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JPH11353103A - Tablet input device - Google Patents

Tablet input device

Info

Publication number
JPH11353103A
JPH11353103A JP15887298A JP15887298A JPH11353103A JP H11353103 A JPH11353103 A JP H11353103A JP 15887298 A JP15887298 A JP 15887298A JP 15887298 A JP15887298 A JP 15887298A JP H11353103 A JPH11353103 A JP H11353103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform shaping
input
delay time
circuit
shaping circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP15887298A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshio Tanaka
淑雄 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Original Assignee
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Aviation Electronics Industry Ltd filed Critical Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority to JP15887298A priority Critical patent/JPH11353103A/en
Publication of JPH11353103A publication Critical patent/JPH11353103A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 波形整形回路の遅延時間の温度変動による測
定精度の低下を防止する。 【解決手段】 この発明では、波形整形回路6の伝搬遅
延時間の変動量を検出する試験回路部16と、入力ペン
5の検出出力S1と試験回路部より出力される試験信号
S2とを切替えるスイッチ手段17とを設ける。試験回
路部16は、装置の初期設定時(t=t0 )と、所定の
時刻(t=ti )において、試験信号S2をスイッチ手
段17を介して波形整形回路に入力し、その入力信号と
該波形整形回路の出力を比較して、遅延時間τ
(t0 ),τ(ti )を計測し、それらの計測値より遅
延時間の変動分Δi=τ(ti )−τ(t0 )を計算し
て、X,Y位置計算手段に供給する。X,Y位置計算手
段は、前記変動分Δiを用いて、入力ペンのX,Y座標
位置を補正する。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To prevent a decrease in measurement accuracy due to a temperature variation of a delay time of a waveform shaping circuit. According to the present invention, a test circuit section for detecting a variation amount of a propagation delay time of a waveform shaping circuit, and a switch for switching between a detection output of an input pen and a test signal output from the test circuit section. Means 17 are provided. The test circuit section 16 inputs the test signal S2 to the waveform shaping circuit via the switch means 17 at the time of initial setting of the apparatus (t = t 0 ) and at a predetermined time (t = t i ). And the output of the waveform shaping circuit,
(T 0 ) and τ (t i ) are measured, and a variation Δi = τ (t i ) −τ (t 0 ) of the delay time is calculated from the measured values and supplied to the X and Y position calculation means. I do. The X, Y position calculation means corrects the X, Y coordinate position of the input pen using the variation Δi.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、コンピュータ等
にペン入力するための、静電結合型タブレット入力装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrostatically-coupled tablet input device for inputting a pen to a computer or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】タブレット入力装置は、タブレット入力
板上で移動する入力ペン(ペン型検出センサ)の位置を
逐次検出し、その位置データをコンピュータ等に与える
ものであり、この結果、コンピュータ等は入力ペンによ
って描かれた図形や文字などを知ることができ、その図
形や文字を表示したり、画面上に表示されている図形を
変更するために使用したりする。
2. Description of the Related Art A tablet input device sequentially detects the position of an input pen (pen-type detection sensor) that moves on a tablet input plate, and gives the position data to a computer or the like. The user can know the figures and characters drawn by the input pen, display the figures and characters, and use them to change the figures displayed on the screen.

【0003】図5に示す従来の静電結合型タブレット入
力装置1は、タブレット入力板2,X電極駆動回路3,
Y電極駆動回路4,ペン型検出センサ(以下入力ペンと
言う)5,波形整形回路6,X位置計算回路7,Y位置
計算回路8等によって構成される。タブレット入力板2
にはX電極X1〜XNがX方向に等間隔で平行に配置さ
れ、Y電極Y1〜YMも同様に、Y方向に等間隔で平行
に配置される。X電極Xi,Y電極Yiは図7に示すよ
うにそれぞれ絶縁基板13,14上に印刷、蒸着等の方
法で形成され、互いに接触しないように絶縁板15を挟
んで互いの電極パターンが直交するように配置される。
特にLCDやCRT等の表示画面に重ねて画面入力タブ
レットとする場合は、絶縁基板13,14としてガラス
が、また絶縁基板15として透明な接着シートが使用さ
れ、絶縁基板13,14はITOより成る透明膜を蒸着
し電極パターン部分を残すようにエッチングして形成さ
れる。
[0005] A conventional electrostatically-coupled tablet input device 1 shown in FIG.
It comprises a Y electrode drive circuit 4, a pen-type detection sensor (hereinafter referred to as an input pen) 5, a waveform shaping circuit 6, an X position calculation circuit 7, a Y position calculation circuit 8, and the like. Tablet input board 2
, X electrodes X1 to XN are arranged in parallel at equal intervals in the X direction, and Y electrodes Y1 to YM are similarly arranged in parallel at equal intervals in the Y direction. As shown in FIG. 7, the X electrode Xi and the Y electrode Yi are formed on the insulating substrates 13 and 14, respectively, by a method such as printing or vapor deposition, and their electrode patterns are orthogonal to each other with the insulating plate 15 interposed therebetween so as not to contact each other. Are arranged as follows.
In particular, when a screen input tablet is superimposed on a display screen such as an LCD or CRT, glass is used as the insulating substrates 13 and 14, a transparent adhesive sheet is used as the insulating substrate 15, and the insulating substrates 13 and 14 are made of ITO. It is formed by depositing a transparent film and etching it so as to leave an electrode pattern portion.

【0004】入力ペン5のX方向の位置を測定するため
に、X電極X1〜XNに一定時間間隔で順次電圧を印加
する。入力ペン5とX電極間には静電容量が形成されて
いるため、入力ペン5に近い電極に電圧が印加されたと
きに入力ペン5には電圧が現れる。この電圧は入力ペン
5に最も近い電極に電圧が印加されたときに最大値をと
る(図6)。入力ペン5で得られる電圧の時間的変化と
各電極への電圧印加時間との関係により、入力ペン5の
X方向の位置を検出する。Y方向の位置検出についても
同様である。
In order to measure the position of the input pen 5 in the X direction, a voltage is sequentially applied to the X electrodes X1 to XN at fixed time intervals. Since a capacitance is formed between the input pen 5 and the X electrode, a voltage appears on the input pen 5 when a voltage is applied to an electrode close to the input pen 5. This voltage takes a maximum value when a voltage is applied to the electrode closest to the input pen 5 (FIG. 6). The position of the input pen 5 in the X direction is detected from the relationship between the temporal change of the voltage obtained by the input pen 5 and the voltage application time to each electrode. The same applies to the position detection in the Y direction.

【0005】波形整形回路6は増幅器6a,フィルタ6
b等より成り、入力ペン5によって検出された電圧波形
を位置の測定に適した波形に整形するための回路であ
る。発振回路9から周波数Fxの同期信号がX電極駆動
回路3及びX位置計算回路7に供給され、また発振回路
10から周波数Fyの同期信号がY電極駆動回路4及び
Y位置計算回路8に供給される。
The waveform shaping circuit 6 includes an amplifier 6a, a filter 6
b and a circuit for shaping the voltage waveform detected by the input pen 5 into a waveform suitable for position measurement. The oscillating circuit 9 supplies a synchronizing signal of the frequency Fx to the X electrode driving circuit 3 and the X position calculating circuit 7, and the oscillating circuit 10 supplies a synchronizing signal of the frequency Fy to the Y electrode driving circuit 4 and the Y position calculating circuit 8. You.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】タブレット入力装置で
は、入力ペンの検出出力は、増幅器6a,フィルタ回路
6b等より成る波形整形回路6を通して、X位置計算回
路7及びY位置計算回路8に入力される。この回路構成
だと、タブレット入力装置の初期設定時(イニシャライ
ズ時)の装置内温度に対して、装置稼動後、時間の経過
によって、波形整形回路6の使用部品の発熱によった
り、周囲の温度変化によって部品の温度が変化し、使用
部品の温度特性により、波形整形回路6の出力信号波形
が時間的にずれ、これが原因でタブレット入力板上の同
じ点であっても、最初の検出座標位置と、時間経過後の
それとが違ってしまうという問題があった。
In the tablet input device, a detection output of the input pen is input to an X position calculation circuit 7 and a Y position calculation circuit 8 through a waveform shaping circuit 6 including an amplifier 6a, a filter circuit 6b and the like. You. With this circuit configuration, the temperature inside the device at the time of initial setting (initialization) of the tablet input device may be affected by the heat generated by the components used in the waveform shaping circuit 6 due to the lapse of time after the device has been operated, or the ambient temperature. Due to the change, the temperature of the component changes, and the output signal waveform of the waveform shaping circuit 6 is temporally shifted due to the temperature characteristic of the component used. Then, there is a problem that it differs from that after a lapse of time.

【0007】この発明は、波形整形回路6の遅延時間の
温度特性に起因するX,Y位置検出出力の変動を防止す
ることを目的としている。
An object of the present invention is to prevent fluctuations in the X and Y position detection outputs due to the temperature characteristics of the delay time of the waveform shaping circuit 6.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】(1)請求項1のタブレ
ット入力装置には、波形整形回路の伝搬遅延時間の変動
量を検出する試験回路部と、入力ペンの検出出力と試験
回路部より出力される試験信号とを切替えるスイッチ手
段とが設けられる。試験回路部は、装置の初期設定時
(t=t0 )と、所定の時刻(t=ti )において、試
験信号を前記スイッチ手段を介して波形整形回路に入力
し、その入力信号と該波形整形回路の出力を比較して、
伝搬遅延時間τ(t0 ),τ(ti )を計測し、それら
の計測値より伝搬遅延時間の変動分Δi=τ(ti )−
τ(t 0 )を計算して、X,Y位置計算手段に供給し、
X,Y位置計算手段は、変動分Δiを用いて、入力ペン
のX,Y座標位置を補正する。
(1) The tablet according to claim 1
Input input device, the fluctuation of the propagation delay time of the waveform shaping circuit
Test circuit for detecting the amount, input pen detection output and test
Switch to switch between test signal output from circuit section
Steps are provided. The test circuit section is used when
(T = t0) And a predetermined time (t = ti)
Test signal to the waveform shaping circuit via the switch means
And comparing the input signal with the output of the waveform shaping circuit.
Propagation delay time τ (t0), Τ (ti) And measure them
From the measured value of Δi = τ (ti)-
τ (t 0) Is calculated and supplied to the X, Y position calculating means.
The X, Y position calculation means uses the variation Δi to
Is corrected.

【0009】(2)請求項2の発明は、試験回路部が、
波形整形回路の伝搬遅延時間の変動分Δiの計算を定期
的に行うようにしたものである。
(2) According to a second aspect of the present invention, the test circuit section comprises:
The calculation of the variation Δi of the propagation delay time of the waveform shaping circuit is periodically performed.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】この発明の実施例を図1に、図5
と対応する部分に同じ符号を付けて示し、重複説明を省
略する。この発明では新たに波形整形回路6の伝搬遅延
時間の変動量を検出する試験回路部16と、入力ペン5
の検出出力S1と試験回路16より出力される試験信号
S2とを切替えるスイッチ回路17とを増設する。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and FIG.
The same reference numerals are given to the portions corresponding to and the description will be omitted. In the present invention, the test circuit unit 16 for newly detecting the amount of change in the propagation delay time of the waveform shaping circuit 6 and the input pen 5
And a switch circuit 17 for switching between the detection output S1 of FIG.

【0011】初期設定時(イニシャライズ時)と定期的
時刻に、試験のため切替信号S3により入力ペン5の出
力と試験信号S2とを切替えて波形整形回路6に入力す
る。試験回路部12には試験信号発生部12a,遅延時
間計算部12b等が設けられ、試験信号S2が試験信号
発生部12aより出力した時間と波形整形回路6を通し
て戻ってきた信号S4の時間の差τ(t)を測定する
(図2)。このτ(t)が時刻tにおける温度状態によ
る波形整形回路6の伝搬遅延時間である。遅延時間計算
部12bは、このτ(t)から温度変化による波形整形
回路の遅延時間の変化分を計算する。
At the time of initial setting (at the time of initialization) and at a regular time, the output of the input pen 5 and the test signal S2 are switched by the switching signal S3 for testing and input to the waveform shaping circuit 6. The test circuit unit 12 includes a test signal generation unit 12a, a delay time calculation unit 12b, and the like. The difference between the time when the test signal S2 is output from the test signal generation unit 12a and the time when the signal S4 returns through the waveform shaping circuit 6 is detected. Measure τ (t) (FIG. 2). This τ (t) is the propagation delay time of the waveform shaping circuit 6 at the time t depending on the temperature state. The delay time calculation unit 12b calculates a change in the delay time of the waveform shaping circuit due to the temperature change from τ (t).

【0012】常時は入力ペン5からの検出信号S1を切
替え選択して波形整形回路6に入力し、入力ペン5の位
置検出を行う。初期化時の波形整形回路6の遅延時間τ
(t0 )と周囲温度や使用部品の温度が変化した後の遅
延時間τ(ti )が変わる可能性があるため、試験回路
部12は、定期的にスイッチ回路13を切り替えて試験
信号S2を波形整形回路6に入力し、そのときの該回路
6の遅延時間τ(ti )から遅延時間の変化分を計算
し、X位置計算回路7及びY位置計算回路8は上記変化
分を用いて入力ペン5の位置検出の計算を行う。
Normally, the detection signal S1 from the input pen 5 is switched and selected and input to the waveform shaping circuit 6 to detect the position of the input pen 5. Delay time τ of waveform shaping circuit 6 at initialization
Since the delay time τ (t i ) after the change of (t 0 ) and the ambient temperature or the temperature of the used component may change, the test circuit unit 12 periodically switches the switch circuit 13 to change the test signal S2. Is input to the waveform shaping circuit 6, and a change in the delay time is calculated from the delay time τ (t i ) of the circuit 6 at that time, and the X position calculation circuit 7 and the Y position calculation circuit 8 use the above change. To calculate the position of the input pen 5.

【0013】例えば、電源投入時(t=t0 )に遅延時
間が図3のようにτ(t0 )だったとする。そのときタ
ブレット装置のキャリブレーションを行ったとする。そ
の後、周囲温度や使用部品の温度が変化し、t=t1
再び試験信号S2を送ったとき、回路遅延時間がτ(t
1 )だったとする。その場合、遅延時間計算部12b
は、遅延時間の変化分Δ1 =(t1 )−τ(t0 )を計
算して、X位置計算回路7及びY位置計算回路8に情報
を与える。X位置計算回路7及びY位置計算回路8は、
入力ペン5からの検出信号S1により得られた入力ペン
の座標位置に対応する時間から遅延時間の変動分Δ1
補正して、高精度の位置データを計算する。上述のタブ
レット装置の動作の流れを図4にまとめて示す。
For example, it is assumed that the delay time is τ (t 0 ) as shown in FIG. 3 when the power is turned on (t = t 0 ). It is assumed that the tablet device has been calibrated at that time. Thereafter, the temperature of the ambient temperature and the components used are changed, when sending the test signal S2 again t = t 1, the circuit delay time tau (t
1 ) Suppose it was. In that case, the delay time calculation unit 12b
Calculates the change amount of the delay time Δ 1 = (t 1 ) −τ (t 0 ) and gives information to the X position calculation circuit 7 and the Y position calculation circuit 8. The X position calculation circuit 7 and the Y position calculation circuit 8
By correcting the variation delta 1 of the delay time from the time corresponding to the coordinate position of the obtained input pen by the detection signal S1 from the input pen 5, to calculate the position data of high accuracy. FIG. 4 collectively shows the operation flow of the above-described tablet device.

【0014】[0014]

【発明の効果】この発明は、前述のようなスイッチ手段
17及び試験回路部16を設け、X,Y位置計算回路
7,8で波形整形回路の遅延時間の変動分の影響を補正
したので周囲温度や使用部品温度が変化した場合におい
ても、常に正しいX,Y座標位置を検出できる。
According to the present invention, the switch means 17 and the test circuit section 16 as described above are provided, and the influence of the variation in the delay time of the waveform shaping circuit is corrected by the X and Y position calculation circuits 7 and 8, so that the surroundings are corrected. Even when the temperature or the temperature of the component used changes, the correct X, Y coordinate position can always be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のブロック図。FIG. 1 is a block diagram of the present invention.

【図2】図1の試験信号S2と回路遅延信号S4との関
係を示した波形図。
FIG. 2 is a waveform chart showing a relationship between a test signal S2 and a circuit delay signal S4 in FIG.

【図3】図1の試験信号S2に対する回路遅延信号S4
の変化例を示した波形図。
FIG. 3 is a circuit delay signal S4 for the test signal S2 of FIG. 1;
FIG. 7 is a waveform chart showing an example of the change of FIG.

【図4】図1の動作フローチャート。FIG. 4 is an operation flowchart of FIG. 1;

【図5】従来のタブレット入力装置のブロック図。FIG. 5 is a block diagram of a conventional tablet input device.

【図6】図5の要部の動作波形図。FIG. 6 is an operation waveform diagram of a main part of FIG. 5;

【図7】図5のタブレット入力板2の分解斜視図。FIG. 7 is an exploded perspective view of the tablet input plate 2 of FIG.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のX,Y電極を一定間隔に敷設して
なるタブレット入力板と、 前記X,Y電極の各々に走査パルスを印加する手段と、 その走査パルスに応じて、前記タブレット入力板上の任
意の点に誘起された電圧を検出する入力ペン(ペン型検
出センサ)と、 その入力ペンの出力を波形整形する手段と、 その波形整形手段の出力から前記入力ペンの前記タブレ
ット入力板上の座標位置を計算するX,Y位置計算手段
とを備えたタブレット入力装置において、 前記波形整形回路の伝搬遅延時間の変動量を検出する試
験回路部と、 前記入力ペンの検出出力と前記試験回路部より出力され
る試験信号とを切替えるスイッチ手段とを設け、 前記試験回路部は、装置の初期設定時(t=t0 )と、
所定の時刻(t=ti) において、前記試験信号を前記
スイッチ手段を介して前記波形整形回路に入力し、その
入力信号と該波形整形回路の出力を比較して、伝搬遅延
時間τ(t0 ),τ(ti )を計測し、それらの計測値
より伝搬遅延時間の変動分Δi=τ(t i )−τ
(t0 )を計算して、前記X,Y位置計算手段に供給
し、 前記X,Y位置計算手段は、前記変動分Δiを用いて、
前記入力ペンのX,Y座標位置を補正することを特徴と
するタブレット入力装置。
1. A method in which a plurality of X, Y electrodes are laid at regular intervals.
A tablet input plate, means for applying a scan pulse to each of the X and Y electrodes, and
An input pen (pen-type detection) that detects the voltage induced at a desired point
Output sensor), means for shaping the waveform of the input pen, and the table of the input pen from the output of the waveform shaping means.
X, Y position calculating means for calculating the coordinate position on the input board
A tablet input device comprising: a detection unit for detecting a variation amount of a propagation delay time of the waveform shaping circuit;
Test circuit unit, the detection output of the input pen and the output from the test circuit unit
Switch means for switching between the test signal and the test signal.0)When,
At a predetermined time (t = tiIn the above, the test signal is
Input to the waveform shaping circuit via a switch means,
Compare the input signal with the output of the waveform shaping circuit to determine the propagation delay
Time τ (t0), Τ (ti) And measure them
From the variation of the propagation delay time Δi = τ (t i) −τ
(T0) Is calculated and supplied to the X, Y position calculating means.
The X, Y position calculating means uses the variation Δi to calculate
X and Y coordinate positions of the input pen are corrected.
Tablet input device.
【請求項2】 請求項1において、前記試験回路部が、
前記波形整形回路の伝搬遅延時間の変動分Δiの計算を
定期的に行うことを特徴とするタブレット入力装置。
2. The test circuit according to claim 1, wherein:
A tablet input device for periodically calculating a variation Δi in a propagation delay time of the waveform shaping circuit.
JP15887298A 1998-06-08 1998-06-08 Tablet input device Withdrawn JPH11353103A (en)

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Effective date: 20050906