[go: up one dir, main page]

JPS58144215U - 変位計の静電容量プロ−プ - Google Patents

変位計の静電容量プロ−プ

Info

Publication number
JPS58144215U
JPS58144215U JP1982040744U JP4074482U JPS58144215U JP S58144215 U JPS58144215 U JP S58144215U JP 1982040744 U JP1982040744 U JP 1982040744U JP 4074482 U JP4074482 U JP 4074482U JP S58144215 U JPS58144215 U JP S58144215U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
assembly
electrode
insulating insert
protective electrode
case
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1982040744U
Other languages
English (en)
Inventor
小柳　善樹
荏原　進
小田切　昭二
Original Assignee
岩崎通信機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 岩崎通信機株式会社 filed Critical 岩崎通信機株式会社
Priority to JP1982040744U priority Critical patent/JPS58144215U/ja
Priority to US06/475,027 priority patent/US4568873A/en
Publication of JPS58144215U publication Critical patent/JPS58144215U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/14—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の実施例に係わる変位計の静電、容量プ
ローブを示す断面図、第２図は第１図の第１の組立体を
示す一部切欠拡大斜視図、第３図は第１図の第２の組立
体を示す拡大斜視図、第４図は回路基板に於ける電気回
路を示すブロック図である。 尚図面に用いられている符号に於いて、１は測定電極、
２は保護電極、３，４は絶縁インサート、５は接地ケー
ス、８は固定ピン、１１は第１の組立体、１２は回路基
板、１３は接続ピン、１６は接続リング、１９は絶縁イ
ンサート、２２は固定ピン、２３はエンドキャップ、２
９は第２の組立体である。 補正　昭５８．　１．３１ 実用新案登録請求の範囲を次のように補正する。 ０実用新案登録請求の範囲 状接地ケース５と、前記測定電極１ど前記接地゛　　　
　ケース５との間に配置された保護電極２と、前記測定
電極１と前記保護電極２との間及び前記保護電極２と前
記接地ケース５との間に挿入された絶縁イア−９−一ト
３．４とから成る第１の組立体１１−と、 前記測定電極１に対して接離自在に結谷される接続ピン
１３と、前記保護電極シに接離−自在に結合される接続
リング１６と、前記接続ピン１３と前記接続リング１６
との間に挿入された絶縁インサート１９と、その一端に
前記接続ピン１３と前記接続リング１６ど前記絶縁イン
サート１９とから成る接続部分が固着され且つ前記接続
ピン１３及び前記接続リング１６が接続された測定用電
気回路を含んでいる回路基板１２と、前記回路基板１２
の他端に結合された基板支持部材とから成る第２の組立
体２９と、　　　−を組み合せたものであり、且つ前記
第２の組立体１９が前記第１の組立体１１に着脱自在に
結　　−合され、且つ前記第２の組立体２９の少なくと
も前記接続部分及び前記回路基板１２が前記接地ケース
５の中に配置されていることを特徴とする変位計の静電
容量プローブ。　　　　−（２）　　前記第１の組立体
１１は、前記測定電極１と、前記接地ケース５ど前記保
護電極−２と前記絶縁　−イツサート３．４とに夫々設
けられた穴に絶縁性固定ピンを挿入して一体化したもの
である実用新案登録請求の範囲第１項記載の静電容量プ
ｉ−ブ。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）円柱状測定−極１と、前記測定電極１を同軸的に
    取り囲む円筒状接地ケース５と、前記測定電極１と前記
    接地ケース５との間に同軸的に配置された保護電極２と
    、前記測定電極１と前記保護電極２との間及び前記保護
    電極２と前記接地ケース５との間に挿入された絶縁イン
    サート３．４とから成る第１の組立体１１と、前記測定
    電極１に対して接離自在に結合され・　る接続ピン１３
    と、前記保護電極２に接離自在に結合される接続リング
    １６と、前記接続ピン１３と前記接続リング１６との閂
    に挿入された絶縁インサート１９と、その一端に前記接
    続ピン１３と前記接続リング１６と前記絶縁インサート
    １９とから成る接続部分が固着され且つ前記接続ピン１
    ３及び前記接続リング１６が接続された測定用電気回路
    を含んでいる回路基板１２と、前記回路基板１２の他端
    に結合された基板支持部材とから成る第２の組立体２９
    と、を組み合せたものであり、且つ前記第２の組立体２
    ９が前記第１の組立体１１に着脱自在に結合され、且つ
    前記第２の組立体２９の少なくとも前記接続部分及び前
    記回路基板１２が前記後・　地ケース５の中に配置され
    ていることを特徴とする変位計の静電容量プローブ。
  2. （２）前記第１の組立体１１は、前記測定電極１と前記
    接地ケース５と前記保護電極２と前記絶縁インサート３
    ．４とに夫々設けられたこれ等の半径方向に延びる穴に
    絶縁性固定ピンを挿入して一体化したものである実用新
    案登録請求の範囲第１項記載の静電容量プローブ。
JP1982040744U 1982-03-23 1982-03-23 変位計の静電容量プロ−プ Pending JPS58144215U (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1982040744U JPS58144215U (ja) 1982-03-23 1982-03-23 変位計の静電容量プロ−プ
US06/475,027 US4568873A (en) 1982-03-23 1983-03-14 Easy-to-assemble capacitive probe for a high precision dimensional or distance gage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1982040744U JPS58144215U (ja) 1982-03-23 1982-03-23 変位計の静電容量プロ−プ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58144215U true JPS58144215U (ja) 1983-09-28

Family

ID=12589134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1982040744U Pending JPS58144215U (ja) 1982-03-23 1982-03-23 変位計の静電容量プロ−プ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4568873A (ja)
JP (1) JPS58144215U (ja)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1191261A (fr) * 1983-12-14 1985-07-30 Francois Lalonde Appareil de mesure dynamique et sans contact de faibles distances
DE3505615A1 (de) * 1985-02-19 1986-08-21 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Influenzsondenanordnung mit mehreren influenzsonden
US4818948A (en) * 1986-08-05 1989-04-04 Pratt & Whitney Canada Inc. Capacitive bridge-type probe for measuring blade tip clearance
US4766368A (en) * 1986-09-30 1988-08-23 Cox Harold A Capacitive sensor
US5263363A (en) * 1988-02-11 1993-11-23 Agar Corporation, Ltd. Apparatus and method for determining the percentage of a fluid in a mixture of fluids
FR2629204B1 (fr) * 1988-03-25 1990-12-14 Oreal Dispositif pour realiser une mesure de la teneur en eau d'un substrat, notamment de la peau
JP2928841B2 (ja) * 1989-05-02 1999-08-03 日本ヒューレット・パッカード株式会社 電極システム
US5166626A (en) * 1990-05-29 1992-11-24 General Electric Company Electrical capacitance clearanceometer
US5101165A (en) * 1990-05-29 1992-03-31 General Electric Company Electrical capacitance clearanceometer
US5610069A (en) * 1992-03-27 1997-03-11 Abbott Laboratories Apparatus and method for washing clinical apparatus
US5536471A (en) * 1992-03-27 1996-07-16 Abbott Laboratories Syringe with bubble flushing
US5960160A (en) * 1992-03-27 1999-09-28 Abbott Laboratories Liquid heater assembly with a pair temperature controlled electric heating elements and a coiled tube therebetween
US5540890A (en) * 1992-03-27 1996-07-30 Abbott Laboratories Capped-closure for a container
US5646049A (en) * 1992-03-27 1997-07-08 Abbott Laboratories Scheduling operation of an automated analytical system
US5507410A (en) * 1992-03-27 1996-04-16 Abbott Laboratories Meia cartridge feeder
US5575978A (en) * 1992-03-27 1996-11-19 Abbott Laboratories Sample container segment assembly
US5578494A (en) * 1992-03-27 1996-11-26 Abbott Laboratories Cap actuator for opening and closing a container
US5627522A (en) * 1992-03-27 1997-05-06 Abbott Laboratories Automated liquid level sensing system
US5635364A (en) * 1992-03-27 1997-06-03 Abbott Laboratories Assay verification control for an automated analytical system
US5376313A (en) * 1992-03-27 1994-12-27 Abbott Laboratories Injection molding a plastic assay cuvette having low birefringence
US5605665A (en) * 1992-03-27 1997-02-25 Abbott Laboratories Reaction vessel
US6190617B1 (en) 1992-03-27 2001-02-20 Abbott Laboratories Sample container segment assembly
US5459406A (en) * 1994-07-01 1995-10-17 Cornell Research Foundation, Inc. Guarded capacitance probes for measuring particle concentration and flow
GB2295016A (en) * 1994-11-07 1996-05-15 British Nuclear Fuels Plc A transducer
US6480008B2 (en) * 1999-12-03 2002-11-12 Mitutoyo Corporation Capacitive distance sensor for surface configuration determining apparatus
US7364474B2 (en) * 2003-10-14 2008-04-29 Precision Interconnect, Inc. Cable terminal with contact pins including electrical component
US7371128B2 (en) * 2003-10-14 2008-05-13 Precision Interconnect, Inc. Cable terminal with air-enhanced contact pins
US7408474B2 (en) * 2003-12-16 2008-08-05 Leitner-Poma Of America, Inc. Sensor damage indicator and method
US8107207B2 (en) * 2008-08-08 2012-01-31 Surge Suppression Incorporated Potted electrical circuit with protective insulation
CN101865648B (zh) * 2009-04-17 2012-05-23 上海友准量具有限公司 高精度电容测微仪
US9245786B2 (en) 2011-06-02 2016-01-26 Applied Materials, Inc. Apparatus and methods for positioning a substrate using capacitive sensors
LU92018B1 (fr) * 2012-06-08 2013-12-09 Luxembourg Patent Co Ensemble de jauge de niveau capacitive pour un récipient de gaz pressurisé ou liquéfié
WO2016014134A2 (en) * 2014-04-28 2016-01-28 Brigham Young University Data acquisition system with rotating probe members and ground reference electrode
WO2016205207A1 (en) 2015-06-14 2016-12-22 Brigham Young University Flexible elements for probes and guard rings
US11346735B2 (en) * 2016-12-23 2022-05-31 Redaelli Tecna S.P.A. Monitoring sensor for a rope of cableway systems
CN109387259A (zh) * 2018-10-23 2019-02-26 中国船舶重工集团公司第七〇九研究所 水位探头
JP2020085452A (ja) * 2018-11-15 2020-06-04 オムロン株式会社 近接センサユニットおよび距離観測装置
JP7650685B2 (ja) * 2021-03-11 2025-03-25 三菱重工業株式会社 クリアランスセンサ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3400331A (en) * 1965-01-18 1968-09-03 Pratt & Whitney Inc Gaging device including a probe having a plurality of concentric and coextensive electrodes
US3805150A (en) * 1970-08-17 1974-04-16 Ade Corp Environment immune high precision capacitive gauging system
US3739264A (en) * 1971-06-11 1973-06-12 Agridustrial Electronics Grain moisture tester
US3771051A (en) * 1972-06-14 1973-11-06 Ade Corp Apparatus and method for indicating surface roughness
US3879660A (en) * 1973-10-24 1975-04-22 John S Piso Capacitive measuring system
DE2530157A1 (de) * 1975-07-05 1977-02-03 Bosch Gmbh Robert Elektronisches steuergeraet
DD136897B1 (de) * 1978-06-20 1981-03-25 Elektromat Veb Kapazitiver messfuehler

Also Published As

Publication number Publication date
US4568873A (en) 1986-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58144215U (ja) 変位計の静電容量プロ−プ
JPS60123666U (ja) 回路基板等の検査装置
JPS60123665U (ja) 回路基板検査装置等の同軸型接触プロ−ブと同軸ケ−ブルの接続装置
JPS6231888Y2 (ja)
JPS60139276U (ja) プロ−ブカ−ド
JPS60118765U (ja) プロ−ブカ−ド
JPS6331934B2 (ja)
JPH0321878A (ja) フラットパッケージ用エミュレーションプローブソケット
JPS58109065U (ja) ア−ス断接スイツチ付計測器
JPS60141563U (ja) 導電塗膜抵抗値測定具
JPS5874782U (ja) フレキシブルプリント配線板におけるランプソケツト取付装置
JPS6218676U (ja)
JPS60124085U (ja) 指示計器の電気接続装置
JPS60109056U (ja) 端子接続機構
JPS6066066U (ja) 半導体装置
JPH0328476U (ja)
JPS59121177U (ja) 電気配線用端子台
JPS60109326U (ja) 半導体疑似試験装置
JPS58120967U (ja) オシロスコ−プ用プロ−ブ
JPS5896686U (ja) コネクタ
JPS58148934U (ja) 集積回路測定装置
JPH0248366U (ja)
JPS5911463U (ja) プリント基板
JPS5911443U (ja) プロ−ブカ−ド
JPS5895584U (ja) ランプの取付装置