JPH11316817A - 非接触型半導体カ―ド - Google Patents
非接触型半導体カ―ドInfo
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- JPH11316817A JPH11316817A JP11065049A JP6504999A JPH11316817A JP H11316817 A JPH11316817 A JP H11316817A JP 11065049 A JP11065049 A JP 11065049A JP 6504999 A JP6504999 A JP 6504999A JP H11316817 A JPH11316817 A JP H11316817A
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Abstract
高い半導体カードを提供する。 【解決手段】 基板2およびその基板2に搭載された電
子部品1を樹脂製のカード基体3内に埋設してなる半導
体カードにおいて、前記基板2の電子部品1が搭載され
ていない個所に連結用スルーホール6が形成され、その
スルーホール6を貫通するように前記カード基体3を構
成する樹脂の一部が充填されていることを特徴とするも
のである。
Description
された電子部品を樹脂製のカード基体内に埋設してなる
非接触型半導体カードに係り、特にその基板と電子部品
の封止構造に関する。
タ入出力用のコイルなど、所定の電子部品が搭載された
プリント基板などの基板を樹脂製のカード基体内に完全
に埋設し、リーダ/ライタに備えられたデータ入出力用
コイルと前記基板に搭載された前記コイルとの間でデー
タの授受を行なう非接触型の半導体カードが提案されて
いる。
端子を露出し、リーダ/ライタに備えられた接続端子を
前記外部端子に接触することによってデータの授受を行
う接触型の半導体カードに比べて、外部端子が汚損した
り摩耗するということがないので、耐久性に優れ、かつ
信頼性の高いデータ通信ができるという特長を有する。
載されているような非接触型半導体カードの製造方法が
提案されている。この製造方法は、回路基板の電子部品
が搭載されていない個所に貫通孔を形成し、この回路基
板を第1の金型に装着して回路基板の電子部品が搭載さ
れていない個所に電子部品とほぼ同じ高さを有する枠体
を形成するとともに、前記貫通孔を通して樹脂の一部を
回路基板の裏面から突出させて突起を形成する。
に入れて、周囲の全体を封止樹脂層で封止する。このと
き回路基板の裏側に突起が設けられているから、金型底
面と回路基板の間に空間が形成され、回路基板の裏側に
も樹脂を回り込ませることができ、回路基板を封止樹脂
層内に完全に埋設するようになっている。
回路基板の裏面側にも封止樹脂を回り込ませるために回
路基板の裏面側に突起を設けているが、予め形成された
突起と後から形成される封止樹脂層とは別体であり、両
者の接合強度が弱い。そのため半導体カードの落下など
の衝撃により、封止樹脂層と突起の接合部からクラック
や剥がれを生じるなどの欠点を有している。
基板とカード基体の結合力が強く、信頼性の高い非接触
型半導体カードを提供することを目的とする。
め、本発明は、基板およびその基板に搭載されたデータ
入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子部品を
樹脂製のカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カ
ードを対象とするものである。
ない個所に樹脂層連結用スルーホールが形成され、その
基板をカード基体内に埋設することにより、基板の上側
に上側樹脂層を、基板の下側に下側樹脂層を形成すると
ともに、カード基体を構成する樹脂の一部を前記樹脂層
連結用スルーホール内に充填させて、そのスルーホール
内の樹脂により前記上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連
結したことを特徴とするものである。
体を構成する樹脂の一部を基板の樹脂層連結用スルーホ
ール内に充填させて、そのスルーホール内の樹脂により
カード基体の一部を構成する上側樹脂層と下側樹脂層を
相互に連結した構造になっているから、基板とカード基
体とを強固に一体化できる。
する。図1は本発明に係る半導体カードの断面図、図2
はその半導体カードの平面図、図3はその半導体カード
の製造工程を説明するための断面図である。
メモリIC1aやCPU1b、それにデータ入出力用の
コイル1cなどの電子部品1が搭載されたプリント基板
などの基板2が、カード基体3内に完全に埋設され、そ
のカード基体3の表裏両面にラミネートフイルム5,5
を貼着している。
に、それの外周部分を構成し、その厚さ方向のほぼ中央
位置に電子部品1と基板2を保持する第1の成形部3a
と、基板2の電池4を封入するケース状の第2の成形部
3bとからなる。図1に示すように第1の成形部3aと
第2の成形部3bの表面(表裏両面)はほぼ同一平面状
になっており、両者の接合部を隠すようにカード基体3
の表裏両面にラミネートフイルム5,5が貼着されてい
る。またこの接合部は、カード基体3の外周部に達して
おらず、カード基体3の内側部分に存在する。
同種または異種の樹脂材料によって成形される。カード
基体3(第1の成形部3a及び第2の成形部3b)は、
任意の樹脂材料でもって成形することができるが、電子
部品保護のため、なるべく溶融温度が低くかつ硬化収縮
率が小さい樹脂材料が好ましい。かかる好ましい樹脂材
料としては、不飽和ポリエステルを挙げることができ
る。
置に、1個ないし複数個の樹脂層連結用のスルーホール
6が開設されている。第1の成形部3aの成形時に、こ
の第1の成形部3aを構成する樹脂の一部がスルーホー
ル6内に充填させて、そのスルーホール6内の樹脂によ
り基板2の上側に形成される上側樹脂層3a−1と、基
板2の下側に形成される下側樹脂層3a−2を相互に連
結される(図3参照)。また、第1の成形部3aを構成
する樹脂の一部は図1、図2に示すように基板2の外周
全体に回り込み、その外周樹脂層3a−3により上側樹
脂層3a−1と下側樹脂層3a−2も相互に連結され
る。
製造方法について説明する。図3に示すように金型11
は、上金型11aと下金型11bとからなり、両金型1
1a,11bの対向面に、カード基体3の外形と同形の
キャビティ13と、そのキャビティ13に連通する樹脂
注入部14とが形成されている。
型11aと下金型11bとを開き、基板2に搭載された
電池4をカバーするように基板2の電池搭載部をケース
状の第2の成形部3bで上下から挟み込んだ状態で、基
板2と第2の成形部3bを下金型11b内に設置して、
上金型11aを閉じ、基板2を介して上下の第2の成形
部3bを上金型11aと下金型11bで挟む。
型11の凸部16が係合し、キャビティ13内における
基板2の面内方向(カード厚さ方向と直交する平面方
向)の位置決めがなされる。また、電子部品1ならびに
基板2は上下の第2の成形部3bで挟まれた状態で、キ
ャビティ13の上下方向のほぼ中央位置に固定される。
れ、図3に示すように第1の成形部3aが形成される。
上金型11aと下金型11bがそれぞれ上下の第2の成
形部3bに当接した状態で金型11が閉じられてキャビ
ティ13が形成され、そこに樹脂を注入して第1の成形
部3aが形成されるから、結局、上下の第2の成形部3
bによって第1の成形部3aの厚さ、すなわちカード基
体3の厚さが規定されることになる。
aの上下表面は、図1に示すように第2の成形部3bの
上下表面と面一になる。第1の成形部3aと第2の成形
部3bによって構成されたカード基体3の上下両面にラ
ミネートフィルム5,5が貼着され、第1の成形部3a
と第2の成形部3bの接合部がラミネートフィルム5に
よって覆われる。
けられた鍔部、12は上金型11aと上側の第2の成形
部3bとの間、ならびに下金型11bと下側の第2の成
形部3bとの間に設けられた空間部で、電池4に対する
金型温度の熱的影響を軽減するために設けられている。
品1をカード基体3の厚さ方向のほぼ中央位置に配置し
て完全に樹脂製のカード基体3内に埋設し、樹脂の硬化
収縮に起因する内部応力を基板2の表裏両面にほぼ等分
に作用させるようにしたので、カード基体3に生じる反
り等の変形を小さくすることができる。
成する樹脂の一部を基板の樹脂層連結用スルーホール内
に充填させて、そのスルーホール内の樹脂によりカード
基体の一部を構成する上側樹脂層と下側樹脂層を相互に
連結した構造になっているから、基板とカード基体とを
強固に一体化でき、信頼性の高い半導体カードを提供す
ることができる。
の厚さ方向のほぼ中央位置に埋設されている。また請求
項3記載の発明は、基板と電子部品がカード基体の厚さ
方向のほぼ中央位置に埋設されている。このように構成
することにより、樹脂の硬化収縮に起因する内部応力が
基板の表裏両面でほぼ均等になり、従ってカード基体に
生じる反り等の変形を小さくすることができる。またカ
ード基体の反りによる基板ならびに電子部品への機械的
影響を最小限に止めることもできる。
ホールが複数形成されているから、基板とカード基体と
がより強固に結合される。
量と下側樹脂層の樹脂量がほぼ等量であるから、樹脂の
硬化収縮に起因するカード基体の反り等の変形を防止す
ることができる。
カード基体を構成する樹脂の一部が回り込み、その外周
樹脂層により上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連結した
構造になっているから、基板とカード基体との結合がよ
り強固になるなどの特長を有している。
図である。
図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 基板およびその基板に搭載されたデータ
入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子部品を
樹脂製のカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カ
ードにおいて、 前記基板の電子部品が搭載されていない個所に樹脂層連
結用スルーホールが形成され、 その基板をカード基体内に埋設することにより、基板の
上側に上側樹脂層を、基板の下側に下側樹脂層を形成す
るとともに、カード基体を構成する樹脂の一部を前記樹
脂層連結用スルーホール内に充填させて、そのスルーホ
ール内の樹脂により前記上側樹脂層と下側樹脂層を相互
に連結したことを特徴とする非接触型半導体カード。 - 【請求項2】 請求項1記載において、前記基板が前記
カード基体の厚さ方向のほぼ中央位置に埋設されている
ことを特徴とする非接触型半導体カード。 - 【請求項3】 請求項1記載において、前記基板ならび
に電子部品が前記カード基体の厚さ方向のほぼ中央位置
に埋設されていることを特徴とする非接触型半導体カー
ド。 - 【請求項4】 請求項1記載において、前記樹脂連結用
スルーホールが複数形成されていることを特徴とする非
接触型半導体カード。 - 【請求項5】 請求項1記載において、前記上側樹脂層
の樹脂量と下側樹脂層の樹脂量がほぼ等量であることを
特徴とする非接触型半導体カード。 - 【請求項6】 請求項1記載において、前記基板の外周
全体にカード基体を構成する樹脂の一部が回り込み、そ
の外周樹脂層により前記上側樹脂層と下側樹脂層を相互
に連結したことを特徴とする非接触型半導体カード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11065049A JP3117683B2 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 非接触型半導体カード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11065049A JP3117683B2 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 非接触型半導体カード |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02283479A Division JP3117455B2 (ja) | 1990-10-23 | 1990-10-23 | 電池内蔵型一体成形カード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11316817A true JPH11316817A (ja) | 1999-11-16 |
JP3117683B2 JP3117683B2 (ja) | 2000-12-18 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP11065049A Expired - Fee Related JP3117683B2 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 非接触型半導体カード |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3117683B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111696732A (zh) * | 2020-06-02 | 2020-09-22 | 镇江市酉泉机电设备有限公司 | 一种树脂浇筑母线及其生产方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH061202U (ja) * | 1992-06-10 | 1994-01-11 | 昌司 立石 | 封緘紙 |
-
1999
- 1999-03-11 JP JP11065049A patent/JP3117683B2/ja not_active Expired - Fee Related
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