JPH1123723A - Particle beam detector - Google Patents
Particle beam detectorInfo
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- JPH1123723A JPH1123723A JP9171924A JP17192497A JPH1123723A JP H1123723 A JPH1123723 A JP H1123723A JP 9171924 A JP9171924 A JP 9171924A JP 17192497 A JP17192497 A JP 17192497A JP H1123723 A JPH1123723 A JP H1123723A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 STJ素子を用いて、ノイズレベルが低く、
かつ性能再現性を向上した粒子線検出装置を提供する。
【解決手段】 開口部11及び超伝導材料からなる配線
層12a〜12dを有する基板10上に、粒子線検出器
として使用されるSTJ素子アレイを集積したチップ2
0と、SQUIDや超伝導ADC等からなる信号処理回
路を集積したチップ30をフリップチップボンディング
で結合してハイブリッド化する。チップ20はSTJ素
子アレイが開口部11に面するようにしてマウントし、
チップ30には超伝導材料からなる箱状シールド体60
を被せる。チップ20にのみ磁場を印加し、基板10の
開口部11を通ってSTJ素子に入射した粒子線を検出
する。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To reduce the noise level by using an STJ element,
Provided is a particle beam detection device with improved performance reproducibility. SOLUTION: A chip 2 in which an STJ element array used as a particle beam detector is integrated on a substrate 10 having an opening 11 and wiring layers 12a to 12d made of a superconductive material.
0 and a chip 30 on which a signal processing circuit composed of a SQUID, a superconducting ADC, or the like is integrated, by flip-chip bonding to form a hybrid. The chip 20 is mounted such that the STJ element array faces the opening 11,
The chip 30 has a box-shaped shield body 60 made of a superconductive material.
Put on. A magnetic field is applied only to the chip 20 to detect a particle beam that has entered the STJ element through the opening 11 of the substrate 10.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光子(電磁波)、
荷電粒子、中性粒子等の粒子線を検出するのに用いられ
る粒子線検出装置に関する。The present invention relates to photons (electromagnetic waves),
The present invention relates to a particle beam detection device used for detecting a particle beam such as a charged particle and a neutral particle.
【0002】[0002]
【従来の技術】高いエネルギー分解能と優れた時間分解
能を有する粒子線検出器として、超伝導トンネル接合
(Superconducting Tunnel Junction)素子(以下、S
TJ素子という)を用いた検出素子と超伝導量子干渉素
子(SQUID)を用いた低雑音信号増幅素子の組み合
わせが知られている。2. Description of the Related Art As a particle beam detector having high energy resolution and excellent time resolution, a superconducting tunnel junction (hereinafter referred to as S)
A combination of a detection element using a TJ element) and a low-noise signal amplification element using a superconducting quantum interference device (SQUID) is known.
【0003】STJ素子は、図10に略示するように、
2つの超伝導体101,102で薄い絶縁層103を挟
んだ構造を持つ素子100である。両側の超伝導体10
1,102の電子は、フェルミ面近傍でクーパー対を形
成しボーズ凝縮を起こしている。両側の超伝導体10
1,102にバイアス電圧VBをかけ各々のポテンシャ
ルに差を生じさせると、その差がクーパー対の解離エネ
ルギーに相当する2Δ以下の際には熱励起した準粒子の
みが厚み10〜20Åの絶縁層103をトンネル効果に
より量子力学的に通過し、両側の超伝導体101,10
2の間に微小電流が流れる。バイアス電圧VBを2Δ以
上に上げると急激に電流が増加し、バイアス電圧とST
J素子に流れる電流の関係は図11の様なV−I特性を
示す。また、バイアス電圧VBが0の場合には、クーパ
ー対が絶縁層103をトンネル効果で通過するいわゆる
ジョセフソン電流が流れる。[0005] As shown schematically in FIG.
The element 100 has a structure in which a thin insulating layer 103 is sandwiched between two superconductors 101 and 102. Superconductor 10 on both sides
The 1,102 electrons form a Cooper pair near the Fermi surface and cause Bose condensation. Superconductor 10 on both sides
When causing a difference in potential of each bias voltage V B to 1,102, the insulation only quasiparticles thermally excited thickness 10~20Å is in the following 2Δ where the difference corresponds to the dissociation energy of the Cooper pairs Quantum mechanically passes through the layer 103 by tunnel effect, and the superconductors 101 and 10 on both sides
A small current flows between the two. The current rapidly increases when increasing the bias voltage V B over 2.DELTA., Bias voltage and ST
The relationship between the currents flowing through the J element shows a VI characteristic as shown in FIG. Further, when the bias voltage V B is 0, it flows so called Josephson current Cooper pair passes through the insulating layer 103 by the tunneling effect.
【0004】粒子線検出器の基本的な動作原理は、粒子
線が検出器に入射した際に検出器に与えたエネルギーを
何らかの形で電流もしくは電圧信号に変換して取り出す
ことである。STJ素子の場合、バイアス電圧VBを図
11の2Δ以下に設定しておき、超伝導体101もしく
は102に粒子線が入射した際に与えられたエネルギー
によってクーパー対が解離して生じた準粒子を電流とし
て取り出すと、検出器として動作することになる。この
とき、バイアス電圧VBは非常に小さいため、粒子線の
入射によって生じた信号電流と同時に大きなジョセフソ
ン電流が流れ、本来の信号が埋もれてしまう。ジョセフ
ソン電流の大きさはSTJ素子に磁場をかけることで制
御可能なため、STJ素子を粒子線検出器として動作さ
せるためには、ジョセフソン電流が0になるような大き
さの磁場Bをかけることが必要不可欠である。[0004] The basic operation principle of a particle beam detector is to convert the energy given to the detector when the particle beam enters the detector into a current or voltage signal in some form and to extract the signal. In the case of the STJ element, the bias voltage V B is set to 2Δ or less in FIG. 11 and the quasiparticles generated by dissociation of the Cooper pair by the energy given when the particle beam is incident on the superconductor 101 or 102. Is taken out as a current, it operates as a detector. At this time, bias the voltage V B is very small, the flow at the same time a large Josephson current and the signal current caused by the incidence of the particle beam, the original signal is buried. Since the magnitude of the Josephson current can be controlled by applying a magnetic field to the STJ element, in order to operate the STJ element as a particle beam detector, a magnetic field B having a magnitude such that the Josephson current becomes 0 is applied. It is essential.
【0005】STJ素子の粒子線検出器としての動作温
度は超伝導転移温度Tcよりも十分低いことが必要で、
およそTc/10程度である。これはノイズ、すなわち
エネルギー分解能を悪くする原因の一つとなる熱励起し
た準粒子によるバイアス電流をなるべく小さくするため
に、熱励起を起こりにくくする必要があるからである。[0005] The operating temperature of the STJ element as a particle beam detector must be sufficiently lower than the superconducting transition temperature Tc .
It is about T c / 10. This is because it is necessary to make thermal excitation less likely in order to minimize the noise, that is, the bias current due to thermally excited quasiparticles, which is one of the causes of deteriorating the energy resolution.
【0006】一方、信号増幅素子として用いられるSQ
UIDは同様にSTJ素子の組み合わせで構成されてお
り、磁場の微小な変化を検出しそれを増幅する素子であ
る。実際には、検出器で生じた信号電流をSQUIDに
近接したコイルに導き、電流の変化を磁場の変化に変換
してSQUIDで検出・増幅する。従って、コイル及び
SQUIDは外部磁場から完全に遮断する必要がある。
SQUIDの動作温度は、素子が超伝導になっていれば
よいためTc以下であればよい。On the other hand, SQ used as a signal amplifying element
The UID is similarly configured by a combination of STJ elements, and detects a small change in the magnetic field and amplifies it. In practice, the signal current generated by the detector is guided to a coil close to the SQUID, and a change in the current is converted into a change in the magnetic field, and the change is detected and amplified by the SQUID. Therefore, the coil and the SQUID must be completely isolated from the external magnetic field.
The operating temperature of the SQUID may be Tc or lower because the element only needs to be superconductive.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】前述のように粒子線検
出素子としてのSTJ素子から得られる信号は微弱なた
め、前置増幅器としてはSTJを有する超伝導量子干渉
計(dc−SQUID)が使用される。従来の超伝導粒
子線検出素子を用いた粒子線検出装置は手作業でボンデ
ィングを行って組み立てていたが、配線がノイズを拾っ
てノイズレベルが高いため分解能の低下を招き、また検
出装置として十分な信頼性を有しているとは言えなかっ
た。As described above, since the signal obtained from the STJ element as a particle beam detecting element is weak, a superconducting quantum interferometer (dc-SQUID) having an STJ is used as a preamplifier. Is done. Conventional particle beam detectors using superconducting particle beam detectors were assembled by manually bonding, but the wiring picked up noise and the noise level was high, resulting in a reduction in resolution. It was not said that it had high reliability.
【0008】また、粒子線検出素子として使用されるS
TJ素子の一つ一つは100μm角程度の微小なもので
あり、短時間で高精度な測定を行うためには検出器の検
出面積を数mmから1cm程度の大きさとすることが必
要である。従って、多数の接合素子を配列にしてシステ
ム化する必要がある。STJ素子の最適条件下での使用
には、低温部から常温部までの電気信号の伝達の低雑音
化が必須である。具体的には、信号をSQUIDで増幅
するか、低温部でAD変換をしてしまうかのどちらかで
ある。中規模のSTJ素子の配列ならSQUIDで増幅
して常温部までもっていけばよいし、大規模のSTJ素
子配列の場合には配線の問題から低温部でAD変換をか
けるのが望ましい。いずれにしても、素子の数が多くな
ると配線が大変になる。Further, S used as a particle beam detecting element
Each of the TJ elements is a minute one of about 100 μm square, and the detection area of the detector needs to be several mm to about 1 cm in order to perform high-precision measurement in a short time. . Therefore, it is necessary to form a system by arranging a large number of bonding elements. In order to use the STJ element under optimal conditions, it is essential to reduce the noise in the transmission of electric signals from the low-temperature section to the normal-temperature section. Specifically, either the signal is amplified by SQUID or AD conversion is performed in a low temperature part. In the case of a medium-scale STJ element array, it is sufficient to amplify the SQUID and bring it to the room temperature section. In the case of a large-scale STJ element array, it is desirable to perform AD conversion in a low-temperature section due to wiring problems. In any case, when the number of elements increases, wiring becomes difficult.
【0009】さらに、STJ素子を粒子線検出素子とし
て使うためには磁場をかける必要があるが、SQUID
や超伝導デバイスを用いるADCは磁場がかかっている
と動作しない。従って、単純に検出部と読み出し用SQ
UID又は超伝導ADCを単にモノリシックに集積化し
ても動作しない。本発明は、このようなSTJ素子を用
いた粒子線検出装置の現状に鑑みてなされたもので、ノ
イズレベルが低く、かつ性能再現性を向上した粒子線検
出装置を提供することを目的とする。Further, in order to use the STJ element as a particle beam detecting element, it is necessary to apply a magnetic field.
ADCs using superconducting devices do not operate when a magnetic field is applied. Therefore, the detection unit and the reading SQ are simply
Simply integrating a UID or superconducting ADC monolithically does not work. The present invention has been made in view of the current state of particle beam detectors using such STJ elements, and has as its object to provide a particle beam detector having a low noise level and improved performance reproducibility. .
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明においては、粒子
線検出器として使用されるSTJ素子配列を集積したチ
ップと、SQUIDや超伝導ADC等からなる信号処理
回路を集積したチップとを別々のチップとして作ってお
く。これらのチップを、例えば超伝導フリップチップボ
ンディングで結合してハイブリッド化する。そして、各
チップ間にできた空間に、超伝導材料で磁気的な仕切を
設け、必要なデバイスのみに磁場をかけることができる
ようにすることで前記目的を達成する。According to the present invention, a chip on which an STJ element array used as a particle beam detector is integrated and a chip on which a signal processing circuit such as SQUID or superconducting ADC is integrated are separated. Make it as a chip. These chips are combined and hybridized by, for example, superconducting flip chip bonding. The above object is achieved by providing a magnetic partition with a superconducting material in a space formed between the chips so that a magnetic field can be applied only to necessary devices.
【0011】すなわち、本発明の粒子線検出装置は、基
板と、超伝導トンネル接合(STJ)素子アレイ及び超
伝導トンネル接合素子アレイに各々接続された入出力端
子を有する検出部チップと、各超伝導トンネル接合素子
からの信号を処理する信号処理回路及び信号処理回路に
接続された入出力端子を有する信号処理チップとを備え
る粒子線検出装置であって、検出部チップと信号処理チ
ップとは、検出部チップのみに磁場が印加されるように
基板上に磁気的に分離してマウントされていることを特
徴とする。That is, a particle beam detecting apparatus according to the present invention comprises a substrate, a superconducting tunnel junction (STJ) element array, a detecting section chip having input / output terminals respectively connected to the superconducting tunnel junction element array, A particle beam detection device including a signal processing circuit that processes a signal from the conduction tunnel junction element and a signal processing chip having an input / output terminal connected to the signal processing circuit, wherein the detection unit chip and the signal processing chip are: It is characterized in that it is magnetically separated and mounted on a substrate so that a magnetic field is applied only to the detection unit chip.
【0012】基板には開口部を設けるとともに超伝導材
料からなる配線層を設け、検出部チップは超伝導トンネ
ル接合素子が基板の開口部に面しその入出力端子が開口
部の周囲に設けられた配線層と接続されるようにして基
板にマウントし、信号処理チップはその入出力端子と検
出部チップの入出力端子とが超伝導材料からなる配線層
によって結線されるようにして基板の検出部チップと同
じ側にマウントするのが好都合である。An opening is provided in the substrate and a wiring layer made of a superconducting material is provided. In the detector chip, a superconducting tunnel junction element faces the opening of the substrate and its input / output terminals are provided around the opening. The signal processing chip is mounted on the board so that it is connected to the wiring layer, and the input / output terminals of the signal processing chip and the input / output terminals of the detector chip are connected by a wiring layer made of a superconductive material. It is convenient to mount it on the same side as the chip.
【0013】このようなマウント法によると、基板上に
検出部チップと信号処理チップをフリップチップボンデ
ィングで実装してハイブリッド化することができる。フ
リップチップボンディングによるとSTJ素子配列は基
板側を向いてしまい、このままでは粒子線検出器になら
ないが、基板の開口部に検出部チップをマウントするこ
とにより、粒子線を基板開口を通して基板側からSTJ
素子配列に入射させることができる。この配置による
と、信号処理チップは基板によって入射粒子線から遮蔽
されるため、信号処理回路を構成するSQUIDアンプ
などに粒子線が入射して誤動作することも回避される。According to such a mounting method, the detection unit chip and the signal processing chip can be mounted on the substrate by flip-chip bonding to be hybridized. According to the flip-chip bonding, the STJ element array is directed to the substrate side, and as it is, it does not become a particle beam detector.
The light can be incident on the element array. According to this arrangement, since the signal processing chip is shielded from the incident particle beam by the substrate, it is possible to prevent the particle beam from entering the SQUID amplifier or the like constituting the signal processing circuit and causing a malfunction.
【0014】検出部チップのみに磁場が印加され、信号
処理チップには磁場が印加されないようにするには、例
えば信号処理チップを、磁束が侵入しないように超伝導
体材料によって包囲すればよい。あるいは、検出部チッ
プのみを超伝導材料で筒状に包囲し、検出装置に印加さ
れた磁束がその筒の内部のみを通るようにしてもよい。In order to prevent a magnetic field from being applied only to the detection unit chip and from applying a magnetic field to the signal processing chip, for example, the signal processing chip may be surrounded by a superconductor material so that magnetic flux does not enter. Alternatively, only the detection unit chip may be surrounded by a superconducting material in a cylindrical shape so that the magnetic flux applied to the detection device passes only inside the cylinder.
【0015】基板側においても信号処理チップを十分磁
気遮蔽するためには、基板に基板表面と平行に超伝導体
層を設け、その上に絶縁して前記超伝導体からなる配線
層を設けるのが好ましい。検出部は性能を維持するため
に他の信号処理回路よりも十分低温に保たれている必要
がある。しかし、検出部チップのSTJ素子アレイは、
基板側からボンディングを介してしか冷却されないため
十分な冷却が行えない。このため、検出部チップの背面
すなわち基板の開口に面した側と反対側の面に、やはり
STJ素子を用いた超伝導ペルチェ素子を張り付けて冷
却するのが好ましい。In order to sufficiently magnetically shield the signal processing chip also on the substrate side, a superconductor layer is provided on the substrate in parallel with the substrate surface, and a wiring layer made of the superconductor is insulated thereon. Is preferred. The detector needs to be kept at a sufficiently lower temperature than other signal processing circuits in order to maintain performance. However, the STJ element array of the detector chip is
Since cooling is performed only from the substrate side via bonding, sufficient cooling cannot be performed. For this reason, it is preferable that a superconducting Peltier element using an STJ element is also attached to the back surface of the detection unit chip, that is, the surface opposite to the side facing the opening of the substrate, for cooling.
【0016】信号処理チップの信号処理回路は超伝導デ
バイスによって構成される。信号処理回路には、超伝導
トンネル接合素子の出力を増幅する増幅回路、増幅され
た信号をAD変換するデジタル化回路(ADC回路)、
デジタル化された信号を演算処理する演算回路、外部と
の通信処理を行う通信回路などを含ませることができ
る。増幅回路はSQUIDによって構成することができ
る。また、ADC回路、演算回路、通信回路等も全てS
TJ素子によって構成することができ、信号処理チップ
は既存の半導体集積回路製造技術によって製造すること
ができる。The signal processing circuit of the signal processing chip is constituted by a superconducting device. The signal processing circuit includes an amplifier circuit for amplifying the output of the superconducting tunnel junction element, a digitizing circuit (ADC circuit) for AD-converting the amplified signal,
An arithmetic circuit for performing arithmetic processing on the digitized signal, a communication circuit for performing communication processing with the outside, and the like can be included. The amplifier circuit can be constituted by SQUID. ADC circuits, arithmetic circuits, communication circuits, etc. are all S
The signal processing chip can be manufactured by the existing semiconductor integrated circuit manufacturing technology.
【0017】このようにADC回路まで、あるいは演算
回路や通信回路までも極低温に冷却される低温部に配置
することにより、低温部と常温部とを接続する配線の数
を大幅に減少することができ(低温部と常温部の接続を
通信線のみとする場合には最低2本の配線ですむ)、配
線を簡略化できるとともに低温部への熱入力を最小限に
抑えることができる。By arranging the ADC circuit, or even the arithmetic circuit and the communication circuit in the low-temperature part cooled to an extremely low temperature, the number of wirings connecting the low-temperature part and the normal-temperature part is greatly reduced. (In the case where only the communication line is used to connect the low-temperature section and the normal-temperature section, at least two wires are required), the wiring can be simplified and the heat input to the low-temperature section can be minimized.
【0018】このようにして本発明によると、ノイズレ
ベルが低く、検出器としての性能の再現性を向上した粒
子線検出装置を得ることができる。この粒子線検出装置
は、近赤外光から可視光、紫外光、X線、ガンマ線に及
ぶ電磁波(光子)、電子やイオンなどの荷電粒子、分子
線や中性原子線などの中性粒子等の粒子線を検出するの
に用いることができる。As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a particle beam detector having a low noise level and improved reproducibility of performance as a detector. This particle beam detector can be used for electromagnetic waves (photons) ranging from near-infrared light to visible light, ultraviolet light, X-rays and gamma rays, charged particles such as electrons and ions, and neutral particles such as molecular beams and neutral atomic beams. Can be used to detect the particle beam.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図1は、基板の一例を示す模式的平面図で
ある。基板10は中央に開口部11を有し、その周囲に
配線層12a〜12dを有する。配線層12a〜12d
は超伝導材料層、例えばNb層をパターニングすること
によって形成される。配線層12a〜12dは、基板1
0の開口部11にマウントされる検出部チップの入出力
端子と、基板10の周辺領域にマウントされる信号処理
チップの入出力端子の間を接続する。信号処理チップが
マウントされる位置には、信号処理チップの外形寸法よ
りわずかに大きな寸法で超伝導材料よりなる枠13a〜
13dが形成されている。Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of the substrate. The substrate 10 has an opening 11 at the center and wiring layers 12a to 12d around the opening. Wiring layers 12a to 12d
Is formed by patterning a superconducting material layer, for example, an Nb layer. The wiring layers 12a to 12d
A connection is made between the input / output terminals of the detector chip mounted on the opening 11 of the “0” and the input / output terminals of the signal processing chip mounted on the peripheral area of the substrate 10. At the position where the signal processing chip is mounted, frames 13a to 13c which are slightly larger than the outer dimensions of the signal processing chip and are made of a superconducting material.
13d is formed.
【0020】図2は図1のA−A矢視断面図、図3
(a)及び(b)は図2のB−B矢視断面図及びC−C
矢視断面図である。基板10は、図2及び図3に示され
るように、例えば流動ガラス等の絶縁板14の上にNb
等の超伝導材料層15を一面に形成し、更にその上にS
iO2等の絶縁層16を一面に形成した上に、超伝導材
料からなる配線層12a〜12dが形成されている。配
線層12a〜12dのパターニングは、周知のフォトリ
ソグラフィ法で行うことができる。信号処理チップ30
がマウントされる場所の周囲には、配線層12a〜12
dを覆うようにして超伝導材料たとえばNbからなる枠
13a〜13dが形成されている。配線層12a〜12
d上では、超伝導材料からなる枠13a〜13dが配線
層12a〜12dの導体と直接接触することがないよう
に、図3(a)に示すように、配線層12a〜12dの
導体の周囲に絶縁層17が形成されている。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG.
(A) and (b) are sectional views taken along line BB of FIG. 2 and CC.
It is arrow sectional drawing. As shown in FIGS. 2 and 3, the substrate 10 is provided with Nb on an insulating plate 14 such as a flowing glass.
Is formed on one surface, and furthermore, S
The insulating layer 16 of iO 2 or the like after having formed on one surface, a wiring layer 12a~12d consisting superconducting material is formed. The patterning of the wiring layers 12a to 12d can be performed by a known photolithography method. Signal processing chip 30
Are mounted around the wiring layers 12a to 12a.
Frames 13a to 13d made of a superconducting material such as Nb are formed so as to cover d. Wiring layers 12a-12
3d, as shown in FIG. 3A, around the conductors of the wiring layers 12a to 12d, the frames 13a to 13d made of the superconductive material do not directly contact the conductors of the wiring layers 12a to 12d. The insulating layer 17 is formed.
【0021】図4は検出部チップの一例を示す模式的平
面図、図5は信号処理チップの一例を示す模式的平面図
である。検出部チップ20は、図10に模式的に示した
STJ素子を例えば100〜10000個程度配列した
STJ素子アレイ21と、チップ周縁部に配置されアレ
イ中の各STJ素子に接続された入出力端子22a〜2
2dとを備える。STJ素子を構成する超伝導材料は、
例えば次の表1に示したような元素から選択することが
できる。表1には臨界温度Tc[K]、臨界磁束密度Hc
[Gauss]、ギャップエネルギーΔ[meV]も合わせ
て示す。この他に、超伝導を示す合金、金属間化合物あ
るいは金属酸化物などを用いることもできる。FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of the detection section chip, and FIG. 5 is a schematic plan view showing an example of the signal processing chip. The detection unit chip 20 includes, for example, an STJ element array 21 in which about 100 to 10000 STJ elements are schematically arranged in FIG. 10, and input / output terminals connected to each STJ element in the array, which are arranged at the periphery of the chip. 22a-2
2d. The superconducting material that constitutes the STJ element is
For example, it can be selected from the elements shown in Table 1 below. Table 1 shows the critical temperature T c [K] and the critical magnetic flux density H c
[Gauss] and gap energy Δ [meV] are also shown. In addition, an alloy, an intermetallic compound, a metal oxide, or the like exhibiting superconductivity can be used.
【0022】[0022]
【表1】 [Table 1]
【0023】信号処理チップ30は、前置増幅器、AD
C、演算処理回路、通信回路等を集積化したもので、回
路部31と回路部に電気的に接続された入出力端子32
を有する。The signal processing chip 30 includes a preamplifier, an AD
C, an arithmetic processing circuit, a communication circuit and the like are integrated, and a circuit section 31 and input / output terminals 32 electrically connected to the circuit section
Having.
【0024】図6は、前置増幅器とADCの一例を示す
概略図である。STJ素子40による検出信号はdc−
SQUID41で増幅された後、STJ素子を用いたA
DC回路50でデジタル信号に変換される。ADC回路
50は、入力線が直列に接続された量子干渉素子51〜
54によって構成されている。dc−SQUID41の
ジョセフソン接合42はヒステリシス特性を持たない
が、量子干渉素子51〜54のジョセフソン接合55は
ヒステリシス特性を有する。量子干渉素子52〜54の
入力線と各回路の結合度は、量子干渉素子51との結合
度の2倍、4倍、8倍となっており、バイアス電流を周
期的に遮断することにより入力信号をデジタル化するこ
とができる。デジタル化された検出信号は、さらに演算
処理回路57で処理される。FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of a preamplifier and an ADC. The detection signal from the STJ element 40 is dc-
After amplification by SQUID41, A
The digital signal is converted by the DC circuit 50. The ADC circuit 50 includes quantum interference devices 51 to 51 whose input lines are connected in series.
54. The Josephson junction 42 of the dc-SQUID 41 does not have a hysteresis characteristic, but the Josephson junction 55 of the quantum interference devices 51 to 54 has a hysteresis characteristic. The degree of coupling between the input lines of the quantum interference elements 52 to 54 and each circuit is twice, four times, or eight times the degree of coupling with the quantum interference element 51. The signal can be digitized. The digitized detection signal is further processed by the arithmetic processing circuit 57.
【0025】図7は、基板上に検出部チップと信号処理
チップを磁気的に分離してマウントする方法を説明する
図である。検出部チップ20は、STJ素子アレイ21
が形成された面を基板10の開口部11に向けて位置合
わせし、入出力端子22aが配線層12aのパッド部
に、入出力端子22bが配線層12bのパッド部に、入
出力端子22cが配線層12cのパッド部に、入出力端
子22dが配線層12dのパッド部に整列するようにし
て、フリップチップボンディングによって接続される。FIG. 7 is a diagram for explaining a method of magnetically separating and mounting a detection unit chip and a signal processing chip on a substrate. The detection unit chip 20 includes an STJ element array 21
Are aligned with the opening 11 of the substrate 10, the input / output terminals 22a are located on the pad portions of the wiring layer 12a, the input / output terminals 22b are located on the pad portions of the wiring layer 12b, and the input / output terminals 22c are located on the wiring layer 12b. The input / output terminals 22d are connected to the pad portions of the wiring layer 12c by flip chip bonding such that they are aligned with the pad portions of the wiring layer 12d.
【0026】信号処理チップ30は、各々信号処理回路
31が形成された面を基板側に向け、各々の入出力端子
32が基板の配線層12a〜12dのパッド上に位置す
るように位置決めしてフリップチップボンディングによ
って接続される。続いて、超伝導材料で作られた中空の
箱状磁気シールド体60が各信号処理チップに被せられ
る。箱状体60の底部端面は基板10上に形成された超
伝導材料からなる枠(図示の例では枠13c)の上に載
せて機械的に下部超伝導層に密着される。The signal processing chip 30 is positioned so that the surface on which the signal processing circuit 31 is formed faces the substrate, and the input / output terminals 32 are positioned on the pads of the wiring layers 12a to 12d of the substrate. They are connected by flip chip bonding. Subsequently, a hollow box-shaped magnetic shield body 60 made of a superconducting material is put on each signal processing chip. The bottom end surface of the box-shaped body 60 is placed on a frame (frame 13c in the illustrated example) made of a superconductive material formed on the substrate 10 and mechanically adhered to the lower superconductive layer.
【0027】図8は、検出部チップ20と信号処理チッ
プ30をマウントした基板10の模式的断面図である。
信号処理チップ30は、上面及び前後左右の面を超伝導
材料からなる箱状の磁気シールド体60で囲まれ、底面
を基板10に予め形成した超伝導材料層15で囲まれ、
周囲から磁気的に絶縁された状態で基板10上にマウン
トされる。一方、検出部チップ20は磁気シールドで囲
まれておらず、両者は磁気的に分離されている。従っ
て、例えば粒子線検出装置全体を外部磁場の中に置くこ
とで、信号処理チップ30に磁場を印加することなく検
出部チップ20にのみ磁場を印加することができる。FIG. 8 is a schematic sectional view of the substrate 10 on which the detector chip 20 and the signal processing chip 30 are mounted.
The signal processing chip 30 is surrounded by a box-shaped magnetic shield body 60 made of a superconducting material on the upper surface and front, rear, left and right surfaces, and is surrounded by a superconducting material layer 15 previously formed on the substrate 10 on the bottom surface.
It is mounted on the substrate 10 while being magnetically insulated from the surroundings. On the other hand, the detector chip 20 is not surrounded by the magnetic shield, and both are magnetically separated. Therefore, for example, by placing the entire particle beam detector in an external magnetic field, it is possible to apply a magnetic field only to the detection unit chip 20 without applying a magnetic field to the signal processing chip 30.
【0028】図9は、粒子線検出装置の冷却方法の一例
を示す説明図である。この例では、粒子線検出装置はク
ライオスタット内において容器70中に入った液体ヘリ
ウム3によって冷却される銅製のコールドフィンガー7
1に基板10を接触させて取り付けられている。こうし
てTc/10程度の低温、例えば0.3〜0.5Kに冷
却され、周囲に配置された永久磁石やマグネットコイル
によって、検出部チップ20のSTJ素子アレイに50
ガウス程度の磁場を印加して使用される。検出すべき粒
子線は、クライオスタットの図示しない100μm程度
の膜厚のベリリウム窓を通り、コールドフィンガー71
の開口部72及び基板10の開口部11を通って、検出
部チップ20のSTJ素子アレイに入射する。FIG. 9 is an explanatory view showing an example of a cooling method of the particle beam detector. In this example, the particle beam detector is a copper cold finger 7 cooled by liquid helium 3 contained in a container 70 in a cryostat.
1 is attached with the substrate 10 in contact therewith. In this way, the temperature is cooled to a low temperature of about T c / 10, for example, 0.3 to 0.5 K, and 50 mm is applied to the STJ element array of the detection unit chip 20 by a permanent magnet or a magnet coil arranged around.
It is used by applying a magnetic field of about Gauss. The particle beam to be detected passes through a beryllium window (not shown) having a thickness of about 100 μm of the cryostat and passes through the cold finger 71.
Through the opening 72 of the substrate 10 and the opening 11 of the substrate 10 to enter the STJ element array of the detection unit chip 20.
【0029】なお、検出部チップ20はフリップチップ
ボンディングによって基板10に接続されているため、
ボンディングを介してしか冷却されず、このままでは十
分な冷却を行うことができない。そのため、本発明で
は、検出部チップ20の背面に、やはりSTJ素子を用
いた超伝導ペルチェ素子75を張り付けて冷却すること
で、Tc/10程度の低温に冷却することを可能とす
る。超伝導ペルチェ素子で発生した熱は、熱伝導体76
を介してコールドフィンガー71に逃がされる。Since the detector chip 20 is connected to the substrate 10 by flip chip bonding,
Cooling is performed only through bonding, and sufficient cooling cannot be performed as it is. Therefore, in the present invention, the superconducting Peltier element 75 also using the STJ element is attached to the back surface of the detection unit chip 20 and cooled, so that the temperature can be cooled to a low temperature of about T c / 10. The heat generated by the superconducting Peltier device is
Through the cold finger 71.
【0030】超伝導ペルチェ素子は、常伝導金属/絶縁
体/超伝導体(NIS)あるいは超伝導体/絶縁体/常
伝導金属/絶縁体/超伝導体(SINIS)といった積
層構造を有する素子であり、超伝導体層内でギャップエ
ネルギー分以上のエネルギーを持った電子が絶縁体層を
量子力学的にトンネルして常伝導体内でその(ギャップ
エネルギー以上の)エネルギーを解放することを利用し
て、熱を積層面に垂直な方向に強制的に輸送するもので
ある(Appl. Phys. Lett. 68(14), pp.1996-1998, App
l. Phys. Lett. 70(14), pp.1885-11887参照)。A superconducting Peltier device is a device having a laminated structure such as a normal metal / insulator / superconductor (NIS) or a superconductor / insulator / normal metal / insulator / superconductor (SINIS). In the superconductor layer, electrons with energy equal to or greater than the gap energy can be quantum mechanically tunneled through the insulator layer to release the energy (greater than the gap energy) in the normal conductor. , Which forcibly transports heat in a direction perpendicular to the stacking plane (Appl. Phys. Lett. 68 (14), pp. 1996-1998, App
l. Phys. Lett. 70 (14), pp. 1885-11887).
【0031】[0031]
【発明の効果】本発明によると、ノイズレベルが低く、
検出器としての性能の再現性を向上した粒子線検出装置
を得ることができる。According to the present invention, the noise level is low,
A particle beam detector with improved reproducibility of performance as a detector can be obtained.
【図1】基板の一例を示す模式的平面図。FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of a substrate.
【図2】図1のAA矢視断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG.
【図3】(a)は図2のBB矢視断面図、(b)は図2
のCC矢視断面図。3A is a cross-sectional view taken along a line BB in FIG. 2, and FIG.
FIG.
【図4】検出部チップの一例を示す模式的平面図。FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of a detection unit chip.
【図5】信号処理チップの一例を示す模式的平面図。FIG. 5 is a schematic plan view illustrating an example of a signal processing chip.
【図6】前置増幅器とADCの一例を示す概略図。FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of a preamplifier and an ADC.
【図7】基板上に検出部チップと信号処理チップを磁気
的に分離してマウントする方法の説明図。FIG. 7 is an explanatory diagram of a method of magnetically separating and mounting a detection unit chip and a signal processing chip on a substrate.
【図8】検出部チップと信号処理チップをマウントした
基板の模式的断面図。FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of a substrate on which a detection unit chip and a signal processing chip are mounted.
【図9】粒子線検出装置の冷却方法の一例を説明する
図。FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a cooling method of the particle beam detection device.
【図10】超伝導トンネル接合素子(STJ素子)の模
式図。FIG. 10 is a schematic view of a superconducting tunnel junction element (STJ element).
【図11】STJ素子のV−I特性図。FIG. 11 is a VI characteristic diagram of an STJ element.
10…基板、11…開口部、12a〜12d…配線層、
13a〜13d…超伝導材料の枠、14…絶縁板、15
…超伝導材料層、16…絶縁層、17…絶縁層、20…
検出部チップ、21…STJ素子アレイ、22a〜22
d…入出力端子、30…信号処理チップ、31…回路
部、32…入出力端子、40…STJ素子、41…dc
−SQUID、42…ジョセフソン接合、50…ADC
回路、51〜54…量子干渉素子、55…ジョセフソン
接合、57…演算処理回路、60…箱状磁気シールド
体、70…容器、71…コールドフィンガー、72…開
口部、75…超伝導ペルチェ素子、76…熱伝導体、1
00…STJ素子、101,102…超伝導体、103
…絶縁層10: substrate, 11: opening, 12a to 12d: wiring layer,
13a to 13d: frame of superconducting material, 14: insulating plate, 15
... superconducting material layer, 16 ... insulating layer, 17 ... insulating layer, 20 ...
Detector chip, 21 ... STJ element array, 22a to 22
d: input / output terminal, 30: signal processing chip, 31: circuit unit, 32: input / output terminal, 40: STJ element, 41: dc
-SQUID, 42 ... Josephson junction, 50 ... ADC
Circuits 51 to 54: quantum interference device, 55: Josephson junction, 57: arithmetic processing circuit, 60: box-shaped magnetic shield, 70: container, 71: cold finger, 72: opening, 75: superconducting Peltier device , 76 ... thermal conductor, 1
00: STJ element, 101, 102: superconductor, 103
… Insulating layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 広海 埼玉県浦和市田島9−29−14 (72)発明者 奥 隆之 埼玉県和光市大字新倉2857−1 ファイン コーポラスB202号 (72)発明者 仲川 博 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 (72)発明者 青柳 昌宏 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 (72)発明者 赤穂 博司 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Hiromi Sato 9-29-14, Tajima, Urawa-shi, Saitama (72) Inventor Takayuki Oku 2857-1 Okura, Okura, Wako-shi, Saitama Fine Corpora B202 No. 72 (72) Inventor Nakagawa Hiroshi 1-1-4, Umezono, Tsukuba, Ibaraki Pref., Within the Institute of Technology, Electronic Technology Research Institute (72) Inventor Masahiro Aoyagi 1-4-1, Umezono, Umezono, Tsukuba, Ibaraki, Japan (72) Invention Hiroshi Ako 1-1-4 Umezono, Tsukuba, Ibaraki Pref., National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Claims (6)
及び前記超伝導トンネル接合素子アレイに各々接続され
た入出力端子を有する検出部チップと、前記各超伝導ト
ンネル接合素子からの信号を処理する信号処理回路及び
前記信号処理回路に接続された入出力端子を有する信号
処理チップとを備える粒子線検出装置であって、 前記検出部チップと前記信号処理チップとは、前記検出
部チップのみに磁場が印加されるように前記基板上に磁
気的に分離してマウントされていることを特徴とする粒
子線検出装置。1. A substrate, a detector chip having a superconducting tunnel junction element array and an input / output terminal respectively connected to the superconducting tunnel junction element array, and processing a signal from each of the superconducting tunnel junction elements. A particle beam detection device comprising: a signal processing circuit and a signal processing chip having an input / output terminal connected to the signal processing circuit, wherein the detection unit chip and the signal processing chip have a magnetic field applied only to the detection unit chip. Characterized in that the particle beam detection device is magnetically separated and mounted on the substrate so that a voltage is applied.
導材料からなる配線層を有し、前記検出部チップは前記
超伝導トンネル接合素子アレイが前記基板の開口部に面
しその入出力端子が前記開口部の周囲に設けられた前記
配線層と接続されるようにして前記基板にマウントさ
れ、前記信号処理チップはその入出力端子と前記検出部
チップの入出力端子とが前記超伝導材料からなる配線層
によって結線されるようにして前記基板の前記検出部チ
ップと同じ側にマウントされていることを特徴とする請
求項1記載の粒子線検出装置。2. The substrate has an opening and a wiring layer made of a superconducting material, and the detecting unit chip has a superconducting tunnel junction element array facing an opening of the substrate and an input / output terminal thereof. The signal processing chip is mounted on the substrate so as to be connected to the wiring layer provided around the opening, and the input / output terminals of the signal processing chip and the input / output terminals of the detection unit chip are made of the superconductive material. The particle beam detection device according to claim 1, wherein the particle beam detection device is mounted on the same side of the substrate as the detection unit chip so as to be connected by a wiring layer.
いように超伝導体材料によって包囲されていることを特
徴とする請求項1又は2記載の粒子線検出装置。3. The particle beam detection device according to claim 1, wherein the signal processing chip is surrounded by a superconductor material so that a magnetic flux does not enter.
層を有し、その上に絶縁して前記超伝導材料からなる配
線層が設けられていることを特徴とする請求項1、2又
は3記載の粒子線検出装置。4. The substrate according to claim 1, wherein the substrate has a superconductive material layer parallel to the substrate surface, and a wiring layer made of the superconductive material is provided thereon insulated. Or the particle beam detector according to 3.
側と反対側の面に超伝導ペルチェ素子が取り付けられて
いることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載
の粒子線検出装置。5. The particle according to claim 1, wherein the detector chip has a superconducting Peltier element mounted on a surface opposite to a side facing the opening. Line detector.
って構成され、前記超伝導トンネル接合素子の出力を増
幅する増幅回路と、増幅された信号をAD変換するデジ
タル化回路と、デジタル化された信号を演算する演算回
路とを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1
項記載の粒子線検出装置。6. The signal processing circuit includes a superconducting device, an amplifier circuit for amplifying an output of the superconducting tunnel junction element, a digitizing circuit for AD-converting the amplified signal, and a digitized signal. 6. An arithmetic circuit for calculating the following formula:
Item beam detector.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17192497A JP4058548B2 (en) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | Particle beam detector |
Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1123723A true JPH1123723A (en) | 1999-01-29 |
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清水裕彦 他4名: "「低温X線検出器」", 宇宙放射線シンポジウム 平成7年度, JPN6007007809, 1995, JP, pages 48 - 51, ISSN: 0000927328 * |
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