JPS58105045A - X線像デ−タを得る方法およびx線像を記憶する装置 - Google Patents
X線像デ−タを得る方法およびx線像を記憶する装置Info
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- JPS58105045A JPS58105045A JP57214587A JP21458782A JPS58105045A JP S58105045 A JPS58105045 A JP S58105045A JP 57214587 A JP57214587 A JP 57214587A JP 21458782 A JP21458782 A JP 21458782A JP S58105045 A JPS58105045 A JP S58105045A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
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- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はX線結像装置に係るものである。1次的応用に
おいて、本発明は身体の特定の試料を表わす選択I−だ
像を生じる診断用X線装置に係るものである。
おいて、本発明は身体の特定の試料を表わす選択I−だ
像を生じる診断用X線装置に係るものである。
米国特許第4,029,963号には、X線像全2つの
エネルギースペクI・ルで得て処理する方法が記載され
ている。処理した像はその後身体の種々の試料全選択的
に結像するために使用される。この米国特許では、2つ
の閃)tスクリーンを使用して2つの感光乳濁液を露出
する。この装置に伴う1つの問題は2つの取得した像を
得るため使用する2つのエネルギースペクI・ルを十分
(・こ分離する(7) ことである。これらスペクトルが平均エネルギーの分離
を比較的に小さくして有意なスペクトルの重なり合いを
有していると、処理I−た陰成像は信号対騒音の比は良
くない。
エネルギースペクI・ルで得て処理する方法が記載され
ている。処理した像はその後身体の種々の試料全選択的
に結像するために使用される。この米国特許では、2つ
の閃)tスクリーンを使用して2つの感光乳濁液を露出
する。この装置に伴う1つの問題は2つの取得した像を
得るため使用する2つのエネルギースペクI・ルを十分
(・こ分離する(7) ことである。これらスペクトルが平均エネルギーの分離
を比較的に小さくして有意なスペクトルの重なり合いを
有していると、処理I−た陰成像は信号対騒音の比は良
くない。
前記米国特許に記載した方法に伴う別の問題は符合問題
である。この特許の装置では、各エネルギースペクトル
を表示するフィルムを別々に走査する。これがため処理
した像がゆがんで符合しなくなる。この符合問題は[光
学的格子を使用するX線符号化装置」と称する発明に係
る米国特許出願第299,208号clより解決した。
である。この特許の装置では、各エネルギースペクトル
を表示するフィルムを別々に走査する。これがため処理
した像がゆがんで符合しなくなる。この符合問題は[光
学的格子を使用するX線符号化装置」と称する発明に係
る米国特許出願第299,208号clより解決した。
この米国特許出願では、光学的格子を使用して情報を符
号化する。この特許出願では、2つの像を異なる空間周
波数で表示し従って像は完全に符合したままである。し
かしながら、この装置では、読取り作業Qこは光学的格
子の非常に高い空間周波数を分解する必要がある。従っ
て、格子周波数(こは光学的走査装置の分解容量の多く
を使用する。
号化する。この特許出願では、2つの像を異なる空間周
波数で表示し従って像は完全に符合したままである。し
かしながら、この装置では、読取り作業Qこは光学的格
子の非常に高い空間周波数を分解する必要がある。従っ
て、格子周波数(こは光学的走査装置の分解容量の多く
を使用する。
本発明の1つの目的は、スペクトルの分離を良くシテ異
するX線スペクトルで写真フィルムζこX(8) 線投射データを得る方法を提供することである。
するX線スペクトルで写真フィルムζこX(8) 線投射データを得る方法を提供することである。
本発明の他の1つの口開は、過度の空間分解全必要とせ
ずζこ得たデータを良く符合させて読み取る方法を提供
することである。
ずζこ得たデータを良く符合させて読み取る方法を提供
することである。
本発明の他の1つの目的は、スペクトル分離を良くし良
く符合させて読み取りできるようにするデュアルフィル
ム系統を提供することである。
く符合させて読み取りできるようにするデュアルフィル
ム系統を提供することである。
簡単(こいえは、本発明によれば、低および高エネルギ
ー像データを得るため2つの閃光スクリーンと共に個々
のフィルムを使用する。2つの得た像のスペクI・ル分
離を増大するため2つのスクリーン間にビーム硬化フィ
ルタを配置する。スペクトル分離を増大するためスペク
トルの重なり部分にに一吸収縁部を有するX線源Oこ追
加のX線フィルタを使用する。読取りの際に符合させる
ため個々のフィルムを少くとも1つの縁部で継ぐ。フィ
ルム間に部分的(こ銀を塗った鏡を配置しフィルムラ丸
線で走査する。透過された光は2枚のフィルムの密度の
合計’lわし一方反射光は第1のフィルムのみの密度k
Jわす。高および低エネルギー(9) の得たデータを個々ζこ表わすため合成信号を処理する
。
ー像データを得るため2つの閃光スクリーンと共に個々
のフィルムを使用する。2つの得た像のスペクI・ル分
離を増大するため2つのスクリーン間にビーム硬化フィ
ルタを配置する。スペクトル分離を増大するためスペク
トルの重なり部分にに一吸収縁部を有するX線源Oこ追
加のX線フィルタを使用する。読取りの際に符合させる
ため個々のフィルムを少くとも1つの縁部で継ぐ。フィ
ルム間に部分的(こ銀を塗った鏡を配置しフィルムラ丸
線で走査する。透過された光は2枚のフィルムの密度の
合計’lわし一方反射光は第1のフィルムのみの密度k
Jわす。高および低エネルギー(9) の得たデータを個々ζこ表わすため合成信号を処理する
。
本発明を完全に理解させるため添付付図面に示したいく
つかの例示的具体例について説明する。
つかの例示的具体例について説明する。
第2図を参照すると本発明の広範囲な面が最も良く理解
できよう。2つのエネルギースペクトルで測定し測定結
果を処理することにより一般に人体解剖である対物IO
の特定の資料の選択的投射像を作ることが望ましい。図
示しであるように、光源11から生じたX線12を対物
10全通し閃光スクリーン14.24と、それぞれ感光
面16.19′?f:有する基体15.18と光学的に
不伝導性のX線フィルタ17とから成る平行配列Oこ投
射する。従来技術の如く、低エネルギーX線は第1のス
クリーン14に選択的に吸収され高エネルギーX線はス
クリーン20に進む。これらスクリーンからの光はそれ
ぞれ感光面16.1’9に記録される。
できよう。2つのエネルギースペクトルで測定し測定結
果を処理することにより一般に人体解剖である対物IO
の特定の資料の選択的投射像を作ることが望ましい。図
示しであるように、光源11から生じたX線12を対物
10全通し閃光スクリーン14.24と、それぞれ感光
面16.19′?f:有する基体15.18と光学的に
不伝導性のX線フィルタ17とから成る平行配列Oこ投
射する。従来技術の如く、低エネルギーX線は第1のス
クリーン14に選択的に吸収され高エネルギーX線はス
クリーン20に進む。これらスクリーンからの光はそれ
ぞれ感光面16.1’9に記録される。
第2図には2つのスクリーンに対する応答スペクトルが
スクリーン14にはグラフ30としてス(10) クリーン20にはグラフ31として示しである。
スクリーン14にはグラフ30としてス(10) クリーン20にはグラフ31として示しである。
図示した如く、低エネルギーグラフ30と高エネルギー
グラフ31とは可成り重なり部分を有している。これが
ためそれらの平均エネルギーの分離を減少しその後の処
理装置の能力を非常に制限する。正味の結果は合成の選
択した処理済み像における信号対雁行比が良くない。
グラフ31とは可成り重なり部分を有している。これが
ためそれらの平均エネルギーの分離を減少しその後の処
理装置の能力を非常に制限する。正味の結果は合成の選
択した処理済み像における信号対雁行比が良くない。
この問題は2つのスクリーン間(こX線フィルタ17を
使用することにより非常に軽減される。このフィルタ1
7はスペクトルの分離を増大するような構造にできる。
使用することにより非常に軽減される。このフィルタ1
7はスペクトルの分離を増大するような構造にできる。
たとえば、フィルタ17は銅の如きX線ビーム硬化物質
で良く、銅のフィルタは低いエネルギーを選択的に吸収
する。第2図Oこ破線で示しであるように、グラフ32
はビーム硬化フィルタ17に対するスクリーン20の応
答を示す。スペクトルの分離は可成り増太しその結果信
号対騒音の比を改善する。了イルタ17の厚味とその材
質とはスペクトル分離と所望の高エネルギーX線光子の
減衰との間を調和するようなものである。更にまた、フ
ィルタ17は2つのスクリ−ンにより生じた光が反対の
感光面に達する光学的混線を防止するため光学的に不伝
導性でなければならない。後記するがフィルタ17に差
し込めるようにするため独得な型式のフィルム系統が必
要なことは明かである。
で良く、銅のフィルタは低いエネルギーを選択的に吸収
する。第2図Oこ破線で示しであるように、グラフ32
はビーム硬化フィルタ17に対するスクリーン20の応
答を示す。スペクトルの分離は可成り増太しその結果信
号対騒音の比を改善する。了イルタ17の厚味とその材
質とはスペクトル分離と所望の高エネルギーX線光子の
減衰との間を調和するようなものである。更にまた、フ
ィルタ17は2つのスクリ−ンにより生じた光が反対の
感光面に達する光学的混線を防止するため光学的に不伝
導性でなければならない。後記するがフィルタ17に差
し込めるようにするため独得な型式のフィルム系統が必
要なことは明かである。
更にスペクトル分離を行うため、X線源11と対物10
との間にフィルタ18が配置しである。
との間にフィルタ18が配置しである。
このフィルタ13は2つのスペクトル間の重なり合い部
分の付近(こに−吸収縁部を有している。フィルタの透
過されたスペクトルのグラフが第3図に示しである。図
示しであるように、K−吸収縁部は重なり部分を減衰し
従ってスペクトルを更に分離する。この重なり部分にに
一吸収縁部を有する代表的な物質はユーロビュームおよ
びガドリニウムの如き希土類とタングステンおよびタン
タルの如き他の物質とである。フィルタ1301つの望
ましい特性はX線源からのタングステン特有の放射線を
減衰することである。この放射線はスペクトルの分離を
減少する傾向がある。
分の付近(こに−吸収縁部を有している。フィルタの透
過されたスペクトルのグラフが第3図に示しである。図
示しであるように、K−吸収縁部は重なり部分を減衰し
従ってスペクトルを更に分離する。この重なり部分にに
一吸収縁部を有する代表的な物質はユーロビュームおよ
びガドリニウムの如き希土類とタングステンおよびタン
タルの如き他の物質とである。フィルタ1301つの望
ましい特性はX線源からのタングステン特有の放射線を
減衰することである。この放射線はスペクトルの分離を
減少する傾向がある。
2つの感光面16.19に分離可能なスペクトル情報を
記録した後適当な現r象方法(こより情報全課み取る必
要があり、現1象により感光面の乳剤は透明になる。読
取りは第4図(こ示した如く、部分的反射鏡44を基体
15.18間(こ配置することにより行う。後記するフ
ィルム系統が独特な形状を有しているので部分的反射鏡
を差l−込めるようにする。この鏡はマイラーの如きあ
る基体上の金属層から成ることができる。金属フィルム
は引っかきを防ぐため2つのプラスチック層間にはさみ
込むことができる。
記録した後適当な現r象方法(こより情報全課み取る必
要があり、現1象により感光面の乳剤は透明になる。読
取りは第4図(こ示した如く、部分的反射鏡44を基体
15.18間(こ配置することにより行う。後記するフ
ィルム系統が独特な形状を有しているので部分的反射鏡
を差l−込めるようにする。この鏡はマイラーの如きあ
る基体上の金属層から成ることができる。金属フィルム
は引っかきを防ぐため2つのプラスチック層間にはさみ
込むことができる。
部分的反射鏡は2′つの信号を読み取れるようにし、第
1の信号は透明になった感光面16を通過し、鏡44に
より反射され再び感光面16を通過し鏡44(こより反
射され検出器46により検出される元によるもので第2
の信号は透明になった感光面16、鏡44および透明に
なった感光面19を通過し検出器48により検出される
光によるものである。従って、検出器46が検出した信
号は第1の感光面を表わし検出器48が検出した信号は
両方の感光面の和を表わす。各感光面ヲ表わす(13) 信号を適当に処理できる。このようにして、データを1
つの光線で適当に読み取り完全に符合させる。十分に反
射する鏡とそれぞれの側ζこ個々の感光面を読み取る別
々の走査ビームとを有する装置を使用できる。ビームは
潜在的非符合問題を生じる。
1の信号は透明になった感光面16を通過し、鏡44に
より反射され再び感光面16を通過し鏡44(こより反
射され検出器46により検出される元によるもので第2
の信号は透明になった感光面16、鏡44および透明に
なった感光面19を通過し検出器48により検出される
光によるものである。従って、検出器46が検出した信
号は第1の感光面を表わし検出器48が検出した信号は
両方の感光面の和を表わす。各感光面ヲ表わす(13) 信号を適当に処理できる。このようにして、データを1
つの光線で適当に読み取り完全に符合させる。十分に反
射する鏡とそれぞれの側ζこ個々の感光面を読み取る別
々の走査ビームとを有する装置を使用できる。ビームは
潜在的非符合問題を生じる。
第4図全詳細(こ検討すると、好ましいのはレーザー走
査装置である光線走査装置40は走査光線を発生する。
査装置である光線走査装置40は走査光線を発生する。
この走査光線はレンズ42を使用して平行にされる。平
行にされた光線は部分的反射鏡43と透明になった感光
面16とを通り部分的反射鏡44に至る。反射鏡44か
ら反射された光線は感光面16を再び通過(〜で部分的
反射鏡43により集光レンズ45に反射されこのレンズ
により光電池検出器46(こ集光されこの検出装置は信
号49全出す。反射鏡44を透過した光は感光面19を
通過して集束レンズ45により光電池検出器48に集束
され、この検出器は信号50を発生する。これら走査さ
れた信号49.50は2つの感光面に記憶された情報を
形成する。
行にされた光線は部分的反射鏡43と透明になった感光
面16とを通り部分的反射鏡44に至る。反射鏡44か
ら反射された光線は感光面16を再び通過(〜で部分的
反射鏡43により集光レンズ45に反射されこのレンズ
により光電池検出器46(こ集光されこの検出装置は信
号49全出す。反射鏡44を透過した光は感光面19を
通過して集束レンズ45により光電池検出器48に集束
され、この検出器は信号50を発生する。これら走査さ
れた信号49.50は2つの感光面に記憶された情報を
形成する。
(14)
第4a図は集束装置の1つの具体例の詳細図である。走
査された入り光線は収斂光線53.54で示しである。
査された入り光線は収斂光線53.54で示しである。
これら収斂光線は鏡44を透過せしめられ感光面198
こ集束され次いで分岐され光線55.56を形成しこれ
ら光線は検出器48(・こ至る。検出器48から反射さ
れた光線は感光面16(・こ集束して次いで光線5’l
、5Bに分岐して検出器46(・こ至る。従って、検出
された信号は両方の感光面の集束された成分を含んでい
る。
こ集束され次いで分岐され光線55.56を形成しこれ
ら光線は検出器48(・こ至る。検出器48から反射さ
れた光線は感光面16(・こ集束して次いで光線5’l
、5Bに分岐して検出器46(・こ至る。従って、検出
された信号は両方の感光面の集束された成分を含んでい
る。
感光面16.19とその基体15.18とは種々の形状
で使用できる。第5a図では、部分的反射鏡44は基体
に接合されていて種々の層から成る単一の接付されたサ
ンドイッチ状構造体を形成している。このサンド1ツチ
構造体は第4図の走査装置と後記する第8図および第9
図の走査装置とに使用できる。しかしながら、このサン
ドイッチ構造体はX線フィルタ17が感光面間に配置さ
れている第1図に示した装置(こは使用できない。
で使用できる。第5a図では、部分的反射鏡44は基体
に接合されていて種々の層から成る単一の接付されたサ
ンドイッチ状構造体を形成している。このサンド1ツチ
構造体は第4図の走査装置と後記する第8図および第9
図の走査装置とに使用できる。しかしながら、このサン
ドイッチ構造体はX線フィルタ17が感光面間に配置さ
れている第1図に示した装置(こは使用できない。
従って、このサンドイッチ構造体はその接合された性質
のため改良されたスペクトル分離機構を使用できない。
のため改良されたスペクトル分離機構を使用できない。
しかしながら、X線フィルタ13のスペクトル分離機構
は依然使用できる。
は依然使用できる。
X線フィルタ17を使用できるようζこするには、基体
15.18間ζζ層を差I−込む機構を設けるノv・要
がある。1つの方法が第5b図に示してあり、この図で
は、基体15.18が接続部60(こより一端部で接続
すなわち蝶番止めされている。これはフィルムを一端部
で接合する単なる塑性接続である。X線フィルムを第1
図に示した如く露出する場合l・こは、ビーム硬化X線
フィルタ17を基体15.18間に配置できる。読取り
の際に、部分反射鏡44を基体間に配置する。記録きれ
た感光面16.19は接続されたままであるので完全に
符合したままである。個々の感光面の相対的動きに対す
る抑制力を更に太ζこするため、第5C図(こ示した形
状を使用でき、この図では、基体18.19が3つの縁
部で接合されエンベロツブを形成している。基体15.
18は1つの縁部を除いて各縁部で接続されている。読
取りの際に記録および部分反射鏡44にX線硬化フィル
タ17を差1−込むのに開口61?:使用できる。第5
b図と第5C図とに示した形状は中間層金差1−込む種
々の可能性を例示したものである。たとえば、開いたフ
ラップで2つのl!J接し′f?:、縁部でか縁部の葦
わりの特定の個所で接合しそれ(こより現像(7た感光
面16、.19に符合伏態(こ保持できる。
15.18間ζζ層を差I−込む機構を設けるノv・要
がある。1つの方法が第5b図に示してあり、この図で
は、基体15.18が接続部60(こより一端部で接続
すなわち蝶番止めされている。これはフィルムを一端部
で接合する単なる塑性接続である。X線フィルムを第1
図に示した如く露出する場合l・こは、ビーム硬化X線
フィルタ17を基体15.18間に配置できる。読取り
の際に、部分反射鏡44を基体間に配置する。記録きれ
た感光面16.19は接続されたままであるので完全に
符合したままである。個々の感光面の相対的動きに対す
る抑制力を更に太ζこするため、第5C図(こ示した形
状を使用でき、この図では、基体18.19が3つの縁
部で接合されエンベロツブを形成している。基体15.
18は1つの縁部を除いて各縁部で接続されている。読
取りの際に記録および部分反射鏡44にX線硬化フィル
タ17を差1−込むのに開口61?:使用できる。第5
b図と第5C図とに示した形状は中間層金差1−込む種
々の可能性を例示したものである。たとえば、開いたフ
ラップで2つのl!J接し′f?:、縁部でか縁部の葦
わりの特定の個所で接合しそれ(こより現像(7た感光
面16、.19に符合伏態(こ保持できる。
第4図の検出された信号49.50は第6図に示した如
く処理する。第1の近似値には、各感光面の合成光透過
はX線の強さの所望の対数を表わす。従って、第6図の
プロセッサ70は最初フィルム乳濁液のIf−D曲線に
おける非直線性部分を補償する。更にまだ、各感光面側
々の透過率を表わす信号を出すことが望ましい。信号4
9は感光面16を2回トラバースすることによる信号す
なわちγ(を直接衣わす。信号50は両方の感光面を通
しての透過γ1γ2を表わす。1つの処理方法では信号
49の平方根を求めてγ+’を出し次いで信号50をγ
1で割りγ2を出す。これらは次いで直線性を補正され
て高低エネルギーX線の強さ’Il、’12の対数を表
わす信号を出す。
く処理する。第1の近似値には、各感光面の合成光透過
はX線の強さの所望の対数を表わす。従って、第6図の
プロセッサ70は最初フィルム乳濁液のIf−D曲線に
おける非直線性部分を補償する。更にまだ、各感光面側
々の透過率を表わす信号を出すことが望ましい。信号4
9は感光面16を2回トラバースすることによる信号す
なわちγ(を直接衣わす。信号50は両方の感光面を通
しての透過γ1γ2を表わす。1つの処理方法では信号
49の平方根を求めてγ+’を出し次いで信号50をγ
1で割りγ2を出す。これらは次いで直線性を補正され
て高低エネルギーX線の強さ’Il、’12の対数を表
わす信号を出す。
(17)
これら信号を前記米国特許第4,029,963号に記
載したデュアルエネルギープロセッサ73に送る。この
プロセッサは高低エネルギー71.72の非直線的組合
わせを使用して直線化1〜た基本像を形成する。これら
基本像は光電的およびコン7’ l−ン散乱成分か好ま
しいのはアルミニウムおよびプラスチックの如き目盛定
めに使用される特定の物質の等量を表わす。これら基本
的成分の衡量した1険すなわち相違は選択部76(・こ
送られここではどの物質を取り除くか増すかの如き種々
物質を選択できる。選択された像は表示モニタ78に表
示される。
載したデュアルエネルギープロセッサ73に送る。この
プロセッサは高低エネルギー71.72の非直線的組合
わせを使用して直線化1〜た基本像を形成する。これら
基本像は光電的およびコン7’ l−ン散乱成分か好ま
しいのはアルミニウムおよびプラスチックの如き目盛定
めに使用される特定の物質の等量を表わす。これら基本
的成分の衡量した1険すなわち相違は選択部76(・こ
送られここではどの物質を取り除くか増すかの如き種々
物質を選択できる。選択された像は表示モニタ78に表
示される。
第7図にはX線記録処理に使用されるカセットの1つの
具体例が示しである。この具体例では、既存のフィルム
−スクリーンカセットにおけるよう(こ閃光スクリーン
14.20は蝶番で接続されデュアル感光フィルムを差
I−込みやすいようにしである。しかしながら、更にま
たビーム硬化フィルタ17が蝶番65に取り付けである
。これがため第5b図と第5c図とに示した如き種々の
分離(]R) されたフィルム構造体がフィルム感光面にフィルム17
と共ζこ配置できるよう(こする。このようにシテ、重
要なエネルギースペクトル分離が高められる。
具体例が示しである。この具体例では、既存のフィルム
−スクリーンカセットにおけるよう(こ閃光スクリーン
14.20は蝶番で接続されデュアル感光フィルムを差
I−込みやすいようにしである。しかしながら、更にま
たビーム硬化フィルタ17が蝶番65に取り付けである
。これがため第5b図と第5c図とに示した如き種々の
分離(]R) されたフィルム構造体がフィルム感光面にフィルム17
と共ζこ配置できるよう(こする。このようにシテ、重
要なエネルギースペクトル分離が高められる。
第4図ζこけ単一の走査光線ケ使用する読取り装置tを
示した。第8図と第9図とにFi2つの光線を使用して
読み取る装置が示しである。検出器側の前側光源は鏡4
4により検出器ζこ反射された光で第1の感光面を照ら
す。フィルムの背後の光源が両方の感光面を通]〜で検
出器ζこ透過する。これら光源はそれらが検出器により
識別できるようある型式の符号化が必要である。この符
号化は一時的、空間的、色、成他等で良い。第8図には
、前側光源83は発電機86iこより駆動される後ろ側
光源85と共に発電機84により駆動される。光源83
からの光は部分的反射鏡82から感光面16全通し反射
され部分的反射鏡44から感光面16全通し再び反射さ
れる。この反射光はレンズ81を使用するテレビカメラ
80に結像される。同様ζこ、光源85からの元は感光
面19.16に透過されレンズ81を使用してカメラ8
0に結像される。
示した。第8図と第9図とにFi2つの光線を使用して
読み取る装置が示しである。検出器側の前側光源は鏡4
4により検出器ζこ反射された光で第1の感光面を照ら
す。フィルムの背後の光源が両方の感光面を通]〜で検
出器ζこ透過する。これら光源はそれらが検出器により
識別できるようある型式の符号化が必要である。この符
号化は一時的、空間的、色、成他等で良い。第8図には
、前側光源83は発電機86iこより駆動される後ろ側
光源85と共に発電機84により駆動される。光源83
からの光は部分的反射鏡82から感光面16全通し反射
され部分的反射鏡44から感光面16全通し再び反射さ
れる。この反射光はレンズ81を使用するテレビカメラ
80に結像される。同様ζこ、光源85からの元は感光
面19.16に透過されレンズ81を使用してカメラ8
0に結像される。
これらの信号を分離するため、光源83.85は発電機
84.86を使用して交互に駆動できる。
84.86を使用して交互に駆動できる。
従って、第1のこまはカメラ80により走査され九原8
3が駆動されて反射された光を表わし第2のこまは光源
85が駆動されて透過された光′ff:表わす。この場
合Oこ、分離器87は少くとも第1のこまを記憶するビ
デオ記憶装置である。従って、前に述べた如く感光面1
6 ’、を透過され反射された九と両方の感光面19.
16を透過された元とを表わす信号49.50が発生さ
れる。
3が駆動されて反射された光を表わし第2のこまは光源
85が駆動されて透過された光′ff:表わす。この場
合Oこ、分離器87は少くとも第1のこまを記憶するビ
デオ記憶装置である。従って、前に述べた如く感光面1
6 ’、を透過され反射された九と両方の感光面19.
16を透過された元とを表わす信号49.50が発生さ
れる。
感光面16.19を同時に走査する他の符号化装置も使
用できる。光源83.85からの党はカラーカメラであ
るカメラ80と共に異なる色で良い。この場合に、信号
49.50は単(こ異なる色の信号全身わす。光源83
.85は感光面に異なる空間パターンを投射できこれら
パターンはカメラの出力信号全処理することにより識別
できる。
用できる。光源83.85からの党はカラーカメラであ
るカメラ80と共に異なる色で良い。この場合に、信号
49.50は単(こ異なる色の信号全身わす。光源83
.85は感光面に異なる空間パターンを投射できこれら
パターンはカメラの出力信号全処理することにより識別
できる。
たとえは、異なる周波数の回折格子を分離器87で投射
でき、この分離器は2つの感光面の徂合わせを表わす2
つの周波数を分離するフィルりから成る。発′准機84
.86もまた光を高速度で明滅する高周波イぎ号で良い
。その場合ζこけ、カメラ80は2つの光源からの光を
識別する高周波信号全発生するため解1象機の如き非記
憶瞬間カメラでなければならない。
でき、この分離器は2つの感光面の徂合わせを表わす2
つの周波数を分離するフィルりから成る。発′准機84
.86もまた光を高速度で明滅する高周波イぎ号で良い
。その場合ζこけ、カメラ80は2つの光源からの光を
識別する高周波信号全発生するため解1象機の如き非記
憶瞬間カメラでなければならない。
あるテレビカメラは解像能力が制限されているので、第
9図には比較的に解像力が高いドラム型走査装置に応用
したテレビカメラが示しである。
9図には比較的に解像力が高いドラム型走査装置に応用
したテレビカメラが示しである。
この場合Oこは、中間に反射鏡44が配置されている2
つの基体15.18のサンドイッチ状層が回転ドラム9
3のまわりに巻いである。光源85とレンズ92とがド
ラム93内にある。これらはドラムと共に回転したりそ
れに相対的に移動しないよう固定されている。光源85
からの元はレンズ92を使用して感光面16.19に集
束される。
つの基体15.18のサンドイッチ状層が回転ドラム9
3のまわりに巻いである。光源85とレンズ92とがド
ラム93内にある。これらはドラムと共に回転したりそ
れに相対的に移動しないよう固定されている。光源85
からの元はレンズ92を使用して感光面16.19に集
束される。
同様に、光源83からの元は部分的反射鏡82tこより
反射されレンズ91を使用して感光面に集束される。両
方の光線からの合成光は感光面と相互(21) に作用した後反射鏡82を透過して検出器90に至る。
反射されレンズ91を使用して感光面に集束される。両
方の光線からの合成光は感光面と相互(21) に作用した後反射鏡82を透過して検出器90に至る。
検出器90からの信号は信号分離器87を通過せしめら
れこの分離器は前にも述べたように個々の光源の光を表
わす信号49.51出す。
れこの分離器は前にも述べたように個々の光源の光を表
わす信号49.51出す。
前ζこも述べたように、発電機86.84を使用して光
源85.83の元を交互に点滅することにより符号化で
きる。符号化は新たな画素が焦点部分を通り走査される
速度で行う必要がある。分離器90は検出器の出力を信
号49.50ζこ交互に切り換えて所要の信号分離全行
う。高周波切換え成分を取り除くためフィルタ全使用で
きる。前にも述べたように、検出器90e各光電池Oこ
異なる色のフィルタを有するデュアル検出器として光源
は異なる色を有することができる。検出器の各出力が次
いで分離できる信号49.5(l直接中じる。
源85.83の元を交互に点滅することにより符号化で
きる。符号化は新たな画素が焦点部分を通り走査される
速度で行う必要がある。分離器90は検出器の出力を信
号49.50ζこ交互に切り換えて所要の信号分離全行
う。高周波切換え成分を取り除くためフィルタ全使用で
きる。前にも述べたように、検出器90e各光電池Oこ
異なる色のフィルタを有するデュアル検出器として光源
は異なる色を有することができる。検出器の各出力が次
いで分離できる信号49.5(l直接中じる。
この型式の装置はしばしば高度の精度を必要とする。2
つの反射面からの信号の分離は部分的反射鏡44の仮定
の特性(こ基いている。反射鏡の反射率と透過率とが変
化することにより誤差が生じ(22) ないようにするため、基体18.15ζこ反射面16.
19がない場合に図示した装置のいづれでも反射鏡は走
査できる。反射鏡の反射率と透過率との変化は記録およ
び記憶できる。この記録おまひ記憶されたものは再生さ
れた選択的資料の像に誤差が生じるのを防止するため信
号49.50を修正するのOこ使用できる。
つの反射面からの信号の分離は部分的反射鏡44の仮定
の特性(こ基いている。反射鏡の反射率と透過率とが変
化することにより誤差が生じ(22) ないようにするため、基体18.15ζこ反射面16.
19がない場合に図示した装置のいづれでも反射鏡は走
査できる。反射鏡の反射率と透過率との変化は記録およ
び記憶できる。この記録おまひ記憶されたものは再生さ
れた選択的資料の像に誤差が生じるのを防止するため信
号49.50を修正するのOこ使用できる。
第4図、第8図および第9図に示した読取り装置が2°
りの反射面を自動的に完全に符合させる特性を有してい
ることを強調する必要がある。目動的に完全に符合させ
ない種々の走査装置も使用できる。しかしながら、これ
ら装置でももし注意すれば適当に符合させることができ
る。たとえは、もし第5b図の形状におけるように反射
面が開けることができれば、これら反射面は別々(こす
なわち順次ζこ走査できる。2つの反射面の相対的位置
全電子的に識別するため各反射、面、に符合マーク金+
Uする4二とができる。
りの反射面を自動的に完全に符合させる特性を有してい
ることを強調する必要がある。目動的に完全に符合させ
ない種々の走査装置も使用できる。しかしながら、これ
ら装置でももし注意すれば適当に符合させることができ
る。たとえは、もし第5b図の形状におけるように反射
面が開けることができれば、これら反射面は別々(こす
なわち順次ζこ走査できる。2つの反射面の相対的位置
全電子的に識別するため各反射、面、に符合マーク金+
Uする4二とができる。
もし第5C図に示しだ形状ケ使用すると、反射面15.
18間に十分に反射するデュアル反射鏡を差し込むこと
ができる。その場合には、個々の反射面はそれぞれの側
から個々にか順次番こ走査できる。しかしながら、これ
らの方法は前記1〜た装置の自動的符合特徴を有してい
ない。
18間に十分に反射するデュアル反射鏡を差し込むこと
ができる。その場合には、個々の反射面はそれぞれの側
から個々にか順次番こ走査できる。しかしながら、これ
らの方法は前記1〜た装置の自動的符合特徴を有してい
ない。
第1図は本発明の1つの具体例を示す略図、第2図は本
発明の装置の性能を示すグラフ、第3図は本発明の装置
の性能を示す別のグラフ、第4図は読取り装置の1つの
具体例の略図、第4a図は読取り装置の一部分の拡大図
、第5a図、第5b図、第5c図はデュアルフィルム系
統の変形具体例の略図、第6図は本発明に使用した1言
号処理装置のブロック図、第7図はテユアルスクリーン
系統の1つの具体例の略図、第8図はテレビジョンカメ
ラ全使用する読取り装置の変形具体例の略図、第9図は
ドラム型走査装置を使用する読取り装置の変形具体しU
の略図pある。 10 ・対物、11・・・X線源、12・・ビーム、1
3・透過手段、14・・・第1の閃光スクリーン、16
・第1の感光面、17・光学的に不伝導性層、19・・
第2の感光面、20 ・第2の閃)tスクリーン、40
・照明手段、44一部分的反射鏡、46.48・・検
出器。 特許出願人 アルバー 1・・マコブスキー代 理 人
弁理士 湯 浅 恭 三 ゛(外4名) (25)
発明の装置の性能を示すグラフ、第3図は本発明の装置
の性能を示す別のグラフ、第4図は読取り装置の1つの
具体例の略図、第4a図は読取り装置の一部分の拡大図
、第5a図、第5b図、第5c図はデュアルフィルム系
統の変形具体例の略図、第6図は本発明に使用した1言
号処理装置のブロック図、第7図はテユアルスクリーン
系統の1つの具体例の略図、第8図はテレビジョンカメ
ラ全使用する読取り装置の変形具体例の略図、第9図は
ドラム型走査装置を使用する読取り装置の変形具体しU
の略図pある。 10 ・対物、11・・・X線源、12・・ビーム、1
3・透過手段、14・・・第1の閃光スクリーン、16
・第1の感光面、17・光学的に不伝導性層、19・・
第2の感光面、20 ・第2の閃)tスクリーン、40
・照明手段、44一部分的反射鏡、46.48・・検
出器。 特許出願人 アルバー 1・・マコブスキー代 理 人
弁理士 湯 浅 恭 三 ゛(外4名) (25)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)第1の写真乳濁液に結合された第1の閃光スクリ
ーンに身体を通してX線ビームを投射することと、第1
の閃光スクリーンを通過後X線ビームを戸波することと
、P波したX線ビームを第2の写真乳濁液に結合された
第2の閃光スクリーンに投射することから成ることを特
徴とする2つのエネルギースペクトルでX線像データを
得る方法。 (2)X線ビームを戸波することがスペクトルの低エネ
ルギ一部分を選択的に減衰することによりX線ビームを
硬化することを含む特許請求の範囲第1項の方法。 (3)両方の透明体と部分的反射鏡とを透過せしめられ
た光を測定することと、一方の透明体を透過せしめられ
部分的反射鏡により該1つの透明体を通し反射さnた光
を測定することと、記憶された(1) 情報を表わす信号を得るため2゛つの測定結果を処理す
ることとから成ることを特徴とする部分的反射鏡の両側
における2つの透明体に記憶された情報を読み取る方法
。 (4)2つの検出器の総合的スペクトルのほぼいちじる
しい重なり部分にに吸収縁部を有する物質でX線源をろ
波することと、身体を通し2つの並置した検出器ζこン
戸波されたビームを透過することとから成ることを特徴
とする2つの並置した検出器間で工洋ルギー分離を増大
する方法。 (5)X線ビームを発生するX線源と、対物を通しX線
源に最も近い第1の閃光スクリーンにビームを透過させ
る手段と、第1の閃光スクリーンから放出された光像を
該第1の閃光スクリーン付近の第1の感光面に記憶する
手段と、第1の閃光スクリーンに平行で該スクリーンに
より透過されたX線ビームを受ける第2の閃光スクリー
ンと、第2の閃光スクリーン付近にあり該スクリーンに
より放出された光像を記憶させる第2の感光面と、第1
および第2の閃光スクリーン間に配置されX線(2) ビームを選択的にp波する光学的に不伝導性の層とから
成ることを特徴とする対物のX線像を選択的に記憶する
装置。 (6)光学的に不伝導性の層が第2の閃光スクリーンに
透過された低エネルギーX線を選択的(で減衰するX線
ビーム硬化フィルタである特許請求の範囲第5項の装置
。 (7)2つの′検出器の総合スペクトルのほぼいちじる
しい重なり部分にに吸収縁部を有する物質でX線源をp
波するX線フィルタを備えている2つのカスケード弐〇
こ並置した検出器間でエネルギースペクトル分離を増大
する装置。 (8)2一つの透明体間ζこ位置決めされた部分的反射
鏡と、2つの透明体と部分的反射鏡との組合わせを照射
する手段と、第1の透明体を通過し、部分的反射鏡(こ
より反射され第1の透明体を再透過せしめられた光の振
幅全検出する手段と、第1の透明体部分反射鏡および第
2の透明体を透過辻しめられた光の振幅全検出する手段
と、2つの検出された信号を処理して各透明体に記憶さ
れた情報を(3) 衣わす処理済み信号を出す手段とを備えていることを特
徴とする2つの並べた透明体ζこ記憶された情報を読み
取る装置。 (9)2つの並んだ透明体が少くとも1つの縁部(こお
いて中断されそれにより部分的反射鏡が差し込めるよう
にしである特許請求の範囲第8項の装置。 (10)部分的反射鏡が2つの並んだ透明体間に恒久的
に封入されている特許請求の範囲第8項の装置。 (■)2°つの透明体を照射する手段が走査光ビームで
あり検出手段が反射光ビームを検出する第1の検出器と
透過されたビームを検出する第2の検出器とを含んでい
る特許請求の範囲第8項の装置。 ((2)2・つの透明体を照射する手段が第1の透明体
を有する側を照射する第1の符号化された光源と −
第2の透明体を有する第2の符号化された光源とから成
りそれ(こより単一の検出手段が第1の透明体を通過す
る反射光と両方の透明体を通過する透過光とを別々に検
出できるようにしである特許請求の範囲第8項の装置。 (N8)光源を符号化する手段が別々の信号で第1お(
4) よび第2の光源を一時的に変調する手段を備えている特
許請求の範囲第12項の装置。 (旬第1および第2の光源が交互に付勢および消勢され
る特許請求の範囲第13項の装置。 (15)第1および第2の光源が異なる色であり、単一
の検出手段が異なる色用ζこ別々の出力を出す特許請求
の範囲第12項の装置。 (16)符号化された光源がそれぞれの導明体に投射さ
れる空間的に分離可能なパターンを有している特許請求
の範囲第12項の装置。 (1?)単一の検出手段がテレビカメラである特許請求
の範囲第12項の装置。 (18)第1および第2の光源と単一の検出手段とが2
・りの透明体に対し走査される特許請求の範囲第12項
の装置。 (19)互いに接続され読み取りを可能にするため部分
反射鏡が差し込めるようにする開口を含んでいる1面々
の隣接した基体上の1対の感光面を備えている2つの閃
光スクリーンにより生じたエネルギ” −選択性光像を
記憶する装置。 (5) (2D)基体が蝶番を形成する1つの縁部(こおいての
み互いに接続されている特許請求の範囲第19項の装置
。 (21)基体が1つの縁部のみを除く縁部で互いに接続
されエンベロノブを形成している特許請求の範囲第19
項の装置。 (22)部分的反射鏡を包囲(−個々の感光面に記憶さ
れた情報が読み取れるようにする1対の隣接した感光面
金偏えている2つの閃光スクリーンにより生じたエネル
ギー選択性光像を記憶する装置。 (28)第1の閃光スクリーンと、第2の閃光スクリー
ンと、第1および第2の閃光スクリーン間の光学的に不
伝導性のX線エネルギー沖波層と、感光面を有する第1
の基体が第1の閃光スクリーンと光学的に不伝導性のX
線p波層との間に差し込め感光面を有する第2の基体が
第2の閃光スクリーンと光学的に不伝導性の層との間に
差し込めるように2・りのスクリーンと第1および第2
の閃光とを分離する手段とから成ることを特徴とするX
線ビームからX線エネルギー選択性光像を生じる装(6
) 置。 (24)第1の閃光スクリーン、第2の閃光スクリーン
および光学的に不伝導性の層が共通の縁部で蝶番11−
めされている特許請求の範囲第23項の装置。 (25)光学的に不伝導性のX線P波層が低エネルギー
X@を選択的に減衰するX線ビーム硬[ヒ層である特許
請求の範囲第23または第24項の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US32777081A | 1981-12-07 | 1981-12-07 | |
US327770 | 1981-12-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58105045A true JPS58105045A (ja) | 1983-06-22 |
Family
ID=23277993
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57214587A Pending JPS58105045A (ja) | 1981-12-07 | 1982-12-07 | X線像デ−タを得る方法およびx線像を記憶する装置 |
JP63067999A Granted JPS6426834A (en) | 1981-12-07 | 1988-03-22 | Method of obtaining x ray image data and apparatus for storing x ray image |
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