JPH11340588A - フレキシブルプリント基板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フレキシブルプリント基板の面積を小さくし
て小形機器への組み込みを容易にする。 【解決手段】 フレキシブルプリント基板１の回路素子
の実装面１の反対側の面に回路素子２，３の端子と導通
可能にしてある検査ランド４，５を設けてある。回路素
子実装面側のスペースを節減してプリント基板の面積の
狭小化を図ってカメラ等小型機器への組込みを容易にし
てある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の技術分野】本発明は、ＩＣ等の回路素子が実装
されたフレキシブルプリント基板に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】プリント基板にＩＣやＬＳＩその他の回
路素子を実装したときに、それらの回路素子が正常に機
能するか否かの検査が行われる。この検査は、図３に示
すように、プリント基板３１の回路素子の実装面に回路
素子３２の端子３２ａと導通可能な検査ランド３３を設
け、この検査ランドにプローブ３４を接触させることに
より行われている。具体的には、プリント基板１の位置
決めをするために、支持台３５によって下からプリント
基板の検査ランド３３の背面を支持し、プローブによる
接触圧を一定にするようにしてある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、プリ
ント基板の面積に余裕があれば問題はないが、例えばカ
メラのプリント基板のように、面積を極端に小さくする
ことが求められているものについては、検査ランドの設
置スペースをとる余裕がなくなることが問題となってい
る。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めに、本発明は、プリント基板の回路素子の実装面の反
対側の面に回路素子の端子と導通可能に検査ランドを設
け、実装面側のスペースを節減してプリント基板の面積
の狭小化を図ってある。検査の際にはプリント基板を裏
返しに検査治具上に載置し、回路素子の実装面の反対側
の面に設けられた検査ランドにプローブを接触させるこ
とによって行われる。このとき、プリント基板を水平に
維持した状態でプローブが接触可能とするように検査治
具の載置面に回路素子の高さに対応する段差を設けるよ
うにしてある。

【０００５】とくにフレキシブルプリント基板の場合に
は、回路素子の背面側をプローブで押圧するので、プロ
ーブの接触圧が所定値になるように回路素子の高さに合
わせて、プリント基板を水平に支持する段差を設けてあ
ることが重要である。

【０００６】回路素子の実装面を下にして検査治具台上
に載置すると、検査ランドがプリント基板の上面に位置
するので、これに対してプローブを降下させて接触させ
ることにより回路素子の検査が可能となる。

【０００７】

【発明の実施の形態】本発明のフレキシブルプリント基
板は、プローブと接触可能な検査ランドが、回路素子の
実装面の反対側の面であって回路素子が位置する部分に
対応して設けてあるところに特徴がある。

【０００８】

【実施例】以下本発明の一実施例について図面を参照し
て説明する。図１，２に示すように、フレキシブルプリ
ント基板１の一方の面にはＬＳＩやＩＣ等の回路素子
２，３が実装してある。回路素子の実装面１ａの反対側
の面の回路素子が位置する部分には検査ランド４，５が
設けてある。検査ランド４，５は、検査用プローブ６と
接触することにより回路素子の動作をチェックするため
のものであり、実装面側に位置する回路素子の端子部２
ａと導通可能としてある。検査ランド４，５が回路素子
の裏面側に設けられているため、フレキシブルプリント
基板１に設けられているにもかかわらず検査ランド４，
５の部分は回路素子により剛性が高くなっており、検査
用プローブ６との接触性をより確実にできる。

【０００９】フレキシブルプリント基板１の検査は、図
示してあるように、回路素子の実装面１ａを下にして検
査治具７上にセットして行われる。検査治具７の上面
は、フレキシブルプリント基板１に実装されている回路
素子間の高さ（厚さ）に差がある場合には、それに対応
した段差７ａを設けて基板１が水平になるように配慮し
てある。図２は大きく描かれている方の回路素子（ＬＳ
Ｉ）２が小さく描かれている方の回路素子（ＩＣ）３よ
りも高さが高くなっているため、その差の分だけ検査治
具の上面の高さが異なるように段差７ａを設けてあるこ
とを示している。検査治具７は、フレキシブルプリント
基板の検査装置（図示略）内に交換可能に取り付けられ
ており、被検査フレキシブルプリント基板の種類が変わ
るごとに対応するものと交換するようにしてある。

【００１０】フレキシブルプリント基板１の検査は、検
査治具７上にフレキシブルプリント基板１の回路素子実
装面１ａ側を検査治具７上に当接するように載置した状
態で行われる。フレキシブルプリントケーブル１が所定
位置にセットされると、検査用プローブ６が降下して、
各先端部を検査ランド４，５に接触することにより回路
素子と検査装置との導通が可能となる。これらの両者間
の導通により検査装置の計器が反応してフレキシブルプ
リント基板１に実装された回路素子のチェックが行われ
る。なお、被検査用回路素子の数が増加して、これらの
高さに幾通りもの差があるような場合には、これに対応
する段差を有する検査治具を用いればよい。また、検査
ランドが回路素子の裏面側に設けられていて剛性がある
ため、検査治具７は必ずしも必要ではない。

【００１１】

【発明の効果】本発明によれば、検査ランドがフレキシ
ブルプリント基板の回路素子の実装面の反対側でかつ回
路素子が位置する部分に対応するように設けてあるの
で、回路素子の実装面側における検査ランドやそれへの
接続回路のスペースが節減可能となる。これによりフレ
キシブルプリント基板を小さくでき、カメラなど小形機
器への組み込み容易なフレキシブルプリント基板を提供
可能となる。また、回路素子の裏面側に検査ランドが設
けられているために検査ランドの部分の剛性が高くな
り、検査プローブの接触性が良くなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】回路素子の実装面を下側にして検査治具上に載
置されている状態を示す平面図である。

【図２】高さを異にする回路素子を実装したフレキシブ
ルプリント基板が回路素子実装面を下側にして検査治具
上に載置した状態を示す断面図である。

【図３】従来技術における基板の検査例を示す斜視図で
ある。

【符号の説明】

１ フレキシブルプリント基板 １ａ 実装面 ２，３ 回路素子 ４，５ 検査ランド ６ プローブ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査用プローブと接触可能な検査ランド
   が、回路素子の実装面の反対側の面であって上記回路素
   子が位置する部分に対応して設けてあることを特徴とす
   るフレキシブルプリント基板。