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JPH1139657A - Optical disk and its reproducing device - Google Patents

Optical disk and its reproducing device

Info

Publication number
JPH1139657A
JPH1139657A JP9195733A JP19573397A JPH1139657A JP H1139657 A JPH1139657 A JP H1139657A JP 9195733 A JP9195733 A JP 9195733A JP 19573397 A JP19573397 A JP 19573397A JP H1139657 A JPH1139657 A JP H1139657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical disk
layer substrate
substrates
pit
information recording
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9195733A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Sadanari Fujimoto
定也 藤本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP9195733A priority Critical patent/JPH1139657A/en
Publication of JPH1139657A publication Critical patent/JPH1139657A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk and a reproducing device capable of obtaining roughly identical reproducing signal characteristics from the substrates of respective layers. SOLUTION: In multi-layer structure optical disk constructed by stacking a plurality of substrates 11 and 12 each having recorded information, when lights are selectively converged in the information recording surfaces of the plurality of substrates 11 and 12 from one surface side, reflected lights from the light converged substrates 11 and 12 are obtained from one surface side. In this case, a reflected light from any one of the light converged substrates 11 and 12 is roughly equal to another while it is obtained from one surface side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、それぞれに情報
が記録された複数の基板を積層してなる多層構造の光デ
ィスク及びその再生装置の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk having a multilayer structure in which a plurality of substrates on each of which information is recorded are laminated, and an improvement of a reproducing apparatus therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、首記の如き多層構造の光
ディスクとしては、図16(a)に示すように、ピット
形成面にAu(金)の半透明膜11aが付された0層基
板11と、ピット形成面にAl(アルミニウム)の全反
射膜12aが付された1層基板12とを、再生面距離が
約55μmとなるように透明接着剤13で張り合わせて
なる、2層構造の光ディスク14が主流になっている。
2. Description of the Related Art As is well known, as shown in FIG. 16A, an optical disc having a multi-layer structure as shown in FIG. 16A has a zero-layer in which a pit forming surface is provided with a translucent film 11a of Au (gold). A two-layer structure in which a substrate 11 and a one-layer substrate 12 in which a pit formation surface is provided with a total reflection film 12a of Al (aluminum) are adhered with a transparent adhesive 13 so that a reproduction surface distance is about 55 μm. Optical disk 14 is in the mainstream.

【0003】このような2層構造の光ディスク14は、
その0層基板11側に設置された光学式ピックアップに
よって、0層基板11及び1層基板12にそれぞれ記録
されている情報が、選択的に読み取られるようになって
いる。すなわち、光学式ピックアップは、0層基板11
に記録された情報を読み取る場合、レーザ光が0層基板
11のピット形成面に集光するように対物レンズ15を
フォーカス方向に制御し、その半透明膜11aによる反
射光を光電変換して再生信号を得るようにしている。
An optical disk 14 having such a two-layer structure has
Information recorded on the zero-layer substrate 11 and the one-layer substrate 12 is selectively read by an optical pickup provided on the zero-layer substrate 11 side. That is, the optical pickup uses the 0-layer substrate 11
When reading the information recorded in the holographic recording medium, the objective lens 15 is controlled in the focus direction so that the laser light is focused on the pit formation surface of the 0-layer substrate 11, and the light reflected by the translucent film 11a is reproduced by photoelectric conversion. I try to get a signal.

【0004】また、光学式ピックアップは、1層基板1
2に記録された情報を読み取る場合には、レーザ光が0
層基板11を通過して1層基板12のピット形成面に集
光するように対物レンズ15をフォーカス方向に制御
し、その全反射膜12aによる反射光が0層基板11を
通過した光を光電変換して再生信号を得るようにしてい
る。
[0004] The optical pickup has a single-layer substrate 1.
2 to read the information recorded in
The objective lens 15 is controlled in the focus direction so that the light passes through the layer substrate 11 and is condensed on the pit formation surface of the one-layer substrate 12. The conversion is performed to obtain a reproduced signal.

【0005】この場合、0層基板11の半透明膜11a
によって反射されたレーザ光の光量と、1層基板12の
全反射膜12aによって反射され、0層基板11を通過
したレーザ光の光量とは、略等しくなるように設定され
ている。また、情報を読み取っている側の基板11,1
2からの反射光に対して、情報を読み取っていない側の
基板12,11からの反射光が悪影響を与えないように
設定されている。
In this case, the translucent film 11a of the zero-layer substrate 11
The amount of the laser light reflected by the first layer substrate 12 and the amount of the laser light reflected by the total reflection film 12a of the first layer substrate 12 and passing through the zero layer substrate 11 are set to be substantially equal. In addition, the substrates 11, 1 on the side from which information is read
The setting is made so that the reflected light from the substrates 12 and 11 on the side from which information is not read does not adversely affect the reflected light from the second.

【0006】ここで、近年市場に普及しているDVDと
称される光ディスク14では、記録情報の1ビットに対
応する長さをTとすると、最短ピット部の長さが3T
で、最長ピット部の長さが14Tに設定されている。こ
の場合、光ディスクからの反射光レベルは、図16
(b)に示すように変化する。
Here, in the optical disk 14 called DVD, which has become popular in the market in recent years, if the length corresponding to one bit of recorded information is T, the length of the shortest pit portion is 3T.
The length of the longest pit portion is set to 14T. In this case, the level of light reflected from the optical disk is as shown in FIG.
It changes as shown in FIG.

【0007】すなわち、図16(b)において、縦軸は
反射光レベルを示し、横軸は時間を示している。そし
て、光ディスク14のピット形成面における最長ランド
部の反射光レベルがI14Hとなり、最長ピット部の反
射光レベルがI14Lとなり、最短ランド部の反射光レ
ベルがI3Hとなり、最短ピット部の反射光レベルがI
3Lとなっている。
That is, in FIG. 16B, the vertical axis represents the level of reflected light, and the horizontal axis represents time. Then, the reflected light level of the longest land portion on the pit formation surface of the optical disk 14 becomes I14H, the reflected light level of the longest pit portion becomes I14L, the reflected light level of the shortest land portion becomes I3H, and the reflected light level of the shortest pit portion becomes I
3L.

【0008】このため、最長ランド部と最短ランド部と
の間の長さを有するランド部の反射光レベルは、I14
HとI3Hとの間に存在し、最長ピット部と最短ピット
部との間の長さを有するピット部の反射光レベルは、I
14LとI3Lとの間に存在することになる。
For this reason, the reflected light level of the land having a length between the longest land and the shortest land is I14.
H and I3H, the reflected light level of a pit having a length between the longest pit and the shortest pit is I
It will be between 14L and I3L.

【0009】そして、この反射光レベルの振幅特性を表
現するためのパラメータとしては、変調度M,アシンメ
トリA及び分解能Dの3種類が規定されている。これら
のパラメータは、それぞれ、 M=(I14H-I14L)/I14H A=[(I14H+I14L)-(I3H+I3L)]/[2(I14H-I14L)] D=(I3H-I3L)/(I14H-I14L) のようにして算出される。
As parameters for expressing the amplitude characteristics of the reflected light level, three types of modulation degree M, asymmetry A and resolution D are defined. These parameters are M = (I14H-I14L) / I14H A = [(I14H + I14L)-(I3H + I3L)] / [2 (I14H-I14L)] D = (I3H-I3L) / (I14H -I14L).

【0010】ここで、図17は、上記のような光ディス
ク14を再生する光ディスク再生装置において、光学式
ピックアップから出力される再生信号の特性の良さを総
合的に表わす要素である、ジッタを測定するための測定
系を示している。すなわち、2層構造の光ディスク14
は、ディスクモータ16によって回転駆動され、光学式
ピックアップ17によって記録情報が読み取られる。
FIG. 17 shows an optical disc reproducing apparatus for reproducing the optical disc 14 as described above, which measures jitter, which is an element comprehensively representing good characteristics of a reproduced signal output from an optical pickup. FIG. That is, the optical disc 14 having a two-layer structure
Is driven to rotate by a disk motor 16, and recorded information is read by an optical pickup 17.

【0011】この光学式ピックアップ17から出力され
た再生信号は、前置増幅回路18で増幅され、イコライ
ザ回路19により周波数特性の補償処理が施された後、
データスライス回路20に供給されて2値化され、出力
端子21から取り出される。また、このデータスライス
回路20から出力される2値化データは、PLL(Phas
e Locked Loop )回路22に供給されて2値化データに
同期したクロックの生成に供され、このクロックが出力
端子23から取り出される。
The reproduced signal output from the optical pickup 17 is amplified by a preamplifier circuit 18 and subjected to a frequency characteristic compensation process by an equalizer circuit 19.
The data is supplied to the data slice circuit 20, binarized, and taken out from the output terminal 21. The binarized data output from the data slice circuit 20 is a PLL (Phas
e Locked Loop) is supplied to a circuit 22 to generate a clock synchronized with the binarized data, and the clock is taken out from an output terminal 23.

【0012】そして、光ディスク再生装置では、出力端
子21から出力された2値化データのエッジと、出力端
子23から出力されるクロックのエッジとの位相差をサ
ンプリングすることにより、ジッタの測定を行なってい
る。この場合、ジッタが小さいほど再生信号特性が良い
と言え、上記変調度M及び分解能Dが大きいほど、また
アシンメトリAが0.10付近で、ジッタは小さくな
る。
In the optical disk reproducing apparatus, jitter is measured by sampling the phase difference between the edge of the binary data output from the output terminal 21 and the edge of the clock output from the output terminal 23. ing. In this case, it can be said that the smaller the jitter is, the better the reproduced signal characteristic is.

【0013】ここで、図18乃至図20は、上記した2
層構造の光ディスク14の製造工程を示している。ま
ず、図18(a)乃至(d)は、前記0層基板11の製
造工程を示している。すなわち、図18(a)は、露光
原盤11bを示している。この露光原盤11bは、ガラ
ス基板11cの表面にレジスト11dを塗布し、光を照
射して必要な箇所のレジスト11dのみを残すようにし
たもので、レジスト11dの厚みによって、製造された
0層基板11のピットの深さが決定される。
FIG. 18 to FIG.
3 shows a manufacturing process of the optical disc 14 having a layer structure. First, FIGS. 18A to 18D show a manufacturing process of the zero-layer substrate 11. That is, FIG. 18A shows the exposure master 11b. The exposure master 11b is obtained by applying a resist 11d to the surface of a glass substrate 11c and irradiating light to leave only the resist 11d at a necessary portion. The depth of the eleven pits is determined.

【0014】この露光原盤11bから、図18(b)に
示すように、鍍金によってマスターとなるスタンパ11
eを製作し、このスタンパ11eから、同図(c)に示
すように、基板11fを成型している。そして、この基
板11fのピット形成面を、図18(d)に示すよう
に、Auの半透明膜11aで覆うことにより、0層基板
11が製造される。
From this exposure master 11b, as shown in FIG. 18B, a stamper 11 serving as a master is formed by plating.
e, and a substrate 11f is formed from the stamper 11e as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 18D, the pit-forming surface of the substrate 11f is covered with a translucent Au film 11a, whereby the zero-layer substrate 11 is manufactured.

【0015】図19(a)乃至(d)は、前記1層基板
12の製造工程を示している。すなわち、図19(a)
は、露光原盤12bを示している。この露光原盤12b
は、ガラス基板12cの表面にレジスト12dを塗布
し、0層基板11のときと同一の露光条件により光を照
射して必要な箇所のレジスト12dのみを残すようにし
たもので、レジスト12dの厚みによって、製造された
1層基板12のピットの深さが決定される。
FIGS. 19A to 19D show a manufacturing process of the single-layer substrate 12. That is, FIG.
Indicates an exposure master 12b. This exposure master 12b
Is a method in which a resist 12d is applied to the surface of a glass substrate 12c and irradiated with light under the same exposure conditions as in the case of the 0-layer substrate 11 so that only the necessary portion of the resist 12d is left. Thereby, the depth of the pit of the manufactured one-layer substrate 12 is determined.

【0016】この露光原盤12bから、図19(b)に
示すように、鍍金によってマスターとなるスタンパ12
eを製作し、このスタンパ12eから、同図(c)に示
すように、基板12fを成型している。そして、この基
板12fのピット形成面を、図19(d)に示すよう
に、Alの全反射膜12aで覆うことにより、1層基板
12が製造される。
From this exposure master 12b, as shown in FIG. 19B, a stamper 12 serving as a master is formed by plating.
e, and a substrate 12f is molded from the stamper 12e as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 19D, the pit formation surface of the substrate 12f is covered with an Al total reflection film 12a, whereby the one-layer substrate 12 is manufactured.

【0017】その後、図20に示すように、0層基板1
1と1層基板12とを、再生面距離が約55μmとなる
ように、透明接着剤13で貼り合わせることにより、2
層構造の光ディスク14が製造される。そして、この光
ディスク14は、前述したように、0層基板11側から
対物レンズ15を介してレーザ光を集光させることによ
り、0層基板11及び1層基板12に記録されている情
報が選択的に読み取られるようになっている。
Thereafter, as shown in FIG.
By bonding the first and one-layer substrates 12 with the transparent adhesive 13 so that the reproducing surface distance is about 55 μm,
An optical disc 14 having a layer structure is manufactured. As described above, the optical disc 14 condenses laser light from the zero-layer substrate 11 through the objective lens 15 to select information recorded on the zero-layer substrate 11 and the one-layer substrate 12. It is designed to be read.

【0018】ところで、上記した0層基板11及び1層
基板12は、いずれも同一の露光条件で作成された露光
原盤11b,12bに基づいて製造されている。このた
め、図21(a)に示すように、透明接着剤13で貼り
合わせる前の0層基板11を単板で再生した場合と、同
図(b)に示すように、透明接着剤13で貼り合わせる
前の1層基板12を単板で再生した場合とでは、同一の
再生信号振幅特性を得ることができる。
Incidentally, the above-mentioned zero-layer substrate 11 and one-layer substrate 12 are both manufactured based on the exposure masters 11b and 12b prepared under the same exposure conditions. For this reason, as shown in FIG. 21A, the case where the 0-layer substrate 11 before being bonded with the transparent adhesive 13 is reclaimed as a single plate is used, and as shown in FIG. The same reproduced signal amplitude characteristics can be obtained when the single-layer substrate 12 before bonding is reproduced as a single plate.

【0019】すなわち、図21(a)に示すように、0
層基板11のピット形成面(この場合は、半透明膜11
aに代えてAlの全反射膜11gで覆っている)に、対
物レンズ15でレーザ光を集光させた場合の、最長ラン
ド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部の
各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3L
と、同図(b)に示すように、1層基板12の全反射膜
12aで覆われたピット形成面に、対物レンズ15でレ
ーザ光を集光させた場合の、最長ランド部,最長ピット
部,最短ランド部及び最短ピット部の各反射光レベルI
14H,I14L,I3H及びI3Lとは、それぞれが
互いに等しくなっている。
That is, as shown in FIG.
The pit formation surface of the layer substrate 11 (in this case, the translucent film 11
When the laser beam is condensed by the objective lens 15 on the Al total reflection film 11g instead of a), each reflected light of the longest land, the longest pit, the shortest land, and the shortest pit is obtained. Levels I14H, I14L, I3H and I3L
As shown in FIG. 2B, the longest land portion and the longest pit when the laser beam is condensed by the objective lens 15 on the pit forming surface of the single-layer substrate 12 covered with the total reflection film 12a. Light level I at the shortest lands, shortest lands and shortest pits
14H, I14L, I3H and I3L are equal to each other.

【0020】しかしながら、図22に示すように、ピッ
ト形成面に半透明膜11aが付された0層基板11と、
ピット形成面に全反射膜12aが付された1層基板12
とを透明接着剤13で貼り合わせた2層構造の光ディス
ク14を、0層基板11側から対物レンズ15を介して
レーザ光を集光させて、0層基板11及び1層基板12
に記録されている情報を選択的に読み取るようにした場
合、図23(a)に示すように、0層基板11の最短ラ
ンド部及び最短ピット部の各反射光レベルI3H及びI
3Lと、同図(b)に示すように、1層基板12の最短
ランド部及び最短ピット部の各反射光レベルI3H及び
I3Lとに、差Δが生じてしまうという問題が発生して
いる。
However, as shown in FIG. 22, a zero-layer substrate 11 having a translucent film 11a on the pit formation surface,
One-layer substrate 12 having pit formation surface provided with total reflection film 12a
And an optical disk 14 having a two-layer structure in which the two layers are adhered to each other with a transparent adhesive 13.
In the case where the information recorded in the shortest lands and the shortest pits of the 0-layer substrate 11 are respectively read as shown in FIG.
As shown in FIG. 3B, there is a problem that a difference Δ occurs between the reflected light levels I3H and I3L of the shortest land portion and the shortest pit portion of the one-layer substrate 12 as shown in FIG.

【0021】そして、この0層基板11の反射光レベル
I3H及びI3Lと、1層基板12の反射光レベルI3
H及びI3Lとに差Δが生じることにより、0層基板1
1の反射光レベルの振幅特性は、1層基板12の反射光
レベルの振幅特性に比して、変調度M及び分解能Dが小
さくなるとともに、アシンメトリAが負側にシフトして
しまうという問題が生じている。
The reflected light levels I3H and I3L of the zero-layer substrate 11 and the reflected light levels I3H
H and I3L have a difference Δ, so that the 0-layer substrate 1
The amplitude characteristic of the reflected light level of 1 has a problem that the modulation factor M and the resolution D are smaller and the asymmetry A is shifted to the negative side as compared with the amplitude characteristic of the reflected light level of the one-layer substrate 12. Has occurred.

【0022】また、0層基板11の反射光レベルI3H
及びI3Lと、1層基板12の反射光レベルI3H及び
I3Lとに差Δが生じることにより、光ディスク再生装
置側では、前記イコライザ回路19の周波数特性を、図
24に符号a,bで示される特性に切り替える必要が生
じる。この場合、図24に符号aで示す特性が、0層基
板11の再生に対応する等化特性であり、同図に符号b
で示す特性が、1層基板12の再生に対応する等化特性
である。
The reflected light level I3H of the 0-layer substrate 11
24, and the reflected light levels I3H and I3L of the one-layer substrate 12 cause a difference Δ, so that the optical disc reproducing apparatus changes the frequency characteristic of the equalizer circuit 19 to the characteristic indicated by reference characters a and b in FIG. It is necessary to switch to. In this case, the characteristic indicated by reference numeral a in FIG. 24 is the equalization characteristic corresponding to the reproduction of the zero-layer substrate 11, and the characteristic indicated by reference numeral b in FIG.
Are the equalization characteristics corresponding to the reproduction of the single-layer substrate 12.

【0023】[0023]

【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
多層構造の光ディスクでは、各層を構成する基板からの
反射光レベルに差が生じるため、各基板から得られる再
生信号の特性が等しくならないという問題を有してい
る。また、このために、光ディスクの再生装置側では、
再生信号の周波数特性を補償するためのイコライザ回路
の特性を、選択的に切り替える必要が生じるという不都
合も有している。
As described above, in the conventional optical disk having a multilayer structure, there is a difference in the level of light reflected from the substrate constituting each layer, so that the characteristics of reproduced signals obtained from each substrate are not equal. There is a problem that. Also, for this reason, the optical disc reproducing device side
There is also an inconvenience that it is necessary to selectively switch the characteristics of the equalizer circuit for compensating the frequency characteristics of the reproduced signal.

【0024】そこで、この発明は上記事情を考慮してな
されたもので、各層を構成する基板から略同一の再生信
号特性を得ることができるようにした極めて良好な光デ
ィスク及びその再生装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an extremely good optical disk and a reproducing apparatus for the same, which can obtain substantially the same reproduction signal characteristics from the substrates constituting each layer. The purpose is to:

【0025】[0025]

【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
クは、それぞれに情報が記録された複数の基板を積層し
てなるもので、その一方の面側から複数の基板の各情報
記録面に対してそれぞれ選択的に光を集光させると、光
の集光された基板からの反射光が一方の面側から得られ
る多層構造のものを対象としている。そして、光の集光
されたいずれの基板からの反射光も、光ディスクの一方
の面側から得られた状態で、そのレベルが互いに略等し
くなるように構成している。
An optical disk according to the present invention is formed by laminating a plurality of substrates on each of which information is recorded, and the information recording surface of each of the plurality of substrates is arranged from one side thereof. When the light is selectively condensed, the reflected light from the substrate on which the light is condensed is obtained from one surface side. The light reflected from any of the substrates is configured to be substantially equal in level when obtained from one surface of the optical disk.

【0026】また、この発明に係る光ディスク再生装置
は、上記した光ディスクを回転させる駆動手段と、光デ
ィスクの一方の面側から複数の基板の各情報記録面に対
してそれぞれ選択的に光を集光させるとともに、光の集
光された基板によって反射され光ディスクの一方の面側
から得られる反射光を受光して再生信号に変換する光学
式ピックアップとを備えている。
Also, an optical disk reproducing apparatus according to the present invention comprises a driving means for rotating the above-mentioned optical disk, and a means for selectively condensing light from one surface of the optical disk to each information recording surface of a plurality of substrates. And an optical pickup for receiving reflected light reflected from the substrate on which the light is focused and obtained from one surface side of the optical disc and converting the reflected light into a reproduction signal.

【0027】上記のような構成によれば、光の集光され
たいずれの基板からの反射光も、光ディスクの一方の面
側から得られた状態で、そのレベルが互いに略等しくな
るようにしているので、各層を構成する基板から略同一
の再生信号特性を得ることができるようになる。
According to the above arrangement, the reflected light from any one of the substrates is obtained from one surface of the optical disk so that the levels thereof are substantially equal to each other. As a result, substantially the same reproduction signal characteristics can be obtained from the substrate constituting each layer.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下、この発明の第1の実施の形
態について図面を参照して詳細に説明する。図1
(a),(b)において、図21(a),(b)と同一
部分には同一符号を付して示している。すなわち、図1
(a)に示す0層基板11のピットの深さP0を、同図
(b)に示す1層基板12のピットの深さP1よりも、
深くするようにしている。この0層基板11のピットの
深さP0を通常よりも深く形成することは、図18に示
した製造工程において、レジスト11cの厚みを厚くす
ることによって実現される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG.
21A and 21B, the same parts as those in FIGS. 21A and 21B are denoted by the same reference numerals. That is, FIG.
The pit depth P0 of the 0-layer substrate 11 shown in (a) is larger than the pit depth P1 of the 1-layer substrate 12 shown in FIG.
I try to make it deeper. Forming the pit depth P0 of the 0-layer substrate 11 deeper than usual is realized by increasing the thickness of the resist 11c in the manufacturing process shown in FIG.

【0029】このようにすれば、図1(a)に示すよう
に、貼り合わせる前の単板の0層基板11のピット形成
面(この場合は、半透明膜11aに代えてAlの全反射
膜11gで覆っている)に、対物レンズ15でレーザ光
を集光させた場合の、最長ランド部及び最短ランド部の
各反射光レベルI14H及びI3Hは、同図(b)に示
すように、単板の1層基板12の全反射膜12aで覆わ
れたピット形成面に、対物レンズ15でレーザ光を集光
させた場合の、最長ランド部及び最短ランド部の各反射
光レベルI14H及びI3Hと同じで、0層基板11の
最長ピット部及び最短ピット部の各反射光レベルI14
L及びI3Lが、1層基板12の最長ピット部及び最短
ピット部の各反射光レベルI14L及びI3Lよりも、
差Δだけ低くなっている。つまり、0層基板11の反射
光レベルの振幅特性は、1層基板12の反射光レベルの
振幅特性に比して、変調度Mが大きくなっている。
In this way, as shown in FIG. 1A, the pit formation surface of the single-layer 0-layer substrate 11 before bonding (in this case, the total reflection of Al instead of the translucent film 11a) When the laser light is condensed by the objective lens 15 on the film 11g), the reflected light levels I14H and I3H of the longest land portion and the shortest land portion are as shown in FIG. The reflected light levels I14H and I3H of the longest land portion and the shortest land portion when the laser light is condensed by the objective lens 15 on the pit forming surface of the single-layer single-layer substrate 12 covered with the total reflection film 12a. And the reflected light level I14 of the longest pit portion and the shortest pit portion of the 0-layer substrate 11
L and I3L are higher than the reflected light levels I14L and I3L of the longest pit portion and the shortest pit portion of the one-layer substrate 12, respectively.
It is lower by the difference Δ. That is, the amplitude characteristic of the reflected light level of the zero-layer substrate 11 has a larger modulation factor M than the amplitude characteristic of the reflected light level of the one-layer substrate 12.

【0030】このため、図2に示すように、ピット形成
面に半透明膜11aが付された0層基板11と、ピット
形成面に全反射膜12aが付された1層基板12とを透
明接着剤13で貼り合わせた2層構造の光ディスク14
を、0層基板11側から対物レンズ15を介してレーザ
光を集光させて、0層基板11及び1層基板12に記録
されている情報を選択的に読み取るようにした場合に
は、図3(a)に示すように、0層基板11の最長ラン
ド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部の
各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3L
と、同図(b)に示すように、1層基板12の最長ラン
ド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部の
各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3L
とが、それぞれ互いに等しくなり、0層基板11と1層
基板12との再生信号特性を等しくすることができる。
Therefore, as shown in FIG. 2, the zero-layer substrate 11 having a translucent film 11a on the pit formation surface and the one-layer substrate 12 having a total reflection film 12a on the pit formation surface are transparent. Optical disc 14 having a two-layer structure bonded with adhesive 13
In the case where the information recorded on the 0-layer substrate 11 and the 1-layer substrate 12 is selectively read by condensing a laser beam from the 0-layer substrate 11 side through the objective lens 15, FIG. As shown in FIG. 3A, the reflected light levels I14H, I14L, I3H, and I3L of the longest land, longest pit, shortest land, and shortest pit of the zero-layer substrate 11 are shown.
(B), the reflected light levels I14H, I14L, I3H, and I3L of the longest land, longest pit, shortest land, and shortest pit of the single-layer substrate 12 as shown in FIG.
Are equal to each other, and the reproduction signal characteristics of the 0-layer substrate 11 and the 1-layer substrate 12 can be equalized.

【0031】次に、この発明の第2の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図4(a)は1層基
板12に形成されたピット列を示し、同図(b)は0層
基板11に形成されたピット列を示している。このピッ
ト列では、長さが3Tの最短ピット部と、長さが14T
の最長ピット部とを示している。そして、図4(a)に
示す1層基板12に形成されたピットの幅W1に比し
て、同図(b)に示す0層基板11に形成されたピット
の幅W0を大きく設定している。この0層基板11のピ
ットの幅W0を通常よりも広く形成することは、図18
に示した製造工程において、レジスト11cに対する露
光パワーを大きくすることによって実現される。
Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 4A shows a pit row formed on the one-layer substrate 12, and FIG. 4B shows a pit row formed on the zero-layer substrate 11. In this pit row, the shortest pit portion having a length of 3T and a length of 14T
And the longest pit portion. Then, the width W0 of the pit formed on the zero-layer substrate 11 shown in FIG. 4B is set to be larger than the width W1 of the pit formed on the one-layer substrate 12 shown in FIG. I have. Forming the width W0 of the pits of the zero-layer substrate 11 wider than usual is as shown in FIG.
Is realized by increasing the exposure power for the resist 11c in the manufacturing process shown in FIG.

【0032】このような構成によれば、図5(a)に示
すように、貼り合わせる前の単板の0層基板11のピッ
ト形成面(この場合は、半透明膜11aに代えてAlの
全反射膜11gで覆っている)に、対物レンズ15でレ
ーザ光を集光させた場合の、最長ランド部及び最長ピッ
ト部の各反射光レベルI14H及びI14Lは、同図
(b)に示すように、単板の1層基板12の全反射膜1
2aで覆われたピット形成面に、対物レンズ15でレー
ザ光を集光させた場合の、最長ランド部及び最長ピット
部の各反射光レベルI14H及びI14Lと同じで、0
層基板11の最短ランド部及び最短ピット部の各反射光
レベルI3H及びI3Lが、1層基板12の最短ランド
部及び最短ピット部の各反射光レベルI3H及びI3L
よりも、差Δだけ低くなっている。この場合、0層基板
11の反射光レベルの振幅特性は、1層基板12の反射
光レベルの振幅特性に比して、アシンメトリAが正側に
シフトするように、つまり深くなる。
According to such a configuration, as shown in FIG. 5A, the pit formation surface of the single-layer 0-layer substrate 11 before bonding (in this case, Al is used instead of the translucent film 11a). The reflected light levels I14H and I14L of the longest land portion and the longest pit portion when the laser beam is condensed by the objective lens 15 on the total reflection film 11g) are as shown in FIG. The total reflection film 1 of a single-layer single-layer substrate 12
When the laser light is condensed by the objective lens 15 on the pit forming surface covered with 2a, the reflected light levels I14H and I14L of the longest land portion and the longest pit portion are equal to 0.
The reflected light levels I3H and I3L of the shortest land portion and the shortest pit portion of the layer substrate 11 are the reflected light levels I3H and I3L of the shortest land portion and the shortest pit portion of the one-layer substrate 12, respectively.
Than the difference Δ. In this case, the amplitude characteristic of the reflected light level of the zero-layer substrate 11 becomes deeper so that the asymmetry A shifts to the positive side, that is, becomes deeper than the amplitude characteristic of the reflected light level of the one-layer substrate 12.

【0033】このため、図6に示すように、ピット形成
面に半透明膜11aが付された0層基板11と、ピット
形成面に全反射膜12aが付された1層基板12とを透
明接着剤13で貼り合わせた2層構造の光ディスク14
を、0層基板11側から対物レンズ15を介してレーザ
光を集光させて、0層基板11及び1層基板12に記録
されている情報を選択的に読み取るようにした場合に
は、図7(a)に示すように、0層基板11の最長ラン
ド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部の
各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3L
と、同図(b)に示すように、1層基板12の最長ラン
ド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部の
各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3L
とが、それぞれ互いに等しくなり、0層基板11と1層
基板12との再生信号特性を等しくすることができる。
For this reason, as shown in FIG. 6, the zero-layer substrate 11 having a pit-forming surface provided with a translucent film 11a and the one-layer substrate 12 having a pit-forming surface provided with a total reflection film 12a are transparent. Optical disc 14 having a two-layer structure bonded with adhesive 13
In the case where the information recorded on the 0-layer substrate 11 and the 1-layer substrate 12 is selectively read by condensing a laser beam from the 0-layer substrate 11 side through the objective lens 15, FIG. As shown in FIG. 7A, the reflected light levels I14H, I14L, I3H and I3L of the longest land, the longest pit, the shortest land and the shortest pit of the zero-layer substrate 11 are shown.
(B), the reflected light levels I14H, I14L, I3H, and I3L of the longest land, longest pit, shortest land, and shortest pit of the single-layer substrate 12 as shown in FIG.
Are equal to each other, and the reproduction signal characteristics of the 0-layer substrate 11 and the 1-layer substrate 12 can be equalized.

【0034】上記のように、0層基板11のピットの大
きさを、1層基板12のピットよりも大きくすることに
より、アシンメトリAの劣化を補正することができる。
0層基板11のピットの大きさを、1層基板12のピッ
トよりも大きくする手段としては、ピットの幅を変える
他に、図8及び図9に示すような手法がある。まず、図
8(a)は1層基板12に形成されたピット列を示し、
同図(b)は0層基板11に形成されたピット列を示し
いる。このピット列では、長さが3Tの最短ピット部
と、長さが14Tの最長ピット部とを示している。
As described above, the deterioration of the asymmetry A can be corrected by making the size of the pits on the zero-layer substrate 11 larger than the pits on the one-layer substrate 12.
As means for making the size of the pits of the zero-layer substrate 11 larger than that of the pits of the one-layer substrate 12, there is a method shown in FIGS. 8 and 9 in addition to changing the width of the pits. First, FIG. 8A shows a pit row formed on the one-layer substrate 12,
FIG. 2B shows a pit row formed on the 0-layer substrate 11. This pit row shows the shortest pit portion having a length of 3T and the longest pit portion having a length of 14T.

【0035】そして、図8(a)に示す1層基板12に
形成されたピットの長さL1に比して、同図(b)に示
す0層基板11に形成されたピットの長さL0を長く設
定している。この場合、0層基板11と1層基板12と
の記録密度は同じである。この0層基板11のピットの
長さL0を通常よりも長く形成することも、図18に示
した製造工程において、レジスト11cに対する露光パ
ワーを大きくすることによって実現される。
The length L0 of the pit formed on the zero-layer substrate 11 shown in FIG. 8B is larger than the length L1 of the pit formed on the single-layer substrate 12 shown in FIG. Is set longer. In this case, the recording densities of the zero-layer substrate 11 and the one-layer substrate 12 are the same. The formation of the pit length L0 of the zero-layer substrate 11 longer than usual can also be realized by increasing the exposure power for the resist 11c in the manufacturing process shown in FIG.

【0036】また、図9(a)は1層基板12に形成さ
れたピット列を示し、同図(b)は0層基板11に形成
されたピット列を示しいる。このピット列では、長さが
3Tの最短ピット部と、長さが14Tの最長ピット部と
を示している。そして、図9(a)に示す1層基板12
に形成されたピットの幅W1及び長さL1に比して、同
図(b)に示す0層基板11に形成されたピットの幅W
0及び長さL0を大きく設定している。この場合も、0
層基板11と1層基板12との記録密度は同じである。
そして、この0層基板11のピットの幅W0及び長さL
0を通常よりも大きく形成することも、図18に示した
製造工程において、レジスト11cに対する露光パワー
を大きくすることによって実現される。
FIG. 9A shows a pit row formed on the one-layer substrate 12, and FIG. 9B shows a pit row formed on the zero-layer substrate 11. This pit row shows the shortest pit portion having a length of 3T and the longest pit portion having a length of 14T. Then, the one-layer substrate 12 shown in FIG.
The width W1 of the pit formed on the 0-layer substrate 11 shown in FIG.
0 and the length L0 are set large. Again, 0
The recording densities of the layer substrate 11 and the single layer substrate 12 are the same.
Then, the width W0 and the length L of the pit of the zero-layer substrate 11 are obtained.
Forming 0 larger than usual can also be realized by increasing the exposure power to the resist 11c in the manufacturing process shown in FIG.

【0037】次に、この発明の第3の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図10(a)は1層
基板12に形成されたピット列を示し、同図(b)は0
層基板11に形成されたピット列を示している。このピ
ット列では、長さが3Tの最短ピット部と、長さが14
Tの最長ピット部とを示している。この場合、図10
(a)に示す1層基板12に形成されたピットの線密度
に比して、同図(b)に示す0層基板11に形成された
ピットの線密度を低く設定している。この0層基板11
のピットの線密度を通常よりも低く形成することは、図
18に示した製造工程において、露光原盤11bの露光
時において、記録情報の1ビットに対応する長さTを通
常よりも長くとるようにしてピット部を形成することに
よって実現される。
Next, a third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 10A shows a pit row formed on the single-layer substrate 12, and FIG.
The pit row formed on the layer substrate 11 is shown. In this pit row, the shortest pit portion having a length of 3T and a length of 14T
T indicates the longest pit portion. In this case, FIG.
The linear density of the pits formed on the zero-layer substrate 11 shown in FIG. 3B is set lower than the linear density of the pits formed on the single-layer substrate 12 shown in FIG. This zero-layer substrate 11
The linear density of the pits is made lower than usual by making the length T corresponding to one bit of the recorded information longer than usual during the exposure of the exposure master 11b in the manufacturing process shown in FIG. To form a pit portion.

【0038】このようにすれば、図11(a)に示すよ
うに、貼り合わせる前の単板の0層基板11のピット形
成面(この場合は、半透明膜11aに代えてAlの全反
射膜11gで覆っている)に、対物レンズ15でレーザ
光を集光させた場合の、最長ランド部,最長ピット部及
び最短ランド部の各反射光レベルI14H,I14L及
びI3Hは、同図(b)に示すように、単板の1層基板
12の全反射膜12aで覆われたピット形成面に、対物
レンズ15でレーザ光を集光させた場合の、最長ランド
部,最長ピット部及び最短ランド部の各反射光レベルI
14H,I14L及びI3Hと同じで、0層基板11の
最短ピット部の反射光レベルI3Lが、1層基板12の
最短ピット部の反射光レベルI3Lよりも、差Δだけ低
くなっている。この場合、0層基板11の反射光レベル
の振幅特性は、1層基板12の反射光レベルの振幅特性
に比して、分解能Dが大きくなっている。
In this way, as shown in FIG. 11A, the pit formation surface of the single-layer 0-layer substrate 11 before bonding (in this case, total reflection of Al instead of the translucent film 11a) The reflected light levels I14H, I14L, and I3H of the longest land, the longest pit, and the shortest land when the laser light is focused by the objective lens 15 on the film 11g) are shown in FIG. As shown in (), the longest land portion, the longest pit portion, and the shortest portion when the laser beam is condensed by the objective lens 15 on the pit formation surface of the single-layer single-layer substrate 12 covered with the total reflection film 12a. Each reflected light level I of land
Similarly to 14H, I14L and I3H, the reflected light level I3L of the shortest pit portion of the zero-layer substrate 11 is lower than the reflected light level I3L of the shortest pit portion of the one-layer substrate 12 by a difference Δ. In this case, the amplitude characteristic of the reflected light level of the zero-layer substrate 11 has a higher resolution D than the amplitude characteristic of the reflected light level of the one-layer substrate 12.

【0039】このため、図12に示すように、ピット形
成面に半透明膜11aが付された0層基板11と、ピッ
ト形成面に全反射膜12aが付された1層基板12と
を、透明接着剤13で貼り合わせた2層構造の光ディス
ク14を、0層基板11側から対物レンズ15を介して
レーザ光を集光させて、0層基板11及び1層基板12
に記録されている情報を選択的に読み取るようにした場
合、図13(a)に示すように、0層基板11の最長ラ
ンド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部
の各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3
Lと、同図(b)に示すように、1層基板12の最長ラ
ンド部,最長ピット部,最短ランド部及び最短ピット部
の各反射光レベルI14H,I14L,I3H及びI3
Lとが、それぞれ互いに等しくなり、0層基板11と1
層基板12との再生信号特性を等しくすることができ
る。
Therefore, as shown in FIG. 12, a zero-layer substrate 11 having a pit-forming surface provided with a translucent film 11a and a one-layer substrate 12 having a pit-forming surface provided with a total reflection film 12a, An optical disk 14 having a two-layer structure bonded with a transparent adhesive 13 is focused on a laser beam from the side of the zero-layer substrate 11 via an objective lens 15 to form a zero-layer substrate 11 and a one-layer substrate 12.
When the information recorded on the 0th layer substrate 11 is selectively read, as shown in FIG. 13A, the reflected light of the longest land portion, the longest pit portion, the shortest land portion, and the shortest pit portion of the 0-layer substrate 11 are obtained. Levels I14H, I14L, I3H and I3
L, and the reflected light levels I14H, I14L, I3H and I3 of the longest land, longest pit, shortest land and shortest pit of the one-layer substrate 12 as shown in FIG.
L are equal to each other, and the 0-layer substrates 11 and 1
The reproduction signal characteristics with the layer substrate 12 can be made equal.

【0040】次に、この発明の第4の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図14(a)は1層
基板12に形成されたピット列を示し、同図(b)は0
層基板11に形成されたピット列を示している。このピ
ット列では、長さが3Tの最短ピット部と、長さが14
Tの最長ピット部とを示している。この場合、図14
(a)に示す1層基板12に形成されたピットの線密度
に比して、同図(b)に示す0層基板11に形成された
ピットの線密度を低く設定するとともに、図14(a)
に示す1層基板12に形成されたピットの幅W1に比し
て、同図(b)に示す0層基板11に形成されたピット
の幅W0を大きく設定している。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 14A shows a pit row formed on the single-layer substrate 12, and FIG.
The pit row formed on the layer substrate 11 is shown. In this pit row, the shortest pit portion having a length of 3T and a length of 14T
T indicates the longest pit portion. In this case, FIG.
The linear density of the pits formed on the zero-layer substrate 11 shown in FIG. 14B is set lower than the linear density of the pits formed on the single-layer substrate 12 shown in FIG. a)
The width W0 of the pits formed on the zero-layer substrate 11 shown in FIG. 3B is set to be larger than the width W1 of the pits formed on the single-layer substrate 12 shown in FIG.

【0041】このように、0層基板11に形成されたピ
ットの線密度を通常よりも低く設定するとともに、0層
基板11に形成されたピットの幅W0を通常よりも大き
く設定することにより、分解能Dの劣化とアシンメトリ
Aの劣化とを両方補正することができるようになる。
As described above, by setting the linear density of the pits formed on the zero-layer substrate 11 lower than usual and setting the width W0 of the pits formed on the zero-layer substrate 11 larger than usual, It becomes possible to correct both the deterioration of the resolution D and the deterioration of the asymmetry A.

【0042】すなわち、上記した第1乃至第3の実施の
形態では、0層基板11のピットの深さを深くすること
により、その反射光レベルの振幅特性の変調度Mの劣化
を補正する場合と、0層基板11のピットの大きさを大
きくすることにより、その反射光レベルの振幅特性のア
シンメトリAの劣化を補正する場合と、0層基板11の
ピットの線密度を低くすることにより、その反射光レベ
ルの振幅特性の分解能Dの劣化を補正する場合とについ
てそれぞれ説明したが、ピットの深さと、ピットの大き
さと、ピットの線密度との3種類の要素を、任意選択的
に組み合わせて併用させることによって、0層基板11
と1層基板12との再生信号特性を等しくするようにし
ても良いことはもちろんである。
That is, in the above-described first to third embodiments, when the depth of the pit of the 0-layer substrate 11 is increased, the deterioration of the modulation factor M of the amplitude characteristic of the reflected light level is corrected. And the case where the deterioration of asymmetry A of the amplitude characteristic of the reflected light level is corrected by increasing the size of the pits of the 0-layer substrate 11, and the linear density of the pits of the 0-layer substrate 11 is reduced. The case where the degradation of the resolution D of the amplitude characteristic of the reflected light level is corrected has been described. However, the three types of elements of the pit depth, the pit size, and the pit linear density are optionally combined. To make the 0-layer substrate 11
Needless to say, the reproduction signal characteristics of the first and second layer substrates 12 may be made equal.

【0043】図15は、上記した光ディスク14に対し
て画像データや音声データの記録再生を行なうための光
ディスクドライブ装置の一例を示している。すなわち、
光ディスク14は、前記ディスクモータ16によって回
転駆動されるようになっている。この光ディスク14の
信号記録面に対向して、光ヘッド装置24が配置されて
いる。
FIG. 15 shows an example of an optical disk drive for recording and reproducing image data and audio data on and from the optical disk 14 described above. That is,
The optical disk 14 is driven to rotate by the disk motor 16. An optical head device 24 is arranged so as to face the signal recording surface of the optical disk 14.

【0044】この光ヘッド装置24は、光ディスク14
の信号記録面に対してレーザ光を照射することにより、
光ディスク14へのデータの書き込み及び光ディスク1
4からのデータの読み取りを選択的に行なうもので、光
ディスク14の径方向に移動可能となるように支持され
ている。
The optical head device 24 is used for the optical disc 14
By irradiating the laser beam to the signal recording surface of
Writing data to the optical disk 14 and the optical disk 1
The optical disk 14 selectively reads data from the optical disk 4, and is supported so as to be movable in the radial direction of the optical disk 14.

【0045】ここで、まず、再生動作について説明す
る。上記光ヘッド装置24によって光ディスク14から
読み取られたデータは、変復調・エラー訂正処理部25
に供給される。この変復調・エラー訂正処理部25は、
トラックバッファメモリ26を用いて、光ヘッド装置2
4から入力されたデータに復調処理及びエラー訂正処理
を施している。
Here, the reproducing operation will be described first. Data read from the optical disk 14 by the optical head device 24 is applied to a modulation / demodulation / error correction processing unit 25.
Supplied to The modulation / demodulation / error correction processing unit 25
Using the track buffer memory 26, the optical head device 2
4 is subjected to demodulation processing and error correction processing.

【0046】そして、この変復調・エラー訂正処理部2
5から出力されるデータのうち画像データは、MPEG
(Moving Picture Image Coding Experts Group )エン
コーダデコーダ27に供給される。このMPEGエンコ
ーダデコーダ27は、フレームメモリ28を用いて、変
復調・エラー訂正処理部25から供給される画像データ
にMPEGデコード処理を施している。
The modulation / demodulation / error correction processing unit 2
5 is MPEG data
(Moving Picture Image Coding Experts Group) is supplied to the encoder decoder 27. The MPEG encoder / decoder 27 uses a frame memory 28 to perform MPEG decoding on the image data supplied from the modulation / demodulation / error correction processing unit 25.

【0047】その後、このMPEGエンコーダデコーダ
27から得られる画像データは、ビデオエンコーダデコ
ーダ29に供給されてビデオデコード処理が施され、出
力端子30から取り出される。また、上記変復調・エラ
ー訂正処理部25から出力されるデータのうち音声デー
タは、オーディオエンコーダデコーダ31に供給されて
オーディオデコード処理が施され、出力端子32から取
り出される。
Thereafter, the image data obtained from the MPEG encoder / decoder 27 is supplied to a video encoder / decoder 29, subjected to a video decoding process, and taken out from an output terminal 30. Audio data among the data output from the modulation / demodulation / error correction processing unit 25 is supplied to an audio encoder decoder 31, subjected to audio decoding processing, and extracted from an output terminal 32.

【0048】次に、記録動作について説明する。まず、
入力端子33に供給された画像データは、ビデオエンコ
ーダデコーダ29に供給されてビデオエンコード処理が
施された後、MPEGエンコーダデコーダ27に供給さ
れる。このMPEGエンコーダデコーダ27は、フレー
ムメモリ28を用いて、ビデオエンコーダデコーダ29
から供給される画像データにMPEGエンコード処理を
施している。
Next, the recording operation will be described. First,
The image data supplied to the input terminal 33 is supplied to a video encoder decoder 29, subjected to a video encoding process, and then supplied to an MPEG encoder decoder 27. The MPEG encoder / decoder 27 uses a frame memory 28 and a video encoder / decoder 29
Is subjected to an MPEG encoding process.

【0049】また、入力端子34に供給された音声デー
タは、オーディオエンコーダデコーダ31に供給されて
オーディオエンコード処理が施される。そして、上記M
PEGエンコーダデコーダ27から出力された画像デー
タと、オーディオエンコーダデコーダ31から出力され
た音声データとは、変復調・エラー訂正処理部25に供
給される。
The audio data supplied to the input terminal 34 is supplied to the audio encoder / decoder 31 and subjected to audio encoding processing. And the above M
The image data output from the PEG encoder decoder 27 and the audio data output from the audio encoder decoder 31 are supplied to a modulation / demodulation / error correction processing unit 25.

【0050】この変復調・エラー訂正処理部25は、上
記トラックバッファメモリ26を用いることにより、入
力された画像データと音声データとに、記録のための変
調処理及びエラー訂正符号付加処理を施している。そし
て、この変復調・エラー訂正処理部25から出力された
データが、光ヘッド装置24を介して光ディスク14に
記録される。
The modulation / demodulation / error correction processing unit 25 uses the track buffer memory 26 to perform a modulation process for recording and an error correction code adding process on the input image data and audio data. . Then, the data output from the modulation / demodulation / error correction processing unit 25 is recorded on the optical disk 14 via the optical head device 24.

【0051】また、上記ディスクモータ16,変復調・
エラー訂正処理部25,MPEGエンコーダデコーダ2
7,ビデオエンコーダデコーダ29及びオーディオエン
コーダデコーダ31は、MPU(Micro Processing Uni
t )35によって、その動作が制御されている。なお、
この発明は上記した各実施の形態に限定されるものでは
なく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して
実施することができる。
The disk motor 16, modulation / demodulation
Error correction processing unit 25, MPEG encoder decoder 2
7. The video encoder decoder 29 and the audio encoder decoder 31 are MPU (Micro Processing Uni
The operation is controlled by t) 35. In addition,
The present invention is not limited to the above embodiments, and can be variously modified and implemented without departing from the scope of the invention.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
各層を構成する基板から略同一の再生信号特性を得るこ
とができるようにした極めて良好な光ディスク及びその
再生装置を提供することができる。
As described in detail above, according to the present invention,
It is possible to provide an extremely good optical disk and a reproduction apparatus for the same, which can obtain substantially the same reproduction signal characteristics from the substrates constituting each layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の第1の実施の形態を説明するために
示す図。
FIG. 1 is a view shown for explaining a first embodiment of the present invention;

【図2】同第1の実施の形態における2層構造の光ディ
スクを示す図。
FIG. 2 is a diagram showing an optical disc having a two-layer structure according to the first embodiment.

【図3】同光ディスクの各層における反射光レベルを説
明するために示す図。
FIG. 3 is a view shown for explaining a reflected light level in each layer of the optical disc.

【図4】この発明の第2の実施の形態を説明するために
示す図。
FIG. 4 is a diagram shown to explain a second embodiment of the present invention;

【図5】同第2の実施の形態における要部を説明するた
めに示す図。
FIG. 5 is a view for explaining a main part in the second embodiment.

【図6】同第2の実施の形態における2層構造の光ディ
スクを示す図。
FIG. 6 is a diagram showing an optical disc having a two-layer structure according to the second embodiment.

【図7】同光ディスクの各層における反射光レベルを説
明するために示す図。
FIG. 7 is a view for explaining a reflected light level in each layer of the optical disc.

【図8】同第2の実施の形態における第1の変形例を説
明するために示す図。
FIG. 8 is a diagram shown to explain a first modification of the second embodiment.

【図9】同第2の実施の形態における第2の変形例を説
明するために示す図。
FIG. 9 is a view shown to explain a second modification of the second embodiment.

【図10】この発明の第3の実施の形態を説明するため
に示す図。
FIG. 10 is a view for explaining a third embodiment of the present invention;

【図11】同第3の実施の形態における要部を説明する
ために示す図。
FIG. 11 is a view for explaining main parts according to the third embodiment;

【図12】同第3の実施の形態における2層構造の光デ
ィスクを示す図。
FIG. 12 is a diagram showing an optical disc having a two-layer structure according to the third embodiment.

【図13】同光ディスクの各層における反射光レベルを
説明するために示す図。
FIG. 13 is a view for explaining a reflected light level in each layer of the optical disc.

【図14】この発明の第4の実施の形態を説明するため
に示す図。
FIG. 14 is a view for explaining a fourth embodiment of the present invention;

【図15】光ディスクに対してデータの記録再生を行な
うためのディスクドライブ装置の一例を示すブロック構
成図。
FIG. 15 is a block diagram showing an example of a disk drive device for recording and reproducing data on an optical disk.

【図16】一般的な2層構造の光ディスクを説明するた
めに示す図。
FIG. 16 is a view for explaining an optical disk having a general two-layer structure.

【図17】同光ディスクの再生信号のジッタを測定する
測定系を示すブロック構成図。
FIG. 17 is a block diagram showing a measuring system for measuring the jitter of a reproduction signal of the optical disc.

【図18】同光ディスクの0層基板の製造工程を説明す
るために示す図。
FIG. 18 is a view for explaining the manufacturing process of the zero-layer substrate of the optical disc.

【図19】同光ディスクの1層基板の製造工程を説明す
るために示す図。
FIG. 19 is a view for explaining the manufacturing process of the single-layer substrate of the optical disc.

【図20】同0層基板と1層基板とを貼り合わせた2層
構造の光ディスクを示す図。
FIG. 20 is a diagram showing an optical disc having a two-layer structure in which the zero-layer substrate and the one-layer substrate are attached to each other.

【図21】同0層基板と1層基板とをそれぞれ単板で再
生した場合の反射光レベルを説明するために示す図。
FIG. 21 is a view for explaining reflected light levels when the 0-layer substrate and the 1-layer substrate are each reproduced as a single plate.

【図22】同0層基板と1層基板とを貼り合わせた2層
構造の光ディスクの再生動作を説明するために示す図。
FIG. 22 is a view for explaining a reproducing operation of an optical disc having a two-layer structure in which the zero-layer substrate and the one-layer substrate are bonded to each other.

【図23】同光ディスクの各層における反射光レベルを
説明するために示す図。
FIG. 23 is a view for explaining a reflected light level in each layer of the optical disc.

【図24】同光ディスクの再生装置におけるイコライザ
回路の周波数特性の切り替えを説明するために示す図。
FIG. 24 is a view for explaining switching of the frequency characteristic of the equalizer circuit in the reproducing apparatus for the optical disc.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…0層基板、 12…1層基板、 13…透明接着剤、 14…光ディスク、 15…対物レンズ、 16…ディスクモータ、 17…光学式ピックアップ、 18…前置増幅回路、 19…イコライザ回路、 20…データスライス回路、 21…出力端子、 22…PLL回路、 23…出力端子、 24…光ヘッド装置、 25…変復調・エラー訂正処理部、 26…トラックバッファメモリ、 27…MPEGエンコーダデコーダ、 28…フレームメモリ、 29…ビデオエンコーダデコーダ、 30…出力端子、 31…オーディオエンコーダデコーダ、 32…出力端子、 33,34…入力端子、 35…MPU。 11: 0 layer substrate, 12: 1 layer substrate, 13: transparent adhesive, 14: optical disk, 15: objective lens, 16: disk motor, 17: optical pickup, 18: preamplifier circuit, 19: equalizer circuit, Reference Signs List 20: data slice circuit, 21: output terminal, 22: PLL circuit, 23: output terminal, 24: optical head device, 25: modulation / demodulation / error correction processing unit, 26: track buffer memory, 27: MPEG encoder decoder, 28 ... Frame memory, 29: Video encoder decoder, 30: Output terminal, 31: Audio encoder decoder, 32: Output terminal, 33, 34: Input terminal, 35: MPU.

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 それぞれに情報が記録された複数の基板
を積層してなるもので、その一方の面側から前記複数の
基板の各情報記録面に対してそれぞれ選択的に光を集光
させると、光の集光された前記基板からの反射光が前記
一方の面側から得られる多層構造の光ディスクにおい
て、光の集光されたいずれの前記基板からの反射光も、
前記光ディスクの一方の面側から得られた状態で、その
レベルが互いに略等しくなるように構成されたことを特
徴とする光ディスク。
1. A plurality of substrates on each of which information is recorded are laminated, and light is selectively condensed from one surface side to each information recording surface of the plurality of substrates. And, in the optical disk having a multilayer structure in which the reflected light from the substrate on which light is collected is obtained from the one surface side, the reflected light from any of the substrates on which light is collected,
An optical disk characterized in that the levels are substantially equal to each other in a state obtained from one surface side of the optical disk.
【請求項2】 前記複数の基板は、それぞれ、その情報
記録面に形成されるピットの深さが、互いに異なるよう
に構成されることを特徴とする請求項1記載の光ディス
ク。
2. The optical disk according to claim 1, wherein the plurality of substrates are configured such that pits formed on an information recording surface thereof have different depths from each other.
【請求項3】 前記基板の情報記録面に形成されるピッ
トの深さは、前記光ディスクの一方の面側に近い基板ほ
ど深くなるように構成されることを特徴とする請求項2
記載の光ディスク。
3. The pit formed on the information recording surface of the substrate is configured to be deeper as the substrate is closer to one surface of the optical disk.
An optical disc as described.
【請求項4】 前記複数の基板は、それぞれ、その情報
記録面に形成されるピットの大きさが、互いに異なるよ
うに構成されることを特徴とする請求項1記載の光ディ
スク。
4. The optical disk according to claim 1, wherein the plurality of substrates are configured such that pits formed on an information recording surface thereof are different from each other.
【請求項5】 前記基板の情報記録面に形成されるピッ
トの大きさは、前記光ディスクの一方の面側に近い基板
ほど大きくなるように構成されることを特徴とする請求
項4記載の光ディスク。
5. The optical disk according to claim 4, wherein the size of the pit formed on the information recording surface of the substrate is increased as the substrate is closer to one surface of the optical disk. .
【請求項6】 前記複数の基板の各情報記録面に形成さ
れるピットは、それぞれ、その幅が互いに異なるように
構成されることを特徴とする請求項4記載の光ディス
ク。
6. The optical disk according to claim 4, wherein the pits formed on each of the information recording surfaces of the plurality of substrates have different widths from each other.
【請求項7】 前記複数の基板の各情報記録面に形成さ
れるピットは、それぞれ、その長さが互いに異なるよう
に構成されることを特徴とする請求項4記載の光ディス
ク。
7. The optical disk according to claim 4, wherein the pits formed on each of the information recording surfaces of the plurality of substrates have different lengths.
【請求項8】 前記複数の基板の各情報記録面に形成さ
れるピットは、それぞれ、その幅と長さとが互いに異な
るように構成されることを特徴とする請求項4記載の光
ディスク。
8. The optical disc according to claim 4, wherein the pits formed on each of the information recording surfaces of the plurality of substrates have different widths and lengths.
【請求項9】 前記複数の基板は、それぞれ、その情報
記録面に形成されるピットの線密度が、互いに異なるよ
うに構成されることを特徴とする請求項1記載の光ディ
スク。
9. The optical disk according to claim 1, wherein the plurality of substrates are configured such that the linear density of pits formed on the information recording surface thereof is different from each other.
【請求項10】 前記基板の情報記録面に形成されるピ
ットの線密度は、前記光ディスクの一方の面側に近い基
板ほど低くなるように構成されることを特徴とする請求
項9記載の光ディスク。
10. The optical disk according to claim 9, wherein the linear density of pits formed on the information recording surface of the substrate decreases as the substrate is closer to one surface of the optical disk. .
【請求項11】 前記複数の基板は、それぞれ、その情
報記録面に形成されるピットの線密度と大きさとが、互
いに異なるように構成されることを特徴とする請求項1
記載の光ディスク。
11. The plurality of substrates are configured such that pits formed on an information recording surface thereof have different linear densities and sizes from each other.
An optical disc as described.
【請求項12】 前記複数の基板は、それぞれ、その情
報記録面に形成されるピットの深さと大きさとが、互い
に異なるように構成されることを特徴とする請求項1記
載の光ディスク。
12. The optical disk according to claim 1, wherein the plurality of substrates are configured such that pits formed on the information recording surface have different depths and sizes from each other.
【請求項13】 前記複数の基板は、それぞれ、その情
報記録面に形成されるピットの深さと線密度とが、互い
に異なるように構成されることを特徴とする請求項1記
載の光ディスク。
13. The optical disk according to claim 1, wherein each of the plurality of substrates is configured such that a depth and a linear density of a pit formed on an information recording surface thereof are different from each other.
【請求項14】 前記複数の基板は、それぞれ、その情
報記録面に形成されるピットの深さと大きさと線密度と
が、互いに異なるように構成されることを特徴とする請
求項1記載の光ディスク。
14. The optical disk according to claim 1, wherein the plurality of substrates are configured such that the depth, size, and linear density of pits formed on the information recording surface thereof are different from each other. .
【請求項15】 請求項1記載の光ディスクを回転させ
る駆動手段と、前記光ディスクの一方の面側から前記複
数の基板の各情報記録面に対してそれぞれ選択的に光を
集光させるとともに、光の集光された前記基板によって
反射され前記光ディスクの一方の面側から得られる反射
光を受光して再生信号に変換する光学式ピックアップと
を具備してなることを特徴とする光ディスク再生装置。
15. A driving means for rotating the optical disk according to claim 1, wherein light is selectively condensed from one surface side of the optical disk to each of the information recording surfaces of the plurality of substrates. An optical pickup for receiving reflected light reflected by the substrate and obtained from one surface side of the optical disc and converting the reflected light into a reproduced signal.
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