[go: up one dir, main page]

JPH11297589A - Substrate treatment apparatus - Google Patents

Substrate treatment apparatus

Info

Publication number
JPH11297589A
JPH11297589A JP9711598A JP9711598A JPH11297589A JP H11297589 A JPH11297589 A JP H11297589A JP 9711598 A JP9711598 A JP 9711598A JP 9711598 A JP9711598 A JP 9711598A JP H11297589 A JPH11297589 A JP H11297589A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing liquid
motor
nozzle
control information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9711598A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiichi Kago
由一 加護
Satoshi Yamamoto
聡 山本
Kazuhiro Takahashi
和浩 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9711598A priority Critical patent/JPH11297589A/en
Publication of JPH11297589A publication Critical patent/JPH11297589A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate treatment apparatus that can accurately set the discharge quantity of a treatment solution. SOLUTION: A discharge pump 6 is driven by a pump drive motor 7 for supplying a resist solution to a resist nozzle 4 and has it discharge the solution. The pump drive motor 7 is driven by a motor controller 10 based on the control by a control unit 13. The control unit 13 has recipe data and a supply library. Driving patterns for the pump drive motor 7, acceleration and deceleration times, discharge speed and quantity of the resist solution from the resist nozzle 4 are input in the supply library. Control information, such as discharge time of the resist nozzle 4, etc., is input from the input unit 12 and stored in the recipe data. Control information in the recipe data and the supply library can be changed from the input unit 12.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、処理液を吐出する
ノズルを備えた基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus provided with a nozzle for discharging a processing liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の
基板に所定の処理を行うために基板処理装置が用いられ
ている。このような基板処理装置では、基板を水平姿勢
で回転させながらその表面に処理液ノズルからレジスト
液、現像液あるいは洗浄液等の処理液を供給することに
より基板の表面処理を行う。
2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus is used to perform predetermined processing on a substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk. In such a substrate processing apparatus, the surface of the substrate is processed by supplying a processing liquid such as a resist liquid, a developing liquid, or a cleaning liquid from a processing liquid nozzle to the surface thereof while rotating the substrate in a horizontal posture.

【0003】図7は基板処理装置の一例としての回転式
塗布装置の構成を示す模式図である。図7において、回
転式塗布装置は、基板Wを保持する基板保持部2と、基
板保持部2を回転駆動するスピンモータ1を備える。さ
らに、回転式塗布装置には基板Wの表面にレジスト液を
供給するレジスト液供給系30が設けられている。レジ
スト液供給系30はレジスト液26を貯留するレジスト
容器25、レジスト容器25内のレジスト液26を導く
レジスト供給管5およびレジスト液を吐出するレジスト
ノズル4を備える。レジスト供給管5の途中にはレジス
ト容器25内のレジスト液26をノズル4へ送り出すた
めのベローズ20およびベローズ20を伸縮駆動するシ
リンダ21が配置されている。シリンダ21には圧縮空
気を導入する2本の導入管路28,29が接続されてい
る。導入管路28,29にはそれぞれ開閉弁22,23
が取り付けられている。また、導入管路28,29に接
続される切替弁24は圧縮空気27を一方の導入管路2
8と他方の導入管路29とに切り替えて供給する。
FIG. 7 is a schematic diagram showing the configuration of a rotary coating apparatus as an example of a substrate processing apparatus. 7, the rotary coating apparatus includes a substrate holding unit 2 that holds a substrate W, and a spin motor 1 that drives the substrate holding unit 2 to rotate. Further, the rotary coating apparatus is provided with a resist liquid supply system 30 for supplying a resist liquid to the surface of the substrate W. The resist liquid supply system 30 includes a resist container 25 for storing the resist liquid 26, a resist supply pipe 5 for guiding the resist liquid 26 in the resist container 25, and a resist nozzle 4 for discharging the resist liquid. A bellows 20 for sending the resist solution 26 in the resist container 25 to the nozzle 4 and a cylinder 21 for driving the bellows 20 to expand and contract are arranged in the resist supply pipe 5. Two introduction pipes 28 and 29 for introducing compressed air are connected to the cylinder 21. On-off valves 22 and 23 are provided in the introduction lines 28 and 29, respectively.
Is attached. Further, the switching valve 24 connected to the introduction pipes 28 and 29 transfers the compressed air 27 to one of the introduction pipes 2 and 29.
8 and the other supply line 29.

【0004】基板Wにレジスト液を供給する場合、切替
弁24により圧縮空気27を導入管路28を通してシリ
ンダ21に供給する。そして、ベローズ20を伸長して
レジスト容器25からレジスト液26をベローズ20内
に吸い込む。その後、切替弁24を切り替えて圧縮空気
27を導入管路29からシリンダ21に供給する。これ
により、ベローズ20を圧縮し、ベローズ20内のレジ
スト液26をレジスト供給管5を通してレジストノズル
4から基板Wの表面に吐出させる。基板Wの表面に吐出
されたレジスト液は、基板Wの回転による遠心力を受け
て基板Wの全面に均一に塗り広げられる。
When a resist solution is supplied to the substrate W, compressed air 27 is supplied to the cylinder 21 through an introduction pipe 28 by a switching valve 24. Then, the bellows 20 is extended to suck the resist solution 26 from the resist container 25 into the bellows 20. Thereafter, the switching valve 24 is switched to supply the compressed air 27 to the cylinder 21 from the introduction pipe 29. Thereby, the bellows 20 is compressed, and the resist liquid 26 in the bellows 20 is discharged from the resist nozzle 4 to the surface of the substrate W through the resist supply pipe 5. The resist liquid discharged onto the surface of the substrate W is uniformly spread over the entire surface of the substrate W by receiving the centrifugal force due to the rotation of the substrate W.

【0005】基板Wの表面上に塗布形成されるレジスト
薄膜の膜厚は、基板W上にレジスト薄膜の微細パターン
を形成するために正確に制御される必要がある。また、
レジスト薄膜の膜厚は基板Wに供給されるレジスト液の
吐出量に依存する。このため、レジストノズル4からの
レジスト液の吐出量は正確に制御される必要がある。
[0005] The thickness of the resist thin film applied and formed on the surface of the substrate W must be accurately controlled in order to form a fine pattern of the resist thin film on the substrate W. Also,
The thickness of the resist thin film depends on the discharge amount of the resist liquid supplied to the substrate W. For this reason, the discharge amount of the resist liquid from the resist nozzle 4 needs to be accurately controlled.

【0006】図7の塗布装置では、レジスト液の吐出量
は以下のように制御されている。まず、基板Wへの吐出
前において、シリンダ21に圧縮空気27を供給してシ
リンダ21を駆動する時間、すなわちレジストノズル4
からのレジスト液の吐出時間を種々設定し、その時のレ
ジスト液の吐出量を計量容器で計量して吐出時間とレジ
スト液の吐出量との関係を予め求める。そして、その計
量結果に基づいて、レジスト液の吐出量が所望の値とな
るようにレジスト液の吐出時間、すなわちシリンダ21
の駆動時間を設定する。
In the coating apparatus shown in FIG. 7, the discharge amount of the resist liquid is controlled as follows. First, before discharging to the substrate W, the time for driving the cylinder 21 by supplying the compressed air 27 to the cylinder 21, that is, the registration nozzle 4
The discharge time of the resist solution is set in various ways, and the discharge amount of the resist solution at that time is measured with a measuring container to obtain the relationship between the discharge time and the discharge amount of the resist solution in advance. Then, based on the measurement result, the discharge time of the resist solution, that is, the cylinder 21 is adjusted so that the discharge amount of the resist solution becomes a desired value.
Set the drive time of

【0007】そして、実際のレジスト液吐出時には、上
記処理により設定された駆動時間に基づいてシリンダ2
1が駆動され、レジストノズル4からレジスト液が基板
Wの表面に吐出される。そして、設定した駆動時間が経
過すると、導入管路28,29の開閉弁22,23が閉
鎖され、シリンダ21の駆動が停止される。これによ
り、レジストノズル4からのレジスト液の吐出が停止す
る。
At the time of actual discharge of the resist solution, the cylinder 2 is driven based on the driving time set by the above processing.
1 is driven, and the resist liquid is discharged from the resist nozzle 4 onto the surface of the substrate W. Then, when the set driving time has elapsed, the on-off valves 22 and 23 of the introduction conduits 28 and 29 are closed, and the driving of the cylinder 21 is stopped. Thus, the discharge of the resist liquid from the resist nozzle 4 is stopped.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の回転式塗布
装置では、レジスト液の吐出量はシリンダ21への導入
管路28,29の開閉弁22,23の開閉動作により制
御されていた。開閉弁22,23の開閉動作は圧縮空気
27を利用して行われている。このため、開閉弁22,
23の開閉動作は常に一定とはならず、そのためにレジ
スト液の吐出量を正確に制御することが困難であった。
In the above-mentioned conventional rotary coating apparatus, the discharge amount of the resist solution is controlled by opening and closing the opening and closing valves 22, 23 of the introduction pipes 28, 29 to the cylinder 21. The opening and closing operations of the on-off valves 22 and 23 are performed using compressed air 27. Therefore, the on-off valve 22,
The opening / closing operation of the nozzle 23 is not always constant, which makes it difficult to accurately control the discharge amount of the resist solution.

【0009】また、開閉弁22,23はそれぞれ固有の
流量特性を有している。このため、同じ種類の開閉弁2
2,23を用いた回転式塗布装置であっても各回転式塗
布装置ごとにレジスト液の吐出時間と吐出量との関係が
異なる。そこで、各回転式塗布装置ごとにレジスト液の
吐出時間と吐出量との関係を求めて吐出時間を設定する
必要があった。
The on-off valves 22 and 23 have their own flow characteristics. Therefore, the same type of on-off valve 2
The relationship between the discharge time and the discharge amount of the resist liquid differs for each rotary coating apparatus even in the rotary coating apparatuses using the coating apparatuses 2 and 23. Therefore, it is necessary to determine the relationship between the discharge time and the discharge amount of the resist liquid for each rotary coating apparatus and set the discharge time.

【0010】一方、従来の回転式塗布装置においてレジ
スト液の吐出量を変更する場合には、レジスト液の吐出
時間を変更するのみならず、レジストノズル4からのレ
ジスト液の吐出速度を変更することも可能である。そし
て、この場合には、シリンダ21に供給される圧縮空気
27の供給管路に設けられた流量制御装置(図示せず)
を手動で変更して圧縮空気27の供給量を調整してい
た。しかしながら、レジスト液の吐出速度を変更する必
要が生じる度に、圧縮空気27の流量制御装置を手動で
再調整する必要があり、レジスト液の吐出速度の変更が
困難であった。
On the other hand, when changing the discharge amount of the resist liquid in the conventional rotary coating apparatus, not only the discharge time of the resist liquid but also the discharge speed of the resist liquid from the resist nozzle 4 must be changed. Is also possible. In this case, a flow control device (not shown) provided in a supply pipe of the compressed air 27 supplied to the cylinder 21
Was manually changed to adjust the supply amount of the compressed air 27. However, every time the discharge speed of the resist solution needs to be changed, it is necessary to manually readjust the flow control device of the compressed air 27, and it is difficult to change the discharge speed of the resist solution.

【0011】本発明の目的は、ノズルからの処理液の吐
出量を正確に設定することが可能な基板処理装置を提供
することである。
An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of accurately setting a discharge amount of a processing liquid from a nozzle.

【0012】さらに、本発明の目的は、ノズルからの処
理液の吐出動作の変更が容易な基板処理装置を提供する
ことである。
It is a further object of the present invention to provide a substrate processing apparatus that can easily change the operation of discharging a processing liquid from a nozzle.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段および発明の効果】(1)
第1の発明 第1の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から導
かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板処
理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基板
保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルへ送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、ノズルからの処理液の
吐出動作を制御する制御情報を入力する入力手段と、入
力手段により入力された制御情報に基づいてモータの動
作を制御する制御手段とを備えたものである。
Means for Solving the Problems and Effects of the Invention (1)
A substrate processing apparatus according to a first aspect of the present invention is a substrate processing apparatus that performs a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, and a substrate holding unit that holds the substrate. A nozzle for discharging the processing liquid to the substrate held by the substrate holding means, a pump for feeding the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and controlling a discharging operation of the processing liquid from the nozzle. An input means for inputting control information and a control means for controlling the operation of the motor based on the control information input by the input means are provided.

【0014】第1の発明に係る基板処理装置において
は、処理液をノズルへ送り出すポンプはモータにより駆
動される。モータの回転動作は、制御手段により正確に
制御することができる。このため、モータにより駆動さ
れるポンプからの処理液の吐出量を正確に制御すること
によりノズルから吐出される処理液の吐出量を所望の値
に設定することができる。さらに、入力手段からはノズ
ルの処理液の吐出動作を制御する制御情報を入力するこ
とができ、この入力された制御情報に基づいてモータの
動作が制御される。このため、入力手段から制御情報を
入力することにより、ノズルの処理液の吐出動作を容易
に変更することが可能となる。
[0014] In the substrate processing apparatus according to the first aspect of the invention, the pump for sending the processing liquid to the nozzle is driven by a motor. The rotation operation of the motor can be accurately controlled by the control means. Therefore, by accurately controlling the discharge amount of the processing liquid from the pump driven by the motor, the discharge amount of the processing liquid discharged from the nozzle can be set to a desired value. Further, control information for controlling the discharge operation of the processing liquid from the nozzles can be input from the input means, and the operation of the motor is controlled based on the input control information. Therefore, by inputting the control information from the input means, it becomes possible to easily change the discharge operation of the processing liquid from the nozzle.

【0015】(2)第2の発明 第2の発明に係る基板処理装置は、第1の発明に係る基
板処理装置の構成において、入力手段は、制御情報とし
てモータの回転速度の変化を示す回転速度変化パターン
を入力し、制御手段は、入力手段から入力された回転速
度変化パターンに基づいてモータの動作を制御するもの
である。
(2) Second Invention In a substrate processing apparatus according to a second aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the first aspect, the input means includes, as control information, a rotation indicating a change in rotation speed of the motor. The speed change pattern is input, and the control means controls the operation of the motor based on the rotation speed change pattern input from the input means.

【0016】第2の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段からモータの回転速度変化パターンを入力
し、入力された回転速度変化パターンに従ってモータの
回転動作を制御することができる。これにより、処理液
をノズルから所望の状態で吐出させることができる。
In the substrate processing apparatus according to the second aspect, a rotation speed change pattern of the motor is input from the input means, and the rotation operation of the motor can be controlled according to the input rotation speed change pattern. Thus, the processing liquid can be discharged from the nozzle in a desired state.

【0017】(3)第3の発明 第3の発明に係る基板処理装置は、第2の発明に係る基
板処理装置の構成において、回転速度変化パターンは台
形状のパターンであり、制御手段は、回転速度変化パタ
ーン、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速
度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づ
いてモータの動作を制御するものである。
(3) Third Invention In a substrate processing apparatus according to a third invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the second invention, the rotation speed change pattern is a trapezoidal pattern, and the control means includes: The operation of the motor is controlled based on the control information of the rotation speed change pattern, the discharge amount of the processing liquid from the nozzle, the discharge time, the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor.

【0018】第3の発明に係る基板処理装置において
は、台形状の回転速度変化パターンを入力することが可
能であり、制御手段が回転速度変化パターン、ノズルか
らの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加
速時間および減速時間の制御情報に基づいてモータの動
作を制御することができる。これにより、ノズルからの
処理液の吐出動作を正確に制御することができる。
In the substrate processing apparatus according to the third invention, it is possible to input a trapezoidal rotation speed change pattern, and the control means controls the rotation speed change pattern, the discharge amount of the processing liquid from the nozzle, and the discharge time. The operation of the motor can be controlled based on the control information of the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor. Thereby, the discharge operation of the processing liquid from the nozzle can be accurately controlled.

【0019】(4)第4の発明 第4の発明に係る基板処理装置は、第3の発明に係る基
板処理装置の構成において、入力手段は、ノズルからの
処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加速時
間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4
つの制御情報が入力可能であり、制御手段は、5つの制
御情報のうち4つの制御情報が入力された場合に、5つ
の制御情報のうちの残りの制御情報を求め、回転速度変
化パターンおよび5つの制御情報に基づいてモータの動
作を制御するものである。
(4) Fourth Invention In the substrate processing apparatus according to the fourth invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the third invention, the input means includes: a discharge amount of the processing liquid from the nozzle, a discharge time, At least four of the five control information of discharge speed, motor acceleration time and motor deceleration time
Control information is input, and when four control information out of the five control information are input, the control means obtains the remaining control information out of the five control information, and determines the rotation speed change pattern and the five control information. The operation of the motor is controlled based on the two pieces of control information.

【0020】第4の発明に係る基板処理装置において
は、モータの動作制御に必要な5つの制御情報のうち、
4つの制御情報が入力された場合に、制御手段が残りの
制御情報を求めてモータの動作を制御することができ
る。これにより、作業者の制御情報の入力作業を簡素化
することができる。
In the substrate processing apparatus according to the fourth aspect of the present invention, of the five control information necessary for controlling the operation of the motor,
When four pieces of control information are input, the control means can obtain the remaining control information and control the operation of the motor. Thereby, the input operation of the control information by the operator can be simplified.

【0021】(5)第5の発明 第5の発明に係る基板処理装置は、第2の発明に係る基
板処理装置の構成において、回転速度変化パターンは、
モータの加速時および減速時に回転速度がS字状に変化
するS字状のパターンであり、制御手段は、回転速度変
化パターン、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、
吐出速度、モータの加速時間および減速時間の制御情報
に基づいてモータの動作を制御するものである。
(5) Fifth Invention A substrate processing apparatus according to a fifth invention is the substrate processing apparatus according to the second invention, wherein the rotation speed change pattern is:
When the motor accelerates and decelerates, the rotation speed changes in an S-shape when the rotation speed changes in an S-shape. The control unit controls the rotation speed change pattern, the discharge amount of the processing liquid from the nozzle, the discharge time,
The operation of the motor is controlled based on control information on the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor.

【0022】第5の発明に係る基板処理装置において
は、モータの加速時および減速時に回転速度がS字状に
変化するS字状のパターンが入力可能であり、制御手段
は、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速
度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づ
いてS字状の回転速度変化パターンに従ったモータの回
転動作を制御することができる。これにより、ノズルの
処理液の吐出動作を正確に制御することができる。
In the substrate processing apparatus according to the fifth aspect of the present invention, an S-shaped pattern in which the rotation speed changes in an S-shape when the motor is accelerated and decelerated can be input. The rotation operation of the motor according to the S-shaped rotation speed change pattern can be controlled based on the control information of the liquid discharge amount, the discharge time, the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor. Thus, the discharge operation of the processing liquid from the nozzle can be accurately controlled.

【0023】(6)第6の発明 第6の発明に係る基板処理装置は、第5の発明に係る基
板処理装置の構成において、入力手段は、ノズルからの
処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加速時
間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4
つの制御情報が入力可能であり、制御手段は、5つの制
御情報のうち4つの制御情報が入力された場合に、5つ
の制御情報のうちの残りの制御情報を求め、回転速度変
化パターンおよび5つの制御情報に基づいてモータの動
作を制御するものである。
(6) Sixth invention A substrate processing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the fifth aspect, wherein the input means comprises: a discharge amount of the processing liquid from the nozzle, a discharge time; At least four of the five control information of discharge speed, motor acceleration time and motor deceleration time
Control information is input, and when four control information out of the five control information are input, the control means obtains the remaining control information out of the five control information, and determines the rotation speed change pattern and the five control information. The operation of the motor is controlled based on the two pieces of control information.

【0024】第6の発明に係る基板処理装置において
は、制御手段が、モータの動作制御に必要な5つの制御
情報のうち、4つの制御情報が入力された場合に、残り
の制御情報を算出してモータの動作を制御することがで
きる。これにより、作業者の制御情報の入力作業を簡素
化することができる。
In the substrate processing apparatus according to the sixth aspect, the control means calculates the remaining control information when four of the five pieces of control information required for controlling the operation of the motor are input. Thus, the operation of the motor can be controlled. Thereby, the input operation of the control information by the operator can be simplified.

【0025】(7)第7の発明 第7の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から導
かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板処
理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基板
保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、ノズルから吐出される
処理液の吐出速度を入力する入力手段と、入力手段から
入力された処理液の吐出速度に基づいてモータの回転速
度を制御する制御手段とを備えたものである。
(7) Seventh Invention A substrate processing apparatus according to a seventh invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined processing by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate. A substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to the substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and discharging from the nozzle Input means for inputting the discharge speed of the processing liquid, and control means for controlling the rotation speed of the motor based on the discharge speed of the processing liquid input from the input means.

【0026】第7の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段により処理液の吐出速度を入力し、入力し
た吐出速度に基づいてモータの回転速度を制御すること
ができる。これにより、ノズルから所望の吐出速度で処
理液を基板に吐出することができる。
In the substrate processing apparatus according to the seventh aspect, the discharge speed of the processing liquid is input by the input means, and the rotation speed of the motor can be controlled based on the input discharge speed. Thus, the processing liquid can be discharged from the nozzle at a desired discharge speed to the substrate.

【0027】(8)第8の発明 第8の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から導
かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板処
理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基板
保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、モータの加速時間また
は減速時間の少なくとも一方を入力する入力手段と、入
力手段により入力されたモータの加速時間または減速時
間に基づいてモータの加速または減速動作を制御する制
御手段とを備えたものである。
(8) Eighth Invention A substrate processing apparatus according to an eighth invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined processing by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate. A substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to a substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, an acceleration time of the motor or Input means for inputting at least one of the deceleration time, and control means for controlling the acceleration or deceleration operation of the motor based on the acceleration time or deceleration time of the motor input by the input means.

【0028】第8の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段によりモータの加速時間または減速時間の
少なくとも一方を入力し、入力された加速時間または減
速時間に基づいてモータの加速または減速動作を制御す
ることができる。これにより、ノズルからの処理液の吐
出初期および吐出終期の状態を所望の状態に制御するこ
とができる。
In the substrate processing apparatus according to the eighth invention, at least one of the acceleration time and the deceleration time of the motor is input by the input means, and the acceleration or deceleration operation of the motor is performed based on the input acceleration time or deceleration time. Can be controlled. This makes it possible to control the initial and final discharge states of the processing liquid from the nozzles to desired states.

【0029】(9)第9の発明 第9の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から導
かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板処
理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基板
保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、ノズルからの処理液の
吐出時間を入力する入力手段と、入力手段により入力さ
れた処理液の吐出時間に基づいてモータがポンプを駆動
する時間を制御する制御手段とを備えたものである。
(9) Ninth Invention A substrate processing apparatus according to a ninth invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to the substrate. Substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to a substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and a processing liquid from the nozzle Input means for inputting the discharge time of the processing liquid, and control means for controlling the time during which the motor drives the pump based on the discharge time of the processing liquid input by the input means.

【0030】第9の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段により処理液を吐出する吐出時間を入力
し、入力された吐出時間に基づいてモータがポンプを駆
動する時間を制御することができる。これにより、ノズ
ルからの処理液の吐出時間を所望の値に調整して処理液
の吐出量を制御することができる。
In the substrate processing apparatus according to the ninth aspect, the discharge time for discharging the processing liquid is input by the input means, and the time for driving the pump by the motor can be controlled based on the input discharge time. . This makes it possible to control the discharge amount of the processing liquid by adjusting the discharge time of the processing liquid from the nozzle to a desired value.

【0031】(10)第10の発明 第10の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から
導かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基
板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、ノズルから吐出すべき
処理液の吐出量を入力する入力手段と、入力手段により
入力された処理液の吐出量に基づいてモータの回転動作
を制御する制御手段とを備えたものである。
(10) Tenth Invention A substrate processing apparatus according to a tenth invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate. A substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to the substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and discharging from the nozzle Input means for inputting the discharge amount of the processing liquid, and control means for controlling the rotation operation of the motor based on the discharge amount of the processing liquid input by the input means are provided.

【0032】第10の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段によりノズルから吐出すべき処理液の吐出
量を入力し、入力された処理液の吐出量に基づいてモー
タの回転動作を制御することができる。これにより、ノ
ズルからの処理液の吐出量を所望の値に制御することが
できる。
In the substrate processing apparatus according to the tenth aspect of the present invention, the discharge amount of the processing liquid to be discharged from the nozzle is input by the input means, and the rotation operation of the motor is controlled based on the input discharge amount of the processing liquid. be able to. This makes it possible to control the discharge amount of the processing liquid from the nozzle to a desired value.

【0033】(11)第11の発明 第11の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から
導かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基
板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、モータの回転速度の変
化を示す回転速度変化パターンを入力する入力手段と、
入力手段により入力された回転速度変化パターンに基づ
いてモータの回転動作を制御する制御手段とを備えたも
のである。
(11) Eleventh Invention A substrate processing apparatus according to an eleventh invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate. A substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid onto the substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and a rotation speed of the motor. Input means for inputting a rotation speed change pattern indicating a change,
Control means for controlling the rotation operation of the motor based on the rotation speed change pattern input by the input means.

【0034】第11の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段によりモータの回転速度変化を示す回転速
度変化パターンを入力し、入力した回転速度変化パター
ンに基づいてモータの回転動作を制御することができ
る。これにより、ノズルからの処理液の吐出状態を任意
のパターンに制御することができる。
In the substrate processing apparatus according to the eleventh aspect, a rotation speed change pattern indicating a rotation speed change of the motor is input by the input means, and the rotation operation of the motor is controlled based on the input rotation speed change pattern. Can be. This makes it possible to control the discharge state of the processing liquid from the nozzle to an arbitrary pattern.

【0035】(12)第12の発明 第12の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から
導かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基
板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルに送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、ノズルからの処理液の
吐出動作を制御する制御情報およびポンプの特性に応じ
て制御情報を補正するための補正情報を入力する入力手
段と、入力手段により入力された制御情報を補正情報に
基づいて補正し、補正後の制御情報に基づいてノズルか
らの処理液の吐出動作を制御する制御手段とを備えたも
のである。
(12) Twelfth Invention A substrate processing apparatus according to a twelfth invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate. Substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to a substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and a processing liquid from the nozzle Input means for inputting control information for controlling the discharge operation of the pump and correction information for correcting the control information in accordance with the characteristics of the pump, and correcting the control information input by the input means based on the correction information, And control means for controlling the discharge operation of the processing liquid from the nozzles based on the control information.

【0036】第12の発明に係る基板処理装置において
は、入力手段によりノズルの処理液の吐出動作を制御す
る制御情報と、ポンプの特性に応じて制御情報を補正す
るための補正情報とを入力することができる。補正情報
は、同一仕様の基板処理装置に対して汎用的に作成され
た制御情報に対し、個々の基板処理装置のポンプ固有の
特性に応じて汎用の制御情報を補正するための情報を有
する。そこで、制御手段が入力された補正情報に基づい
て制御情報を補正してノズルの処理液の吐出動作を制御
することにより、処理液の吐出動作を所望の状態に正確
に制御することができる。
In the substrate processing apparatus according to the twelfth aspect, control information for controlling the discharge operation of the processing liquid from the nozzle by the input means and correction information for correcting the control information according to the characteristics of the pump are input. can do. The correction information includes information for correcting general-purpose control information according to characteristics unique to a pump of each substrate processing apparatus with respect to control information generally generated for a substrate processing apparatus having the same specification. Therefore, the control means corrects the control information based on the input correction information and controls the discharge operation of the processing liquid from the nozzles, whereby the discharge operation of the processing liquid can be accurately controlled to a desired state.

【0037】(13)第13の発明 第13の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から
導かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板
処理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基
板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズル
と、処理液供給源の処理液をノズルへ送り出すポンプ
と、ポンプを駆動するモータと、所定の処理のための複
数の処理工程における処理手順情報と、モータの回転動
作を制御するモータ制御情報とを格納し、処理手順情報
は処理液吐出工程におけるノズルからの処理液の吐出時
間の制御情報を含み、処理手順情報のノズルからの処理
液の吐出時間の制御情報およびモータ制御情報に基づい
てモータがポンプを駆動する動作を制御する制御手段と
を備えたものである。
(13) Thirteenth Invention A substrate processing apparatus according to a thirteenth invention is a substrate processing apparatus for performing a predetermined processing by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to the substrate. A substrate holding means for holding, a nozzle for discharging a processing liquid to the substrate held by the substrate holding means, a pump for sending a processing liquid from a processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and a predetermined processing. The processing procedure information in the plurality of processing steps and motor control information for controlling the rotation operation of the motor are stored, and the processing procedure information includes control information of the discharge time of the processing liquid from the nozzle in the processing liquid discharging step, Control means for controlling the operation of the motor to drive the pump based on the control information of the discharge time of the processing liquid from the nozzle in the procedure information and the motor control information.

【0038】第13の発明に係る基板処理装置において
は、処理手順情報にノズルからの処理液の吐出時間の制
御情報を含んでいる。このため、ノズルからの処理液の
吐出量を変化させる場合、処理手順情報に含まれる処理
液の吐出時間の制御情報を変更することにより、モータ
制御情報を変更することなくノズルからの処理液の吐出
量を容易に変更することができる。
In the substrate processing apparatus according to the thirteenth aspect, the processing procedure information includes control information of the discharge time of the processing liquid from the nozzle. For this reason, when changing the discharge amount of the processing liquid from the nozzle, the control information of the processing liquid discharge time included in the processing procedure information is changed, so that the processing liquid from the nozzle is not changed without changing the motor control information. The discharge amount can be easily changed.

【0039】[0039]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施例による基板
処理装置の一例としての回転式塗布装置の概略構成図で
ある。図1において、回転式塗布装置は、スピンモータ
1と、スピンモータ1の回転軸の先端に取り付けられ、
基板Wを水平姿勢で保持して回転駆動される基板保持部
2を備える。また、回転式塗布装置は、基板Wにレジス
ト液を供給するレジスト液供給系30を有する。レジス
ト液供給系30は、レジスト液9を貯留するレジスト容
器8と、レジスト液9を吐出するレジストノズル4と、
レジストノズル4とレジスト容器8とを連結するレジス
ト供給管路5と、レジスト供給管路5中に設けられた吐
出ポンプ6およびポンプ駆動モータ7を備える。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a rotary coating apparatus as an example of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, a rotary coating device is attached to a spin motor 1 and a tip of a rotation shaft of the spin motor 1,
The apparatus includes a substrate holding unit 2 that holds a substrate W in a horizontal posture and is driven to rotate. In addition, the rotary coating apparatus has a resist liquid supply system 30 that supplies a resist liquid to the substrate W. The resist solution supply system 30 includes a resist container 8 that stores the resist solution 9, a resist nozzle 4 that discharges the resist solution 9,
A resist supply line 5 for connecting the resist nozzle 4 and the resist container 8 is provided, and a discharge pump 6 and a pump drive motor 7 provided in the resist supply line 5.

【0040】レジストノズル4は基板Wの上方位置と基
板Wの外方の待機位置との間を移動可能に形成されてい
る。
The resist nozzle 4 is formed so as to be movable between a position above the substrate W and a standby position outside the substrate W.

【0041】ポンプ駆動モータ7はパルスモータからな
る。パルスモータでは、駆動パルスにより回転数を正確
に制御することができる。このパルスモータからなるポ
ンプ駆動モータ7は主コントローラ11の制御の下でモ
ータコントローラ10から出力される駆動パルスにより
回転駆動される。
The pump drive motor 7 is a pulse motor. In a pulse motor, the number of rotations can be accurately controlled by a drive pulse. The pump drive motor 7 composed of this pulse motor is driven to rotate by a drive pulse output from the motor controller 10 under the control of the main controller 11.

【0042】吐出ポンプ6はポンプ駆動モータ7から回
転力を受けてレジスト液9をレジスト容器8内からレジ
スト供給管路5を通してレジストノズル4に送り出し、
レジストノズル4から吐出させる。
The discharge pump 6 receives the rotational force from the pump drive motor 7 and sends out the resist solution 9 from the inside of the resist container 8 to the resist nozzle 4 through the resist supply line 5.
Discharge from the resist nozzle 4.

【0043】主コントローラ11は、入力部12、制御
部13および表示部14から構成される。入力部12
は、レジストノズル4からのレジスト液9の吐出動作の
制御情報やポンプ駆動モータ7の回転動作の制御情報を
入力する。
The main controller 11 comprises an input unit 12, a control unit 13, and a display unit 14. Input unit 12
Inputs control information of the discharging operation of the resist liquid 9 from the resist nozzle 4 and control information of the rotating operation of the pump drive motor 7.

【0044】制御部13は、回転式塗布装置における処
理手順を規定する制御情報を格納するレシピデータ、お
よびポンプ駆動モータ7の動作を規定する制御情報を格
納するサブライブラリを有する。入力部12から入力さ
れる各制御情報は、レシピデータおよびサブライブラリ
の所定位置に格納される。そして、制御部13はレシピ
データおよびサブライブラリを参照して回転式塗布装置
の各部の動作を制御するとともに、モータコントローラ
10に制御信号を出力してポンプ駆動モータ7の回転動
作を制御する。
The control unit 13 has a sub-library for storing recipe data for storing control information for defining the processing procedure in the rotary coating apparatus and for storing control information for defining the operation of the pump drive motor 7. Each control information input from the input unit 12 is stored at a predetermined position in the recipe data and the sub-library. The control unit 13 controls the operation of each unit of the rotary coating apparatus with reference to the recipe data and the sub-library, and outputs a control signal to the motor controller 10 to control the rotation operation of the pump drive motor 7.

【0045】表示部14は、入力部12から入力される
制御情報や制御部13で求められる制御情報等を表示す
る。
The display unit 14 displays control information input from the input unit 12, control information required by the control unit 13, and the like.

【0046】図2はレシピデータの説明図であり、図3
はサブライブラリの説明図である。さらに、図4は回転
式塗布装置の処理工程におけるポンプ駆動モータの回転
速度変化を示す図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of the recipe data.
Is an explanatory diagram of a sub-library. FIG. 4 is a diagram showing a change in the rotation speed of the pump drive motor in the processing step of the rotary coating device.

【0047】図2〜図4に示すように、回転式塗布装置
では、レジスト液吐出工程、回転塗布工程、基板のリン
ス工程、乾燥工程および待機工程の各処理工程が行われ
る。図2のレシピデータ15には、回転式塗布装置の各
処理工程に対応する処理ステップ15a、各処理ステッ
プにおける基板回転数15b、各処理ステップにおける
処理時間15cおよびレジストノズルの移動タイミング
情報(図示せず)等の制御情報が格納されている。
As shown in FIG. 2 to FIG. 4, in the rotary coating apparatus, processing steps of a resist liquid discharging step, a rotary coating step, a substrate rinsing step, a drying step and a standby step are performed. In the recipe data 15 of FIG. 2, processing steps 15a corresponding to each processing step of the rotary coating apparatus, the number of substrate rotations 15b in each processing step, the processing time 15c in each processing step, and the movement timing information of the resist nozzle (shown in FIG. ) Is stored.

【0048】また、図3のサブライブラリ16には、レ
ジストノズル4からのレジスト液の吐出速度Vd、ポン
プ駆動モータ7の加速時間Taおよび減速時間Tr、レ
ジスト液の吐出量Q、ポンプ駆動モータ7の駆動パター
ンPおよびレジスト液の吐出量の補正値Cが格納されて
いる。
The sub-library 16 shown in FIG. 3 includes the discharge speed Vd of the resist solution from the resist nozzle 4, the acceleration time Ta and the deceleration time Tr of the pump drive motor 7, the discharge amount Q of the resist solution, the pump drive motor 7 And the correction value C of the discharge amount of the resist liquid are stored.

【0049】上記実施例においては、基板保持部2が本
発明の基板保持手段に相当し、レジストノズル4がノズ
ルに相当し、吐出ポンプ6がポンプに相当し、ポンプ駆
動モータ7がモータに相当し、主コントローラ11の入
力部14が入力手段に相当し、制御部12が制御手段に
相当する。さらに、レシピデータ15が処理手順情報に
相当し、サブライブラリ16がモータ制御情報に相当す
る。
In the above embodiment, the substrate holding section 2 corresponds to the substrate holding means of the present invention, the resist nozzle 4 corresponds to the nozzle, the discharge pump 6 corresponds to the pump, and the pump drive motor 7 corresponds to the motor. The input unit 14 of the main controller 11 corresponds to an input unit, and the control unit 12 corresponds to a control unit. Further, the recipe data 15 corresponds to the processing procedure information, and the sub-library 16 corresponds to the motor control information.

【0050】上記構成を有する回転式塗布装置の処理動
作について以下に説明する。通常、回転式塗布装置のレ
シピデータ15およびサブライブラリ16は予め作成さ
れ、主コントローラ11の制御部13に格納されてい
る。そして、回転式塗布装置は格納されたレシピデータ
15およびサブライブラリ16を参照して各処理工程を
行う。
The processing operation of the rotary coating apparatus having the above configuration will be described below. Usually, the recipe data 15 and the sub-library 16 of the rotary coating apparatus are created in advance and stored in the control unit 13 of the main controller 11. Then, the rotary coating apparatus performs each processing step with reference to the stored recipe data 15 and sub-library 16.

【0051】また、レシピデータ15およびサブライブ
ラリ16に格納された制御情報に基づく処理動作を変更
して新たな処理動作を行わせる場合には、主コントロー
ラ11の入力部12から変更すべき制御情報を入力す
る。ここでは、レジストノズル4の吐出動作を変更する
場合について説明する。
When a new processing operation is performed by changing the processing operation based on the control information stored in the recipe data 15 and the sub-library 16, the control information to be changed is input from the input unit 12 of the main controller 11. Enter Here, a case where the discharge operation of the resist nozzle 4 is changed will be described.

【0052】この場合、作業者は入力部12からレジス
トノズル4からのレジスト液の吐出速度Vd、ポンプ駆
動モータ7の加速時間Taおよび減速時間Tr、レジス
ト液の吐出量Q、ポンプ駆動モータ7の駆動パターン
P、レジスト液の吐出量の補正値Cおよびレジスト液の
吐出時間Tdを入力する。入力された制御情報のうち、
レジスト液の吐出時間Tdは図2のレシピデータ15の
処理ステップS3の処理時間15c内の時間T3として
格納され、残りの制御情報は図3のサブライブラリ16
内の所定位置に格納される。これにより、処理が開始状
態となる。
In this case, the worker inputs the resist liquid from the resist nozzle 4 through the input unit 12 at the discharge speed Vd, the acceleration time Ta and the deceleration time Tr of the pump drive motor 7, the discharge amount Q of the resist liquid, and the The drive pattern P, the correction value C of the discharge amount of the resist liquid, and the discharge time Td of the resist liquid are input. Of the input control information,
The resist liquid ejection time Td is stored as the time T3 within the processing time 15c of the processing step S3 of the recipe data 15 of FIG. 2, and the remaining control information is stored in the sub-library 16 of FIG.
Is stored at a predetermined position. As a result, the process enters a start state.

【0053】なお、本実施例の回転式塗布装置では、入
力部12より上記の7つの制御情報をすべて入力しなく
てもよい。例えば、ポンプ駆動モータ7の回転速度を図
5に示すような台形状の駆動パターンで制御する場合に
は、レジスト液9の吐出量Q、吐出速度Vd、吐出時間
Td、加速時間Taおよび減速時間Trの5つの制御情
報のうち、少なくとも4つの制御情報を入力すればよ
い。この場合、制御部13は入力された4つの制御情報
に基づいて残りの制御情報を算出する。
In the rotary coating apparatus of the present embodiment, it is not necessary to input all of the above seven control information from the input unit 12. For example, when controlling the rotation speed of the pump drive motor 7 with a trapezoidal drive pattern as shown in FIG. 5, the discharge amount Q of the resist solution 9, the discharge speed Vd, the discharge time Td, the acceleration time Ta, and the deceleration time At least four pieces of control information among the five pieces of control information of Tr may be input. In this case, the control unit 13 calculates the remaining control information based on the four pieces of input control information.

【0054】例えば、入力部12よりレジスト液9の吐
出速度Vd、吐出時間Td、ポンプ駆動モータ7の加速
時間Taおよび減速時間Trを入力すると、制御部13
がレジスト液の吐出量Qを算出し、サブライブラリ16
内に格納するとともに、表示部14に表示する。これに
より、作業者はレジスト液の吐出量Qを確認することが
できる。
For example, when the discharge speed Vd and discharge time Td of the resist solution 9 and the acceleration time Ta and the deceleration time Tr of the pump drive motor 7 are input from the input unit 12, the control unit 13
Calculates the discharge amount Q of the resist solution,
And displayed on the display unit 14. Thereby, the operator can check the discharge amount Q of the resist liquid.

【0055】また、ポンプ駆動モータ7の回転速度を図
6に示すようなS字状の駆動パターンで制御する場合に
は、台形状の駆動パターンの場合と同様の少なくとも4
つの制御情報に加え、ポンプ駆動モータ7の加速時およ
び減速時のS字状の回転速度の制御情報を入力すればよ
い。
When the rotation speed of the pump drive motor 7 is controlled by an S-shaped drive pattern as shown in FIG. 6, at least four times as in the case of the trapezoidal drive pattern.
In addition to the two pieces of control information, control information of the S-shaped rotation speed at the time of acceleration and deceleration of the pump drive motor 7 may be input.

【0056】さらに、制御部13は、入力部12から吐
出ポンプ6によるレジスト液の吐出量の補正値Cが入力
されると、補正値Cに基づいてポンプ駆動モータ7の回
転動作を補正する。通常、サブライブラリ16は、同一
仕様の吐出ポンプ6およびポンプ駆動モータ7が用いら
れる回転式塗布装置に共通して用いられる。しかしなが
ら、同一仕様の吐出ポンプ6であっても、各ポンプの吐
出能力に装置固有の差異が生じる。例えば、ポンプ駆動
モータ7に駆動パルスを2000パルス与えると1ml
(ミリリットル)のレジスト液を吐出する仕様を有する
吐出ポンプ6において、実際に2000パルスの駆動パ
ルスをポンプ駆動モータ7に与えて吐出ポンプ6の吐出
量を計測すると、1mlと異なる場合がある。
Further, when the correction value C of the discharge amount of the resist solution by the discharge pump 6 is input from the input unit 12, the control unit 13 corrects the rotation operation of the pump drive motor 7 based on the correction value C. Usually, the sub-library 16 is commonly used in a rotary coating apparatus using the discharge pump 6 and the pump drive motor 7 having the same specifications. However, even if the discharge pumps 6 have the same specifications, there is a device-specific difference in the discharge capacity of each pump. For example, when 2000 drive pulses are given to the pump drive motor 7, 1 ml
In a discharge pump 6 having a specification of discharging (milliliter) resist liquid, when a drive pulse of 2000 pulses is actually given to a pump drive motor 7 and the discharge amount of the discharge pump 6 is measured, it may be different from 1 ml.

【0057】そこで、実測した所定駆動パルス数当たり
の吐出量を補正値Cとして入力部12から入力すると、
制御部13は1駆動パルス当たりのレジスト液の吐出量
を算出する。そして、レジストノズル4からの実際の吐
出量を算出して表示部14に表示する。これにより、作
業者は実際のレジストノズル4からのレジスト液の吐出
量を確認することができる。
Then, when the actually measured ejection amount per predetermined number of drive pulses is input from the input unit 12 as the correction value C,
The control unit 13 calculates the discharge amount of the resist liquid per one driving pulse. Then, the actual discharge amount from the resist nozzle 4 is calculated and displayed on the display unit 14. Thereby, the operator can confirm the actual discharge amount of the resist liquid from the resist nozzle 4.

【0058】また、レジストノズル4からの実際の吐出
量が、入力された吐出量Qとなるように制御する場合に
は、補正値Cから算出した吐出量に基づいてレジスト液
の吐出時間Tdの入力値あるいは吐出速度Vdの入力値
を補正する。これにより、レジストノズル4からの吐出
量を、入力した所望の吐出量Qに設定することができ
る。
When the actual discharge amount from the resist nozzle 4 is controlled so as to be the inputted discharge amount Q, the discharge time Td of the resist liquid is calculated based on the discharge amount calculated from the correction value C. The input value or the input value of the discharge speed Vd is corrected. Thereby, the discharge amount from the resist nozzle 4 can be set to the desired discharge amount Q that has been input.

【0059】上記の制御情報の入力が終了すると、作業
者からの処理開始の入力情報を受けて、制御部13は、
レシピデータ15の処理ステップS1の制御情報に基づ
いてレジストノズル4を基板Wの上方に移動させる。
When the input of the control information is completed, the control unit 13 receives the input information of the processing start from the operator, and
The resist nozzle 4 is moved above the substrate W based on the control information of the processing step S1 of the recipe data 15.

【0060】次に、処理ステップS2およびS3に示す
制御情報に基づいてレジスト吐出処理が行われる。この
とき、制御部13は、入力部12から入力され、かつサ
ブライブラリ16に格納された制御情報に基づいてレジ
ストノズル4から基板Wにレジスト液を吐出させる。例
えば、入力部12により台形状の駆動パターンPが入力
された場合、制御部13は各制御情報に従って、ポンプ
駆動モータ7を図5に示すように回転駆動する。すなわ
ち、レジスト液の吐出時刻t1からTa時間の間ポンプ
駆動モータ7を加速し、その後一定の回転速度Rmで
(Td−(Ta+Tr))時間回転させる。さらに、T
r時間の間ポンプ駆動モータ7を減速し、時刻t2にお
いて停止させる。これにより、レジストノズル4からは
レジスト液9が所定の吐出速度Vdで所定の吐出量Qだ
け基板W上に吐出される。
Next, a resist discharging process is performed based on the control information shown in processing steps S2 and S3. At this time, the control unit 13 causes the resist nozzle 4 to discharge a resist solution onto the substrate W based on the control information input from the input unit 12 and stored in the sub-library 16. For example, when a trapezoidal drive pattern P is input by the input unit 12, the control unit 13 drives the pump drive motor 7 to rotate as shown in FIG. 5 according to each control information. That is, the pump drive motor 7 is accelerated for a time Ta from the resist solution discharge time t1, and then rotated at a constant rotation speed Rm for a time (Td− (Ta + Tr)). Furthermore, T
The pump drive motor 7 is decelerated for the time r and stopped at the time t2. Thereby, the resist liquid 9 is discharged from the resist nozzle 4 onto the substrate W by a predetermined discharge amount Q at a predetermined discharge speed Vd.

【0061】その後、処理ステップS3〜S5に示す制
御情報に基づいて、スピンモータ1が回転数R1,R
4,R5で回転駆動され、基板Wの表面に吐出されたレ
ジスト液9が全面に塗り広げられる。
Thereafter, based on the control information shown in the processing steps S3 to S5, the spin motor 1 rotates
4 and R5, the resist liquid 9 discharged onto the surface of the substrate W is spread over the entire surface.

【0062】さらに、処理ステップS6〜S8に示す制
御情報に基づいて、基板Wの裏面のリンス処理および基
板Wの周縁のエッジクリーニング処理が行われる。
Further, a rinsing process for the back surface of the substrate W and an edge cleaning process for the peripheral edge of the substrate W are performed based on the control information shown in the processing steps S6 to S8.

【0063】さらに、処理ステップS9〜S10に示す
制御情報に基づいて、基板Wからのリンス液の振り切り
乾燥が行われた後、待機状態となる。
Further, based on the control information shown in the processing steps S9 to S10, the rinse liquid from the substrate W is shaken off and dried, and then a standby state is set.

【0064】このように、本実施例による回転式塗布装
置では、主コントローラ11の入力部12からレジスト
ノズル4の吐出動作およびポンプ駆動モータ7の回転動
作の制御情報を入力することができる。このため、レジ
スト液の種類や基板Wの直径等に応じてレジスト液の吐
出量を最適な量に変更することができる。
As described above, in the rotary coating apparatus according to the present embodiment, control information on the discharge operation of the resist nozzle 4 and the rotation operation of the pump drive motor 7 can be input from the input unit 12 of the main controller 11. For this reason, the discharge amount of the resist liquid can be changed to an optimum amount according to the type of the resist liquid, the diameter of the substrate W, and the like.

【0065】また、正確な回転制御が可能なパルスモー
タからなるポンプ駆動モータ7を用いて吐出ポンプ6を
駆動することにより、レジストノズル4からのレジスト
液の吐出量を正確に制御することができる。加えて、吐
出ポンプ6の実際の吐出量から求めた補正値Cに基づい
てレジストノズル4からの吐出動作を補正することによ
り、共通のサブライブラリ16を用いた場合でも各吐出
ポンプ6の吐出特性に応じた補正を行なってレジスト液
の吐出量を所望の量に正確に制御することができる。
Further, by driving the discharge pump 6 using a pump drive motor 7 composed of a pulse motor capable of accurate rotation control, the discharge amount of the resist liquid from the resist nozzle 4 can be accurately controlled. . In addition, by correcting the discharge operation from the resist nozzle 4 based on the correction value C obtained from the actual discharge amount of the discharge pump 6, the discharge characteristics of each discharge pump 6 even when the common sub-library 16 is used. And the discharge amount of the resist solution can be accurately controlled to a desired amount.

【0066】なお、上記実施例において、ポンプ駆動モ
ータ7の駆動パターンについては、台形状やS字状パタ
ーンのみならず、他の駆動パターンを与えることも可能
である。
In the above embodiment, the drive pattern of the pump drive motor 7 can be not only a trapezoidal or S-shaped pattern but also other drive patterns.

【0067】また、上記実施例においては、レジスト液
9の吐出時間Tdとして、レシピデータ15の処理時間
15cのT3時間の欄に格納された処理時間を利用する
例を示したが、吐出時間Tdをサブライブラリ16に格
納するように構成してもよい。
Further, in the above embodiment, an example is described in which the processing time stored in the column of T3 time of the processing time 15c of the recipe data 15 is used as the discharge time Td of the resist liquid 9, but the discharge time Td May be stored in the sub-library 16.

【0068】なお、上記実施例のようにレシピデータ1
5に吐出時間Tdを入力するようにしておけば、ノズル
4からのレジストの吐出量を変化させる場合、このレシ
ピデータ15内の吐出時間を変更することにより、サブ
ライブラリ16内のデータを変更することなく、ノズル
4からのレジストの吐出量を容易に変更することができ
る。
It should be noted that the recipe data 1
If the ejection time Td is input to 5, when the ejection amount of the resist from the nozzle 4 is changed, the data in the sub-library 16 is changed by changing the ejection time in the recipe data 15. Without this, the discharge amount of the resist from the nozzle 4 can be easily changed.

【0069】さらに、上記実施例においては、回転式塗
布装置のレジストノズル4のレジスト供給系30を例に
説明したが、エッジクリーニングノズルのリンス液供給
系に本発明を適用することも可能であり、さらに洗浄装
置や現像装置等他の処理液供給系を有する基板処理装置
に適用することもできる。
Further, in the above embodiment, the resist supply system 30 of the resist nozzle 4 of the rotary coating apparatus has been described as an example. However, the present invention can be applied to a rinse liquid supply system of an edge cleaning nozzle. Further, the present invention can be applied to a substrate processing apparatus having another processing liquid supply system such as a cleaning apparatus and a developing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の基板処理装置の実施例としての回転式
塗布装置の構成を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a rotary coating apparatus as an embodiment of a substrate processing apparatus of the present invention.

【図2】図1の回転式塗布装置のレシピデータの説明図
である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of recipe data of the rotary coating device of FIG. 1;

【図3】図1の回転式塗布装置のサブライブラリの説明
図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a sub-library of the rotary coating device in FIG. 1;

【図4】図1の回転式塗布装置のスピンモータの回転数
変化を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a change in the number of rotations of a spin motor of the rotary coating apparatus in FIG. 1;

【図5】図1のポンプ駆動モータの回転速度制御の説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of rotation speed control of the pump drive motor of FIG. 1;

【図6】図1のポンプ駆動モータの回転速度制御の他の
例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating another example of the rotation speed control of the pump drive motor of FIG. 1;

【図7】従来の回転式塗布装置の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional rotary coating device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スピンモータ 2 基板保持部 4 レジストノズル 5 レジスト供給管路 6 吐出ポンプ 7 ポンプ駆動モータ 8 レジスト容器 9 レジスト液 10 モータコントローラ 11 主コントローラ 12 制御部 13 表示部 14 入力部 15 レシピデータ 16 サブライブラリ REFERENCE SIGNS LIST 1 spin motor 2 substrate holder 4 resist nozzle 5 resist supply line 6 discharge pump 7 pump drive motor 8 resist container 9 resist solution 10 motor controller 11 main controller 12 control unit 13 display unit 14 input unit 15 recipe data 16 sub-library

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理液供給源から導かれる処理液を基板
に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルへ送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記ノズルからの処理液の吐出動作を制御する制御情報
を入力する入力手段と、 前記入力手段により入力された前記制御情報に基づいて
前記モータの動作を制御する制御手段とを備えたことを
特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for performing a predetermined processing by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding means for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding means. A nozzle for discharging a processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and control information for controlling a discharging operation of the processing liquid from the nozzle. A substrate processing apparatus comprising: an input unit; and a control unit that controls an operation of the motor based on the control information input by the input unit.
【請求項2】 前記入力手段は、前記制御情報として前
記モータの回転速度の変化を示す回転速度変化パターン
を入力し、 前記制御手段は、前記入力手段から入力された前記回転
速度変化パターンに基づいて前記モータの動作を制御す
ることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The input means inputs a rotation speed change pattern indicating a change in the rotation speed of the motor as the control information, and the control means is configured to input the rotation speed change pattern based on the rotation speed change pattern input from the input means. 3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the operation of the motor is controlled by a motor.
【請求項3】 前記回転速度変化パターンは台形状のパ
ターンであり、 前記制御手段は、前記回転速度変化パターン、前記ノズ
ルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、前記モ
ータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいて前
記モータの動作を制御することを特徴とする請求項2記
載の基板処理装置。
3. The rotation speed change pattern is a trapezoidal pattern, and the control means controls the rotation speed change pattern, a discharge amount of the processing liquid from the nozzle, a discharge time, a discharge speed, and an acceleration time of the motor. 3. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the operation of the motor is controlled based on control information of the deceleration time.
【請求項4】 前記入力手段は、前記ノズルからの処理
液の吐出量、吐出時間、吐出速度、前記モータの加速時
間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4
つの制御情報が入力可能であり、 前記制御手段は、前記5つの制御情報のうち4つの制御
情報が入力された場合に、前記5つの制御情報のうちの
残りの制御情報を求め、前記回転速度変化パターンおよ
び前記5つの制御情報に基づいて前記モータの動作を制
御することを特徴とする請求項3記載の基板処理装置。
4. The control device according to claim 1, wherein the input unit is configured to output at least four of five control information of a discharge amount of the processing liquid from the nozzle, a discharge time, a discharge speed, and an acceleration time and a deceleration time of the motor.
When four control information items among the five control information items are input, the control means obtains the remaining control information items among the five control information items, and determines the rotation speed. 4. The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein the operation of the motor is controlled based on the change pattern and the five pieces of control information.
【請求項5】 前記回転速度変化パターンは、前記モー
タの加速時および減速時に回転速度がS字状に変化する
S字状のパターンであり、 前記制御手段は、前記回転速度変化パターン、前記ノズ
ルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、前記モ
ータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいて前
記モータの動作を制御することを特徴とする請求項2記
載の基板処理装置。
5. The rotation speed change pattern is an S-shaped pattern in which the rotation speed changes in an S-shape when the motor accelerates and decelerates, and the control unit controls the rotation speed change pattern and the nozzle. 3. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the operation of the motor is controlled based on control information of a discharge amount, a discharge time, a discharge speed, and an acceleration time and a deceleration time of the motor.
【請求項6】 前記入力手段は、前記ノズルからの処理
液の吐出量、吐出時間、吐出速度、前記モータの加速時
間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4
つの制御情報がさらに入力可能であり、 前記制御手段は、前記5つの制御情報のうち4つの制御
情報が入力された場合に、前記5つの制御情報のうちの
残りの制御情報を求め、前記回転速度変化パターンおよ
び前記5つの制御情報に基づいて前記モータの動作を制
御することを特徴とする請求項5記載の基板処理装置。
6. The control device according to claim 1, wherein the input unit is configured to output at least four control information of five control information of a discharge amount of the processing liquid from the nozzle, a discharge time, a discharge speed, an acceleration time and a deceleration time of the motor.
Control information can be further input, and when four control information of the five control information are input, the control means obtains the remaining control information of the five control information, and The substrate processing apparatus according to claim 5, wherein the operation of the motor is controlled based on a speed change pattern and the five pieces of control information.
【請求項7】 処理液供給源から導かれる処理液を基板
に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記ノズルから吐出される処理液の吐出速度を入力する
入力手段と、 前記入力手段から入力された前記処理液の吐出速度に基
づいて前記モータの回転速度を制御する制御手段とを備
えたことを特徴とする基板処理装置。
7. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging a processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and an input unit for inputting a discharge speed of the processing liquid discharged from the nozzle. And a control means for controlling a rotation speed of the motor based on a discharge speed of the processing liquid input from the input means.
【請求項8】 処理液供給源から導かれる処理液を基板
に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記モータの加速時間または減速時間の少なくとも一方
を入力する入力手段と、 前記入力手段により入力された前記モータの加速時間ま
たは減速時間に基づいて前記モータの加減または減速動
作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする基板
処理装置。
8. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle; a motor for driving the pump; and input means for inputting at least one of an acceleration time and a deceleration time of the motor. A substrate processing apparatus comprising: control means for controlling acceleration / deceleration or deceleration of the motor based on the acceleration time or deceleration time of the motor input by the input means.
【請求項9】 処理液供給源から導かれる処理液を基板
に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記ノズルからの処理液の吐出時間を入力する入力手段
と、 前記入力手段により入力された前記処理液の吐出時間に
基づいて前記モータが前記ポンプを駆動する時間を制御
する制御手段とを備えたことを特徴とする基板処理装
置。
9. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, an input unit for inputting a discharge time of the processing liquid from the nozzle, Control means for controlling a time during which the motor drives the pump based on a discharge time of the processing liquid input by an input means.
【請求項10】 処理液供給源から導かれる処理液を基
板に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記ノズルから吐出すべき処理液の吐出量を入力する入
力手段と、 前記入力手段により入力された前記処理液の吐出量に基
づいて前記モータの回転動作を制御する制御手段とを備
えたことを特徴とする基板処理装置。
10. A substrate processing apparatus for performing a predetermined processing by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and an input unit for inputting a discharge amount of the processing liquid to be discharged from the nozzle. A substrate processing apparatus comprising: a control unit that controls a rotation operation of the motor based on a discharge amount of the processing liquid input by the input unit.
【請求項11】 処理液供給源から導かれる処理液を基
板に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記モータの回転速度の変化を示す回転速度変化パター
ンを入力する入力手段と、 前記入力手段により入力された前記回転速度変化パター
ンに基づいて前記モータの回転動作を制御する制御手段
とを備えたことを特徴とする基板処理装置。
11. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and an input for inputting a rotation speed change pattern indicating a change in the rotation speed of the motor. Means for controlling the rotation of the motor based on the rotational speed change pattern input by the input means.
【請求項12】 処理液供給源から導かれる処理液を基
板に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルに送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記ノズルからの処理液の吐出動作を制御する制御情報
および前記ポンプの特性に応じて前記制御情報を補正す
るための補正情報を入力する入力手段と、 前記入力手段により入力された前記制御情報を前記補正
情報に基づいて補正し、補正後の制御情報に基づいて前
記ノズルからの処理液の吐出動作を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とする基板処理装置。
12. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle for discharging a processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, control information for controlling a discharging operation of the processing liquid from the nozzle, and the pump Input means for inputting correction information for correcting the control information in accordance with the characteristics of the control information; and correcting the control information input by the input means based on the correction information, based on the corrected control information. A substrate processing apparatus comprising: a control unit configured to control a discharge operation of the processing liquid from the nozzle.
【請求項13】 処理液供給源から導かれる処理液を基
板に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出する
ノズルと、 前記処理液供給源の処理液を前記ノズルへ送り出すポン
プと、 前記ポンプを駆動するモータと、 前記所定の処理のための複数の処理工程における処理手
順情報と、前記モータの回転動作を制御するモータ制御
情報とを格納し、前記処理手順情報は処理液吐出工程に
おける前記ノズルからの処理液の吐出時間の制御情報を
含み、前記処理手順情報の前記ノズルからの処理液の吐
出時間の制御情報および前記モータ制御情報に基づいて
前記モータが前記ポンプを駆動する動作を制御する制御
手段とを備えたことを特徴とする基板処理装置。
13. A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate, comprising: a substrate holding unit for holding a substrate; and a substrate held by the substrate holding unit. A nozzle that discharges a processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor that drives the pump, processing procedure information in a plurality of processing steps for the predetermined processing, Storing motor control information for controlling the rotation operation of the motor, wherein the processing procedure information includes control information of a processing liquid discharge time from the nozzle in a processing liquid discharging step, and the processing procedure information from the nozzle is Substrate processing, comprising: control means for controlling an operation of the motor to drive the pump based on control information of a discharge time of the processing liquid and the motor control information. Location.
JP9711598A 1998-04-09 1998-04-09 Substrate treatment apparatus Pending JPH11297589A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9711598A JPH11297589A (en) 1998-04-09 1998-04-09 Substrate treatment apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9711598A JPH11297589A (en) 1998-04-09 1998-04-09 Substrate treatment apparatus

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005307274A Division JP2006074066A (en) 2005-10-21 2005-10-21 Substrate treatment apparatus
JP2005307275A Division JP2006060251A (en) 2005-10-21 2005-10-21 Substrate treatment equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11297589A true JPH11297589A (en) 1999-10-29

Family

ID=14183582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9711598A Pending JPH11297589A (en) 1998-04-09 1998-04-09 Substrate treatment apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11297589A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100428003B1 (en) * 2000-06-23 2004-05-04 캐논 가부시끼가이샤 Moving mechanism in exposure apparatus, and exposure apparatus having the same
JP2008124369A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Coating method
JP2008124368A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Coating method
JP2008253986A (en) * 2007-03-15 2008-10-23 Tokyo Electron Ltd Method of coating application, coating application apparatus and computer readable storage medium
JP2009078250A (en) * 2007-09-27 2009-04-16 Tokyo Electron Ltd Coating treatment method, coating treatment device, and memory medium readable by computer
CN115007409A (en) * 2022-08-09 2022-09-06 常州铭赛机器人科技股份有限公司 Trace glue discharging control device of two-component screw valve and control method thereof

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100428003B1 (en) * 2000-06-23 2004-05-04 캐논 가부시끼가이샤 Moving mechanism in exposure apparatus, and exposure apparatus having the same
JP2008124369A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Coating method
JP2008124368A (en) * 2006-11-15 2008-05-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Coating method
JP2008253986A (en) * 2007-03-15 2008-10-23 Tokyo Electron Ltd Method of coating application, coating application apparatus and computer readable storage medium
JP2009078250A (en) * 2007-09-27 2009-04-16 Tokyo Electron Ltd Coating treatment method, coating treatment device, and memory medium readable by computer
US8318247B2 (en) 2007-09-27 2012-11-27 Tokyo Electron Limited Coating treatment method, coating treatment apparatus, and computer-readable storage medium
CN115007409A (en) * 2022-08-09 2022-09-06 常州铭赛机器人科技股份有限公司 Trace glue discharging control device of two-component screw valve and control method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040072450A1 (en) Spin-coating methods and apparatuses for spin-coating, including pressure sensor
JPH11297589A (en) Substrate treatment apparatus
JP2006060251A (en) Substrate treatment equipment
JP2006074066A (en) Substrate treatment apparatus
JP2008096297A (en) Substrate processing apparatus and processing liquid flow measurement method
JP2001203151A (en) Semiconductor manufacturing apparatus
JPH1032157A (en) Substrate processor
JPH1176918A (en) Substrate treating device and method therefor
JP2780090B2 (en) Resist discharge method
JP2523411B2 (en) Rotary substrate processing equipment
JPH09115870A (en) Substrate washing apparatus
JP2000012416A (en) Substrate processor
JP2003039006A (en) Paste coating machine
JP2562739B2 (en) Rotary substrate processing equipment
JPH1027735A (en) Wafer spin-coater
JP3657819B2 (en) Substrate processing equipment
JPH11283895A (en) Substrate treatment device
US20240216958A1 (en) Substrate treatment apparatus and substrate treatment method
KR200169702Y1 (en) Coater for semiconductor wafer
JP2000051770A (en) Film thickness distribution adjusting method and substrate coating device using the same
JP2764812B2 (en) Resist processing equipment
JP2001284315A (en) Substrate-processing method and substrate processor
JPH0999265A (en) Spin coater and spin-coating method
JP2001223151A (en) Substrate processing apparatus
JPH01205422A (en) Resist coater

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050222

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20050414

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050517

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050715

A02 Decision of refusal

Effective date: 20050823

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

A521 Written amendment

Effective date: 20051021

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20051205

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20051222

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912