JPS58115583A - 映像パタ−ン読取り方式 - Google Patents
映像パタ−ン読取り方式Info
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- JPS58115583A JPS58115583A JP56212502A JP21250281A JPS58115583A JP S58115583 A JPS58115583 A JP S58115583A JP 56212502 A JP56212502 A JP 56212502A JP 21250281 A JP21250281 A JP 21250281A JP S58115583 A JPS58115583 A JP S58115583A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/20—Image preprocessing
- G06V10/30—Noise filtering
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路の製造の際に用いるフォトマスクな
どのパターンの欠陥の有無を検出するに適した映像パタ
ーン読取り方式に関する。
どのパターンの欠陥の有無を検出するに適した映像パタ
ーン読取り方式に関する。
一般に、この種フォトマスクは、原図(設計図)(以下
、標準パターンという)に基いて、印刷法などにより、
例えば透明なガラス板上に不透明なりロム薄膜層のパタ
ーン(以下、映倫パターンという)を被着して作製され
るが、そのパターンが標準パターンどおり作られている
かどうかその欠陥の有無を検査する必要があり、その検
査方法として走査屋電子顕微鏡を含む撮儂装置を用いる
ものが知られている。この方法は、検査の対象であるフ
ォトマスクの映像パターン【電子光学的に読取り検出し
、読取り検出した映像信号を絵素毎に2値化しく例えば
、不透明部分又は黒レベル信号上数値ゝゝ1“に、透明
部分又は白レベル信号t数値″0“に変換し)、シかる
後、この2値化信号による映像パターンを検査して欠陥
の有無tvj4べろものであるが、この方法では、映像
信号を正しい数値レベルに2値化する必要があり、さも
ないと、その後の検査精度が劣化し、欠陥の有無會誤っ
て判断するおそれが生じる。
、標準パターンという)に基いて、印刷法などにより、
例えば透明なガラス板上に不透明なりロム薄膜層のパタ
ーン(以下、映倫パターンという)を被着して作製され
るが、そのパターンが標準パターンどおり作られている
かどうかその欠陥の有無を検査する必要があり、その検
査方法として走査屋電子顕微鏡を含む撮儂装置を用いる
ものが知られている。この方法は、検査の対象であるフ
ォトマスクの映像パターン【電子光学的に読取り検出し
、読取り検出した映像信号を絵素毎に2値化しく例えば
、不透明部分又は黒レベル信号上数値ゝゝ1“に、透明
部分又は白レベル信号t数値″0“に変換し)、シかる
後、この2値化信号による映像パターンを検査して欠陥
の有無tvj4べろものであるが、この方法では、映像
信号を正しい数値レベルに2値化する必要があり、さも
ないと、その後の検査精度が劣化し、欠陥の有無會誤っ
て判断するおそれが生じる。
特に、S/Nの低い映像信号に対しては、雑音によシ誤
った2値化が行なわれるおよれがある。
った2値化が行なわれるおよれがある。
従来、このような問題を解決するために、S/Nの低い
映像信号の場合、同一映像パターンを繰返し銃取り走査
し、撮像して同一映倫信号【Jll&積することによっ
てS/Nt−向上させた後、2値化を行なう方法が知ら
れているが、このように映倫パターンを広範囲に亘って
繰返し走査するため、検査処理時間がきわめて長くなり
、数日を要することもまれではない等の欠点があった。
映像信号の場合、同一映像パターンを繰返し銃取り走査
し、撮像して同一映倫信号【Jll&積することによっ
てS/Nt−向上させた後、2値化を行なう方法が知ら
れているが、このように映倫パターンを広範囲に亘って
繰返し走査するため、検査処理時間がきわめて長くなり
、数日を要することもまれではない等の欠点があった。
本発明の目的は、上記従来技□゛術の欠点を除き、映像
パターンの2値化された映像信号に含まれる雑音【迅速
に除去し、以て前記映像パターンの欠陥を迅速、かつ、
適確に検査できるようにした映像パターン読取り方式に
関する。
パターンの2値化された映像信号に含まれる雑音【迅速
に除去し、以て前記映像パターンの欠陥を迅速、かつ、
適確に検査できるようにした映像パターン読取り方式に
関する。
この目的を達成するために、本発明は、映像パターンの
2値化された映像信号を各絵素信号毎にチェックし、該
チェックの結果雑音を含んでいる可能性のある絵素信号
については該絵素信号を複数回得ることKよって統計的
に補正上行ない、前記チェックは、標準パターンの2値
化された映倫信号を基準とし、該標準パターンの境界【
含むその周辺領域(以下、境界周辺領域という)では映
像パターンの各絵素の相関性を利用して行ない、また、
該標準パターンの境界周辺領域以外の領域では前記標準
パターンと映倫パターンとの夫々の映像信号を各絵素毎
に比較することによって行なうことt特徴とする。
2値化された映像信号を各絵素信号毎にチェックし、該
チェックの結果雑音を含んでいる可能性のある絵素信号
については該絵素信号を複数回得ることKよって統計的
に補正上行ない、前記チェックは、標準パターンの2値
化された映倫信号を基準とし、該標準パターンの境界【
含むその周辺領域(以下、境界周辺領域という)では映
像パターンの各絵素の相関性を利用して行ない、また、
該標準パターンの境界周辺領域以外の領域では前記標準
パターンと映倫パターンとの夫々の映像信号を各絵素毎
に比較することによって行なうことt特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
第1図は本発明による映倫パターン読取シ方式の一実施
例を示すブロック図であって、1は撮像装置、2は走査
位置制御回路、3はメモリ、4は2値化回路、5Fi境
界周辺領域抽出回路、6は周辺画素参照回路、7は2値
化条件判定回路、8ViM度諌F数回路、9は比較回路
、1oFiZ値信号設定回路である。
例を示すブロック図であって、1は撮像装置、2は走査
位置制御回路、3はメモリ、4は2値化回路、5Fi境
界周辺領域抽出回路、6は周辺画素参照回路、7は2値
化条件判定回路、8ViM度諌F数回路、9は比較回路
、1oFiZ値信号設定回路である。
次に、この実施例の動作について説明する。
同図において、撮像装置1は映像ノ(ターン(図示せず
)を撮偉し、映倫パターンkWわす映像信号(以下、映
像パターン信号という)を発生する0映像パタ一ン信号
は2値化回路4に供給され、各絵素毎にサンプリングさ
れるとともに、映像パターン01lI!淡に応じて2値
化される。2値化回路4からの2値化された映倫パター
ン信号は、周辺絵素参照回路6.2値化条件判定回路7
、頻度計数回路8に供給される。
)を撮偉し、映倫パターンkWわす映像信号(以下、映
像パターン信号という)を発生する0映像パタ一ン信号
は2値化回路4に供給され、各絵素毎にサンプリングさ
れるとともに、映像パターン01lI!淡に応じて2値
化される。2値化回路4からの2値化された映倫パター
ン信号は、周辺絵素参照回路6.2値化条件判定回路7
、頻度計数回路8に供給される。
一方、メモlJ3には、撮像装置1で撮像される映像パ
ターンの4とKなる標準パターンが記憶され、走査位置
制御回路2の制御のもとに、撮像装置1と同期して映倫
パターン信号と同様に2値化された標準パターンが読み
出される。メモリ3から標準パターン【表わす映像信号
(以下、標準パターン信号という)Vi境界周辺領域抽
出回路5に供給される。境界周辺領域抽出回路5は、標
準パターン信号から標準パターンの境界周辺領域を表わ
す信号(以下、周辺信号という)′を形成し、この周辺
信号と標準パターン信号とを2値化条件判定回路7に供
給する。
ターンの4とKなる標準パターンが記憶され、走査位置
制御回路2の制御のもとに、撮像装置1と同期して映倫
パターン信号と同様に2値化された標準パターンが読み
出される。メモリ3から標準パターン【表わす映像信号
(以下、標準パターン信号という)Vi境界周辺領域抽
出回路5に供給される。境界周辺領域抽出回路5は、標
準パターン信号から標準パターンの境界周辺領域を表わ
す信号(以下、周辺信号という)′を形成し、この周辺
信号と標準パターン信号とを2値化条件判定回路7に供
給する。
なお、「標準パターンの境界」とは、第2図tcおいて
、標準ノくターンPS の濃淡領域、すなわち、たとえ
ば白を表わすa領域とat表わすb@域との境い目Ct
−いい、[標準)(ターンの境界周辺領域」とは、標準
パターンの境界Ct−含む近傍領域d(斜線を施こした
領域)である。
、標準ノくターンPS の濃淡領域、すなわち、たとえ
ば白を表わすa領域とat表わすb@域との境い目Ct
−いい、[標準)(ターンの境界周辺領域」とは、標準
パターンの境界Ct−含む近傍領域d(斜線を施こした
領域)である。
そして、周辺信号は、境界周辺領域抽出回路5に供給さ
れた標準パターン信号の絵素信号が、標準パターンの境
界周辺領域d(第2図)に含まれる絵素t”表わすもの
であるときには、′″0“で、境界周辺領域dに含壕れ
ない絵素上表わすものでるときには1“である。
れた標準パターン信号の絵素信号が、標準パターンの境
界周辺領域d(第2図)に含まれる絵素t”表わすもの
であるときには、′″0“で、境界周辺領域dに含壕れ
ない絵素上表わすものでるときには1“である。
周辺絵素参照回路6は、2値化回路4から供給される映
像パターン信号の各絵素信号【、その周辺の複数の既に
2値化判定がなされ九絵素信号と比較し、各絵素信号が
周辺の絵素信号と全て一致すれば′l“であり、少なく
とも1つが一致しなければ0″である信号(以下、参照
信号という)音発生する。
像パターン信号の各絵素信号【、その周辺の複数の既に
2値化判定がなされ九絵素信号と比較し、各絵素信号が
周辺の絵素信号と全て一致すれば′l“であり、少なく
とも1つが一致しなければ0″である信号(以下、参照
信号という)音発生する。
すなわち、813図において、いま、映像パターンのに
一1番目の走査線とに番目の走査線において、k番目の
走査線上の絵素Xに対する絵素信号が周辺絵素参照回路
6に供給されたものとすると、この絵素Xと、k番目の
走査線の絵素Xに対して左隣りの絵素a+に一1番目の
走査線の、絵素XK対して真上のllR素c1さらに絵
素Cの両隣りの絵素す、dとの夫々の#素信号の11“
、′o“レベルを比較し、全てが一致したときには参照
信号t”l“とじ、少なくとも1つが一致しないと自は
%16 //とする亀のである。
一1番目の走査線とに番目の走査線において、k番目の
走査線上の絵素Xに対する絵素信号が周辺絵素参照回路
6に供給されたものとすると、この絵素Xと、k番目の
走査線の絵素Xに対して左隣りの絵素a+に一1番目の
走査線の、絵素XK対して真上のllR素c1さらに絵
素Cの両隣りの絵素す、dとの夫々の#素信号の11“
、′o“レベルを比較し、全てが一致したときには参照
信号t”l“とじ、少なくとも1つが一致しないと自は
%16 //とする亀のである。
2値化条件判定回路7は、境界周辺領域抽出回路5から
の周辺信号に応じて、2値化回路4からの映倫パターン
信号の各絵素信号t、異なっ^方法で判定を行なう。
の周辺信号に応じて、2値化回路4からの映倫パターン
信号の各絵素信号t、異なっ^方法で判定を行なう。
まず、周辺信号が1 //であるとする。
このと@罠は、メモリ3から読取られる絵素は、第2図
に示す境界周辺*Mdに含まれない。そのとき、撮像装
置Itlとメモリ3とは走査位置制御回路2により同期
して走査位置が制御されゐから、撮像装置lから得られ
ゐ絵素信号は、映倫パターンの境界を表わすものではな
く、2値化回路4からの映像パターン信号と境界周辺領
域抽出回路5からの標準パターン信号とt絵素信号毎に
比較する。そして、両者が一致し次ときには、そのとき
の映像パターン信号の絵素信号は、正しく2値化された
絵素信号として2値信号設定回路10に供給されるとと
もに、走査位置制御回路2’/Km作冬せて撮像装置1
、メモリ3の読取り位置を次の絵素に移す。
に示す境界周辺*Mdに含まれない。そのとき、撮像装
置Itlとメモリ3とは走査位置制御回路2により同期
して走査位置が制御されゐから、撮像装置lから得られ
ゐ絵素信号は、映倫パターンの境界を表わすものではな
く、2値化回路4からの映像パターン信号と境界周辺領
域抽出回路5からの標準パターン信号とt絵素信号毎に
比較する。そして、両者が一致し次ときには、そのとき
の映像パターン信号の絵素信号は、正しく2値化された
絵素信号として2値信号設定回路10に供給されるとと
もに、走査位置制御回路2’/Km作冬せて撮像装置1
、メモリ3の読取り位置を次の絵素に移す。
これに対して、両者が一致しないときには、そのときの
映像パターン信号の絵素信号は正しく2値化されていな
いものとし、これは、映像パターンの欠陥による場合も
あるが、読取り時における雑音による場合もあるからで
ある。そこで、2値化条件判定回路7は、頻度計数回路
8を動作させ為とともに、走査位置制御回路2による撮
像装置1とメモリ3との読取多位置を固定する。
映像パターン信号の絵素信号は正しく2値化されていな
いものとし、これは、映像パターンの欠陥による場合も
あるが、読取り時における雑音による場合もあるからで
ある。そこで、2値化条件判定回路7は、頻度計数回路
8を動作させ為とともに、走査位置制御回路2による撮
像装置1とメモリ3との読取多位置を固定する。
次tこい周辺信号が11θ″であるとする。
このときには、メモリ3から読取られる絵素は、第2図
に示す境界周辺領域dに含まれる。ところで、一般に、
撮像装置1がら読取られ6映像パターンとメモリ3から
読取られる標準パターンとは、完全に一致することがな
く、若干の誤差(41!準パターンを基準にすると、±
1μm程度の誤差)でもってづれている。このために、
第2図の境界周辺類Mdの巾は、lIi準パターンP8
の境界cf中心にして、上下左右に1μmの巾の領域と
しているO しかるに、そのときの映倫パターン信号の絵素信号は映
像パターンの境界を表わす可能性もあシ、このためK、
映像パターン信号上標準パターン信号とt比較しのでは
、夫々のパターンの絵素信号が正しくても両者が不一致
になる可能性がある。
に示す境界周辺領域dに含まれる。ところで、一般に、
撮像装置1がら読取られ6映像パターンとメモリ3から
読取られる標準パターンとは、完全に一致することがな
く、若干の誤差(41!準パターンを基準にすると、±
1μm程度の誤差)でもってづれている。このために、
第2図の境界周辺類Mdの巾は、lIi準パターンP8
の境界cf中心にして、上下左右に1μmの巾の領域と
しているO しかるに、そのときの映倫パターン信号の絵素信号は映
像パターンの境界を表わす可能性もあシ、このためK、
映像パターン信号上標準パターン信号とt比較しのでは
、夫々のパターンの絵素信号が正しくても両者が不一致
になる可能性がある。
そこで、周辺絵素参照回路6からの参照信号にもとづい
て、2値化回路4からの映像パターン信号の各絵素11
1号が正しく2値化されたが否か全判定する。
て、2値化回路4からの映像パターン信号の各絵素11
1号が正しく2値化されたが否か全判定する。
すなわち、参照18号が411 L/のときKは、第3
図において、絵素xK対・する絵素信号が、周辺の#*
a + b + c + dに対する夫々の絵素信号と
一致しており、映像パターンの相関性から絵素xK対す
る絵素信号は正しく2値化されているものとし、このと
きの2値化回路4からの映像パターン信号の絵素信号は
、2値漕号設定回路10に供給されるとともに、走査位
置制御回路2が動作して撮像装置1とメモリ3の読取り
位置を次の絵素に移す。
図において、絵素xK対・する絵素信号が、周辺の#*
a + b + c + dに対する夫々の絵素信号と
一致しており、映像パターンの相関性から絵素xK対す
る絵素信号は正しく2値化されているものとし、このと
きの2値化回路4からの映像パターン信号の絵素信号は
、2値漕号設定回路10に供給されるとともに、走査位
置制御回路2が動作して撮像装置1とメモリ3の読取り
位置を次の絵素に移す。
一方、参照信号がIs □ //のときKは、第3図に
おいて、絵素Xに対すゐ絵素信号が、周辺の絵素&+
bl C!l dK対する絵素信号の少なくとも1つと
異なっておシ、このために、絵素Xは映像パターンの境
界、欠陥である場合もあるし、また、蚊取シ時の雑音に
より絵素Xの絵素信号が影響上受けた可能性がある。
おいて、絵素Xに対すゐ絵素信号が、周辺の絵素&+
bl C!l dK対する絵素信号の少なくとも1つと
異なっておシ、このために、絵素Xは映像パターンの境
界、欠陥である場合もあるし、また、蚊取シ時の雑音に
より絵素Xの絵素信号が影響上受けた可能性がある。
そこで、2進化条件設定回&87は頻度計数回路8t−
動作させるとともに、走査位置制御回路2t不動作にし
て撮葎装置1とメモリ3の読取り位置を固定する。
動作させるとともに、走査位置制御回路2t不動作にし
て撮葎装置1とメモリ3の読取り位置を固定する。
頻度計数回路8は、起動されると2値化回路4からの映
像パターン信号の絵素信号の0“またはl“の計数を開
始する。つオリ、走査が固定されて同一絵素信号が2値
化回路4で繰返しサンプルされ、2値化されて頻度計数
回路8に入ると、ここでこの2値化レベル%l 1//
である2値化回数(サンプル回数)と′0“である2値
化回数が各別に計数され、パ1“の回数(頻V)とO″
の回数(頻f)のいずれが先に予じめ設定した回数N(
例えば数回)t−越えたか1次の比較回路9により検出
し、先に越えたものが1′0“なら“0″t、II I
Nなら111 ″<その読取位置における真の2値数
として採用し、これt次段の2値信号設定回路lOに送
るものである。このように、頻度により2値数値の真偽
【判定するようにしたのは、誤り信号が生じる原因とな
る雑音の発生、走査電子ビームや映像パターン表面の微
妙な時間的変化などはごく一時的偶発的なものであって
、正しい信号出力に比べて短時間で頻度が少ないと考え
られるからである。比較回路9は、ま之、前記のように
110 //または111 //のいずれかkXである
と法定すると、直ちに、走査位置制御回路2を動作させ
て撮像装[1、メモリ3は次の絵素の読取りt開始させ
る。
像パターン信号の絵素信号の0“またはl“の計数を開
始する。つオリ、走査が固定されて同一絵素信号が2値
化回路4で繰返しサンプルされ、2値化されて頻度計数
回路8に入ると、ここでこの2値化レベル%l 1//
である2値化回数(サンプル回数)と′0“である2値
化回数が各別に計数され、パ1“の回数(頻V)とO″
の回数(頻f)のいずれが先に予じめ設定した回数N(
例えば数回)t−越えたか1次の比較回路9により検出
し、先に越えたものが1′0“なら“0″t、II I
Nなら111 ″<その読取位置における真の2値数
として採用し、これt次段の2値信号設定回路lOに送
るものである。このように、頻度により2値数値の真偽
【判定するようにしたのは、誤り信号が生じる原因とな
る雑音の発生、走査電子ビームや映像パターン表面の微
妙な時間的変化などはごく一時的偶発的なものであって
、正しい信号出力に比べて短時間で頻度が少ないと考え
られるからである。比較回路9は、ま之、前記のように
110 //または111 //のいずれかkXである
と法定すると、直ちに、走査位置制御回路2を動作させ
て撮像装[1、メモリ3は次の絵素の読取りt開始させ
る。
次に、第1図の各回路の具体例について説明する0
第41N(A)、(13)は第1図の境界周辺領域抽出
回路5の一具体例を示すブロック図である。
回路5の一具体例を示すブロック図である。
第4図囚において、11はメモリ3がらの標準パターン
イg号入力端子、12はそれぞれが(テレビジョンの水
平走査に相当する)走査線の長さに対応する遅延時間(
IH)を有するシフトレジスタ12111221 ・・
・”・+ 122n2 t−複数本直列接続して構成
畑ねるシフトレジスタ群、13#−を各々が2n−4個
の記憶セルを有し、シフトレジスタ12□+122.・
・・・・・、12□n−1および入力端子11から絵素
信号が供給される直列入力並列出力用のシフトレジスタ
(L’1 、 P2.、、、−・−pH11)k 2
n −1本にて構成してなる局部メモリである。この構
成により局部メモリ13には走査に同期して標準パター
ンの縦×横が(2n−1)X (2n−1)の絵素数か
らなる正方形の局部領域が逐次切出される。
イg号入力端子、12はそれぞれが(テレビジョンの水
平走査に相当する)走査線の長さに対応する遅延時間(
IH)を有するシフトレジスタ12111221 ・・
・”・+ 122n2 t−複数本直列接続して構成
畑ねるシフトレジスタ群、13#−を各々が2n−4個
の記憶セルを有し、シフトレジスタ12□+122.・
・・・・・、12□n−1および入力端子11から絵素
信号が供給される直列入力並列出力用のシフトレジスタ
(L’1 、 P2.、、、−・−pH11)k 2
n −1本にて構成してなる局部メモリである。この構
成により局部メモリ13には走査に同期して標準パター
ンの縦×横が(2n−1)X (2n−1)の絵素数か
らなる正方形の局部領域が逐次切出される。
たとえば、n=3とすると、 (2n 1) X (
2n−1) −5X5=25個の絵素からなる正方形の
領域が走査位置に応じて抽出され、もしも1絵素分の幅
to、2μmとすれば、この正方形領域はtlば1μm
X1μm となる。
2n−1) −5X5=25個の絵素からなる正方形の
領域が走査位置に応じて抽出され、もしも1絵素分の幅
to、2μmとすれば、この正方形領域はtlば1μm
X1μm となる。
第4図03)において、14FiAND回路、15はN
OR回路、16はOR回路である。局部メモリ13の記
憶セルtPij口、j=1〜2n−1)として、局部メ
モI713 K記憶される全絵素信号tAND回路14
およびNOR回路15へ入力し、AND回路14および
NOR回路15の出力會OR回路16に入力すると、O
R回路16の出力端子17に得られる周辺信号は、局部
メモリ13において、上記全絵素が全て一致していると
きtt 1 //となり、1つでも異なるときには11
0“となる。
OR回路、16はOR回路である。局部メモリ13の記
憶セルtPij口、j=1〜2n−1)として、局部メ
モI713 K記憶される全絵素信号tAND回路14
およびNOR回路15へ入力し、AND回路14および
NOR回路15の出力會OR回路16に入力すると、O
R回路16の出力端子17に得られる周辺信号は、局部
メモリ13において、上記全絵素が全て一致していると
きtt 1 //となり、1つでも異なるときには11
0“となる。
そこで、いま、n−=2@例にして、第5図について境
界周辺領域抽出回路5の動作ta明する。
界周辺領域抽出回路5の動作ta明する。
第5図において、aは標準パターンの境界であり、丸印
は局部メモリ13 (第4図(A))のシフトレジスタ
の記憶セルP1」(但し、t、j=l、2゜3)に記憶
された絵素信号に対する絵素【示し、以下、説明を簡単
にするために、シフトレジスタ(7) 記[[セルPl
jに記憶される絵素tPBというように表現する。
は局部メモリ13 (第4図(A))のシフトレジスタ
の記憶セルP1」(但し、t、j=l、2゜3)に記憶
された絵素信号に対する絵素【示し、以下、説明を簡単
にするために、シフトレジスタ(7) 記[[セルPl
jに記憶される絵素tPBというように表現する。
さて、第5図囚に示すように、絵素Pljが全て境界a
の一方側にあるときには、全ての絵素P1jは一致する
から、出力端子17 (第4図の))に得られる周辺
信号は111“である。
の一方側にあるときには、全ての絵素P1jは一致する
から、出力端子17 (第4図の))に得られる周辺
信号は111“である。
次に、メモリ3(第1図)の読取り位置が1絵素分右方
に移動し、第5図缶)に示すように、絵素Piz−ダ境
界aの右側にあり、絵素Pl意と絵素Piaとが境界a
の左側になったときには、絵素pHと、絵素Piz +
Pimとは当然異なるがら、出力端子17からの周辺
信号は1′0“となる。
に移動し、第5図缶)に示すように、絵素Piz−ダ境
界aの右側にあり、絵素Pl意と絵素Piaとが境界a
の左側になったときには、絵素pHと、絵素Piz +
Pimとは当然異なるがら、出力端子17からの周辺
信号は1′0“となる。
さらに、メモリ3が読取り位置を移動し、第5図(C)
に示すように、絵素P11+Pigが境界aの右側にあ
り、11!嵩P1gが境界aの左@になったときには、
出力端子17からの周辺信号はゝゝONとなるが、さら
罠、読取り位置が移動すると、全ての絵素Pljは境界
1の右側にあることになって出力端子17からの周辺信
号Fi411 //となる(第5図0)。
に示すように、絵素P11+Pigが境界aの右側にあ
り、11!嵩P1gが境界aの左@になったときには、
出力端子17からの周辺信号はゝゝONとなるが、さら
罠、読取り位置が移動すると、全ての絵素Pljは境界
1の右側にあることになって出力端子17からの周辺信
号Fi411 //となる(第5図0)。
以上のことから、出力端子17からの周辺信号が2絵素
分の幅でゝゝ0“となるから、第5図(E)に示すよう
に1境界aに対する境界周辺領域の幅lは2絵素分−1
−1絵素分に等しくなる。一般に、記憶される絵素Pi
jの個数t、(2n−1)X(2n−1)とすると、境
界aK対する境界周辺領域の幅/Fi(n−1)絵素分
に相当する。
分の幅でゝゝ0“となるから、第5図(E)に示すよう
に1境界aに対する境界周辺領域の幅lは2絵素分−1
−1絵素分に等しくなる。一般に、記憶される絵素Pi
jの個数t、(2n−1)X(2n−1)とすると、境
界aK対する境界周辺領域の幅/Fi(n−1)絵素分
に相当する。
なお、第6図は、パターンの境界1が縦方向である場合
について説明したが、パターンの境界が横方向である場
合についても同様であって、記憶される絵素pijの個
数が(2n−1) X (2n−1)のときには、境界
に対して±(n −1)絵素分の幅の境界周辺領域を形
成することができる。
について説明したが、パターンの境界が横方向である場
合についても同様であって、記憶される絵素pijの個
数が(2n−1) X (2n−1)のときには、境界
に対して±(n −1)絵素分の幅の境界周辺領域を形
成することができる。
次に、局部メモリ130各シフトレジスタ(第4図(A
))に記憶された絵素P目と、撮像装置Iによって読取
られる映像パターンの絵素との関係について説明する。
))に記憶された絵素P目と、撮像装置Iによって読取
られる映像パターンの絵素との関係について説明する。
いま、第5図に説明したように、、n=2として局部メ
モリ13 (第4図(A))は3個の記憶セルからなる
シフトレジスタ3個からなる屯のとする。
モリ13 (第4図(A))は3個の記憶セルからなる
シフトレジスタ3個からなる屯のとする。
このときは、第5図で説明したように、標準パターンに
対する映像パターンの許容づれ量は、±l、すなわち、
±1絵素分である。すなわち、第5図において、標準パ
ターンの境界aに対して、映像パターンの対応する境界
は、境界aの左右l絵素分のblからす、tでのづれが
許容されることになる。
対する映像パターンの許容づれ量は、±l、すなわち、
±1絵素分である。すなわち、第5図において、標準パ
ターンの境界aに対して、映像パターンの対応する境界
は、境界aの左右l絵素分のblからす、tでのづれが
許容されることになる。
そこで、第5図(A)のように、絵素Pljが局部メモ
リ13のシフトレジスタに記憶されたときには、撮像装
置1 (第1図)で読取られる映倫パターンの絵素(以
下、当該絵素という)は、標準パターンの境界aに対応
する映倫パターンの境界(以下、境界すという)の左側
になければならない。
リ13のシフトレジスタに記憶されたときには、撮像装
置1 (第1図)で読取られる映倫パターンの絵素(以
下、当該絵素という)は、標準パターンの境界aに対応
する映倫パターンの境界(以下、境界すという)の左側
になければならない。
しかし、シフトレジスタに配憶される絵素Pijが第5
図(E)に示すようになると、読取られる映像パターン
の当該絵素は、境界すのどちら(illlKあゐのか不
明である。特に、境界すが境界aに対して左側に最大の
1絵素分づれたblであるときには、当腋絵素は境界b
8の右側になければならない。
図(E)に示すようになると、読取られる映像パターン
の当該絵素は、境界すのどちら(illlKあゐのか不
明である。特に、境界すが境界aに対して左側に最大の
1絵素分づれたblであるときには、当腋絵素は境界b
8の右側になければならない。
次に、シフトレジスタに記憶される絵素P1jが第5図
(C)のようになっても、やはり、当該絵素は境界すの
どちら側にあるか不明である。境界すが1絵素分左側に
づれて境界b1であるときには、当該絵素は境界すの右
側にあるが、右側にづれて境界b1であるときには、当
該絵素は境界すの左側にあるからである。
(C)のようになっても、やはり、当該絵素は境界すの
どちら側にあるか不明である。境界すが1絵素分左側に
づれて境界b1であるときには、当該絵素は境界すの右
側にあるが、右側にづれて境界b1であるときには、当
該絵素は境界すの左側にあるからである。
さらK、シフトレジスタに記憶される絵素Pljが第5
図(D)のようKなると、当該絵素は境界すの右側にな
ければならない。
図(D)のようKなると、当該絵素は境界すの右側にな
ければならない。
以上のことから、局部メモリ13に記憶される絵素P1
j、P□、P1.のいずれかと、捧像装fjtt(第1
図)からの映像パターン信号の各絵素信号と比較するた
めに、メモリ3(第1図)から読取られつつある標準パ
ターンの絵素とが同一でなければならない。また、同様
にして、境界&(第5図)が横方向である場合を考える
と、絵素pat、pg□。
j、P□、P1.のいずれかと、捧像装fjtt(第1
図)からの映像パターン信号の各絵素信号と比較するた
めに、メモリ3(第1図)から読取られつつある標準パ
ターンの絵素とが同一でなければならない。また、同様
にして、境界&(第5図)が横方向である場合を考える
と、絵素pat、pg□。
Pa11のいずれかと、メモリ3から読取られつつある
標準パターンの絵素とが同じでなければならない。した
がって、絵素psiと読堆られつつある標準パターンの
絵素とが同一でなければならない。
標準パターンの絵素とが同じでなければならない。した
がって、絵素psiと読堆られつつある標準パターンの
絵素とが同一でなければならない。
一般に、局部メモリ3が(2n−1)X(2n −1)
個の絵素を記憶するとすれば、Pnnに記憶される絵素
と読取られつつある標準パターンの絵素とが同じでなけ
ればならない。′)まり、撮像装置l (第1図)によ
って読取られる映像ノくターンの絵素と同期して、メモ
リ3(第1図)から読取られる標準パターンの絵素に対
する絵素信号は、同時に、境界周辺領域抽出回路5の局
部メモIJ l 3(第4図(A))のシフトレジスタ
の記憶セルPnnに記憶されることになる。
個の絵素を記憶するとすれば、Pnnに記憶される絵素
と読取られつつある標準パターンの絵素とが同じでなけ
ればならない。′)まり、撮像装置l (第1図)によ
って読取られる映像ノくターンの絵素と同期して、メモ
リ3(第1図)から読取られる標準パターンの絵素に対
する絵素信号は、同時に、境界周辺領域抽出回路5の局
部メモIJ l 3(第4図(A))のシフトレジスタ
の記憶セルPnnに記憶されることになる。
このように、境界周辺領域抽出回路5が動作するため、
第1図において、メモリ3から、2[化回路4からの映
像パターン信号と比較するための標準パターン信号とは
別に、この標準)(ターン信号よりも時間的に進んだ標
準パターン信号が境界周辺領域抽出回路6の入力端子1
1(wJA図GA))に供給されることになる。
第1図において、メモリ3から、2[化回路4からの映
像パターン信号と比較するための標準パターン信号とは
別に、この標準)(ターン信号よりも時間的に進んだ標
準パターン信号が境界周辺領域抽出回路6の入力端子1
1(wJA図GA))に供給されることになる。
そこで、いま、標準パターンに対する映像パターンの可
能な最大のづハ量!(第5図)を111mとし、かつ、
各絵素間隔to、2μmとすると、5絵素分のづれが許
容されなければならない。したがって、 n −1= 5 、’、 n=6 であるから、 2n−1=11 となって、第4図(A)におけるシフトレジスタ群12
はシフトレジスタ1に10個(=2X6−2)縦統接続
し、局部メモリ13Fi11段のシフトレジスタ111
(1用い、シフトレジスタの記憶セルP、、に記憶され
ゐ絵素信号と同じ絵素信号を、撮儂装置lから読取る絵
素信号と同期してメモリ3から読取るようにすればよい
。
能な最大のづハ量!(第5図)を111mとし、かつ、
各絵素間隔to、2μmとすると、5絵素分のづれが許
容されなければならない。したがって、 n −1= 5 、’、 n=6 であるから、 2n−1=11 となって、第4図(A)におけるシフトレジスタ群12
はシフトレジスタ1に10個(=2X6−2)縦統接続
し、局部メモリ13Fi11段のシフトレジスタ111
(1用い、シフトレジスタの記憶セルP、、に記憶され
ゐ絵素信号と同じ絵素信号を、撮儂装置lから読取る絵
素信号と同期してメモリ3から読取るようにすればよい
。
館6図は、第1図の周辺絵素参照回路5の一実施例を示
すブロック図である。第6図において、18Fi2値化
回路4からの映像パターン信号の入力端子であり、19
は1走査線の長さより本1絵素分短い長さくテレビジョ
ンでいうI H−1絵素の長さに相当)のシフトレジス
タ、20[1列入力並列出力のシフトレジスタ、21は
ExOR回路#(排他的OR回路)、22はNOR回路
である。
すブロック図である。第6図において、18Fi2値化
回路4からの映像パターン信号の入力端子であり、19
は1走査線の長さより本1絵素分短い長さくテレビジョ
ンでいうI H−1絵素の長さに相当)のシフトレジス
タ、20[1列入力並列出力のシフトレジスタ、21は
ExOR回路#(排他的OR回路)、22はNOR回路
である。
この例では、シフトレジスタ2oは5個の記憶セルal
b+ el a、xk有し、入力端子18よりの入力
絵素に対して、第3図に示すように、aは左、bは右上
、Cは上、dは左上にそれぞれ隣接する部分の絵素を記
憶している。入力端子18からの記憶セルXに記憶され
る絵素が既に2値化判定済みのこれら周辺4絵素a −
dの全てと一致するときにのみ、出力端子23の信号は
ゝ11″になり、他の場合はst Ottとなる。
b+ el a、xk有し、入力端子18よりの入力
絵素に対して、第3図に示すように、aは左、bは右上
、Cは上、dは左上にそれぞれ隣接する部分の絵素を記
憶している。入力端子18からの記憶セルXに記憶され
る絵素が既に2値化判定済みのこれら周辺4絵素a −
dの全てと一致するときにのみ、出力端子23の信号は
ゝ11″になり、他の場合はst Ottとなる。
第7図は、第1図の2値化条件判定回路7の一実施例を
示すブロック図であって、24,25゜26.27は夫
々入力端子、28FiExOR回路、29はインバータ
、30.31#′i夫々AND回路、32.33は夫々
インバータ、34.35は夫々OR回路、36.37は
夫々OR回路、38はゲート回路、39.40.41は
夫々出力端子である。
示すブロック図であって、24,25゜26.27は夫
々入力端子、28FiExOR回路、29はインバータ
、30.31#′i夫々AND回路、32.33は夫々
インバータ、34.35は夫々OR回路、36.37は
夫々OR回路、38はゲート回路、39.40.41は
夫々出力端子である。
次に、第7図の動作について説明する。
同図において、入力端子24にFiZ値化回路4(第1
図)からの映倫パターン備考が供給され、入力端子25
には境界周辺領域抽出回路5(第1図)からの標準パタ
ーン信号が供給され、入力端子26には境界周辺領域抽
出(ロ)路5の出力端子17(菖5図)からの周辺信号
が供給され、さらに、入力端子27には周辺絵素参照回
路6(第1図)からの参照信号が供給される。
図)からの映倫パターン備考が供給され、入力端子25
には境界周辺領域抽出回路5(第1図)からの標準パタ
ーン信号が供給され、入力端子26には境界周辺領域抽
出(ロ)路5の出力端子17(菖5図)からの周辺信号
が供給され、さらに、入力端子27には周辺絵素参照回
路6(第1図)からの参照信号が供給される。
まず、入力端子26からの周辺信号がゝゝl″であると
き、すなわち、メモリ3(第1図)で読取られる標準パ
ターンの絵素が、境界劉辺領域d(第2図)以外の領域
であると1!Kii、AND回路30.31の一方の入
力端子はゝ11“になり、AND回路34,35tlイ
ンバータ32により出力ff1−jtのレベルFiゝゝ
0“である。
き、すなわち、メモリ3(第1図)で読取られる標準パ
ターンの絵素が、境界劉辺領域d(第2図)以外の領域
であると1!Kii、AND回路30.31の一方の入
力端子はゝ11“になり、AND回路34,35tlイ
ンバータ32により出力ff1−jtのレベルFiゝゝ
0“である。
一方、入力端子24からの映像パターン信号は、ゲート
回路38とともに、ExOR回路28に供給されて入力
端子25からの標準パターンイ」号と各絨素毎に比較さ
れ、両絵素が一致するとl OII。
回路38とともに、ExOR回路28に供給されて入力
端子25からの標準パターンイ」号と各絨素毎に比較さ
れ、両絵素が一致するとl OII。
一致しないと11″の出力(1号を発生する。
ExOR回路28の出力信号が10″のときには、AN
D回路31の出力信号のレベルはゝ0″であって、結局
、OR回路37を介して出力端子41に得られる信号は
ゝゝ0“である。
D回路31の出力信号のレベルはゝ0″であって、結局
、OR回路37を介して出力端子41に得られる信号は
ゝゝ0“である。
これに対して、EXOR回路28の11O“の出力信号
はインバータ29で反転して1″となり、AND回路3
0はオンしてゝ゛l“の信号kOR回路36に介してゲ
ート回路38と出力端子40に供給する。このために、
ゲート回路38は−き、標準パターンに一致した映像パ
ターンの絵素を出力端子39に供給する。
はインバータ29で反転して1″となり、AND回路3
0はオンしてゝ゛l“の信号kOR回路36に介してゲ
ート回路38と出力端子40に供給する。このために、
ゲート回路38は−き、標準パターンに一致した映像パ
ターンの絵素を出力端子39に供給する。
ExOR回路28の出カイg@が1“のときには、AN
D回路30!″tオフし、AND回路31がオンしてゝ
′1″の信号を発生ずゐから、この111 //の信号
はOR回路37に介して出力端子41に供給される。こ
れに対して、AND回路30.34けオフであるから、
ゲー ト回路38は閉じており、出力端子40にはSl
g“の信壮が供給される。
D回路30!″tオフし、AND回路31がオンしてゝ
′1″の信号を発生ずゐから、この111 //の信号
はOR回路37に介して出力端子41に供給される。こ
れに対して、AND回路30.34けオフであるから、
ゲー ト回路38は閉じており、出力端子40にはSl
g“の信壮が供給される。
次に、入力端子26からの周辺信号が0“、すなわち、
メモリ3(第1図)で読取られる標準パターンの絵素が
、境界周辺領域d(第2図)内圧あるときには、AND
回路30.31Fiオフで、AND回路34.35の一
方の入力端子は、インバータ32により11“である。
メモリ3(第1図)で読取られる標準パターンの絵素が
、境界周辺領域d(第2図)内圧あるときには、AND
回路30.31Fiオフで、AND回路34.35の一
方の入力端子は、インバータ32により11“である。
そこで、入力端子27からの参照11号が4% I L
/のときには、AND回路34 triオンし、AND
回路35Hオフする。AND回路34からの1″の信号
11tOR回路36t−介してゲート回路38と出力端
子40に供給され、ゲート回路38(L−開いてその時
点の入力端子24からの映像パターン16号の絵素を出
力端子39に供給する。
/のときには、AND回路34 triオンし、AND
回路35Hオフする。AND回路34からの1″の信号
11tOR回路36t−介してゲート回路38と出力端
子40に供給され、ゲート回路38(L−開いてその時
点の入力端子24からの映像パターン16号の絵素を出
力端子39に供給する。
一方、入力端子27からの1照信号が″0″のときには
、AND回路34はオフし、AND回路35はインバー
タ33によりオンする。AND回路35からのvll“
の信号はOR回路3711−介して出力端子41に供給
される。
、AND回路34はオフし、AND回路35はインバー
タ33によりオンする。AND回路35からのvll“
の信号はOR回路3711−介して出力端子41に供給
される。
なお、出力端子29の信号は2値信号設定回路10 (
第1図、以下同じ)に、出力端子40の信号は走査位置
制御回路2に、出力端子41の信号は頻度針数回路8に
夫々供給され、出力端子40の信号がゝ゛1“のときに
は、走査位置制御回路2は動作して撮像装置lとメモリ
3のパターン読取位置t1絵素だけ移動させる。
第1図、以下同じ)に、出力端子40の信号は走査位置
制御回路2に、出力端子41の信号は頻度針数回路8に
夫々供給され、出力端子40の信号がゝ゛1“のときに
は、走査位置制御回路2は動作して撮像装置lとメモリ
3のパターン読取位置t1絵素だけ移動させる。
第8図は第1図の頻度計数回路8および比較回路9の一
実施例を示すブロック図であって、42は入力端子、4
3はインバータ、44.45t′i夫々カウンタ、46
.47は夫々比較回路、48゜49は夫々入力端子、5
0は選択回路、51はOR回路、52.53は夫々出力
端子である。
実施例を示すブロック図であって、42は入力端子、4
3はインバータ、44.45t′i夫々カウンタ、46
.47は夫々比較回路、48゜49は夫々入力端子、5
0は選択回路、51はOR回路、52.53は夫々出力
端子である。
次に1第8図の動作について説明する。
同図において、2値化条件判定回路7の出力端子41
(第7図)の信号がII 1 //となると、カウンタ
44,45は作動状態となる。このとき、先に述べたよ
うに、2値化条件判定回路7の出力端子40の出力信号
は110“であるから、走査位置制御回路2は不動作状
態となり、撮像装置1とメモリ3(第1図)Kよるパタ
ーンの読取り位tは固定しており、入力端子42からは
、映倫ノ<ターンの同一絵素に対する絵素信号が供給さ
れる。
(第7図)の信号がII 1 //となると、カウンタ
44,45は作動状態となる。このとき、先に述べたよ
うに、2値化条件判定回路7の出力端子40の出力信号
は110“であるから、走査位置制御回路2は不動作状
態となり、撮像装置1とメモリ3(第1図)Kよるパタ
ーンの読取り位tは固定しており、入力端子42からは
、映倫ノ<ターンの同一絵素に対する絵素信号が供給さ
れる。
そこで、カウンタ44は入力端子42)に現われる”l
“の出現回数【計数し、カウンタ45はインバータ43
があるため0“の出現回数を計数する。この回数に応じ
て変化する電圧がそれぞれ比較器46.47で予じめ設
定されている回数Nに相当する入力端子48.49から
の基準電圧と比較され、そのいずれかが基準電圧と一致
したとき出力信号を出し、この出力信号により選択回路
50tf %%t“または“O“のいずれか一方を選択
して出力端子52に2値化信号として出力する。
“の出現回数【計数し、カウンタ45はインバータ43
があるため0“の出現回数を計数する。この回数に応じ
て変化する電圧がそれぞれ比較器46.47で予じめ設
定されている回数Nに相当する入力端子48.49から
の基準電圧と比較され、そのいずれかが基準電圧と一致
したとき出力信号を出し、この出力信号により選択回路
50tf %%t“または“O“のいずれか一方を選択
して出力端子52に2値化信号として出力する。
比較回路46.47の出力信号はOR回路51にも供給
され、出力端子53を通じて走査位置制御回路2(第1
図)に供給され、撮像装置1とメモリ3(1111図)
のパターン読取り位fk次の絵素に移す。
され、出力端子53を通じて走査位置制御回路2(第1
図)に供給され、撮像装置1とメモリ3(1111図)
のパターン読取り位fk次の絵素に移す。
ところで、このように、カウンタ44,45にヨリ同一
絵素の177.%IO“tカウントするのは、先に述べ
たように、映像パターン信号に雑音が含まれているとし
ても、この雑音は固定的なものではなく、時々刻々変化
するものであって、映像パターンの同一絵素を繰返し読
取ると、その絖取られた絵素信号が、雑音の影響を受け
た頻度よりも雑音を受けない頻度の方が統計的な発生分
布から一般に大きいことになるから、雑音の影響を受け
ない絵素信号のカウンタの方が、より速く設置Nに達す
るであろうし、また、統計的により速く設定値Nに達し
たカウンタの入力信号が正しいものと判定してもよいで
あろうことによるものである。
絵素の177.%IO“tカウントするのは、先に述べ
たように、映像パターン信号に雑音が含まれているとし
ても、この雑音は固定的なものではなく、時々刻々変化
するものであって、映像パターンの同一絵素を繰返し読
取ると、その絖取られた絵素信号が、雑音の影響を受け
た頻度よりも雑音を受けない頻度の方が統計的な発生分
布から一般に大きいことになるから、雑音の影響を受け
ない絵素信号のカウンタの方が、より速く設置Nに達す
るであろうし、また、統計的により速く設定値Nに達し
たカウンタの入力信号が正しいものと判定してもよいで
あろうことによるものである。
たとえば、標準パターンと映像パターンとの比較される
絵素が、夫々ゝl Q // 、 111 Nであっ
て−・致しなかった本のとし、実際に、そのときの映像
パターンの絵素は1tO″であったとする。
絵素が、夫々ゝl Q // 、 111 Nであっ
て−・致しなかった本のとし、実際に、そのときの映像
パターンの絵素は1tO″であったとする。
そこで、この映像パターンの絵素に対する絵素信号ヶ繰
返し読み取り、これtカウンタ44.45に供給すると
、It O//の絵素信号が供給される頻度がゝ゛1″
の絵素信号が供給される頻度よりも統計的に多いから、
カウンタ45のカウント数がより速く設定値Nに達し、
比較回路47から出力が発生して選択回路50から1′
0“の絵素信号が得られる。そして、この1″0“の絵
素信号を正しい絵素信号とみなしても大きな誤りはない
。
返し読み取り、これtカウンタ44.45に供給すると
、It O//の絵素信号が供給される頻度がゝ゛1″
の絵素信号が供給される頻度よりも統計的に多いから、
カウンタ45のカウント数がより速く設定値Nに達し、
比較回路47から出力が発生して選択回路50から1′
0“の絵素信号が得られる。そして、この1″0“の絵
素信号を正しい絵素信号とみなしても大きな誤りはない
。
第9図は第1図の2値信号設定回路10の一具体例を示
すブロック図であって、54は選択回路、55.56.
57.58は夫々入力端子、59は出力端子である。
すブロック図であって、54は選択回路、55.56.
57.58は夫々入力端子、59は出力端子である。
次に、第9図の動作について説明する。
同図において、入力端子55.57には夫々2値化条件
判定回路7の出力端子39.40(第7図)からの信号
が供給される。入力端子56.58には夫々比較回路9
の出力端子52.53(第8図)からの信号が供給され
る。
判定回路7の出力端子39.40(第7図)からの信号
が供給される。入力端子56.58には夫々比較回路9
の出力端子52.53(第8図)からの信号が供給され
る。
すなわち、入力端子55にtiZ値化条件判定回路7か
らの映像パターン信号の各絵素信号が、また、入力端子
56には比較回路9からの映像パターン信号の絵素信号
が夫々供給される。
らの映像パターン信号の各絵素信号が、また、入力端子
56には比較回路9からの映像パターン信号の絵素信号
が夫々供給される。
そして、選択回路54は、入力端子57.58から供給
される信号に応じて入力端子55.56のいずれか一方
の絵素信号を選択し、出力端子59に雑音を含まない映
像パターン信号が得られる。
される信号に応じて入力端子55.56のいずれか一方
の絵素信号を選択し、出力端子59に雑音を含まない映
像パターン信号が得られる。
このようにして、映像パターンの欠陥を正確に検査する
ことができる映像パターン信号knることができるが、
これまで示した第1図の各回路の実施例は一例を示すに
すぎず、他の同等の機能忙有する回路も用いることがで
きることは明らかである。
ことができる映像パターン信号knることができるが、
これまで示した第1図の各回路の実施例は一例を示すに
すぎず、他の同等の機能忙有する回路も用いることがで
きることは明らかである。
また、第2図の境界周辺領域dは、第5図で説明したよ
うに、境界aに対してプラス、マイナス等距離lの範囲
に設定しなければならないことはなく、標準パターンと
映像パターンとの蛭大づれがどの方向に生ずるかに応じ
て任意に設定できるものである。
うに、境界aに対してプラス、マイナス等距離lの範囲
に設定しなければならないことはなく、標準パターンと
映像パターンとの蛭大づれがどの方向に生ずるかに応じ
て任意に設定できるものである。
以上説明したように、不発f!AKよれば、標準パター
ンに基づいて形成された映像パターン′に絖取り、得ら
れた映像パターン信号を各絵素信号毎に判定し補正する
ものであって、該各絵素信号の判定は、標準パターンと
映像パターンの読取や時におけるづれt考慮して境界周
辺領域を設定し、前記各絵素信号が前記境界周辺領域外
の絵素を表わすときには、骸各絵素信号と標準パターン
に対する標準パターン信号の各絵素信号とを比較するこ
とにより行ない、また、映像パターン信号の前記各絵素
イぎ号が前記境界周辺領域内の絵素′Jk表わすときに
は、該映像パターンの相関性を利用して行ない、さらに
、前記判定によって雑音を含む可能性のある絵素信号に
ついては、映像パターンの回−絵素を繰返し読み取って
得られる絵素信号の1゛1“と0“との頻度分布を利用
して前記各絵素信号を補正するものであるから、映像パ
ターン(+J号の各絵素信号の判定、補正については、
映像パターンと標準パターンとのづれがあったとしても
、格別長時間を要せず、正確に行なわれるものであり、
よって、前記映像パターンの欠陥を迅速、かつ、適確に
検査することができ、従来技術の欠点を除いて優れた機
能の映像パターン読取り方式を提供することができる。
ンに基づいて形成された映像パターン′に絖取り、得ら
れた映像パターン信号を各絵素信号毎に判定し補正する
ものであって、該各絵素信号の判定は、標準パターンと
映像パターンの読取や時におけるづれt考慮して境界周
辺領域を設定し、前記各絵素信号が前記境界周辺領域外
の絵素を表わすときには、骸各絵素信号と標準パターン
に対する標準パターン信号の各絵素信号とを比較するこ
とにより行ない、また、映像パターン信号の前記各絵素
イぎ号が前記境界周辺領域内の絵素′Jk表わすときに
は、該映像パターンの相関性を利用して行ない、さらに
、前記判定によって雑音を含む可能性のある絵素信号に
ついては、映像パターンの回−絵素を繰返し読み取って
得られる絵素信号の1゛1“と0“との頻度分布を利用
して前記各絵素信号を補正するものであるから、映像パ
ターン(+J号の各絵素信号の判定、補正については、
映像パターンと標準パターンとのづれがあったとしても
、格別長時間を要せず、正確に行なわれるものであり、
よって、前記映像パターンの欠陥を迅速、かつ、適確に
検査することができ、従来技術の欠点を除いて優れた機
能の映像パターン読取り方式を提供することができる。
第1図は本発明による映像パターン読取り方式の一実施
例を示すブロック図、第2図1−1m準パターンの境界
周辺領域を示す説明図、第3図は第1図の周辺絵素参照
回路の動作を説明するための1明区、第4図(A)、(
B)ti第1図の境界周辺領域抽出回路の一実施例の一
部を示すブロック図、第5図(A) 、 (B) 、
(C) 、 (D) 、 (E)は第4図の動
作を示す説明図、第6図は第1図の周辺絵素参照回路の
一実施例を示すブロック図、第7図は第1図の2値化条
件判定回路の一実施例を示すブロック図、第8図は第1
図の頻度計数回路と比較回路の一実施例【示すブロック
図、第9図は第1図の2値信号設定回路の一実施例を示
すブロック図である。 1・・・・・・撮像装置、2・・・・・・走査位置制御
回路、3・・・・・・メモリ、4・・・・・・2値化回
路、5・・・・・・境界周辺領域抽出回路、6・・・・
・・周辺絵素参照回路、7・・・・・・2値化条件判定
回路、8・・・・・・頻度計数回路、9・・・・・・比
較回路、10・・・・・・2値信号設定回路。 代理人 弁理士 武 顕次部(ほか11名)ど 第2図 名3図 第4図 (A) (B) 第5図 第6図 11ジ8図 5I −、シ 9 1:;−,1 75B 第1頁の続き (n)発 明 者 牧平坦 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所生産技術研究 所内 ′?2)発 明 者 青木信彦 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所生産技術研究 所内
例を示すブロック図、第2図1−1m準パターンの境界
周辺領域を示す説明図、第3図は第1図の周辺絵素参照
回路の動作を説明するための1明区、第4図(A)、(
B)ti第1図の境界周辺領域抽出回路の一実施例の一
部を示すブロック図、第5図(A) 、 (B) 、
(C) 、 (D) 、 (E)は第4図の動
作を示す説明図、第6図は第1図の周辺絵素参照回路の
一実施例を示すブロック図、第7図は第1図の2値化条
件判定回路の一実施例を示すブロック図、第8図は第1
図の頻度計数回路と比較回路の一実施例【示すブロック
図、第9図は第1図の2値信号設定回路の一実施例を示
すブロック図である。 1・・・・・・撮像装置、2・・・・・・走査位置制御
回路、3・・・・・・メモリ、4・・・・・・2値化回
路、5・・・・・・境界周辺領域抽出回路、6・・・・
・・周辺絵素参照回路、7・・・・・・2値化条件判定
回路、8・・・・・・頻度計数回路、9・・・・・・比
較回路、10・・・・・・2値信号設定回路。 代理人 弁理士 武 顕次部(ほか11名)ど 第2図 名3図 第4図 (A) (B) 第5図 第6図 11ジ8図 5I −、シ 9 1:;−,1 75B 第1頁の続き (n)発 明 者 牧平坦 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所生産技術研究 所内 ′?2)発 明 者 青木信彦 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所生産技術研究 所内
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 標準パターンに基づいて形成された映倫ノ(ターンを撮
儂して2値化された映像パターン信号を得、該映倫パタ
ーン信号により蚊映偉パターンの欠陥:。 を検出できるようKした映像パターンを読取り方゛弐に
おいて、前記映像パターン信号と同期して前記標準パタ
ーンから標準パターン信号を得、該標準パターン信号に
より前記標準・くターンの境界周辺領域を検出し、骸境
界周辺領域においては、前記映倫パターン信号を各絵素
毎に、骸絵素と該絵素の周辺の複数の絵素とt比較し、
前記境界周辺領域以外の領域においては、前記映倫パタ
ーン信号と前記標準パターン信号とを各絵素毎に比較し
、前記夫々の比較により一致しない前記映像)(ターン
信号の絵素を禎数回繰返し得ることによって補正された
絵素を得、該補正された絵素と前記夫々の比較により一
致し九前記映像パターン信号の絵素とからなり、雑音が
除去された前記映像パターン信号を得ることができるよ
うに構成したことt特徴とする映倫パターン読取り方式
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56212502A JPS58115583A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 映像パタ−ン読取り方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56212502A JPS58115583A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 映像パタ−ン読取り方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58115583A true JPS58115583A (ja) | 1983-07-09 |
JPH0423304B2 JPH0423304B2 (ja) | 1992-04-21 |
Family
ID=16623721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56212502A Granted JPS58115583A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 映像パタ−ン読取り方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58115583A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469777A (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | プリント基板のパターン検査装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5374832A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-03 | Nec Corp | Processor for static picture signal |
JPS5411645A (en) * | 1977-06-27 | 1979-01-27 | Nec Corp | Picture input unit |
-
1981
- 1981-12-29 JP JP56212502A patent/JPS58115583A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5374832A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-03 | Nec Corp | Processor for static picture signal |
JPS5411645A (en) * | 1977-06-27 | 1979-01-27 | Nec Corp | Picture input unit |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469777A (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | プリント基板のパターン検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0423304B2 (ja) | 1992-04-21 |
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