JPS58153387A - Temperature controlling device - Google Patents
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- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 19
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 101100189618 Caenorhabditis elegans pdi-2 gene Proteins 0.000 description 5
- 229910021606 Palladium(II) iodide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 5
- HNNUTDROYPGBMR-UHFFFAOYSA-L palladium(ii) iodide Chemical compound [Pd+2].[I-].[I-] HNNUTDROYPGBMR-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
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- G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
- G05D23/24—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature the sensing element having a resistance varying with temperature, e.g. a thermistor
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1919—Control of temperature characterised by the use of electric means characterised by the type of controller
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
- H01S5/02407—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling
- H01S5/02415—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling by using a thermo-electric cooler [TEC], e.g. Peltier element
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- Semiconductor Lasers (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は電流の方向によって熱の発生、または吸収を行
なうペルチェ効果素子を用いた温度制御装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a temperature control device using a Peltier effect element that generates or absorbs heat depending on the direction of electric current.
光通信システムに用いられる光源の中で、半導体レーデ
ダイオードは特に高速、高出力用の光源として用いられ
る場合が多い。半導体レーデダイオードは発光ダイオー
ドなどに比べ、■高温動作時における信頼性(寿命劣化
)、■光出力安定性(閾値が温度に対して変動)゛、■
発光波長の安定性(温度に対して変化)などの点で使用
上の注意が必要である。Among light sources used in optical communication systems, semiconductor radar diodes are often used particularly as light sources for high speed and high output. Compared to light-emitting diodes, semiconductor LED diodes have lower reliability during high-temperature operation (deterioration of service life), light output stability (threshold varies with temperature),
Care must be taken when using the device in terms of the stability of the emission wavelength (changes with temperature), etc.
第1図は一般的な半導体レーデダイオードの出力回路の
概略構成を示すものである。101は半導体レーデダイ
オード、102はモニタ用のPIN−ホトダイオードで
あり、共にケース101に収納されている。104はA
PC(Aut。FIG. 1 shows a schematic configuration of an output circuit of a general semiconductor radar diode. 101 is a semiconductor radar diode, and 102 is a PIN photodiode for monitoring, both of which are housed in the case 101. 104 is A
PC (Out.
Pow@r C@鳳ty@l )回路を備えた半導体レ
ーデダイオード駆動回路(以下、単に駆動回路と称する
)である、駆動回路104は出力電気信号101iK応
じて半導体レーデダイオード101を駆動し、対応する
光出力信号を発生せしめる。The drive circuit 104, which is a semiconductor radar diode drive circuit (hereinafter simply referred to as a drive circuit), includes a Pow@r C@Otority@l ) circuit, and drives the semiconductor radar diode 101 in response to an output electric signal 101iK. , generating a corresponding optical output signal.
この光出力信号はPIN−ホトダイオード102で光/
電気変換される。駆動回路104はこの光/電気変換さ
れた信号(電気信号)に基づいて上記光出力信号が所定
レベルになるように半導体レーデダイオード101を駆
動制御する。This optical output signal is output from the PIN-photodiode 102.
converted into electricity. The drive circuit 104 drives and controls the semiconductor radar diode 101 based on this optical/electrically converted signal (electrical signal) so that the optical output signal becomes a predetermined level.
半導体レーデダイオード101から発生される光出力信
号は光ファイバケーバル106に送出される。このよう
な半導体レーデダイオードのドの各種特性の温度変化を
防止するために1上記APC回路のはかに半導体レーザ
ダイオードの温度を一定に保つだめの温度制御装置20
0が設けられている。温度制御装置200は半導体レー
ザダイオード101の温度(実際に祉ケース102の温
度)を検出するサーミス!(以下Tと称する)201、
電流の方向によって熱の吸収すなわち冷却)また祉熱の
発生(すなわち加熱)を行なうペルチェ効果素子(以下
、Pと称する)202、および温度制御部203を有し
ている。温度制御部203はT2O1の検出結果に応じ
てP2O1を制御し、半導体レーデダイオード101(
直接にはケース1o3)の温度を制御する。The optical output signal generated by semiconductor radar diode 101 is sent to optical fiber cable 106. In order to prevent such temperature changes in various characteristics of the semiconductor laser diode, a temperature control device 20 is provided to keep the temperature of the semiconductor laser diode constant in the APC circuit.
0 is set. The temperature control device 200 is a thermistor that detects the temperature of the semiconductor laser diode 101 (actually the temperature of the safety case 102)! (hereinafter referred to as T) 201,
It has a Peltier effect element (hereinafter referred to as P) 202 that absorbs heat (that is, cools) or generates heat (that is, heats) depending on the direction of electric current, and a temperature control section 203. The temperature control unit 203 controls P2O1 according to the detection result of T2O1, and controls the semiconductor radar diode 101 (
Directly controls the temperature of case 1o3).
第2図は従来の温度制御装置2000回路構成を示すも
ので、301は非反転増幅器、3o2は反転増幅器であ
る。303.304はP2O1に流れる′wL流の供給
源としてのNPN )ランゾスタ、305.306はス
イッチング用のNPN )ランジス!である。トランジ
スタ303.305は非反転増幅器3010出力電圧に
応じて制御され、Fランジスタso4.so6は反転増
幅器SOjの出力電圧に応じて制御される。P2O2は
その一端がトランジスタ303のエミッタおよびトラン
ジスタ306のコレクタに共通接続され、他端がトラン
ジスタ304のエミッタおよびトランジスタ305のコ
レクタに共通接続されている。しかして、T2O1に発
生する電圧が上りて非反転増幅器301の出力電圧が上
ると、すなわち反転増幅器302の出力電圧が下ると、
)ランジスタ305がオンし、FランラスタS06がオ
フする。これにより、トランジスタ30BSP202、
トランジスタ305の電流路が形成され、P2O2に電
流カニ供給される。この場合、トランジスタ303は活
性領域で動作する。一方、T2O1に発生する電圧が゛
下った場合には、トランジスタ305がオフし、トラン
ジスタ306がオンする。これにより、トランジスタ3
04、P2O2、トランジスタ306の電流路が形成さ
れ、P 202に前述した場合とは逆方向に電流が供給
される。FIG. 2 shows the circuit configuration of a conventional temperature control device 2000, in which 301 is a non-inverting amplifier and 3o2 is an inverting amplifier. 303.304 is NPN as a source of 'wL flow flowing to P2O1) Lanzosta, 305.306 is NPN for switching) Rungis! It is. Transistors 303, 305 are controlled according to the non-inverting amplifier 3010 output voltage, and F transistors so4. so6 is controlled according to the output voltage of the inverting amplifier SOj. One end of P2O2 is commonly connected to the emitter of transistor 303 and the collector of transistor 306, and the other end is commonly connected to the emitter of transistor 304 and the collector of transistor 305. Therefore, when the voltage generated at T2O1 increases and the output voltage of the non-inverting amplifier 301 increases, that is, when the output voltage of the inverting amplifier 302 decreases,
) The transistor 305 is turned on and the F run raster S06 is turned off. As a result, the transistor 30BSP202,
A current path for transistor 305 is formed and a current is supplied to P2O2. In this case, transistor 303 operates in the active region. On the other hand, when the voltage generated at T2O1 drops, transistor 305 is turned off and transistor 306 is turned on. As a result, transistor 3
A current path of 04, P2O2, and transistor 306 is formed, and a current is supplied to P202 in the opposite direction to the case described above.
この場合トランジスタ304は活性領域で動作する。そ
して、P2O2に流れる電流の方向(および電流値)の
切換えによってケース101すなわち半導体レーデダイ
オード101の冷却/加熱が行なわれ、半導体レーザダ
イオード101が所定温度に保たれる。In this case, transistor 304 operates in the active region. By switching the direction (and current value) of the current flowing through P2O2, the case 101, that is, the semiconductor laser diode 101 is cooled/heated, and the semiconductor laser diode 101 is maintained at a predetermined temperature.
このような従来の温度制御装置では、上述したようKP
;to2に電流を供給するトランジスタ303,304
が活性領域で動作されるため、次のような問題があった
。一般KP(ペルチェ効果素子)は低インピーダンス(
R中10)であり、かつ温度制御のためには電流Iとし
てIA〜2人程度を必要とする。通常電源電圧VCCと
してUsV、12v、15vなどが用いられているが、
この場合、低電圧の方が望ましいのでvcc : 5
Vであるものとする。また、トランyス1sos 、5
oetv飽和電圧VCIIATは0.5vであるものと
する。このような一般的な条件において、従来の温度制
御装置では、トランyxpzoslたld、)ランノス
タ304のコレクタ損失P、祉
Pc =(Vcg −RI Vcxsムt
)Iで表わされる。この場合、コレクタ損失PCの最大
値PCMAXは1− (Vcc Vczmht )
/ 2 Rのときであるから
PCMAX −(Vcc −Vczmht )2/
4 R=(5−0,5)2/4X1
中5.IW
となシ、コレクタ損失が極めて大きいことは明らかであ
る。このため従来の温度制御装置では、トランジスタの
形状も大型の本のを使用せざるを得なかった。また、放
熱器も大型にしなければならず、装置の小屋化が図れな
い欠点があった。In such a conventional temperature control device, as mentioned above, KP
;Transistors 303 and 304 that supply current to to2
Because it operates in the active region, there are the following problems. General KP (Peltier effect element) has low impedance (
10), and about 2 people are required for the current I to control the temperature. Usually, UsV, 12v, 15v, etc. are used as the power supply voltage VCC,
In this case, a low voltage is preferable, so vcc: 5
It is assumed that V. Also, trans ys 1sos, 5
It is assumed that the oetv saturation voltage VCIIAT is 0.5v. Under such general conditions, in a conventional temperature control device, the collector loss P of the lannostar 304 is calculated as follows:
)I. In this case, the maximum value PCMAX of collector loss PC is 1- (Vcc Vczmht)
/ 2 Since it is R, PCMAX - (Vcc - Vczmht ) 2/
4 R=(5-0,5)2/4X1 Medium5. It is clear that the collector loss is extremely large for IW. For this reason, conventional temperature control devices have no choice but to use large-sized transistors. In addition, the heat radiator also had to be large, and there was a drawback that the device could not be built into a shed.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものでその目的は、
消費電力を低減でき、もって装置の小型化が図れる温度
制御装置を提供することにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to:
It is an object of the present invention to provide a temperature control device that can reduce power consumption and thereby achieve miniaturization of the device.
制御対象物または制御対象雰囲気の温度と設定温度との
高低を電気的に検出して対応する2値信号を出力する手
段を設ける一方、上記2値信号の論理状態に応じて一方
がオン動作し、他方がオフ動作する互いに極性の異なる
一対のトランジスタ(第1トランジスタ対)と、上記2
値信号のレベル反転信号に応じて一方がオフ動作し、他
方がオン動作する上記一対のトランジスタと対を成す一
対のトランジスタ(第2トツンノスメ対)とを設け、上
記2値信号の論理状態に応じて上記第1トランジスタ対
の一方の極性のトランジスタ、4ルチエ効果素子、上記
第2トランジスタ対の上記一方の極性のトランジスタと
は異なる極性のトランジスタの電流路、または上記第1
トランジスタ対の他方の極性のトランジスタ、ペルチェ
効果素子、上記第2トランジスメ対の上記他方の極性の
トランジスタとは異なる極性のトランジスタの電流路の
いずれか一方の電流路を形成するととによシ、ペルチェ
効果素子に流れる電流の方向を切換えるようKしたもの
である。Means for electrically detecting the difference between the temperature of the object to be controlled or the atmosphere to be controlled and the set temperature and outputting a corresponding binary signal is provided, and one of the signals is turned on depending on the logic state of the binary signal. , a pair of transistors with mutually different polarities (first transistor pair), the other of which is turned off;
A pair of transistors forming a pair with the above-mentioned pair of transistors, one of which is turned off and the other of which is turned on in response to a level inversion signal of the value signal, is provided, and according to the logic state of the binary signal. a transistor of one polarity of the first transistor pair, a four-Lutier effect element, a current path of a transistor of a polarity different from the transistor of one polarity of the second transistor pair, or the first
The transistor of the other polarity of the transistor pair, the Peltier effect element, and the Peltier effect element may form one of the current paths of the transistor of the polarity different from the transistor of the other polarity of the second transistor pair. It is designed to switch the direction of the current flowing through the effect element.
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。第
3図の温度制御装置400において、401はT(サー
建スjl)である。402は基準電圧に、を発生する基
準電圧電源である。この基準電圧I=は設定温度によっ
て決定されるもので、任意に可変できる。403は比較
器(コンツクレータ)である。比較器403はTiO2
に発生する電圧ETと上記基準電圧Elとの大小を比較
し、比較結果に応じた2値信号を出力する。Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the temperature control device 400 shown in FIG. 3, 401 is T (serial setting jl). 402 is a reference voltage power supply that generates a reference voltage. This reference voltage I= is determined by the set temperature and can be arbitrarily varied. 403 is a comparator. Comparator 403 is TiO2
The magnitude of the voltage ET generated in the voltage ET and the reference voltage El is compared, and a binary signal is output according to the comparison result.
比較器401はE!≧Elのとき論理“1″(HIGH
レベル)の2億信号を出力し、Et<Egのとき論理@
0′″(LOWレベル)の2値信号を出力する。404
,405は比較器403から出力される2値信号をドラ
イブするだめのバッフγr−ト(例えば非反転のオープ
ン出力のTTL 14 、77 )、406,407は
比較器403から出力される2値信号をレベル反転して
ドライブするための反転パワファゲート(例えば反転の
オープン出力のTTLパ、7ア)である。Comparator 401 is E! Logic “1” (HIGH) when ≧El
outputs 200 million signals of level), and when Et<Eg, logic @
Outputs a binary signal of 0'' (LOW level).404
, 405 are buffers for driving the binary signal output from the comparator 403 (for example, non-inverted open output TTL 14 , 77 ), 406 and 407 are binary signals output from the comparator 403 This is an inverting power gate (for example, inverting open output TTL gate 7A) for inverting and driving the level.
40Bは反転バッファゲート40gの出力の論理状態に
応じてスイッチング(オン/オン)するPNP )ラン
ジス!、409は反転パ、ファダート407の出力の論
理状態に応じてスイッチング(オン/オフ)するNPN
)ランジスメである。411はパ、ファデート4o4
の出力の論理状態に応じてスイッチングするPNP )
ランジスタ、412はパ、ファr−ト405の出力の論
理状態に応じてスイッチングするNPN )ランノスタ
である。PNP )ランジスタ408゜411の各工ξ
、メは第1の電源例えば電源電圧VCCの電源に接続さ
れている。また、NPN )ランジスタ409,41:
2の各エミッタは第2の電源例えばアースに接続されて
いる。41JUP(ペルチェ効果素子)である。P41
3の一端はPNP )ランジスタ4 o it 、 N
pN )・2ンジス!409の各コレクタに共通接続さ
れ、他端はPNP )ランシスJ 41 J 、 NP
N )ランジスタ412の各コレクタに共通接続されて
いる。本実施例において、PdI2は電流Iが図示矢印
龜方向Kmれる場合に加熱(熱を発生)し、図示矢印す
方向KI51Eれる場合に冷却(熱を吸収)するものと
する。40B is a PNP that switches (on/on) according to the logic state of the output of the inverting buffer gate 40g) Rungis! , 409 is an inverting transistor, an NPN which switches (on/off) according to the logic state of the output of the fadart 407.
) Ranjisume. 411 is pa, fadate 4o4
PNP that switches depending on the logic state of the output of )
The transistor 412 is an NPN transistor that switches according to the logic state of the output of the transistor 405. PNP) Each work of transistor 408゜411 ξ
, and are connected to a first power supply, for example, a power supply having a power supply voltage VCC. Also, NPN) transistors 409, 41:
Each emitter of 2 is connected to a second power supply, eg ground. 41JUP (Peltier effect element). P41
One end of 3 is PNP) transistor 4 o it, N
pN)・2ndis! Commonly connected to each collector of 409, the other end is PNP) Lansys J 41 J, NP
N) Commonly connected to each collector of the transistor 412. In this embodiment, it is assumed that PdI2 heats (generates heat) when the current I moves in the direction of the arrow Km in the figure, and cools (absorbs heat) when it moves in the direction of the arrow KI51E in the figure.
次に本発明の一実施例の動作を説明する。TiO2は本
実施例において負特性サーミスタであるものとする。こ
の場合、対象温度が高くなると1401に発生する電圧
ETは低くなり、対象温度が低くなるとTiO2に発生
する電圧8丁は高くなる。今、設定温度に比べて対象温
度(例えば半導体レーザダイオードの温度)が低いもの
とすると、ET>Esとなシ、比較器403の出力は論
理@″1”となる。比較器403の論理″″1”出力は
パワファゲート404,405によって所定電圧レベル
の論理″1#信号に変換される。これにより 、PNP
) 7ンゾスタ411はオフ状態、NPN )ランジ
スメ412はオン状態となる。また、比較器403の論
理″″1”出力は反転バッファダート406,407に
よって論理“0″信号にレベル反転される。これによシ
、PNPトランゾスタ408はオン状態、NPN )ラ
ンノスメ409はオフ状態となる。この結果、PNP
)ランゾスメ40B、P413゜NPN )ランジスタ
412の電流路が形成され、PdI2に図示矢印a方向
の電aIが流れる。Next, the operation of one embodiment of the present invention will be explained. In this example, TiO2 is assumed to be a negative characteristic thermistor. In this case, as the target temperature increases, the voltage ET generated at 1401 decreases, and as the target temperature decreases, the voltage ET generated at TiO2 increases. Now, assuming that the target temperature (for example, the temperature of a semiconductor laser diode) is lower than the set temperature, if ET>Es, the output of the comparator 403 becomes logic @"1". The logic "1" output of comparator 403 is converted by power gates 404 and 405 into a logic "1#" signal at a predetermined voltage level. As a result, PNP
) 7Nzoster 411 is in the off state, NPN) Runjisme 412 is in the on state. Further, the level of the logic ""1" output of the comparator 403 is inverted to a logic "0" signal by the inverting buffer darts 406 and 407. As a result, the PNP transistor 408 is in the on state, and the NPN) run nozzle 409 is in the off state. As a result, PNP
) Ranzosumme 40B, P413°NPN) A current path of transistor 412 is formed, and electricity aI flows in the direction of arrow a in the figure through PdI2.
これによF)PdI2は熱を発生し、例えば半導体レー
デダイオードが加熱される。As a result, F) PdI2 generates heat, which heats up, for example, a semiconductor radar diode.
一方、設定温度に比べて対象温度が高くなるとET<E
aとなり、比較器403の出力は論理“0#となる。こ
の場合には上述したときと反対に、PNP )ランノス
タ411はオン状態、NPN )ランノスタ412はオ
フ状態となる。同、じ(PNP )ランジスタ408は
オフ状態、NPNトランジスタ409はオン状態となる
。この結果、PNP )ランジスタ411 、 P 4
1 J 、 NPNトランノスメ409の電流路が形成
され、PdI2に図示矢印す方向の電流!が流れる。こ
れKよ#)P41Jは熱を吸収し、例えば半導体レーデ
ダイオードが冷却される。On the other hand, if the target temperature is higher than the set temperature, ET<E
a, and the output of the comparator 403 becomes logic "0#".In this case, contrary to the above case, the PNP) runnostar 411 is on and the NPN) runnostar 412 is off. ) transistor 408 is turned off, and the NPN transistor 409 is turned on.As a result, PNP) transistor 411, P4
1 J, a current path of the NPN transnosmet 409 is formed, and a current flows in the direction indicated by the arrow in PdI2! flows. This is K#) P41J absorbs heat and, for example, a semiconductor radar diode is cooled.
このように本実施例によれば、加熱、冷却いずれの場合
にも、PNP )ランジスタ4o8゜NPN ) jン
ゾスタ412、およびPNP )ランノスメ411 、
NPN )ランジスタ409はそれぞれオン状態にお
いては飽和するため(Vcx −VHIIム!中O,S
V)、コレクメ損失は従来に比べて着しく減少される。As described above, according to this embodiment, in both heating and cooling cases, PNP) transistor 4o8゜NPN) j resistor 412, and PNP) rannosume 411,
Since the transistors 409 (NPN) are saturated in the on state, (Vcx - VHIIm!) O, S
V) Collector's loss is significantly reduced compared to the conventional method.
すなわち本実施例によれば装置全体の消費電力を著しく
低減することができる。このため、制御用のFランソス
メ408゜409.411,412は小電力用のトラン
ジスタでよく、形状も小屋のトランジスタでよい。That is, according to this embodiment, the power consumption of the entire device can be significantly reduced. Therefore, the control F-lancers 408, 409, 411, 412 may be small power transistors, and the shape may be a small-sized transistor.
同様にトランジスタの放熱器も小屋のものでよいetた
、本実施例によればトランジスタでの消費電力は上述の
ように極めて少なく、制御電力のtlとんどをペルチェ
効果素子(P4J、?)K与えることができるので効率
がよい。Similarly, the transistor's heatsink can be made of a shed.According to this embodiment, the power consumption of the transistor is extremely small as mentioned above, and most of the control power is transferred to the Peltier effect element (P4J, ?). It is efficient because K can be given.
なお、前記実施例ではバッファf−ト404゜405を
設けた場合について説明したが、比較器403が直接ト
ランジスタ411,412をドライ!できるものであれ
ば、必ずしも必要ない。また、トランジスタ408,4
11の各エミ、りを接地し、トランジスタ409,41
2の各エミッタに負電源を接続するようKしてもよい。In the above embodiment, the case where the buffers 404 and 405 were provided was explained, but the comparator 403 directly drives the transistors 411 and 412! It's not necessarily necessary if you can do it. In addition, the transistors 408, 4
The transistors 409 and 41 are grounded.
A negative power supply may be connected to each emitter of 2.
またPNP )ランジスタ40B、411およびNPN
)ランジスタ409,412を用いた場合について説
明したが、Pチャネルの電界効果トランジスタおよびN
チャネルの電界効果トランジスタを用いるようにしても
よい。この場合、PdI2は、その一端が一方のPチャ
ネルおよびNチャネルの電界効果トランジスタの各ドレ
インに共通接続され、他端が他方のPチャネルおよびN
チャネルの電界効果トランジスタよい。なお、制御対象
が半導体レーザダイオードに限定されるものではないこ
とは勿論゛である。Also PNP) transistors 40B, 411 and NPN
) The case where transistors 409 and 412 are used has been described, but P-channel field effect transistors and N
A channel field effect transistor may also be used. In this case, PdI2 has one end commonly connected to each drain of one P-channel and N-channel field effect transistor, and the other end commonly connected to each drain of the other P-channel and N-channel field effect transistor.
Good channel field effect transistor. Note that the object to be controlled is of course not limited to semiconductor laser diodes.
よれば、消費電力を低減でき、かつ装置の小型化を図る
ことができる。Accordingly, it is possible to reduce power consumption and downsize the device.
第1図は温度制御装置を備えた半導体レーデダイオード
の出力回路の概略構成図、第2図は従来の温度制御装置
の回路構成図、第3図は本発明の一実施例を示す回路構
成図である。
200、−400・・・温度制御装置、201゜401
・・・サー建スタ(T、温度検出器)、zox。
41 J−・ペルチェ効果素子(P)、303〜比較器
、406,407・・・反転バッファダート(反転器)
、4014.411・・・PNP )ランジス!。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an output circuit of a semiconductor radar diode equipped with a temperature control device, FIG. 2 is a circuit configuration diagram of a conventional temperature control device, and FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of the present invention. It is a diagram. 200, -400...Temperature control device, 201°401
... Sensor construction star (T, temperature sensor), ZOX. 41 J- Peltier effect element (P), 303 ~ comparator, 406, 407... inversion buffer dart (inverter)
, 4014.411...PNP) Ranjis! .
Claims (1)
または電流に変換する温度検出器と、設定温度に対応す
る基準電圧または基準電流を設定する基準電源と、この
基準電源で設定される上記基準電圧または基準電流と上
記温度検出器O変換出力とを比較しこの比較結果に応じ
た2値信号を出力する比較回路と、この比較回路から出
力される上記2値信号のレベルを反転する反転器と、こ
の反転器の出力レベルに応じてスイッチングするPNP
)ランジスタおよびNPNトランジスタまたはPチャ
ネルの電界効果トランシス/およびNfチャネル電界効
果トランジi夕から成る第1トランジスタ対と、上記比
較回路の出力レベルに応じてスイッチングする階トラン
ジスタおよびNPN )ランジスタまたは?チャネルO
電界効果トランジスタおよびNチャネルの電界効果トラ
ンジスタから成る第2トランジスタ対と、この第2トラ
ンジスタ対の各コレクタまたは各ドレインに一端が共通
接続され、他端が上記fa1トランジスタ対の各コレク
!または各ドレインに共通接続され、電fLO方向によ
って熱の発生、または吸収を行なうペルチェ効果素子と
を具備することを特徴とする温度制御装置。A temperature detector that detects the temperature of the object to be controlled or the atmosphere to be controlled and converts it into voltage or current, a reference power source that sets a reference voltage or current that corresponds to the set temperature, and the above standards that are set by this reference power source. A comparison circuit that compares the voltage or reference current with the temperature sensor O conversion output and outputs a binary signal according to the comparison result, and an inverter that inverts the level of the binary signal output from the comparison circuit. and a PNP that switches according to the output level of this inverter.
) transistor and an NPN transistor or a P-channel field-effect transistor/and an Nf-channel field-effect transistor pair; Channel O
A second transistor pair consisting of a field effect transistor and an N-channel field effect transistor; one end is commonly connected to each collector or each drain of the second transistor pair, and the other end is connected to each collector of the fa1 transistor pair! Alternatively, a temperature control device comprising: a Peltier effect element that is commonly connected to each drain and generates or absorbs heat depending on the direction of electric current fLO.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036013A JPS58153387A (en) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | Temperature controlling device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57036013A JPS58153387A (en) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | Temperature controlling device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58153387A true JPS58153387A (en) | 1983-09-12 |
Family
ID=12457860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57036013A Pending JPS58153387A (en) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | Temperature controlling device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58153387A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61205158U (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-24 | ||
JPH0412011U (en) * | 1990-05-18 | 1992-01-31 | ||
JPH05241668A (en) * | 1992-03-02 | 1993-09-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | Temperature control circuit |
EP0684536A1 (en) * | 1994-05-27 | 1995-11-29 | Hughes Aircraft Company | Improved thermoelectric cooler controller, thermal reference source and detector |
JP2015509280A (en) * | 2011-09-21 | 2015-03-26 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | Hot plate with planar thermal zone for semiconductor processing |
-
1982
- 1982-03-08 JP JP57036013A patent/JPS58153387A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61205158U (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-24 | ||
JPH0412011U (en) * | 1990-05-18 | 1992-01-31 | ||
JPH05241668A (en) * | 1992-03-02 | 1993-09-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | Temperature control circuit |
EP0684536A1 (en) * | 1994-05-27 | 1995-11-29 | Hughes Aircraft Company | Improved thermoelectric cooler controller, thermal reference source and detector |
JP2015509280A (en) * | 2011-09-21 | 2015-03-26 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | Hot plate with planar thermal zone for semiconductor processing |
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