JPH1194766A - 地合検査方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造装置を停止することなく不織布などの検
査対象の地合を容易かつ定量的に評価することができる
地合検査方法および装置を提供する。 【解決手段】 検査対象（１０）および運用参照面（５
０）の反射光若しくは透過光の画像をＣＣＤカメラ（３
０）で撮像し、該撮像した運用参照面（５０）の画像か
ら装置の校正を行い、検査対象（１０）の画像から検査
対象（１０）の地合を評価する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、不織布などの薄
いシート状の検査対象の地合を検査する地合検査方法お
よび装置に関し、特に、製造装置を停止することなく不
織布などの検査対象の地合を容易かつ定量的に評価する
ことができる地合検査方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、サニタリ製品などの伸びに伴い、
不織布等の需要は大きく伸びている。

【０００３】ところで、従来、不織布等の品質は一般に
地合（繊維の分布状態）で評価されるが、品質検査の多
くは検査員による目視に頼っている。

【０００４】また、不織布等の品質の検査の自動化を目
指した装置では、検査対象の不織布の透過光もしくは反
射光をＣＣＤのような撮像素子により撮像し、画像の輝
度の標準偏差、輝度のヒストグラムや、空間周波数分析
に基いた指標を不織布の品質の目安である地合指数とし
ている。

【０００５】また、この種の不織布等の製造装置は、２
４時間無停止で運転されており、このような不織布等の
製造装置における製品の品質指標の１つである地合を光
学的な手法を用いて計測する場合には、従来、以下の２
つの方法が知られている。

【０００６】１）相対計測法 計測開始時点の計測値を基準として、その後の値の変動
のみを計測し、地合の程度の変動のみを計測する方法。

【０００７】２）絶対計測法 何らかの基準を用いて、計測機器を校正し、その基準に
基づいて地合の程度を絶対的に計測する方法。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、画像の
輝度の標準偏差や輝度のヒストグラムを用いている地合
検査装置では、地合の空間的特徴を捉えることができな
い。例えば、撮像画像の輝度の標準偏差や輝度のヒスト
グラムがほぼ同様な検査対象では人間の目からみて明ら
かに異なっていても地合の程度が全く同じと評価してし
まい、計測する地合の程度が人間の感じる地合の程度と
異なるという問題がある。

【０００９】また、空間周波数を基にする地合検査装置
では、専用の濾過装置や高速な画像処理が必要であり、
空間周波数のみでも、地合指数が人間の感覚と一致しな
いという問題がある。

【００１０】更に、不織布等の地合を定量的に計測する
ためには、不織布の繊維の状態を高いコントラストで鮮
明に得る必要があるが、 １）材質により強い光や光に伴う熱を加えることが困難
であるために、鮮明な画像が得られない場合や ２）外乱光を遮る設備を設置することが困難であるた
め、外乱光により繊維の状態を鮮明に得ることが困難で
ある場合がある。

【００１１】また、このような薄い膜内の欠陥を検査す
る方法として、特開昭６−１４８０５９に開示されてい
るように、計測対象を偏向板の間に設置する方法もある
が、この方法を不織布に適用した場合は、 ３）圧着点をすべて欠陥として検出してしまうという問
題がある。

【００１２】また、上記２４時間無停止で運転される不
織布等の製造装置において、 １）上記相対計測法を採用した場合には、地合の程度の
変動は知ることができるが、地合の程度の絶対値を知る
ことができない。そのため、製造後、製品と計測値の突
き合わせを行う必要がある。

【００１３】２）また、絶対計測法を採用した場合に
は、外乱や光源およびカメラの経時変化、温度変化など
の影響を受けるため、計測時にその校正が必要である。
しかし、２４時間運転の製造装置においては、製品製造
中に計測装置の校正を行うことが困難である。このた
め、製造後、製品をサンプリングして計測する必要があ
る。

【００１４】３）また、計測面に受光素子などのセンサ
を配置し、その出力を用いて校正を行う方法もあるが、
このセンサも経時変化、温度変化などの影響を受ける。

【００１５】４）また、上記校正をカメラの絞り若しく
は照明で行うと、カメラのダイナミックレンジが変動す
る（感度が変化する）。このため、カメラのダイナミッ
クレンジの変動の影響を受けない校正方式が求められて
いる。

【００１６】そこで、この発明は、製造装置を停止する
ことなく不織布などの検査対象の地合を容易かつ定量的
に評価することができる地合検査方法および装置を提供
することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明は、検査対象の地合を検査する地合
検査方法において、上記検査対象および運用参照面の反
射光若しくは透過光の画像を撮像し、該撮像した運用参
照面の画像に基づき校正処理を行うとともに、該撮像し
た検査対象の画像から検査対象の複数の特徴量を抽出
し、該抽出した複数の特徴量から上記検査対象の地合を
検査することを特徴とする。

【００１８】また、請求項２の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査装置において、上記検査対象および
運用参照面を照射する光源と、上記光源の照射による上
記検査対象および運用参照面からの反射光若しくは透過
光の画像を撮像する撮像手段と、上記撮像手段で撮像し
た上記運用参照面の画像から上記撮像手段を校正制御す
る校正制御手段と、上記撮像手段で撮像した上記検査対
象の画像から複数の特徴量を抽出する特徴量抽出手段
と、上記特徴量抽出手段で抽出した複数の特徴量から上
記検査対象の地合を検査する検査手段と、を具備するこ
とを特徴とする。

【００１９】また、請求項３の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査方法において、光源からの光を第１
の偏向フィルタを介して上記検査対象に照射し、該検査
対象の透過光を特定の色の成分を抽出するカラーフィル
タおよび上記第１の偏向フィルタと同一の偏向角に設定
された第２の偏向フィルタを通過させ、上記カラーフィ
ルタおよび上記第２の偏向フィルタを通過した光から上
記検査対象の画像を撮像して該撮像した画像に基づき上
記検査対象の地合を検査することを特徴とする。

【００２０】また、請求項４の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査方法において、光源からの光を第１
の偏向フィルタを介して上記検査対象に照射し、該検査
対象の透過光を上記第１の偏向フィルタと直交する偏向
角に設定された第２の偏向フィルタを通過させ、上記第
２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象の画像
を撮像して該撮像した画像に基づき上記検査対象の地合
を検査することを特徴とする。

【００２１】また、請求項５の発明は、請求項４の発明
において、上記撮像した画像を２値化し、該２値化した
画像のパターンマッチングにより上記検査対象の圧着点
を検出し、該検出した圧着点の数を地合指数として検査
対象の地合を評価することを特徴とする。

【００２２】また、請求項６の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査方法において、光源からの光を第１
の偏向フィルタを介して上記検査対象に照射し、該検査
対象の透過光から特定の色の成分を抽出するとともに、
上記抽出した光を２つの光に分離し、上記分離した一方
の光を上記第１の偏向フィルタと同一の偏向角に設定さ
れた第２の偏向フィルタを通過させるとともに、上記分
離した他方の光を上記第１の偏向フィルタと直交する偏
向角に設定された第３の偏向フィルタを通過させ上記第
２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象の第１
の画像を撮像するとともに、上記第３の偏向フィルタを
通過した光から上記検査対象の第２の画像を撮像し、上
記第１の画像から上記第２の画像を減算した画像に基づ
き上記検査対象の地合を検査することを特徴とする。

【００２３】また、請求項７の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査装置において、上記検査対象を照射
する光源と、上記光源と上記検査対象との間に配置され
る第１の偏向フィルタと、上記検査対象の透過光から特
定の色の成分を抽出するカラーフィルタと、上記検査対
象の透過光を通過させる上記第１の偏向フィルタと同一
の偏向角に設定された第２の偏向フィルタと、上記カラ
ーフィルタおよび上記第２の偏向フィルタを通過した光
から上記検査対象の画像を撮像する撮像手段と、上記撮
像手段で撮像した画像に基づき上記検査対象の地合を検
査する検査手段と、を具備することを特徴とする。

【００２４】また、請求項８の発明は、検査対象の地合
を検査する地合検査装置において、上記検査対象を照射
する光源と、上記光源と上記検査対象との間に配置され
る第１の偏向フィルタと、上記検査対象の透過光を通過
させる上記第１の偏向フィルタと直交する偏向角に設定
された第２の偏向フィルタと、上記第２の偏向フィルタ
を通過した光から上記検査対象の画像を撮像する撮像手
段と、上記撮像手段で撮像した画像に基づき上記検査対
象の地合を検査する検査手段と、を具備することを特徴
とする。

【００２５】また請求９の発明は、請求項８の発明にお
いて、上記撮像手段で撮像した画像を２値化する２値化
手段と、上記２値化手段で２値化した画像のパターンマ
ッチングにより上記検査対象の圧着点を検出する圧着点
検出手段と、上記圧着点検出手段で検出した圧着点の数
を地合指数として出力する出力手段と、を具備すること
を特徴とする。

【００２６】また、請求項１０の発明は、検査対象の地
合を検査する地合検査装置において、上記検査対象を照
射する光源と、上記光源と上記検査対象との間に配置さ
れる第１の偏向フィルタと、上記検査対象の透過光から
特定の色の成分を抽出するカラーフィルタと、上記カラ
ーフィルタで抽出された光を２つの光に分離するビーム
スプリッタと、上記ビームスプリッタで分離した一方の
光を通過させる上記第１の偏向フィルタと同一の偏向角
に設定された第２の偏向フィルタと、上記ビームスプリ
ッタで分離した他方の光を通過させる上記第１の偏向フ
ィルタと直交する偏向角に設定された第３の偏向フィル
タと、上記第２の偏向フィルタを通過した光から上記検
査対象の第１の画像を撮像する第１の撮像手段と、上記
第３の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象の第
２の画像を撮像する第２の撮像手段と、上記第１の撮像
手段で撮像された上記第１の画像から上記第２の撮像手
段で撮像された第２の画像を減算する減算手段と、上記
減算手段による減算処理で求められる画像に基づき上記
検査対象の地合を検査する検査手段と、を具備すること
を特徴とする。

【００２７】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて添付図面を参照して詳細に説明する。

【００２８】図１は、この発明に係わる地合検査方法お
よび装置を適用して構成した地合検査装置の一実施の形
態を概略構成図で示したものである。

【００２９】図１において、この地合検査装置は、ロー
ル状に巻回された不織布等の検査対象１０を光源である
照明２０により照射し、この検査対象１０からの反射光
をＣＣＤカメラ３０で取り込むことにより該検査対象１
０を撮像し、このＣＣＤカメラ３０で撮像した検査対象
１０の画像を画像処理演算装置４０に渡すことにより検
査対象１０の地合の検査を行なう。

【００３０】また、上記検査対象１０に触れず、かつ、
ＣＣＤカメラ３０の視野（図４に示すＣＣＤカメラの視
野３０ａ）の一部に入る位置に運用参照面５０が配置さ
れており、この運用参照面５０は、ＣＣＤカメラ３０の
焦点深度の内部に入るように配置されている。

【００３１】また、不織布等の検査対象１０は、数百ｍ
／分の速度で巻き取られている。

【００３２】画像処理演算装置４０は、ＣＣＤカメラ３
０で撮像した検査対象１０および運用参照面５０の画像
から複数の特徴量を演算抽出する。

【００３３】図２は、上記画像処理演算装置４０の処理
をブロック図で示したものである。

【００３４】図２において、ＣＣＤカメラ３０で撮像し
た検査対象１０の画像は、画像取り込み処理部４１によ
り、画像処理演算装置４０の図示しないメモリ上に画像
データとして取り込まれる。

【００３５】この画像取り込み処理部４１により、画像
処理演算装置４０のメモリ上に取り込まれた画像データ
は、参照輝度演算処理部４２、特徴量演算処理部４４に
渡される。

【００３６】参照輝度演算処理部４２では、画像処理演
算装置４０のメモリ上に取り込まれた画像データから、
運用参照面５０を撮像している領域、すなわち、図４に
示す運用面平均輝度演算領域５０ａのみを抽出し、この
抽出した運用参照面５０を撮像している運用面平均輝度
演算領域５０ａの平均輝度（運用面平均輝度）を算出す
る。

【００３７】絞り値演算処理部４３は、この画像処理演
算装置４０の内部で保持している運用面平均輝度若しく
は入力装置４７から入力された平均輝度設定値からなる
基準輝度（設定値）と参照輝度演算処理部４２で演算さ
れた運用面平均輝度（参照輝度）とを比較し、設定値と
参照輝度との差の絶対値が計測上の誤差δの範囲以上で
あると、ＣＣＤカメラ３０に対して絞り制御信号を出力
する。

【００３８】ＣＣＤカメラ３０は、この絞り値演算処理
部４３から出力された絞り制御信号に対応してその絞り
が制御される。

【００３９】絞り値演算処理部４３における設定値と参
照輝度との比較において、設定値と参照輝度との差の絶
対値が計測上の誤差δの範囲より小さいと、特徴量演算
処理部４４による検査対象１０の特徴量の演算抽出が行
われる。

【００４０】特徴量演算処理部４４では、画像処理演算
装置４０のメモリ上に取り込まれた画像データから、運
用参照面５０を撮像している領域以外の部分、すなわ
ち、図４に示す特徴量演算領域（地合指数演算領域）１
０ａの画像データを抽出し、この抽出した特徴量演算領
域（地合指数演算領域）１０ａの画像データから検査対
象１０の地合を特徴付ける複数の特徴量を演算抽出す
る。

【００４１】ここで、検査対象１０の地合を特徴付ける
複数の特徴量としては、 １）画像の均一度（画像の輝度データの標準偏差） ２）画像の明度（画像の輝度データの平均輝度） ３）画像の粗密度（画像データの一次微分値の内の一定
範囲の値になる画素数の総和） 等を用いることができる。

【００４２】地合指数演算処理部４５では、特徴量演算
処理部４４で演算された複数の特徴量を線形結合し、検
査対象１０の地合指数を演算する。この地合指数演算処
理部４５における地合指数の演算において、結合時の重
み（結合係数）は、入力装置４７から指定するように構
成することができる。

【００４３】地合指数演算処理部４６で演算された地合
指数は、表示装置４７に渡され、ここで表示される。

【００４４】図３は、上記画像処理演算装置４０の処理
をフローチャートで示したものである。

【００４５】図３において、まず、画像取り込み処理部
４１によりＣＣＤカメラ３０で撮像した検査対象１０の
画像を画像処理演算装置４０の図示しないメモリ上に画
像データとして取り込む画像取り込みが行われる（ステ
ップ１０１）。

【００４６】次に、参照輝度演算処理部４２により、参
照輝度、すなわち、図４に示す運用面平均輝度演算領域
５０ａの平均輝度（運用面平均輝度）が算出される（ス
テップ１０２）。

【００４７】そして、ステップ１０２で算出された参照
輝度と設定値、すなわち、この画像処理演算装置４０の
内部で保持している運用面平均輝度若しくは入力装置４
７から入力された平均輝度設定値からなる設定値との比
較が行われる（ステップ１０３）。

【００４８】ここで、参照輝度＝設定値でないと判断さ
れると、すなわち、設定値と参照輝度との差の絶対値が
計測上の誤差δの範囲以上であると（ステップ１０３で
ＮＯ）、絞り値演算処理部４３において、ＣＣＤカメラ
３０に対する絞り制御値が演算され（ステップ１０
４）、ステップ１０１に戻る。

【００４９】また、ステップ１０３で、参照輝度＝設定
値であると判断されると、すなわち、設定値と参照輝度
との差の絶対値が計測上の誤差δの範囲より小さいと
（ステップ１０３でＹＥＳ）、特徴量演算処理部４４に
よる検査対象１０の複数の特徴量を演算する特徴量演算
が行われる（ステップ１０５）。

【００５０】このステップ１０５で演算された複数の特
徴量は、地合指数演算処理部４５に渡され、ここで、複
数の特徴量が線形結合され、検査対象１０の地合指数を
演算する処理、すなわち、地合指数演算が行われる（ス
テップ１０６）。

【００５１】このステップ１０６で演算された地合指数
は、表示装置４７に渡され、ここで地合指数表示が行わ
れ（ステップ１０７）、この処理を終了する。

【００５２】なお、図３に示した処理においては、ＣＣ
Ｄカメラ３０の絞りを制御する校正処理と、検査対象１
０の地合指数を演算する計測処理とを同時に実行する運
用例を示したが、以下に示すような運用も可能である。

【００５３】１）校正処理は、検査装置の起動毎に実行
する。 ２）校正処理は、地合指数計測処理の実施前に毎回行
う。 ３）校正処理は、地合指数計測処理に関係なく、一定時
間毎に行う。

【００５４】また、上記構成においては、運用参照面５
０をＣＣＤカメラ３０の画面の上端に配置したが、以下
に示すような配置も可能である。

【００５５】１）運用参照面５０をＣＣＤカメラ３０の
画面の下端に配置する。 ２）運用参照面５０をＣＣＤカメラ３０の画面の右端若
しくは左端に配置する。 ３）運用参照面５０を分割し、ＣＣＤカメラ３０の画面
の４角に配置する。

【００５６】なお、上記構成において、ＣＣＤカメラ３
０としては、エリアＣＣＤカメラを用いた場合を示した
が、ラインＣＣＤカメラを用いても同様に構成すること
ができる。また、上記構成においては、検査対象からの
反射光を利用したが、透過光を利用しても同様に構成す
ることができる。

【００５７】図５は、この発明に係わる地合検査方法お
よび装置を適用して構成した地合検査装置の他の実施の
形態を概略構成図で示したものである。

【００５８】なお、図５において、図１に示した地合検
査装置と同一の機能を果たす部分には説明の便宜上同一
の符号を付する。

【００５９】図５に示す地合検査装置においては、図１
に示したＣＣＤカメラ３０がエリアカメラであったのに
対して、リニアＣＣＤカメラ３００を用いて構成されて
おり、また、図１に示した運用参照面５０がＣＣＤカメ
ラ３０の画面の上端に配置されているのに対し、図５に
示す構成においては、運用参照面５００が検査対象１０
の搬送方向に沿って配置されており、また、検査対象１
０が巻回されるローラにロータリーエンコーダ６０が設
けられている点で図１に示した構成と異なる。

【００６０】なお、この図５に示した構成においては、
図２に示した画像取り込み処理４１がロータリーエンコ
ーダ６０の出力パルスに同期して行われることになり、
画像処理演算装置５００の処理において、画像データが
１次元になるだけで、地合指数の演算および評価方法は
図１に示した構成と同一である。

【００６１】すなわち、図５において、この地合検査装
置は、ロール状に巻回された不織布等の検査対象１０を
光源である照明２０により照射し、この検査対象１０か
らの反射光をリニアＣＣＤカメラ３００で取り込むこと
により該検査対象１０を撮像し、このリニアＣＣＤカメ
ラ３００で撮像した検査対象１０の画像を画像処理演算
装置４００に渡すことにより検査対象１０の地合の検査
を行なう。

【００６２】また、上記検査対象１０に触れず、かつ、
リニアＣＣＤカメラ３００の合成された視野（図６のリ
ニアＣＣＤから合成された視野３００ａ）の一部に入る
位置に運用参照面５００が配置されており、この運用参
照面５００は、リニアＣＣＤカメラ３００の焦点深度の
内部に入るように配置されている。

【００６３】また、不織布等の検査対象１０は、数百ｍ
／分の速度で巻き取られている。

【００６４】画像処理演算装置４００は、リニアＣＣＤ
カメラ３００で撮像した検査対象１０および運用参照面
５００の画像から複数の特徴量を演算抽出する。

【００６５】また、画像処理演算装置４００は、ロータ
リーエンコーダ６０の出力パルスに同期してリニアＣＣ
Ｄカメラ３００から出力される画像データを蓄積する。

【００６６】この場合、画像処理演算装置４００は、図
６に示す画像データ蓄積開始点で、リニアＣＣＤカメラ
３００から出力される画像データの蓄積を開始し、図６
に示す画像データ蓄積終了点で、リニアＣＣＤカメラ３
００から出力される１ラインの画像データの蓄積を終了
する。

【００６７】すなわち、この構成において、画像処理演
算装置４００は、ロータリーエンコーダ６０の出力パル
スに同期してリニアＣＣＤカメラ３００から出力される
１次元画像を、画像データを画像処理演算装置４００の
図示しないメモリの連続した領域に蓄積する。これによ
りリニアＣＣＤから擬似的にエリアＣＣＤと同じ出力を
得る。この擬似的にエリアＣＣＤと同じ出力を得ること
により図１に示した構成と同一の画像データ処理が可能
になる。

【００６８】図７は、この発明に係わる地合検査方法お
よび装置を適用して構成した地合検査装置のさらに他の
実施の形態を概略構成図で示したものである。

【００６９】なお、図７においても、図１に示した地合
検査装置と同一の機能を果たす部分には説明の便宜上同
一の符号を付する。

【００７０】図７に示す地合検査装置においては、図１
に示した運用参照面５０が黒の運用参照面５１と白の運
用参照面５２に分割されている点が図１に示した構成と
異なる。

【００７１】すなわち、図７において、この地合検査装
置は、ロール状に巻回された不織布等の検査対象１０を
光源である照明２０により照射し、この検査対象１０か
らの反射光をＣＣＤカメラ３０で取り込むことにより該
検査対象１０を撮像し、このＣＣＤカメラ３０で撮像し
た検査対象１０の画像を画像処理演算装置４０１に渡す
ことにより検査対象１０の地合の検査を行なう。

【００７２】また、上記検査対象１０に触れず、かつ、
ＣＣＤカメラ３０の視野（図１０のＣＣＤカメラ視野３
０ａ）の一部に入る位置に運用参照面５１および５２が
配置されており、この運用参照面５１および５２は、Ｃ
ＣＤカメラ３０の焦点深度の内部に入るように配置され
ている。

【００７３】また、不織布等の検査対象１０は、数百ｍ
／分の速度で巻き取られている。

【００７４】画像処理演算装置４０１は、ＣＣＤカメラ
３０で撮像した検査対象１０および運用参照面５１、５
２の画像から複数の特徴量を演算抽出する。

【００７５】図８は、上記画像処理演算装置４０１の処
理をブロック図で示したものである。

【００７６】なお、図８においても、図２に示したブロ
ック図と同一の機能を果たす部分には説明の便宜上同一
の符号を付する。

【００７７】図８において、ＣＣＤカメラ３０で撮像し
た検査対象１０の画像は、画像取り込み処理部４１によ
り、画像処理演算装置４０１の図示しないメモリ上に画
像データとして取り込まれる。

【００７８】この画像取り込み処理部４１により、画像
処理演算装置４０１のメモリ上に取り込まれた画像デー
タは、参照輝度演算処理部４８、正規化処理部４９に渡
される。

【００７９】参照輝度演算処理部４８では、画像処理演
算装置４０のメモリ上に取り込まれた画像データから、
運用参照面５２を撮像している領域、すなわち、図１０
に示す運用面平均輝度演算領域５２ａのみを抽出し、こ
の抽出した運用参照面５２を撮像している運用面平均輝
度演算領域５２ａの平均輝度（運用面平均輝度）を算出
する。

【００８０】絞り値演算処理部４３は、この画像処理演
算装置４０の内部で保持している運用面平均輝度若しく
は入力装置４７から入力された平均輝度設定値からなる
基準輝度（設定値）と参照輝度演算処理部４８で演算さ
れた運用面平均輝度（参照輝度）とを比較し、設定値と
参照輝度との差の絶対値が計測上の誤差δの範囲以上で
あると、ＣＣＤカメラ３０に対して絞り制御信号を出力
する。

【００８１】ＣＣＤカメラ３０は、この絞り値演算処理
部４３から出力された絞り制御信号に対応してその絞り
が制御される。

【００８２】絞り値演算処理部４３における設定値と参
照輝度との比較において、設定値と参照輝度との差の絶
対値が計測上の誤差δの範囲より小さいと、正規化処理
部４９の処理が行われる。

【００８３】正規化処理部４９では、運用参照面５１と
運用参照面５２の平均輝度の差を用いて、図１０に示す
特徴量演算領域（地合指数演算領域）１０ａの画像デー
タを正規化する。

【００８４】この構成において画像データは２５６階調
であるので、運用参照面５１の平均輝度を０、運用参照
面５２の平均輝度を２５５となるように正規化する。

【００８５】すなわち、図１０に示す特徴量演算領域
（地合指数演算領域）１０ａの画像データをｆ（ｘ、
ｙ）、正規化後の画像データをｆ’（ｘ、ｙ）、運用参
照面５１の平均輝度をＶ１、運用参照面５２の平均輝度
をＶ２とすると、以下に示す演算式により、図１０に示
す特徴量演算領域（地合指数演算領域）１０ａの画像デ
ータを正規化する。

【００８６】ｆ’（ｘ、ｙ）＝（２５５／（Ｖ２−Ｖ
１））×ｆ（ｘ、ｙ）−２５５／（Ｖ２−Ｖ１）

【００８７】なお、上式においては、最小を０、最大を
２５５として線形正規化を行ったが、最小値および最大
値および、正規化方式（線形、非線型）はＣＣＤカメラ
３０の特性を考慮して決定する。

【００８８】特徴量演算処理部４４では、画像処理演算
装置４０のメモリ上に取り込まれた画像データから、運
用参照面５１、５２を撮像している領域以外の部分、す
なわち、図１０に示す特徴量演算領域（地合指数演算領
域）１０ａの画像データを抽出し、この抽出した特徴量
演算領域（地合指数演算領域）１０ａの画像データの正
規化データから検査対象１０の地合を特徴付ける複数の
特徴量を演算抽出する。

【００８９】ここで、検査対象１０の地合を特徴付ける
複数の特徴量としては、 １）画像の均一度（画像の輝度データの標準偏差） ２）画像の明度（画像の輝度データの平均輝度） ３）画像の粗密度（画像データの一次微分値の内の一定
範囲の値になる画素数の総和） 等を用いることができる。

【００９０】地合指数演算処理部４５では、特徴量演算
処理部４４で演算された複数の特徴量を線形結合し、検
査対象１０の地合指数を演算する。この地合指数演算処
理部４５における地合指数の演算において、結合時の重
み（結合係数）は、入力装置４７から指定するように構
成することができる。

【００９１】地合指数演算処理部４６で演算された地合
指数は、表示装置４７に渡され、ここで表示される。

【００９２】図９は、上記画像処理演算装置４０１の処
理をフローチャートで示したものである。

【００９３】図９において、まず、画像取り込み処理部
４１によりＣＣＤカメラ３０で撮像した検査対象１０の
画像を画像処理演算装置４０１の図示しないメモリ上に
画像データとして取り込む画像取り込みが行われる（ス
テップ２０１）。

【００９４】次に、参照輝度演算処理部４８により、参
照輝度、すなわち、図１０に示す運用面平均輝度演算領
域５２ａの平均輝度（運用面平均輝度）が算出される
（ステップ２０２）。

【００９５】そして、ステップ２０２で算出された参照
輝度と設定値、すなわち、この画像処理演算装置４０１
の内部で保持している運用面平均輝度若しくは入力装置
４７から入力された平均輝度設定値からなる設定値との
比較が行われる（ステップ２０３）。

【００９６】ここで、参照輝度＝設定値でないと判断さ
れると、すなわち、設定値と参照輝度との差の絶対値が
計測上の誤差δの範囲以上であると（ステップ２０３で
ＮＯ）、絞り値演算処理部４３において、ＣＣＤカメラ
３０に対する絞り制御値が演算され（ステップ２０
４）、ステップ２０１に戻る。

【００９７】また、ステップ２０３で、参照輝度＝設定
値であると判断されると、すなわち、設定値と参照輝度
との差の絶対値が計測上の誤差δの範囲より小さいと
（ステップ２０３でＹＥＳ）、正規化処理部４４による
図１０に示す特徴量演算領域（地合指数演算領域）１０
ａの画像データを正規化する正規化処理が行われる（ス
テップ２０５）。

【００９８】次に、特徴量演算処理部４４による正規化
処理がなされた画像データを用いた検査対象１０の複数
の特徴量を演算する特徴量演算が行われる（ステップ２
０６）。

【００９９】このステップ２０６で演算された複数の特
徴量は、地合指数演算処理部４５に渡され、ここで、複
数の特徴量が線形結合され、検査対象１０の地合指数を
演算する処理、すなわち、地合指数演算が行われる（ス
テップ２０７）。

【０１００】このステップ２０７で演算された地合指数
は、表示装置４７に渡され、ここで地合指数表示が行わ
れ（ステップ２０８）、この処理を終了する。

【０１０１】なお、図９に示した処理においては、ＣＣ
Ｄカメラ３０の絞りを制御する校正処理と、検査対象１
０の地合指数を演算する計測処理とを同時に実行する運
用例を示したが、以下に示すような運用も可能である。

【０１０２】１）校正処理は、検査装置の起動毎に実行
する。 ２）校正処理は、地合指数計測処理の実施前に毎回行
う。 ３）校正処理は、地合指数計測処理に関係なく、一定時
間毎に行う。

【０１０３】また、上記構成においては、運用参照面５
１、５２をＣＣＤカメラ３０の画面の上端に配置した
が、以下に示すような配置も可能である。

【０１０４】１）運用参照面５１、５２をＣＣＤカメラ
３０の画面の下端に配置する。 ２）運用参照面５１、５２をＣＣＤカメラ３０の画面の
右端若しくは左端に配置する。 ３）運用参照面５１、５２を分割し、 ＣＣＤカメラ３
０の画面上に分割配置する。

【０１０５】図１１は、この発明に係わる地合検査方法
および装置を適用して構成した地合検査装置の他の実施
の形態を概略構成図で示したものである。

【０１０６】図１１に示す構成において、検査対象であ
る不織布３３０は、第１の偏向フィルタである偏向フィ
ルタ３２０を介して透過光光源３１０により照射され、
不織布３３０を透過した光はカラーフィルタ３４０、第
２の偏向フィルタである偏向フィルタ３５０を介してＣ
ＣＤカメラ３６０に取り込まれ、ＣＣＤカメラ３６０に
よる不織布３３０の透過画像が撮像される。

【０１０７】このＣＣＤカメラ３６０により撮像された
不織布３３０の画像は、画像処理装置３７０に取り込ま
れ、画像処理装置３７０においてこの不織布３３０の地
合を検査するための所定の処理がなされる。

【０１０８】ここで、第２の偏向フィルタである偏向フ
ィルタ３５０は、第１の偏向フィルタである偏向フィル
タ３２０と同じ偏向角になるように配置されている。

【０１０９】また、カラーフィルタ３４０としては、赤
の光を選択的に透過させる赤のカラーフィルタが使用さ
れる。

【０１１０】なお、図１１に示した構成において、偏向
フィルタ３５０とカラーフィルタ３４０の配置関係は逆
転してもよい。

【０１１１】ところで、このような構成によると、検査
対象である不織布３３０に入射する光は偏向フィルタ３
２０によって、その偏光方向がそろっている。

【０１１２】この偏光方向がそろっている光が、不織布
３３０の繊維に衝突すると、散乱によりさまざまな偏向
方向の光になる。

【０１１３】ここで、不織布３３０の繊維の薄い部分で
は、この散乱の効果が少なく、偏向方向が変わる成分は
少ない。

【０１１４】また、不織布３３０の繊維の厚い部分で
は、散乱の効果により、偏向方向の変わる成分が発生す
る。

【０１１５】そして、この不織布３３０を通過した光が
偏向フィルタ３５０を通過するとき、不織布３３０の繊
維の薄い部分を通過して来た光は、 １）繊維の吸収による減衰が少ない ２）散乱による偏向方向の変わった光の成分が少ない という作用により、光の減衰が少ない。

【０１１６】逆に、不織布３３０の繊維の厚い部分を通
過した光は、 １）繊維の吸収による減衰が大きい ２）散乱による偏向方向の変わった光の成分が少ない という２重の作用により、光の減衰が多くなる。

【０１１７】また、外乱光はあらゆる偏向方向の成分を
持っているが、外乱光が偏向フィルタ３２０を通過し、
また、不織布３３０で反射してくる間に、偏向フィルタ
３２０により偏向フィルタ３２０の偏向角と異なる成分
が落とされるため、外乱光の影響も抑制することができ
る。

【０１１８】このような作用により、ＣＣＤカメラ３６
０ではコントラストの改善された透過光画像を得ること
ができる。

【０１１９】次に、その作用について説明する。

【０１２０】一般に、不織布３３０では、偏向フィルタ
３２０を通過した光が不織布３３０の圧着点（繊維の圧
着部分）で大きく散乱される。このため、カラーフィル
タ３４０を採用しない場合には、上記圧着点が黒点とし
てＣＣＤカメラ３６０により撮像される。

【０１２１】この現象は、透過光光源３１０から発せら
れた光に多くの波長の成分が含まれるため、散乱の影響
を受け易いためであると考えられる。そこで、ＣＣＤカ
メラ３６０への光路に赤のカラーフィルタ３４０を挿入
し、この赤のカラーフィルタ３４０により散乱の影響が
少ない波長の長い成分のみを透過させるように構成する
ことで、圧着点の影響を最小限に押さえることが可能に
なる。

【０１２２】なお、カラーフィルタの代わりに、赤色の
透過光光源もしくは、３ＣＣＤカメラのＲ出力のみを使
用することもできる。

【０１２３】このような構成によると、外乱光の影響を
押さえ、コントラストの高い地合画像を得ることが可能
になる。

【０１２４】なお、画像処理装置３７０においてこの不
織布３３０の地合を検査するための処理としては、例え
ば、図１乃至図１０で説明した画像処理演算装置４０、
４００、４０１と同様の処理を採用することができる。

【０１２５】このように図１１に示したこの発明の実施
の形態においては、以下に示すような効果が期待でき
る。

【０１２６】１）第１の偏向フィルタである偏向フィル
タ３２０と第２の偏向フィルタである偏向フィルタ３５
０との偏向角を同一とすることにより、弱い透過光光源
においても、外乱光の影響を押さえた、鮮明な透過光画
像を得ることが可能になる。

【０１２７】２）赤系のカラーフィルタ３４を使用する
ことにより、不織布３３０の圧着点において散乱し難い
波長の光による画像を得ることができるので、不織布３
３０の圧着点の影響を押さえた画像を得ることができ、
これにより精度の高い地合品質の検査が可能となる。

【０１２８】図１２は、この発明に係わる地合検査方法
および装置を適用して構成した地合検査装置の更に他の
実施の形態を概略構成図で示したものである。

【０１２９】図１２に示す構成は、図１１の構成におい
て、カラーフィルタ３４０の透過光をビームスプリッタ
８３０により２つの光に分割し、一方の光は第２の偏向
フィルタである偏向フィルタ３５０を介してＣＣＤカメ
ラ３６０に取り込まれ、ＣＣＤカメラ３６０による不織
布３３０の透過画像（第１の画像）が撮像されるが、他
方の光は反射鏡３８１、第３の偏向フィルタである偏向
フィルタ３５１を介してＣＣＤカメラ３６１に取り込ま
れ、ＣＣＤカメラ３６１による不織布３３０の透過画像
（第２の画像）が撮像される。

【０１３０】ここで、第２の偏向フィルタである偏向フ
ィルタ３５０は、図６と同様に、第１の偏向フィルタで
ある偏向フィルタ３２０と同じ偏向角になるように配置
されているが、第３の偏向フィルタである偏向フィルタ
３５１は、第１の偏向フィルタである偏向フィルタ３２
０と直交する偏向角になるように配置されている。

【０１３１】このような構成において、ＣＣＤカメラ３
６０により撮像される第１の画像は、図１１に示した構
成と同様に、主に、透過光光源３１０を源とした、透過
光による画像である。

【０１３２】しかし、ＣＣＤカメラ３６１により撮像さ
れる第２の画像は、偏向フィルタ３２０と偏向フィルタ
３５１の偏向角が直交しているため、 １）外乱光が検査対象の不織布の表面で反射したものに
よる画像と ２）透過光光源から光が不織布の繊維による散乱によっ
て偏向角が変わったことによる透過光の画像の合成画像
である。

【０１３３】ここで、上記２）の透過光光源から光が不
織布の繊維による散乱によって偏向角が変わったことに
よる透過光の画像は、繊維の厚い部分が明るく、繊維の
薄い部分が暗くなる。

【０１３４】そこで、この実施の形態においては、ＣＣ
Ｄカメラ３６０およびＣＣＤカメラ３６１の後段に、Ｃ
ＣＤカメラ３６０により撮続された第１の画像からＣＣ
Ｄカメラ３６１により撮像された第２の画像を減算する
減算回路３９０を設ける。

【０１３５】この減算回路３９０による減算により得ら
れ画像は、検査対象の不織布３３０の薄い部分が明る
く、厚い部分が暗いＣＣＤカメラ３６０の画像から、薄
い部分が暗く、厚い部分が明るいＣＣＤカメラ３６１の
画像を引くことになるため、明部と暗部のコントラスト
を大きく改善することができる。

【０１３６】なお、減算回路３９０において、減算結果
が負になるときはゼロを出力する。

【０１３７】これにより、外乱光の影響を押さえ、コン
トラストの高い地合の画像を得ることができる。

【０１３８】このように、この図１２に示す実施の形態
によると、以下に示す効果が期待できる。

【０１３９】１）赤糸のカラーフィルタ３４０を使用す
ることにより、圧着点において散乱し難い波長の光によ
る画像を得ることができるので、検査対象の不織布３３
０の圧着点の影響を押さえた画像を得ることができる。

【０１４０】２）ＣＣＤカメラ３６０の得る画像は、主
に透過光の影響を多く含み、ＣＣＤカメラ３６１の得る
画像は、主に外乱光による反射光の影響を多く含むの
で、ＣＣＤカメラ３６０の画像からＣＣＤカメラ３６１
の画像を減算することにより、画像から外乱光の影響を
減少させ、検査対象の不織布３３０の繊維の状態を反映
した、非常にコントラストの高い画像を得ることがで
き、これにより、精度の高い地合い品質の検査が可能と
なる。

【０１４１】図１３は、この発明に係わる地合検査方法
および装置を適用して構成した地合検査装置の更に他の
実施の形態を概略構成図で示したものである。

【０１４２】図１３に示す構成は、図１１の構成におい
て、図１１に示した第２の偏向フィルタである偏向フィ
ルタ３５０の代わりに第１の偏向フィルタである偏向フ
ィルタ３２０と直交する偏向角になるように配置された
偏向フィルタ３５３を設けた点が図１１に示した構成と
異なる。他の構成は、図１１に示した構成と同様であ
る。

【０１４３】この図１３に示す構成によると、ＣＣＤカ
メラ３６０により撮像された不織布３３０の画像は、不
織布３３０の圧着点が白く鮮明に見える。

【０１４４】ここで、この圧着点は検査対象の不織布３
３０の地合の状態がよい場合、背景に対して良好なコン
トラストで見える。

【０１４５】逆に、検査対象の不織布３３０の地合の状
態が悪いときには、背景に対するコントラストが低く、
鮮明に見えない。

【０１４６】従って、この鮮明な圧着点の数を数えるこ
とにより、検査対象の不織布３３０の地合を評価するこ
とができる。

【０１４７】図１４は、この図１３に示す実施の形態に
おける画像処理装置３７０における上記地合を評価する
処理をフローチャートで示したものである。

【０１４８】図１４において、まず、ＣＣＤカメラ３６
０による撮像画像を画像データとして取り込む（ステッ
プ４０１）。

【０１４９】次に、この取り込んだ画像データに平滑フ
ィルタ処理を施し、ノイズを除去する（ステップ４０
２）。そして、このノイズを除去した画像データををｎ
×ｍピクセルごとの領域に分割し、この分割された各領
域ごとの輝度の平均値を求め、輝度の平均値を閾値とし
て２値化する（ステップ４０３）。

【０１５０】次に、この２値化された画像の中から圧着
点を探すために、図１５に示すような基準パターンを用
いて、パターンマッチングを行う（ステップ４０４）。

【０１５１】このパターンマッチングの結果、適合度が
７５％以上の点の数を得、これを圧着点個数として検出
する（ステップ４０５）。

【０１５２】そして、このステップ４０５で検出した圧
着点個数を地合指数として出力し（ステップ４０６）、
この処理を終了する。

【０１５３】このような構成によると、検査対象である
不織布３３０の圧着点の画像を鮮明に得ることができる
ので、容易に地合を計測できる。

【０１５４】この図１３に示す実施の形態によると、以
下に示すような効果が期待できる。

【０１５５】１）経験則的に、不織布の地合のよいもの
は、圧着点が鮮明に検出でき、地合の悪いものは、圧着
点が不鮮明になるので、偏向フィルタ３２０と偏向フィ
ルタ３５３を直交して配置することにより、不織布の圧
着点の画像を非常に鮮明に得ることができ、ここで、パ
タンマッチングにより検出できた圧着点の数を数えれ
ば、数の多少で不織布の地合を間接的に評価できる。

【０１５６】２）計測上障害となる圧着点を逆に利用す
ることで、容易に不織布の地合品質を評価できる。

【０１５７】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
以下に示すような効果が得られる。

【０１５８】１）カメラ画像から輝度を基に絞りを調整
するため、光源、ＣＣＤなどの経時／温度変化の影響を
受けない計測が可能となる。

【０１５９】２）また、運用参照面は製造装置の状態に
関係なく配置可能であり、かつ運用参照面を基に製造装
置が稼動中にも校正が可能である。

【０１６０】３）製造装置の稼働中に校正が可能である
ので、地合の絶対値計測が可能になる。

【０１６１】４）第１の偏向フィルタと第２の偏向フィ
ルタの偏向角を同一とすることにより、弱い透過光光源
においても、外乱光の影響を押さえた、鮮明な透過光画
像を得ることが可能となる。

【０１６２】５）赤系のカラーフィルタを使用すること
により、圧着点において散乱し難い波長の光による画像
を得ることができるので、圧着点の影響を押さえた画像
を得ることができ、精度の高い地合品質の検査が可能と
なる。

【０１６３】６）赤系のカラーフィルタを使用すること
により、圧着点において散乱し難い波長の光による画像
を得ることができるので、圧着点の影響を押さえた画像
を得ることができる。

【０１６４】７）第１の撮像手段の得る画像は、主に透
過光の影響を多く含み、第２の撮像手段の得る画像は、
主に外乱光による反射光の影響を多く含むので、第１の
撮像手段の画像から第２の撮像手段の画像を減算するこ
とにより、画像から外乱光の影響を減少させ、不織布の
繊維の状態を反映した、非常にコントラストの高い画像
を得ることができ、これにより、精度の高い地合い品質
の検査が可能となる。

【０１６５】８）経験則的に、不織布の地合のよいもの
は、圧着点が鮮明に検出でき、地合の悪いものは、圧着
点が不鮮明になるので、第１の偏向フィルタと第２の偏
向フィルタを直交して配置し、不織布の圧着点の画像を
非常に鮮明に得ることができるようにし、パタンマッチ
ングにより検出できた圧着点の数を数えれば、数の多少
で不織布の地合を間接的に評価できる。

【０１６６】９）計測上障害となる圧着点を逆に利用す
ることで、容易に不織布の地合品質を評価できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係わる地合検査方法および装置を適
用して構成した地合検査装置の一実施の形態を示す概略
構成図。

【図２】図１に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るためのブロック図。

【図３】図１に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るためのフローチャート。

【図４】図１に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るための図。

【図５】この発明に係わる地合検査方法および装置を適
用して構成した地合検査装置の他の実施の形態を示す概
略構成図。

【図６】図５に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るための図。

【図７】この発明に係わる地合検査方法および装置を適
用して構成した地合検査装置のさらに他の実施の形態を
示す概略構成図。

【図８】図７に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るためのブロック図。

【図９】図７に示した画像処理演算装置の処理を説明す
るためのフローチャート。

【図１０】図７に示した画像処理演算装置の処理を説明
するための図。

【図１１】この発明に係わる地合検査方法および装置を
適用して構成した地合検査装置の他の実施の形態を示す
概略構成図。

【図１２】この発明に係わる地合検査方法および装置を
適用して構成した地合検査装置の更に他の実施の形態を
示す概略構成図。

【図１３】この発明に係わる地合検査方法および装置を
適用して構成した地合検査装置の更に他の実施の形態を
示す概略構成図。

【図１４】図１３に示した画像処理装置における上記地
合を評価する処理を示すフローチャート。

【図１５】図１３に示したフローチャートにおけるパタ
ーンマッチングで使用する基準パターンの一例を示す
図。

【符号の説明】

１０ 検査対象 ２０ 照明 ３０ ＣＣＤカメラ ４０、４００、４０１ 画像処理演算装置 ４１ 画像取り込み処理部 ４２、４８ 参照輝度演算処理部 ４３ 絞り値演算処理部 ４４ 特徴量演算処理部 ４５ 地合指数演算処理部 ４６ 表示装置 ４７ 入力装置 ４９ 正規化処理部 ３１０ 透過光光源 ３２０ 偏向フィルタ ３３０ 不織布 ３４０ カラーフィルタ ３５０ 偏向フィルタ ３５１ 偏向フィルタ ３６０ ＣＣＤカメラ ３６１ ＣＣＤカメラ ３７０ 画像処理装置 ３８０ ビームスプリッタ ３８１ 反射鏡

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象の地合を検査する地合検査方法
   において、 上記検査対象および運用参照面の反射光若しくは透過光
   の画像を撮像し、 該撮像した運用参照面の画像に基づき校正処理を行うと
   ともに、該撮像した検査対象の画像から検査対象の複数
   の特徴量を抽出し、 該抽出した複数の特徴量から上記検査対象の地合を検査
   することを特徴とする地合検査方法。
2. 【請求項２】 検査対象の地合を検査する地合検査装置
   において、 上記検査対象および運用参照面を照射する光源と、 上記光源の照射による上記検査対象および運用参照面か
   らの反射光若しくは透過光の画像を撮像する撮像手段
   と、 上記撮像手段で撮像した上記運用参照面の画像から上記
   撮像手段を校正制御する校正制御手段と、 上記撮像手段で撮像した上記検査対象の画像から複数の
   特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、 上記特徴量抽出手段で抽出した複数の特徴量から上記検
   査対象の地合を検査する検査手段と、 を具備することを特徴とする地合検査装置。
3. 【請求項３】 検査対象の地合を検査する地合検査方法
   において、 光源からの光を第１の偏向フィルタを介して上記検査対
   象に照射し、 該検査対象の透過光を特定の色の成分を抽出するカラー
   フィルタおよび上記第１の偏向フィルタと同一の偏向角
   に設定された第２の偏向フィルタを通過させ、 上記カラーフィルタおよび上記第２の偏向フィルタを通
   過した光から上記検査対象の画像を撮像して該撮像した
   画像に基づき上記検査対象の地合を検査することを特徴
   とする地合検査方法。
4. 【請求項４】 検査対象の地合を検査する地合検査方法
   において、 光源からの光を第１の偏向フィルタを介して上記検査対
   象に照射し、 該検査対象の透過光を上記第１の偏向フィルタと直交す
   る偏向角に設定された第２の偏向フィルタを通過させ、 上記第２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
   の画像を撮像して該撮像した画像に基づき上記検査対象
   の地合を検査することを特徴とする地合検査方法。
5. 【請求項５】 上記撮像した画像を２値化し、該２値化
   した画像のパターンマッチングにより上記検査対象の圧
   着点を検出し、該検出した圧着点の数を地合指数として
   検査対象の地合を評価することを特徴とする請求項４記
   載の地合検査方法。
6. 【請求項６】 検査対象の地合を検査する地合検査方法
   において、 光源からの光を第１の偏向フィルタを介して上記検査対
   象に照射し、 該検査対象の透過光から特定の色の成分を抽出するとと
   もに、 上記抽出した光を２つの光に分離し、 上記分離した一方の光を上記第１の偏向フィルタと同一
   の偏向角に設定された第２の偏向フィルタを通過させる
   とともに、 上記分離した他方の光を上記第１の偏向フィルタと直交
   する偏向角に設定された第３の偏向フィルタを通過させ
   上記第２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
   の第１の画像を撮像するとともに、 上記第３の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
   の第２の画像を撮像し、 上記第１の画像から上記第２の画像を減算した画像に基
   づき上記検査対象の地合を検査することを特徴とする地
   合検査方法。
7. 【請求項７】 検査対象の地合を検査する地合検査装置
   において、 上記検査対象を照射する光源と、 上記光源と上記検査対象との間に配置される第１の偏向
   フィルタと、 上記検査対象の透過光から特定の色の成分を抽出するカ
   ラーフィルタと、 上記検査対象の透過光を通過させる上記第１の偏向フィ
   ルタと同一の偏向角に設定された第２の偏向フィルタ
   と、 上記カラーフィルタおよび上記第２の偏向フィルタを通
   過した光から上記検査対象の画像を撮像する撮像手段
   と、 上記撮像手段で撮像した画像に基づき上記検査対象の地
   合を検査する検査手段と、 を具備することを特徴とする地合検査装置。
8. 【請求項８】 検査対象の地合を検査する地合検査装置
   において、 上記検査対象を照射する光源と、 上記光源と上記検査対象との間に配置される第１の偏向
   フィルタと、 上記検査対象の透過光を通過させる上記第１の偏向フィ
   ルタと直交する偏向角に設定された第２の偏向フィルタ
   と、 上記第２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
   の画像を撮像する撮像手段と、 上記撮像手段で撮像した画像に基づき上記検査対象の地
   合を検査する検査手段と、 を具備することを特徴とする地合検査装置。
9. 【請求項９】 上記撮像手段で撮像した画像を２値化す
   る２値化手段と、 上記２値化手段で２値化した画像のパターンマッチング
   により上記検査対象の圧着点を検出する圧着点検出手段
   と、 上記圧着点検出手段で検出した圧着点の数を地合指数と
   して出力する出力手段と、 を具備することを特徴とする請求項８記載の地合検査装
   置。
10. 【請求項１０】 検査対象の地合を検査する地合検査装
    置において、 上記検査対象を照射する光源と、 上記光源と上記検査対象との間に配置される第１の偏向
    フィルタと、 上記検査対象の透過光から特定の色の成分を抽出するカ
    ラーフィルタと、 上記カラーフィルタで抽出された光を２つの光に分離す
    るビームスプリッタと、 上記ビームスプリッタで分離した一方の光を通過させる
    上記第１の偏向フィルタと同一の偏向角に設定された第
    ２の偏向フィルタと、 上記ビームスプリッタで分離した他方の光を通過させる
    上記第１の偏向フィルタと直交する偏向角に設定された
    第３の偏向フィルタと、 上記第２の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
    の第１の画像を撮像する第１の撮像手段と、 上記第３の偏向フィルタを通過した光から上記検査対象
    の第２の画像を撮像する第２の撮像手段と、 上記第１の撮像手段で撮像された上記第１の画像から上
    記第２の撮像手段で撮像された第２の画像を減算する減
    算手段と、 上記減算手段による減算処理で求められる画像に基づき
    上記検査対象の地合を検査する検査手段と、 を具備することを特徴とする地合検査装置。