成される。
反応室1101内へのボンベ1103よりのB2H4/
Heガスの導入tl−遮断し、引き続き所望時間グロー
放電vI!持することで層領域011)上には、第鳳族
原子(この場合にはB)の含有されないが、酸素原子は
含有される層領域が所望層厚に形成される。
夫々の層を形成する際に必要なガス以外の流出バルブは
全て閉じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成
する際、前層の形成に使用したガスが反応室1101内
、流出バルブ1117〜1121 から反応!110
1内に至る配管内に残留することを透けるために、流出
バルブ1117〜1121を閉じ補助パルプ1132.
1133を開いてメインパルプ1134=に’全開して
系内な一旦高真空に排気する操作を必要に応じて行う。
全て閉じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成
する際、前層の形成に使用したガスが反応室1101内
、流出バルブ1117〜1121 から反応!110
1内に至る配管内に残留することを透けるために、流出
バルブ1117〜1121を閉じ補助パルプ1132.
1133を開いてメインパルプ1134=に’全開して
系内な一旦高真空に排気する操作を必要に応じて行う。
又、層形成を行っている間は層形成の均一化を計るため
基体シリンダー1167はモーター139により1゜ 実施例1 第11図に示したIIIIi装置を用い、第11Iに示
す条庄のもとにムlv9ンf−上に、嬉12図に示すよ
うな酸素分布濃度を有する非晶質層を形成しこうして得
られたIm形成部材を、帯電露光実験装置に設置シe5
.OkV テ0.’l sea関:s w f @ v
lを行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステン
ランプ光源を用い、1.5 jmx、s@aの光量を透
過痩のテストナヤーシを通して照射させた。
基体シリンダー1167はモーター139により1゜ 実施例1 第11図に示したIIIIi装置を用い、第11Iに示
す条庄のもとにムlv9ンf−上に、嬉12図に示すよ
うな酸素分布濃度を有する非晶質層を形成しこうして得
られたIm形成部材を、帯電露光実験装置に設置シe5
.OkV テ0.’l sea関:s w f @ v
lを行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステン
ランプ光源を用い、1.5 jmx、s@aの光量を透
過痩のテストナヤーシを通して照射させた。
その後直ちに、e荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を部材表面を禽スクードすることによって、部
材表両上に良好なトナー画像を得た。部材上のトナー画
像を、(i5.0mVのコーナ帯電で転写紙上に転写し
た所、解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高醜度の
画像が得られた。
を含む)を部材表面を禽スクードすることによって、部
材表両上に良好なトナー画像を得た。部材上のトナー画
像を、(i5.0mVのコーナ帯電で転写紙上に転写し
た所、解像力に優れ、階調再現性のよい鮮明な高醜度の
画像が得られた。
実施例2
嬉11図に示した製造装置を用い、112表に示す条件
のもとに、第15図に示すような酸素分布濃度を有する
非晶質層を形成した。
のもとに、第15図に示すような酸素分布濃度を有する
非晶質層を形成した。
その他の条件は実施例1と同様にして行った。
こうして得られた像影成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手触で転写紙上に画像な形成したところ極め
て鮮明な1質が得られた。
の条件及び手触で転写紙上に画像な形成したところ極め
て鮮明な1質が得られた。
実施例6
t411図に示したSt*鮪置装用い、第5表に示す条
件のもとに、[14図に示すような酸素分布層kを有す
る非晶質層を形成したち その他の条件は実施例1と同様にして行った。
件のもとに、[14図に示すような酸素分布層kを有す
る非晶質層を形成したち その他の条件は実施例1と同様にして行った。
こうして優られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条庄及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
の条庄及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
実施例4
第1層領域の形成時、B、H・と8iH,の流量比を変
えて、!11層領域における硼素原子の含有比を変える
以外は、実施例1と全(同゛様な方法によって層形成を
行った。その結果、下表の如き結果な得第 4 表 0 : 極めて良好 O:良好 実施例5 al1層餉域の層厚を下表の如く変える以外は、実施例
2と全く同様な方法によって層形成を行った。その結果
、下表の如き結果を得た。
えて、!11層領域における硼素原子の含有比を変える
以外は、実施例1と全(同゛様な方法によって層形成を
行った。その結果、下表の如き結果な得第 4 表 0 : 極めて良好 O:良好 実施例5 al1層餉域の層厚を下表の如く変える以外は、実施例
2と全く同様な方法によって層形成を行った。その結果
、下表の如き結果を得た。
第5表
@ : 極めて良好
O:良好
実施例6
!11及び112層領域の形成方法を下表の如く変える
以外は、実施例1と同様な方法で層形成を行い、実施例
1とFR*な画質評価を行ったところ、実施例7 纂11図に示した製造装置を用い、l[7表に示す東件
のもとに、I[15図に示すような酸素分布濃度を有す
る非晶質層をム1基体上に形成した。
以外は、実施例1と同様な方法で層形成を行い、実施例
1とFR*な画質評価を行ったところ、実施例7 纂11図に示した製造装置を用い、l[7表に示す東件
のもとに、I[15図に示すような酸素分布濃度を有す
る非晶質層をム1基体上に形成した。
その他の条件は実施例1と同様にして行った。
こうして得られた鎗形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画鎗を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
の条件及び手順で転写紙上に画鎗を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
第1図は、本発明の光導電部材の構成の好適な例の1つ
を説明するための模式的説明図、嬉211乃至第10図
は、夫々、本発明め光導電部材の非晶質層を構成する層
領域(0)における−素原子の分布濃度を説明する模式
的説明図、嬉11図は、本発明の実施例における層領域
(0)中の酸素原子の分布濃度を示す説明図である。 100・・・・・光導電部材、101−・・・・支持体
、102・−・・・非晶質層、103・・・・a嬉−の
層領域(0)、104・・・・・第二の層領域(1)、
1に5・・…層領域、1060・−・自由表面 °層厚d卸 11/1d(p> 第141 1m d y > 第1頁の続き 0発 明 者 大里陽− 東京都大田区下丸子3丁目園番 2号キャノン株式会社内 0発 明 者 三角輝男 東京都大田区下丸子3丁目(9)番 2号キャノン株式会社内 286−
を説明するための模式的説明図、嬉211乃至第10図
は、夫々、本発明め光導電部材の非晶質層を構成する層
領域(0)における−素原子の分布濃度を説明する模式
的説明図、嬉11図は、本発明の実施例における層領域
(0)中の酸素原子の分布濃度を示す説明図である。 100・・・・・光導電部材、101−・・・・支持体
、102・−・・・非晶質層、103・・・・a嬉−の
層領域(0)、104・・・・・第二の層領域(1)、
1に5・・…層領域、1060・−・自由表面 °層厚d卸 11/1d(p> 第141 1m d y > 第1頁の続き 0発 明 者 大里陽− 東京都大田区下丸子3丁目園番 2号キャノン株式会社内 0発 明 者 三角輝男 東京都大田区下丸子3丁目(9)番 2号キャノン株式会社内 286−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)光導電部材用の支持体と、シリラン原子を母体と
する非晶質材料で構成され、光導電性を示す非晶質層と
を有し、鋏非晶質層が、構成原子として、層厚方向に不
均一で連続的な分布状態で酸素原子が含有されている第
一の層領域と、構成原子として、層厚方向に連続的な分
布状態で周期律表第■族に属する原子が含有され、非晶
質層の表面下に内在している第二の層領域とを有するこ
とを特徴とする光導電部材。 (2)第一の層領域が非晶質層の全層領域を占めている
特許請求の範sgi項に記載の光導電部材。 国周期律表第厘族に属する原子の分布状態が層厚方向に
均一である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。 (4)酸素原子が支持体側の方に多(分布している特許
請求の範H嬉1項に1戦の光導電部材。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036918A JPS58153941A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
US06/473,278 US4501807A (en) | 1982-03-08 | 1983-03-08 | Photoconductive member having an amorphous silicon layer |
DE19833308165 DE3308165A1 (de) | 1982-03-08 | 1983-03-08 | Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036918A JPS58153941A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58153941A true JPS58153941A (ja) | 1983-09-13 |
JPH0219946B2 JPH0219946B2 (ja) | 1990-05-07 |
Family
ID=12483140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57036918A Granted JPS58153941A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 電子写真用光導電部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58153941A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60154257A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Kyocera Corp | 電子写真感光体 |
-
1982
- 1982-03-08 JP JP57036918A patent/JPS58153941A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60154257A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Kyocera Corp | 電子写真感光体 |
JPH0514901B2 (ja) * | 1984-01-24 | 1993-02-26 | Kyosera Kk |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0219946B2 (ja) | 1990-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS58153941A (ja) | 電子写真用光導電部材 | |
JPH0220099B2 (ja) | ||
JPH04191748A (ja) | 電子写真感光体及びその製造方法 | |
JPS58187938A (ja) | 電子写真用光導電部材 | |
JPH0380307B2 (ja) | ||
JPS6357781B2 (ja) | ||
JPS58163951A (ja) | 光導電部材 | |
JPS58158645A (ja) | 光導電部材 | |
JPS58163950A (ja) | 光導電部材 | |
JPH0454945B2 (ja) | ||
JPH0220096B2 (ja) | ||
JPH0219947B2 (ja) | ||
JPS58187939A (ja) | 光導電部材 | |
JPS58150960A (ja) | 光導電部材 | |
JPH0220100B2 (ja) | ||
JPS62154673A (ja) | 光受容部材 | |
JPH0219948B2 (ja) | ||
JPS6068346A (ja) | 光導電部材 | |
JPS58171048A (ja) | 光導電部材 | |
JPH0456307B2 (ja) | ||
JPH0454946B2 (ja) | ||
JPS6068671A (ja) | 光導電部材 | |
JPS6068672A (ja) | 光導電部材 | |
JPS6068667A (ja) | 光導電部材 | |
JPH0373856B2 (ja) |