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JPH11327149A - ポジ型感光性組成物 - Google Patents

ポジ型感光性組成物

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Publication number
JPH11327149A
JPH11327149A JP11070372A JP7037299A JPH11327149A JP H11327149 A JPH11327149 A JP H11327149A JP 11070372 A JP11070372 A JP 11070372A JP 7037299 A JP7037299 A JP 7037299A JP H11327149 A JPH11327149 A JP H11327149A
Authority
JP
Japan
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group
acid
branched
compound
groups
Prior art date
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Granted
Application number
JP11070372A
Other languages
English (en)
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JP3949313B2 (ja
Inventor
Kunihiko Kodama
邦彦 児玉
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP07037299A priority Critical patent/JP3949313B2/ja
Publication of JPH11327149A publication Critical patent/JPH11327149A/ja
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Publication of JP3949313B2 publication Critical patent/JP3949313B2/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 感度低下をおこすことなく露光後加熱処理ま
での経時でレジストパターンの細りが生じたり、レジス
トパターンの表面形状がT型を呈することのないポジ型
感光性組成物を提供すること。 【解決手段】 特定の多環構造を有する塩基性含窒素化
合物、活性光線の照射により酸を発生する特定の化合
物、及び酸の作用により分解し、アルカリ現像液中での
溶解度を増大させる基を有する樹脂を含有するボジ型感
光性組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平版印刷板やIC
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感光性組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】平版印刷板やIC等の半導体製造工程、
液晶、サーマルヘッド等の回路基板の製造、更にその他
のフォトファブリケーション工程に使用される感光性組
成物としては、種々の組成物があり、一般的にフォトレ
ジスト感光性組成物が使用され、それは大きく分けると
ポジ型とネガ型の2種ある。
【0003】ポジ型フォトレジスト感光性組成物の一つ
として、米国特許第4,491,628号、欧州特許第249,139号
等に記載されている化学増幅系レジスト組成物がある。
化学増幅系ポジ型レジスト組成物は、遠紫外光などの放
射線の照射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒
とする反応によって、活性放射線の照射部と非照射部の
現像液に対する溶解性を変化させパターンを基板上に形
成させるパターン形成材料である。
【0004】このような例として、光分解により酸を発
生する化合物と、アセタール又はO,N−アセタール化
合物との組合せ(特開昭48−89003号)、オルト
エステル又はアミドアセタール化合物との組合せ(特開
昭51−120714号)、主鎖にアセタール又はケタ
ール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−13
3429号)、エノールエーテル化合物との組合せ(特
開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭酸化合
物化合物との組合せ(特開昭55−126236号)、
主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組合せ
(特開昭56−17345号)、第3級アルキルエステ
ル化合物との組合せ(特開昭60−3625号)、シリ
ルエステル化合物との組合せ(特開昭60−10247
号)、及びシリルエーテル化合物との組合せ(特開昭6
0−37549号、特開昭60−121446号)等を
挙げることができる。これらは原理的に量子収率が1を
越えるため、高い感光性を示す。
【0005】同様に、室温経時下では安定であるが、酸
存在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する
系として、例えば、特開昭59−45439号、特開昭
60−3625号、特開昭62−229242号、特開
昭63−27829号、特開昭63−36240号、特
開昭63−250642号、Polym.Eng.Sce.,23巻、101
2頁(1983);ACS.Sym.242巻、11頁(1984);Semicond
uctor World 1987年、11月号、91頁;Macromolecules,2
1巻、1475頁(1988);SPIE,920巻、42頁(1988)等に
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt-ブチル、2-シクロヘキセニ
ル)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合せ系が
挙げられる。これらの系も高感度を有し、遠紫外光領域
での吸収が小さいことから、超微細加工が可能な光源短
波長化に有効な系となり得る。
【0006】上記ポジ型化学増幅レジストは、アルカリ
可溶性樹脂、放射線露光によつて酸を発生する化合物
(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有しアルカリ可溶性
樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系と、酸と
の反応により分解しアルカリ可溶となる基を有する樹脂
と光酸発生剤からなる2成分系に大別できる。これら2
成分系あるいは3成分系のポジ型化学増幅レジストにお
いては、露光により光酸発生剤からの酸を介在させて、
熱処理後現像してレジストパターンを得るものである。
【0007】特開平63−149640号公報には平版
印刷版の露光後の感度安定化のためにアミン化合物を添
加することが提案されている。しかしながら、アミン化
合物を添加すると、露光により発生した酸の一部がアミ
ンにより失活し、感度が低下してしまうといった問題が
あった。また、欧州特許公開EP−A−0795786
には特定の光酸発生剤を用い、アミンとして4−ジメチ
ルアミノピリジンを添加して線幅変化抑制を提案してい
るが、従来のアミン化合物では十分な線幅変化抑制効果
を得るようにアミンを添加すると、感度低下が起こって
しまっていた。また、解像力についても十分なレベルと
はいえなかった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、感度低下をおこすことなく露光後加熱処理までの経
時でレジストパターンの細りが生じたり、レジストパタ
ーンの表面形状がT型(T−top)を呈することのな
いポジ型感光性組成物を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、下記の構成に
よって達成された。 (1)(a)下記一般式(I)で表される多環構造を有
する塩基性含窒素化合物、(b)活性光線の照射により
酸を発生する下記一般式(II)〜(IV)で表される
化合物の少なくとも一種、及び(c)酸の作用により分
解し、アルカリ現像液中での溶解度を増大させる基を有
する樹脂を含有することを特徴とするボジ型感光性組成
物。
【0010】
【化4】
【0011】(式(I)中、Y,Zは、同一でも異なっ
てもよく、ヘテロ原子を含んでいてもよく、置換しても
よい直鎖、分岐、環状アルキレン基を表す。)
【0012】
【化5】
【0013】(式中、R1 〜R37は水素原子、直鎖、分
岐、環状アルキル基、直鎖、分岐、環状アルコキシ基、
ヒドロキシ基、ハロゲン原子、または−S−R38基を表
す。R 38はR1 〜R37と同義の直鎖、分岐、環状アルキ
ル基またはアリール基を表す。X- は分岐または環状の
炭素数8個以上のアルキル基およびアルコキシ基の群の
中から選ばれる基を少なくとも1個有するか、直鎖、分
岐または環状の炭素数4〜7のアルキル基およびアルコ
キシ基の群の中から選ばれる基を少なくとも2個有する
か、若しくは直鎖、分岐または環状の炭素数1〜3のア
ルキル基およびアルコキシ基の群の中から選ばれる基を
少なくとも3個有するベンゼンスルホン酸、ナフタレン
スルホン酸またはアントラセンスルホン酸のアニオンを
表す。あるいはエステル基、R39−CO−基、R40−C
ONH−基、R41−NH−基、R42−OCONH−基、
43−NHCOO−基、R44−NHCONH−基、R 45
−NHCSN−基、R46−SO2NH−基、およびニト
ロ基の群の中から選ばれる基を少なくとも1個有するベ
ンゼンスルホン酸、ナフタレンスルホン酸またアンアト
ラセンスルホン酸のアニオンを表す。R39〜R46はR38
と同義の直鎖、分岐、環状アルキル基またはアリール基
を表す。)
【0014】(2)(d)酸により分解し得る基を有
し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3000以下の低分子溶解阻止化合物を、
更に含有することを特徴とする(1)に記載のポジ型感
光性組成物。 (3)(a)(1)に記載の一般式(I)で表される多
環構造を有する塩基性含窒素化合物、(b)(2)に記
載の活性光線の照射により酸を発生する一般式(II)
〜(IV)で表される化合物の少なくとも一種、(d)
酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶
解度が酸の作用により増大する、分子量3000以下の
低分子溶解阻止化合物、及び(e)水に不溶でアルカリ
現像液に可溶な樹脂を含有することを特徴とするホジ型
感光性組成物。 (4)(c)酸の作用により分解し、アルカリ現像液中
での溶解度を増大させる基を有する樹脂が、下記一般式
(IV)及び(V)で表される繰り返し構造単位を含む樹
脂であることを特徴とする(1)または(2)に記載の
ポジ型感光性組成物。
【0015】
【化6】
【0016】(上記式中、Lは、水素原子、直鎖、分
岐、または環上のアルキル基、又は置換されていてもよ
いアラルキル基を表わす。Zは、直鎖、分岐、あるいは
環状のアルキル基、又は置換されていてもよいアラルキ
ル基を表わす。またZとLが結合して5又は6員環を形
成してもよい。)
【0017】(5)(b)活性光線の照射により酸を発
生する一般式(II)〜(IV)の化合物においてX-が分
岐または環状の炭素数8個以上のアルキル基およびアル
コキシ基の群から選ばれる基を少なくとも1つ有する
か、直鎖、分岐または環状の炭素数4〜7のアルキル基
およびアルコキシ基の群から選ばれる基を少なくとも2
個有するか、もしくは直鎖、分岐または環状の炭素数1
〜3個のアルキル基およびアルコキシ基の群から選ばれ
る基を少なくとも3個有するか、あるいはエステル基を
有するベンゼンスルホン酸のアニオンであることを特徴
とする(1)〜(4)に記載のポジ型感光性組成物。
【0018】本発明のポジ型感光性組成物は、塩基性窒
素化合物として上記一般式(I)で表される化合物を用
いることにより、化学増幅型レジストにおいて、添加量
を増やして線幅を改良しても感度の低下を起こすという
問題が解決され、優れたレジストパターンが得られた。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明のポジ型感光性組成
物に含有される化合物、樹脂等の成分について詳細に説
明する。
【0020】〔I〕多環構造を有する塩基性含窒素化合
物((a)成分) 本発明の多環構造を有する塩基性含窒素化合物は前記一
般式(I)で表され、Y,Zは、同一でも異なっていて
もよく、ヘテロ原子を含んでいてもよく、置換してもよ
い直鎖、分岐、環状アルキレン基を表す。ヘテロ原子と
しては、窒素原子、硫黄原子、酸素原子が挙げられる。
アルキレン基としては、炭素数2〜10が好ましく、よ
り好ましくは炭素数2〜5である。アルキレン基の置換
基としては、炭素数1〜6のアルキル基、アリール基、
アルケニル基の他、ハロゲン原子、ハロゲン置換アルキ
ル基が挙げられる。本発明の多環構造を有する塩基性含
窒素化合物として具体的には以下の化合物を挙げること
ができるが、本発明はこれらに限定されるものではな
い。
【0021】
【化7】
【0022】中でも一般式(I)で表される化合物とし
て、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデカ−
7−エン、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノナ
−5−エンが特に好ましい。
【0023】本発明の塩基性含窒素化合物は、単独であ
るいは2種以上一緒に用いられる。塩基性含窒素化合物
の使用量は、感光性組成物(溶媒を除く)100重量部
に対し、通常0.001〜10重量部、好ましくは0.
01〜5重量部である。0.001重量部未満では本発
明の効果が得られず、10重量部を越えると感度の低下
や露光部の現像性が悪化する傾向がある。
【0024】〔II〕活性光線の照射により酸を発生する
一般式(II)〜(IV)で表される化合物((b)成分) 前記一般式(II)〜(IV)における、R1 〜R46の直
鎖、分岐アルキル基としては、置換基を有してもよい、
メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、se
c−ブチル基、t−ブチル基のような炭素数1〜4個の
ものが挙げられる。環状アルキル基としては、置換基を
有してもよい、シクロプロピル基、シクロペンチル基、
シクロヘキシル基のような炭素数3〜8個のものが挙げ
られる。R1 〜R37のアルコキシ基としては、メトキシ
基、エトキシ基、ヒドロキシエトキシ基、プロポキシ
基、n−ブトキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキ
シ基、t−ブトキシ基のような炭素数1〜4個のものが
挙げられる。R1 〜R37のハロゲン原子としては、フッ
素原子、塩素原子、臭素原子、沃素原子を挙げることが
できる。R38〜R46のアリール基としては、フェニル
基、トリル基、メトキシフェニル基、ナフチル基のよう
な置換基を有してもよい炭素数6〜14個のものが挙げ
られる。これらの置換基として好ましくは、炭素数1〜
4個のアルコキシ基、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素
原子、沃素原子)、炭素数6〜10個のアリール基、炭
素数2〜6個のアルケニル基、シアノ基、ヒドロキシ
基、カルボキシ基、アルコキシカルボニル基、ニトロ基
等が挙げられる。
【0025】本発明で使用される一般式(II)〜(IV)で
表わされるスルホニウム、ヨードニウム化合物は、その
対アニオン、X- として、分岐状又は環状の炭素数8個
以上、好ましくは10個以上のアルキル基又はアルコキ
シ基を少なくとも1個以上有するか、直鎖状、分岐状又
は環状の炭素数4〜7個のアルキル基又はアルコキシ基
を少なくとも2個以上有するか、もしくは直鎖状、分岐
状、または環状の炭素数1〜3個のアルキル基又はアル
コキシ基を少なくとも3個有するベンゼンスルホン酸、
ナフタレンスルホン酸又はアントラセンスルホン酸のア
ニオンを有する。あるいはエステル基、R38−CO−
基、R39−CONH−基、R40−NH−基、R41−OC
ONH−基、R42−NHCOO−基、R43−NHCON
H−基、R 44−NHCSN−基、R45−SO2NH−
基、およびニトロ基の群の中から選ばれる基を少なくと
も1個有するベンゼンスルホン酸、ナフタレンスルホン
酸またアンアトラセンスルホン酸のアニオンを有する。
【0026】これにより露光後発生する酸(上記基を有
するベンゼンスルホン酸、ナフタレンスルホン酸、又は
アントラセンスルホン酸)の拡散性が小さくなり、且つ
該スルホニウム、ヨードニウム化合物の溶剤溶解性が向
上する。特に、拡散性を低減させるという観点からは上
記基として直鎖状のアルキル基又はアルコキシ基より、
分岐状又は環状のアルキル基又はアルコキシ基の方が好
ましい。上記基が1個の場合は、直鎖状と分岐状又は環
状との拡散性の差異はより顕著になる。
【0027】露光から後加熱までの経時による線幅変化
抑制の観点では分岐または環状の炭素数8個以上のアル
キル基およびアルコキシ基の群から選ばれる基を少なく
とも1つ有するか、直鎖、分岐または環状の炭素数4〜
7のアルキル基およびアルコキシ基の群から選ばれる基
を少なくとも2個有するか、もしくは直鎖、分岐または
環状の炭素数1〜3個のアルキル基およびアルコキシ基
の群から選ばれる基を少なくとも3個有するか、あるい
はエステル基を有するベンゼンスルホン酸のアニオンが
最も好ましい。
【0028】炭素数8個以上、好ましくは炭素数8〜2
0個のアルキル基としては、分岐状又は環状のオクチル
基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基、
トリデシル基、テトラデシル基、オクタデシル基等が挙
げられる。炭素数8個以上、好ましくは炭素数8〜20
個のアルコキシ基としては、分岐状又は環状のオクチル
オキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、ウンデシ
ルオキシ基、ドデシルオキシ基、トリデシルオキシ基、
テトラデシルオキシ基、オクタデシルオキシ基等が挙げ
られる。炭素数4〜7個のアルキル基としては、直鎖
状、分岐状又は環状のブチル基、ペンチル基、ヘキシル
基、ヘプチル基等が挙げられる。炭素数4〜7個のアル
コキシ基としては、直鎖状、分岐状又は環状のブトキシ
基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオ
キシ基等が挙げられる。炭素数1〜3個のアルキル基と
しては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプ
ロピル基が挙げられる。炭素数1〜3個のアルコキシ基
としては、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ
基、イソプロポキシ基が挙げられる。
【0029】また、X- で表される芳香族スルホン酸に
は、上記特定の置換基以外に、ハロゲン原子(フッ素原
子、塩素原子、臭素原子、沃素原子)、炭素数6〜10
個のアリール基、シアノ基、スルフィド基、ヒドロキシ
基、カルボキシ基、ニトロ基等を置換基として含有して
もよい。以下に、これらの化合物の具体例を示すが、本
発明はこれらに限定されるものではない。
【0030】
【化8】
【0031】
【化9】
【0032】
【化10】
【0033】
【化11】
【0034】
【化12】
【0035】
【化13】
【0036】
【化14】
【0037】(b)成分、例えば一般式(II)、一般式
(III )、一般式(IV)で表される化合物は、1種単独
で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。
上記(b)成分、例えば一般式(II)、一般式(III
)、一般式(IV)で表される化合物は、米国特許第
3,734,928号明細書に記載の方法、Macromolec
ules, vol. 10, 1307(1977), Journal of Organic Chem
istry, vol. 55, 4222(1990), J. Radiat. Curing, vo
l. 5(1), 2(1978) に記載の方法などを用い、更にカウ
ンターアニオンを交換することにより合成できる。
(b)成分、例えば一般式(II)、一般式(III )、一
般式(IV)で表される化合物の感光性組成物中の含量
は、感光性組成物の固形分に対し、0.1〜20重量%
が適当であり、好ましくは0.5〜10重量%、更に好
ましくは1〜7重量%である。
【0038】〔III 〕(b’)その他の併用しうる光酸
発生化合物 本発明の感光性組成物において、酸を発生する上記
(b)成分以外に、活性光線又は放射線の照射により分
解して酸を発生する他の化合物(以下、「(b’)成
分」ともいう)を併用してもよい。(b)成分と併用し
うる(b’)成分の含有量は、使用する全光酸発生剤の
70重量%未満が好ましく、より好ましくは60重量%
未満、更に好ましくは50重量%未満である。
【0039】そのような併用可能な光酸発生剤として
は、光カチオン重合の光開始剤、光ラジカル重合の光開
始剤、色素類の光消色剤、光変色剤、あるいはマイクロ
レジスト等に使用されている公知の光により酸を発生す
る化合物及びそれらの混合物を適宜に選択して使用する
ことができる。
【0040】たとえば S.I.Schlesinger,Photogr.Sci.E
ng.,18,387(1974)、T.S.Bal etal,Polymer,21,423(198
0)等に記載のジアゾニウム塩、米国特許第4,069,055
号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、特願平3-140,140
号等に記載のアンモニウム塩、D.C.Necker etal,Macrom
olecules,17,2468(1984)、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Con
f.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)、米国特許第
4,069,055号、同4,069,056号等に記載のホスホニウム
塩、J.V.Crivello etal,Macromorecules,10(6),1307(19
77)、Chem.&Eng.News,Nov.28,p31(1988)、欧州特許第10
4,143号、米国特許第339,049 号、同第410,201号、特開
平2-150,848号、特開平2-296,514号等に記載のヨードニ
ウム塩、J.V.Crivello etal,Polymer J.17,73(1985)、
J.V.Crivello etal.J.Org.Chem.,43,3055(1978)、W.R.W
att etal,J.Polymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,22,1789(1
984)、J.V.Crivello etal,Polymer Bull.,14,279(198
5)、J.V.Crivello etal,Macromorecules,14(5),1141(19
81) 、J.V.Crivello etal,J.PolymerSci.,Polymer Che
m.Ed.,17,2877(1979)、欧州特許第370,693 号、同3,90
2,114号、同233,567号、同297,443号、同297,442号、米
国特許第4,933,377号、同161,811号、同410,201号、同3
39,049号、同4,760,013号、同4,734,444号、同2,833,82
7 号、独国特許第2,904,626号、同3,604,580号、同3,60
4,581号等に記載のスルホニウム塩、J.V.Crivello eta
l,Macromorecules,10(6),1307(1977)、J.V.Crivello et
al,J.PolymerSci.,Polymer Chem.Ed., 17,1047(1979)
等に記載のセレノニウム塩、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Co
nf.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988) 等に記載の
アルソニウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815
号、特公昭46-4605 号、特開昭48-36281号、特開昭55-3
2070号、特開昭60-239736号、特開昭61-169835 号、特
開昭61-169837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401
号、特開昭63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の
有機ハロゲン化合物、K.Meier etal,J.Rad.Curing,13
(4),26(1986)、T.P.Gill etal,Inorg.Chem.,19,3007(1
980)、D.Astruc,Acc.Chem.Res.,19(12),377(1896)、特
開平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロゲン化
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W.Walker etalJ.Am.Chem.Soc.,110,7170(1988)、 S.C.Bu
sman etal,J.Imaging Technol.,11(4),191(1985)、H.M.H
oulihan etal,Macormolecules,21,2001(1988)、P.M.Coll
ins etal,J.Chem.Soc.,Chem.Commun.,532(1972)、S.Haya
se etal,Macromolecules,18,1799(1985)、E.Reichmanis
etal,J.Electrochem.Soc.,SolidState Sci.Technol.,13
0(6)、 F.M.Houlihan etal,Macromolcules,21,2001(198
8)、欧州特許第0290,750号、同046,083号、同156,535
号、同271,851号、同0,388,343 号、 米国特許第3,901,7
10号、同4,181,531号、特開昭60-198538号、特開昭53-1
33022 号等に記載のo−ニトロベンジル型保護基を有す
る光酸発生剤、M.TUNOOKA etal,Polymer Preprints Ja
pan,35(8)、G.Berner etal,J.Rad.Curing,13(4)、W.J.M
ijs etal,Coating Technol.,55(697),45(1983),Akzo、H.
Adachi etal,Polymer Preprints,Japan,37(3)、 欧州特
許第0199,672号、同84515号、同199,672号、同044,115
号、同0101,122号、米国特許第618,564号、同4,371,605
号、同4,431,774号、特開昭64-18143号、特開平2-24575
6号、特願平3-140109号等に記載のイミノスルフォネ−
ト等に代表される光分解してスルホン酸を発生する化合
物、特開昭61-166544号等に記載のジスルホン化合物を
挙げることができる。
【0041】また、これらの光により酸を発生する基、
あるいは化合物をポリマーの主鎖又は側鎖に導入した化
合物、たとえば、M.E.Woodhouse etal,J.Am.Chem.So
c.,104,5586(1982)、S.P.Pappas etal,J.Imaging Sc
i.,30(5),218(1986)、S.Kondo etal,Makromol.Chem.,Ra
pid Commun.,9,625(1988)、Y.Yamadaetal,Makromol.Che
m.,152,153,163(1972) 、J.V.Crivello etal,J.Polymer
Sci.,Polymer Chem.Ed.,17,3845(1979)、米国特許第3,8
49,137号、独国特許第3914407号、特開昭63-26653号、
特開昭55-164824号、特開昭62-69263号、特開昭63-1460
38 号、特開昭63-163452 号、特開昭62-153853号、特開
昭63-146029号等に記載の化合物を用いることができ
る。
【0042】更にV.N.R.Pillai,Synthesis,(1),1(198
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
【0043】上記併用可能な活性光線又は放射線の照射
により分解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に
用いられるものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体又は一般式(PAG
2)で表されるS−トリアジン誘導体。
【0044】
【化15】
【0045】式中、R201 は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、R202 は置換もしくは未置換の
アリール基、アルケニル基、アルキル基、−C(Y)3
を示す。Yは塩素原子又は臭素原子を示す。具体的には
以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定され
るものではない。
【0046】
【化16】
【0047】
【化17】
【0048】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、又は一般式(PAG4)で表される
スルホニウム塩。
【0049】
【化18】
【0050】ここで式Ar1、Ar2は各々独立に置換も
しくは未置換のアリール基を示す。好ましい置換基とし
ては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアルキル
基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボキシ
ル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メルカ
プト基及びハロゲン原子が挙げられる。
【0051】R203 、R204 、R205 は各々独立に、置
換もしくは未置換のアルキル基、アリール基を示す。好
ましくは、炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8
のアルキル基及びそれらの置換誘導体である。好ましい
置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8の
アルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、ニトロ基、
カルボキシル基、ヒロドキシ基及びハロゲン原子であ
り、アルキル基に対しては炭素数1〜8のアルコキシ
基、カルボキシル基、アルコキシカルボニル基である。
【0052】Z- は対アニオンを示し、例えばB
4 - 、AsF6 - 、PF6 - 、SbF6 - 、SiF6
2- 、ClO4 - 、CF3SO3 - 等のパーフルオロアル
カンスルホン酸アニオン、ペンタフルオロベンゼンスル
ホン酸アニオン、ナフタレン−1−スルホン酸アニオン
等の縮合多核芳香族スルホン酸アニオン、アントラキノ
ンスルホン酸 アニオン、スルホン酸基含有染料等を挙
げることができるがこれらに限定されるものではない。
【0053】またR203 、R204 、R205 のうちの2つ
及びAr1、Ar2はそれぞれの単結合又は置換基を介し
て結合してもよい。
【0054】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0055】
【化19】
【0056】
【化20】
【0057】一般式(PAG3)、(PAG4)で示さ
れる上記オニウム塩は公知であり、例えばJ.W.Knapczyk
etal,J.Am.Chem.Soc.,91,145(1969)、A.L.Maycok eta
l, J.Org.Chem.,35,2532,(1970)、E.Goethas etal ,Bul
l.Soc.Chem.Belg.,73,546,(1964) 、H.M.Leicester、J.A
me.Chem.Soc.,51,3587(1929)、J.V.Crivello etal,J.Po
lym.Chem.Ed.,18,2677(1980)、米国特許第2,807,648 号
及び同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記載の方
法により合成することができる。
【0058】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体、又は下記一般式(PAG6)で表さ
れるイミノスルホネート誘導体。
【0059】
【化21】
【0060】式中、Ar3、Ar4は各々独立に置換もし
くは未置換のアリール基を示す。R 206 は置換もしくは
未置換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もし
くは未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレ
ン基を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0061】
【化22】
【0062】
【化23】
【0063】
【化24】
【0064】
【化25】
【0065】〔IV〕(c)酸の作用により分解し、アル
カリ現像液中での溶解度を増大させる基を有する樹脂
(以下、単に「(c)成分」ともいう) 本発明における化学増幅型レジストにおいて用いられる
酸により分解し、アルカリ現像液中での溶解性を増大さ
せる基(酸で分解しうる基ともいう)を有する樹脂とし
ては、樹脂の主鎖又は側鎖、あるいは、主鎖及び側鎖の
両方に、酸で分解し得る基を有する樹脂である。この
内、酸で分解し得る基を側鎖に有する樹脂がより好まし
い。酸で分解し得る基として好ましい基は、−COOA
0、−O−B0基であり、更にこれらを含む基としては、
−R0−COOA0、又は−Ar−O−B0で示される基が
挙げられる。ここでA0は、−C(R01)(R02)(R
03)、−Si(R01)(R02)(R0 3)もしくは−C
(R04)(R05)−O−R06基を示す。B0 は、A0
は−CO−O−A0基を示す(R0、R01〜R06、及びA
rは後述のものと同義)。
【0066】酸分解性基としては好ましくは、シリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、テトラヒ
ドロピラニルエーテル基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
等である。更に好ましくは、第3級アルキルエステル
基、第3級アルキルカーボネート基、クミルエステル
基、アセタール基、テトラヒドロピラニルエーテル基で
ある。特に好ましくはアセタール基である。
【0067】次に、これら酸で分解し得る基が側鎖とし
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有するアルカリ可溶性樹脂である。例
えば、後述するアルカリ可溶性樹脂を挙げることができ
る。
【0068】これらアルカリ可溶性樹脂のアルカリ溶解
速度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170
A/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A
/秒以上のものである(ここでAはオングストロー
ム)。また、矩形プロファイルを達成する点から遠紫外
光やエキシマレーザー光に対する透過率が高いアルカリ
可溶性樹脂が好ましい。好ましくは、1μm膜厚の24
8nmでの透過率が20〜90%である。このような観
点から、特に好ましいアルカリ可溶性樹脂は、o−,m
−,p−ポリ(ヒドロキシスチレン)及びこれらの共重
合体、水素化ポリ(ヒドロキシスチレン)、ハロゲンも
しくはアルキル置換ポリ(ヒドロキシスチレン)、ポリ
(ヒドロキシスチレン)の一部、O−アルキル化もしく
はO−アシル化物、スチレン−ヒドロキシスチレン共重
合体、α−メチルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合
体及び水素化ノボラック樹脂である。
【0069】本発明に用いられる酸で分解し得る基を有
する樹脂は、欧州特許254853号、特開平2−25
850号、同3−223860号、同4−251259
号等に開示されているように、アルカリ可溶性樹脂に酸
で分解し得る基の前駆体を反応させる、もしくは、酸で
分解し得る基の結合したアルカリ可溶性樹脂モノマーを
種々のモノマーと共重合して得ることができる。
【0070】本発明に使用される酸により分解し得る基
を有する樹脂の具体例を以下に示すが、本発明がこれら
に限定されるものではない。
【0071】p−t−ブトキシスチレン/p−ヒドロキ
シスチレン共重合体、p−(t−ブトキシカルボニルオ
キシ)スチレン/p−ヒドロキシスチレン共重合体、p
−(t−ブトキシカルボニルメチルオキシ)スチレン/
p−ヒドロキシスチレン共重合体、4−(t−ブトキシ
カルボニルメチルオキシ)−3−メチルスチレン/4−
ヒドロキシ−3−メチルスチレン共重合体、p−(t−
ブトキシカルボニルメチルオキシ)スチレン/p−ヒド
ロキシスチレン(10%水素添加物)共重合体、m−
(t−ブトキシカルボニルメチルオキシ)スチレン/m
−ヒドロキシスチレン共重合体、o−(t−ブトキシカ
ルボニルメチルオキシ)スチレン/o−ヒドロキシスチ
レン共重合体、p−(クミルオキシカルボニルメチルオ
キシ)スチレン/p−ヒドロキシスチレン共重合体、ク
ミルメタクリレート/メチルメタクリレート共重合体、
4−t−ブトキシカルボニルスチレン/マレイン酸ジメ
チル共重合体、ベンジルメタクリレート/テトラヒドロ
ピラニルメタクリレート、
【0072】p−(t−ブトキシカルボニルメチルオキ
シ)スチレン/p−ヒドロキシスチレン/スチレン共重
合体、p−t−ブトキシスチレン/p−ヒドロキシスチ
レン/フマロニトリル共重合体、t−ブトキシスチレン
/ヒドロキシエチルメタクリレート共重合体、スチレン
/N−(4−ヒドロキシフェニル)マレイミド/N−
(4−t−ブトキシカルボニルオキシフェニル)マレイ
ミド共重合体、p−ヒドロキシスチレン/t−ブチルメ
タクリレート共重合体、p−ヒドロキシスチレン/t−
ブチルアクリレート共重合体、p−(t−ブトキシカル
ボニルメチルオキシ)スチレン/p−ヒドロキシスチレ
ン/N−メチルマレイミド共重合体、t−ブチルメタク
リレート/1−アダマンチルメチルメタクリレート共重
合体、p−ヒドロキシスチレン/t−ブチルアクリレー
ト/p−アセトキシスチレン共重合体、p−ヒドロキシ
スチレン/t−ブチルアクリレート/p−(t−ブトキ
シカルボニルオキシ)スチレン共重合体、p−ヒドロキ
シスチレン/t−ブチルアクリレート/p−(t−ブト
キシカルボニルメチルオキシ)スチレン共重合体、
【0073】
【化26】
【0074】酸で分解し得る基の含有率は、樹脂中の酸
で分解し得る基の数(B)と酸で分解し得る基で保護さ
れていないアルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/
(B+S)で表される。含有率は好ましくは0.01〜
0.7、より好ましくは0.05〜0.50、更に好ま
しくは0.10〜0.50である。B/(B+S)>
0.7ではPEB後の膜収縮、基板への密着不良やスカ
ムの原因となり好ましくない。一方、B/(B+S)<
0.01では、パターン側壁に顕著に定在波が残ること
があるので好ましくない。
【0075】本発明において、酸で分解し得る基を有す
る樹脂としては、上述の一般式(V)及び一般式(VI)で
示される繰り返し構造単位を含む樹脂が好ましい。これ
により、高解像を有し、且つ露光から加熱までの経時に
おける性能変化がより少なくなる。一般式(V) のL及
びZにおけるアルキル基としては、メチル基、エチル
基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソ
ブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、シクロペンチル
基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、オクチル基、ドデ
シル基などの炭素数1〜20個の直鎖、分岐あるいは環
状のものがあげられる。アルキル基の好ましい置換基と
してはアルコキシ基、水酸基、ハロゲン原子、ニトロ
基、アシル基、アシルアミノ基、スルホニルアミノ基が
あげられる。
【0076】L、Zにおけるアラルキル基としては、置
換又は未置換のベンジル基、置換又は未置換のフェネチ
ル基などの炭素数7〜15個のものが挙げられる。アラ
ルキル基の好ましい置換基としてはアルコキシ基、水酸
基、ハロゲン原子、ニトロ基、アシル基、アシルアミノ
基、スルホニルアミノ基があげられる。
【0077】LとZが互いに結合して形成する5又は6
員環としては、テトラヒドロピラン環、テトラヒドロフ
ラン環等が挙げられる。
【0078】上記樹脂中の一般式(V) で示される繰り
返し構造単位と一般式(VI)で示される繰り返し構造単
位との比率は、好ましくは1/99〜60/40であ
り、より好ましくは5/95〜50/50であり、更に
好ましくは10/90〜40/60である。
【0079】上述の一般式(V) 及び一般式(VI)で示
される繰り返し構造単位を含む樹脂には、他のモノマー
から誘導される構造単位が含まれてもよい。他のモノマ
ーとしては、水素化ヒドロキシスチレン;ハロゲン、ア
ルコキシもしくはアルキル置換ヒドロキシスチレン;ス
チレン;ハロゲン、アルコキシ、アシロキシもしくはア
ルキル置換スチレン;無水マレイン酸;アクリル酸誘導
体;メタクリル酸誘導体;N−置換マレイミド等を挙げ
ることができるが、これらに限定されるものではない。
一般式(V) 及び一般式(VI)の構造単位と他のモノマ
ーの構造単位との比率は、モル比で、〔(V) +(V
I)〕/〔他のモノマー成分〕=100/0〜50/5
0、好ましくは100/0〜60/40、更に好ましく
は100/0〜70/30である。
【0080】上述の一般式(V) 及び一般式(VI)で示
される繰り返し構造単位を含む樹脂の具体例としては、
下記のものが挙げられる。
【0081】
【化27】
【0082】
【化28】
【0083】
【化29】
【0084】
【化30】
【0085】上記具体例において、Meはメチル基、E
tはエチル基、nBuはn−ブチル基、iso−Buは
イソブチル基、tBuはt−ブチル基を表す。
【0086】酸分解性基としてアセタール基を用いる場
合、アルカリ溶解速度調整及び耐熱性向上のために合成
段階においてポリヒドロキシ化合物を添加してポリマー
主鎖を多官能アセタール基で連結する架橋部位を導入し
てもよい。ポリヒドロキシ化合物の添加量は樹脂の水酸
基の量に対して、0.01〜5mol%、更に好ましく
は0.05〜4mol%である。ポリヒドロキシ化合物
としては、フェノール性水酸基あるいはアルコール性水
酸基を2〜6個持つものがあげられ、好ましくは水酸基
の数が2〜4個であり、更に好ましくは水酸基の数が2
又は3個である。以下にポリヒドロキシ化合物の具体例
を示すが、これに限定されるものではない。
【0087】
【化31】
【0088】酸で分解し得る基を有する樹脂の重量平均
分子量(Mw)は、2,000〜300,000の範囲
であることが好ましい。2,000未満では未露光部の
現像により膜減りが大きく、300,000を越えると
樹脂自体のアルカリに対する溶解速度が遅くなり感度が
低下してしまう。ここで、重量平均分子量は、ゲルパー
ミエーションクロマトグラフィーのポリスチレン換算値
をもって定義される。
【0089】また、本発明の感光性組成物の(c)成
分、即ち酸で分解し得る基を有する樹脂は、2種類以上
混合して使用してもよい。(c)成分の使用量は、感光
性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準として40〜9
9重量%、好ましくは60〜98重量%である。
【0090】〔V〕(d)低分子酸分解性溶解阻止化合
物 本発明の感光性組成物は、(d)低分子酸分解性溶解阻
止化合物(以下、単に「(d)成分」ともいう)を含有
してもよい。(d)成分は、酸により分解し得る基を有
し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3000以下、好ましくは200〜2,0
00、更に好ましくは300〜1,500の低分子量化
合物である。(d)成分の含量は、酸分解性基含有樹脂
と光酸発生剤と組み合わせる場合には、感光性組成物の
全重量(溶媒を除く)を基準として、好ましくは3〜4
5重量%、より好ましくは5〜30重量%、更に好まし
くは10〜20重量%である。
【0091】好ましい(d)成分、即ち好ましい酸分解
性溶解阻止化合物は、その構造中に酸で分解し得る基を
少なくとも2個有し、且つ該酸分解性基間の距離が、最
も離れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少
なくとも8個経由する化合物である。より好ましい酸分
解性溶解阻止化合物は、(イ)その構造中に酸で分解し
得る基を少なくとも2個有し、且つ該酸分解性基間の距
離が、最も離れた位置において、酸分解性基を除く結合
原子を少なくとも10個、好ましくは少なくとも11
個、更に好ましくは少なくとも12個経由する化合物、
及び(ロ)酸分解性基を少なくとも3個有し、該酸分解
性基間の距離が、最も離れた位置において、酸分解性基
を除く結合原子を少なくとも9個、好ましくは少なくと
も10個、更に好ましくは少なくとも11個経由する化
合物である。また、上記結合原子の上限は、好ましくは
50個、より好ましくは30個である。
【0092】酸分解性溶解阻止化合物が、酸分解性基を
3個以上、好ましくは4個以上有する場合、また酸分解
性基を2個有する場合においても、該酸分解性基が互い
にある一定の距離以上離れていれば、アルカリ可溶性樹
脂に対する溶解阻止性が著しく向上する。なお、酸分解
性基間の距離は、酸分解性基を除く、経由結合原子数で
示される。例えば、下記の化合物(1)、(2)の場
合、酸分解性基間の距離は、各々結合原子4個であり、
化合物(3)では結合原子12個である。
【0093】
【化32】
【0094】また、酸分解性溶解阻止化合物は、1つの
ベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有していてもよい
が、好ましくは、1つのベンゼン環上に1個の酸分解性
基を有する骨格から構成される化合物である。
【0095】酸により分解し得る基、即ち−COO−A
0 、−O−B0基を含む基としては、−R0−COO−A
0、又は−Ar−O−B0で示される基が挙げられる。こ
こでA0は、−C(R01)(R02)(R03)、−Si
(R01)(R02)(R0 3)もしくは−C(R04
(R05)−O−R06基を示す。B0は、A0又は−CO−
O−A0基を示す。R01、R02、R03、R04及びR
05は、同一又は異なって、水素原子、アルキル基、シク
ロアルキル基、アルケニル基もしくはアリール基を示
し、R06はアルキル基もしくはアリール基を示す。但
し、R01〜R03の内少なくとも2つは水素原子以外の基
であり、又、R01〜R03、及びR04〜R06の内の2つの
基が結合して環を形成してもよい。R0は置換基を有し
ていてもよい2価以上の脂肪族もしくは芳香族炭化水素
基を示し、−Ar−は単環もしくは多環の置換基を有し
ていてもよい2価以上の芳香族基を示す。
【0096】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0097】酸分解性基として好ましくは、シリルエー
テル基、クミルエステル基、アセタール基、テトラヒド
ロピラニルエーテル基、エノールエーテル基、エノール
エステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級のア
ルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基等
を挙げることができる。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基である。
【0098】(d)成分は、好ましくは、特開平1−2
89946号、特開平1−289947号、特開平2−
2560号、特開平3−128959号、特開平3−1
58855号、特開平3−179353号、特開平3−
191351号、特開平3−200251号、特開平3
−200252号、特開平3−200253号、特開平
3−200254号、特開平3−200255号、特開
平3−259149号、特開平3−279958号、特
開平3−279959号、特開平4−1650号、特開
平4−1651号、特開平4−11260号、特開平4
−12356号、特開平4−12357号、特願平3−
33229号、特願平3−230790号、特願平3−
320438号、特願平4−25157号、特願平4−
52732号、特願平4−103215号、特願平4−
104542号、特願平4−107885号、特願平4
−107889号、同4−152195号等の明細書に
記載されたポリヒドロキシ化合物のフエノール性OH基
の一部もしくは全部を上に示した基、−R0−COO−
0もしくはB0基で結合し、保護した化合物を包含す
る。
【0099】更に好ましくは、特開平1−289946
号、特開平3−128959号、特開平3−15885
5号、特開平3−179353号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
255号、特開平3−259149号、特開平3−27
9958号、特開平4−1650号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平4−25157号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物を用い
たものが挙げられる。
【0100】より具体的には、下記一般式[I]〜[V
III]で表される化合物が挙げられる。
【0101】
【化33】
【0102】
【化34】
【0103】
【化35】
【0104】ここで、R101 、R102 、R108
130 :同一又は異なって、水素原子、−R0−COO
−C(R01)(R02)(R03)、又は−CO−O−C
(R01)(R02)(R 03)、但し、R0、R01、R02
びR03の定義は前記と同じである。
【0105】R100 :−CO−,−COO−,−NHC
ONH−,−NHCOO−,−O−、−S−,−SO
−,−SO2−,−SO3−,もしくは
【0106】
【化36】
【0107】ここで、G=2〜6 但し、G=2の時は
150 、R151 のうち少なくとも一方はアルキル基、 R150 、R151 :同一又は異なって、水素原子,アルキ
ル基,アルコキシ基、−OH,−COOH,−CN,ハ
ロゲン原子,−R152 −COOR153 もしくは−R154
−OH、 R152 、R154 :アルキレン基、 R153 :水素原子,アルキル基,アリール基,もしくは
アラルキル基、 R99、R103 〜R107 、R109 、R111 〜R118 、R
128 〜R129 、R131〜R134 、R138 ,R139 :同一
または異なって、水素原子,水酸基,アルキル基,アル
コキシ基,アシル基,アシロキシ基,アリール基,アリ
ールオキシ基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,ハ
ロゲン原子,ニトロ基,カルボキシル基,シアノ基,も
しくは −N(R155)(R156) (R155 、R156:H,アルキ
ル基,も しくはアリール基) R110 :単結合,アルキレン基,もしくは
【0108】
【化37】
【0109】R157 、R159 :同一又は異なって、単結
合,アルキレン基,−O−,−S−,−CO−,もしく
はカルボキシル基、 R158 :水素原子,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,ニトロ基,水酸基,シ
アノ基,もしくはカルボキシル基、但し、水酸基が酸分
解性基(例えば、t−ブトキシカルボニルメチル基、テ
トラヒドロピラニル基、1−エトキシ−1−エチル基、
1−t−ブトキシ−1−エチル基)で置き換ってもよ
い。
【0110】R119 、R120 :同一又は異なって、メチ
レン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメチレン
基,もしくはハロアルキル基、但し本発明において低級
アルキル基とは炭素数1〜4のアルキル基を指す、 R124 〜R127 :同一又は異なって、水素原子もしくは
アルキル基、 R135 〜R137 :同一又は異なって、水素原子,アルキ
ル基,アルコキシ基,アシル基,もしくはアシロキシ
基、 R146 〜R149 :同一又は異なって、水素原子,水酸
基,ハロゲン原子,ニトロ基,シアノ基,カルボニル
基,アルキル基,アルコキシ基,アルコキシカルボニル
基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,アシル基,ア
シロキシ基,アルケニル基,アルケニルオキシ基,アリ
ール基,アリールオキシ基,もしくはアリールオキシカ
ルボニル基、但し、各4個の同一記号の置換基は同一の
基でなくてもよい、 Z,B:単結合,もしくは−O−、 A:メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、 a〜v,c1〜r1:複数の時、()内の基は同一又は異なっ
ていてもよい、 a〜q、s,t,v,g1〜i1,k1〜m1,o1,q1:0もしくは1〜5
の整数、 r,u,w,x,y,z,c1〜f1,p1,r1:0もしくは1〜4の整数、 j1,n1,z1,a2,b2,c2,d2:0もしくは1〜3の整数、 a2,c2,d2 のうち少なくとも1つは1以上、 (a+b),(e+f+g),(k+l+m),(q+r+s),(c1+d1),(g1+h1+i1+j
1),(o1+p1) ≧2、 (j1+n1)≦3、 (r+u),(c1+e1),(d1+f1),(p1+r1) ≦4、 (a+c),(b+d),(e+h),(f+i),(g+j),(k+n),(l+o),(m+p),(q
+t),(s+v),(g1+k1),(h1+l1),(i1+m1),(o1+q1) ≦5、 を表す。
【0111】
【化38】
【0112】
【化39】
【0113】
【化40】
【0114】好ましい化合物骨格の具体例を以下に示
す。
【0115】
【化41】
【0116】
【化42】
【0117】
【化43】
【0118】
【化44】
【0119】
【化45】
【0120】
【化46】
【0121】
【化47】
【0122】
【化48】
【0123】
【化49】
【0124】
【化50】
【0125】
【化51】
【0126】
【化52】
【0127】
【化53】
【0128】化合物(1)〜(44)中のRは、水素原
子、
【0129】
【化54】
【0130】を表す。但し、少なくとも2個、もしくは
構造により3個は水素原子以外の基であり、各置換基R
は同一の基でなくてもよい。
【0131】本発明において、上記溶解阻止化合物の添
加量は、光酸発生剤、アルカリ可溶性樹脂と組み合わせ
る場合、感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準と
して3〜50重量%であり、好ましくは5〜40重量
%、より好ましくは10〜35重量%の範囲である。
【0132】〔VI〕(e)水に不溶でアルカリ現像液に
可溶な樹脂 本発明の組成物は、アルカリ溶解性を調節するために、
水不溶でアルカリ現像液に可溶な樹脂(以下、単に
「(e)成分」ともいう)を含有することができる。こ
の樹脂は、酸で分解し得る基を実質上有さない。(e)
成分としては、例えばノボラック樹脂、水素化ノボラツ
ク樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、o−ポリヒドロ
キシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレン、p−ポリ
ヒドロキシスチレン、水素化ポリヒドロキシスチレン、
ハロゲンもしくはアルキル置換ポリヒドロキシスチレ
ン、ヒドロキシスチレン−N−置換マレイミド共重合
体、o/p−及びm/p−ヒドロキシスチレン共重合
体、ポリヒドロキシスチレンの水酸基に対する一部O−
アルキル化物(例えば、5〜30モル%のO−メチル化
物、O−(1−メトキシ)エチル化物、O−(1−エト
キシ)エチル化物、O−2−テトラヒドロピラニル化
物、O−(t−ブトキシカルボニル)メチル化物等)も
しくはO−アシル化物(例えば、5〜30モル%のo−
アセチル化物、O−(t−ブトキシ)カルボニル化物
等)、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチレン−
ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン−ヒ
ドロキシスチレン共重合体、カルボキシル基含有メタク
リル系樹脂及びその誘導体、ポリビニルアルコール誘導
体を挙げることができるが、これらに限定されるもので
はない。特に好ましいアルカリ可溶性樹脂はノボラック
樹脂及びo−ポリヒドロキシスチレン、m−ポリヒドロ
キシスチレン、p−ポリヒドロキシスチレン及びこれら
の共重合体、アルキル置換ポリヒドロキシスチレン、ポ
リヒドロキシスチレンの一部O−アルキル化、もしくは
O−アシル化物、スチレン−ヒドロキシスチレン共重合
体、α−メチルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合体
である。該ノボラック樹脂は所定のモノマーを主成分と
して、酸性触媒の存在下、アルデヒド類と付加縮合させ
ることにより得られる。
【0133】ノボラック樹脂の重量平均分子量は、1,
000〜30,000の範囲であることが好ましい。
1,000未満では未露光部の現像後の膜減りが大き
く、30,000を越えると現像速度が小さくなってし
まう。特に好適なのは2,000〜20,000の範囲
である。また、ノボラック樹脂以外の前記ポリヒドロキ
シスチレン、及びその誘導体、共重合体の重量平均分子
量は、2000以上、好ましくは5000〜20000
0、より好ましくは8000〜100000である。ま
た、レジスト膜の耐熱性を向上させるという観点から
は、10000以上が好ましい。ここで、重量平均分子
量はゲルパーミエーションクロマトグラフィーのポリス
チレン換算値をもって定義される。本発明に於けるこれ
らのアルカリ可溶性樹脂は2種類以上混合して使用して
もよい。アルカリ可溶性樹脂の使用量は、感光性組成物
の全重量(溶媒を除く)を基準として、40〜97重量
%、好ましくは60〜90重量%である。
【0134】〔VII 〕本発明に使用されるその他の成分 本発明のポジ型感光性組成物には必要に応じて、更に染
料、顔料、可塑剤、界面活性剤、光増感剤、及び現像液
に対する溶解性を促進させるフエノール性OH基を2個
以上有する化合物などを含有させることができる。
【0135】本発明で使用できるフェノール性OH基を
2個以上有する化合物は、好ましくは分子量1000以
下のフェノール化合物である。また、分子中に少なくと
も2個のフェノール性水酸基を有することが必要である
が、これが10を越えると、現像ラチチュードの改良効
果が失われる。また、フェノ−ル性水酸基と芳香環との
比が0.5未満では膜厚依存性が大きく、また、現像ラ
チチュードが狭くなる傾向がある。この比が1.4を越
えると該組成物の安定性が劣化し、高解像力及び良好な
膜厚依存性を得るのが困難となって好ましくない。
【0136】このフェノール化合物の好ましい添加量
は、アルカリ可溶性樹脂に対して2〜50重量%であ
り、更に好ましくは5〜30重量%である。50重量%
を越えた添加量では、現像残渣が悪化し、また現像時に
パターンが変形するという新たな欠点が発生して好まし
くない。
【0137】このような分子量1000以下のフェノー
ル化合物は、例えば、特開平4−122938号、特開
平2−28531号、米国特許第4916210号、欧
州特許第219294号等に記載の方法を参考にして、
当業者に於て容易に合成することが出来る。フェノール
化合物の具体例を以下に示すが、本発明で使用できる化
合物はこれらに限定されるものではない。
【0138】レゾルシン、フロログルシン、2,3,4
−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′−
テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,3′,
4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、アセト
ン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルコシド、2,
4,2′,4′−ビフェニルテトロール、4,4′−チ
オビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,2′,
4,4′−テトラヒドロキシジフェニルエーテル、2,
2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェニルスルフォ
キシド、2,2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェ
ニルスルフォン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メ
タン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シクロ
ヘキサン、4,4−(α−メチルベンジリデン)ビスフ
ェノール、α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフェニル)−
1−エチル−4−イソプロピルベンゼン、1,2,2−
トリス(ヒドロキシフェニル)プロパン、1,1,2−
トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)
プロパン、2,2,5,5−テトラキス(4−ヒドロキ
シフェニル)ヘキサン、1,2−テトラキス(4−ヒド
ロキシフェニル)エタン、1,1,3−トリス(ヒドロ
キシフェニル)ブタン、パラ〔α,α,α′,α′−テ
トラキス(4−ヒドロキシフェニル)〕−キシレン等を
挙げることができる。
【0139】好適な染料としては油性染料及び塩基性染
料がある。具体的にはオイルイエロー#101、オイル
イエロー#103、オイルピンク#312、オイルグリ
ーンBG、オイルブルーBOS,オイルブルー#60
3、オイルブラックBY、オイルブラックBS、オイル
ブラックT−505(以上オリエント化学工業株式会社
製)、クリスタルバイオレット(CI42555)、メ
チルバイオレット(CI42535)、ローダミンB
(CI45170B)、マラカイトグリーン(CI42
000)、メチレンブルー(CI52015)等を挙げ
ることができる。
【0140】更に、下記に挙げるような分光増感剤を添
加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外より
長波長領域に増感させることで、本発明の感光性組成物
をi又はg線に感度を持たせることができる。好適な分
光増感剤としては、具体的にはベンゾフェノン、p,
p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,p’
−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、2−クロ
ロチオキサントン、アントロン、9−エトキシアントラ
セン、アントラセン、ピレン、ペリレン、フェノチアジ
ン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビン、
セトフラビン−T、9,10−ジフェニルアントラセ
ン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フェナントレ
ン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテン、
ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、N−
アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリ
ン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミ
ン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラ
キノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−ベン
ズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,
9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,2−
ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,7−
ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等である
がこれらに限定されるものではない。また、これらの分
光増感剤は、光源の遠紫外光の吸光剤としても使用可能
である。この場合、吸光剤は基板からの反射光を低減
し、レジスト膜内の多重反射の影響を少なくさせること
で、定在波改良の効果を発現する。
【0141】本発明の感光性組成物は、上記各成分を溶
解する溶媒に溶かして支持体上に塗布する。ここで使用
する溶媒としては、エチレンジクロライド、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチ
ロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコール
モノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、2−メトキシエチルアセテート、エチレングリ
コールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリ
コールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エチル、乳
酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、
エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピル
ビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロ
リドン、テトラヒドロフラン等が好ましく、これらの溶
媒を単独あるいは混合して使用する。
【0142】上記溶媒に界面活性剤を加えることもでき
る。具体的には、ポリオキシエチレンラウリルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイ
ルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル
類、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル、
ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等のポリ
オキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシ
エチレン・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー
類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミ
テート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノ
オレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビタント
リステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリ
オキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシ
エチレンソルビタンモノパルミテ−ト、ポリオキシエチ
レンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレン
ソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビ
タントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタ
ン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフト
ップEF301,EF303,EF352(新秋田化成
(株)製)、メガファックF171,F173 (大日
本インキ(株)製)、フロラ−ドFC430,FC43
1(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG71
0,サーフロンS−382,SC101,SC102,
SC103,SC104,SC105,SC106(旭
硝子(株)製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロ
キサンポリマーKP341(信越化学工業(株)製)や
アクリル酸系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフ
ローNo.75,No.95(共栄社油脂化学工業
(株)製)等を挙げることができる。これらの界面活性
剤の配合量は、本発明の組成物中の固形分100重量部
当たり、通常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下
である。これらの界面活性剤は単独で添加してもよい
し、また、いくつかの組み合わせで添加することもでき
る。
【0143】上記感光性組成物を精密集積回路素子の製
造に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化シリ
コン被覆)上にスピナー、コーター等の適当な塗布方法
により塗布後、所定のマスクを通して露光し、ベークを
行い現像することにより良好なレジストパターンを得る
ことができる。
【0144】本発明の感光性組成物の現像液としては、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、
ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルア
ミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−ブチ
ルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メチル
ジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノール
アミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン
類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム
塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカ
リ性水溶液を使用することができる。更に、上記アルカ
リ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加し
て使用することもできる。
【0145】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明がこれにより限定されるものではない。
【0146】(a)塩基性含窒素化合物としては前記の
例示化合物(I−1)、(I−2)、(I−3)、(I
−4)(Aldrich 社製)を使用した。
【0147】(b)酸発生化合物の合成 化合物(II−1)の合成 ジフェニルスルホキシド50gをベンゼン800ミリリ
ットルに溶解させ、これに塩化アルミニウム200gを
加え、24時間還流した。反応液を氷2リットルにゆっ
くりと注ぎ、これに濃塩酸400ミリリットルを加えて
70℃で10分加熱した。この水溶液を酢酸エチル50
0ミリリットルで洗浄し、ろ過した後に、ヨウ化アンモ
ニウム200gを水400ミリリットルに溶かしたもの
を加えた。析出した粉体をろ取、水洗した後、酢酸エチ
ルで洗浄、乾燥するとトリフェニルスルホニウムヨージ
ドが70g得られた。トリフェニルスルホニウムヨージ
ド50gをメタノール300ミリリットルに溶解し、こ
れに酸化銀31gを加えて4時間攪拌した。反応液をろ
過した後、2,4,6−トリイソプロピルベンゼンスル
ホン酸テトラメチルアンモニウム塩(2,4,6−トリ
イソンプロピルベンゼンスルホニルクロリドをテトラメ
チルアンモニウムヒドロキシド、水、メタノール中で加
熱反応させることによって得られる)45gを加えた。
この溶液を濃縮し得られた粉体を水で十分に洗浄し、酢
酸エチル/アセトンから再結晶すると化合物(II−1)
が50g得られた。同様の方法を用い、化合物(II−
2)、(II−3)を合成した。
【0148】化合物(II−4)の合成 ジフェニルスルホキシド50g、ジフェニルスルフィド
45gにメタンスルホン酸/五酸化二リン(10/1)
溶液を100ミリリットル加えた。発熱がおさまった
後、50℃で4時間加熱し、その後反応液を氷に注い
だ。この水溶液をトルエンで洗浄、ろ過した後に、ヨウ
化アンモニウム200gを水400ミリリットルに溶か
したものを加えた。析出した粉体をろ取、水洗し、ジフ
ェニル(4−フェニルチオフェニル)スルホニウムヨー
ジドを得た。これを(II−1)と同様に2−ヘプチルオ
キシカルボニルベンゼンスルホン酸(o−スルホ安息香
酸無水物とn−ヘプタノールから合成)と塩交換するこ
とで化合物(II−4)を得た。(II−4)と同様の方法
を用い、対応するスルホン酸と塩交換することで化合物
(III −1)、(III −2)を得た。
【0149】化合物(IV−1)の合成 t−アミルベンゼン60g、ヨウ素酸カリウム39.5
g、無水酢酸81g、ジクロロメタン170ミリリット
ルを混合し、これに氷冷下濃硫酸66.8gをゆっくり
滴下しあ。2時間氷冷下攪拌したのち室温で1晩攪拌し
た。反応液に氷冷下水50ミリリットル滴下し、これを
ジクロロメタンで抽出、有機相を水、炭酸水素ナトリウ
ム水溶液、水で洗浄、濃縮するとジt−アミルフェニル
ヨードニウム硫酸塩が得られた。この硫酸塩10gを
2,4,6−トリイソプロピルベンゼンスルホン酸テト
ラメチルアンモニウム塩10gの水溶液に加え、析出し
た粉体をろ取、水洗すると粗結晶が得られた。これを2
−プロパノールから再結晶すると化合物(IV−1)が5
g得られた。化合物(IV−1)と同様の方法を用いるこ
とで化合物(IV−2)を得た。
【0150】(c)樹脂の合成 (樹脂の合成例1) PHS/iBES:P−ヒドロキシスチレン/P−(1
−iso−ブトキシエトキシスチレン共重合体(60/
40:モル比)の合成 ポリp−ヒドロキシスチレン(日本曹達製VP−800
0、重量平均分子量11000)500gを脱水THF
2000mlに溶解した。この溶液にiso−ブチルビ
ニルエーテル176g及び脱水p−トルエンスルホン酸
0.15gを加え、室温で10時間攪拌した。反応液に
トリエチルアミン16gを加えた後イオン交換水40リ
ットルに投入し、析出した粉体をろ取、水洗、乾燥する
とp−ヒドロキシスチレン/p−(1−iso−ブトキ
シエトキシ)スチレン共重合体(60/40)を得た。
【0151】(樹脂の合成例2) PHS/iBESB:P−ヒドロキシスチレン/P−
(1−iso−ブトキシエトキシ)スチレン共重合体
(70/30:モル比、部分架橋型)の合成 ポリp−ヒドロキシスチレン(日本曹達製VP−800
0、重量平均分子量11000)500gを脱水THF
2000mlに溶解した。この溶液にiso−ブチルビ
ニルエーテル166g、2,2−ビス(4−ヒドロキシ
シクロヘキシル)プロパン40g及び脱水p−トルエン
スルホン酸0.15gを加え、室温で10時間攪拌し
た。反応液にトリエチルアミン16gを加えた後イオン
交換水40リットルに投入し、析出した粉体をろ取、水
洗、乾燥するとp−ヒドロキシスチレン/p−(1−i
so−ブトキシエトキシ)スチレン共重合体(70/3
0、部分架橋型)を得た。
【0152】(樹脂の合成例3) PHS/THPS:p−ヒドロキシスチレン/p−(2
−テトラヒドロピラニルオキシ)スチレン共重合体(6
0/40:モル比)の合成 合成例1のiso−ブチルビニルエーテルの代わりに
2,3−ジヒドロ−4H−ピランを用いた他は合成例1
と同様にしてp−ヒドロキシスチレン/p−(2−テト
ラヒドロピラニルオキシ)スチレン共重合体(60/4
0)を得た。
【0153】(樹脂の合成例4) PHS/tBOCS:P−ヒドロキシスチレン/P−
(t−ブチルオキシカルボニルオキシ)スチレン共重合
体(60/40)の合成 ポリp−ヒドロキシスチレン(日本曹達製VP−800
0、重量平均分子量11000)をピリジン40mlに
溶解させ、これに室温攪拌下二炭酸ジ−t−ブチル1.
28gを添加した。室温で3時間反応させた後、イオン
交換水1リットル/濃塩酸20gの溶液に投入した。析
出した粉体を、ろ過、水洗、乾燥し、p−ヒドロキシス
チレン/p−(t−ブチルオキシカルボニルオキシ)ス
チレン共重合体(60/40)を得た。
【0154】(樹脂の合成例5) PHS/EES:P−ヒドロキシスチレン/P−(1−
エトキシエトキシ)スチレン共重合体(55/45:モ
ル比、部分架橋型)の合成 t−ブチルビニルエーテルの変わりにエチルビニルエー
テルを用いて樹脂の合成例2と同様の方法でp−ヒドロ
キシスチレン/p−(1−エトキシエトキシ)スチレン
共重合体(55/45、部分架橋型)が得られた。
【0155】(樹脂の合成例6) PHS/iBES/AS:P−ヒドロキシスチレン/P
−(1−iso−ブトキシエトキシスチレン/P−アセ
トキシスチレン共重合体(70/20/10:モル比)
の合成 ポリ−p−ヒドロキシスチレン(重量平均分子量110
00)360g、イソブチルビニルエーテル126.0
gを無水THF1800ミリリットルに溶解し、p−ト
ルエンスルホン酸0.1gを加え、室温で2時間攪拌し
た。反応液にピリジン40gを加え、ついで無水酢酸4
2gを加えて、室温にて2時間攪拌した。反応液を、水
3リットルに投入し、析出した粉体をろ取、水洗、乾燥
し、p−ヒドロキシスチレン/p−(i−ブトキシエト
キシ)スチレン/アセチルオキシスチレン共重合体(7
0/20/10)(重量平均分子量12000)を得
た。
【0156】(d)溶解阻止剤化合物の合成 (溶解阻止剤化合物の合成例−1:化合物例16の合
成)1−[α−メチル−α−(4' −ヒドロキシフェニ
ル)エチル]−4−[α',α' −ビス(4" −ヒドロ
キシフェニル)エチル]ベンゼン42.4g(0.10
モル)をN,N−ジメチルアセトアミド300mlに溶
解し、これに炭酸カリウム49.5g(0.35モ
ル)、及びブロモ酢酸クミルエステル84.8g(0.
33モル)を添加した。その後、120℃にて7時間撹
拌した。反応混合物をイオン交換水2lに投入し、酢酸
にて中和した後、酢酸エチルにて抽出した。酢酸エチル
抽出液を濃縮し、合成例−3と同様に精製し、化合物例
16(Rはすべて−CH2 COOC(CH3 2 6
5 基)70gを得た。
【0157】(溶解阻止剤化合物の合成例−2:化合物
41の合成)1,3,3,5−テトラキス−(4−ヒド
ロキシフェニル)ペンタン44gをN,N−ジメチルア
セトアミド250mlに溶解させ、これに炭酸カリウム
70.7g、次いでブロモ酢酸t−ブチル90.3gを
加え120℃にて7時間撹拌した。反応混合物をイオン
交換水2lに投入し、得られた粘稠物を水洗した。これ
をカラムクロマトグラフィーにて精製すると化合物例4
1(Rはすべて−CH 2 COOC4 9 (t))が87
g得られた。
【0158】(溶解阻止剤化合物の合成例−3:化合物
例43の合成)α,α,α’,α’,α”,α”,−ヘ
キサキス(4−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−ト
リエチルベンゼン20gをジエチルエーテル400ml
に溶解させた。この溶液に窒素雰囲気下で3,4−ジヒ
ドロ−2H−ピラン42.4g、触媒量の塩酸を加え、
24時間還流した。反応終了後少量の水酸化ナトリウム
を加えた後ろ過した。ろ液を濃縮し、これをカラムクロ
マトグラフィーにて精製すると化合物例43(Rはすべ
てTHP基)が55.3g得られた。
【0159】(実施例1〜8、比較例1〜3)上記合成
例で示した化合物を用いレジストを調製した。そのとき
の処方を下記表1に示す。
【0160】
【表1】
【0161】表1において使用した略号は下記の内容を
表す。 <ポリマー>( )内はモル比 PHS/iBES p−ヒドロキシスチレン/p−
(1−iso−ブトキシエトキシスチレン共重合体(6
0/40) 重量平均分子量 12000 PHS/iBESB p−ヒドロキシスチレン/p−
(1−iso−ブトキシエトキシ)スチレン共重合体
(70/30部分架橋型) 重量平均分子量 96000 PHS/EES p−ヒドロキシスチレン/p−
(1−エトキシエトキシ)スチレン共重合体(55/4
5) 重量平均分子量 13000 PHS/THPS p−ヒドロキシスチレン/p−
(2−テトラヒドロピラニルオキシ)スチレン共重合体
(60/40) 重量平均分子量 12000 PHS/tBOCS p−ヒドロキシスチレン/p−
(t−ブチルオキシカルボニルオキシ)スチレン共重合
体(60/40) 重量平均分子量 12000 PHS/St p−ヒドロキシスチレン/スチレ
ン共重合体(85/15)重量平均分子量 51000 PHS/iBES/AS P−ヒドロキシスチレン/P−(1−iso−ブトキシ
エトキシスチレン/P−アセトキシスチレン共重合体
(70/20/10) 重量平均分子量12000 <溶解阻止剤中酸分解性基>
【0162】
【化55】
【0163】<比較例用の化合物(A)>トリフェニル
スルホニウムトリフルオロメタンスルホン酸塩 〔感光性組成物の調製と評価〕表1に示す各素材を、プ
ロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート9.
5gに溶解し、0.1μmのフィルターで濾過してレジ
スト溶液を作成した。このレジスト溶液を、スピンコー
ターを利用して、シリコンウエハー上に塗布し、90℃
60秒間真空吸着型のホットプレートで乾燥して、膜厚
0.76μmのレジスト膜を得た。このレジスト膜に、
248nmKrFエキシマレーザーステツパー(NA=
0.42)を用いて露光を行った。露光直後にそれぞれ
110℃の真空吸着型ホットプレートで60秒間加熱を
行い、ただちに2.38%テトラメチルアンモニウムハ
イドロオキサイド(TMAH)水溶液で60秒間浸漬
し、30秒間水でリンスして乾燥した。このようにして
得られたシリコンウエハー上のパターンのプロファイ
ル、感度、解像力を各々下記のように評価し、比較し
た。その結果を上記表1に示す。
【0164】〔プロファイル〕このようにして得られた
シリコンウエハー上のパターンを走査型電子顕微鏡で観
察し、レジストのプロファイルを評価した。 〔感度〕感度は0.30μmのマスタパターンを再現す
る露光量をもって定義した。 〔解像力〕解像力は0.30μmのマスタパターンを再
現する露光量における限界解像力を表す。
【0165】更に同様にして露光後2時間経過した後、
上記の通り加熱し、ただちに2.38%テトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)水溶液で6
0秒間浸漬し、30秒間水でリンスして乾燥した。この
ようにして得られた0.30μmのマスクパターンの線
巾を測り、露光直後での値からの変化率を計算した。結
果を表1に示す。
【0166】表1の結果から、本発明のポジ型感光性組
成物は、高感度、高解像力を有し、比較例1〜3に対
し、感度に優れ線巾変化の少ない、優れた感光性組成物
であることがわかる。また、レジストパターンのプロフ
ァイルは全て矩形であった。
【0167】
【発明の効果】本発明の化学増幅型のポジ型感光性組成
物により、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有
し、露光後経時での性能変化の少ないポジ型感光性組成
物を提供することができる。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)下記一般式(I)で表される多環
    構造を有する塩基性含窒素化合物、(b)活性光線の照
    射により酸を発生する下記一般式(II)〜(IV)で
    表される化合物の少なくとも一種、及び(c)酸の作用
    により分解し、アルカリ現像液中での溶解度を増大させ
    る基を有する樹脂を含有することを特徴とするボジ型感
    光性組成物。 【化1】 (式(I)中、Y,Zは、同一でも異なってもよく、ヘ
    テロ原子を含んでいてもよく、置換してもよい直鎖、分
    岐、環状アルキレン基を表す。) 【化2】 (式中、R1 〜R37は水素原子、直鎖、分岐、環状アル
    キル基、直鎖、分岐、環状アルコキシ基、ヒドロキシ
    基、ハロゲン原子、または−S−R38基を表す。R 38
    直鎖、分岐、環状アルキル基またはアリール基を表す。
    - は分岐または環状の炭素数8個以上のアルキル基お
    よびアルコキシ基の群の中から選ばれる基を少なくとも
    1個有するか、直鎖、分岐または環状の炭素数4〜7の
    アルキル基およびアルコキシ基の群の中から選ばれる基
    を少なくとも2個有するか、若しくは直鎖、分岐または
    環状の炭素数1〜3のアルキル基およびアルコキシ基の
    群の中から選ばれる基を少なくとも3個有するベンゼン
    スルホン酸、ナフタレンスルホン酸またはアントラセン
    スルホン酸のアニオンを表す。あるいはエステル基、R
    39−CO−基、R40−CONH−基、R41−NH−基、
    42−OCONH−基、R43−NHCOO−基、R44
    NHCONH−基、R 45−NHCSN−基、R46−SO
    2NH−基、およびニトロ基の群の中から選ばれる基を
    少なくとも1個有するベンゼンスルホン酸、ナフタレン
    スルホン酸またアンアトラセンスルホン酸のアニオンを
    表す。R39〜R46は直鎖、分岐、環状アルキル基または
    アリール基を表す。)
  2. 【請求項2】 (d)酸により分解し得る基を有し、ア
    ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、
    分子量3000以下の低分子溶解阻止化合物を、更に含
    有することを特徴とする請求項1に記載のポジ型感光性
    組成物。
  3. 【請求項3】 (a)請求項1に記載の一般式(I)で
    表される多環構造を有する塩基性含窒素化合物、(b)
    請求項1に記載の活性光線の照射により酸を発生する一
    般式(II)〜(IV)で表される化合物の少なくとも
    一種、(d)酸により分解し得る基を有し、アルカリ現
    像液中での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3
    000以下の低分子溶解阻止化合物、及び(e)水に不
    溶でアルカリ現像液に可溶な樹脂を含有することを特徴
    とするホジ型感光性組成物。
  4. 【請求項4】 (c)酸の作用により分解し、アルカリ
    現像液中での溶解度を増大させる基を有する樹脂が、下
    記一般式(IV)及び(V)で表される繰り返し構造単位
    を含む樹脂であることを特徴とする請求項1又は2に記
    載のポジ型感光性組成物。 【化3】 (上記式中、Lは、水素原子、直鎖、分岐、または環上
    のアルキル基、又は置換されていてもよいアラルキル基
    を表わす。Zは、直鎖、分岐、あるいは環状のアルキル
    基、又は置換されていてもよいアラルキル基を表わす。
    またZとLが結合して5又は6員環を形成してもよ
    い。)
  5. 【請求項5】 (b)活性光線の照射により酸を発生す
    る一般式(II)〜(IV)の化合物においてX-が分岐ま
    たは環状の炭素数8個以上のアルキル基およびアルコキ
    シ基の群から選ばれる基を少なくとも1つ有するか、直
    鎖、分岐または環状の炭素数4〜7のアルキル基および
    アルコキシ基の群から選ばれる基を少なくとも2個有す
    るか、もしくは直鎖、分岐または環状の炭素数1〜3個
    のアルキル基およびアルコキシ基の群から選ばれる基を
    少なくとも3個有するか、あるいはエステル基を有する
    ベンゼンスルホン酸のアニオンであることを特徴とする
    請求項1〜4に記載のポジ型感光性組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100890232B1 (ko) * 2001-03-12 2009-03-25 후지필름 가부시키가이샤 포지티브 감광성 조성물 및 이를 사용한 패턴 형성 방법

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