JPH1133730A - アーク溶接トーチ - Google Patents
アーク溶接トーチInfo
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- JPH1133730A JPH1133730A JP19414097A JP19414097A JPH1133730A JP H1133730 A JPH1133730 A JP H1133730A JP 19414097 A JP19414097 A JP 19414097A JP 19414097 A JP19414097 A JP 19414097A JP H1133730 A JPH1133730 A JP H1133730A
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Landscapes
- Arc Welding In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ワイヤの接触通電が確実に行われてアーク切
れを発生することが無く、消耗部材が安価で交換容易
で、またメッキ屑など異物によるチップ詰まりを発生さ
せないこと。 【解決手段】 アーク溶接用のトーチにおいて、トーチ
の最先端部にワイヤ5を案内するV溝を備えた耐摩耗性
のガイド部材24と、トーチの最先端部に通電用の接触
子31とを配置し、ガイド部材と通電用接触子とでワイ
ヤを挾んで通電用接触子からワイヤに通電するように構
成したこと。また、ガイド部材がトーチ本体に固定され
ており、通電用接触子を設けたアーク電流通電部材27
がバネ付勢29されてワイヤを挾むこと。更に、ガイド
部材は、耐熱性、耐摩耗性のセラミックスから構成され
ていること。更に、通電用接触子は、アーク電流通電部
材に設けられていて、取り外し可能な構造とされている
こと
れを発生することが無く、消耗部材が安価で交換容易
で、またメッキ屑など異物によるチップ詰まりを発生さ
せないこと。 【解決手段】 アーク溶接用のトーチにおいて、トーチ
の最先端部にワイヤ5を案内するV溝を備えた耐摩耗性
のガイド部材24と、トーチの最先端部に通電用の接触
子31とを配置し、ガイド部材と通電用接触子とでワイ
ヤを挾んで通電用接触子からワイヤに通電するように構
成したこと。また、ガイド部材がトーチ本体に固定され
ており、通電用接触子を設けたアーク電流通電部材27
がバネ付勢29されてワイヤを挾むこと。更に、ガイド
部材は、耐熱性、耐摩耗性のセラミックスから構成され
ていること。更に、通電用接触子は、アーク電流通電部
材に設けられていて、取り外し可能な構造とされている
こと
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は自動アーク溶接装置
に関わり、特に溶接用ワイヤに安定に電流を供給しなが
ら溶接部にワイヤを送給するのに好適なアーク溶接用ト
ーチに関する。
に関わり、特に溶接用ワイヤに安定に電流を供給しなが
ら溶接部にワイヤを送給するのに好適なアーク溶接用ト
ーチに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の消耗電極アーク(以下、「GM
A」と称する)溶接で電極として用いられるワイヤの断
面はほとんどの場合が円形であり、そのワイヤに通電し
溶接部へと案内する溶接チップのガイド孔はほとんどが
円形であった。
A」と称する)溶接で電極として用いられるワイヤの断
面はほとんどの場合が円形であり、そのワイヤに通電し
溶接部へと案内する溶接チップのガイド孔はほとんどが
円形であった。
【0003】図17は、従来の代表的なGMA溶接用の
チップ1とそのガイド孔2を示す中央断面図である。通
常、チップ1の長さは45mm程度で、ガイド孔2の直
径は、チップ入り口部3ではその中を通過するワイヤ5
の直径例えば1.2mmに対して2.2mmなど相当に
大きくしており、途中から出口部4までは、ワイヤ5の
直径より0.1ないし0.2mm程度大きくし、直径
1.3ないし1.4mmの孔となっている。チップ1の
材質は、耐摩耗性と導電性の面から、通常はクロム銅や
ベリリウム銅などが用いられる。ワイヤ5はチップ出口
部4で接触通電するように、多少曲った状態で送給され
てくる。
チップ1とそのガイド孔2を示す中央断面図である。通
常、チップ1の長さは45mm程度で、ガイド孔2の直
径は、チップ入り口部3ではその中を通過するワイヤ5
の直径例えば1.2mmに対して2.2mmなど相当に
大きくしており、途中から出口部4までは、ワイヤ5の
直径より0.1ないし0.2mm程度大きくし、直径
1.3ないし1.4mmの孔となっている。チップ1の
材質は、耐摩耗性と導電性の面から、通常はクロム銅や
ベリリウム銅などが用いられる。ワイヤ5はチップ出口
部4で接触通電するように、多少曲った状態で送給され
てくる。
【0004】図18はチップ出口4の断面でワイヤ5が
チップ1のガイド孔2を通過する状態を示したものであ
るが、通電は円形断面のガイド孔2の内面と円形断面の
ワイヤ5が1点で接触する形で行われる。
チップ1のガイド孔2を通過する状態を示したものであ
るが、通電は円形断面のガイド孔2の内面と円形断面の
ワイヤ5が1点で接触する形で行われる。
【0005】ワイヤは軟鋼などの場合、錆止めや送給の
潤滑性改善のために銅メッキされている。ワイヤ送給装
置から溶接トーチまでワイヤを案内してくる図示してい
ないコンジットの内面、溶接トーチ内面やチップとワイ
ヤ表面の接触で、あるいはワイヤ送給装置の送給ローラ
通過時に傷付けられ、銅メッキが剥がれたり、ワイヤが
削れて切り屑を発生したりする。このような切り屑、メ
ッキ屑及びワイヤに付着していたごみや錆などを一括し
て異物と称することにすると、この異物がワイヤ送給中
にワイヤ側面によって搬送され、ガイド孔とワイヤの間
隙を通って一部はチップの外に排出される。
潤滑性改善のために銅メッキされている。ワイヤ送給装
置から溶接トーチまでワイヤを案内してくる図示してい
ないコンジットの内面、溶接トーチ内面やチップとワイ
ヤ表面の接触で、あるいはワイヤ送給装置の送給ローラ
通過時に傷付けられ、銅メッキが剥がれたり、ワイヤが
削れて切り屑を発生したりする。このような切り屑、メ
ッキ屑及びワイヤに付着していたごみや錆などを一括し
て異物と称することにすると、この異物がワイヤ送給中
にワイヤ側面によって搬送され、ガイド孔とワイヤの間
隙を通って一部はチップの外に排出される。
【0006】しかし、ガイド孔とワイヤ表面との間隙が
余り大きくない時には、ガイド孔に入る手前やチップの
中に異物が蓄積され、これら異物の噛み込みや送給抵抗
増大によってワイヤがガイド孔を通過するのを妨げ、あ
るいは、ワイヤとチップの間に挾まってワイヤへの接触
通電を妨げる。
余り大きくない時には、ガイド孔に入る手前やチップの
中に異物が蓄積され、これら異物の噛み込みや送給抵抗
増大によってワイヤがガイド孔を通過するのを妨げ、あ
るいは、ワイヤとチップの間に挾まってワイヤへの接触
通電を妨げる。
【0007】この送給むらや接触通電の不安定さが直接
の原因になって、GMA溶接の場合にはアーク切れを発
生し、スパッタ多発やアーク不安定になる問題を発生し
ていた。また、通電開始時にワイヤとチップの間でスパ
ークして、チップとワイヤが融着することもあった。
の原因になって、GMA溶接の場合にはアーク切れを発
生し、スパッタ多発やアーク不安定になる問題を発生し
ていた。また、通電開始時にワイヤとチップの間でスパ
ークして、チップとワイヤが融着することもあった。
【0008】図19は、本出願人が特開平6−3047
61号公報において開示したGMA用の通電チップ13
の出口の断面を示すものである。ガイド孔14を正三角
形にしているので、ワイヤ5は通電チップ13の内面と
2点9−1,9−2で接触する。また、三角形の内接円
をワイヤの直径にごく近い値にしても異物の排出は十分
な空間を持っている三角の隅部で行われるので、異物に
よるチップ詰まりは発生しない。
61号公報において開示したGMA用の通電チップ13
の出口の断面を示すものである。ガイド孔14を正三角
形にしているので、ワイヤ5は通電チップ13の内面と
2点9−1,9−2で接触する。また、三角形の内接円
をワイヤの直径にごく近い値にしても異物の排出は十分
な空間を持っている三角の隅部で行われるので、異物に
よるチップ詰まりは発生しない。
【0009】これらにより通電性は相当に改善された
が、ワイヤ径の製造公差でワイヤ直径が大きめになった
り、ワイヤ送給装置の送給ロールなどでワイヤ5の断面
が少し機械的に変形すると、三角形の内接円とワイヤ5
との隙間を小さくするほど、たちまちガイド孔14に引
っかかって詰まりを起こす問題が生じる。したがって実
用時には三角形の内接円の直径は、ワイヤ5との隙間を
確保するために、公称ワイヤ径より0.04mm以上大
きくしておくことが必要であった。
が、ワイヤ径の製造公差でワイヤ直径が大きめになった
り、ワイヤ送給装置の送給ロールなどでワイヤ5の断面
が少し機械的に変形すると、三角形の内接円とワイヤ5
との隙間を小さくするほど、たちまちガイド孔14に引
っかかって詰まりを起こす問題が生じる。したがって実
用時には三角形の内接円の直径は、ワイヤ5との隙間を
確保するために、公称ワイヤ径より0.04mm以上大
きくしておくことが必要であった。
【0010】通常、通電チップは図示していない溶接ト
ーチに取り付けられ、そのトーチは半自動溶接に使われ
たり溶接ロボットに搭載されたりする。溶接ロボットに
搭載された場合には、通常は溶接に先立って溶接時の状
態を想定してワイヤ5をチップ1から出し、ワイヤ先端
で溶接開先を倣って経路を教示し、その後でプレイバッ
クして溶接を実行する。しかし、プレイバック時に、ガ
イド孔2とワイヤ5との間の隙間や図17に示すような
ワイヤ5の曲がりの方向が当初設定の場合から変化した
りして、ワイヤ5の先端が狙い位置から外れたり、溶接
中にビードが蛇行し溶接不良を発生することがある。
ーチに取り付けられ、そのトーチは半自動溶接に使われ
たり溶接ロボットに搭載されたりする。溶接ロボットに
搭載された場合には、通常は溶接に先立って溶接時の状
態を想定してワイヤ5をチップ1から出し、ワイヤ先端
で溶接開先を倣って経路を教示し、その後でプレイバッ
クして溶接を実行する。しかし、プレイバック時に、ガ
イド孔2とワイヤ5との間の隙間や図17に示すような
ワイヤ5の曲がりの方向が当初設定の場合から変化した
りして、ワイヤ5の先端が狙い位置から外れたり、溶接
中にビードが蛇行し溶接不良を発生することがある。
【0011】したがって、ワイヤ5はできるだけ真っ直
ぐな状態でかつ隙間の少ないガイド孔から出ることが望
ましい。そこで、ワイヤ5についてはワイヤ5の曲率半
径がより大きいペイル缶入りワイヤを使用することなど
が行われている。しかし、真っ直ぐなワイヤ5を真っ直
ぐなガイド孔2に通すと、ガイド孔内での接触通電位置
が安定しなくなる問題が発生する。
ぐな状態でかつ隙間の少ないガイド孔から出ることが望
ましい。そこで、ワイヤ5についてはワイヤ5の曲率半
径がより大きいペイル缶入りワイヤを使用することなど
が行われている。しかし、真っ直ぐなワイヤ5を真っ直
ぐなガイド孔2に通すと、ガイド孔内での接触通電位置
が安定しなくなる問題が発生する。
【0012】そこで、真っ直ぐなワイヤ5を採用すると
きには、ワイヤ5を横からバネで通電ガイド孔面に押し
付けたりする工夫(特開昭64−18582号公報)を
施している例もある。
きには、ワイヤ5を横からバネで通電ガイド孔面に押し
付けたりする工夫(特開昭64−18582号公報)を
施している例もある。
【0013】図20はその発明を説明する図で、板ばね
11によって圧接摺動子10を介してワイヤ5をチップ
1の孔内面に押さえる構造を採っている。圧接摺動子1
0にメタリックカーボンを用い、板ばね11に導電性素
材を用いると、板ばね11を介してもワイヤ5に通電さ
れる旨を当該公報は開示しているが、通電は主としてチ
ップ内面での接触によって行われることが推測される。
この構造ではチップ1の摩耗が進むと、この複雑で高価
なチップ1全体を取り替えなければならない問題があ
る。
11によって圧接摺動子10を介してワイヤ5をチップ
1の孔内面に押さえる構造を採っている。圧接摺動子1
0にメタリックカーボンを用い、板ばね11に導電性素
材を用いると、板ばね11を介してもワイヤ5に通電さ
れる旨を当該公報は開示しているが、通電は主としてチ
ップ内面での接触によって行われることが推測される。
この構造ではチップ1の摩耗が進むと、この複雑で高価
なチップ1全体を取り替えなければならない問題があ
る。
【0014】一方、異物の排出を円滑に行うために、実
開昭56−142880号公報では図21に示すよう
に、通電チップの中のガイド孔の途中に空間8と横穴6
を設け、そこから異物を排出する構造を提案している。
しかしこの方法でも先端部のチップの孔径を通常値より
小さくすると、ワイヤの断面変形や局部的な曲がりがあ
るとやはり詰まりを発生するので、ガイド孔径自体はワ
イヤ径より大きくしなければならず、したがって、特に
接触通電と関係するガイド孔内でのワイヤ5との隙間に
ついては改善されていない。
開昭56−142880号公報では図21に示すよう
に、通電チップの中のガイド孔の途中に空間8と横穴6
を設け、そこから異物を排出する構造を提案している。
しかしこの方法でも先端部のチップの孔径を通常値より
小さくすると、ワイヤの断面変形や局部的な曲がりがあ
るとやはり詰まりを発生するので、ガイド孔径自体はワ
イヤ径より大きくしなければならず、したがって、特に
接触通電と関係するガイド孔内でのワイヤ5との隙間に
ついては改善されていない。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術はワイヤ
とガイド孔との間の間隙が比較的大きく、ワイヤ先端位
置が相当に変動する問題、および接触通電が不安定にな
る問題があった。また、異物をチップに設けた横孔など
から排出する方法では、複雑なチップ構造となり高価に
なる問題、ワイヤ自身の変形などによるチップ詰まりを
発生する問題があった。
とガイド孔との間の間隙が比較的大きく、ワイヤ先端位
置が相当に変動する問題、および接触通電が不安定にな
る問題があった。また、異物をチップに設けた横孔など
から排出する方法では、複雑なチップ構造となり高価に
なる問題、ワイヤ自身の変形などによるチップ詰まりを
発生する問題があった。
【0016】また、通常の通電用チップではガイド孔が
円形であるために、接触通電点は1点になるので、瞬間
的な通電不良に基づくアーク切れを発生しやすい問題が
あった。その対策としての横からばねでチップ内面に押
さえるものは複雑な構造で高価な消耗部材となってお
り、そしてチップつまりに対しての対策にはなっていな
い。
円形であるために、接触通電点は1点になるので、瞬間
的な通電不良に基づくアーク切れを発生しやすい問題が
あった。その対策としての横からばねでチップ内面に押
さえるものは複雑な構造で高価な消耗部材となってお
り、そしてチップつまりに対しての対策にはなっていな
い。
【0017】本発明の目的は、上記問題点を全て解決す
る手段を提供することにある。即ち、本発明の目的は、
曲率半径が大きなワイヤを用いても接触通電が確実に行
われてアーク切れを発生することが無く、かつアークが
発生しているワイヤ先端の位置変動が少なく、また消耗
部材が安価で交換容易で、またメッキ屑など異物による
あるいはワイヤ断面形状の多少の変化によるチップ詰ま
りを発生しない、という機能を奏する溶接トーチを提供
することにある。
る手段を提供することにある。即ち、本発明の目的は、
曲率半径が大きなワイヤを用いても接触通電が確実に行
われてアーク切れを発生することが無く、かつアークが
発生しているワイヤ先端の位置変動が少なく、また消耗
部材が安価で交換容易で、またメッキ屑など異物による
あるいはワイヤ断面形状の多少の変化によるチップ詰ま
りを発生しない、という機能を奏する溶接トーチを提供
することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は主として次のような構成を採用する。
に、本発明は主として次のような構成を採用する。
【0019】アーク溶接用のトーチにおいて、前記トー
チの最先端部にワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性
のガイド部材と、前記トーチの最先端部に通電用の接触
子とを配置し、前記ガイド部材と前記通電用接触子とで
前記ワイヤを挾んで通電用接触子からワイヤに通電する
ように構成したアーク溶接トーチ。
チの最先端部にワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性
のガイド部材と、前記トーチの最先端部に通電用の接触
子とを配置し、前記ガイド部材と前記通電用接触子とで
前記ワイヤを挾んで通電用接触子からワイヤに通電する
ように構成したアーク溶接トーチ。
【0020】また、前記ガイド部材は、耐熱性、耐摩耗
性のセラミックスから構成されているアーク溶接トー
チ。
性のセラミックスから構成されているアーク溶接トー
チ。
【0021】更に、前記ガイド部材は、超硬質の金属か
ら構成され、前記V溝を除いた全面に耐摩耗性と電気絶
縁性の皮膜を形成されてトーチ本体と絶縁されているア
ーク溶接トーチ。
ら構成され、前記V溝を除いた全面に耐摩耗性と電気絶
縁性の皮膜を形成されてトーチ本体と絶縁されているア
ーク溶接トーチ。
【0022】また、前記通電用接触子は、アーク電流通
電部材に設けられていて、取り外し可能な構造とされて
いるアーク溶接トーチ。
電部材に設けられていて、取り外し可能な構造とされて
いるアーク溶接トーチ。
【0023】
【発明の実施の形態】以下に本発明に係るGMA溶接ト
ーチ用のチップの第1実施形態を図面に基づいて説明す
る。図1は本発明に係るチップ20の正面図で、図2か
ら図6は図1のA−AないしE−E断面図である。図7
はチップ本体部21だけを示す図である。図8、図9は
V溝部材24を示す図である。図10、図11及び図1
2は通電部材27を示す図である。
ーチ用のチップの第1実施形態を図面に基づいて説明す
る。図1は本発明に係るチップ20の正面図で、図2か
ら図6は図1のA−AないしE−E断面図である。図7
はチップ本体部21だけを示す図である。図8、図9は
V溝部材24を示す図である。図10、図11及び図1
2は通電部材27を示す図である。
【0024】ここにおいて、5はワイヤ、20はチッ
プ、21はチップ本体部、22はねじ、23はガイド
孔、24はV溝部材、25は平底溝、26は丸溝、27
は通電部材、28は切り込み、29は板ばね、30はV
溝、31は通電用接触子、32は平底溝、をそれぞれ表
す。
プ、21はチップ本体部、22はねじ、23はガイド
孔、24はV溝部材、25は平底溝、26は丸溝、27
は通電部材、28は切り込み、29は板ばね、30はV
溝、31は通電用接触子、32は平底溝、をそれぞれ表
す。
【0025】図1にて21は直径1.2mmのワイヤ用
のチップ本体部で、従来チップと同様にクロム銅からな
り、図示していないトーチ本体部にねじ22で連結し、
アーク電流を通電する導体となっているが、長さ約70
mm、直径概略12mmの円筒を種々の切削加工を施し
たもので、その中心軸方向に直径2mmのワイヤガイド
孔23を設けている。
のチップ本体部で、従来チップと同様にクロム銅からな
り、図示していないトーチ本体部にねじ22で連結し、
アーク電流を通電する導体となっているが、長さ約70
mm、直径概略12mmの円筒を種々の切削加工を施し
たもので、その中心軸方向に直径2mmのワイヤガイド
孔23を設けている。
【0026】そして、チップ本体部21の先端部に耐
熱、耐摩耗性に優れた窒化珪素からなるV溝部材24を
埋め込む平底溝25が作られている。また、チップ本体
21の中央部で横方向に丸溝26を設けており、そこに
通電部材27を差し込んで引っ掛ける構造にしている。
また、切り込み28を設け、そこに幅6mm厚さ0.6
mmの折出硬化型ステンレス鋼からなる耐熱性の板ばね
29を差し込んで通電部材27をチップ本体部21側に
押さえつける構造にしている。
熱、耐摩耗性に優れた窒化珪素からなるV溝部材24を
埋め込む平底溝25が作られている。また、チップ本体
21の中央部で横方向に丸溝26を設けており、そこに
通電部材27を差し込んで引っ掛ける構造にしている。
また、切り込み28を設け、そこに幅6mm厚さ0.6
mmの折出硬化型ステンレス鋼からなる耐熱性の板ばね
29を差し込んで通電部材27をチップ本体部21側に
押さえつける構造にしている。
【0027】図7は図1の左側面側から見たチップ本体
部21だけを示す図である。図8はV溝部材24の平面
図で、図9はその正面図である。直径1.2mmのワイ
ヤ用には深さ1.2mmで60度のV溝30を表面に設
けている。このV溝に1.2mmのワイヤを押しつける
とワイヤはV溝と2点接触し0.6mmの高さだけ部材
表面からはみ出した形になる。このV溝部材24はチッ
プ本体部21のT字型の平底溝25の中にはめ込む。
部21だけを示す図である。図8はV溝部材24の平面
図で、図9はその正面図である。直径1.2mmのワイ
ヤ用には深さ1.2mmで60度のV溝30を表面に設
けている。このV溝に1.2mmのワイヤを押しつける
とワイヤはV溝と2点接触し0.6mmの高さだけ部材
表面からはみ出した形になる。このV溝部材24はチッ
プ本体部21のT字型の平底溝25の中にはめ込む。
【0028】図10は図1の右側面側から見た通電部材
27の平面図である。通電部材27はチップ本体部と同
じ材質のクロム銅で製作されている。図11は通電用接
触子31の平面図で、図12はその正面図である。通電
用接触子31は銅タングステンからなる耐摩耗性の通電
部材で、通電部材27に設けてあるT字型の平底溝32
の中にはめ込んで使用する。この通電用接触子は図5、
図6に示すように通電部材27よりワイヤ側に約1mm
はみ出す厚みにしている。
27の平面図である。通電部材27はチップ本体部と同
じ材質のクロム銅で製作されている。図11は通電用接
触子31の平面図で、図12はその正面図である。通電
用接触子31は銅タングステンからなる耐摩耗性の通電
部材で、通電部材27に設けてあるT字型の平底溝32
の中にはめ込んで使用する。この通電用接触子は図5、
図6に示すように通電部材27よりワイヤ側に約1mm
はみ出す厚みにしている。
【0029】チップ20は以上説明したような構成要素
から構成され、図1のように組み立てられていて以下の
ように作動する。ワイヤ5は図示していないトーチ本体
部と結合しているねじ部22側からチップ20のワイヤ
ガイド孔23の中へとワイヤ5が送給されてくるが、ガ
イド孔23を出て、通電用接触子31が通電部材27を
介して板ばね29でV溝部材24側に軽く押さえられて
いるところを通過し、チップ20を出て溶接部に到達す
る。
から構成され、図1のように組み立てられていて以下の
ように作動する。ワイヤ5は図示していないトーチ本体
部と結合しているねじ部22側からチップ20のワイヤ
ガイド孔23の中へとワイヤ5が送給されてくるが、ガ
イド孔23を出て、通電用接触子31が通電部材27を
介して板ばね29でV溝部材24側に軽く押さえられて
いるところを通過し、チップ20を出て溶接部に到達す
る。
【0030】通電部材27は、板ばね29で押さえられ
ているので、丸溝26と通電用接触子31を介してワイ
ヤに押さえられて接触しており、このためアーク電流
は、チップ本体部21の丸溝26のところから通電部材
27、通電用接触子31を経て、ワイヤ5に通電され
る。ワイヤ5は常に通電用接触子31でV溝30に押さ
えつけられながらチップ20から送り出されているの
で、従来チップに見られたガイド孔とワイヤ間の隙間が
無く、ワイヤ出口位置が定まっている。このため、ワイ
ヤ先端狙い位置ずれがより少なくなる。またワイヤ5の
曲がりが無くても通電用接触子31で常に接触通電して
いるので、通電不良によるアーク切れが発生しない。
ているので、丸溝26と通電用接触子31を介してワイ
ヤに押さえられて接触しており、このためアーク電流
は、チップ本体部21の丸溝26のところから通電部材
27、通電用接触子31を経て、ワイヤ5に通電され
る。ワイヤ5は常に通電用接触子31でV溝30に押さ
えつけられながらチップ20から送り出されているの
で、従来チップに見られたガイド孔とワイヤ間の隙間が
無く、ワイヤ出口位置が定まっている。このため、ワイ
ヤ先端狙い位置ずれがより少なくなる。またワイヤ5の
曲がりが無くても通電用接触子31で常に接触通電して
いるので、通電不良によるアーク切れが発生しない。
【0031】なお、本実施形態では通電部材27と通電
用接触子31の2つの部材を用いているが、それらを一
体化した1部材としてもよい。消耗部材費が高くなる
が、接触通電部が1箇所減り通電がより安定化する効果
がある。
用接触子31の2つの部材を用いているが、それらを一
体化した1部材としてもよい。消耗部材費が高くなる
が、接触通電部が1箇所減り通電がより安定化する効果
がある。
【0032】次に、本発明に係るGMA溶接トーチ用の
チップの第2実施形態を図面に基づいて説明する。図1
3は本発明に係るチップ33の中央断面図で、図14か
ら図16は図13のA−AないしC−C断面図である。
チップの第2実施形態を図面に基づいて説明する。図1
3は本発明に係るチップ33の中央断面図で、図14か
ら図16は図13のA−AないしC−C断面図である。
【0033】図13において、34は1.2mmワイヤ
用のクロム銅からなる長さ45mmのチップ本体部で、
図示していないトーチ本体部にねじ35で連結し、アー
ク電流を通電する導体となっている。チップ本体部34
のワイヤ出口側は図14ないし15に見られるように断
面が一辺10mmの正方形に凹型の幅広い溝を彫り込ん
だ形状となっていて、その先端部に図16に示すように
頭部直径8mmの押しピン状の銅タングステンからなる
通電接触子36をはめ込む丸孔37を設けている。
用のクロム銅からなる長さ45mmのチップ本体部で、
図示していないトーチ本体部にねじ35で連結し、アー
ク電流を通電する導体となっている。チップ本体部34
のワイヤ出口側は図14ないし15に見られるように断
面が一辺10mmの正方形に凹型の幅広い溝を彫り込ん
だ形状となっていて、その先端部に図16に示すように
頭部直径8mmの押しピン状の銅タングステンからなる
通電接触子36をはめ込む丸孔37を設けている。
【0034】38は概略外形8x5x32mmの耐熱、
耐摩耗性に優れた窒化珪素からなるV溝部材で、チップ
本体部34のワイヤ出口側にはめ込まれている。すなわ
ちワイヤをガイドするV溝部材38は、図13及び図1
5に示すようにその外面溝のU溝39にはめこまれてい
てチップ本体部34に貫通されている抜き差し容易なピ
ン40を支点として、図13及び図14に示す耐熱性の
ニッケル合金からなる直径3mmの2つの圧縮ばね4
1,42によって、チップ出口側で通電接触子36側に
ワイヤ5を挟むようにして押しつける構造になってい
る。
耐摩耗性に優れた窒化珪素からなるV溝部材で、チップ
本体部34のワイヤ出口側にはめ込まれている。すなわ
ちワイヤをガイドするV溝部材38は、図13及び図1
5に示すようにその外面溝のU溝39にはめこまれてい
てチップ本体部34に貫通されている抜き差し容易なピ
ン40を支点として、図13及び図14に示す耐熱性の
ニッケル合金からなる直径3mmの2つの圧縮ばね4
1,42によって、チップ出口側で通電接触子36側に
ワイヤ5を挟むようにして押しつける構造になってい
る。
【0035】したがってワイヤ5は図示していないトー
チ本体部と結合しているねじ部35側からチップ33の
ワイヤガイド孔43の中へとワイヤ5が送給されてくる
が、ガイド孔43を出て、次にV溝部材38が圧縮バネ
41,42とピン40によって通電用接触子36側に軽
く押さえられているところを通過し、チップ33を出て
溶接部に到達する。このためワイヤは常に通電接触子と
接触通電が行われるので、アーク切れ発生することがな
い。
チ本体部と結合しているねじ部35側からチップ33の
ワイヤガイド孔43の中へとワイヤ5が送給されてくる
が、ガイド孔43を出て、次にV溝部材38が圧縮バネ
41,42とピン40によって通電用接触子36側に軽
く押さえられているところを通過し、チップ33を出て
溶接部に到達する。このためワイヤは常に通電接触子と
接触通電が行われるので、アーク切れ発生することがな
い。
【0036】本実施形態を第1実施形態の場合と比較す
ると、軽量のV溝部材38を軽く押すだけなので、ワイ
ヤへの押しつけ力が安定しているため、押しつけ力を軽
くできること、通電部材27を経由することなくチップ
本体から直接接触子に通電でき通電安定性の点からはよ
り好ましいことなどの利点があるが、一方、消耗部材で
ある通電接触子側が固定側となっているので、通電接触
子36の消耗に伴って、ワイヤ5の先端狙い位置が多少
変わってくる短所もある。
ると、軽量のV溝部材38を軽く押すだけなので、ワイ
ヤへの押しつけ力が安定しているため、押しつけ力を軽
くできること、通電部材27を経由することなくチップ
本体から直接接触子に通電でき通電安定性の点からはよ
り好ましいことなどの利点があるが、一方、消耗部材で
ある通電接触子側が固定側となっているので、通電接触
子36の消耗に伴って、ワイヤ5の先端狙い位置が多少
変わってくる短所もある。
【0037】第1及び第2実施形態では、V溝部材2
4,38に電気絶縁性の窒化珪素を用いた。しかし、V
溝部材24は絶縁性材料に限られるわけではない。V溝
部材24,38として導電性の工具鋼(SKD11)を
用いてもかなりの摩耗寿命を示した。しかしワイヤへの
通電はV溝側からはワイヤ通電しないほうが、スパーク
も発生しなくなるため等の理由で摩耗寿命が長くなる。
そこで、硬質の工具鋼でV溝部材を作り、V溝部を除い
た全面にイオンプレーティングでTiAlN皮膜からなる
耐摩耗性、電気絶縁性皮膜をつくり、チップ本体部21
と絶縁する構造にして、通電はもっぱら通電用接触子か
ら行われるようにした方が、より長寿命になった。
4,38に電気絶縁性の窒化珪素を用いた。しかし、V
溝部材24は絶縁性材料に限られるわけではない。V溝
部材24,38として導電性の工具鋼(SKD11)を
用いてもかなりの摩耗寿命を示した。しかしワイヤへの
通電はV溝側からはワイヤ通電しないほうが、スパーク
も発生しなくなるため等の理由で摩耗寿命が長くなる。
そこで、硬質の工具鋼でV溝部材を作り、V溝部を除い
た全面にイオンプレーティングでTiAlN皮膜からなる
耐摩耗性、電気絶縁性皮膜をつくり、チップ本体部21
と絶縁する構造にして、通電はもっぱら通電用接触子か
ら行われるようにした方が、より長寿命になった。
【0038】摩耗寿命は窒化珪素の場合よりやや劣る
が、このような工具鋼を用いたV溝部材は窒化珪素より
製作容易で、より廉価にできる利点がある。
が、このような工具鋼を用いたV溝部材は窒化珪素より
製作容易で、より廉価にできる利点がある。
【0039】さらに、V溝部材24,38の溝は実際に
はV溝に限定されることなく、ワイヤを安定してガイド
できる丸底溝など代行できる溝形状も含んでいることは
言うまでもない。
はV溝に限定されることなく、ワイヤを安定してガイド
できる丸底溝など代行できる溝形状も含んでいることは
言うまでもない。
【0040】なお、第1及び第2実施形態では、ねじ部
22,35を介してチップ本体部21,34を溶接トー
チに固定する構造としていたが、チップ本体部21,3
4はほとんど損耗しないので、直接トーチ本体部に組み
込むこともできる。
22,35を介してチップ本体部21,34を溶接トー
チに固定する構造としていたが、チップ本体部21,3
4はほとんど損耗しないので、直接トーチ本体部に組み
込むこともできる。
【0041】以上説明したように、本発明は次のような
構成と機能を有するものを含むものである。
構成と機能を有するものを含むものである。
【0042】アーク溶接用のトーチにおいて、トーチ最
先端部にワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性のガイ
ド部材と、同じくトーチ最先端部に通電用の接触子とを
置き、ガイド部材と通電用接触子とでワイヤを挾みつけ
ながら通電用接触子からワイヤに通電するような構成で
ある。
先端部にワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性のガイ
ド部材と、同じくトーチ最先端部に通電用の接触子とを
置き、ガイド部材と通電用接触子とでワイヤを挾みつけ
ながら通電用接触子からワイヤに通電するような構成で
ある。
【0043】その際、ワイヤを案内するV溝を備えた耐
摩耗性のガイド部材はトーチ本体に固定しておき、通電
接触子側の部材がバネで動いてワイヤを挾む構造として
もよく、あるいは通電接触子側の部材はトーチ本体に固
定しておき、ワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性の
ガイド部材がバネで動いてワイヤを挾む構造としてもよ
い。
摩耗性のガイド部材はトーチ本体に固定しておき、通電
接触子側の部材がバネで動いてワイヤを挾む構造として
もよく、あるいは通電接触子側の部材はトーチ本体に固
定しておき、ワイヤを案内するV溝を備えた耐摩耗性の
ガイド部材がバネで動いてワイヤを挾む構造としてもよ
い。
【0044】ワイヤを案内するV溝を備えたガイド部材
は、耐熱性、耐摩耗性のセラミックスあるいは超硬質の
金属から構成、あるいは硬質の金属表面に耐摩耗性で絶
縁性の皮膜をコーティングした部材から構成している。
通電用接触子はアーク電流通電端子部材によってV溝部
材側に押さえつけられているだけの取り外し容易な構造
にしており、そのワイヤを押さえつける面は平面、ある
いはV溝ないしはスリットを設けた構造にしている。
は、耐熱性、耐摩耗性のセラミックスあるいは超硬質の
金属から構成、あるいは硬質の金属表面に耐摩耗性で絶
縁性の皮膜をコーティングした部材から構成している。
通電用接触子はアーク電流通電端子部材によってV溝部
材側に押さえつけられているだけの取り外し容易な構造
にしており、そのワイヤを押さえつける面は平面、ある
いはV溝ないしはスリットを設けた構造にしている。
【0045】V溝にワイヤを押し付ける形でワイヤ外径
に密着した三角形状をV溝と通電接触子で構成している
が、ワイヤの両側はワイヤに沿って隙間ができている。
この隙間は通常の円形ガイド孔の場合より遙かに大き
く、異物を排出する空隙として機能するので、ワイヤ屑
などが通電ガイド内に詰まることがない。
に密着した三角形状をV溝と通電接触子で構成している
が、ワイヤの両側はワイヤに沿って隙間ができている。
この隙間は通常の円形ガイド孔の場合より遙かに大き
く、異物を排出する空隙として機能するので、ワイヤ屑
などが通電ガイド内に詰まることがない。
【0046】ワイヤ先端位置ずれについては、ガイド孔
とワイヤ間に間隙がない分だけ少なくなるが、さらに、
V溝側は摩耗しないので固定していて変化無く、接触子
側にしても先端がワイヤ曲がりによって局部的に摩耗し
た場合だけワイヤ曲がりの影響が出るだけで、接触子が
ワイヤ送給方向に沿って平均的に損耗した場合は、ばね
で接触子をV溝に押しつけているために、ワイヤ曲がり
については影響が出ない。
とワイヤ間に間隙がない分だけ少なくなるが、さらに、
V溝側は摩耗しないので固定していて変化無く、接触子
側にしても先端がワイヤ曲がりによって局部的に摩耗し
た場合だけワイヤ曲がりの影響が出るだけで、接触子が
ワイヤ送給方向に沿って平均的に損耗した場合は、ばね
で接触子をV溝に押しつけているために、ワイヤ曲がり
については影響が出ない。
【0047】通電用接触子は、多少摩耗してもバネで常
にワイヤに押し付けられる構造になっているので、通常
の丸孔通電チップの場合と比較して、安定した接触通電
が保たれ通電不良によるアーク切れは発生することがな
く、また、アークスタート時にワイヤとチップの間でス
パークして、チップとワイヤが融着したりすることもな
くなり、更に摩耗寿命も増して長寿命化する。そして通
電接触子は消耗部材であるが、製作容易な形状の小さな
銅合金などで構成されているので、従来の通電チップな
どに比較して非常に安価な消耗部材費で済む。
にワイヤに押し付けられる構造になっているので、通常
の丸孔通電チップの場合と比較して、安定した接触通電
が保たれ通電不良によるアーク切れは発生することがな
く、また、アークスタート時にワイヤとチップの間でス
パークして、チップとワイヤが融着したりすることもな
くなり、更に摩耗寿命も増して長寿命化する。そして通
電接触子は消耗部材であるが、製作容易な形状の小さな
銅合金などで構成されているので、従来の通電チップな
どに比較して非常に安価な消耗部材費で済む。
【0048】
【発明の効果】V溝部材は耐熱性、耐摩耗性に優れた窒
化珪素などを用いているのでほとんど摩耗せず、チップ
本体部も多少摩耗しても本質的に問題ないので、日常的
な交換は不要である。
化珪素などを用いているのでほとんど摩耗せず、チップ
本体部も多少摩耗しても本質的に問題ないので、日常的
な交換は不要である。
【0049】通電用接触子は耐摩耗性に優れた銅タング
ステンを用いているが、それでも次第に摩耗する。しか
し、多少摩耗してもばねで押さえているので、結果的に
は通電用接触子にできた摩耗による溝の深さがV溝から
はみ出しているワイヤ部分より深くなるまで、常に通電
が行われる構造になっているため、従来のチップに比べ
て摩耗寿命が5倍程度増している。
ステンを用いているが、それでも次第に摩耗する。しか
し、多少摩耗してもばねで押さえているので、結果的に
は通電用接触子にできた摩耗による溝の深さがV溝から
はみ出しているワイヤ部分より深くなるまで、常に通電
が行われる構造になっているため、従来のチップに比べ
て摩耗寿命が5倍程度増している。
【0050】また、通電不良で寿命となった場合には、
小さな通電用接触子だけ交換すればよく、高価な銅タン
グステンを用いているが、形状が単純で重量が小さいた
めに、価格的にも安価となっている。
小さな通電用接触子だけ交換すればよく、高価な銅タン
グステンを用いているが、形状が単純で重量が小さいた
めに、価格的にも安価となっている。
【0051】銅メッキ屑やワイヤ切り粉など異物がワイ
ヤに搬送されてチップの中に入ってきてもガイド孔は十
分に大きく、そこから出てV溝部分にきてもV溝部材と
通電用接触子の間にワイヤが挟まって十分大きな空間を
横方向に形成しているので、そこから異物は排出され、
チップに詰まることがない。
ヤに搬送されてチップの中に入ってきてもガイド孔は十
分に大きく、そこから出てV溝部分にきてもV溝部材と
通電用接触子の間にワイヤが挟まって十分大きな空間を
横方向に形成しているので、そこから異物は排出され、
チップに詰まることがない。
【0052】また、V溝部材のV溝の深さは使用するワ
イヤ直径と等しくすることが好ましいが、本実施形態の
直径1.2mmのワイヤ用のV溝部材をそのまま使った
場合でも、直径1.0mmから1.6mmのワイヤまで
使用できた。すなわち、本発明によれば、V溝と1平面
で構成される三角形の三辺がワイヤの外周に密接するよ
うに押し付けられるので、従来のワイヤ径より0.04
mm大きい直径の内接円を持つように製作されていた三
角孔チップを用いる場合と比較しても、ワイヤ挿入位置
が安定し、溶接作業がより安定するという効果がある。
イヤ直径と等しくすることが好ましいが、本実施形態の
直径1.2mmのワイヤ用のV溝部材をそのまま使った
場合でも、直径1.0mmから1.6mmのワイヤまで
使用できた。すなわち、本発明によれば、V溝と1平面
で構成される三角形の三辺がワイヤの外周に密接するよ
うに押し付けられるので、従来のワイヤ径より0.04
mm大きい直径の内接円を持つように製作されていた三
角孔チップを用いる場合と比較しても、ワイヤ挿入位置
が安定し、溶接作業がより安定するという効果がある。
【0053】また、従来の通電チップの場合は、一つの
チップは一つの公称ワイヤ径にしか適用できなかった
が、本発明によれば、一つのV溝部材でも適用できる公
称ワイヤ径範囲が広がっている。
チップは一つの公称ワイヤ径にしか適用できなかった
が、本発明によれば、一つのV溝部材でも適用できる公
称ワイヤ径範囲が広がっている。
【0054】本発明のチップは非常に融通が利く構造に
なっているので、例えば、ワイヤが局部的に多少折れ曲
がっていても、あるいは局部的に多少断面が変形してい
ても、バネの作用で押さえている通電接触子は押し戻さ
れてワイヤを通過させるので、従来の丸孔チップで見ら
れたこれらの原因によるワイヤの詰まりの発生の機会は
非常に少なくなった。
なっているので、例えば、ワイヤが局部的に多少折れ曲
がっていても、あるいは局部的に多少断面が変形してい
ても、バネの作用で押さえている通電接触子は押し戻さ
れてワイヤを通過させるので、従来の丸孔チップで見ら
れたこれらの原因によるワイヤの詰まりの発生の機会は
非常に少なくなった。
【0055】また、V溝部材を構成するセラミックス部
材はグリーンボディを切削加工するだけでよく、あるい
は安価に製作できる簡単な金型で成型できる。また通電
用接触子は基本的には平板状でよいので、製作は容易で
ある。そしてこれら部材に要求される製作の許容誤差範
囲は相当に大きくでき、製作時の歩留まりがよい。
材はグリーンボディを切削加工するだけでよく、あるい
は安価に製作できる簡単な金型で成型できる。また通電
用接触子は基本的には平板状でよいので、製作は容易で
ある。そしてこれら部材に要求される製作の許容誤差範
囲は相当に大きくでき、製作時の歩留まりがよい。
【0056】以上のように、本発明によれば、ワイヤへ
の通電が安定しているためにスパッタの発生も少なくな
り、チップ詰まりも発生せず、チップ寿命も長く、ワイ
ヤ先端狙い位置の変化も少なく、経済的な溶接トーチを
提供できるようになった。
の通電が安定しているためにスパッタの発生も少なくな
り、チップ詰まりも発生せず、チップ寿命も長く、ワイ
ヤ先端狙い位置の変化も少なく、経済的な溶接トーチを
提供できるようになった。
【図1】本発明に係る溶接チップの第1実施形態を示す
断面図である。
断面図である。
【図2】図1のA−A断面図である。
【図3】図1のB−B断面図である。
【図4】図1のC−C断面図である。
【図5】図1のD−D断面図である。
【図6】図1のE−E断面図である。
【図7】本発明の第1実施形態の溶接チップのチップ本
体部の構成図である。
体部の構成図である。
【図8】V溝部材の平面図である。
【図9】V溝部材の正面図である。
【図10】通電部材の平面図である。
【図11】通電用接触子の平面図である。
【図12】通電用接触子の正面図である。
【図13】本発明に係る溶接チップの第2実施形態を示
す断面図である。
す断面図である。
【図14】図13のA−A断面図である。
【図15】図13のB−B断面図である。
【図16】図13のC−C断面図である。
【図17】従来の溶接チップの縦断面図である。
【図18】図17の溶接チップにワイヤを通した状態を
示す横断面図である。
示す横断面図である。
【図19】従来例の特開平6−304761号公報に係
る溶接チップの横断面である。
る溶接チップの横断面である。
【図20】従来例の特開昭64−18582号公報に係
る溶接チップの縦断面図である。
る溶接チップの縦断面図である。
【図21】従来例の実開昭56−142880号公報に
係る溶接チップの縦断面図である。
係る溶接チップの縦断面図である。
1 GMA溶接用チップ 2 ガイド孔 3 入口部 4 出口部 5 ワイヤ 6 横穴 7 通電チップ 8 隙間 9 接触通電点 10 摺動子 11 板ばね 12 ねじ 13 通電チップ 14 ガイド孔 20,33 チップ 21,34 チップ本体部 22,35 ねじ 23,43 ガイド孔 24,38 V溝部材 25 平底溝 26 丸溝 27 通電部材 28 切り込み 29 板ばね 30 V溝 31,36 通電用接触子 32 平底溝 39 U溝 41,42 圧縮ばね
フロントページの続き (72)発明者 永島 利治 広島県呉市宝町5番3号 バブ日立工業株 式会社内 (72)発明者 多田 光宏 広島県呉市宝町5番3号 バブ日立工業株 式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】 アーク溶接用のトーチにおいて、 前記トーチの最先端部にワイヤを案内するV溝を備えた
耐摩耗性のガイド部材と、前記トーチの最先端部に通電
用の接触子とを配置し、 前記ガイド部材と前記通電用接触子とで前記ワイヤを挾
んで通電用接触子からワイヤに通電するように構成した
ことを特徴とするアーク溶接トーチ。 - 【請求項2】 請求項1に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記ガイド部材がトーチ本体に固定されており、前記通
電用接触子を設けたアーク電流通電部材がバネ付勢され
て前記ワイヤを挾むことを特徴とするアーク溶接トー
チ。 - 【請求項3】 請求項2に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記アーク電流通電部材はバネ付勢されてトーチ本体側
とも接触通電するよう構成したことを特徴とするアーク
溶接用トーチ。 - 【請求項4】 請求項1に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記通電用接触子を設けたアーク電流通電部材がトーチ
本体に固定されており、前記ガイド部材がバネ付勢され
て前記ワイヤを挾むことを特徴とするアーク溶接トー
チ。 - 【請求項5】 請求項1に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記ガイド部材は、耐熱性、耐摩耗性のセラミックスか
ら構成されていることを特徴とするアーク溶接トーチ。 - 【請求項6】 請求項1に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記ガイド部材は、超硬質の金属から構成され、前記V
溝を除いた全面に耐摩耗性と電気絶縁性の皮膜を形成さ
れてトーチ本体と絶縁されていることを特徴とするアー
ク溶接トーチ。 - 【請求項7】 請求項1に記載のアーク溶接トーチにお
いて、 前記通電用接触子は、アーク電流通電部材に設けられて
いて、取り外し可能な構造とされていることを特徴とす
るアーク溶接トーチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19414097A JPH1133730A (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | アーク溶接トーチ |
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JP19414097A JPH1133730A (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | アーク溶接トーチ |
Publications (1)
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JPH1133730A true JPH1133730A (ja) | 1999-02-09 |
Family
ID=16319584
Family Applications (1)
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JP19414097A Pending JPH1133730A (ja) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | アーク溶接トーチ |
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JP (1) | JPH1133730A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011526207A (ja) * | 2008-06-30 | 2011-10-06 | フロニウス・インテルナツィオナール・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 溶接トーチ用コンタクト管 |
TWI568592B (zh) * | 2009-10-22 | 2017-02-01 | 住友化學股份有限公司 | 光學層疊體及其製造方法 |
JP2018161686A (ja) * | 2017-03-24 | 2018-10-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 溶接用チップ |
CN109317790A (zh) * | 2017-08-01 | 2019-02-12 | 株式会社达谊恒 | 供电焊嘴及焊炬 |
WO2019150723A1 (ja) * | 2018-02-05 | 2019-08-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 溶接用チップ |
-
1997
- 1997-07-18 JP JP19414097A patent/JPH1133730A/ja active Pending
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JPWO2019150723A1 (ja) * | 2018-02-05 | 2021-01-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 溶接用チップ |
US11833626B2 (en) | 2018-02-05 | 2023-12-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Welding tip |
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